CN112857303B - 一种线排支架检测装置 - Google Patents

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Abstract

本发明公开一种线排支架检测装置,包括压板和承载板,承载板上铺设有与待检测的线排支架的支架主体上下对应设置的印泥层,且支架主体和承载板之间设有能将支架主体定位在承载板上并使支架主体与印泥层之间预留有间隙的定位结构,承载板上还开设有若干个分别与各排下弯部对应设置的让位凹槽,压板底部上形成有若干凸块,且在压板底部上除凸块之外的区域中形成有能让位于支架主体以防下压后的压板将支架主体压坏的让位空间,各凸块上均形成有能分别与各排下弯部上下对应设置的下压作用部。本发明结构简单实用,检测效率高,且能对线排支架的全部下弯部进行检测,没有检测位置的局限性,有利于降低工人劳作强度,提高生产效率,降低生产成本。

Description

一种线排支架检测装置
技术领域
本发明涉及支架检测装置技术领域,具体涉及一种线排支架检测装置。
背景技术
在生产过程中,对于线排支架产品的进料检验通常要求对其下弯部分的折弯角度进行测量,以免因下弯部分的折弯角度过小而导致后续装配过程受到影响;其检验过程一般为:每批线排支架随机抽取几支出来,然后将线排支架侧立定位在测量平台上,然后通过二次元测量仪对其下弯部分进行折弯角度测量,两侧边都测量完毕后将该线排支架取下再换上新的待测线排支架进行测量,但该检测方式只能对线排支架的两侧边上的下弯部分的折弯角度进行测量,无法测量到线排支架中间部分的下弯部分的折弯角度,其检测位置具有局限性,且费工费时、检测效率低下,难以满足大批量生产中对线排支架来料的质量监控。
发明内容
针对现有技术的不足,本发明提供了一种线排支架检测装置,其主要解决的是现有技术中使用二次元测量仪对线排支架中下弯部分的测量位置具有局限性且检测效率低下的技术问题。
为达到上述目的,本发明是通过以下技术方案实现的:
一种线排支架检测装置,包括上下对应设置的压板和承载板,待检测的线排支架包括支架主体和若干排与支架主体一体成型的下弯部,承载板上铺设有与待检测的线排支架的支架主体上下对应设置的、具有可塑性的印泥层,且支架主体和承载板之间设有能将支架主体定位在承载板上并使支架主体与印泥层之间预留有间隙的定位结构,承载板上还开设有若干个分别与各排下弯部对应设置的让位凹槽,压板底部上形成有若干朝承载板方向凸伸的凸块,且在压板底部上除凸块之外的区域中形成有能让位于支架主体以防下压后的压板将支架主体压坏的让位空间,各凸块上均形成有能分别与各排下弯部上下对应设置的下压作用部,且下压作用部的凸伸高度被配置为:在压板与承载板紧合状态下,当线排支架中的一个或多个下弯部的下弯角度低于预设合格范围值时,相对应的凸块的下压作用部将抵压在该下弯部上并对支架主体产生下压作用力,使得支架主体产生弯曲变形进而与印泥层抵触在一起并能在印泥层上产生压痕;而当线排支架中全部的下弯部的下弯角度均处于预设合格范围值内时,各凸块的下压作用部与对应的下弯部均无抵压,进而使得支架主体能与印泥层保持间隔无抵触。
进一步,各凸块上还形成有能抵压在承载板上的抵靠作用部。
进一步,凸块的下压作用部和抵靠作用部的底部齐平。
进一步,凸块的高度略高于支架主体与印泥层的厚度总和。
进一步,支架主体上预留有若干个通孔,承载板上设有若干个分别与各通孔对应设置的台阶定位柱,通孔和台阶定位柱相互配合形成能将支架主体定位在承载板上并使支架主体与印泥层之间预留有间隙的定位结构。
进一步,印泥层由橡皮泥或软陶泥或超轻黏土制成,使当支架主体受到下压作用力而与印泥层抵触过后能在印泥层上留下压痕。
进一步,印泥层中添加有当支架主体与印泥层接触时能对支架主体产生着色的颜料。
进一步,各凸块的下压作用部上均涂覆有在与对应的下弯部抵触在一起时能对下弯部进行着色的颜料。
上述技术方案具有如下优点或有益效果:
