CN114935498A - 测试臂动力矩锁紧装置 - Google Patents

Abstract

本发明提供了测试臂动力矩锁紧装置，包括底板、一号Z轴模组、二号Z轴模组；底板上固定安装一个固定架，一号Z轴模组和二号Z轴模组安装至两个固定架，一号Z轴模组和二号Z轴模组顶部设有锁紧板，锁紧板安装一号Z轴电机和二号Z轴电机，锁紧板上表面设有锁紧组件；一号Y轴安装板连接至一号Z轴升降板，二号Y轴安装板连接至二号Z轴升降板，二号Y轴模组与二号Z轴模组之间配合；底板设有Y轴驱动模组，一号Z轴模组、二号Z轴模组、一号Y轴模组、二号Y轴模组、Y轴驱动模组和锁紧组件均连接至控制器。本发明安装空间紧凑，运转平稳无冲击振动、动作确认快、制动精确、制动力矩大、不需要进行磨耗调整且工作效率高。

Description

测试臂动力矩锁紧装置

技术领域

本发明属于IC测试领域，尤其是涉及测试臂动力矩锁紧装置。

背景技术

目前旺盛的封测市场需求对封测企业的生产能力以及生产设备多功能和稳定性都提出了新的要求。现有的封测设备如自动测试分类机等，测试臂机构是设置在设备平台上方，测试臂吸取IC运行放置测试座中进行全功能测试，测试时仅靠电机本身的保持扭力保证测试下压位置不动。现有的测试臂最大的电机组件保持力为电机750W保持力120kgf和电机1.5kw保持力240kgf。现有的机构此时如遇到需要大压力测试的芯片，仅靠电机扭力是无法满足的，造成下压位置移动，芯片没有和测试座压到位，测试结果异常；现有机构下压保持力小，直接影响产量良率低。

发明内容

有鉴于此，本发明旨在提出测试臂动力矩锁紧装置，安装空间紧凑，运转平稳无冲击振动、动作确认快、制动精确、制动力矩大、不需要进行磨耗调整且工作效率高。

为达到上述目的，本发明的技术方案是这样实现的：

测试臂动力矩锁紧装置，包括底板、一号Z轴模组、二号Z轴模组、一号Y轴模组、二号Y轴模组、Y轴驱动模组和锁紧组件；底板上表面两侧分别固定安装一个固定架，一号Z轴模组和二号Z轴模组分别固定安装至两个固定架上，一号Z轴模组和二号Z轴模组顶部设有锁紧板，锁紧板两侧分别安装驱动一号Z轴模组的一号Z轴电机、和驱动二号Z轴模组的二号Z轴电机，锁紧板上表面设有用于抱死一号Z轴电机和二号Z轴电机的锁紧组件；一号Y轴模组的一号Y轴安装板，连接至一号Z轴模组的一号Z轴升降板，二号Y轴模组的二号Y轴安装板，连接至二号Z轴模组的二号Z轴升降板，实现一号Y轴模组与一号Z轴模组之间配合，二号Y轴模组与二号Z轴模组之间配合；底板设有用于驱动一号Y轴模组和二号Y轴模组的Y轴驱动模组，一号Z轴模组、二号Z轴模组、一号Y轴模组、二号Y轴模组、Y轴驱动模组和锁紧组件均连接至控制器。

进一步的，一号Z轴模组和二号Z轴模组结构相同，且二者相对底板中线对称设置，一号Z轴模组包括一号安装槽体、一号Z轴丝杠、一号Z轴升降板、一号Z轴电机、一号主动轮和一号惰轮，一号安装槽体外侧面安装至固定架，一号安装槽体和二号Z轴模组的二号安装槽体顶部安装锁紧板，一号Z轴丝杠设置在一号安装槽内，且一号Z轴丝杠顶端穿过一号安装槽和锁紧板并安装一号惰轮，一号Z轴电机的输出端安装一号主动轮，一号主动轮通过同步带与一号惰轮连接，实现一号Z轴电机对一号Z轴丝杠的驱动，一号Z轴升降板背部通过螺母座连接至一号Z轴丝杠，进而实现对一号Z轴升降板的驱动。

