CN117066128B - 一种指纹芯片测试设备 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种指纹芯片测试设备，涉及指纹芯片测试设备技术领域。包括机架、输送转盘、上料机构、检测机构、测试机构和下料机构，通过上料机构将物料放置检测机构上对物料的外观合格性进行检测，通过上料机构将检测合格的物料放置到输送转盘上并输送至测试机构处，通过测试机构测试物料导通性和指纹性的合格性，通过下料机构将测试合格和不合格的物料分别放置。如此设置，使用自动化的上料、测试和下料，提升了物料测试的准确性和检测效率，且能够将合格品和外观有缺陷以及导通性、指纹性不合格的不良品进行区别放置，即便在设备连续性的长时间工作状态下，也不会混淆测试后的不良品和合格品，保证了出厂物料的合格准确性。

Description

一种指纹芯片测试设备
技术领域
本发明涉及指纹芯片测试设备技术领域，具体涉及一种指纹芯片测试设备。
背景技术
随着信息技术的快速发展，人们对信息的安全越来越重视，很多地方都需要设置指纹解锁，这样不仅安全，而且也方便，这其中指纹芯片就起到了很重要的作用；而为了保证其作用，通常在出厂时都要对指纹芯片进行两部分的功能测试，一种是测试其导通性，另一种是测试其指纹的合格性；但目前的测试主要是以手动操作为主，且测试环节只能一个一个的进行，效率低，缺乏连续性，且长时间的工作还容易混淆测试后的不良品和合格品，且无法将外观有缺陷的指纹芯片区别出来。
发明内容
因此，本发明要解决的技术问题在于现有技术中的指纹新品测试结构容易混淆测试后的不良品和合格品、无法将外观有缺陷的指纹芯片区别出来的缺陷，从而提供一种指纹芯片测试设备。
为解决上述技术问题，本发明的技术方案如下：
一种指纹芯片测试设备，包括机架和安装于所述机架上的输送转盘，所述输送转盘上设置有适于放置物料的物料盘；所述机架上还安装有依次设置在所述输送转盘外周的上料机构、检测机构、测试机构和下料机构；所述上料机构适于将物料放置于所述检测机构与输送转盘上；所述检测机构适于检测所述上料机构上待检测物料的外观合格性；所述测试机构适于检测所述输送转盘上待检测物料的导通性和指纹性的合格性；所述下料机构适于将测试后的合格物料与不合格物料分别进行下料。
进一步地，所述上料机构包括四轴联动组件和上料吸嘴，所述四轴联动组件包括X轴驱动件、安装于所述X轴驱动件上的Y轴驱动件、安装于所述Y轴驱动件上的Z轴驱动件、以及安装于所述Z轴驱动件上的U轴驱动件，所述上料吸嘴安装于所述U轴驱动件上；所述X轴驱动件适于驱动所述Y轴驱动件沿X轴进行移动，所述Y轴驱动件适于驱动所述Z轴驱动件沿Y轴方向移动，所述Z轴驱动件适于驱动所述U轴驱动件沿Z轴方向移动，所述U轴驱动件适于驱动所述上料吸嘴做旋转运动以调整所述上料吸嘴上被吸取物料的方位。
进一步地，所述检测机构包括安装于所述机架上且位于所述上料机构一侧的检测固定架和安装于所述检测固定架上的视觉检测器；所述检测机构上还设置有适于放置尺寸不合格物料的收集盒。
进一步地，所述测试机构位于所述输送转盘一侧，所述测试机构包括安装于所述机架上的测试固定架、安装于所述测试固定架上的测试驱动件和安装于所述测试驱动件上的导通测试组件；所述导通测试组件位于所述输送转盘上方，所述测试驱动件适于驱动所述导通测试组件进行升降运动以靠近或远离所述输送转盘。
进一步地，所述物料盘在所述输送转盘上均匀间隔设置有多个，每个所述物料盘上均设置有多个定位槽；所述导通测试组件上设置有多个测试件，多个所述测试件与同一所述物料盘上的多个所述定位槽一一对应设置。
进一步地，所述下料机构包括四轴机械臂和安装于所述四轴机械臂上的下料吸嘴，所述四轴机械臂适于带动所述下料吸嘴移动以吸取合格物料与不合格物料、并将合格物料与不合格物料分别放置。
进一步地，所述机架上安装有位于所述测试机构与所述输送转盘之间的调节机构，所述调节机构包括调节驱动件和安装于所述调节驱动件上且位于所述输送转盘上方的调节压板，所述调节驱动件适于驱动所述调节压板进行升降以靠近或远离所述输送转盘。
