CN114740645A - 一种导电粒子压痕检测设备 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种导电粒子压痕检测设备，包括底座、检测机构及送检机构，所述检测机构包括线扫驱动组件、相机载台、偏移检测组件及粒子检测组件，所述偏移检测组件和粒子检测组件分别相向设置在所述相机载台的上侧和下侧，所述线扫驱动组件用于带动所述相机载台沿检测方向移动进行线扫检测，所述送料组件用于将待测样品输送至所述偏移检测组件和粒子检测组件之间。本发明提供一种导电粒子压痕检测设备，通过送检机构进行送料，由线扫驱动组件带动粒子检测相机和偏移检测相机自动进行线扫检测，取代人力，排除人为参与对产品接触的不良影响，不会对产品造成损伤，减小劳动强度，节省成本。
Description
技术领域
本发明涉及光学检测技术领域，具体涉及一种导电粒子压痕检测设备。
背景技术
随着现代社会的高速发展，人们生活的丰富绚丽，满足人们生活的各种现代产品越来越多，其中电子产品占据了很大一部分，电子产品上的显示屏以液晶屏为主，液晶屏的使用效果直接体现在屏的品质上，品质体现在一道道加工及检测工艺中，目前绝大多数液晶盒玻璃和IC器件的连接都采用COG技术(晶粒-玻璃接合技术)，在COG技术中主要是利用ACF(各向异性导电膜)进行连接，其粒子排列是否均匀决定了品质的高低，因此检测过程十分重要，目前对COG技术中的导电粒子检测主要为人工通过显微镜对热压后的粒子进行观察，判断压痕是否合格，导电粒子是否均匀，但是人工判断的主观性很大，人眼长时间观察出错的概率也极大，最主要的是产品的品质很难稳定掌控，品质一致性差。
发明内容
本发明的目的在于提供一种导电粒子压痕检测设备用于解决上述问题。
为实现上述目的，本发明采用以下技术方案：
一种导电粒子压痕检测设备，包括底座、检测机构及送检机构，所述检测机构包括线扫驱动组件、相机载台、偏移检测组件及粒子检测组件，所述偏移检测组件和粒子检测组件分别相向设置在所述相机载台的上侧和下侧，所述线扫驱动组件用于带动所述相机载台沿检测方向移动进行线扫检测，所述送料组件用于将待测样品输送至所述偏移检测组件和粒子检测组件之间。
优选地，所述线扫驱动组件包括横移模组和横移台，所述横移模组固设在所述底座上用于驱动所述横移台沿水平横向移动，所述相机载台设置在所述横移台上。
优选地，所述相机载台包括升降模组和安装基台，所述升降模组固设在所述横移台上用于驱动所述安装基台沿竖直方向升降，所述安装基台的上侧和下侧分别设有上连接架和下连接架，所述偏移检测组件和粒子检测组件分别设置在所述上连接架和下连接架上。
优选地，所述偏移检测组件包括第一调节台、第一安装架及偏移检测相机，所述第一调节台固设在所述上连接架上用于调节所述第一安装架的位置，所述偏移检测相机设置在所述第一安装架上，所述偏移检测相机的检测镜头朝下。
优选地，所述粒子检测组件包括第二调节台、激光安装架、激光发射器、激光控制器、第二安装架及粒子检测相机，所述第二调节台固设在所述下连接架上用于调节所述激光安装架的位置，所述激光发射器设置在所述激光安装架上，且其通过所述激光控制器控制，所述激光发射器包括相向设置的左发射头和右发射头，且发射角度均倾斜向上，所述粒子检测相机通过所述第二安装架固设在所述下连接架上，且所述粒子检测相机的检测镜头朝上，并位于所述左发射头和右发射头之间。
优选地，所述第一调节台和第二调节台均包括两组叠加设置的调节组件，且其中一组所述调节组件沿水平横向进行调节，另一组所述调节组件沿竖直升降进行调节，所述调节组件包括固定板、调节板及微调旋钮，所述调节板滑动设置在所述固定板上，所述固定板沿滑动方向的一侧设有第一接头，所述调节板沿滑动方向的一侧设有第二接头，所述微调旋钮的一端固定连接在所述第一接头上，另一端连接有所述第二接头。
优选地，所述检测机构还包括CCD定位相机，所述CCD定位相机通过第三安装架固设在横移台上用于获取待测物位置信息。
优选地，所述送检机构包括纵移模组、纵移台、旋转模组及载物台，所述纵移模组固设在底座上用于驱动所述纵移台沿水平纵向移动，所述旋转模组固设在所述纵移台上用于驱动所述载物台转动。
