CN115901801A - 一种键帽顶出旋转检验治具及键帽检验方法 - Google Patents
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Abstract
一种键帽顶出旋转检验治具及键帽检验方法，键帽顶出旋转检验治具包括顶出板与底座；所述顶出板用以放置承载待检键帽的载盘，所述顶出板设有多个对应所述键帽设置以顶出所述键帽的凸起；所述顶出板与所述底座之间设有使所述顶出板可横向旋转地连接于所述底座的旋转连接机构。本发明键帽顶出旋转检验治具及键帽检验方法，通过设置顶出板与底座，顶出板设有多个对应键帽设置以顶出键帽的凸起，并且在顶出板与底座之间设有使顶出板可横向旋转地连接于底座的旋转连接机构，从而能检验键帽各个侧面，实现多个键帽放在载盘中进行检验，检验效率高，人力成本低，还能避免因人工取放而损伤键帽。
Description
技术领域
本发明涉及键盘制造技术领域，尤其是一种键帽顶出旋转检验治具及键帽检验方法。
背景技术
目前计算机键盘生产都需经过各种复杂的工艺流程，而在整个工艺流程中都会产生各种外观不良，此成品出货前都需经过人工外观检验，剔除外观不良品，检出的良品部分方可流入后道工序或包装出货至客户端；由于各工艺流程结束后多个键帽拼成整套模拟键盘形式装入专用载盘中，此时因键帽侧边四周被专用载盘挡住导致人工无法直接检验键帽四周的外观，此需要将键帽从专用载盘中一个一个取出检验，此方式效率低，人力成本高，而且人工取放也会导致良品变成不良品的风险。
前面的叙述在于提供一般的背景信息，并不一定构成现有技术。
发明内容
本发明的目的在于提供一种能实现多个键帽放在载盘中进行检验的键帽顶出旋转检验治具及键帽检验方法。
本发明提供一种键帽顶出旋转检验治具，包括顶出板与底座；所述顶出板用以放置承载待检键帽的载盘，所述顶出板设有多个对应所述键帽设置以顶出所述键帽的凸起；所述顶出板与所述底座之间设有使所述顶出板可横向旋转地连接于所述底座的旋转连接机构。
进一步地，所述凸起为凸台，所述凸台设有多个用以避位键帽内部结构的凹槽。
进一步地，所述顶出板设有用以定位所述载盘的定位结构。
进一步地，所述底座包括底板，所述底板中部设有配合孔，所述旋转连接机构包括旋转轴、旋转轴盖板，所述旋转轴固定于所述顶出板且穿设于所述配合孔中，所述旋转轴盖板固定于所述旋转轴下方，用以限位所述旋转轴。
进一步地，所述旋转连接机构还包括轴承，所述轴承位于所述配合孔内，外圈固定于所述配合孔壁部，内圈与所述旋转轴相固定。
进一步地，所述旋转轴包括固定部与旋转部，所述旋转部用以在所述配合孔中旋转，所述固定部位于所述旋转部邻近所述顶出板的一端，用以固定于所述顶出板，且尺寸大于所述旋转部，使所述顶出板与底座之间形成间隙。
进一步地，所述底座包括底板与用以支撑所述底板且使所述底板呈倾斜状态进而使所述载盘呈倾斜状态的支撑结构。
进一步地，所述支撑结构为多个长度不同的支撑柱。
本发明还提供一种键帽检验方法，使用如上前六项之一所述的键帽顶出旋转检验治具，所述方法包括：检验前将承载有待检键帽的载盘放置于所述顶出板上，所述凸起顶出所述键帽；检验过程中使用所述旋转连接机构旋转所述顶出板，带动所述载盘一起旋转，以确保所述键帽的四个侧面均进行检验。
本发明还提供一种键帽检验方法，使用如上最后两项所述的键帽顶出旋转检验治具，所述方法包括：检验前将承载有待检键帽的载盘放置于所述顶出板上，所述凸起顶出所述键帽；检验过程中使用所述旋转连接机构旋转所述顶出板，带动所述载盘一起旋转，以确保所述键帽的四个侧面均进行检验；检验时光源从所述键帽顶出旋转检验治具正上方向下照射，通过所述支撑结构使所述底板呈倾斜状态进而使所述载盘呈倾斜状态，从而使所述键帽侧面被照射到以方便检验。
本发明提供的键帽顶出旋转检验治具及键帽检验方法，通过设置顶出板与底座，顶出板设有多个对应键帽设置以顶出键帽的凸起，并且在顶出板与底座之间设有使顶出板可横向旋转地连接于底座的旋转连接机构，从而能检验键帽各个侧面，实现多个键帽放在载盘中进行检验，检验效率高，人力成本低，还能避免因人工取放而损伤键帽。
附图说明
图1为本发明实施例键帽顶出旋转检验治具的立体组合图。
图2为图1所示键帽顶出旋转检验治具的立体分解图。
图3为图1所示键帽顶出旋转检验治具中顶出板的立体图。
图4为图1所示键帽顶出旋转检验治具中底座与旋转连接机构的立体图。
图5为图1所示键帽顶出旋转检验治具所检验的键帽与载盘的立体分解图。
