CN112607355A - 一种瓷盘外观检测线 - Google Patents

Abstract

本发明涉及了一种瓷盘外观检测线，包括机台、第一瓷盘放置工装、第一瓷盘移载机构、第一视觉检测系统、皮带输送机、第二视觉检测系统、盘缘轮廓测量系统、第二瓷盘移载机构以及第二瓷盘放置工装。第一瓷盘放置工装、第一瓷盘移载机构、皮带输送机、第二瓷盘移载机构、第二瓷盘放置工装均由机台进行支撑。第一视觉检测系统内置于机台的内腔中，其布置于第一瓷盘移载机构的正下方。第二视觉检测系统布置于皮带输送机的后侧。盘缘轮廓测量系统横跨皮带输送机，且布置于第二视觉检测系统的右侧。如此一来，瓷盘的检测过程流畅度极高，单件瓷盘检测所需用时较短，且整个过程无需人工干预，从根源上杜绝了“漏检”、“误检”现象的发生。

Description

一种瓷盘外观检测线

技术领域

本发明涉及陶瓷品外观检测技术领域，尤其是一种瓷盘外观检测线。

背景技术

瓷盘是由瓷石、高岭土、石英石、莫来石等烧制而成，外表施有玻璃质釉或彩绘的物器，瓷器的成形要通过在窑内经过高温(约1280℃-1400℃)烧制，瓷器表面的釉色会因为温度的不同从而发生各种化学变化。瓷器分为多种，一般都是利用手工或者模具使得其形成一定的形状，使得其稍微变干之后，对其测沿和侧面进行一次检测，然后在进行烧制，烧制到一定程度时，在对其表面进行二次检测，防止在高温的作用下发生应力性的形变，检测之后添补、刻画或者上釉，最后进行定型烧制。

以前，通常采用人眼视力以检测瓷盘的测沿以及侧面上是否存在有裂纹，辅助靠尺等工具以检测侧沿的整体水平度，整个检测过程费时费力，大大增加了用工成本，且受到检测工人操作经验以及工作状态的影响极易发生“漏检”、“误检”现象。因而，亟待技术人员解决上述问题。

发明内容

故，本发明设计人员鉴于上述现有的问题以及缺陷，乃搜集相关资料，经由多方的评估及考量，并经过从事于此行业的多年研发经验技术人员的不断实验以及修改，最终导致该瓷盘外观检测线的出现。

为了解决上述技术问题，本发明涉及了一种瓷盘外观检测线，其包括机台、第一瓷盘放置工装、第一瓷盘移载机构、第一视觉检测系统、皮带输送机、第二视觉检测系统、盘缘轮廓测量系统、第二瓷盘移载机构以及第二瓷盘放置工装。第一瓷盘放置工装、第一瓷盘移载机构、皮带输送机、第二瓷盘移载机构、第二瓷盘放置工装均由机台进行支撑，且沿着由左至右方向依序布置。第一视觉检测系统内置于机台的内腔中，其布置于第一瓷盘移载机构的正下方。第二视觉检测系统布置于皮带输送机的后侧。盘缘轮廓测量系统横跨皮带输送机，且布置于第二视觉检测系统的右侧。

作为本发明技术方案的进一步改进，第一瓷盘放置工装包括底座、旋转驱动元件、旋转板以及瓷盘载具。旋转板平行地布置于底座的正上方，且在旋转驱动元件的驱动力作用下进行周向旋转运动。旋转驱动元件连接于底座和旋转板之间。瓷盘载具用来容置待检测的瓷盘，其可拆卸地固定于旋转板的上平面上。瓷盘载具的数量设置为多个，且围绕旋转板的中心轴线进行周向均布。

