CN115235395A - 一种mlcc的长轴偏移量检测方法 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种MLCC的长轴偏移量检测方法，其包括如下步骤：提供印刷图形版；按照预设的图形，在所述印刷图形版上印刷MLCC的内电极图案和检测电极图案，得到层叠单元；将多个所述层叠单元交错层叠形成巴块；对所述巴块进行切割，得到坯件；至少一个所述坯件的横向切割面露出检测电极图案，测量该坯件的检测电极图案与其纵向切割面之间的距离，得到MLCC的长轴偏移量，其无需将坯件剖开即可确定MLCC的长轴偏移量，不仅方便了长轴偏移量的确定，而且还避免了坯件的浪费。

Description

一种MLCC的长轴偏移量检测方法

技术领域

本发明涉及MLCC检测技术领域，特别是涉及一种MLCC的长轴偏移量检测方法。

背景技术

片式多层陶瓷电容器，简称为MLCC(Multi-layer Ceramic Capacitors)，是一种电路中广泛应用的电容器，又被称为“独石电容器”。电容器是重要的电子元器件，属于被动元件中的电路类(电阻、电容、电感，合称LCR)元器件，是复杂电路架构的重要组成部分。电容在电路中的主要作用是储存电荷、交流滤波、旁路、提供调谐及振荡和用于微分、积分电路等。

图1给出的现有技术中在印刷图形版上印刷内电极图案后的俯视图，其首先在印刷图形版上按相邻两行交错的方式印刷内电极图案，然后将印刷完成的多个印刷图形版层叠形成片式多层陶瓷电容器的巴块，然后将巴块切割形成片式多层陶瓷电容器的坯件，此时，由于相邻两行的内电极图案交错设置，当沿着图1中的横向切割线S1和纵向切割线S2切割巴块形成片式多层陶瓷电容器的坯件时，内电极图案暴露出片式多层陶瓷电容器的坯件的纵向切割面，此时通过测量内电极图案与片式多层陶瓷电容器的坯件的横向切割面之间的距离即可确定片式多层陶瓷电容器的坯件的纵向留边量；而横向留边量则需要将片式多层陶瓷电容器的坯件剖开才可以确定，较为不便。

发明内容

基于此，本发明的目的在于，提供一种MLCC的长轴偏移量检测方法，其无需将坯件剖开即可确定MLCC的长轴偏移量，不仅方便了长轴偏移量的确定，而且还避免了坯件的浪费。

一种MLCC的长轴偏移量检测方法，其特征在于，包括如下步骤：

S1：提供印刷图形版；

S2：按照预设的图形，在所述印刷图形版上按相邻两行交错的方式印刷MLCC的内电极图案，在所述印刷图形版上相邻两行印刷检测电极图案，得到层叠单元；其中，所述检测电极图案包括第一侧边和第二侧边，所述第一侧边和所述第二侧边跨越该相邻两行之间，且所述第一侧边与所述第二侧边其中之一与列方向上相邻的两个所述内电极图案之一的左侧齐平，所述第一侧边与所述第二侧边其中之二与列方向上相邻的两个所述内电极图案之二的右侧齐平；

S3：将多个所述层叠单元交错层叠形成巴块；

S4：对所述巴块进行切割，得到坯件；至少一个所述坯件的横向切割面露出所述检测电极图案；

S5：测量所述第一侧边与靠近所述第一侧边的纵向切割面之间的距离或测量所述第二侧边与靠近第二侧边的纵向切割面之间的距离，得到该MLCC的长轴偏移量。

本发明公开的MLCC的长轴偏移量检测方法，其相邻两行的内电极图案交错设置，且检测电极图案跨越相邻两行之间，从而当切割巴块形成坯件时，至少一个所述坯件的横向切割面露出检测电极图案，测量该坯件的检测电极图案与其纵向切割面之间的距离即可得到MLCC的长轴偏移量，其无需将坯件剖开即可确定MLCC的长轴偏移量，不仅方便了长轴偏移量的确定，而且还避免了坯件的浪费。

