CN114200167B - 一种1553b总线收发器模块专用测试插座 - Google Patents
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Abstract
一种1553B总线收发器模块专用测试插座，包括探针、基座、测试座、针座、弹簧以及测试盖；基座中心开设有凹槽，测试座容纳于所述凹槽内；测试座为框型结构，中心开设有测试凹槽；测试盖设置于基座上方，测试盖与基座相卡接，测试盖下方设有凸台，通过旋拧测试盖上的锁紧装置，将收发器模块固定在测试凹槽中；针座设置在基座下方，测试座与基座均开设有探针插孔，探针通过针座装配在探针插孔内。本发明操作方便、使用寿命长、便于维护更换。应用于1553B总线收发器模块的批量测试，可以显著提高测试效率。
Description
技术领域
本发明涉及一种1553B总线收发器模块专用测试插座，属于电路测试技术领域。
背景技术
集成总线隔离变压器的双通道1553B总线收发器模块是一款符合MIL-STD-1553B总线标准，并在内部集成了双通道总线隔离变压器的1553总线接口器件。该模块内部中的变压器受工艺影响，导致其性能参数不稳定，为了检测关键参数批次一致性问题，需要进行大批量的测试。
1553B总线收发器模块采用LCCC24封装形式，其30个功能管脚排列于陶瓷管壳底面。目前国内市场没有对应的测试插座。
发明内容
本发明的目的在于提供一种1553B总线收发器模块专用测试插座，实现对1553B总线收发器模块的测试。
本发明目的通过如下技术方案予以实现：
一种1553B总线收发器模块专用测试插座，包括探针、基座、测试座、针座、弹簧以及测试盖；
基座中心开设有凹槽，测试座固定于基座中心开设的凹槽中；所述测试座为框型结构，中心开设有测试凹槽，用于放置1553B总线收发器模块；测试座和基座之间设有弹簧；
所述基座固定在PCB板上；
所述针座固定在基座下表面，针座上设置有探针定位孔，基座和测试座上均设置有探针插孔，且针座上的探针定位孔、基座和测试座上的探针插孔的布局均与收发器模块管脚布局一致，探针固定在针座的探针定位孔中，并从对应的基座探针插孔中穿出；
测试盖下部设置有凸台，顶部设计有锁紧装置，锁紧装置与凸台连接，旋拧锁紧装置能够控制凸台升降；
测试时，1553B总线收发器模块放置于测试座内，测试盖通过两侧的卡接机构卡接在基座上，初始时，探针和1553B总线收发器模块的管脚不接触；旋拧测试盖上锁紧装置，测试盖的凸台下降，将放置在测试座上的1553B总线收发器模块压紧，同时给测试座施加压力使其下降，使得探针和1553B总线收发器模块的管脚接触，实现插座闭合；反方向旋拧测试盖的锁紧装置，凸台将会上升，弹簧的作用力将测试座推回初始位置，插座从闭合状态变开合状态。
弹簧使得测试座能够向下按压1mm。
基座、测试座和针座使用绝缘材料制成，在表面制作标识符号，明确标识1553B总线收发器模块的第一引脚方向。
探针为弹性探针，伸缩范围为1mm。
测试盖下部的凸台材质为陶瓷，测试盖除凸台以外的材质为不锈钢。
探针材质为黄铜合金。
与现有技术相比，本发明具有如下有益效果：
本发明测试盖与基座相卡接，通过旋拧测试盖的锁紧装置，实现在活动范围内探针与收发器模块管脚的接触，反方向旋拧测试盖的锁紧装置使之复位，完成插座的闭合和开合动作。
本发明所提供的1553B总线收发器模块专用测试插座在市场上没有在售产品，应用于1553B总线收发器模块的批量测试，可以显著提高测试效率。
本发明操作方便、使用寿命长、便于维护更换。
附图说明
图1为本发明1553B总线收发器模块专用测试插座的总体组件图；
图2为本发明1553B总线收发器模块专用测试插座中的基座示意图；
图3为本发明1553B总线收发器模块专用测试插座中的测试座示意图；
图4为本发明1553B总线收发器模块专用测试插座中的针座示意图；
图5为本发明1553B总线收发器模块专用测试插座中的测试盖示意图；
图6为本发明1553B总线收发器模块专用测试插座组装到位后的示意图。
具体实施方式
为提高测试效率，本发明设计专用测试插座，应用于1553B总线系列电路的收发器模块的批量测试。
如图1-6所示，本发明一种1553B总线收发器模块专用测试插座，由探针1、基座2、测试盖12、测试座3、针座4、弹簧10、固定螺钉8、定位销7、螺母6、垫片11、测试座螺钉5、针座螺钉9组成；
基座2中心开设有凹槽，测试座3通过测试座螺钉5和定位销7固定在基座2中心开设的凹槽中，测试座3和基座2之间设有弹簧10，测试座3能够向下按压1mm。测试座3为框型结构，中心开设有测试凹槽，用于放置1553B总线收发器模块。