图6为图5所示键帽与载盘的立体组合图。
图7为图6中线A-A处的剖视图。
图8为图1所示键帽顶出旋转检验治具使用时的示意图。
图9为本发明实施例键帽检验方法的流程示意图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例，对本发明的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本发明，但不用来限制本发明的范围。
如图1至7所示，本实施例中，一种键帽顶出旋转检验治具包括顶出板1与底座2两大部分。顶出板1与底座2之间设有使顶出板1可横向旋转地连接于底座2的旋转连接机构3。
顶出板1用以放置承载待检键帽4的载盘5。
键帽4及承载该键帽4的载盘5如图5-7所示。载盘5呈矩形，中部设有多个承载结构，这些承载结构按预定位置排列，使各键帽4放置承载结构后，与将来组成的键盘中的位置相一致。承载结构为从键帽容纳孔孔壁四周向内横向延伸一小段长度所形成的承载部51，承载部51所围区域上下贯通。键帽4包括矩形的顶壁41及由顶壁41周缘向下延伸形成的侧壁42，侧壁42可放置于承载部51上被承载部51支撑。顶壁41下侧中部还设有一些内部结构43。承载部51宽度优选为尽量小，只要稍大于键帽侧壁42能承载键帽4即可，以使得承载部51所围贯通区域最大化，有利于避让键帽的内部结构43以及顶出板1的顶出操作（后面将进一步说明）。载盘5两长边侧各设有两贯通的定位孔52。
如图3所示，顶出板1大致呈矩形，中部设有多个对应键帽4设置以顶出键帽4的凸起。本实施例中，凸起为凸台11，凸台11上表面中部设有多个用以避位键帽内部结构43的凹槽111，以能更精确地顶出且避免损伤键帽内部结构43。对应载盘5的定位孔52，顶出板1在两长边侧设有用以定位载盘5的定位结构（本实施例中为凸块12）。顶出板1还在两短边侧设有凹入的取手凹部13，以方便顶出板1上方的载盘5的取放。
如图4所示，底座2包括底板21与支撑结构22。底板21大致呈长方形，中部设有上下贯通的配合孔211。
支撑结构22用以支撑底板21，本实施例中，支撑结构22使底板21呈倾斜状态，从而使顶出板1也呈倾斜状态，进而使载盘5呈倾斜状态。本实施例中，支撑结构22为四个长度不同的支撑柱，包括两根长支撑柱221与两根短支撑柱222，以使得底板21呈倾斜状态。底板21呈倾斜状态，进而使载盘5呈倾斜状态，使检验时光源6能从键帽顶出旋转检验治具正上方向下照射，使载盘5上的键帽4侧面能被照射到以方便检验（如图8、9所示）。当然，在其它实施例中，也可以不设置使底板呈倾斜状态的支撑结构，也能实现检验操作。不过这种方式检验时光源需朝侧下方照射，观察也较为不便。
如图2所示，旋转连接机构3包括旋转轴31、旋转轴盖板32。旋转轴31通过顶出板固定螺丝33固定于顶出板1且穿设于配合孔211中。旋转轴31包括固定部311与旋转部312，旋转部312用以在配合孔211中旋转，固定部311位于旋转部312邻近顶出板1的一端，用以固定于顶出板1，且尺寸大于旋转部312，使顶出板1与底座2之间形成间隙，方便顶出板1与底座2之间的旋转（如图8所示）。
旋转轴盖板32通过盖板固定螺丝34固定于旋转轴31下方，用以限位旋转轴31，防止旋转轴31往上脱离配合孔211。
本实施例中，旋转连接机构3还包括轴承35，轴承35位于配合孔211内，外圈固定于配合孔211壁部，内圈与旋转轴31的旋转部312相固定，使得顶出板1与底座2之间的旋转更为顺畅，使用寿命也更长。轴承35采用的是深沟球轴承。当然，在其它实施例中，也可以不设轴承或设置其它类型的轴承。
本实施例还提供一种键帽检验方法，该方法使用如上所述的键帽顶出旋转检验治具。如图9所示，该方法包括如下步骤S1-S4。
步骤S1：将承载有待检键帽的载盘5放置于顶出板1上，顶出板1上的凸起穿过载盘承载部51所围贯通区域顶出键帽。
步骤S2：开始检验。具体检验操作可参见图8，即光源向下照射到载盘上，因载盘呈倾斜状态，故载盘上的键帽一侧面能被照射到，检验者从侧上方观察被照射到的键帽侧面，以检查键帽侧面外观是否有瑕疵。当然，如前所述，在其它实施例中，根据不同情况，也可采用不同的检验方式。例如若键帽顶出旋转检验治具未设置使底板呈倾斜状态的支撑结构，则检验时光源需朝侧下方照射，观察者在光源与键帽顶出旋转检验治具之间进行观察检查。