作为本发明技术方案的进一步改进，第一瓷盘移载机构用来将待检测瓷盘由第一瓷盘放置工装转移至皮带输送机。第一瓷盘移载机构包括搬运机器人以及真空吸附单元。搬运机器人包括有机器人本体和机械手臂。真空吸附单元用来吸附瓷盘，且与机械手臂可拆卸地进行固定。真空吸附单元包括有连接套筒、安装基板以及真空吸嘴组件。在机械手臂的自由端设置有安装轴。连接套筒套设、固定于安装轴上。安装基板贴靠于连接套筒的底端面上，且与连接套筒相固定。真空吸嘴组件的数量至少为3个，均穿插于安装基板上，且围绕连接套筒的中心轴线进行周向均布。

作为本发明技术方案的进一步改进，皮带输送机包括第一支撑架、皮带输送单元、驱动单元以及随行治具。随行治具用来承载预运载的瓷盘，其数量设置为多个，且沿着皮带输送单元进行环形均布。皮带输送单元由第一支撑架进行支撑，且在驱动单元的驱动力作用下拖动随行治具进行环形运转。随行治具包括有随行基板、承料板。随行基板直接由皮带输送单元进行驱动。承料板借助于第一联接螺钉可拆卸地固定于随行基板的上平面上，且由其顶壁向下延伸出有与预运载瓷盘外形相适配的限位缺口。

作为本发明技术方案的进一步改进，第二视觉检测系统对由皮带输送机沿着左右方向进行持续输送的瓷盘进行外观图像抓取。第二视觉检测系统包括有支撑架组件以及图像抓取模组。图像抓取模组布置于皮带输送机的正上方，且其包括有固定座、第二联接螺钉、摄像组件以及同轴光源。固定座和摄像组件固定为一体，且借由第二联接螺钉实现与支撑架组件的可拆卸固定。摄像组件包括有高速CCD相机以及镜头。同轴光源亦由支撑架组件进行支撑，其布置镜头的正下方。

作为本发明技术方案的进一步改进，盘缘轮廓测量系统包括轮第二支撑架、激光镭射测距仪以及旋转驱动单元。第二支撑架横跨皮带输送机，且其包括有前置支撑板、后置支撑板以及横置承力板。前置支撑板、后置支撑板对称地布置于皮带输送机的前、后侧，以共同用来托顶横置承力板。旋转驱动单元由横置承力板进行支撑。激光镭射测距仪布置于横置承力板的正下方，且在旋转驱动单元的驱动力作用下进行圆形旋转运动。

作为本发明技术方案的更进一步改进，盘缘轮廓测量系统还包括有托顶单元。托顶单元布置于皮带输送线的正下方，且与激光镭射测距仪相对位而置。当待检测的瓷盘停靠于激光镭射测距仪的正下方时，托顶单元发生动作，以托顶瓷盘相向于激光镭射测距仪进行位移运动。

作为本发明技术方案的更进一步改进，托顶单元包括有固定板、前置承力板、后置承力板、滑移架、前置滑轨滑块组件、后置滑轨滑块组件、支撑柱、托顶板以及直线驱动部。滑移架布置于固定板的正上方，而其前、后侧对称地布置有前置承力板、后侧承力板。滑移架由前置滑移板、平置基板、后置滑移板依序连接而成。前置滑轨滑块组件连接于前置滑移板和前置承力板之间。后置滑轨滑块组件连接于后置滑移板和后置承力板之间。直线驱动部布置于平置基板的正下方，以驱动滑移架沿着上下方向进行滑移运动。托顶板平行地布置于平置基板的正上方。支撑柱呈竖放状，同时连接于平置基板和托顶板之间。

作为本发明技术方案的进一步改进，瓷盘外观检测线还包括有不良品放置工装。不良品放置工装亦由机台进行支撑，且布置于皮带输送机和第二瓷盘放置工装之间。

作为本发明技术方案的更进一步改进，不良品放置工装由设计结构相同，且相并排而置的左置不良品放置单元和右置不良品放置单元构成。单独针对于左置不良品放置单元来说，其包括有限位座、托料盘、固定式挡料板、位移式挡料板以及位移驱动部。由限位座的顶壁向下延伸出与托料盘外形相适配的圆形限位腔。托料盘放置于圆形限位腔内，且由其顶壁向下延伸出有与瓷盘外形相适配的放置凹槽。固定式挡料板呈竖置状，且可拆卸地固定于限位座上。固定式挡料板的数量设置为多个，且围绕圆形限位腔的外围进行周向布置。位移式挡料板呈竖置状，且布置于限位座的外围。位移驱动部布置于位移式挡料板的一侧，其用来驱动位移式挡料板相向/相背于托料盘进行位移运动，以用来适配不同规格的瓷盘。