进一步地，步骤S2中，在所述印刷图形版上相邻两行印刷所述检测电极图案包括：

S21：在相邻的两行预留内电极图案印刷区域，以得到检测电极图案印刷区域；

S22：在所述检测电极图案印刷区域印刷所述检测电极图案。

进一步地，步骤S21包括：

在相邻两行的其中一行预留一个内电极图案印刷区域，在相邻两行的另外一行预留相邻的另一个内电极图案印刷区域。

进一步地，所述检测电极图案为矩形，该矩形的第一侧边和第二侧边的长度等于相邻两行的所述内电极图案的宽度与其之间的间距之和。

进一步地，所述检测电极图案包括第一矩形和第二矩形，所述第一矩形形成所述第一侧边，所述第二矩形形成所述第二侧边，且所述第一侧边和第二侧边的长度等于相邻两行的所述内电极图案的宽度与其之间的间距之和。

进一步地，步骤S21包括：

在相邻两行的其中一行预留一个内电极图案印刷区域，在相邻两行的另外一行预留相邻的另两个内电极图案印刷区域。

进一步地，所述检测电极图案包括第一矩形和第二矩形，所述第一矩形和所述第二矩形的第一侧边和第二侧边的长度等于相邻两行的所述内电极图案的宽度与其之间的间距之和。

进一步地，所述检测电极图案包括沿行的方向排列的第一矩形、第二矩形、第三矩形和第四矩形，所述第一矩形和所述第三矩形分别形成所述第一侧边，所述第二矩形和所述第四矩形分别形成所述第二侧边，且所述第一侧边和第二侧边的长度等于相邻两行的所述内电极图案的宽度与其之间的间距之和。

进一步地，步骤S2中，在所述印刷图形版上相邻两行印刷所述检测电极图案为：

按照预设的图形，在列方向上相邻两行的两个所述内电极图案之间，印刷所述检测电极图案，且所述检测电极图案的宽度等于在列方向上相邻两个所述内电极图案之间的间距。

为了更好地理解和实施，下面结合附图详细说明本发明。

附图说明

图1为现有技术中在印刷图形版上印刷内电极图案后的结构示意图；

图2为本发明实施例一中片式多层陶瓷电容器的电极印刷方法的流程示意图；

图3为本发明实施例一中层叠单元的结构示意图；

图4为图3中A处的放大示意图；

图5为本发明实施例二中层叠单元的结构示意图；

图6为本发明实施例三中层叠单元的结构示意图；

图7为本发明实施例四中层叠单元的结构示意图；

图8为本发明实施例五中层叠单元的结构示意图；

其中，各附图的附图标记为：

1、印刷图形版；2、内电极图案；3、检测电极图案；31、第一侧边；32、第二侧边；33、第一矩形；34、第二矩形；35、第三矩形；36、第四矩形。

具体实施方式

应当明确，所描述的实施例仅仅是本申请实施例一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请实施例中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本申请实施例保护的范围。

在本申请实施例使用的术语是仅仅出于描述特定实施例的目的，而非旨在限制本申请实施例。在本申请实施例和所附权利要求书中所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式，除非上下文清楚地表示其他含义。还应当理解，本文中使用的术语“和/或”是指并包含一个或多个相关联的列出项目的任何或所有可能组合。

下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本申请相一致的所有实施方式。相反，它们仅是如所附权利要求书中所详述的、本申请的一些方面相一致的装置和方法的例子。在本申请的描述中，需要理解的是，术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序，也不能理解为指示或暗示相对重要性。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。

此外，在本申请的描述中，除非另有说明，“多个”是指两个或两个以上。“和/或”，描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。字符“/”一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。

