CN217212308U - 一种导电粒子压痕检测装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种导电粒子压痕检测装置，包括底座、横移模组、横移台、升降模组、安装基台、偏移检测组件及粒子检测组件，所述横移模组固设在所述底座上用于驱动所述横移台沿水平线扫方向移动，所述升降模组固设在所述横移台上用于驱动所述安装基台沿竖直方向升降，所述偏移检测组件和粒子检测组件分别相向设置在所述安装基台的上侧和下侧用于进行偏移检测和粒子检测。本实用新型提供由横移模组带动粒子检测相机和偏移检测相机自动进行线扫检测，取代人力，排除人为参与对产品接触的不良影响，不会对产品造成损伤，减小劳动强度，节省成本。
Description
技术领域
本实用新型涉及光学检测技术领域，具体涉及一种导电粒子压痕检测装置。
背景技术
随着现代社会的高速发展，人们生活的丰富绚丽，满足人们生活的各种现代产品越来越多，其中电子产品占据了很大一部分，电子产品上的显示屏以液晶屏为主，液晶屏的使用效果直接体现在屏的品质上，品质体现在一道道加工及检测工艺中，目前绝大多数液晶盒玻璃和IC器件的连接都采用COG技术(晶粒-玻璃接合技术)，在COG技术中主要是利用ACF(各向异性导电膜)进行连接，其粒子排列是否均匀决定了品质的高低，因此检测过程十分重要，目前对COG技术中的导电粒子检测主要为人工通过显微镜对热压后的粒子进行观察，判断压痕是否合格，导电粒子是否均匀，但是人工判断的主观性很大，人眼长时间观察出错的概率也极大，最主要的是产品的品质很难稳定掌控，品质一致性差。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种导电粒子压痕检测装置用于解决上述问题。
为实现上述目的，本实用新型采用以下技术方案：
一种导电粒子压痕检测装置，包括底座、横移模组、横移台、升降模组、安装基台、偏移检测组件及粒子检测组件，所述横移模组固设在所述底座上用于驱动所述横移台沿水平线扫方向移动，所述升降模组固设在所述横移台上用于驱动所述安装基台沿竖直方向升降，所述偏移检测组件和粒子检测组件分别相向设置在所述安装基台的上侧和下侧用于进行偏移检测和粒子检测。
优选地，所述安装基台的上侧和下侧分别固设有上连接架和下连接架，所述偏移检测组件和粒子检测组件分别相向设置在所述上连接架和下连接架上。
优选地，所述偏移检测组件包括第一调节台、第一安装架及偏移检测相机，所述第一调节台固设在所述上连接架上用于调节所述第一安装架的位置，所述偏移检测相机设置在所述第一安装架上，所述偏移检测相机的检测镜头朝下。
优选地，所述粒子检测组件包括第二调节台、激光安装架、激光发射器、激光控制器、第二安装架及粒子检测相机，所述第二调节台固设在所述下连接架上用于调节所述激光安装架的位置，所述激光发射器设置在所述激光安装架上，且其通过所述激光控制器控制，所述激光发射器包括相向设置的左发射头和右发射头，且发射角度均倾斜向上，所述粒子检测相机通过所述第二安装架固设在所述下连接架上，且所述粒子检测相机的检测镜头朝上，并位于所述左发射头和右发射头之间。
优选地，所述第一调节台和第二调节台均包括两组叠加设置的调节组件，且其中一组所述调节组件沿水平横向进行调节，另一组所述调节组件沿竖直升降进行调节，
优选地，所述调节组件包括固定板、调节板及微调旋钮，所述调节板滑动设置在所述固定板上，所述固定板沿滑动方向的一侧设有第一接头，所述调节板沿滑动方向的一侧设有第二接头，所述微调旋钮的一端固定连接在所述第一接头上，另一端连接有所述第二接头。
优选地，还包括CCD定位相机，所述CCD定位相机通过第三安装架固设在横移台上用于获取待测物位置信息。
采用上述技术方案后，本实用新型与背景技术相比，具有如下优点：
本实用新型提供一种导电粒子压痕检测装置，由横移模组带动粒子检测相机和偏移检测相机自动进行线扫检测，取代人力，排除人为参与对产品接触的不良影响，不会对产品造成损伤，减小劳动强度，节省成本；粒子检测相机和偏移检测相机相向设置，同时进行检测，不光可以检测液晶屏生产工艺的压痕是否合格，导电粒子是否均匀，还能检测出液晶屏mark的偏移状况，检测效果精准，一致性强，轻松实现全程自动化，有效的保证产品品质。
附图说明
图1为本实用新型结构示意图；
图2为本实用新型另一角度结构示意图；
图3为本实用新型偏移检测组件和粒子检测组件结构示意图；
图4为本实用新型第一调节台结构示意图。
具体实施方式
为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。
在本实用新型中需要说明的是，术语“上”“下”“左”“右”“竖直”“水平”“内”“外”等均为基于附图所示的方位或位置关系，仅仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示本实用新型的装置或元件必须具有特定的方位，因此不能理解为对本实用新型的限制。
实施例
配合图1至图4所示，本实用新型公开了一种导电粒子压痕检测装置，包括底座、横移模组1、横移台2、升降模组3、安装基台4、偏移检测组件5及粒子检测组件6，横移模组1固设在底座上用于驱动横移台2沿水平线扫方向移动，升降模组3固设在横移台2上用于驱动安装基台4沿竖直方向升降，安装基台4的上侧和下侧分别固设有上连接架41和下连接架42，偏移检测组件5和粒子检测组件6分别相向设置在上连接架41和下连接架42上，用于进行偏移检测和粒子检测。