进一步的，一号Y轴模组和二号Y轴模组结构相同，一号Y轴模组包括固定安装至一号Z轴升降板的一号Y轴安装板和一号测试臂，一号Y轴安装板设有水平安装的一号Y轴滑轨，一号测试臂的顶端背侧通过滑块与一号Y轴滑轨滑动配合，实现一号测试臂在Y轴方向的移动，一号测试臂底端安装用于对芯片进行测试的测试压头；二号Y轴模组包括固定安装至二号Z轴升降板的二号Y轴安装板和二号测试臂，二号Y轴安装板设有水平安装的二号Y轴滑轨，二号测试臂的顶端背侧通过滑块与二号Y轴滑轨滑动配合，实现二号测试臂在Y轴方向的移动，二号测试臂底端也安装用于对芯片进行测试的测试压头。

进一步的，底板中部设有通槽，所述通槽用于一号测试臂和二号测试臂的通过。

进一步的，Y轴驱动模组包括Y轴驱动电机、Y轴驱动丝杠、一号Y轴驱动滑轨、二号Y轴驱动滑轨、Y轴驱动螺母座和Y轴驱动连接块，Y轴驱动电机安装至底板，Y轴驱动连接块的两侧分别安装一个Y轴驱动滑轨，Y轴驱动丝杠通过Y轴驱动螺母座安装至一号Y轴驱动滑轨上，Y轴驱动螺母座与Y轴驱动丝杠螺纹连接，且Y轴驱动螺母座底部通过滑块连接至一号Y轴驱动滑轨，Y轴驱动丝杠的端部设有从动轮，Y轴驱动电机的输出端设有主动轮，主动轮通过皮带与从动轮连接，实现Y轴驱动电机对Y轴驱动丝杠的驱动；二号Y轴驱动滑轨上设有从动滑块，Y轴驱动螺母座通过Y轴驱动连接块与从动滑块连接，进而实现连接座沿Y轴方向的直线移动。

进一步的，Y轴驱动连接块的两侧设有Z轴方向的导向滑块，一号测试臂和二号测试臂的侧边均设有一个与导向滑块相配合的导向滑轨，进而实现Y轴驱动电机驱动一号测试臂和二号测试臂同时在Y轴方向移动。

进一步的，锁紧组件包括锁紧安装架、一号电磁制动器和二号电磁制动器，其中锁紧安装架包括顶板和三个平行设置的隔板，顶板下表面通过三个平行设置的隔板安装至锁紧板，所述三个隔板将顶板和锁紧板之间分隔成两个控制区，在每个控制区内，一号电磁制动器和二号电磁制动器分别通过固定板安装至顶板的下表面，一号电磁制动器的磁吸端对应一号惰轮，二号电磁制动器的磁吸端对应二号Z轴模组的二号惰轮。

进一步的，三个平行设置的隔板上设有两套对射传感器，分别为与一号电磁制动器对应的一号对射传感器，与二号电磁制动器对应的二号对射传感器，一号对射传感器和二号对射传感器信号连接至控制器。

进一步的，初始状态，一号电磁制动器和一号惰轮之间存在一号缝隙，二号电磁制动器和二号惰轮之间也存在二号缝隙，一号对射传感器设置在一号缝隙之间，二号对射传感器设置在二号缝隙之间。

进一步的，一号惰轮的顶部和二号惰轮的顶部均设有刹车片，所述刹车片用于增大电磁制动器的磁吸端与惰轮之间的摩擦力。

相对于现有技术，本发明所述的测试臂动力矩锁紧装置具有以下优势：

（1）本发明测试臂动力矩锁紧装置，通过在对测试臂增加电磁制动器，对测试臂抱死，避免检测过程中由于检测压力值过大造成测试臂的晃动，提高检测的精确度。

（2）本发明测试臂动力矩锁紧装置，通过一号测试臂和二号测试臂交替作业，最大效率的实现IC检测，极大程度的提高了工作效率。

附图说明

构成本发明的一部分的附图用来提供对本发明的进一步理解，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：