在本发明所公开的技术中，借助于第一瓷盘放置工装、第一瓷盘移载机构、皮带输送机、第二瓷盘移载机构、第二瓷盘放置工装协同配合以实现瓷盘的自动流转，且在流转的进程中借助于第一视觉检测系统实现对瓷盘底平面的检测、借助于第二视觉检测系统实现对瓷盘正面的检测、借助于盘缘轮廓测量系统来对瓷盘的盘缘进行检测，最终以判定瓷盘上是否存在有裂纹，超尺寸颗粒物以及盘缘规整度是否符合检测标准，整个检测过程流畅度极高，单件瓷盘检测所需用时较短，且整个过程无需人工干预，从根源上杜绝了“漏检”、“误检”现象的发生。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本发明中瓷盘外观检测线的立体示意图。

图2是图1的正视图。

图3亦是图1的正视图(隐去机台部分前置门后)。

图4是本发明瓷盘外观检测线中第一瓷盘放置工装的立体示意图。

图5是图4的正视图。

图6是本发明瓷盘外观检测线中第一瓷盘移载机构的立体示意图。

图7是本发明瓷盘外观检测线中搬运机器人的立体示意图。

图8是本发明瓷盘外观检测线中真空吸附单元的立体示意图。

图9是本发明瓷盘外观检测线中第一视觉检测系统的立体示意图。

图10是本发明瓷盘外观检测线中皮带输送机的立体示意图。

图11是本发明瓷盘外观检测线中随行治具的立体示意图。

图12是本发明瓷盘外观检测线中第二视觉检测系统的立体示意图。

图13是图12的I局部放大图。

图14是本发明瓷盘外观检测线中盘缘轮廓测量系统的立体示意图。

图15是图14的正视图。

图16是本发明瓷盘外观检测线中第二瓷盘移载机构的立体示意图。

图17是本发明瓷盘外观检测线中第二瓷盘放置工装的立体示意图。

图18是本发明瓷盘外观检测线中不良品放置工装的立体示意图。

图19是本发明瓷盘外观检测线中左置不良品放置单元的立体示意图。

1-机台；2-第一瓷盘放置工装；21-底座；22-旋转驱动元件；23-旋转板；24-瓷盘载具；25-顶料单元；3-第一瓷盘移载机构；31-搬运机器人；311-机器人本体；312-机械手臂；3121-安装轴；32-真空吸附单元；321-连接套筒；322-安装基板；323-真空吸嘴组件；4-第一视觉检测系统；5-皮带输送机；51-第一支撑架；52-皮带输送单元；53-驱动单元；54-随行治具；541-随行基板；542-承料板；543-第一联接螺钉；6-第二视觉检测系统；61-支撑架组件；62-图像抓取模组；621-固定座；622-摄像组件；623-同轴光源；7-盘缘轮廓测量系统；71-第二支撑架；711-前置支撑板；712-后置支撑板；713-横置承力板；72-激光镭射测距仪；73-旋转驱动单元；74-托顶单元；741-固定板；742-前置承力板；743-后置承力板；744-滑移架；7441-前置滑移板；7442-平置基板；7443-后置滑移板；745-前置滑轨滑块组件；746-后置滑轨滑块组件；747-支撑柱；748-托顶板；749-直线驱动部；8-第二瓷盘移载机构；9-第二瓷盘放置工装；10-不良品放置工装；101-左置不良品放置单元；1011-限位座；1012-托料盘；1013-固定式挡料板；1014-位移式挡料板；1015-位移驱动部；102-右置不良品放置单元。

具体实施方式

在本发明的描述中，需要理解的是，术语“左”、“右”、“上”、“下”、“前”、“后”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。

