CN211318541U - 一种测试插座 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种测试插座，属于芯片检测技术领域。所述测试插座包括保护座和坐落于所述保护座上方的测试座，所述测试座的中心开设有凹槽，探针组件容纳于所述凹槽内，所述探针组件包括接地铜块和穿设于所述接地铜块内的探针；所述接地铜块上设有接地探针插孔和信号探针插孔，分别用于插设接地探针和信号探针；所述接地铜块包括由上至下叠放的上铜块和下铜块，所述上铜块和所述下铜块上的探针插孔一一对应，以使每个探针均同时插设于所述上铜块和所述下铜块上。本实用新型通过接地铜块上分别设置接地探针插孔和信号探针插孔，将接地探针和信号探针隔开，避免二者之间产生干扰；同时提高了探针放置的稳固性，保证了与芯片引脚的精准接触。

Description

一种测试插座

技术领域

本实用新型涉及芯片检测技术领域，尤其涉及一种测试插座。

背景技术

随着5G时代的到来，数据传输所使用的频率更高，可以达到毫米波频段；带宽更宽，可以达到数百兆；设备更加复杂，采用MIMO多天线传输数据；5G技术的快速发展也为测试5G芯片的射频(Radio Frequency，RF)性能带来了重大挑战。为了满足市场对5G芯片的超高要求，芯片都需要经过超高频的测试，但是现有的测试插座的若干探针之间存在较大的射频干扰，尤其是接地探针与信号探针之间的干扰会显著影响测试结果的准确性；此外，探针在测试插座上如果不能稳定放置，无法与芯片上的引脚精准接触，同样影响测试结果的准确性。

因此，亟待提供一种测试插座解决上述问题。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种测试插座，能够稳定放置探针，降低信号探针之间、尤其是信号探针与接地探针之间的干扰，提高测试结果的准确性。

为实现上述目的，提供以下技术方案：

一种测试插座，包括保护座和坐落于所述保护座上方的测试座，所述测试座的中心开设有凹槽，探针组件容纳于所述凹槽内，所述探针组件包括接地铜块和穿设于所述接地铜块内的探针；所述接地铜块上设有接地探针插孔和信号探针插孔，分别用于插设接地探针和信号探针；

所述接地铜块包括由上至下叠放的上铜块和下铜块，所述上铜块和所述下铜块上的探针插孔一一对应，以使每个探针均同时插设于所述上铜块和所述下铜块上。

作为优选，所述测试插座还包括盖板组件，所述盖板组件包括设于所述凹槽内的上盖板和下盖板，所述上盖板上设有上卡槽，所述下盖板上设有下卡槽，所述上盖板与所述下盖板相互扣合，以使所述接地铜块卡接于所述上卡槽和所述下卡槽组成的铜块卡槽内；第一螺栓由上至下依次穿过所述上盖板和所述下盖板后锁附于所述测试座上。

作为优选，所述上卡槽和所述上铜块均为倒T型结构，所述下卡槽和所述下铜块均为T型结构，所述上盖板与所述下盖板相互扣合时，所述上铜块卡接于所述上卡槽中，所述下铜块卡接于所述下卡槽中。

作为优选，所述测试插座还包括导向板，所述凹槽的内壁上设有隔板，以将所述凹槽隔成的上方的第一凹槽和下方的第二凹槽，所述导向板嵌设于所述第一凹槽内，所述探针组件及所述盖板组件均设于所述第二凹槽内，所述第一螺栓锁附于所述隔板上，芯片经由所述导向板放入所述凹槽，并与探针接触。

作为优选，所述下盖板上设有定位杆，所述上盖板及所述隔板上设有第一定位孔，所述定位杆插设于所述第一定位孔中。

作为优选，所述下盖板为矩形结构，所述定位杆设置有两个，且分别位于所述下盖板的同一对角线上。

作为优选，所述导向板的底面上设有第一台阶，所述第一台阶与所述隔板抵接，以定位所述导向板在所述第一凹槽内的位置。

作为优选，所述导向板的底面上还设有第一螺栓容纳槽，以容纳所述第一螺栓。

作为优选，所述第一凹槽的边缘处设有扣手槽。

作为优选，所述保护座上设置探针避让槽，以提供探针伸缩时的容纳空间。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果：

本实用新型通过接地铜块上分别设置接地探针插孔和信号探针插孔，将接地探针和信号探针隔开，避免二者之间产生干扰；采用上铜块和下铜块的叠放布置能够将探针同时置于上铜块和下铜块上，提高了探针放置的稳固性，保证了与芯片引脚的精准接触，有利于提高芯片测试结果的准确性。