本发明所述的线排支架检测装置中,在承载板上开设有若干个能让位于待检测的线排支架下弯部的让位凹槽,且承载板上还铺设有具有可塑性的印泥层,待检测的线排支架通过定位结构能够定位在承载板上并与印泥层之间预留有一定的间隙;同时,在压板底部上形成有若干朝承载板方向凸伸的凸块以及能让位于定位在承载板上的待测线排支架的支架主体的让位空间,让位空间的设置可以很好地避免压板下压后与承载板紧合在一起时将待测的线排支架压坏的问题,且在各凸块上均形成有能分别与各排下弯部上下对应设置的下压作用部,检测时,通过观察印泥层上是否有留下压痕来判断该线排支架的各下弯部的折弯角度是否全部符合要求。其结构简单实用,检测效率高,且能对线排支架的全部下弯部进行检测,没有检测位置的局限性,有利于降低工人劳作强度,提高生产效率,降低生产成本。
附图说明
图1是本发明实施例的立体结构示意图。
图2是本发明实施例的立体结构分解示意图。
图3是本发明实施例的另一角度立体结构示意图。
图4是本发明实施例的线排支架与承载板的装配结构示意图。
图5是本发明实施例的结构剖视图。
图6是图5中的A处局部放大图。
标号说明:
1、压板,2、承载板,3、线排支架,4、印泥层,11、凸块,12、让位空间,21、让
位凹槽,22、台阶定位柱,31、支架主体,32、下弯部,111、下压作用部,112、抵靠作用
部,311、通孔。
具体实施方式
下面结合附图及实施例对本发明作进一步描述。
在本发明的描述中,需要理解的是,术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本发明和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本发明的限制。
请参照附图1至附图6,本发明的一种实施例提供一种线排支架检测装置,包括上下对应设置的压板1和承载板2,待检测的线排支架3包括支架主体31和若干排与支架主体31一体成型的下弯部32,承载板2上铺设有与待检测的线排支架3的支架主体31上下对应设置的、具有可塑性的印泥层4,且支架主体31和承载板2之间设有能将支架主体31定位在承载板2上并使支架主体31与印泥层4之间预留有间隙的定位结构,承载板2上还开设有若干个分别与各排下弯部32对应设置的让位凹槽21,压板1底部上形成有若干朝承载板2方向凸伸的凸块11,且在压板1底部上除凸块11之外的区域中形成有能让位于支架主体31以防下压后的压板1将支架主体31压坏的让位空间12,各凸块11上均形成有能分别与各排下弯部32上下对应设置的下压作用部111,且下压作用部111的凸伸高度被配置为:在压板1与承载板2紧合状态下,当线排支架3中的一个或多个下弯部32的下弯角度低于预设合格范围值时,相对应的凸块11的下压作用部111将抵压在该下弯部32上并对支架主体31产生下压作用力,使得支架主体31产生弯曲变形进而与印泥层4抵触在一起并能在印泥层4上产生压痕;而当线排支架3中全部的下弯部32的下弯角度均处于预设合格范围值内时,各凸块11的下压作用部111与对应的下弯部32均无抵压,进而使得支架主体31能与印泥层4保持间隔无抵触。
可以理解的是,本实施例中,在承载板2上开设有若干个能让位于待检测的线排支架3下弯部32的让位凹槽21,且承载板2上还铺设有具有可塑性的印泥层4,待检测的线排支架3通过定位结构能够定位在承载板2上并与印泥层4之间预留有一定的间隙;同时,在压板1底部上形成有若干朝承载板2方向凸伸的凸块11以及能让位于定位在承载板2上的待测线排支架3的支架主体31的让位空间12,让位空间12的设置可以很好地避免压板1下压后与承载板2紧合在一起时将待测的线排支架3压坏的问题,且在各凸块11上均形成有能分别与各排下弯部32上下对应设置的下压作用部111,检测过程中,若待检测的线排支架3有某处或多处下弯部32的下弯角度过小低于预设合格范围值时,当压板1下压并与承载板2紧合在一起时,则压板1上与折弯角度不合格的下弯部32相对应的凸块的下压作用部111将会抵压该下弯部32上,同时通过下弯部32对支架主体31产生下压作用力,因此,支架主体31在下压作用力的作用下会弯曲变形进而与铺设在承载板2上并与支架主体31对应设置印泥层4抵触在一起并能在印泥层4上产生压痕,当压板1复位并将待检测的线排支架3从承载板2取出时,就可以很直观地观察到印泥层4上留下的压痕,进而判断该线排支架3不合格;若待检测的线排支架3中的各下弯部32的折弯角度均符合要求,则压板1与承载板2紧合后,各凸块11的下压作用部111与对应的下弯部32均无抵压,进而使得支架主体31通过定位结构依旧能与印泥层4保持间隔无抵触,因此,印泥层4上就不会有压痕的出现,那么该线排支架3则可判定为合格品,所以,本发明的线排支架检测装置其结构简单实用,检测效率高,且能对线排支架3的全部下弯部32进行检测,没有检测位置的局限性,有利于降低工人劳作强度,提高生产效率,降低生产成本。