图1为本发明实施例测试臂动力矩锁紧装置正视角度示意图；

图2为本发明实施例测试臂动力矩锁紧装置后视角度示意图；

图3为本发明实施例测试臂动力矩锁紧组件爆炸示意图。

附图标记说明：

1、底板；11、通槽；2、一号Z轴模组；21、一号安装槽体；22、一号Z轴丝杠；23、一号Z轴升降板；24、一号Z轴电机；25、一号主动轮；26、一号惰轮；3、二号Z轴模组；4、一号Y轴模组；41、一号Y轴安装板；42、一号测试臂；43、一号Y轴滑轨；5、二号Y轴模组；51、二号Y轴安装板；52、二号测试臂；6、Y轴驱动模组；61、Y轴驱动电机；62、Y轴驱动丝杠；63、一号Y轴驱动滑轨；64、二号Y轴驱动滑轨；65、Y轴驱动螺母座；66、Y轴驱动连接块；661、导向滑块；662、导向滑轨；7、锁紧组件；71、锁紧安装架；711、顶板；712、隔板；72、一号电磁制动器；73、二号电磁制动器；74、一号对射传感器；75、二号对射传感器；8、一号测试压头；9、二号测试压头。

具体实施方式

需要说明的是，在不冲突的情况下，本发明中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

在本发明的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。此外，术语“第一”、“第二”等仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”等的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本发明的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。

在本发明的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以通过具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

下面将参考附图并结合实施例来详细说明本发明。

测试臂动力矩锁紧装置，如图1-图2所示，包括底板1、一号Z轴模组2、二号Z轴模组3、一号Y轴模组4、二号Y轴模组5、Y轴驱动模组6和锁紧组件7；底板1上表面两侧分别固定安装一个固定架，一号Z轴模组2和二号Z轴模组3分别固定安装至两个固定架上，一号Z轴模组2和二号Z轴模组3顶部设有锁紧板，锁紧板两侧分别安装驱动一号Z轴模组2的一号Z轴电机24、和驱动二号Z轴模组3的二号Z轴电机，锁紧板上表面设有用于抱死一号Z轴电机24和二号Z轴电机的锁紧组件7；具体的锁紧组件7的一号电磁制动器72和二号电磁制动器73分别用于抱住一号惰轮和二号惰轮，而一号惰轮和二号惰轮分别通过同步带与一号Z轴模组和二号Z轴模组连接，进而实现对一号Z轴电机24和二号Z轴电机的抱死。

一号Y轴模组4的一号Y轴安装板41，连接至一号Z轴模组2的一号Z轴升降板23，二号Y轴模组5的二号Y轴安装板51，连接至二号Z轴模组3的二号Z轴升降板，实现一号Y轴模组4与一号Z轴模组2之间配合，二号Y轴模组5与二号Z轴模组3之间配合；底板1设有用于驱动一号Y轴模组4和二号Y轴模组5的Y轴驱动模组6，一号Z轴模组2、二号Z轴模组3、一号Y轴模组4、二号Y轴模组5、Y轴驱动模组6和锁紧组件7均连接至控制器。

优选的，一号Z轴模组2和二号Z轴模组3结构相同，且二者相对底板1中线对称设置，一号Z轴模组2包括一号安装槽体21、一号Z轴丝杠22、一号Z轴升降板23、一号Z轴电机24、一号主动轮25和一号惰轮26，一号安装槽体21外侧面安装至固定架，一号安装槽体21和二号Z轴模组3的二号安装槽体顶部安装锁紧板，一号Z轴丝杠22设置在一号安装槽内，且一号Z轴丝杠22顶端穿过一号安装槽和锁紧板并安装一号惰轮26，一号Z轴电机24的输出端安装一号主动轮25，一号主动轮25通过同步带与一号惰轮26连接，实现一号Z轴电机24对一号Z轴丝杠22的驱动，一号Z轴升降板23背部通过螺母座连接至一号Z轴丝杠22，进而实现对一号Z轴升降板23的驱动，一号Z轴电机24工作，通过传动带动一号Z轴丝杠22工作，进而带动一号升降板的升降。