进一步地，所述检测机构远离所述输送转盘的一侧设置有位于所述上料机构一侧的上料定位框架，所述上料定位框架内设置有适于放置上料盘的上料板；所述上料板远离所述上料机构的一侧设置有上料盘输送机构，所述上料盘输送机构适于将上料盘放置于所述上料定位框架内。
进一步地，所述下料机构一侧设置有下料定位框架，所述下料定位框架内设置有适于放置下料盘的下料板；所述下料板远离所述下料机构的一侧设置有下料盘输送机构，所述下料盘输送机构适于将空的料盘放置于所述下料定位框架内。
进一步地，所述下料机构靠近所述上料机构的一侧设置有次品放置板。
本发明技术方案，具有如下优点：
1.本发明提供的指纹芯片测试设备，在机架上设置输送转盘和位于输送转盘外周的上料机构、检测机构、测试机构和下料机构，通过上料机构将待检测的物料放置检测机构上对物料的外观合格性进行检测，再通过上料机构将外观检测合格的物料放置到输送转盘上，输送转盘再将物料输送至测试机构所在位置，并通过测试机构测试物料导通性和指纹性的合格性，再通过下料机构将测试合格和不合格的物料分别下料放置。如此设置，使用自动化的上料、测试和下料，提升了物料测试的准确性和检测效率，且能够将合格品和外观有缺陷以及导通性、指纹性不合格的不良品进行区别放置，即便在设备连续性的长时间工作状态下，也不会混淆测试后的不良品和合格品，保证了出厂物料的合格准确性。
2.本发明提供的指纹芯片测试设备，上料机构包括四轴联动组件和上料吸嘴，如此设置，通过X轴驱动件、Y轴驱动件、Z轴驱动件驱动上料吸嘴进行移动，使上料机构上料范围更广，工作效率更高；同时通过U轴驱动件驱动上料吸嘴转动，便于通过上料吸嘴调整被吸取物料的方位，避免物料偏移出正确的位置。
3.本发明提供的指纹芯片测试设备，检测机构包括安装于机架上且位于上料机构一侧的检测固定架和安装于检测固定架上的视觉检测器，如此设置，通过视觉检测器可以检测物料的外观形状和尺寸是否合格，以此保证出厂物料的合格性；检测机构上设置有适于放置尺寸不合格物料的收集盒，如此设置，可以将经过视觉检测后的合格物料和不合格物料进行区分，避免混淆，同时可以避免不合格的物料再进入下一测试环节中，有效保证工作效率。
4.本发明提供的指纹芯片测试设备，测试机构位于输送转盘一侧，测试机构包括安装于机架上的测试固定架、安装于测试固定架上的测试驱动件和安装于测试驱动件上的导通测试组件；导通测试组位于输送转盘上方，测试驱动件适于驱动导通测试组件进行升降运动以靠近或远离输送转盘。如此设置，通过输送转盘将装有物料的物料盘输送到导通测试组件下方，再通过测试驱动件驱动导通测试组件靠近物料盘并下压至物料表面进行导通性和指纹性测试。
5.本发明提供的指纹芯片测试设备，物料盘在输送转盘上均匀间隔设置有多个，每个物料盘上均设置有多个定位槽；导通测试组件上设置有多个测试件，多个测试件与同一物料盘上的多个定位槽一一对应设置。如此设置，可以通过多个物料盘同时输送未测试和已测试的物料，每个物料盘设置多个定位槽，每个导通测试组件设置多个测试件，可以同时对多个物料进行测试，提高测试效率。
6.本发明提供的指纹芯片测试设备，下料机构包括四轴机械臂和安装于四轴机械臂上的下料吸嘴，四轴机械臂适于带动下料吸嘴移动以吸取合格物料与不合格物料、并将合格物料与不合格物料分别放置。如此设置，通过四轴机械臂可以增加可移动范围，便于带动下料吸嘴将合格物料与不合格物料分别放置到不同位置，有效提高下料效率。
7.本发明提供的指纹芯片测试设备，机架上安装有位于测试机构与输送转盘之间的调节机构，调节机构包括调节驱动件和安装于调节驱动件上且位于输送转盘上方的调节压板，调节驱动件适于驱动调节压板进行升降以靠近或远离输送转盘。如此设置，当输送转盘将装有物料的物料盘输送至调节压板下方时，调节驱动件驱动调节压板下压至物料上，以使物料完全位于物料盘的定位槽内，避免物料位置偏离，从而保证后续测试物料时的位置准确性，进而保证测试结果的准确性；且无需通过人力进行逐个调整，可以提高工作效率。
