CN115327186B - 一种用于测试主板的刀片探针夹具 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种用于测试主板的刀片探针夹具，包括针模块本体，针模块本体包括第一模芯、第二模芯和第三模芯，第一模芯的一侧设有凹槽，凹槽内设有方形开口，第二模芯上设有多组第一针孔，第一针孔之间设有第一方形槽，第一方形槽与第一针孔之间相互贯通，第一针孔和第一方形槽贯穿第二模芯，第三模芯为T形状，有益效果：使得打孔难度低，便于加工，此种加工方式避免零件切块太多，进行需要钻孔方式，大大降低了加工步骤和加工难度，并解决了切块太多的问题，使得成本更加低廉，此种加工方式适合大部分小、中、大零件的生产。

Description

一种用于测试主板的刀片探针夹具
技术领域
本发明涉及探针夹具领域，具体为一种用于测试主板的刀片探针夹具。
背景技术
集成电路(IC)是有一系列的光刻、腐蚀、掺杂等步骤制造而成，而在实际的集成电路(IC)设计、生产过程中不可避免的会产生各种缺陷，在产品交付客户之前就需要进行电性功能测试，在集成电路检测设备上就需要探针夹具来充当芯片与测试机信号传递的“桥梁”，在对主板进行性能测试时，通过使用刀片探针(Blade probe)安装固定在针模块上，一端连接TPCB，另一端连接待测试主板，通过刀片探针(Blade probe)自身的弹性缓冲结构和前端尖端针刺，使得电信号更加稳定在TPCB和待测试主板之间传输。
目前针模块大多数为一体式结构，针模块长度长，刀具打孔需要十分精确，难度较大，在打孔的时容易将刀头损坏，加工成本较大，而且不便于量产。
发明内容
(一)解决的技术问题
本发明要解决的技术问题是：目前针模块大多数为一体式结构，针模块长度长，刀具打孔需要十分精确，难度较大，在打孔的时容易将刀头损坏，加工成本较大，而且不便于量产。
(二)技术方案
为解决上述问题，本发明提供如下技术方案：
1.一种用于测试主板的刀片探针夹具，其特征在于：包括针模块本体，所述针模块本体包括第一模芯、第二模芯和第三模芯，所述第一模芯的一侧设有凹槽，所述凹槽内设有方形开口，所述第二模芯上设有多组第一针孔，所述第一针孔之间设有第一方形槽，所述第一方形槽与所述第一针孔之间相互贯通，所述第一针孔和所述第一方形槽贯穿所述第二模芯，所述第三模芯为T形状，所述第三模芯上设有第二针孔和第三针孔，所述第二针孔与第三针孔之间设有第二方形槽，所述第二针孔贯穿所述第三模芯，所述第二方形槽的深度与所述第三针孔的深度相同。
进一步的，，所述第一模芯、所述第二模芯和第三模芯的两侧分别设有固定槽，所述固定槽之间上下贯通，且所述固定槽在同一中心轴上。
进一步的，所述第一方形槽与所述第二方形槽之间相互贯通，所述第一方形槽与所述第二方形槽的槽宽在0.14mm-0.16mm之间。
进一步的，所述第一针孔、所述第二针孔和第三针孔的孔径相同，所述第二针孔的深度的小于所述第一针孔的深度，所述第一针孔于所述第三针孔的深度。
进一步的，所述凹槽覆盖在所述第一针孔上部。。
进一步的，所述第一模芯、所述第二模芯和所述第三模芯之间为活动连接。
有益效果
本发明有益效果为：使得打孔难度低，便于加工，此种加工方式避免零件切块太多，进行需要钻孔方式，大大降低了加工步骤和加工难度，并解决了切块太多的问题，使得成本更加低廉，此种加工方式适合大部分小、中、大零件的生产。
附图说明
图1是本发明的立体图；
图2是本发明的爆炸图；
图3是本发明的第三模芯剖视图；
图4是本发明的第一模芯立体图；
图5是本发明的第三模芯俯视图；
