CN114720667A - 涂料的遮盖性实验方法 - Google Patents

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Abstract

提供一种能够提高评价精度的涂料的遮盖性实验方法。该涂料的遮盖性实验方法是使用具有黑白花纹的多个黑白遮盖实验构件的涂料的遮盖性实验方法，具备：分阶涂装工序，在该工序中，针对未涂敷涂料的多个黑白遮盖实验构件，以成为分阶式的不同目标膜厚值的方式分别改变涂装次数而涂敷涂料；固化工序，在该工序中，使被涂敷于多个黑白遮盖实验构件的涂料固化；以及评价工序，在该工序中，通过将经由固化工序得到的多个黑白遮盖实验构件彼此进行比较，来评价涂料的黑白遮盖性。

Description

涂料的遮盖性实验方法
技术领域
本公开涉及涂料的遮盖性实验方法。
背景技术
以往，作为表示涂料所具备的特性之一的基底遮盖性的指标，已知有“黑白遮盖膜厚值”。黑白遮盖膜厚值越大则基底遮盖性越低，黑白遮盖膜厚值越小则基底遮盖性越高。作为求出该黑白遮盖膜厚值的方法，已知例如专利文献1所记载的那样，使用黑白方格花纹的黑白遮盖实验构件，基于JIS-K 5600-4-1所规定的遮盖率实验方法的方法。
专利文献1中记载的方法如下所述。在该方法中，作为黑白遮盖实验构件，使用通过双面胶将黑白遮盖实验纸粘贴于镀锡板的左右方向的中央部而得到的构件。黑白遮盖实验纸从上至下形成6个区域，上端的1个区域之外用遮蔽用板覆盖以不沾上涂料，以规定的干燥膜厚喷涂涂料。接着，将覆盖黑白遮盖实验构件的遮蔽用板移动至黑白遮盖实验纸的下方的下一区域后，然后对最开始的区域和新出现的区域均匀地涂装。即，最开始露出的区域被重复涂装，相应地，其膜厚比新出现的区域变厚。反复上述操作，通过1次移动一个区域而全部6个区域被涂装。
然后，进行干燥，将得到的黑白遮盖实验构件在人工太阳灯下肉眼观察。按照所涂装的膜厚从厚到薄的顺序观察，对于与黑白遮盖实验纸的黑白分界略透过的区域相比膜厚较厚的1个区域上的膜厚进行测定，作为黑白遮盖膜厚值。
专利文献1：日本特开2010-241911号公报
发明内容
然而，在上述专利文献1的方法中，由于是在将一张实验纸通过1次移动一个区域进行涂装而产生的具有阶差的面上顺次反复涂装，因此，难以均匀地、精度良好地进行涂装，难以高精度地进行品质评价。近年来的高遮盖性涂料在评价过程中需要形成很少的膜厚差，因此上述问题变得显著。
本公开能够通过以下方式来实现。
(1)根据本公开的一个方式，提供了一种涂料的遮盖性实验方法。该涂料的遮盖性实验方法是使用具有黑白花纹的多个黑白遮盖实验构件的涂料的遮盖性实验方法，具备：分阶涂装工序，在该工序中，针对未涂敷所述涂料的多个所述黑白遮盖实验构件，以成为分阶式的不同目标膜厚值的方式分别改变涂装次数而涂敷所述涂料；固化工序，在该工序中，使被涂敷于多个所述黑白遮盖实验构件的所述涂料固化；以及评价工序，在该工序中，通过将经由所述固化工序得到的多个所述黑白遮盖实验构件彼此进行比较，来评价所述涂料的黑白遮盖性。
根据上述方式的涂料的遮盖性实验方法，在分阶涂装工序中，针对未涂敷涂料的多个黑白遮盖实验构件，以成为分阶式的不同目标膜厚值的方式分别分阶式地改变涂装次数而涂敷涂料。因此，与在一张实验纸的单个面形成分阶式的膜厚不同的涂膜的方式相比，涂装精度稳定，能够提高评价精度。
(2)在上述方式中，所述分阶涂装工序可以包括：均匀涂装工序，在该工序中，将多个所述黑白遮盖实验构件中的、所述固化工序前的所述黑白遮盖实验构件中的所述涂料的厚度即固化前膜厚值未达到与所述目标膜厚值对应的值的所述黑白遮盖实验构件作为对象，以彼此均匀的厚度涂敷所述涂料；以及排除工序，在该工序中，将所述固化前膜厚值已达到与所述目标膜厚值对应的值的所述黑白遮盖实验构件排除在下一次所述均匀涂装工序的对象之外，反复进行所述均匀涂装工序和所述排除工序，直到除了在所述排除工序中被排除在所述对象之外的所述黑白遮盖实验构件以外、其他所有所述黑白遮盖实验构件的所述固化前膜厚值达到与所述目标膜厚值对应的值为止。
