CN113450866B - 存储器测试方法 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种存储器测试方法，其包括如下步骤：提供数据库，所述数据库包括数据选通信号与时钟信号之间的偏差值及所述偏差值与存储器参数的对应关系；当在预设存储器参数下对所述存储器施加读命令时，在所述数据库中查找与所述预设存储器参数对应的偏差值；根据所述偏差值获取捕获输出信号的时间值；在所述时间值处捕获输出信号，以实现对存储器的测试。本发明优点在于，将数据选通信号与时钟信号之间的偏差值及所述偏差值与存储器参数的对应关系形成数据库，在进行测试时，可直接依据数据库的记录获取捕获输出信号的时间值；在所述时间值处捕获输出信号，以实现对存储器的测试，从而使得没有自动跟踪功能的测试设备也能够准确地获得测试数据。

Description

存储器测试方法
技术领域
本发明涉及存储器领域，尤其涉及一种存储器测试方法。
背景技术
在进行存储器测试时，存储器可依据外部的时脉信号产生有效的数据窗(DataWindow)，并由存储器测试设备获取数据以进行测试。
一些测试设备可自动跟踪数据选通信号（DQS）来获取数据以进行测试，而有些测试设备没有自动跟踪的功能。随着温度和电压等参数的变化，存储器的数据窗会产生位移，而没有自动跟踪功能的测试设备无法正确地捕获到移动后的数据窗所具有的有效数据，进而无法准确地获取数据，造成存储器测试不准确。
因此，如何提高没有自动跟踪功能的测试设备的准确性，成为目前亟需解决的问题。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是，提供一种存储器测试方法，其能够提高没有自动跟踪功能的测试设备的准确性。
为了解决上述问题，本发明提供了一种存储器测试方法，其包括如下步骤：提供数据库，所述数据库包括数据选通信号与时钟信号之间的偏差值及所述偏差值与存储器参数的对应关系；当在预设存储器参数下对所述存储器施加读命令时，在所述数据库中查找与所述预设存储器参数对应的偏差值；根据所述偏差值获取捕获输出信号的时间值；在所述时间值处捕获输出信号，以实现对存储器的测试。
进一步，所述存储器参数至少包括电压及温度。
进一步，形成所述数据库的方法包括如下步骤：在一个存储器参数下，对存储器施加读命令；以预设时间值为起点，以设定时间步长捕获所述存储器的输出信号；将有效的所述输出信号的捕获时间值与预设时间值的差值作为所述存储器参数对应的数据选通信号与时钟信号之间的偏差值；更改所述存储器参数，重复上述步骤，以形成所述数据库。
进一步，所述预设时间值为读取延迟消逝的时间值。
进一步，在所述预设时间值捕获的所述输出信号为无效信号。
进一步，当所述输出信号由有效信号转换为无效信号时，停止捕获所述输出信号。
进一步，当连续的多个所述输出信号均为有效信号的情况下，当所述输出信号由有效信号转换为无效信号时，停止捕获所述输出信号。
进一步，将首次有效的输出信号的捕获时间值与预设时间值的差值作为初始值，将最后一次有效的输出信号的捕获时间值与预设时间值的差值作为结束值，在所述初始值与所述结束值形成的时间范围内选取一个数值作为所述存储器参数对应的数据选通信号与时钟信号之间的偏差值。
进一步，将捕获的输出信号与测试数据进行比较，以判断所述输出信号是否有效。
进一步，所述输出信号的变化趋势为无效信号、有效信号、无效信号。
进一步，所述根据所述偏差值捕获输出信号的时间值的步骤进一步包括：将所述偏差值与读取延迟消逝的时间值之和作为捕获所述输出信号的时间值。
本发明的优点在于，将数据选通信号与时钟信号之间的偏差值及所述偏差值与存储器参数的对应关系形成数据库，在进行测试时，可直接依据数据库的记录获取捕获输出信号的时间值；在所述时间值处捕获输出信号，以实现对存储器的测试，从而使得没有自动跟踪功能的测试设备也能够准确地获得测试数据。
附图说明
图1是本发明存储器测试方法的一个具体实施方式的步骤示意图；
图2是本发明形成数据库的步骤示意图；
图3是本发明对存储器装置施加读命令后的时序图
图4是在定温度变电压下有效的输出信号区域及无效的输出信号区域随偏差值变化的Shmoo分布图；
图5A是采用现有的没有自动跟踪功能的测试设备获得的在定温度变电压下有效的输出信号区域及无效的输出信号区域随偏差值tDQSCK变化的Shmoo分布图；图5B是采用本发明测试方法获得的在定温度变电压下有效的输出信号区域及无效的输出信号区域随偏差值tDQSCK变化的Shmoo分布图，其中，输出信号的无效区域采用阴影绘示。
具体实施方式
下面结合附图对本发明提供的存储器测试方法的具体实施方式做详细说明。