图中标记：1-针模块本体、2-第一模芯、3-第二模芯、4-第三模芯、5-凹槽、6-方形开口、7-第一针孔、8-第一方形槽、9-第二针孔、10-第三针孔、11-第二方形槽、12-固定槽。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
在本发明的描述中，需要理解的是，术语“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。
请参阅图1-3所示一种用于测试主板的刀片探针夹具，包括针模块本体1，针模块本体1包括第一模芯2、第二模芯3和第三模芯4，第一模芯2的一侧设有凹槽5，凹槽5内设有方形开口6，第二模芯3上设有多组第一针孔7，第一针孔7之间设有第一方形槽8，第一方形槽8与第一针孔7之间相互贯通，第一针孔7和第一方形槽8贯穿第二模芯3，第三模芯4为T形状，第三模芯4上设有第二针孔9和第三针孔10，第二针孔9与第三针孔10之间设有第二方形槽11，第二针孔9贯穿第三模芯4，第二方形槽11的深度与第三针孔10的深度相同。
进一步的，第一模芯2、第二模芯3和第三模芯4的两侧分别设有固定槽12，固定槽12之间上下贯通，且固定槽12在同一中心轴上，便于对针模块本体1进行拆卸和固定，使得模芯之间连接更稳定。
进一步的，第一方形槽8与第二方形槽11之间相互贯通，第一方形槽8与第二方形槽11的槽宽在0.14mm-0.16mm之间，便于加工时刀具打孔，同时在应用中能够对刀片探针起到定位作用。
进一步的，第一针孔7、第二针孔9和第三针孔10的孔径相同，第二针孔9的深度的小于第一针孔7的深度，第一针孔7小于第三针孔10的深度，便于刀片探针能够顺利插入针模块本体中，同时第二针孔9的底部能够对刀片探针起到支撑作用，使得刀片探针的针头从第三针孔10中露出。
进一步的，凹槽5覆盖在第一针孔7上部，能够对刀片探针起到固定的作者用，防止在工作中出现上移或者顶落。
进一步的，第一模芯2、第二模芯3和第三模芯4之间为活动连接，方便对针模块本体1进行拆卸保养，而且可以根据刀片探针的长短进行调节更换。
针模块设计是通过0.7mm刀具打针孔，设计上计算好孔与孔相产生一个0.15mm的槽宽，确认刀具打孔所需要的偏移定位位置；满足刀片探针的定位作用。原针模块长度长，刀具打孔需要十分精确，难度较大。因此采用简化分体加工组装的方式加工，单个针模分块零件长度短，打孔难度低，便于加工。此种加工方式避免零件切块太多，进行需要钻孔方式，大大降低了加工步骤和加工难度，并解决了切块太多的问题，使得成本更加低廉，此种加工方式适合大部分小、中、大零件的生产。
对于本领域技术人员而言，显然本发明不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本发明的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本发明。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本发明的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本发明内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。
此外，应当理解，虽然本说明书按照实施方式加以描述，但并非每个实施方式仅包含一个独立的技术方案，说明书的这种叙述方式仅仅是为清楚起见，本领域技术人员应当将说明书作为一个整体，各实施例中的技术方案也可以经适当组合，形成本领域技术人员可以理解的其他实施方式。