根据上述方式的涂料的遮盖性实验方法，在分阶涂装工序中，通过反复进行均匀涂装和排除工序，能够从目标膜厚值小的构件开始依次制作固化前膜厚值已达到与目标膜厚值对应的值的黑白遮盖实验构件。
(3)在上述方式中，所述评价工序可以具有：将所述固化工序被执行之后的多个所述黑白遮盖实验构件中的、所述目标膜厚值为相邻阶的两个所述黑白遮盖实验构件彼此进行比较，确定无法观察到所述黑白花纹中的白色部与黑色部的分界的临界的所述黑白遮盖实验构件的工序；获取被确定的所述临界的所述黑白遮盖实验构件中的所述涂料的厚度即固化后膜厚值的膜厚值获取工序；以及将获取到的所述固化后膜厚值确定为所述黑白遮盖性的评价值即黑白遮盖膜厚值的工序。
根据该方式，无法观察到黑白花纹中的白色部与黑色部的分界的临界黑白遮盖实验构件被确定，被确定的黑白遮盖实验构件的固化后膜厚值作为黑白遮盖膜厚值。因此，能够以数值来准确地评价涂料的黑白遮盖性。
(4)在上述方式中，所述分阶涂装工序可以包括：均匀涂装工序，在该工序中，将多个所述黑白遮盖实验构件中的、所述固化工序前的所述黑白遮盖实验构件中的所述涂料的厚度即固化前膜厚值未达到与所述目标膜厚值对应的值的所述黑白遮盖实验构件作为对象，以彼此均匀的厚度涂敷所述涂料；膜厚测定工序，在该工序中，测定所述均匀涂装工序被执行后的所述黑白遮盖实验构件中的所述固化前膜厚值；以及排除工序，在该工序中，将所测定的所述固化前膜厚值和与所述目标膜厚值对应的值进行比较，将所述固化前膜厚值已达到与所述目标膜厚值对应的值的所述黑白遮盖实验构件排除在下一次所述均匀涂装工序的对象之外，反复进行所述均匀涂装工序、所述膜厚测定工序、以及所述排除工序，直到除了在所述排除工序中被排除在所述对象之外的所述黑白遮盖实验构件以外的、其他所有所述黑白遮盖实验构件的所述固化前膜厚值达到与所述目标膜厚值对应的值为止，所述膜厚值获取工序包括以下工序：将所述膜厚测定工序中测定出的所述固化前膜厚值、乘以将所述涂料焙烧后作为涂膜残留的固体成分的比例即通过预先实验而预先确定的加热残留量，从而算出所述固化后膜厚值。
根据该方式，在分阶涂装工序中，即使由于涂装不良导致目标膜厚值不同的情况下，也能够在固化工序前得知，能够立即重新开始该工序。
(5)在上述方式中，所述目标膜厚值也可以在各个所述黑白遮盖实验构件中以等间隔分阶式地彼此不同。根据该方式，多个黑白遮盖实验构件的目标膜厚值以等间隔分阶式地不同。即，能够制作膜厚阶差恒定、以相同程度间隔具有浓淡不同的涂膜的黑白遮盖实验构件。由于以涂膜的厚度顺序相连续的黑白遮盖实验构件中不会发生浓淡急剧变化，因此，在评价工序中，能够容易地判定无法观察到黑白花纹的临界黑白遮盖实验构件，提高评价精度。
附图说明
图1是说明本公开的第一实施方式中的涂料的遮盖性实验方法的主流程图。
图2是说明分阶涂装工序的流程图。
图3是用于说明配置工序的示意图。
图4是用于说明分阶涂装工序的示意图。
图5是用于说明分阶涂装工序的示意图。
图6是用于说明评价工序的示意图。
图7是说明本公开的第二实施方式中的涂料的遮盖性实验方法的主流程图。
图8是说明分阶涂装工序的流程图。
具体实施方式
A.第一实施方式：
参照图1至图6，说明本公开的第一实施方式中的涂料的遮盖性实验方法。作为表示涂料所具有的特性之一的基底遮盖性的指标，有“黑白遮盖膜厚值”。在本实施方式的遮盖性实验方法中，对实验对象的涂料求出黑白遮盖膜厚值，评价得到的黑白遮盖膜厚值是否符合针对该涂料基于预先规定条件定义的黑白遮盖膜厚值。在求出黑白遮盖膜厚值时，使用多个黑白遮盖实验构件。