基座2通过固定螺钉8、螺母6和垫片11固定在PCB板上。
针座4通过针座螺钉9固定在基座2下表面，针座4上设置有探针定位孔，基座2和测试座3上均设置有探针插孔，且针座4上的探针定位孔、基座2和测试座3上的探针插孔的布局均与收发器模块管脚布局一致，探针1固定在针座4的探针定位孔中，并从对应的基座探针插孔中穿出。
测试盖12设置于基座上方，测试盖12与基座2相卡接，测试盖12下方设有凸台，通过旋拧测试盖上的锁紧装置，将收发器模块固定在测试凹槽中。
测试时，1553B总线收发器模块放置于测试座3内，测试盖12通过两侧的卡接机构卡接在基座2上，初始时，探针1和1553B总线收发器模块的管脚不接触；测试盖12顶部设计有锁紧装置，旋拧测试盖12上锁紧装置，测试盖12的凸台下降，将放置在测试座3上的1553B总线收发器模块压紧，同时给测试座3施加压力使其下降，使得探针1和1553B总线收发器模块的管脚接触，实现插座闭合；反方向旋拧测试盖12的锁紧装置，凸台将会上升，弹簧10的作用力将测试座推回初始位置，插座从闭合状态变开合状态。
探针由30根长度为4.8mm的Φ0.5弹性探针装配于亚克力基座2、针座4、测试座3内，探针1采用韧性较强的黄铜合金材质，当收发器模块放入测试座3并压紧时，顶端接触面可与电路下面管脚接触，由于探针1为弹性探针，材质韧性较强不会导致其弯曲，探针底部伸出针座4，与PCB板直接接触，不需要焊接。弹性探针伸缩范围为1mm。
基座2、测试座3和针座4使用绝缘材料制成，在表面制作标识符号，明确标识1553B总线收发器模块的第一引脚方向。
测试盖12下部的凸台材质为陶瓷，测试盖12除凸台以外的材质为不锈钢。
本发明测试盖12与基座2相卡接，通过旋拧测试盖12的锁紧装置，并在活动范围内完成探针与收发器模块管脚的接触，反方旋拧测试盖12的锁紧装置使之复位。完成插座的闭合和开合动作。
本发明所提供的1553B总线收发器模块专用测试插座在市场上没有在售产品。应用于1553B总线收发器模块的批量测试，可以显著提高测试效率。
以上所述，仅为本发明最佳的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。
本发明说明书中未作详细描述的内容属于本领域专业技术人员的公知技术。
Claims (6)
1.一种1553B总线收发器模块专用测试插座，其特征在于：包括探针(1)、基座(2)、测试座(3)、针座(4)、弹簧(10)以及测试盖(12)；
基座(2)中心开设有凹槽，测试座(3)固定于基座(2)中心开设的凹槽中；所述测试座(3)为框型结构，中心开设有测试凹槽，用于放置1553B总线收发器模块；测试座(3)和基座(2)之间设有弹簧(10)；
所述基座(2)固定在PCB板上；
所述针座(4)固定在基座(2)下表面，针座上设置有探针定位孔，基座和测试座(3)上均设置有探针插孔，且针座上的探针定位孔、基座和测试座上的探针插孔的布局均与收发器模块管脚布局一致，探针固定在针座的探针定位孔中，并从对应的基座探针插孔中穿出；
测试盖(12)下部设置有凸台，顶部设计有锁紧装置，锁紧装置与凸台连接，旋拧锁紧装置能够控制凸台升降；
测试时，1553B总线收发器模块放置于测试座(3)内，测试盖(12)通过两侧的卡接机构卡接在基座上，初始时，探针和1553B总线收发器模块的管脚不接触；旋拧测试盖上锁紧装置，测试盖的凸台下降，将放置在测试座上的1553B总线收发器模块压紧，同时给测试座施加压力使其下降，使得探针和1553B总线收发器模块的管脚接触，实现插座闭合；反方向旋拧测试盖的锁紧装置，凸台将会上升，弹簧(10)的作用力将测试座推回初始位置，插座从闭合状态变开合状态。
2.根据权利要求1所述的一种1553B总线收发器模块专用测试插座，其特征在于：弹簧(10)使得测试座(3)能够向下按压1mm。
3.根据权利要求1所述的一种1553B总线收发器模块专用测试插座，其特征在于：基座(2)、测试座(3)和针座(4)使用绝缘材料制成，在表面制作标识符号，明确标识1553B总线收发器模块的第一引脚方向。
4.根据权利要求1所述的一种1553B总线收发器模块专用测试插座，其特征在于：探针(1)为弹性探针，伸缩范围为1mm。
5.根据权利要求1所述的一种1553B总线收发器模块专用测试插座，其特征在于：测试盖下部的凸台材质为陶瓷，测试盖除凸台以外的材质为不锈钢。
6.根据权利要求1所述的一种1553B总线收发器模块专用测试插座，其特征在于：探针(1)材质为黄铜合金。
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