Claims (6)

1.一种用于测试主板的刀片探针夹具，其特征在于：包括针模块本体(1)，所述针模块本体(1)包括第一模芯(2)、第二模芯(3)和第三模芯(4)，所述第一模芯(2)的一侧设有凹槽(5)，所述凹槽(5)内设有方形开口(6)，所述第二模芯(3)上设有多组第一针孔(7)，所述第一针孔(7)之间设有第一方形槽(8)，所述第一方形槽(8)与所述第一针孔(7)之间相互贯通，所述第一针孔(7)和所述第一方形槽(8)贯穿所述第二模芯(3)，所述第三模芯(4)为T形状，所述第三模芯(4)上设有第二针孔(9)和第三针孔(10)，所述第二针孔(9)与第三针孔(10)之间设有第二方形槽(11)，所述第二针孔(9)贯穿所述第三模芯(4)，所述第二方形槽(11)的深度与所述第三针孔(10)的深度相同。
2.根据权利要求1所述的一种用于测试主板的刀片探针夹具，其特征在于，所述第一模芯(2)、所述第二模芯(3)和第三模芯(4)的两侧分别设有固定槽(12)，所述固定槽(12)之间上下贯通，且所述固定槽(12)在同一中心轴上。
3.根据权利要求1所述的一种用于测试主板的刀片探针夹具，其特征在于，所述第一方形槽(8)与所述第二方形槽(11)之间相互贯通，所述第一方形槽(8)与所述第二方形槽(11)的槽宽在0.14mm-0.16mm之间。
4.根据权利要求1所述的一种用于测试主板的刀片探针夹具，其特征在于，所述第一针孔(7)、所述第二针孔(9)和第三针孔(10)的孔径相同，所述第二针孔(9)的深度的小于所述第一针孔(7)的深度，所述第一针孔(7)小于所述第三针孔(10)的深度。
5.根据权利要求1所述的一种用于测试主板的刀片探针夹具，其特征在于，所述凹槽(5)覆盖在所述第一针孔(7)上部。
6.根据权利要求1所述的一种用于测试主板的刀片探针夹具，其特征在于，所述第一模芯(2)、所述第二模芯(3)和所述第三模芯(4)之间为活动连接。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2024098371A1 (zh) * 2022-11-11 2024-05-16 江苏联康信息股份有限公司 一种用于测试主板的刀片探针夹具

Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0968545A (ja) * 1995-08-31 1997-03-11 Nippon Maikuronikusu:Kk プローブカード及びその製造方法
CN2496035Y (zh) * 2001-07-23 2002-06-19 吴志成 球栅阵列金属球封装元件的测试治具
JP2004191064A (ja) * 2002-12-06 2004-07-08 Micronics Japan Co Ltd プローブ装置
KR100760538B1 (ko) * 2007-06-01 2007-09-19 나노세미텍(주) 지지결합식 블레이드 니들을 갖는 프로브블록용 니들블록
KR101444059B1 (ko) * 2014-07-24 2014-09-24 김재길 멀티 타입 프로브 카드
CN206248738U (zh) * 2016-10-19 2017-06-13 苏州润弘安创自动化科技有限公司 一种用于电子设备测试的测试装置
CN110716073A (zh) * 2019-11-12 2020-01-21 苏州华兴源创科技股份有限公司 一种探针模组
CN110850272A (zh) * 2019-11-15 2020-02-28 珠海格力电器股份有限公司 一种探针夹具及芯片电性测试装置
CN211318541U (zh) * 2019-11-29 2020-08-21 上海捷策创电子科技有限公司 一种测试插座
CN212207438U (zh) * 2020-02-24 2020-12-22 科大讯飞股份有限公司 用于夹持电路板的夹具

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0968545A (ja) * 1995-08-31 1997-03-11 Nippon Maikuronikusu:Kk プローブカード及びその製造方法
CN2496035Y (zh) * 2001-07-23 2002-06-19 吴志成 球栅阵列金属球封装元件的测试治具
JP2004191064A (ja) * 2002-12-06 2004-07-08 Micronics Japan Co Ltd プローブ装置
KR100760538B1 (ko) * 2007-06-01 2007-09-19 나노세미텍(주) 지지결합식 블레이드 니들을 갖는 프로브블록용 니들블록
KR101444059B1 (ko) * 2014-07-24 2014-09-24 김재길 멀티 타입 프로브 카드
CN206248738U (zh) * 2016-10-19 2017-06-13 苏州润弘安创自动化科技有限公司 一种用于电子设备测试的测试装置
CN110716073A (zh) * 2019-11-12 2020-01-21 苏州华兴源创科技股份有限公司 一种探针模组
CN110850272A (zh) * 2019-11-15 2020-02-28 珠海格力电器股份有限公司 一种探针夹具及芯片电性测试装置
CN211318541U (zh) * 2019-11-29 2020-08-21 上海捷策创电子科技有限公司 一种测试插座
CN212207438U (zh) * 2020-02-24 2020-12-22 科大讯飞股份有限公司 用于夹持电路板的夹具

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