图1是说明本公开的第一实施方式中的涂料的遮盖性实验方法的主流程图。图2是说明分阶涂装工序的流程图。图3至图6是用于说明涂料的遮盖性实验方法的各工序的示意图。
首先，说明遮盖性实验方法中使用的黑白遮盖实验构件11、12、13、14、15。如图3至图6所示，本实施方式的遮盖性实验方法中采用的多个(本实施方式中为5个)黑白遮盖实验构件11、12、13、14、15均具有相同构成。此外，在图3至图6的各图中，对于各黑白遮盖实验构件11、12、13、14、15的以下详述的构成要素，仅对第一黑白遮盖实验构件11或第二黑白遮盖实验构件12添加标号，对于其他黑白遮盖实验构件13～15的构成要素则省略标号。
如图3所示，各黑白遮盖实验构件11、12、13、14、15具有镀锡板16、和黑白遮盖实验纸17。镀锡板16具有俯视为长方形的形状，配置为长边与上下方向一致。镀锡板16的横宽与黑白遮盖实验纸17的横宽大致相同。黑白遮盖实验纸17上印刷有黑白方格花纹作为黑白花纹。
本实施方式的黑白遮盖实验纸17，均呈正方形的白色块部18和黑色块部19被以整体成为2块×2块的方式交替配置。各块部18、19的一条边的长度为大致50mm。白色块部18中的明亮度为L值90以上，黑色部中的明亮度为L值12以下。白色块部18相当于“白色部”，黑色块部19相当于“黑色部”。黑白遮盖实验纸17粘贴在镀锡板16的上下方向的中央部。镀锡板16的上下端部形成有未粘贴黑白遮盖实验纸17的上空空间21及下空空间22。
接下来，说明使用上述说明的黑白遮盖实验构件11、12、13、14、15的涂料的遮盖性实验方法。本实施方式中作为评价对象的涂料设为黑白遮盖膜厚值的标准为1.0±0.2μm。即，标准的中值为1.0μm，容许下限值为0.8μm，容许上限值为1.2μm。
如图1所示，遮盖性实验方法具备膜厚确定工序S10、配置工序S20、分阶涂装工序S30、固化工序S40、评价工序S50。在膜厚确定工序S10中，针对多个黑白遮盖实验构件11、12、13、14、15中的每一个，确定以等间隔分阶式地不同的目标膜厚值。在本实施方式中，由于黑白遮盖膜厚值的标准为1.0±0.2μm，因此，以0.2μm的增量设定各黑白遮盖实验构件11、12、13、14、15的目标膜厚值。该各个黑白遮盖实验构件11、12、13、14、15的目标膜厚值的差即厚度0.2μm为所谓的“膜厚阶差”。
第一黑白遮盖实验构件11的目标膜厚值设为比容许下限值低膜厚阶差量的0.6μm。第二黑白遮盖实验构件12的目标膜厚值设为容许下限值的0.8μm。第三黑白遮盖实验构件13的目标膜厚值设为中值的1.0μm。第四黑白遮盖实验构件14的目标膜厚值设为容许上限值的1.2μm。第五黑白遮盖实验构件15的目标膜厚值设为比容许上限值高膜厚阶差量的1.4μm。
图3是说明配置工序S20的示意图，是从正面观察所有黑白遮盖实验构件11、12、13、14、15配置已完成的状态的图。在配置工序S20中，如图3所示，将多个黑白遮盖实验构件11、12、13、14、15配置在平坦的基板23上，以使得涂装面位于同一平面上。基板23是由锡等形成的钢板，利用磁铁固定于未图示的架台上。五个黑白遮盖实验构件11、12、13、14、15在基板23上从一侧(图3中的左侧)顺序以大致等间隔横向排列地配置。
图2是说明分阶涂装工序S30的流程图。在分阶涂装工序S30中，对于未涂敷涂料的多个黑白遮盖实验构件11、12、13、14、15中的每一个，分阶地改变涂装次数而涂敷涂料。由此，在各个黑白遮盖实验构件11、12、13、14、15，涂膜的厚度形成以等间隔分阶式地不同的膜厚阶差。
