CN112394275A - 判断电子元件在静电放电后的电流-电压测试结果的方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供的判断电子元件在静电放电后的电流‑电压测试结果的方法，主要是在该电子元件完成静电放电之前，针对该电子元件的引脚测量出多个电流‑电压的数据，并将该多个数据标记于以电流值为横坐标、电压值为纵坐标的二维图表中形成电流‑电压标准曲线；接着再定义合格区间，该合格区间是以各个标记点为中心画出矩形框或圆形框，并将该矩形框或圆形框的外缘进行连线而形成合格区间；在该电子元件完成静电放电之后，取得该电子元件的引脚的电流‑电压测量曲线；最后再以目视的方式判断该电流‑电压测量曲线是否超出合格区间。
Description
技术领域
本发明涉及电子元件的引脚的电流电压测试技术，尤其涉及一种判断电子元件在静电放电后的电流-电压测试结果的方法。
背景技术
静电放电(ESD：Electro Static Discharge)测试是为了使电子产品符合法规及验证产品可靠度所做的测试，其目的是测试电子产品在静电经由IC(集成电路)接脚传入IC内部后，是否有造成IC电路损坏，由此来测试IC是否会受到人体或机器的静电影响。
在进行静电放电测试后，IC的各个引脚有可能会产生损坏，因此，静电放电测试后的IC仍然有必要针对其各个引脚进行一次电流-电压的测试。目前测试IC引脚的电流-电压的技术，是在进行静电放电测试之前，先将待测物IC放在I-V Curve(电流-电压曲线)专用测试机中，测量出静电放电测试前的原始数据，然后才对该IC进行静电放电测试，在静电放电测试后，再次以该电流-电压曲线专用测试机测量该待测物IC的新数据。然而，前面所述的目前的电流-电压测试技术，都是以原始数据(raw data)的形态呈现，并非以曲线或误差区间的方式图形化以便于用户观察，而且也无法看出数据的趋势。
发明内容
由于上述现有测试技术都是以原始数据的形态呈现，无法以曲线的方式显现在误差区间内，使用者不易判断其是否正常，也不易判断其趋势，因此，本发明提出一种判断电子元件在静电放电后的电流-电压测试结果的方法，其可将静电放电前后的测试结果都以二维的方式表示在图形上，并且也在图形上表现出合格区间，方便使用者判断测试结果是否正常，也容易判断趋势。
为了达成上述效果，本发明提出的判断电子元件在静电放电后的电流-电压测试结果的方法，包括如下步骤：在电子元件完成静电放电之前，取得该电子元件的引脚的电流-电压标准曲线的步骤：在该电子元件完成静电放电之前，针对该电子元件的引脚测量出多个电流-电压的数据，并将该多个数据标记于以电流值为横坐标、电压值为纵坐标的二维图表中形成多个标记点，并将该多个标记点进行连线而形成引脚的电流-电压标准曲线；定义并显示该电流-电压标准曲线的合格区间的步骤：以预定电流误差值作为各个标记点向左及向右延伸的长度，以预定电压误差值作为各个标记点向上及向下延伸的长度，针对各个标记点画出与该两种长度对应的矩形框或圆形框，并将该多个矩形框或圆形框的左上角的点予以连线，以及将该多个矩形框或圆形框的右下角的点予以连线，从而形成位于该电流-电压标准曲线两侧的上限曲线及下限曲线，该上限曲线与该下限曲线之间的区间即为合格区间；在该电子元件完成静电放电之后，取得该电子元件的引脚的电流-电压测量曲线的步骤：在该电子元件完成静电放电之后，针对该电子元件的引脚测量出多个电流-电压的数据，并将该多个数据标记于该二维图表中形成多个测量标记点，并将该多个测量标记点进行连线而形成引脚的电流-电压测量曲线；以及判断是否超出合格区间的步骤：比较该电流-电压测量曲线是否超出该合格区间，若有任何一个测量标记点超出该合格区间，则判断为不合格；若该电流-电压测量曲线上的所有测量标记点都未超出该合格区间，则判断为合格。
通过上述步骤，本发明可以将静电放电前后的测试结果都以二维的方式表示在图形上，并且也在图形上表现出合格区间，方便使用者判断测试结果是否正常，也容易判断趋势。
附图说明
图1是本发明一较佳实施例的电流电压测量结果的示意图。
图2是本发明一较佳实施例的连线示意图。