为了便于本领域技术人员充分理解本发明所公开的技术方案，下面结合具体实施例，对本发明的内容做进一步的详细说明，如图1、2、3中所示，可知，其主要由机台1、第一瓷盘放置工装2、第一瓷盘移载机构3、第一视觉检测系统4、皮带输送机5、第二视觉检测系统6、盘缘轮廓测量系统7、第二瓷盘移载机构8以及第二瓷盘放置工装9等几部分构成。其中，第一瓷盘放置工装2、第一瓷盘移载机构3、皮带输送机5、第二瓷盘移载机构8、第二瓷盘放置工装9均由机台1进行支撑，且沿着由左至右方向依序布置。第一视觉检测系统4内置于机台1的内腔中，其布置于第一瓷盘移载机构3的正下方。第二视觉检测系统6布置于皮带输送机5的后侧。盘缘轮廓测量系统7横跨皮带输送机5，且布置于第二视觉检测系统6的右侧。如此一来，瓷盘的整个检测过程具有极高的流畅度以及高效性，使得单件瓷盘检测所需用时较短，且整个过程无需人工干预，从根源上杜绝了“漏检”、“误检”现象的发生。

在对瓷盘件外观检测操作时，借助于第一瓷盘放置工装2、第一瓷盘移载机构3、皮带输送机5、第二瓷盘移载机构8、第二瓷盘放置工装9协同配合以实现瓷盘的自动流转，且在流转的进程中借助于第一视觉检测系统4实现对瓷盘底平面的检测、借助于第二视觉检测系统6实现对瓷盘正面的检测、借助于盘缘轮廓测量系统7来对瓷盘的盘缘进行检测，最终以判定瓷盘上是否存在有裂纹，超尺寸颗粒物以及盘缘规整度是否符合检测标准。

如图4、5中所示，作为第一瓷盘放置工装2结构的进一步优化，其优选包括有底座21、旋转驱动元件22、旋转板23以及瓷盘载具24。旋转板23平行地布置于底座21的正上方，且在旋转驱动元件22的驱动力作用下进行周向旋转运动。旋转驱动元件22连接于底座21和旋转板23之间。瓷盘载具24用来容置待检测的瓷盘，其可拆卸地固定于旋转板23的上平面上。瓷盘载具24的数量设置为多个，且围绕旋转板23的中心轴线进行周向均布。当第一瓷盘移载机构3对其中一瓷盘载具24进行取料操作时，上料机械手臂或人工向着余下的瓷盘载具24进行瓷盘上料操作；当完成对其中一瓷盘载具24的取料操作后，各瓷盘载具24同步进行周向旋动运动以进行相对位置替换，意味着瓷盘上料操作和瓷盘下料操作之间相互独立、互不干涉，从而消除了进行上料操作期间第一瓷盘移载机构3的长时间待机情况的发生，有利于确保瓷盘的上料节拍与瓷盘外观检测线的检测节拍相一致。

另外，作为上述技术方案更进一步的优化，由图5中还可以看出，在旋转板23的正下方还布置有顶料单元25。在旋转板23上开设有与瓷盘载具24相正对位、且供顶料单元25自由穿越的避让孔。旋转板23进行周向旋动时，直至顶料单元25可与其中一瓷盘载具24相正对位，此时，顶料单元25发生动作时，以托顶累放的瓷盘整体向上进行位移运动。假定单个瓷盘的总高度为h。顶料单元25发生单次动作，均顶升瓷盘向上进行位移距离为h。在第一瓷盘移载机构3进行取料的进程中，顶料单元25推顶累放的瓷盘向上进行间歇性运动，确保最上层瓷盘始终保持于同一相对位移高度，不但利于第一瓷盘移载机构3执行后续的取料操作，而且还有效地杜绝了第一瓷盘移载机构3与瓷盘载具24相干涉现象的发生。