应当理解的是，本申请实施例并不局限于上面已经描述并在附图中示出的精确结构，并且可以在不脱离其范围进行各种修改和改变。本申请实施例的范围仅由所附的权利要求来限制。

实施例一

参照图2，本实施例提供了一种片式多层陶瓷电容器的电极印刷方法，其包括如下步骤：S1、提供印刷图形版1，在本发明中，所述印刷图形版1可以为陶瓷介质膜，且陶瓷介质膜可以通过如下方式制备：首先利用瓷粉、增塑剂、粘合剂、分散剂、消泡剂以及溶剂等制备陶瓷浆料；然后，对制作好的陶瓷浆料进行流延，将陶瓷浆料通过流延机的浇筑口，使其涂布在绕行的聚对苯二甲酸类塑料膜上，从而形成一层均匀的浆料膜层，再通过热风区将浆料中的大部分溶剂挥发，经干燥后得到陶瓷介质膜，且陶瓷介质膜的厚度可以为10微米-30微米。

S2、按照预设的图形，在所述印刷图形版1上印刷内电极图案2和检测电极图案3，得到层叠单元。

本实施例中，所述层叠单元通过如下方式获得：

（1）在所述印刷图形版1上按相邻两行交错的方式印刷所述片式多层陶瓷电容器的内电极图案2。

（2）按照预设的图形，在所述印刷图形版1上相邻两行印刷所述检测电极图案3，具体在本实施例中，首先，在相邻的两行预留内电极图案印刷区域，以得到检测电极图案印刷区域，具体在本实施例中，在相邻两行的其中一行预留一个内电极图案印刷区域，在相邻两行的另外一行预留相邻的另一个内电极图案印刷区域，从而将预留的两个内电极图案印刷区域作为检测电极图案印刷区域；然后，在所述检测电极图案印刷区域印刷所述检测电极图案3。

所述检测电极图案3包括第一侧边31和第二侧边32，所述第一侧边31和所述第二侧边32跨越该相邻两行之间，且所述第一侧边31与所述第二侧边32其中之一与列方向上相邻的两个所述内电极图案2之一的左侧齐平，所述第一侧边31与所述第二侧边32其中之二与列方向上相邻的两个所述内电极图案2之二的右侧齐平。

S3：将多个所述层叠单元交错层叠形成巴块。

S4：对所述巴块进行切割，得到坯件；至少一个所述坯件的横向切割面露出所述检测电极图案；

S5：测量所述第一侧边与靠近所述第一侧边的纵向切割面之间的距离或测量所述第二侧边与靠近第二侧边的纵向切割面之间的距离，得到该MLCC的长轴偏移量。

在本发明中，参照图3和图4，由于相邻两行所述内电极图案以交错的方式印刷，其使任意相邻两行的内电极图案2交错设置，当沿着纵向切割线S2切割所述巴块形成所述坯件时，所述内电极图案2将露出其纵向切割面，从而通过测量所述内电极图案2与该坯件的横向切割面之间的距离Y即可确定MLCC的纵向留边量，较为方便。

而且，由于所述检测电极图案3的第一侧边31和第二侧边32跨越该相邻两行之间，且所述第一侧边31与所述第二侧边32其中之一与列方向上相邻的两个所述内电极图案2之一的左侧齐平，所述第一侧边31与所述第二侧边32其中之二与列方向上相邻的两个所述内电极图案2之二的右侧齐平，当沿着横向切割线S1切割巴块形成所述坯件时，所述第一侧边31和第二侧边32将露出片式多层陶瓷电容器的坯件的横向切割面，从而通过测量所述第一侧边31与靠近所述第一侧边的纵向切割面之间的距离或第二侧边32与靠近所述第二侧边32的纵向切割面之间的距离即可确定片式多层陶瓷电容器的坯件的横向留边量X，其无需将所述坯件剖开即可确定其横向留边量，大大方便了MLCC的横向留边量的确定。

在本发明中，横向切割面为沿着横向切割线S1切割巴块时形成的切割面；纵向切割面为沿着纵向切割线S2切割巴块时形成的切割面。

具体在本实施例中，所述第一侧边31与位于该矩形上侧的所述内电极图案2的左侧齐平，所述第二侧边32与位于该矩形下侧的所述内电极图案2的右侧齐平。

参照图3，所述检测电极图案3为一矩形，该矩形的第一侧边31和第二侧边32的长度等于相邻两行的所述内电极图案2的宽度与其之间的间距之和，具体地，所述第一侧边31和第二侧边32的长度均为L，所述内电极图案2的宽度为l，相邻两行的所述内电极图案2之间的间距为d，则L=2×l＋d。