优选的，一号Y轴模组4和二号Y轴模组5结构相同，一号Y轴模组4包括固定安装至一号Z轴升降板23的一号Y轴安装板41和一号测试臂42，一号Y轴安装板41设有水平安装的一号Y轴滑轨43，一号测试臂42的顶端背侧通过滑块与一号Y轴滑轨43滑动配合，实现一号测试臂42在Y轴方向的移动，一号测试臂42底端安装用于对芯片进行测试的测试压头；二号Y轴模组5包括固定安装至二号Z轴升降板的二号Y轴安装板51和二号测试臂52，二号Y轴安装板51设有水平安装的二号Y轴滑轨，二号测试臂52的顶端背侧通过滑块与二号Y轴滑轨滑动配合，实现二号测试臂52在Y轴方向的移动，二号测试臂52底端也安装用于对芯片进行测试的测试压头，测试压头是现有的在芯片检测领域常用的设备，一号Y轴模组4在一号Z轴模组2的带动下在Z轴方向移动,二号Y轴模组5在二号Z轴模组3的带动下在Z轴方向移动。

优选的，底板1中部设有通槽11，所述通槽11用于一号测试臂42和二号测试臂52的通过，实现一号测试臂42和二号测试臂52的上下移动。

优选的，Y轴驱动模组6包括Y轴驱动电机61、Y轴驱动丝杠62、一号Y轴驱动滑轨63、二号Y轴驱动滑轨64、Y轴驱动螺母座65和Y轴驱动连接块66，Y轴驱动电机61安装至底板1，Y轴驱动连接块66的两侧分别安装一个Y轴驱动滑轨，Y轴驱动丝杠62通过Y轴驱动螺母座65安装至一号Y轴驱动滑轨63上，Y轴驱动螺母座65与Y轴驱动丝杠62螺纹连接，且Y轴驱动螺母座65底部通过滑块连接至一号Y轴驱动滑轨63，Y轴驱动丝杠62的端部设有从动轮，Y轴驱动电机61的输出端设有主动轮，主动轮通过皮带与从动轮连接，实现Y轴驱动电机61对Y轴驱动丝杠62的驱动；二号Y轴驱动滑轨64上设有从动滑块，Y轴驱动螺母座65通过Y轴驱动连接块66与从动滑块连接，进而实现连接座沿Y轴方向的直线移动，控制器控制Y轴驱动电机61工作，Y轴驱动丝杠62转动带动Y轴驱动螺母座65移动，进而实现Y轴驱动连接块66和从动滑块的移动，最终实现一号测试臂42和二号测试臂52在Y轴方向的移动。

优选的，Y轴驱动连接块66的两侧设有Z轴方向的导向滑块661，一号测试臂42和二号测试臂52的侧边均设有一个与导向滑块661相配合的导向滑轨662，实现对一号测试臂42和二号测试臂52在Z轴方向移动时的导向作用；同时也实现了Y轴驱动电机61驱动一号测试臂42和二号测试臂52同时在Y轴方向移动。

优选的，如图3所示，锁紧组件7包括锁紧安装架71、一号电磁制动器72和二号电磁制动器73，一号电磁制动器72和二号电磁制动器73也为市面中能够采购到的设备，其中锁紧安装架71包括顶板711和三个平行设置的隔板712，顶板711下表面通过三个平行设置的隔板712安装至锁紧板，所述三个隔板712将顶板711和锁紧板之间分隔成两个控制区，在每个控制区内，一号电磁制动器72和二号电磁制动器73分别通过固定板安装至顶板711的下表面，一号电磁制动器72的磁吸端对应一号惰轮26，二号电磁制动器73的磁吸端对应二号Z轴模组3的二号惰轮，一号电磁制动器72和二号电磁制动器73在工作状态下分别对一号惰轮26和二号惰轮进行吸附，实现制动。

优选的，三个平行设置的隔板712上设有两套对射传感器，分别为与一号电磁制动器72对应的一号对射传感器74，与二号电磁制动器73对应的二号对射传感器75，一号对射传感器74和二号对射传感器75信号连接至控制器。

进一步的，初始状态，一号电磁制动器72和一号惰轮26之间存在一号缝隙，二号电磁制动器73和二号惰轮之间也存在二号缝隙，一号对射传感器74设置在一号缝隙之间，二号对射传感器75设置在二号缝隙之间，工作状态下，一号电磁制动器72和二号电磁制动器73分别对一号惰轮26和二号惰轮进行吸附，一号缝隙和二号缝隙消失，此时控制器接收到信号，控制测试压头对IC进行检测。电磁制动器是市面上常见制动装置，应用于机械领域，电磁制动器包括制动架、制动件和操控装置，其中制动件在控制下产生位移，对一号惰轮进行抱死制动，抱死状态下，缝隙是消失的，对射传感器的发射端和接收端设置在惰轮的两侧，缝隙消失，对射传感器的联系中断。