如图2所示，分阶涂装工序S30具备均匀涂装工序S31、膜厚值获取工序S32、排除工序S33。如后所述，在本实施方式中，均匀涂装工序S31被执行多次(在本实施方式中为7次)。在均匀涂装工序S31中，将固化工序前的黑白遮盖实验构件11、12、13、14、15的涂膜的厚度即固化前膜厚值未成为以固化前换算的目标膜厚值的黑白遮盖实验构件11、12、13、14、15，作为涂装对象而涂装为均匀的厚度。“均匀”具有不仅包括相互完全没有误差的状态还包含存在小于5％的误差的状态的宽泛含义。
此外，上述“目标膜厚值”是指经过后述的固化工序S40之后的涂料的厚度值。并且，上述“以固化前换算的目标膜厚值”是指推定为经过固化工序S40之后成为上述目标膜厚值的、固化前的涂料的厚度值。以下，在比较黑白遮盖实验构件的“固化前膜厚值”与“目标膜厚值”时，“目标膜厚值”是指“以固化前换算的目标膜厚值”。
此外，如果将“目标膜厚值”考虑为固化前的值，则“与目标膜厚值对应的值”是“目标膜厚值本身”，如果将“目标膜厚值”考虑为固化后的值，则“与目标膜厚值对应的值”是“将目标膜厚值除以加热残留量而换算得到的固化前的膜厚值”。这里，“与目标膜厚值对应的值”应该被解释为，不限于“固化前膜厚值”与“目标膜厚值”的数值在严格意义下的完全一致，只要根据该技术领域的技术常识具有通常被判断为一致的范围内的一致性即为对应的值。
图4是说明均匀涂装工序S31的示意图，示出了对全部5个黑白遮盖实验构件11、12、13、14、15进行涂装的情况。均匀涂装利用公知的喷枪手动喷涂。喷枪的气压、喷出量、以及图案宽度(喷涂涂料而形成的涂料的椭圆形状的纵向宽度)分别被设定为规定的值，以使得一次喷射得到的涂装厚度为0.2μm。此外，这里所说的0.2μm的数值是固化后的膜厚。在喷涂时，考虑涂料的加热残留量，设定涂装时的膜厚值即固化前膜厚值。例如，在本实施方式的涂料的加热残留量为3.5％的情况下，固化后膜厚值为0.2μm的涂膜的固化前膜厚值为约6μm左右。加热残留量是焙烧涂料后作为涂膜残留的固体成分的比例，通过预先实验而预先确定。
在图4中，以虚线箭头表示通过喷枪进行的涂装路线R1、R2、R3。如涂装路线R1、R2、R3所示，在本实施方式中，对各黑白遮盖实验构件11、12、13、14、15的整个表面，分为上部路线R1、中间部路线R2、以及下部路线R3三部分进行涂装。更详细而言，如上部路线R1所示，作业员将第一黑白遮盖实验构件11的上空空间21作为目标位置击发喷枪，使喷枪向第二黑白遮盖实验构件12侧沿横向滑动而对各黑白遮盖实验构件12、13、14、15的上部依次击发而涂装。在该过程中，横跨各黑白遮盖实验构件11、12、13、14、15的上部、即主要为上空空间21和方格花纹的上段被涂装。
如果至第五黑白遮盖实验构件15的上部为止涂装完成时，将喷枪的目标位置向下错开约一个块的量。然后，如中间部路线R2所示，这次，使喷枪从第五黑白遮盖实验构件15开始向第一黑白遮盖实验构件11侧横向移动，同时进行喷涂。在该过程中，横跨各黑白遮盖实验构件11、12、13、14、15的中间部、即主要为方格花纹的上段和下段被涂装。
最后，将喷枪的目标位置进一步向下错开约一个块的量，将第一黑白遮盖实验构件11的下空空间22作为目标位置进行击发。然后，与上部路线R1的涂装相同，如下部路线R3所示，向第二黑白遮盖实验构件12侧沿横向滑动，依次涂装至第五黑白遮盖实验构件15的下空空间22为止。在该过程中，横跨各黑白遮盖实验构件11、12、13、14、15的下部、即主要为方格花纹的下段和下空空间22被涂装。此外，图案宽度以上下重叠的方式涂装。此外，使得喷枪始终以垂直方向朝向涂装面。根据上述，作为涂装对象的所有黑白遮盖实验构件11、12、13、14、15被均匀地涂装。
如此，设置高度方向上的位置不同的三条涂装路线R1、R2、R3的原因在于，由于喷枪具有在喷射区域的端部的涂料的喷射量比中心部少的特性，为了抑制该特性导致的白色块部18以及黑色块部19的膜厚发生不均的情况。