附图说明

图1为本实用新型实施例中测试插座的结构示意图；

图2为本实用新型实施例中测试插座的正视图；

图3为图2中A-A面的剖视图；

图4为本实用新型实施例中测试座的结构示意图；

图5为本实用新型实施例中探针组件的结构示意图；

图6为本实用新型实施例中上盖板的结构示意图；

图7为本实用新型实施例中探针组件与下盖板的安装示意图；

图8为本实用新型实施例中导向板的结构示意图。

附图标记：

100-芯片；

1-保护座；2-测试座；3-探针组件；4-盖板组件；5-导向板；

11-探针避让槽；21-凹槽；22-隔板；23-第二螺栓容纳槽；24-第二螺栓；25-扣手槽；26-定位槽；31-上铜块；32-下铜块；33-探针；41-上盖板；42-下盖板；43-第一螺栓；51-导向通孔；52-芯片避让槽；53-第一螺栓容纳槽；54-第二定位孔；55-第一台阶；

311-接地探针插孔；312-信号探针插孔；331-接地探针；332-信号探针；411-定位插孔；412-上卡槽；413-第一定位孔；421-下卡槽；422-定位杆。

具体实施方式

为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本实用新型实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。

因此，以下对在附图中提供的本实用新型的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本实用新型的范围，而是仅仅表示本实用新型的选定实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，术语“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该实用新型产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。在本实用新型的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。

在本实用新型的描述中，还需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“设置”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触，也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

下面详细描述本实用新型的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本实用新型，而不能理解为对本实用新型的限制。

如图1-5所示，本实施例在于公开一种测试插座，包括保护座1和坐落于保护座1上方的测试座2，测试座2的中心开设有凹槽21，探针组件3容纳于凹槽21内，用于与芯片100接触完成检测；进一步地，探针组件3包括接地铜块和穿设于接地铜块内的探针33；接地铜块上设有接地探针插孔311和信号探针插孔312，分别用于插设接地探针331和信号探针332。本实施例通过在接地铜块上分别设置接地探针插孔311和信号探针插孔312，将接地探针331和信号探针332隔开，避免二者之间产生干扰；同时通过将探针33穿设于接地铜块中，实现弹针的稳定放置，保证与芯片100的引脚精准接触，提高芯片100测试结果的准确性。可选地，接地探针插孔311为腰型孔。

继续参考图3和图5，可选接地铜块包括由上至下叠放的上铜块31和下铜块32，上铜块31和下铜块32上的探针33插孔一一对应，以使每个探针33均同时插设于上铜块31和下铜块32上。具体实施时，首先将探针33放置于下铜块32的探针33插孔内，再将上铜块31叠放于下铜块32上，探针33由上铜块31的探针33插孔露出。采用上铜块31和下铜块32的叠放布置能够将探针33同时置于上铜块31和下铜块32上，提高了探针33放置的稳固性，同时充分利用接地铜块进行探针33之间的隔离，避免了相互之间可能发生的干扰，提高了芯片100测试结果的准确性。

进一步地，参考图3、图6和图7，接地铜块通过盖板组件4在测试座2上稳固放置，盖板组件4包括设于凹槽21内上盖板41和下盖板42，上盖板41上设有上卡槽412，下盖板42上设有下卡槽421，上盖板41与下盖板42相互扣合固定，以使接地铜块卡接于上卡槽412和下卡槽421组成的铜块卡槽内；同时采用第一螺栓43由上至下依次穿过上盖板41和下盖板42后锁附于测试座2上，进而实现接地铜块与测试座2的相对固定。可选地，上盖板41上开设有倒T型的上卡槽412，上铜块31为倒T型结构，下盖板42上开设有T型的下卡槽421，下铜块32为T型结构，当上盖板41与下盖板42相互扣合时，上铜块31卡接于上卡槽412中，下铜块32卡接于下卡槽421中，进而实现盖板组件4对接地铜块的稳固卡接，避免接地铜块的偏移和晃动。本实施例中，通过盖板组件4对接地铜块进行安装固定，既避免了在铜块上进行打孔加工，也保证了接地铜块在测试座2上放置的稳定性。