实施例二

本实施例与实施例一的区别仅在于：所述检测电极图案3不同，在本实施例中，参照图5，所述检测电极图案3包括第一矩形33和第二矩形34，所述第一矩形33形成所述第一侧边31，所述第二矩形34形成所述第二侧边32，且所述第一侧边31和第二侧边32的长度等于相邻两行的所述内电极图案2的宽度与其之间的间距之和，具体在本实施例中，所述第一侧边31和第二侧边32的长度均为L，所述内电极图案2的宽度为l，相邻两行的所述内电极图案2之间的间距为d，则L=2×l＋d。

在本实施例中，所述第一矩形33的第一侧边31与位于所述第一矩形33上侧的所述内电极图案2的左侧齐平，所述第二矩形34的第二侧边32与位于所述第二矩形34下侧的所述内电极图案2的右侧齐平。

实施例三

本实施例与实施例一的区别仅在于：检测电极图案印刷区域的获得方式不同，在本实施例中，在相邻两行的其中一行预留一个内电极图案印刷区域，在相邻两行的另外一行预留相邻的另两个内电极图案印刷区域，从而将预留的三个内电极图案印刷区域作为检测电极图案印刷区域。

参照图6，所述检测电极图案3包括沿行的方向排列的第一矩形33和第二矩形34，所述第一矩形33和所述第二矩形34的矩形的第一侧边31和第二侧边32的长度等于相邻两行的所述内电极图案2的宽度与其之间的间距之和，具体地，所述第一侧边31和第二侧边32的长度均为L，所述内电极图案2的宽度为l，相邻两行的所述内电极图案2之间的间距为d，则L=2×l＋d。

具体在本实施例中，所述第一矩形33的第一侧边31与位于第一矩形33上侧的内电极图案2的左侧齐平，所述第一矩形33的第二侧边32与位于第一矩形33下侧的内电极图案2的右侧齐平；所述第二矩形34的第一侧边31与位于所述第二矩形34下侧的内电极图案2的左侧齐平，所述第二矩形34的第二侧边32与位于所述第二矩形34上侧的内电极图案2的右侧齐平。

实施例四

本实施例与实施例三的区别仅在于：所述检测电极图案3不同，在本实施例中，参照图7，所述检测电极图案3包括沿行的方向排列的第一矩形33、第二矩形34、第三矩形35和第四矩形36，所述第一矩形33和所述第三矩形35分别形成所述第一侧边31，所述第二矩形34和所述第四矩形36分别形成所述第二侧边32，且所述第一侧边31和第二侧边32的长度等于相邻两行的所述内电极图案2的宽度与其之间的间距之和。

具体在本实施例中，所述第一侧边31和第二侧边32的长度均为L，所述内电极图案2的宽度为l，相邻两行的所述内电极图案2之间的间距为d，则L=2×l＋d。

具体在本实施例中，所述第一矩形33的第一侧边31与位于所述第一矩形33上侧的内电极图案2的左侧齐平，所述第二矩形34的第二侧边32与位于所述第二矩形34下侧的内电极图案2的右侧齐平；所述第三矩形35的第一侧边31与位于所述第三矩形35下侧的内电极图案2的左侧齐平，所述第四矩形36的第二侧边32与位于所述第四矩形36上侧的内电极图案2的右侧齐平。

实施例五

本实施例与实施例一的区别仅在于：检测电极图案的印刷方式不同，具体在本实施例中，步骤S2为：（1）按照预设的图形，在所述印刷图形版上按相邻两行交错的方式印刷MLCC的内电极图案；（2）按照预设的图形，在列方向上相邻两行的两个所述内电极图案2之间，印刷所述检测电极图案3。