再次参照图2。均匀涂装工序S31之后执行的膜厚值获取工序S32包括膜厚测定工序，在该工序中，测定黑白遮盖实验构件11、12、13、14、15的固化前膜厚值。在膜厚测定工序中，例如通过旋转式湿膜测厚仪测量焙烧前的涂膜的厚度。此时，为了不使黑白花纹残留测定痕迹，在上空空间21或下空空间22处测定固化前的膜厚。经过一次均匀涂装工序S31之后，固化后膜厚值应变为0.2μm(固化前膜厚值为6μm)，根据湿膜测厚仪的测定值确认是否正确地成为该厚度。
在该时刻，在涂膜的厚度与目标膜厚值显著不同的情况下，重新涂装。例如，在涂膜的厚度比目标膜厚薄的情况下，可以再一次重新涂装，在涂膜的厚度比目标膜厚厚的情况下，可以将涂膜擦除干净之后，再次重新进行均匀涂装工序S31。在其后的评价中必需的固化后膜厚值，是将表示固化前膜厚值的湿膜测厚仪的测定值乘以根据涂料不同而预先确定的加热残留量计算的。
在膜厚值获取工序S32之后执行的排除工序S33中，将固化前膜厚值变为以固化前换算的目标膜厚值的黑白遮盖实验构件11、12、13、14、15排除在下一次涂装工序的对象之外。具体而言，将涂膜变为目标膜厚值的黑白遮盖实验构件11、12、13、14、15从基板23取下。但是，如上所述，根据黑白遮盖膜厚的标准而确定的最下限的目标膜厚值为0.6μm，在图2所示的例程的第一轮中，由于仅涂装了0.2μm的相应量，因此，任一个黑白遮盖实验构件11、12、13、14、15的涂膜均未成为目标膜厚值。因此，在第一轮中，没有要取下的黑白遮盖实验构件11、12、13、14、15。
排除工序S33完成后，判定是否所有黑白遮盖实验构件11、12、13、14、15均成为已达到各自的目标膜厚值的状态(工序S34)。然后，在判定为不是所有黑白遮盖实验构件11、12、13、14、15都成为已达到各自的目标膜厚值的状态的情况下，换言之，在判定为一个以上的黑白遮盖实验构件的膜厚未成为目标膜厚值的情况(工序S34：否)下，处理返回至工序S31，再次执行工序S31～S34。另一方面，在判定为所有黑白遮盖实验构件11、12、13、14、15均成为已达到各自的目标膜厚值的状态的情况(工序S34：是)下，分阶涂装工序S30结束。在本实施方式中，上述工序S34是通过对工序S32获取到的膜厚是否与目标膜厚值一致进行判定来实现的。
第一轮的排除工序S33之后，由于任一个黑白遮盖实验构件11、12、13、14、15的涂膜均未成为目标膜厚值(S34：否)，因此，再次执行第二次的均匀涂装工序S31。如果没有因上述测定值的偏差而重新涂装，则在图2所示的例程的第三轮，所有黑白遮盖实验构件11、12、13、14、15的涂膜成为设定于第一黑白遮盖实验构件11的目标膜厚值(0.6μm)。故而，如果膜厚值获取工序S32中获取的实际的膜厚与目标膜厚值一致，则从基板23取下第一黑白遮盖实验构件11。
在第四轮的均匀涂装工序S31中，除了第一黑白遮盖实验构件11之外，将其他黑白遮盖实验构件(第二黑白遮盖实验构件12～第五黑白遮盖实验构件15)作为涂装对象进行涂装。图5示出了将第一黑白遮盖实验构件11从基板23取下而从排除在涂装对象之外后，将第二黑白遮盖实验构件12～第五黑白遮盖实验构件15作为涂装对象进行第四次的均匀涂装的情况。关于均匀涂装的方法，除了将涂装对象设为第二黑白遮盖实验构件12～第五黑白遮盖实验构件15之外，喷枪的路线R1、R2、R3与第一轮相同。
如上所述，均匀涂装工序S31、膜厚值获取工序S32、以及排除工序S33被执行多次(在本实施方式中为7次)，直到所有黑白遮盖实验构件11、12、13、14、15的涂膜变为各自的目标膜厚值为止。即，对于经历均匀涂装工序S31的次数，第一黑白遮盖实验构件11为3次，第二黑白遮盖实验构件12为4次，第三黑白遮盖实验构件13为5次，第四黑白遮盖实验构件14为6次，第五黑白遮盖实验构件15为7次。