本实施例中，保护座1、测试座2、凹槽21、盖板组件4、接地铜块等均为矩形结构。进一步可选地，第一螺栓43设置有四个，分别位于盖板组件4四条边的中间位置，以确保上盖板41与下盖板42之间的紧固。进一步地，上盖板41与下盖板42在顶角处还可通过螺丝紧固，进一步实现上盖板41和下盖板42之间的紧密扣合，进而保证了接地铜块、以及接地铜块内置探针33的稳固性。

本实施例中，参考图6，盖板组件4的上盖板41上还设置有定位插孔411，用于辅助定位探针33。具体地，上铜块31为倒T型结构，其包括上铜块本体和垂直设于上铜块本体上部的凸起部，凸起部与上铜块本体之间存在竖直方向的高度差，上盖板41盖上后，上盖板41的顶面与凸起部的顶面相平齐；凸起部上设有信号探针插孔312，而上铜块本体上同时设有接地探针插孔311和信号探针插孔312，上铜块本体的探针33插孔围设于凸起部的探针33插孔外围；当上盖板41盖设到上铜块本体上时，上铜块本体的探针33无法露出，因此，在上盖板41上设有与上铜块本体的探针33插孔相对应的定位插孔411，以使设于上铜块本体上的探针33由定位插孔411露出，保证探针33正常使用的同时，还能避免接地探针331在腰型孔内发生晃动偏移，造成不能与芯片100引脚很好的接触。同理，下盖板42以及下铜块32的结构设计与上述下上盖板41和上铜块31的类似，主要目的就是实现弹针的稳固放置，这里不再进行赘述。

参考图1、图3和图4，测试插座还包括导向板5，凹槽21的内壁上设有隔板22，以将凹槽21隔成的上方的第一凹槽21和下方的第二凹槽21，第一凹槽21和第二凹槽21相互连通；导向板5嵌设于测试座2的第一凹槽21内，探针组件3及盖板组件4均设于第二凹槽21内，芯片100经由导向板5放入凹槽21，并与探针33抵接；盖板组件4的第一螺栓43锁附于隔板22上。

进一步地，参考图8，导向板5的中心开设倒锥形的导向通孔51，导向通孔51与测试座2的第二凹槽21相连通，以使探针33能够与放入导向通孔内的芯片100精准接触。可选地，导向孔51的底部为矩形结构，在矩形结构的四个顶角处及侧边的中心位置开设有芯片避让槽52，芯片避让槽52沿竖直方向贯穿整个导向板5，以使矩形的芯片100放入时不被倒锥形的导向孔51孔壁干涉，也方便了人员通过芯片100外边缘拿取芯片100。可选地，导向板5通过螺丝或螺栓结构由上至下锁附于测试座2的隔板22上。进一步可选地，参考图3，为了保证导向板5在第一凹槽21内定位准确，可选导向板5为T型结构，进而在导向板5的底面上形成了第一台阶55，第一台阶55与隔板22抵接，对导向板5在第一凹槽21内的放置进行定位，此时，导向孔51能够与第二凹槽21内的探针组件3位置在空间上对应，同时导向板5的顶面与测试座2的顶面平齐，保持整个测试插座的美观。进一步地，参考图1和图4，为了便于拆卸过程中拿取导向板5，在第一凹槽21的边缘处设有扣手槽25，人员或者工具伸入扣手槽25进行导向板5的安装与拆卸。进一步地，参考图3，导向板5的底面上还设有第一螺栓容纳槽53，以使连接上盖板41与下盖板42的第一螺栓43能够容纳于此，保证第一螺栓43不外露、美观的同时，还能够提高测试插座的紧凑性。

进一步地，参考图7，下盖板42上设有定位杆422，参考图4和图6，上盖板41和隔板22上均设有相应的第一定位孔413，定位杆422能够依次插设于第一定位孔413中，对盖板组件4相对于测试座2的放置位置进行定位；进一步可选地，定位杆422设置有两个，且分别位于下盖板42的对角线上，进而对矩形的盖板组件4进行充分定位。进一步地，定位杆422为圆柱形结构；参考图8，导向板5上也设有两个第二定位孔54，其设置位置与隔板22上的第一定位孔413相对应，但两个第二定位孔54中的一个为圆形孔，一个为腰型孔，定位杆422在腰型孔内位置可变，上述一个圆形孔一个腰型孔的设计既能够定位导向板5相对于探针组件3的大致位置，还能够在进行导向板5的装配时具有一定的调节余量，使得导向板5更好地与隔板22完成装配，也有利于通过位置微调使芯片100与探针组件3的探针33更精准接触。