8.本发明提供的指纹芯片测试设备，检测机构远离输送转盘的一侧设置有位于上料机构一侧的上料定位框架，上料定位框架内设置有适于放置上料盘的上料板；上料板远离上料机构的一侧设置有上料盘输送机构，上料盘输送机构适于将上料盘放置于上料定位框架内。如此设置，可以通过上料盘输送机构进行料盘输送放置，无需通过人力进行，可以有效提高上料工作效率。
9.本发明提供的指纹芯片测试设备，料机构一侧设置有下料定位框架，下料定位框架内设置有适于放置下料盘的下料板；下料板远离下料机构的一侧设置有下料盘输送机构，下料盘输送机构适于将空的料盘放置于下料定位框架内。如此设置，可以通过下料盘输送机构进行料盘输送放置，无需通过人力进行，可以有效提高下料工作效率。
10.本发明提供的指纹芯片测试设备，下料机构靠近上料机构的一侧设置有次品放置板，如此设置，可以通过次品放置板放置测试不合格的物料，以此与合格物料进行区分，避免弄混淆。
附图说明
为了更清楚地说明本发明具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例提供的指纹芯片测试设备的立体结构图；
图2为本发明中输送转盘的立体结构图；
图3为本发明中上料机构的立体结构图；
图4为本发明中检测机构的立体结构图；
图5为本发明中测试机构的立体结构图；
图6为本发明中下料机构的立体结构图；
图7为本发明中调节机构的立体结构图；
图8为本发明中上料定位框架的立体结构图；
图9为本发明中上料盘输送机构的立体结构图。
附图标记说明：1、机架；2、输送转盘；21、物料盘；22、定位槽；3、上料机构；31、支撑杆；32、X轴驱动件；33、Y轴驱动件；34、Z轴驱动件；35、U轴驱动件；36、上料吸嘴；4、检测机构；41、检测固定架；42、检测相机；43、圆形光源；44、圆孔；45、收集盒；5、测试机构；51、测试固定架；52、测试驱动件；53、测试件；54、测试位；6、下料机构；61、下料固定架；62、四轴机械臂；63、下料吸嘴；7、调节机构；71、调节驱动件；72、调节压板；8、上料定位框架；81、上料板；82、升降电机；83、传感器；9、上料盘输送机构；91、支撑柱；92、水平驱动组件；93、移动支架；94、固定板；95、吸盘；10、下料定位框架；11、下料盘输送机构；12、次品放置板；13、上料盘。
具体实施方式
下面将结合附图对本发明的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
在本发明的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
在本发明的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
此外，下面所描述的本发明不同实施方式中所涉及的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互结合。
如图1-9所示的一种指纹芯片测试设备，包括机架1和安装于机架1上的输送转盘2，输送转盘2上设置有适于放置物料的物料盘21；机架1上还安装有依次设置在输送转盘2外周的上料机构3、检测机构4、测试机构5和下料机构6；上料机构3适于将物料放置于检测机构4与输送转盘2上；检测机构4适于检测上料机构3上待检测物料的外观合格性；测试机构5适于检测输送转盘2上待检测物料的导通性和指纹性的合格性；下料机构6适于将测试后的合格物料与不合格物料分别进行下料。
这种指纹芯片测试设备，通过上料机构3将待检测的物料放置检测机构4上对物料的外观合格性进行检测，再通过上料机构3将外观检测合格的物料放置到输送转盘2上，输送转盘2再将物料输送至测试机构5所在位置，并通过测试机构5测试物料导通性和指纹性的合格性，再通过下料机构6将测试合格和不合格的物料分别下料放置。如此设置，使用自动化的上料、测试和下料，提升了物料测试的准确性和检测效率，且能够将合格品和外观有缺陷以及导通性、指纹性不合格的不良品进行区别放置，即便在设备连续性的长时间工作状态下，也不会混淆测试后的不良品和合格品，保证了出厂物料的合格准确性。