步骤S3：检验过程中，使用旋转连接机构旋转顶出板1，带动载盘5一起旋转，以确保键帽的四个侧面均进行检验。因键帽大致为长方体状，检验时可每旋转90度停下，对键帽进行检验。旋转三次后即可以检验键帽的全部四个侧面。这阶段当然也可以采用其它不同的检验方式，例如利用光学仪器对键帽进行快速检验，这样就不需要停下检验，而可以边旋转边检验。
步骤S4：取出检验完成的承载键帽的载盘5。
换言之，该方法主要包括如下三部分：检验前将承载有待检键帽的载盘放置于所述顶出板上，所述凸起顶出所述键帽；检验过程中使用所述旋转连接机构旋转所述顶出板，带动所述载盘一起旋转，以确保所述键帽的四个侧面均进行检验；检验时光源从所述键帽顶出旋转检验治具正上方向下照射，通过所述支撑结构使所述底板呈倾斜状态进而使所述载盘呈倾斜状态，从而使所述键帽侧面被照射到以方便检验。
若其它实施例中，使用的键帽顶出旋转检验治具未设置使底板呈倾斜状态的支撑结构，则该方法包括两部分：检验前将承载有待检键帽的载盘放置于顶出板上，凸起顶出键帽；检验过程中使用旋转连接机构旋转顶出板，带动载盘一起旋转，以确保键帽的四个侧面均进行检验。具体检验方式则是根据情况，采用其它检验方式。
上述实施例提供的键帽顶出旋转检验治具及键帽检验方法，通过设置顶出板与底座，顶出板设有多个对应键帽设置以顶出键帽的凸起，并且在顶出板与底座之间设有使顶出板可横向旋转地连接于底座的旋转连接机构，从而能检验键帽各个侧面，实现多个键帽放在载盘中进行检验，检验效率高，人力成本低，还能避免因人工取放而损伤键帽。
在本文中，术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“竖直”、“水平”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了表达技术方案的清楚及描述方便，因此不能理解为对本发明的限制。
在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，除了包含所列的那些要素，而且还可包含没有明确列出的其他要素。
以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。
Claims (7)
1.一种键帽顶出旋转检验治具，其特征在于，包括顶出板与底座；所述顶出板用以放置承载待检键帽的载盘，所述顶出板设有多个对应所述键帽设置以顶出所述键帽的凸起；所述顶出板与所述底座之间设有使所述顶出板可横向旋转地连接于所述底座的旋转连接机构；
所述底座包括底板，所述底板中部设有配合孔，所述旋转连接机构包括旋转轴、旋转轴盖板，所述旋转轴固定于所述顶出板且穿设于所述配合孔中，所述旋转轴盖板固定于所述旋转轴下方，用以限位所述旋转轴；所述旋转连接机构还包括轴承，所述轴承位于所述配合孔内，外圈固定于所述配合孔壁部，内圈与所述旋转轴相固定；
所述旋转轴包括固定部与旋转部，所述旋转部用以在所述配合孔中旋转，所述固定部位于所述旋转部邻近所述顶出板的一端，用以固定于所述顶出板，且尺寸大于所述旋转部，使所述顶出板与底座之间形成间隙。
2.如权利要求1所述的键帽顶出旋转检验治具，其特征在于，所述凸起为凸台，所述凸台设有多个用以避位键帽内部结构的凹槽。
3.如权利要求1所述的键帽顶出旋转检验治具，其特征在于，所述顶出板设有用以定位所述载盘的定位结构。
4.如权利要求1所述的键帽顶出旋转检验治具，其特征在于，所述底座包括底板与用以支撑所述底板且使所述底板呈倾斜状态进而使所述载盘呈倾斜状态的支撑结构。
5.如权利要求4所述的键帽顶出旋转检验治具，其特征在于，所述支撑结构为多个长度不同的支撑柱。
6.一种键帽检验方法，其特征在于，使用如权利要求1至5中任一所述的键帽顶出旋转检验治具，所述方法包括：检验前将承载有待检键帽的载盘放置于所述顶出板上，所述凸起顶出所述键帽；检验过程中使用所述旋转连接机构旋转所述顶出板，带动所述载盘一起旋转，以确保所述键帽的四个侧面均进行检验。
7.一种键帽检验方法，其特征在于，使用如权利要求1或5所述的键帽顶出旋转检验治具，所述方法包括：检验前将承载有待检键帽的载盘放置于所述顶出板上，所述凸起顶出所述键帽；检验过程中使用所述旋转连接机构旋转所述顶出板，带动所述载盘一起旋转，以确保所述键帽的四个侧面均进行检验；检验时光源从所述键帽顶出旋转检验治具正上方向下照射，通过支撑结构使所述底板呈倾斜状态进而使所述载盘呈倾斜状态，从而使所述键帽侧面被照射到以方便检验。
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