优选的，一号惰轮26的顶部和二号惰轮的顶部均设有刹车片，所述刹车片用于增大电磁制动器的磁吸端与惰轮之间的摩擦力，优化制动效果，使检测结果更加准确，刹车片是设置在惰轮和制动件之间的，具体的为刹车片设置在一号惰轮和二号惰轮的顶部，制动方式与汽车车轮的制动方式相似，是一种常用的增大摩擦力的技术手段。

工作原理，一号测试臂42和二号测试臂52的端部设有测试压头，控制器控制一号Z轴电机24和Y轴驱动电机61工作，进而实现一号测试臂42上的一号测试压头移动，将待测芯片从传送线吸取然后送入到测试座上，此时一号Z轴电机24和Y轴驱动电机61停止工作，控制器控制一号电磁制动器72闭合，将一号惰轮26抱死，此时一号对射传感器74对一号电磁制动器72和一号惰轮26之间是否存在缝隙进行检测，确认贴合后，测试压头内部自带的膜片气缸由控制器控制输出所需IC测试压力进行测试；由于在测试臂动力矩锁紧装置的作用下，测试臂测试高度定位精确，提高了设备测试功能，且本发明装置在1.5kw电机状态下最大测试压力保持480kgf，提高满足了市场芯片测试的需求；压力测试的同时，控制器控制二号Z轴电机工作对传送线上的芯片进行吸取，一号测试臂42对应测试完成后，将测试好的芯片传送至收集区域，二号测试臂52将芯片按照一号测试臂42对应的芯片的工作方式放入到测试台中，并对其进行检测，而后按照上述步骤一号测试臂42和二号测试臂52交替作业，直至检测完成。

现有的测试臂最大的电机组件保持力为电机750W保持力120kgf和电机1.5kw保持力240kgf。现有的机构此时如遇到需要大压力测试的芯片，仅靠电机扭力是无法满足的，造成下压位置移动，芯片没有和测试座压到位，测试结果异常；现有机构下压保持力小，直接影响产量良率低；本发明的创新点是电磁制动器与直线模组的配合，通过配合使用达到大压力测试的目的。

以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.测试臂动力矩锁紧装置，其特征在于：包括底板、一号Z轴模组、二号Z轴模组、一号Y轴模组、二号Y轴模组、Y轴驱动模组和锁紧组件；底板上表面两侧分别固定安装一个固定架，一号Z轴模组和二号Z轴模组分别固定安装至两个固定架上，一号Z轴模组和二号Z轴模组顶部设有锁紧板，锁紧板两侧分别安装驱动一号Z轴模组的一号Z轴电机、和驱动二号Z轴模组的二号Z轴电机，锁紧板上表面设有用于抱死一号Z轴电机和二号Z轴电机的锁紧组件；一号Y轴模组的一号Y轴安装板，连接至一号Z轴模组的一号Z轴升降板，二号Y轴模组的二号Y轴安装板，连接至二号Z轴模组的二号Z轴升降板，实现一号Y轴模组与一号Z轴模组之间配合，二号Y轴模组与二号Z轴模组之间配合；底板设有用于驱动一号Y轴模组和二号Y轴模组的Y轴驱动模组，一号Z轴模组、二号Z轴模组、一号Y轴模组、二号Y轴模组、Y轴驱动模组和锁紧组件均连接至控制器。

2.根据权利要求1所述的测试臂动力矩锁紧装置，其特征在于：一号Z轴模组和二号Z轴模组结构相同，且二者相对底板中线对称设置，一号Z轴模组包括一号安装槽体、一号Z轴丝杠、一号Z轴升降板、一号Z轴电机、一号主动轮和一号惰轮，一号安装槽体外侧面安装至固定架，一号安装槽体和二号Z轴模组的二号安装槽体顶部安装锁紧板，一号Z轴丝杠设置在一号安装槽内，且一号Z轴丝杠顶端穿过一号安装槽和锁紧板并安装一号惰轮，一号Z轴电机的输出端安装一号主动轮，一号主动轮通过同步带与一号惰轮连接，实现一号Z轴电机对一号Z轴丝杠的驱动，一号Z轴升降板背部通过螺母座连接至一号Z轴丝杠，进而实现对一号Z轴升降板的驱动。