再次参照图1。在分阶涂装工序S30结束之后被执行的固化工序S40中，对黑白遮盖实验构件11、12、13、14、15的涂料进行焙烧使其固化。具体而言，常温下设置10分钟之后，80℃下预热10分钟，110℃下再干燥15分钟。
接着，在评价工序S50中，评价得到的黑白遮盖实验构件11、12、13、14、15。在评价工序S50中，通过将固化工序S40得到的多个黑白遮盖实验构件11、12、13、14、15彼此进行比较，从而评价涂料的黑白遮盖性。更具体地进行说明。在评价工序S50中，将膜厚分阶式地不同的多个黑白遮盖实验构件11、12、13、14、15按照厚度顺序进行比较，将目标膜厚值为相邻阶的两个黑白遮盖实验构件彼此比较，从而确定无法观察到黑白花纹的白色块部18与黑色块部19的分界的临界黑白遮盖实验构件。然后，将所确定的黑白遮盖实验构件的固化后膜厚值作为评价结果。具体而言，在温度23±2℃、湿度50±5％RH、标准光源装置的亮度2000～4000勒克斯下，以与正面成45度的角度从250～300mm的距离观察。此外，“按照厚度顺序进行比较”可以从目标膜厚值小的第一黑白遮盖实验构件11开始观察，也可以反过来从目标膜厚值大的第五黑白遮盖实验构件15观察。
图6是用于说明评价工序S50的示意图。如图6中虚线围绕所示，选定黑白花纹被透过而观察到的第二黑白遮盖实验构件12、和黑白花纹未透过而无法观察到的第三黑白遮盖实验构件13的组。将这组中无法观察到黑白花纹的黑白遮盖实验构件13的固化后膜厚值作为评价结果。即，在本实施方式中，第三黑白遮盖实验构件13是无法观察到白色块部18与黑色块部19的分界的临界实验纸。因此，将第三黑白遮盖实验构件13的固化后膜厚值1.0μm作为评价结果，即作为黑白遮盖性的评价值的“黑白遮盖膜厚值”。在本实施方式中，作为结果，黑白遮盖膜厚值在标准内，能够判断为是符合标准的涂料。此外，上述固化工序S40以及评价工序S50中的详细的环境条件可以根据预先设定的规定而适当变更。
(1)作为对比例，例如存在以下现有方法：将一张黑白实验纸分为多个区域，每一区域去掉遮蔽用板而重复涂装，顺序生成从涂膜厚的区域到薄的区域，从而形成膜厚阶差。与这种对比例的方法相比，根据上述第一实施方式的遮盖性实验方法，在分阶涂装工序S30中，反复进行均匀涂装工序S31和排除工序S33，在均匀涂装工序S31中，对平坦的涂装面整体进行均匀涂装。也就是说，由于无需涂装阶差面，因此，涂装精度稳定，能够提高评价精度。
(2)此外，在上述现有方法中，在各个黑白遮盖实验构件11、12、13、14、15中形成0.2μm左右的非常小的膜厚阶差在技术上是困难的，但是通过第一实施方式的方法则变得可行，即使是对黑白遮盖膜厚值为1.0μm、1.4μm左右(大致为2.0μm以下)的高遮盖性涂料也能够实施评价。
(3)在上述第一实施方式的遮盖性实验方法中，在固化工序S40之前，执行膜厚值获取工序S32，利用湿膜测厚仪测量固化前的膜厚。因此，在分阶涂装工序S30时，即使在涂装不良而测定值与目标膜厚值显著不同的情况下，也能够在固化工序S40前得知该问题，能够立即重新开始工序。即，能够提高作业效率。
(4)在上述第一实施方式的遮盖性实验方法中，膜厚阶差恒定为0.2μm。即，能够制作具有膜厚阶差恒定、以相同程度间隔具有浓淡不同的涂膜的黑白遮盖实验构件11、12、13、14、15。由于在按照涂膜厚度的顺序连续的黑白遮盖实验构件11、12、13、14、15中浓淡不会急剧变化，因此，在评价工序S50中，容易判定无法观察到黑白花纹的临界黑白遮盖实验构件，能够提高评价精度。
B.第二实施方式：