图17示出了本发明瓷盘外观检测线中第二瓷盘放置工装的立体示意图，可知，其与上述第一瓷盘放置工装2的设计结构以及运行原理完全相同，唯一的区别在于布置位置的不同。

第一瓷盘移载机构3用来将待检测瓷盘由第一瓷盘放置工装2转移至皮带输送机5。如图6、7、8中所示，作为第一瓷盘移载机构3结构的进一步细化，其优选包括搬运机器人31以及真空吸附单元32。搬运机器人31包括有机器人本体311和机械手臂312。真空吸附单元32用来吸附瓷盘，且与机械手臂312可拆卸地进行固定。真空吸附单元32包括有连接套筒321、安装基板322以及真空吸嘴组件323。在机械手臂312的自由端设置有安装轴3121。连接套筒321套设、固定于安装轴3121上。安装基板322贴靠于连接套筒321的底端面上，且与连接套筒321相固定。真空吸嘴组件323的数量至少为3个，均穿插于安装基板322上，且围绕连接套筒321的中心轴线进行周向均布。在本发明所公开的技术方案中，其采取三组的真空吸嘴组件323相互配合应用以实现对瓷盘的吸附，如此一来，即使机械手臂312动作过程中存在少许位移误差，由于各个真空吸嘴组件323的体积相对较小，且进行周向均布，因此，有效地减小了真空吸嘴组件323因吸附位置不准确而导致的“偏吸”现象发生的几率，确保了各真空吸嘴组件323对瓷盘底壁进行可靠、稳定的吸附，杜绝了瓷盘在后续移载进程中因坠落而受损现象的发生。

图16示出了本发明瓷盘外观检测线中第二瓷盘移载机构的立体示意图，可知，其与上述第一瓷盘移载机构3的设计结构以及运行原理完全相同，唯一的区别在于布置位置的不同，第一瓷盘移载机构3用来将待检测的瓷盘由第一瓷盘放置工装2转移至皮带输送机5，而第二瓷盘移载机构8用来将已检测完成的瓷盘由皮带输送机5转移至第二瓷盘放置工装9。

如图10、11中所示，作为皮带输送机结构的进一步优化，其优选包括有第一支撑架51、皮带输送单元52、驱动单元53以及随行治具54。随行治具54用来承载预运载的瓷盘，其数量设置为多个，且沿着皮带输送单元52进行环形均布。皮带输送单元52由第一支撑架51进行支撑，且在驱动单元53的驱动力作用下拖动随行治具54进行环形运转。随行治具54包括有随行基板541、承料板542以及第一联接螺钉543。随行基板541直接由皮带输送单元52进行驱动。承料板542借助于第一联接螺钉543可拆卸地固定于随行基板541的上平面上，且由其顶壁向下延伸出有与预运载瓷盘外形相适配的限位缺口。在正式运载前，首先将瓷盘放置于随行治具54上，且借由限位缺口进行限定，从而有效地杜绝了瓷盘在运载进程中因皮带输送单元52抖动而引发的滑落现象的发生，进而确保了整个运载进程的安全性。

第二视觉检测系统6对由皮带输送机5沿着左右方向进行持续输送的瓷盘进行外观图像抓取。作为第二视觉检测系统6结构的进一步优化，如图12、13中所示，其优选包括有支撑架组件61以及图像抓取模组62。图像抓取模组62布置于皮带输送机5的正上方，且其包括有固定座621、第二联接螺钉、摄像组件622以及同轴光源623。固定座621和摄像组件621固定为一体，且借由第二联接螺钉实现与支撑架组件61的可拆卸固定。摄像组件622包括沿着由上至下方向依序布置的高速CCD相机和镜头。同轴光源623亦由支撑架组件61进行支撑，其布置镜头的正下方。同一批次瓷盘在皮带输送机5的作用下持续地进行平移运动，且在平移的进程中借助于图像抓取模组62实时地对瓷盘表面图像进行抓取，而无须暂停皮带输送机5，从而有效地提升了瓷盘检测效率。另外，图像抓取模组62还增设有同轴光源623。如此一来，在执行图像抓取的进程中，一方面，同轴光源623消除了反光现象，从而防止了所采集图像中产生镜头的倒影；另一方面，瓷盘所呈现出明晰的图像，并被高速CCD相机所捕获，为进一步图像处理、分析作良好的铺垫。