图1是本发明存储器测试方法的一个具体实施方式的步骤示意图。请参阅图1，所述存储器测试方法包括如下步骤：步骤S10，提供数据库，所述数据库包括数据选通信号与时钟信号之间的偏差值及所述偏差值与存储器参数的对应关系。
所述数据选通信号DQS与时钟信号CK之间的偏差值tDQSCK是读取延迟消逝到实际有效DQS/DQ输出的时序，其为半导体存储器常规的参数。
所述存储器参数是指影响存储器性能的参数，其至少包括电压及温度。
在本具体实施方式中，在所述数据库中，一对电压及温度的组合对应一个数据选通信号与时钟信号之间的偏差值。举例说明，在所述数据库中存储电压V1、V2，温度T1、T2，则电压V1及温度T1对应tDQSCK-1，对应电压V2及温度T1tDQSCK-1，电压V1及温度T2对应tDQSCK-3，电压V2及温度T2对应tDQSCK-3。上述仅是列举两个电压及两种温度的情况，在实际使用中，可根据存储器自身的电压要求及环境来设定数据库中的电压及温度数量。
其中，所述数据库能够以查找表的形式存储在测试设备的固件中。
步骤S11，当在预设存储器参数下对所述存储器施加读命令时，在所述数据库中查找与所述预设存储器参数对应的偏差值。
例如，在电压V1及温度T1的情况下对所述存储器施加读命令，则在所述数据库中查找与电压V1及温度T1的组合对应的偏差值tDQSCK。
步骤S12，根据所述偏差值获取捕获输出信号的时间值。
在该步骤中，将所述偏差值与读取延迟消逝的时间值之和作为捕获所述输出信号的时间值。即确定时间值以确定何时基于数据选通信号捕获数据。
步骤S13，在所述时间值处捕获输出信号，以实现对存储器的测试。
本发明存储器测试方法利用数据库存储数据选通信号与时钟信号之间的偏差值，并根据所述偏差值获取捕获输出信号的时间值，进而能够捕获到移动后的数据窗所具有的有效数据，以实现对存储器的测试，本发明不需要跟踪数据选通信号即可实现对存储器装置的测试，大大提高了没有自动跟踪功能的测试设备的测试准确度。
进一步，本发明还提供一种形成所述数据库的方法。所述形成数据库的方法是基于对存储器施加读命令实现的。
图2是形成数据库的步骤示意图，图3是对存储器装置施加读命令后的时序图。请参阅图2及图3，形成数据库的方法包括如下步骤：
步骤S20，在一个存储器参数下，对存储器施加读命令。
例如，在电压V1及温度T1的情况下，对存储器施加读命令。
步骤S21，以预设时间值为起点，以设定时间步长捕获所述存储器的输出信号。
具体地说，在本具体实施方式中，以读取延迟消逝的时间值RL为起点，以设定时间步长捕获所述存储器的输出信号，捕获所述存储器的输出信号的位置请参阅图3中的箭头所示。即在一次读命令下，多次捕获所述存储器的输出信号。所述设定时间步长可根据实际需求选取，例如几纳秒或十几纳秒等。
步骤S22，将有效的所述输出信号的捕获时间值与预设时间值的差值作为所述存储器参数对应的数据选通信号与时钟信号之间的偏差值。
不同的时间值捕获的输出信号可能为有效信号，也可能为无效信号。其中，可通过将捕获的输出信号与测试信号进行比较来判断所述输出信号是否无效。若所述输出信号与测试信号一致，则说明所述输出信号为有效信号，若所述输出信号与测试信号不一致，则说明所述输出信号为无效信号。
进一步，在某一时间值处可通过向所述存储器提供一组图形作为选通信号（strobe）来捕获对应的输出信号。若该组图形对应的输出信号的有效信号数量在一预设百分比之上，则认为该时间值处的输出信号为有效信号，若该组图形对应的输出信号的有效信号数量在所述预设百分比之下，则认为该时间值处的输出信号为无效信号。
进一步，为了提高数据库数据采集的准确度，所述预设时间值的设置要满足如下要求：在预设时间值后，所述输出信号的变化趋势应该为无效信号、有效信号、无效信号，即在所述预设时间值捕获的所述输出信号为无效信号，在经过若干个预设时间步长后，所述输出信号变为有效信号，再经过若干个预设时间步长后，所述输出信号变为无效信号。
进一步，当所述输出信号由有效信号转换为无效信号时，停止捕获所述输出信号，即将所述输出信号由有效信号转换为无效信号作为停止捕获所述输出信号的标准。为了进一步提高数据采集的准确度，通常需要采集到连续的多个所述输出信号均为有效信号的情况，在该种情况下，当所述输出信号由有效信号转换为无效信号时，停止捕获所述输出信号。
进一步，也可在实际有效DQS/DQ输出的一个时钟周期后停止捕获所述输出信号，例如，如图3，在时钟周期Ta1与时钟周期Tb4之间捕获输出信号，待下一个有效DQS/DQ输出前停止捕获输出信号。
在连续的多个所述输出信号均为有效信号的情况下，确定所述存储器参数对应的数据选通信号与时钟信号之间的偏差值的方法可为：将首次有效的输出信号的捕获时间值与预设时间值的差值作为初始值；将最后一次有效的输出信号的捕获时间值与预设时间值的差值作为结束值；在所述初始值与所述结束值形成的时间范围内选取一个数值作为所述存储器参数对应的数据选通信号与时钟信号之间的偏差值，例如，在所述初始值与所述结束值形成的时间范围内选取中间值作为所述存储器参数对应的数据选通信号与时钟信号之间的偏差值。