在本实施例中，上料机构3包括四轴联动组件和上料吸嘴36，四轴联动组件包括X轴驱动件32、安装于X轴驱动件32上的Y轴驱动件33、安装于Y轴驱动件33上的Z轴驱动件34、以及安装于Z轴驱动件34上的U轴驱动件35，上料吸嘴36安装于U轴驱动件35上；X轴驱动件32适于驱动Y轴驱动件33沿X轴进行移动，Y轴驱动件33适于驱动Z轴驱动件34沿Y轴方向移动，Z轴驱动件34适于驱动U轴驱动件35沿Z轴方向移动，U轴驱动件35适于驱动上料吸嘴36做旋转运动以调整上料吸嘴36上被吸取物料的方位。如此设置，通过四轴联动组件，使上料吸嘴36能够在X、Y、Z轴方向上进行移动，上料机构3的上料取料范围更广，工作效率更高；同时通过U轴驱动件35驱动上料吸嘴36转动，便于通过上料吸嘴36调整被吸取物料的方位，避免物料偏移出正确的位置，保证物料后续被夹持放置时的位置准确性。
具体的，四轴联动组件通过支撑杆31固定安装于机架1上。具体的，Z轴驱动件34、X轴驱动件32、Y轴驱动件33和U轴驱动件35均为电机。
在本实施例中，检测机构4远离输送转盘2的一侧设置有位于上料机构3一侧的上料定位框架8，上料定位框架8内设置有适于放置上料盘13的上料板81；上料板81远离上料机构3的一侧设置有上料盘输送机构9，上料盘输送机构9适于将已经盛满物料的上料盘13放置于上料定位框架8内。如此设置，可以通过上料盘输送机构9进行上料盘13输送放置，无需通过人力进行，可以有效提高上料工作效率；同时上料定位框架8能够对位于其内的上料盘13进行限位。
具体的，上料板81的底部安装有升降电机82，通过升降电机82的作用能够带动上料板81提升或下降，上料定位框架8在机架1上固定多个，且多个上料定位框架8安装在上料板81的四周，通过上料定位框架8对上料板81上放置的上料盘13就进行限位，上料定位框架8的顶端安装有传感器83，当传感器83未感应到上料盘13时，升降电机82驱动上料板81提升，进而使上料板81上的上料盘13上升，当上料盘13上升至传感器83的高度并使传感器83感应到上料盘13时，上料板81底部的升降电机82暂停工作，以减少上料机构3的升降移动量，提高上料效率。
具体的，上料盘输送机构9包括固定安装于机架1上的支撑柱91、安装于支撑柱91上的水平驱动组件92、移动安装于水平驱动组件92上的移动支架93、安装于移动支架93上的固定板94和安装于固定板94上的多个吸盘95，多个吸盘95位于同一水平高度上。如此设置，通过设置多个吸盘95同时吸取上料盘13，可以保证固定板94移动时的稳定性和平稳性，通过设置固定板94，可以分散吸盘95吸附上料盘13时的重力，使多个吸盘95受力均匀。
在本实施例中，检测机构4包括安装于机架1上且位于上料机构3一侧的检测固定架41和安装于检测固定架41上的视觉检测器，如此设置，通过视觉检测器可以检测物料的外观形状和尺寸是否合格，以此保证出厂物料的合格性。具体的，检测机构4上设置有位于检测固定架41顶部且适于放置尺寸不合格物料的收集盒45，如此设置，可以将经过视觉检测后外观尺寸合格的物料和不合格物料进行区分，避免混淆，同时可以避免外观尺寸不合格的物料再进入下一测试环节中，有效保证工作效率。
具体的，视觉检测器与信息采集系统电连接，视觉检测器具体包括固定安装于检测固定架41上的检测相机42和圆形光源43，圆形光源43位于检测相机42正上方，圆形光源43中部设有位于检测相机42正上方的圆孔44。在检测物料外观尺寸合格性时，通过上料机构3将物料吸取并移动至圆形光源43正上方，检测相机42透过圆孔44对物料进行拍照，并将物料拍摄信息传输给信息采集系统；同时经检测相机42检测不合格的物料，通过上料机构3直接移动放置到收集盒45内，检测合格的物料则通过上料机构3移动放置到输送转盘2上的物料盘21内。