图3是本发明一较佳实施例的矩形框形成示意图。
图4是本发明一较佳实施例的上下限曲线形成示意图。
图5是本发明一较佳实施例的另一连线示意图，且表示矩形框移除的状态。
图6是本发明一较佳实施例的动作示意图，且表示电流-电压测量曲线与电流-电压标准曲线重叠的状态。
图7是本发明一较佳实施例的另一动作示意图，且表示电流-电压测量曲线与电流-电压标准曲线不重叠但仍合格的状态。
图8是本发明一较佳实施例的又一动作示意图，且表示电流-电压测量曲线不合格的状态。
图9是本发明一较佳实施例的圆形框形成示意图。
(符号说明)
BL：下限曲线 H：长度(预定电压误差值)
L：长度(预定电流误差值) ML：电流-电压测量曲线
MM：测量标记点 SL：电流-电压标准曲线
SM：标记点 UL：上限曲线
具体实施方式
为了详细说明本发明的技术特点，以下列举较佳实施例并配合附图进行说明。
如图1至图8所示，本发明的一个较佳实施例所提供的判断电子元件在静电放电后的电流-电压测试结果的方法，主要具有下列步骤。
S 1：在电子元件(未图示)完成静电放电之前，取得该电子元件的引脚(未图示)的电流-电压标准曲线：在该电子元件完成静电放电之前，针对该电子元件的引脚测量出多个电流-电压的数据，并将该多个数据标记于以电流值为横坐标、电压值为纵坐标的二维图表中形成多个标记点SM(如图1所示)，该多个标记点SM在图中以空心圆圈表示，并将该多个标记点SM连线而形成引脚的电流-电压标准曲线SL(如图2所示)。在实际实施时，上述二维图表显示于屏幕上。
S2：定义并显示该电流-电压标准曲线SL的合格区间：以预定电流误差值作为各个标记点SM向左及向右延伸的长度L，以预定电压误差值作为各个标记点SM向上及向下延伸的长度H，针对各个标记点SM画出以这两种长度作为长边及宽边的矩形框(如图3所示)，并将该多个矩形框的左上角的点予以连线，以及将该多个矩形框的右下角的点予以连线，从而形成位于该电流-电压标准曲线SL两侧的上限曲线UL及下限曲线BL(如图4所示)，即可清楚地看到该上限曲线UL与该下限曲线BL之间的区间即为合格区间，在画出该上限曲线UL与该下限曲线BL之后，即可除去该多个矩形框，如图5所示，可以更清楚地看到该电流-电压标准曲线SL、该上限曲线UL以及该下限曲线BL之间的关系。上述预定电流误差值以及预定电压误差值可以由使用者自行设定，例如，使用者可以设定该多个标记点SM中的最大电流值以及最大电压值的10％作为该预定电流误差值以及该预定电压误差值，或者也可以将其他使用者自行认定的值作为上述误差值。
S3：在该电子元件完成静电放电之后，取得该电子元件的引脚的电流-电压测量曲线：在该电子元件完成静电放电之后，针对该电子元件的引脚测量出多个电流-电压的数据，并将该多个数据标记于该二维图表中形成多个测量标记点MM，该多个测量标记点MM在图中以空心三角形表示，并将该多个测量标记点MM连线而形成引脚的电流-电压测量曲线ML，如图6所示。在图6中，该电流-电压测量曲线ML与电流-电压标准曲线SL重叠。
S4：判断是否超出合格区间：使用者可以直接目视观察该二维图表中的该电流-电压测量曲线ML，最佳的结果是该电流-电压测量曲线ML与该电流-电压标准曲线SL重叠，如图6所示，这样的结果代表该电子元件的引脚完全没有受到静电放电的影响，而这也是正常状况，应判断为合格。较差的结果是该电流-电压测量曲线ML与该电流-电压标准曲线SL不重叠，但仍在该合格区间内，如图7所示，这样的结果代表该电子元件的引脚有受到静电放电的些微影响，但尚能正常工作，仍可判断为合格。最差的结果是该电流-电压测量曲线ML有部分或全部的测量标记点MM超出该合格区间，如图8所示，这样的结果代表该电子元件的引脚在静电放电测试时遭到损坏，应判断为不合格。
通过上述步骤，可以把电子元件的引脚在静电放电前后的测试结果都以二维的方式表示在图形上，并且也在图形上表现出合格区间，方便使用者通过目视观察直接判断静电放电后的测试结果是否正常。此外，也可以观察同一批多个相同电子元件的引脚的静电放电后的电流-电压测量曲线ML，可以在视觉上直接判断出该批电子元件的检测结果的趋势。