图9示出了本发明瓷盘外观检测线中第一视觉检测系统的立体示意图，可知，其与上述的第二视觉检测系统6的设计结构相类似，区别仅在于布置姿态的差异。

如图14、15中所示，作为盘缘轮廓测量系统7结构的进一步细化，其优选包括有第二支撑架71、激光镭射测距仪72以及旋转驱动单元73。第二支撑架71横跨皮带输送机5，且其包括有前置支撑板711、后置支撑板712以及横置承力板713。前置支撑板711、后置支撑板712对称地布置于皮带输送机5的前、后侧，以共同用来托顶横置承力板713。旋转驱动单元73由横置承力板713进行支撑。激光镭射测距仪72布置于横置承力板713的正下方，且在旋转驱动单元73的驱动力作用下进行圆形旋转运动。借由激光镭射测距仪72在圆形旋转的过程中依序测量出瓷盘盘缘各区域的形状公差以及尺寸公差是否满足要求，进而判定瓷盘的轮廓度是否符合标准。整个检测过程省时省力，且不受检测工人操作经验以及工作状态的影响，进而杜绝了“漏检”、“误检”现象的发生。另外，在测量进程中，激光镭射测距仪72始终围绕一基准轴进行旋转运动，且保持于同一位置高度，从而确保了瓷盘盘缘轮廓度测量的精准性。

作为上述盘缘轮廓测量系统7结构的进一步优化，其还增设有有托顶单元74。托顶单元74布置于皮带输送线5的正下方，且与激光镭射测距仪72相对位而置。当待检测的瓷盘停靠于激光镭射测距仪72的正下方时，托顶单元74发生动作，以托顶瓷盘相向于激光镭射测距仪72进行位移运动。当待检测的瓷盘停靠于激光镭射测距仪72的正下方时，托顶单元74发生动作，以托顶瓷盘相向于激光镭射测距仪72进行位移运动，直至其相对于激光镭射测距仪72保持合适距离。

如图15中所示，托顶单元74优选包括有固定板741、前置承力板742、后置承力板743、滑移架744、前置滑轨滑块组件745、后置滑轨滑块组件746、支撑柱747、托顶板748以及直线驱动部749。滑移架744布置于固定板741的正上方，而其前、后侧对称地布置有前置承力板742、后侧承力板743。滑移架744由前置滑移板7441、平置基板7442、后置滑移板7443依序连接而成。前置滑轨滑块组件745连接于前置滑移板7441和前置承力板742之间。后置滑轨滑块组件746连接于后置滑移板7443和后置承力板743之间。直线驱动部749布置于平置基板7442的正下方，以驱动滑移架744整体沿着上下方向进行滑移运动。托顶板748平行地布置于平置基板7442的正上方。支撑柱747呈竖放状，同时连接于平置基板7442和托顶板748之间。

另外，由图1、图2中还可以看出，根据客户的实际需求，瓷盘外观检测线还可增设有不良品放置工装10。不良品放置工装10亦由机台1进行支撑，且布置于皮带输送机5和第二瓷盘放置工装9之间。