优选地，还包括除静电机构，所述除静电机构包括安装杆和离子风机，所述安装杆设置在所述送检机构的上方，所述安装杆上设有两铰接头，所述离子风机的两端分别铰接在一个所述铰接头上。
采用上述技术方案后，本发明与背景技术相比，具有如下优点：
本发明提供一种导电粒子压痕检测设备，通过送检机构进行送料，由线扫驱动组件带动粒子检测相机和偏移检测相机自动进行线扫检测，取代人力，排除人为参与对产品接触的不良影响，不会对产品造成损伤，减小劳动强度，节省成本；粒子检测相机和偏移检测相机相向设置，同时进行检测，不光可以检测液晶屏生产工艺的压痕是否合格，导电粒子是否均匀，还能检测出液晶屏mark的偏移状况，检测效果精准，一致性强，轻松实现全程自动化，有效的保证产品品质。
附图说明
图1为本发明外部结构示意图；
图2为本发明内部结构示意图；
图3为本发明检测机构结构示意图；
图4为本发明检测机构另一角度结构示意图；
图5为本发明偏移检测组件和粒子检测组件结构示意图；
图6为本发明第一调节台结构示意图；
图7为本发明送检机构结构示意图；
图8为本发明除尘风机结构示意图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
在本发明中需要说明的是，术语“上”“下”“左”“右”“竖直”“水平”“内”“外”等均为基于附图所示的方位或位置关系，仅仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示本发明的装置或元件必须具有特定的方位，因此不能理解为对本发明的限制。
实施例
配合图1至图8所示，本发明公开了一种导电粒子压痕检测设备，包括底座1、检测机构2及送检机构3，检测机构2包括线扫驱动组件21、相机载台22、偏移检测组件23及粒子检测组件24，偏移检测组件23和粒子检测组件24分别相向设置在相机载台22的上侧和下侧，线扫驱动组件21用于带动相机载台22沿检测方向移动进行线扫检测，送料组件3用于将待测样品输送至偏移检测组件23和粒子检测组件24之间。偏移检测组件23用于检测液晶屏mark的偏移状况，粒子检测组件24用于检测液晶屏生产工艺的压痕是否合格，导电粒子是否均匀。
线扫驱动组件21包括横移模组211和横移台212，横移模组211固设在底座1上用于驱动横移台212沿水平横向移动，相机载台22设置在横移台212上。
相机载台22包括升降模组221和安装基台222，升降模组221固设在横移台212上用于驱动安装基台222沿竖直方向升降，安装基台222的上侧和下侧分别设有上连接架223和下连接架224，偏移检测组件23和粒子检测组件24分别设置在上连接架223和下连接架224上。
偏移检测组件23包括第一调节台231、第一安装架232及偏移检测相机233，第一调节台231固设在上连接架223上用于调节第一安装架232的位置，偏移检测相机233设置在第一安装架232上，偏移检测相机233的检测镜头朝下。偏移检测相机233采用红外相机。
粒子检测组件24包括第二调节台241、激光安装架242、激光发射器243、激光控制器244、第二安装架245及粒子检测相机246，第二调节台241固设在下连接架224上用于调节激光安装架242的位置，激光发射器243设置在激光安装架242上，且其通过激光控制器244控制，激光发射器243包括相向设置的左发射头2431和右发射头2432，且发射角度均倾斜向上，粒子检测相机246通过第二安装架245固设在下连接架上，且粒子检测相机246的检测镜头朝上，并位于左发射头2431和右发射头2432之间。粒子检测相机246采用蓝光相机。
第一调节台231和第二调节台241均包括两组叠加设置的调节组件2311，且其中一组调节组件2311沿水平横向进行调节用于调节水平横向位置，另一组调节组件2311沿竖直升降进行调节用于调节竖直位置，调节组件2311包括固定板23111、调节板23112及微调旋钮23113，调节板23112滑动设置在固定板23111上，固定板23111沿滑动方向的一侧设有第一接头23114，调节23112板沿滑动方向的一侧设有第二接头23115，微调旋钮23113的一端固定连接在第一接头23114上，另一端连接有第二接头23115，通过微调旋钮23113调节固定板23111和调节板23112的相对距离。