在本实施例中，机架1上安装有位于测试机构5与输送转盘2之间的调节机构7，调节机构7包括调节驱动件71和安装于调节驱动件71上且位于输送转盘2上方的调节压板72，调节驱动件71适于驱动调节压板72进行升降以靠近或远离输送转盘2。如此设置，当输送转盘2将装有物料的物料盘21输送至调节压板72下方时，调节驱动件71驱动调节压板72下压至物料上，以使物料完全位于物料盘21的定位槽22内，避免物料位置偏离，从而保证后续测试物料时的位置准确性，进而保证测试结果的准确性；且无需通过人力进行逐个调整，可以提高工作效率。
在本实施例中，输送转盘2底部安装有适于驱动其转动的旋转驱动电机以及适于控制旋转驱动电机转动速度的调速器。具体的输送转盘2上均匀间隔设置有4个物料盘21，每个物料盘21上均设置有6个定位槽22。如此设置，可以通过4个物料盘21同时输送未测试和已测试的物料，每个物料盘21上设置6个定位槽22，可以对同个物料盘21上6个定位槽22内的物料进行同时测试，有效提高测试效率。
在本实施例中，测试机构5位于输送转盘2一侧，测试机构5包括安装于机架1上的测试固定架51、安装于测试固定架51上的测试驱动件52和安装于测试驱动件52上的导通测试组件；导通测试组位于输送转盘2上方，测试驱动件52适于驱动导通测试组件进行升降运动以靠近或远离输送转盘2。如此设置，通过输送转盘2将装有物料的物料盘21输送到导通测试组件下方，再通过测试驱动件52驱动导通测试组件下降以靠近物料盘21并下压至物料表面进行导通性和指纹性测试。
具体的，导通测试组件包括设置有6个测试位54和与6个测试位54一一对应设置的6个测试件53，且6个测试位54与同一物料盘21上的6个定位槽22一一对应设置。如此设置，可以对6个物料同时进行测试，提高测试效率。
在本实施例中，下料机构6包括固定安装于机架1上的下料固定架61、安装于下料固定架61上的四轴机械臂62和安装于四轴机械臂62上的下料吸嘴63，四轴机械臂62适于带动下料吸嘴63移动以吸取合格物料与不合格物料、并将合格物料与不合格物料分别放置。如此设置，通过四轴机械臂62可以增加可移动范围，便于带动下料吸嘴63将合格物料与不合格物料分别放置到不同位置，有效提高下料效率。
在本实施例中，下料机构6一侧设置有下料定位框架10，下料定位框架10内设置有适于放置下料盘的下料板；下料板远离下料机构6的一侧设置有下料盘输送机构11，下料盘输送机构11适于将空的下料盘放置于下料定位框架10内。如此设置，可以通过下料盘输送机构11进行下料盘的输送放置，无需通过人力进行，可以有效提高下料工作效率。
具体的，下料定位框架10与上料定位框架8结构相同，下料定位框架10上安装有传感器83，下料板底部安装有升降电机82。下料盘输送机构11与上料盘输送机构9结构相同，此处不再赘述。
在本实施例中，下料机构6靠近上料机构3的一侧设置有次品放置板12，如此设置，可以通过次品放置板12放置测试不合格的物料，以此与合格物料进行区分，避免将合格物料与不合格的物料弄混淆。
综上所述，这种指纹芯片测试设备，通过上料机构3将待检测的物料放置检测机构4上对物料的外观合格性进行检测，再通过上料机构3将外观检测合格的物料放置到输送转盘2上，输送转盘2再将物料输送至测试机构5所在位置，并通过测试机构5测试物料导通性和指纹性的合格性，再通过下料机构6将测试合格和不合格的物料分别下料放置。如此设置，使用自动化的上料、测试和下料，提升了物料测试的准确性和检测效率，且能够将合格品和外观有缺陷以及导通性、指纹性不合格的不良品进行区别放置，即便在设备连续性的长时间工作状态下，也不会混淆测试后的不良品和合格品，保证了出厂物料的合格准确性。
显然，上述实施例仅仅是为清楚地说明所作的举例，而并非对实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。而由此所引伸出的显而易见的变化或变动仍处于本发明创造的保护范围之中。

Claims (6)