需补充说明的一点是，若使用者在目视判断后，仍然想要以计算机来进行判断，则可以使用算法执行判断。在上述步骤S4中，可以依下述方式进行比较，即：在比较该电流-电压测量曲线ML是否超出该合格区间时，将测量标记点MM的坐标值以其所对应的电流值或电压值与标记点SM的坐标值相减，若以电压值作为测量标记点MM与标记点SM的对应关系时，则两者横坐标的差值即为电流值差值，此时，若电流值差值的绝对值大于预定电流误差值，则判定超出该合格区间，反之则未超出。另外，若以电压值作为测量标记点MM与标记点SM的对应关系时，则两者纵坐标的差值即为电压值差值，若电压值差值的绝对值大于预定电压误差值，则判定超出该合格区间，反之则未超出。
如图9所示，在上述步骤S2中，也可以针对各个标记点SM不画出矩形框，改为画出圆形框，在该情况下，以上述矩形框作为虚拟矩形框(即实际上不画出来)，之后再以各个标记点SM和与其对应的虚拟矩形框的任一角之间的距离作为半径，画出对应的圆形框。进而，以各个标记点SM在该电流-电压标准曲线SL上的位置的斜率，在各个圆形框的左上位置及右下位置找出切点，并将该多个圆形框的该两个切点分别加以连线而形成上限曲线UL及下限曲线BL。由此，圆形框同样可以达到定义合格区间的效果，并不以矩形框为限制。
Claims (4)
1.一种判断电子元件在静电放电后的电流-电压测试结果的方法，其特征在于，包括如下步骤：
在电子元件完成静电放电之前，取得所述电子元件的引脚的电流-电压标准曲线的步骤：在所述电子元件完成静电放电之前，针对所述电子元件的所述引脚测量出多个电流-电压的数据，并将该多个数据标记于以电流值为横坐标、电压值为纵坐标的二维图表中形成多个标记点，并将该多个标记点进行连线而形成所述引脚的电流-电压标准曲线；
定义并显示所述电流-电压标准曲线的合格区间的步骤：以预定电流误差值作为各个所述标记点向左及向右延伸的长度，以预定电压误差值作为各个所述标记点向上及向下延伸的长度，针对各个所述标记点画出与该两种长度对应的矩形框或圆形框，并将该多个矩形框或圆形框的左上角的点予以连线，以及将该多个矩形框或圆形框的右下角的点予以连线，从而形成位于所述电流-电压标准曲线两侧的上限曲线及下限曲线，所述上限曲线与所述下限曲线之间的区间即为合格区间；
在所述电子元件完成静电放电之后，取得所述电子元件的所述引脚的电流-电压测量曲线的步骤：在所述电子元件完成静电放电之后，针对所述电子元件的所述引脚测量出多个电流-电压的数据，并将该多个数据标记于所述二维图表中形成多个测量标记点，并将该多个测量标记点进行连线而形成所述引脚的电流-电压测量曲线；以及
判断是否超出合格区间的步骤：比较所述电流-电压测量曲线是否超出所述合格区间，若有任何一个测量标记点超出所述合格区间，则判断为不合格；若所述电流-电压测量曲线上的所有测量标记点都未超出所述合格区间，则判断为合格。
2.根据权利要求1所述的判断电子元件在静电放电后的电流-电压测试结果的方法，其特征在于，
所述以电流值为横坐标、电压值为纵坐标的二维图表显示于屏幕上。
3.根据权利要求1所述的判断电子元件在静电放电后的电流-电压测试结果的方法，其特征在于，
在根据所述预定电流误差值以及所述预定电压误差值画出与各个所述标记点对应的矩形框时，以设为所述预定电流误差值的各个所述标记点向左及向右延伸的长度作为长边，且以设为所述预定电压误差值的各个所述标记点向上及向下延伸的长度作为宽边，画出与各个所述标记点对应的矩形框。
4.根据权利要求1所述的判断电子元件在静电放电后的电流-电压测试结果的方法，其特征在于，
在根据所述预定电流误差值以及所述预定电压误差值画出与各个所述标记点对应的圆形框时，在以设为所述预定电流误差值的各个所述标记点向左及向右延伸的长度作为长边，且以设为所述预定电压误差值的各个所述标记点向上及向下延伸的长度作为宽边，针对各个所述标记点定义出虚拟矩形框之后，再以各个所述标记点和与其对应的虚拟矩形框的任一角之间的距离作为半径，画出对应的圆形框。
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