3.根据权利要求2所述的测试臂动力矩锁紧装置，其特征在于：一号Y轴模组和二号Y轴模组结构相同，一号Y轴模组包括固定安装至一号Z轴升降板的一号Y轴安装板和一号测试臂，一号Y轴安装板设有水平安装的一号Y轴滑轨，一号测试臂的顶端背侧通过滑块与一号Y轴滑轨滑动配合，实现一号测试臂在Y轴方向的移动，一号测试臂底端安装用于对芯片进行测试的测试压头；二号Y轴模组包括固定安装至二号Z轴升降板的二号Y轴安装板和二号测试臂，二号Y轴安装板设有水平安装的二号Y轴滑轨，二号测试臂的顶端背侧通过滑块与二号Y轴滑轨滑动配合，实现二号测试臂在Y轴方向的移动，二号测试臂底端也安装用于对芯片进行测试的测试压头。

4.根据权利要求3所述的测试臂动力矩锁紧装置，其特征在于：底板中部设有通槽，所述通槽用于一号测试臂和二号测试臂的通过。

5.根据权利要求4所述的测试臂动力矩锁紧装置，其特征在于：Y轴驱动模组包括Y轴驱动电机、Y轴驱动丝杠、一号Y轴驱动滑轨、二号Y轴驱动滑轨、Y轴驱动螺母座和Y轴驱动连接块，Y轴驱动电机安装至底板，Y轴驱动连接块的两侧分别安装一个Y轴驱动滑轨，Y轴驱动丝杠通过Y轴驱动螺母座安装至一号Y轴驱动滑轨上，Y轴驱动螺母座与Y轴驱动丝杠螺纹连接，且Y轴驱动螺母座底部通过滑块连接至一号Y轴驱动滑轨，Y轴驱动丝杠的端部设有从动轮，Y轴驱动电机的输出端设有主动轮，主动轮通过皮带与从动轮连接，实现Y轴驱动电机对Y轴驱动丝杠的驱动；二号Y轴驱动滑轨上设有从动滑块，Y轴驱动螺母座通过连接块与从动滑块连接，进而实现连接座沿Y轴方向的直线移动。

6.根据权利要求5所述的测试臂动力矩锁紧装置，其特征在于：Y轴驱动连接块的两侧设有Z轴方向的导向滑块，一号测试臂和二号测试臂的侧边均设有一个与导向滑块相配合的导向滑轨，进而实现Y轴驱动电机驱动一号测试臂和二号测试臂同时在Y轴方向移动。

7.根据权利要求1所述的测试臂动力矩锁紧装置，其特征在于：锁紧组件包括锁紧安装架、一号电磁制动器和二号电磁制动器，其中锁紧安装架包括顶板和三个平行设置的隔板，顶板下表面通过三个平行设置的隔板安装至锁紧板，三个隔板将顶板和锁紧板之间分隔成两个控制区，在每个控制区内，一号电磁制动器和二号电磁制动器分别通过固定板安装至顶板的下表面，一号电磁制动器的磁吸端对应一号惰轮，二号电磁制动器的磁吸端对应二号Z轴模组的二号惰轮。

8.根据权利要求7所述的测试臂动力矩锁紧装置，其特征在于：三个平行设置的隔板上设有两套对射传感器，分别为与一号电磁制动器对应的一号对射传感器，与二号电磁制动器对应的二号对射传感器，一号对射传感器和二号对射传感器信号连接至控制器。

9.根据权利要求8所述的测试臂动力矩锁紧装置，其特征在于：初始状态，一号电磁制动器和一号惰轮之间存在一号缝隙，二号电磁制动器和二号惰轮之间也存在二号缝隙，一号对射传感器设置在一号缝隙之间，二号对射传感器设置在二号缝隙之间。

10.根据权利要求9所述的测试臂动力矩锁紧装置，其特征在于：一号惰轮的顶部和二号惰轮的顶部均设有刹车片，所述刹车片用于增大电磁制动器的磁吸端与惰轮之间的摩擦力。

Images