偏移检测组件5包括第一调节台51、第一安装架52及偏移检测相机53，第一调节台51固设在上连接架41上用于调节第一安装架52的位置，偏移检测相机53设置在第一安装架52上，偏移检测相机53的检测镜头朝下。偏移检测相机53采用红外相机。
粒子检测组件6包括第二调节台61、激光安装架62、激光发射器63、激光控制器64、第二安装架65及粒子检测相机66，第二调节台61固设在下连接架42上用于调节激光安装架62的位置，激光发射器63设置在激光安装架62上，且其通过激光控制器64控制，激光发射器63包括相向设置的左发射头631和右发射头632，且发射角度均倾斜向上，粒子检测相机66通过第二安装架65固设在下连接架上，且粒子检测相机66的检测镜头朝上，并位于左发射头631和右发射头632之间。粒子检测相机66采用蓝光相机。
第一调节台51和第二调节台61均包括两组叠加设置的调节组件511，且其中一组调节组件511沿水平横向进行调节用于调节水平横向位置，另一组调节组件511沿竖直升降进行调节用于调节竖直位置，调节组件511包括固定板5111、调节板5112及微调旋钮5113，调节板5112滑动设置在固定板23111上，固定板5111沿滑动方向的一侧设有第一接头5114，调节5112板沿滑动方向的一侧设有第二接头5115，微调旋钮5113的一端固定连接在第一接头5114上，另一端连接有第二接头5115，通过微调旋钮5113调节固定板5111和调节板5112的相对距离。
还包括CCD定位相机7，CCD定位相机7通过第三安装架8固设在横移台2上用于获取待测物位置信息，并根据位置信息实时调整待测物的位置。
以上所述，仅为本实用新型较佳的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。因此，本实用新型的保护范围应该以权利要求的保护范围为准。
Claims (7)
1.一种导电粒子压痕检测装置，其特征在于：包括底座、横移模组、横移台、升降模组、安装基台、偏移检测组件及粒子检测组件，所述横移模组固设在所述底座上用于驱动所述横移台沿水平线扫方向移动，所述升降模组固设在所述横移台上用于驱动所述安装基台沿竖直方向升降，所述偏移检测组件和粒子检测组件分别相向设置在所述安装基台的上侧和下侧用于进行偏移检测和粒子检测。
2.如权利要求1所述的一种导电粒子压痕检测装置，其特征在于：所述安装基台的上侧和下侧分别固设有上连接架和下连接架，所述偏移检测组件和粒子检测组件分别相向设置在所述上连接架和下连接架上。
3.如权利要求2所述的一种导电粒子压痕检测装置，其特征在于：所述偏移检测组件包括第一调节台、第一安装架及偏移检测相机，所述第一调节台固设在所述上连接架上用于调节所述第一安装架的位置，所述偏移检测相机设置在所述第一安装架上，所述偏移检测相机的检测镜头朝下。
4.如权利要求3所述的一种导电粒子压痕检测装置，其特征在于：所述粒子检测组件包括第二调节台、激光安装架、激光发射器、激光控制器、第二安装架及粒子检测相机，所述第二调节台固设在所述下连接架上用于调节所述激光安装架的位置，所述激光发射器设置在所述激光安装架上，且其通过所述激光控制器控制，所述激光发射器包括相向设置的左发射头和右发射头，且发射角度均倾斜向上，所述粒子检测相机通过所述第二安装架固设在所述下连接架上，且所述粒子检测相机的检测镜头朝上，并位于所述左发射头和右发射头之间。
5.如权利要求4所述的一种导电粒子压痕检测装置，其特征在于：所述第一调节台和第二调节台均包括两组叠加设置的调节组件，且其中一组所述调节组件沿水平横向进行调节，另一组所述调节组件沿竖直升降进行调节。
6.如权利要求5所述的一种导电粒子压痕检测装置，其特征在于：所述调节组件包括固定板、调节板及微调旋钮，所述调节板滑动设置在所述固定板上，所述固定板沿滑动方向的一侧设有第一接头，所述调节板沿滑动方向的一侧设有第二接头，所述微调旋钮的一端固定连接在所述第一接头上，另一端连接有所述第二接头。
7.如权利要求1所述的一种导电粒子压痕检测装置，其特征在于：还包括CCD定位相机，所述CCD定位相机通过第三安装架固设在横移台上用于获取待测物位置信息。
Priority Applications (1)
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Family Applications (1)
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| CN202220922744.9U Active CN217212308U (zh) | 2022-04-20 | 2022-04-20 | 一种导电粒子压痕检测装置 |
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2022
- 2022-04-20 CN CN202220922744.9U patent/CN217212308U/zh active Active
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