步骤S23，更改所述存储器参数，重复上述步骤，以形成所述数据库。
例如，更改所述存储器参数为电压V2与温度T1的组合，充分步骤S20至步骤S22，获取该存储器参数对应的数据选通信号与时钟信号之间的偏差值。以此类推，形成所述数据库。
图4是在定温度变电压下有效的输出信号区域及无效的输出信号区域随偏差值变化的Shmoo分布图，请参阅图4，横坐标为偏差值，纵坐标为电压，区域A1及区域A2为输出信号为无效信号的区域，区域B为输出信号为有效信号的区域。区域B位于区域A1及区域A2之间。其中，可选取一电压，在其对应的B区域选取一个偏差值作为该存储器参数下的偏差值；再选取另一电压，在其对应的B区域选取一个偏差值作为该存储器参数下的优选偏差值，作为另一存储器参数下的优选偏差值。以此类推，选取多个优选的偏差值，并可将多个优选偏差值以曲线的形式存储在数据库中。
图5A是采用现有的没有自动跟踪功能的测试设备获得的在定温度变电压下有效的输出信号区域及无效的输出信号区域随偏差值tDQSCK变化的Shmoo分布图；图5B是采用本发明测试方法获得的在定温度变电压下有效的输出信号区域及无效的输出信号区域随偏差值tDQSCK变化的Shmoo分布图，其中输出信号的无效区域采用阴影绘示。请参阅图5A及图5B，在现有的没有自动跟踪功能的测试设备获得的Shmoo分布图上，在左上角及左下角均有输出信号的无效区域，这是由于现有的没有自动跟踪功能的测试设备无法自动跟踪信号，其无法在准确的时间值处获取输出信号，使得测量误差大，真正发生故障的单元无法被检测出来，测试准确度较低；而采用本发明测试方法获得的Shmoo分布图上，其能够利用数据库获取准确的捕获输出信号的时间，能够检测出真正出现故障的单元。从图5B可以看出，仅在Shmoo分布图左下角区域存在较小无效区域，而并非是如图5A所示的较大范围的区域均为无效区域。
以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。

Claims (11)

1.一种存储器测试方法，其特征在于，包括如下步骤：
提供数据库，所述数据库包括数据选通信号与时钟信号之间的偏差值及所述偏差值与存储器参数的对应关系；
当在预设存储器参数下对所述存储器施加读命令时，在所述数据库中查找与所述预设存储器参数对应的偏差值；
根据所述偏差值捕获输出信号的时间值；
在所述时间值处捕获输出信号，以实现对存储器的测试。
2.根据权利要求1所述的存储器测试方法，其特征在于，所述存储器参数至少包括电压及温度。
3.根据权利要求1所述的存储器测试方法，其特征在于，形成所述数据库的方法包括如下步骤：
在一个存储器参数下，对存储器施加读命令；
以预设时间值为起点，以设定时间步长捕获所述存储器的多个输出信号；
将有效的所述输出信号的捕获时间值与预设时间值的差值作为所述存储器参数对应的数据选通信号与时钟信号之间的偏差值；
更改所述存储器参数，重复上述步骤，以形成所述数据库。
4.根据权利要求3所述的存储器测试方法，其特征在于，所述预设时间值为读取延迟消逝的时间值。
5.根据权利要求4所述的存储器测试方法，其特征在于，在所述预设时间值捕获的所述输出信号为无效信号。
6.根据权利要求5所述的存储器测试方法，其特征在于，当所述输出信号由有效信号转换为无效信号时，停止捕获所述输出信号。
7.根据权利要求5所述的存储器测试方法，其特征在于，当连续的多个所述输出信号均为有效信号的情况下，当所述输出信号由有效信号转换为无效信号时，停止捕获所述输出信号。
8.根据权利要求7所述的存储器测试方法，其特征在于，将首次有效的输出信号的捕获时间值与预设时间值的差值作为初始值，将最后一次有效的输出信号的捕获时间值与预设时间值的差值作为结束值，在所述初始值与所述结束值形成的时间范围内选取一个数值作为所述存储器参数对应的数据选通信号与时钟信号之间的偏差值。
9.根据权利要求3所述的存储器测试方法，其特征在于，将捕获的输出信号与测试信号进行比较，以判断所述输出信号是否有效。
10.根据权利要求3所述的存储器测试方法，其特征在于，所述输出信号的变化趋势为无效信号、有效信号、无效信号。
11.根据权利要求1所述的存储器测试方法，其特征在于，所述根据所述偏差值捕获输出信号的时间值的步骤进一步包括：将所述偏差值与读取延迟消逝的时间值之和作为捕获所述输出信号的时间值。
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