请参照附图2至附图6,其中一种较优实施例中,各凸块11上还形成有能抵压在承载板2上的抵靠作用部112。优选地,凸块11的下压作用部111和抵靠作用部112的底部齐平。可以理解的是,本实施例中,凸块11有部分形成了能用于检测下弯部32折弯角度是否合格的下压作用部111,另一部分形成了在压板1下压与承载板2紧合时能抵靠在承载板2上的抵靠作用部112,通过抵靠作用部112能对压板1的下压程度进行限位,以防压板1带着压块11过度下压而造成后续检测结果有误。然而,本领域技术人员应理解,在其他实施例中,用于限位压板1下压程度的抵靠作用部32也可以是形成在压板1四周位置处并能抵靠在承载板2上的限位凸起结构,或者是设置在承载板2上限位凸起结构,并不局限于本实施例中所公开的具体实施方式。
请参照附图6,其中一种较优实施例中,凸块11的高度略高于支架主体31与印泥层4的厚度总和。
请参照附图2至附图4,其中一种较优实施例中,支架主体31上预留有若干个通孔311,承载板2上设有若干个分别与各通孔311对应设置的台阶定位柱22,通孔311和台阶定位柱22相互配合形成能将支架主体31定位在承载板2上并使支架主体31与印泥层4之间预留有间隙的定位结构。可以理解的是,本实施例中,通过台阶定位柱22与支架主体31上的通孔311的相互配合形成了定位结构,进而使得支架主体31能够平稳地定位在承载板2上而不会左右前后移动,同时,由于台阶定位柱22中的台阶结构使得支架主体31是悬空地定位于承载板2之上的,因此,通过合理设计台阶高度就可以使得支架主体31与铺设于承载板2上的印泥层4之间形成一定的间隔间隙,因此,在线排支架3不受外力作用的情况下,线排支架3与印泥层4之间是不会产生接触的。
请参照附图2至附图6,其中一种较优实施例中,印泥层4由橡皮泥或软陶泥或超轻黏土制成,使当支架主体31受到下压作用力而与印泥层4抵触过后能在印泥层4上留下压痕。优选地,印泥层4中添加有当支架主体31与印泥层4接触时能对支架主体31产生着色的颜料。可以理解的是,当在印泥层4中添加了颜料,那么压板1与承载板2紧合过后,不仅可以通过观察印泥层4中是否有留下压痕来判断该待检测的线排支架3中的各处下弯部32的折弯角度是否合格,同时,也可以通过检测支架主体31上是否有沾染颜料来辅助判断,对于一些压痕较浅无法很清晰地直观判断出支架主体31是否在检测过程中与印泥层4抵触在一起的情况,那么就可以通过观察支架主体31上是否有沾染颜料来判断,若支架主体31上有沾染颜料,则代表了支架主体31在检测过程中有与印泥层4抵触在一起,因此可以判定该线排支架3不合格,支架主体31上无颜料沾染,则可直接判定该线排支架3合格。
请参照附图6,其中一种较优实施例中,各凸块11的下压作用部111上均涂覆有在与对应的下弯部32抵触在一起时能对下弯部32进行着色的颜料。可以理解的是,通过在各下压作用部111上涂覆颜料,那么在检测过程中,若线排支架3的某个下弯部32的折弯角度过底不符合要求,则该处下弯部32就会被沾染上颜料,工作人员可以很直观地发现该不合格位置,以便于后续返工处理,提高返工处理效率。
以上所述,实施例仅用以说明本发明的技术方案,而非对其限制;尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:其依然可以对前述实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中的部分技术特征进行等同替换;而这些修改或替换,并不使相应技术方案脱离本发明实施例技术方案的精神和范围,因此本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明的保护范围。