1.一种指纹芯片测试设备，其特征在于，包括机架(1)和安装于所述机架(1)上的输送转盘(2)，所述输送转盘(2)上设置有适于放置物料的物料盘(21)；所述机架(1)上还安装有依次设置在所述输送转盘(2)外周的上料机构(3)、检测机构(4)、测试机构(5)和下料机构(6)；所述上料机构(3)适于将物料放置于所述检测机构(4)与输送转盘(2)上；所述检测机构(4)适于检测所述上料机构(3)上待检测物料的外观合格性；所述测试机构(5)适于检测所述输送转盘(2)上待检测物料的导通性和指纹性的合格性；所述下料机构(6)适于将测试后的合格物料与不合格物料分别进行下料；
所述上料机构(3)包括四轴联动组件和上料吸嘴(36)，所述四轴联动组件包括X轴驱动件(32)、安装于所述X轴驱动件(32)上的Y轴驱动件(33)、安装于所述Y轴驱动件(33)上的Z轴驱动件(34)、以及安装于所述Z轴驱动件(34)上的U轴驱动件(35)，所述上料吸嘴(36)安装于所述U轴驱动件(35)上；所述X轴驱动件(32)适于驱动所述Y轴驱动件(33)沿X轴进行移动，所述Y轴驱动件(33)适于驱动所述Z轴驱动件(34)沿Y轴方向移动，所述Z轴驱动件(34)适于驱动所述U轴驱动件(35)沿Z轴方向移动，所述U轴驱动件(35)适于驱动所述上料吸嘴(36)做旋转运动以调整所述上料吸嘴(36)上被吸取物料的方位；
所述测试机构(5)位于所述输送转盘(2)一侧，所述测试机构(5)包括安装于所述机架(1)上的测试固定架(51)、安装于所述测试固定架(51)上的测试驱动件(52)和安装于所述测试驱动件(52)上的导通测试组件；所述导通测试组件位于所述输送转盘(2)上方，所述测试驱动件(52)适于驱动所述导通测试组件进行升降运动以靠近或远离所述输送转盘(2)；
所述物料盘(21)在所述输送转盘(2)上均匀间隔设置有多个，每个所述物料盘(21)上均设置有多个定位槽(22)；所述导通测试组件上设置有多个测试件(53)，多个所述测试件(53)与同一所述物料盘(21)上的多个所述定位槽(22)一一对应设置；
所述机架(1)上安装有位于所述测试机构(5)与所述输送转盘(2)之间的调节机构(7)，所述调节机构(7)包括调节驱动件(71)和安装于所述调节驱动件(71)上且位于所述输送转盘(2)上方的调节压板(72)，所述调节驱动件(71)适于驱动所述调节压板(72)进行升降以靠近或远离所述输送转盘(2)。
2.根据权利要求1所述的指纹芯片测试设备，其特征在于，所述检测机构(4)包括安装于所述机架(1)上且位于所述上料机构(3)一侧的检测固定架(41)和安装于所述检测固定架(41)上的视觉检测器；所述检测机构(4)上还设置有适于放置尺寸不合格物料的收集盒(45)。
3.根据权利要求1所述的指纹芯片测试设备，其特征在于，所述下料机构(6)包括四轴机械臂(62)和安装于所述四轴机械臂(62)上的下料吸嘴(63)，所述四轴机械臂(62)适于带动所述下料吸嘴(63)移动以吸取合格物料与不合格物料、并将合格物料与不合格物料分别放置。
4.根据权利要求1所述的指纹芯片测试设备，其特征在于，所述检测机构(4)远离所述输送转盘(2)的一侧设置有位于所述上料机构(3)一侧的上料定位框架(8)，所述上料定位框架(8)内设置有适于放置上料盘(13)的上料板(81)；所述上料板(81)远离所述上料机构(3)的一侧设置有上料盘输送机构(9)，所述上料盘输送机构(9)适于将上料盘(13)放置于所述上料定位框架(8)内。
5.根据权利要求1所述的指纹芯片测试设备，其特征在于，所述下料机构(6)一侧设置有下料定位框架(10)，所述下料定位框架(10)内设置有适于放置下料盘的下料板；所述下料板远离所述下料机构(6)的一侧设置有下料盘输送机构(11)，所述下料盘输送机构(11)适于将空的下料盘放置于所述下料定位框架(10)内。
6.根据权利要求1所述的指纹芯片测试设备，其特征在于，所述下料机构(6)靠近所述上料机构(3)的一侧设置有次品放置板(12)。
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