如图18、19中所示，不良品放置工装10由设计结构相同，且相并排而置的左置不良品放置单元101和右置不良品放置单元102构成。单独针对于左置不良品放置单元101来说，其包括有限位座1011、托料盘1012、固定式挡料板1013、位移式挡料板1014以及位移驱动部1015。限位座1011直接固定于机台的上平面上，且由其顶壁向下延伸出与托料盘1012外形相适配的圆形限位腔。托料盘1012放置于该圆形限位腔内，且由其顶壁向下延伸出有与瓷盘外形相适配的放置凹槽。固定式挡料板1013呈竖置状，且可拆卸地固定于限位座1011上。固定式挡料板1013的数量设置为多个，且围绕圆形限位腔的外围进行周向布置。位移式挡料板1014呈竖置状，且布置于限位座1011的外围。位移驱动部1015布置于位移式挡料板1014的一侧，其用来驱动位移式挡料板1014相向/相背于托料盘1012进行位移运动，以用来适配不同规格的瓷盘。在实际检测进程中，左置不良品单元101、右置不良品单元102相互交替应用以适配第二瓷盘移载机构8。举例说明，首先第二瓷盘移载机构8向着左置不良品放置单元101置入瓷盘不良品，直至左置不良品放置单元101被完全填充，随后，第二瓷盘移载机构8随即向着右置不良品放置单元102置入瓷盘不良品，与此同时，操作工人对置入于左置不良品放置单元101内的瓷盘不良品进行转移，以备后用。如此一来，有效了确保了第二瓷盘移载机构8动作的连续性，无需为瓷盘不良品转移预留操作空档期，从而有效地提升了瓷盘外观自动检测线的总体检测效率。另外，左置不良品放置单元101、右置不良品放置单元102中用来容纳瓷盘的空腔大小可调，不但有效地防止了瓷盘因累放高度过大而引起的倾倒现象，而且还扩大了适用范围，以使得左置不良品放置单元101、右置不良品放置单元102可容纳几种不同规格的瓷盘。

对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。

Claims (10)

1.一种瓷盘外观检测线，其特征在于，包括机台、第一瓷盘放置工装、第一瓷盘移载机构、第一视觉检测系统、皮带输送机、第二视觉检测系统、盘缘轮廓测量系统、第二瓷盘移载机构以及第二瓷盘放置工装；所述第一瓷盘放置工装、所述第一瓷盘移载机构、所述皮带输送机、所述第二瓷盘移载机构、所述第二瓷盘放置工装均由所述机台进行支撑，且沿着由左至右方向依序布置；所述第一视觉检测系统内置于所述机台的内腔中，其布置于所述第一瓷盘移载机构的正下方；所述第二视觉检测系统布置于所述皮带输送机的后侧；所述盘缘轮廓测量系统横跨所述皮带输送机，且布置于所述第二视觉检测系统的右侧。

2.根据权利要求1所述的瓷盘外观检测线，其特征在于，所述第一瓷盘放置工装包括底座、旋转驱动元件、旋转板以及瓷盘载具；所述旋转板平行地布置于所述底座的正上方，且在所述旋转驱动元件的驱动力作用下进行周向旋转运动；所述旋转驱动元件连接于所述底座和所述旋转板之间；所述瓷盘载具用来容置待检测的瓷盘，其可拆卸地固定于所述旋转板的上平面上；所述瓷盘载具的数量设置为多个，且围绕所述旋转板的中心轴线进行周向均布。

3.根据权利要求1所述的瓷盘外观检测线，其特征在于，所述第一瓷盘移载机构用来将待检测瓷盘由所述第一瓷盘放置工装转移至所述皮带输送机；所述第一瓷盘移载机构包括搬运机器人以及真空吸附单元；所述搬运机器人包括有机器人本体和机械手臂；所述真空吸附单元用来吸附瓷盘，且与所述机械手臂可拆卸地进行固定；所述真空吸附单元包括有连接套筒、安装基板以及真空吸嘴组件；在所述机械手臂的自由端设置有安装轴；所述连接套筒套设、固定于所述安装轴上；所述安装基板贴靠于所述连接套筒的底端面上，且与所述连接套筒相固定；所述真空吸嘴组件的数量至少为3个，均穿插于所述安装基板上，且围绕所述连接套筒的中心轴线进行周向均布。

4.根据权利要求1所述的瓷盘外观检测线，其特征在于，所述皮带输送机包括第一支撑架、皮带输送单元、驱动单元以及随行治具；所述随行治具用来承载预运载的瓷盘，其数量设置为多个，且沿着所述皮带输送单元进行环形均布；所述皮带输送单元由所述第一支撑架进行支撑，且在所述驱动单元的驱动力作用下拖动所述随行治具进行环形运转；所述随行治具包括有随行基板、承料板；所述随行基板直接由所述皮带输送单元进行驱动；所述承料板借助于第一联接螺钉可拆卸地固定于所述随行基板的上平面上，且由其顶壁向下延伸出有与预运载瓷盘外形相适配的限位缺口。