进一步地，参考图3，保护座1上设置探针避让槽11，其设置位置与探针组件3在保护座1上的投影相重合，以提供探针33伸缩的容纳空间。

可选地，保护座1和测试座2通过螺栓结构相对固定。参考图1，测试座2的四个顶角处设有第二螺栓容纳槽23，第二螺栓24设于第二螺栓容纳槽23内，并由上至下依次拧入测试座2和保护座1，达到对保护座1和测试座2的锁附。进一步可选地，参考图2，测试座2的底面开设有定位槽26，定位槽26的槽顶与保护座1的顶面之间设有间隙，该间隙的存在能够在采用第二螺栓24锁附时，保证测试座2与保护座1确实完成了锁紧。

注意，上述仅为本实用新型的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本实用新型不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本实用新型的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本实用新型进行了较为详细的说明，但是本实用新型不仅仅限于以上实施例，在不脱离本实用新型构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本实用新型的范围由所附的权利要求范围决定。

Claims (10)

1.一种测试插座，包括保护座(1)和坐落于所述保护座(1)上方的测试座(2)，所述测试座(2)的中心开设有凹槽(21)，探针组件(3)容纳于所述凹槽(21)内，其特征在于，所述探针组件(3)包括接地铜块和穿设于所述接地铜块内的探针(33)；所述接地铜块上设有接地探针插孔(311)和信号探针插孔(312)，分别用于插设接地探针(331)和信号探针(332)；

所述接地铜块包括由上至下叠放的上铜块(31)和下铜块(32)，所述上铜块(31)和所述下铜块(32)上的探针插孔一一对应，以使每个探针(33)均同时插设于所述上铜块(31)和所述下铜块(32)上。

2.根据权利要求1所述的测试插座，其特征在于，所述测试插座还包括盖板组件(4)，所述盖板组件(4)包括设于所述凹槽(21)内的上盖板(41)和下盖板(42)，所述上盖板(41)上设有上卡槽(412)，所述下盖板(42)上设有下卡槽(421)，所述上盖板(41)与所述下盖板(42)相互扣合，以使所述接地铜块卡接于所述上卡槽(412)和所述下卡槽(421)组成的铜块卡槽内；第一螺栓(43)由上至下依次穿过所述上盖板(41)和所述下盖板(42)后锁附于所述测试座(2)上。

3.根据权利要求2所述的测试插座，其特征在于，所述上卡槽(412)和所述上铜块(31)均为倒T型结构，所述下卡槽(421)和所述下铜块(32)均为T型结构，所述上盖板(41)与所述下盖板(42)相互扣合时，所述上铜块(31)卡接于所述上卡槽(412)中，所述下铜块(32)卡接于所述下卡槽(421)中。

4.根据权利要求2所述的测试插座，其特征在于，所述测试插座还包括导向板(5)，所述凹槽(21)的内壁上设有隔板(22)，以将所述凹槽(21)隔成的上方的第一凹槽和下方的第二凹槽，所述导向板(5)嵌设于所述第一凹槽内，所述探针组件(3)及所述盖板组件(4)均设于所述第二凹槽内，所述第一螺栓(43)锁附于所述隔板(22)上，芯片(100)经由所述导向板(5)放入所述凹槽(21)，并与探针(33)接触。

5.根据权利要求4所述的测试插座，其特征在于，所述下盖板(42)上设有定位杆(422)，所述上盖板(41)及所述隔板(22)上设有第一定位孔(413)，所述定位杆(422)插设于所述第一定位孔(413)中。

6.根据权利要求5所述的测试插座，其特征在于，所述下盖板(42)为矩形结构，所述定位杆(422)设置有两个，且分别位于所述下盖板(42)的同一对角线上。

7.根据权利要求4所述的测试插座，其特征在于，所述导向板(5)的底面上设有第一台阶(55)，所述第一台阶(55)与所述隔板(22)抵接，以定位所述导向板(5)在所述第一凹槽内的位置。

8.根据权利要求4所述的测试插座，其特征在于，所述导向板(5)的底面上还设有第一螺栓容纳槽(53)，以容纳所述第一螺栓(43)。

9.根据权利要求4所述的测试插座，其特征在于，所述第一凹槽的边缘处设有扣手槽(25)。

10.根据权利要求1所述的测试插座，其特征在于，所述保护座(1)上设置探针避让槽(11)，以提供探针(33)伸缩时的容纳空间。

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