接下来，参照图7和图8，说明本公开的第二实施方式中的涂料的遮盖性实验方法。图7是说明本公开的第二实施方式中的涂料的遮盖性实验方法的主流程图。图8是说明分阶涂装工序的流程图。第二实施方式中使用的黑白遮盖实验构件11、12、13、14、15与第一实施方式相同。在第二实施方式中，主要在以下方面与第一实施方式不同：不通过湿膜测厚仪进行固化前的膜厚测定，而在固化后测定膜厚。省略与第一实施方式相同的工序的说明，仅说明不同部分。此外，在图7、图8中，对与第一实施方式相同的步骤标以相同的编号。
如图7所示，在固化工序S40后，执行膜厚值获取工序S320。在膜厚值获取工序S320中，利用电磁膜厚计测定各黑白遮盖实验构件11、12、13、14、15的固化后膜厚。与此相对应地，在图8所示的分阶涂装工序S300中，在均匀涂装工序S31后，不进行膜厚值获取工序S32(图2参照)而执行排除工序S33。在第二实施方式中，在排除工序S33中固化前膜厚值变为目标膜厚值的黑白遮盖实验构件11、12、13、14、15是通过涂装次数确定的。在S34中，进行所有黑白遮盖实验构件11、12、13、14、15的固化前膜厚值是否变为目标膜厚值的判定时也相同。
根据第二实施方式，能够取得与第一实施方式中的上述效果(1)、(2)、(4)相同的效果。
C.其他实施方式：
(C1)在上述各实施方式的黑白遮盖实验构件11、12、13、14、15中，黑白方格花纹的一个正方形的大小设为约50mm，但只要是大概40～80mm左右即可，则在评价工序S50中容易目视确认，该数值可适当变更。此外，对于方格花纹的数量，在上述各实施方式中设为2块×2块的两段，但也可以是2块一段。此外，只要作为黑白花纹而在评价时能够判别黑白的分界即可，花纹的形状、明亮度、其他条件等可适当变更。
(C2)在上述第一实施方式中，在固化工序S40前的膜厚值获取工序S32中，将固化前膜厚值乘以加热残留量而获取固化后膜厚，但是也可以在固化前仅利用湿膜测厚仪测定固化前膜厚值，在评价工序S50中算出固化后膜厚。
(C3)在上述各实施方式的均匀涂装工序S31中，从目标膜厚值小的第一黑白遮盖实验构件11开始涂装，但也可以从目标膜厚值大的构件开始涂装。此外，只要能够将作为涂装对象的黑白遮盖实验构件11、12、13、14、15涂装为均匀厚度即可，涂装路线R1、R2、R3可以适当变更。
(C4)在上述各实施方式的排除工序S33中，将作为排除对象的黑白遮盖实验构件11、12、13、14、15从基板23取下，但只要能够排除在下一次均匀涂装工序S31的涂装对象之外即可，例如可以继续组装于基板23。在该情况下，可以通过在膜厚已成为目标膜厚值的黑白遮盖实验构件(例如第一黑白遮盖实验构件11)与未成为目标膜厚值的黑白遮盖实验构件(例如第二至第五黑白遮盖实验构件12、13、14、15)之间的分界(例如，第一黑白遮盖实验构件11与第二黑白遮盖实验构件12之间)处配置遮蔽板来实施，以使得涂料的尘不附着于膜厚已成为目标膜厚值的黑白遮盖实验构件。
(C5)在上述第二实施方式中，在评价工序S50前利用电磁膜厚计测量所有黑白遮盖实验构件11、12、13、14、15的膜厚，但是也可以仅测量在评价工序S50中提取的对应黑白遮盖实验构件(在上述第二实施方式的例子中为第三黑白遮盖实验构件13)的固化后膜厚。
(C6)在上述各实施方式中，目标膜厚值的值是以固化后膜厚为基础设定的，但也可以以固化前膜厚为基础设定。
(C7)在上述各实施方式的分阶涂装工序中，通过手动的喷枪进行涂装，也可以通过机器人或模压涂装机进行。
本公开不限于上述各实施方式，可以在不脱离其主旨的范围内以各种构成来实现。例如，与发明内容部分记载的各方式中的技术特征相对应的各实施方式中的技术特征可以适当地进行替换、组合，用以解决上述课题的一部分或全部、或者实现上述效果的一部分或全部。此外，如果其技术特征在本说明书中没有被描述为必需的，则可以适当删除。
标号的说明