5.根据权利要求1所述的瓷盘外观检测线，其特征在于，所述第二视觉检测系统对由皮带输送机沿着左右方向进行持续输送的瓷盘进行外观图像抓取；所述第二视觉检测系统包括有支撑架组件以及图像抓取模组；所述图像抓取模组布置于所述皮带输送机的正上方，且其包括有固定座、第二联接螺钉、摄像组件以及同轴光源；所述固定座和所述摄像组件固定为一体，且借由所述第二联接螺钉实现与所述支撑架组件的可拆卸固定；所述摄像组件包括有高速CCD相机以及镜头；所述同轴光源亦由所述支撑架组件进行支撑，其布置所述镜头的正下方。

6.根据权利要求1所述的瓷盘外观检测线，其特征在于，所述盘缘轮廓测量系统包括轮第二支撑架、激光镭射测距仪以及旋转驱动单元；所述第二支撑架横跨所述皮带输送机，且其包括有前置支撑板、后置支撑板以及横置承力板；所述前置支撑板、所述后置支撑板对称地布置于所述皮带输送机的前、后侧，以共同用来托顶所述横置承力板；所述旋转驱动单元由所述横置承力板进行支撑；所述激光镭射测距仪布置于所述横置承力板的正下方，且在所述旋转驱动单元的驱动力作用下进行圆形旋转运动。

7.根据权利要求6所述的瓷盘外观检测线，其特征在于，所述盘缘轮廓测量系统还包括有托顶单元；所述托顶单元布置于所述皮带输送线的正下方，且与所述激光镭射测距仪相对位而置；当待检测的瓷盘停靠于所述激光镭射测距仪的正下方时，所述托顶单元发生动作，以托顶瓷盘相向于所述激光镭射测距仪进行位移运动。

8.根据权利要求7所述的瓷盘外观检测线，其特征在于，所述托顶单元包括有固定板、前置承力板、后置承力板、滑移架、前置滑轨滑块组件、后置滑轨滑块组件、支撑柱、托顶板以及直线驱动部；所述滑移架布置于所述固定板的正上方，而其前、后侧对称地布置有所述前置承力板、所述后侧承力板；所述滑移架由前置滑移板、平置基板、后置滑移板依序连接而成；所述前置滑轨滑块组件连接于所述前置滑移板和所述前置承力板之间；所述后置滑轨滑块组件连接于所述后置滑移板和所述后置承力板之间；所述直线驱动部布置于所述平置基板的正下方，以驱动所述滑移架沿着上下方向进行滑移运动；所述托顶板平行地布置于所述平置基板的正上方；所述支撑柱呈竖放状，同时连接于所述平置基板和所述托顶板之间。

9.根据权利要求1-6中任一项所述的瓷盘外观检测线，其特征在于，还包括有不良品放置工装；所述不良品放置工装亦由所述机台进行支撑，且布置于所述皮带输送机和所述第二瓷盘放置工装之间。

10.根据权利要求9所述的瓷盘外观检测线，其特征在于，所述不良品放置工装由设计结构相同，且相并排而置的左置不良品放置单元和右置不良品放置单元构成；单独针对于所述左置不良品放置单元来说，其包括有限位座、托料盘、固定式挡料板、位移式挡料板以及位移驱动部；由所述限位座的顶壁向下延伸出与所述托料盘外形相适配的圆形限位腔；所述托料盘放置于所述圆形限位腔内，且由其顶壁向下延伸出有与瓷盘外形相适配的放置凹槽；所述固定式挡料板呈竖置状，且可拆卸地固定于所述限位座上；所述固定式挡料板的数量设置为多个，且围绕所述圆形限位腔的外围进行周向布置；所述位移式挡料板呈竖置状，且布置于所述限位座的外围；所述位移驱动部布置于所述位移式挡料板的一侧，其用来驱动所述位移式挡料板相向/相背于所述托料盘进行位移运动，以用来适配不同规格的瓷盘。

Images