Claims (8)

1.一种线排支架检测装置,其特征在于:包括上下对应设置的压板(1)和承载板(2),待检测的线排支架(3)包括支架主体(31)和若干排与支架主体(31)一体成型的下弯部(32),承载板(2)上铺设有与待检测的线排支架(3)的支架主体(31)上下对应设置的、具有可塑性的印泥层(4),且支架主体(31)和承载板(2)之间设有能将支架主体(31)定位在承载板(2)上并使支架主体(31)与印泥层(4)之间预留有间隙的定位结构,承载板(2)上还开设有若干个分别与各排下弯部(32)对应设置的让位凹槽(21),压板(1)底部上形成有若干朝承载板(2)方向凸伸的凸块(11),且在压板(1)底部上除凸块(11)之外的区域中形成有能让位于支架主体(31)以防下压后的压板(1)将支架主体(31)压坏的让位空间(12),各凸块(11)上均形成有能分别与各排下弯部(32)上下对应设置的下压作用部(111),且下压作用部(111)的凸伸高度被配置为:在压板(1)与承载板(2)紧合状态下,当线排支架(3)中的一个或多个下弯部(32)的下弯角度低于预设合格范围值时,相对应的凸块(11)的下压作用部(111)将抵压在该下弯部(32)上并对支架主体(31)产生下压作用力,使得支架主体(31)产生弯曲变形进而与印泥层(4)抵触在一起并能在印泥层(4)上产生压痕;而当线排支架(3)中全部的下弯部(32)的下弯角度均处于预设合格范围值内时,各凸块(11)的下压作用部(111)与对应的下弯部(32)均无抵压,进而使得支架主体(31)能与印泥层(4)保持间隔无抵触。
2.根据权利要求1所述的线排支架检测装置,其特征在于:各凸块(11)上还形成有能抵压在承载板(2)上的抵靠作用部(112)。
3.根据权利要求2所述的线排支架检测装置,其特征在于:凸块(11)的下压作用部(111)和抵靠作用部(112)的底部齐平。
4.根据权利要求1所述的线排支架检测装置,其特征在于:凸块(11)的高度略高于支架主体(31)与印泥层(4)的厚度总和。
5.根据权利要求1所述的线排支架检测装置,其特征在于:支架主体(31)上预留有若干个通孔(311),承载板(2)上设有若干个分别与各通孔(311)对应设置的台阶定位柱(22),通孔(311)和台阶定位柱(22)相互配合形成能将支架主体(31)定位在承载板(2)上并使支架主体(31)与印泥层(4)之间预留有间隙的定位结构。
6.根据权利要求1至5任一项所述的线排支架检测装置,其特征在于:印泥层(4)由橡皮泥或软陶泥或超轻黏土制成,使当支架主体(31)受到下压作用力而与印泥层(4)抵触过后能在印泥层(4)上留下压痕。
7.根据权利要求6所述的线排支架检测装置,其特征在于:印泥层(4)中添加有当支架主体(31)与印泥层(4)接触时能对支架主体(31)产生着色的颜料。
8.根据权利要求6所述的线排支架检测装置,其特征在于:各凸块(11)的下压作用部(111)上均涂覆有在与对应的下弯部(32)抵触在一起时能对下弯部(32)进行着色的颜料。
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Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6085353A (ja) * 1983-10-17 1985-05-14 Fuji Photo Film Co Ltd 接触角測定方法
JPH0599603A (ja) * 1991-10-07 1993-04-23 Bridgestone Corp ゴム部材の凹凸量計測センサー及び同センサーを用いた計測装置
JP3590073B2 (ja) * 1996-12-02 2004-11-17 株式会社アマダ電子 折曲げ機用角度検出方法およびその角度検出装置並びに角度センサ
CH693426A5 (de) * 1999-08-04 2003-07-31 Bystronic Laser Ag Branch Haem Verfahren zum Ermitteln des Biegewinkels von Blechen.
CN100554866C (zh) * 2006-12-14 2009-10-28 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 检测仪
CN101476857B (zh) * 2009-01-12 2010-08-11 无锡荣志电子有限公司 基板在线测试治具的验收方法
JP2013103239A (ja) * 2011-11-11 2013-05-30 Miraikikai Inc 曲げ加工装置及び曲げ加工方法
CN203621169U (zh) * 2013-12-27 2014-06-04 四川长虹技佳精工有限公司 折弯角度校验工装
CN108235690B (zh) * 2015-05-28 2019-09-10 柯巴股份公司 用于弯曲机的、测量板材的臂之间弯曲角度的电子角度测量装置
CZ306556B6 (cs) * 2015-06-23 2017-03-08 České Vysoké Učení Technické V Praze, Fakulta Strojní, Ústav Materiálového Inženýrství Indentační hlavice, instrumentovaný měřící systém a způsob stanovení mechanických vlastností materiálů indentační metodou
US9593992B2 (en) * 2015-06-29 2017-03-14 Mu-Chuan Wu Torque detecting system
CN110686590A (zh) * 2018-07-05 2020-01-14 泰科电子(上海)有限公司 检测系统
CN209727080U (zh) * 2019-04-25 2019-12-03 惠州新联兴实业有限公司 一种pcb板翘曲度测试治具
CN110379309B (zh) * 2019-07-12 2021-11-23 京东方科技集团股份有限公司 一种显示面板及其检测方法
CN210773854U (zh) * 2019-12-20 2020-06-16 湖北腾威电子科技有限公司 一种电极片垂直度检测装置
CN214537735U (zh) * 2021-03-01 2021-10-29 厦门华联电子股份有限公司 一种支架的检验治具

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