参照图8，所述检测电极图案3的第一侧边31与位于上一行的内电极图案2的左侧齐平，所述检测电极图案3的第二侧边32与位于下一行的内电极图案2的右侧齐平。而且，所述检测电极图案3的宽度等于在列方向上相邻两个所述内电极图案2之间的间距。

以上所述实施例仅表达了本发明的优选实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，则本发明也意图包含这些改动和变形。

Claims (9)

1.一种MLCC的长轴偏移量检测方法，其特征在于，包括如下步骤：

S1：提供印刷图形版；

S2：按照预设的图形，在所述印刷图形版上按相邻两行交错的方式印刷MLCC的内电极图案，在所述印刷图形版上相邻两行印刷检测电极图案，得到层叠单元；其中，所述检测电极图案包括第一侧边和第二侧边，所述第一侧边和所述第二侧边跨越该相邻两行之间，且所述第一侧边与所述第二侧边其中之一与列方向上相邻的两个所述内电极图案之一的左侧齐平，所述第一侧边与所述第二侧边其中之二与列方向上相邻的两个所述内电极图案之二的右侧齐平；

S3：将多个所述层叠单元交错层叠形成巴块；

S4：对所述巴块进行切割，得到坯件；至少一个所述坯件的横向切割面露出所述检测电极图案；

S5：测量所述第一侧边与靠近所述第一侧边的纵向切割面之间的距离或测量所述第二侧边与靠近第二侧边的纵向切割面之间的距离，得到该MLCC的长轴偏移量。

2.根据权利要求1所述的MLCC的长轴偏移量检测方法，其特征在于，步骤S2中，在所述印刷图形版上相邻两行印刷所述检测电极图案包括：

S21：在相邻的两行预留内电极图案印刷区域，以得到检测电极图案印刷区域；

S22：在所述检测电极图案印刷区域印刷所述检测电极图案。

3.根据权利要求2所述的MLCC的长轴偏移量检测方法，其特征在于：步骤S21包括：

在相邻两行的其中一行预留一个内电极图案印刷区域，在相邻两行的另外一行预留相邻的另一个内电极图案印刷区域。

4.根据权利要求3所述的MLCC的长轴偏移量检测方法，其特征在于：

所述检测电极图案为矩形，该矩形的第一侧边和第二侧边的长度等于相邻两行的所述内电极图案的宽度与其之间的间距之和。

5.根据权利要求3所述的MLCC的长轴偏移量检测方法，其特征在于：

所述检测电极图案包括第一矩形和第二矩形，所述第一矩形形成所述第一侧边，所述第二矩形形成所述第二侧边，且所述第一侧边和第二侧边的长度等于相邻两行的所述内电极图案的宽度与其之间的间距之和。

6.根据权利要求2所述的MLCC的长轴偏移量检测方法，其特征在于：步骤S21包括：

在相邻两行的其中一行预留一个内电极图案印刷区域，在相邻两行的另外一行预留相邻的另两个内电极图案印刷区域。

7.根据权利要求6所述的MLCC的长轴偏移量检测方法，其特征在于：

所述检测电极图案包括第一矩形和第二矩形，所述第一矩形和所述第二矩形的第一侧边和第二侧边的长度等于相邻两行的所述内电极图案的宽度与其之间的间距之和。

8.根据权利要求6所述的MLCC的长轴偏移量检测方法，其特征在于：

所述检测电极图案包括沿行的方向排列的第一矩形、第二矩形、第三矩形和第四矩形，所述第一矩形和所述第三矩形分别形成所述第一侧边，所述第二矩形和所述第四矩形分别形成所述第二侧边，且所述第一侧边和第二侧边的长度等于相邻两行的所述内电极图案的宽度与其之间的间距之和。

9.根据权利要求1所述的MLCC的长轴偏移量检测方法，其特征在于：步骤S2中，在所述印刷图形版上相邻两行印刷所述检测电极图案为：

按照预设的图形，在列方向上相邻两行的两个所述内电极图案之间，印刷所述检测电极图案，且所述检测电极图案的宽度等于在列方向上相邻两个所述内电极图案之间的间距。

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