检测机构2还包括CCD定位相机25，CCD定位相机25通过第三安装架26固设在横移台212上用于获取待测物位置信息，并根据位置信息通过送检结构3实时调整待测物的位置
送检机构3包括纵移模组31、纵移台32、旋转模组33及载物台34，纵移模组31固设在底座1上用于驱动纵移台32沿水平纵向移动，旋转模组33固设在纵移台32上用于驱动载物台34转动从而调整待测物的角度位置。
还包括除静电机构4，除静电机构4包括安装杆41和离子风机42，安装杆41设置在送检机构3的上方，安装杆41上设有两铰接头411，离子风机42的两端分别铰接在一个铰接头411上，通过转动铰接角度便可调整离子风机42的角度。
以上所述，仅为本发明较佳的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应该以权利要求的保护范围为准。
Claims (9)
1.一种导电粒子压痕检测设备，其特征在于：包括底座、检测机构及送检机构，所述检测机构包括线扫驱动组件、相机载台、偏移检测组件及粒子检测组件，所述偏移检测组件和粒子检测组件分别相向设置在所述相机载台的上侧和下侧，所述线扫驱动组件用于带动所述相机载台沿检测方向移动进行线扫检测，所述送料组件用于将待测样品输送至所述偏移检测组件和粒子检测组件之间。
2.如权利要求1所述的一种导电粒子压痕检测设备，其特征在于：所述线扫驱动组件包括横移模组和横移台，所述横移模组固设在所述底座上用于驱动所述横移台沿水平横向移动，所述相机载台设置在所述横移台上。
3.如权利要求2所述的一种导电粒子压痕检测设备，其特征在于：所述相机载台包括升降模组和安装基台，所述升降模组固设在所述横移台上用于驱动所述安装基台沿竖直方向升降，所述安装基台的上侧和下侧分别设有上连接架和下连接架，所述偏移检测组件和粒子检测组件分别设置在所述上连接架和下连接架上。
4.如权利要求3所述的一种导电粒子压痕检测设备，其特征在于：所述偏移检测组件包括第一调节台、第一安装架及偏移检测相机，所述第一调节台固设在所述上连接架上用于调节所述第一安装架的位置，所述偏移检测相机设置在所述第一安装架上，所述偏移检测相机的检测镜头朝下。
5.如权利要求4所述的一种导电粒子压痕检测设备，其特征在于：所述粒子检测组件包括第二调节台、激光安装架、激光发射器、激光控制器、第二安装架及粒子检测相机，所述第二调节台固设在所述下连接架上用于调节所述激光安装架的位置，所述激光发射器设置在所述激光安装架上，且其通过所述激光控制器控制，所述激光发射器包括相向设置的左发射头和右发射头，且发射角度均倾斜向上，所述粒子检测相机通过所述第二安装架固设在所述下连接架上，且所述粒子检测相机的检测镜头朝上，并位于所述左发射头和右发射头之间。
6.如权利要求5所述的一种导电粒子压痕检测设备，其特征在于：所述第一调节台和第二调节台均包括两组叠加设置的调节组件，且其中一组所述调节组件沿水平横向进行调节，另一组所述调节组件沿竖直升降进行调节，所述调节组件包括固定板、调节板及微调旋钮，所述调节板滑动设置在所述固定板上，所述固定板沿滑动方向的一侧设有第一接头，所述调节板沿滑动方向的一侧设有第二接头，所述微调旋钮的一端固定连接在所述第一接头上，另一端连接有所述第二接头。
7.如权利要求2所述的一种导电粒子压痕检测设备，其特征在于：所述检测机构还包括CCD定位相机，所述CCD定位相机通过第三安装架固设在横移台上用于获取待测物位置信息。
8.如权利要求1所述的一种导电粒子压痕检测设备，其特征在于：所述送检机构包括纵移模组、纵移台、旋转模组及载物台，所述纵移模组固设在底座上用于驱动所述纵移台沿水平纵向移动，所述旋转模组固设在所述纵移台上用于驱动所述载物台转动。
9.如权利要求1所述的一种导电粒子压痕检测设备，其特征在于：还包括除静电机构，所述除静电机构包括安装杆和离子风机，所述安装杆设置在所述送检机构的上方，所述安装杆上设有两铰接头，所述离子风机的两端分别铰接在一个所述铰接头上。
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