11…黑白遮盖实验构件，12…第二黑白遮盖实验构件，13…第三黑白遮盖实验构件，14…第四黑白遮盖实验构件，15…第五黑白遮盖实验构件，16…镀锡板，17…黑白遮盖实验纸，18…白色块部，19…黑色块部，21…上空空间，22…下空空间，23…基板，R1、R2、R3…涂装路线，S10…膜厚确定工序，S20…配置工序，S30…分阶涂装工序，S31…均匀涂装工序，S32、S320…膜厚值获取工序，S33…排除工序，S40…固化工序，S50…评价工序。

Claims (5)

1.一种涂料的遮盖性实验方法，其是使用具有黑白花纹的多个黑白遮盖实验构件的涂料的遮盖性实验方法，所述涂料的遮盖性实验方法具备：
分阶涂装工序，在该工序中，针对未涂敷所述涂料的多个所述黑白遮盖实验构件，以成为分阶式的不同目标膜厚值的方式分别改变涂装次数而涂敷所述涂料；
固化工序，在该工序中，使被涂敷于多个所述黑白遮盖实验构件的所述涂料固化；以及
评价工序，在该工序中，通过将经由所述固化工序得到的多个所述黑白遮盖实验构件彼此进行比较，来评价所述涂料的黑白遮盖性。
2.根据权利要求1所述的涂料的遮盖性实验方法，其中，
所述分阶涂装工序包括：
均匀涂装工序，在该工序中，将多个所述黑白遮盖实验构件中的、所述固化工序前的所述黑白遮盖实验构件中的所述涂料的厚度即固化前膜厚值未达到与所述目标膜厚值对应的值的所述黑白遮盖实验构件作为对象，以彼此均匀的厚度涂敷所述涂料；以及
排除工序，在该工序中，将所述固化前膜厚值已达到与所述目标膜厚值对应的值的所述黑白遮盖实验构件排除在下一次所述均匀涂装工序的对象之外，
反复进行所述均匀涂装工序和所述排除工序，直到除了在所述排除工序中被排除在所述对象之外的所述黑白遮盖实验构件以外、其他所有所述黑白遮盖实验构件的所述固化前膜厚值达到与所述目标膜厚值对应的值为止。
3.根据权利要求1或2所述的涂料的遮盖性实验方法，其中，
所述评价工序具有：
将所述固化工序被执行之后的多个所述黑白遮盖实验构件中的、所述目标膜厚值为相邻阶的两个所述黑白遮盖实验构件彼此进行比较，确定无法观察到所述黑白花纹中的白色部与黑色部的分界的临界的所述黑白遮盖实验构件的工序；
获取被确定的所述临界的所述黑白遮盖实验构件中的所述涂料的厚度即固化后膜厚值的膜厚值获取工序；以及
将获取到的所述固化后膜厚值确定为所述黑白遮盖性的评价值即黑白遮盖膜厚值的工序。
4.根据权利要求3所述的涂料的遮盖性实验方法，其中，
所述分阶涂装工序包括：
均匀涂装工序，在该工序中，将多个所述黑白遮盖实验构件中的、所述固化工序前的所述黑白遮盖实验构件中的所述涂料的厚度即固化前膜厚值未达到与所述目标膜厚值对应的值的所述黑白遮盖实验构件作为对象，以彼此均匀的厚度涂敷所述涂料；
膜厚测定工序，在该工序中，测定所述均匀涂装工序被执行后的所述黑白遮盖实验构件中的所述固化前膜厚值；以及
排除工序，在该工序中，将所测定的所述固化前膜厚值和与所述目标膜厚值对应的值进行比较，将所述固化前膜厚值已达到与所述目标膜厚值对应的值的所述黑白遮盖实验构件排除在下一次所述均匀涂装工序的对象之外，
反复进行所述均匀涂装工序、所述膜厚测定工序、以及所述排除工序，直到除了在所述排除工序中被排除在所述对象之外的所述黑白遮盖实验构件以外的、其他所有所述黑白遮盖实验构件的所述固化前膜厚值达到与所述目标膜厚值对应的值为止，
所述膜厚值获取工序包括以下工序：将所述膜厚测定工序中测定出的所述固化前膜厚值、乘以将所述涂料焙烧后作为涂膜残留的固体成分的比例即通过预先实验而预先确定的加热残留量，从而算出所述固化后膜厚值。
5.根据权利要求1至4中任一项所述的涂料的遮盖性实验方法，其中，
所述目标膜厚值在各个所述黑白遮盖实验构件中以等间隔分阶式地不同。
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