CN112051281A - 一种用于放置料条的检测平台 - Google Patents
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims abstract description 35
- 230000006978 adaptation Effects 0.000 claims description 4
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 230000000712 assembly Effects 0.000 description 4
- 238000000429 assembly Methods 0.000 description 4
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 3
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 3
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 2
- 241000252253 Catostomus Species 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 1
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Abstract
本发明涉及料条检测设备技术领域,公开了一种用于放置料条的检测平台,包括:基座;可拆卸设置于所述基座上吸盘组件,所述吸盘组件用于吸附IC料条,本发明实施例的用于放置料条的检测平台,通过在基座上可拆卸设置吸盘组件,便于对不同规格的所述IC料条适配不同的所述吸盘组件,从而可以对多种规格的料条进行检测,且在吸盘组件的左侧可拆卸设置左压料组件,在吸盘组件的右侧滑动设置右压料组件,左压料组件和右压料组件之间的间距也可以根据吸盘组件的大小进行调整,具有较好的普适性,可有效降低料条检测成本。
Description
技术领域
本发明涉及料条检测设备技术领域,特别是涉及一种用于放置料条的检测平台。
背景技术
目前IC料条内置有近千个IC芯片,IC芯片经常出现诸如针脚焊错、焊球脱落、焊线断路等缺陷。存在以上缺陷的IC芯片属于不良品,为避免其与及格品混淆,应对IC料条进行视觉检测,以挑出不良品,目前料条的视觉检测设备多数是只能单一的检测一种规格的料条,应用较为局限,不用规格的料条需要使用不同的设备进行检测,因而造成IC料条的检测成本较高。
发明内容
有鉴于此,本发明旨在提出一种用于放置料条的检测平台,以解决目前料条的视觉检测设备多数是只能单一的检测一种规格的料条,应用较为局限,不用规格的料条需要使用不同的设备进行检测,因而造成IC料条的检测成本较高的技术问题。
为了解决上述技术问题,本发明提供了一种用于放置料条的检测平台,包括:基座;可拆卸设置于所述基座上吸盘组件,所述吸盘组件用于吸附IC料条,设在所述吸盘组件左侧用于固定所述IC料条的左侧的左压料组件,设在所述吸盘组件右侧用于固定所述IC料条的右侧的右压料组件;其中,所述左压料组件和所述基座可拆卸连接,所述右压料组件和所述基座滑动连接以适配不同的所述吸盘组件。
可选地,还包括分设在所述基座上位于所述吸盘组件的前后两侧的两个滑轨,两个所述滑轨上均滑动设置有滑块,所述右压料组件通过所述滑块与所述滑轨滑动连接。
可选地,还包括设置在所述基座上固定板,所述固定板和所述滑轨并列设置,所述右压料组件和所述固定板固定连接以对所述右压料组件进行固定。
可选地,所述右压料组件包括右压料底板,所述右压料底板上设置有右压料气缸,所述右压料气缸的驱动端连接有右压料板,所述右压料气缸通过驱动所述右压料板朝向所述右压料底板移动以夹持所述IC料条的右侧边,所述右压料底板的下端设置有右压料固定块,所述右压料固定块用于和所述固定板固定连接。
可选地,所述右压料组件还包括设置于所述右压料底板和所述右压料板之间的右导向轮。
可选地,所述左压料组件包括左压料底板,所述左压料底板上设置有左压料气缸,所述左压料气缸的驱动端连接有左压料板,所述左压料气缸通过驱动所述左压料板朝向所述左压料底板移动以夹持所述IC料条的左侧边,所述左压料底板的下端设置有左压料固定块,所述左压料固定块用于和所述基座固定连接。
可选地,所述左压料组件还包括设置于所述左压料底板和所述左压料板之间的左导向轮。
可选地,所述吸盘组件包括料条吸盘、相对设置于所述料条吸盘下端的两个吸盘底座,两个所述吸盘底座均和所述基座可拆卸连接。
可选地,所述吸盘组件还包括设置于两个所述吸盘底座之间的连接板,所述连接板上设置有光源。
本发明实施例一种用于放置料条的检测平台与现有技术相比,其有益效果在于:
本发明实施例的用于放置料条的检测平台,通过在基座上可拆卸设置吸盘组件,便于对不同规格的所述IC料条适配不同的所述吸盘组件,从而可以对多种规格的料条进行检测,且在吸盘组件的左侧可拆卸设置左压料组件,在吸盘组件的右侧滑动设置右压料组件,左压料组件和右压料组件之间的间距也可以根据吸盘组件的大小进行调整,具有较好的普适性,可有效降低料条检测成本。
附图说明
图1是本发明实施例所述的用于放置料条的检测平台的结构示意图;
图2是本发明实施例所述的用于放置料条的检测平台的局部结构示意图;
图3是本发明实施例所述的用于放置料条的检测平台的右压料组件的结构示意图;
图4是本发明实施例所述的用于放置料条的检测平台的左压料组件的结构示意图;
图5是本发明实施例所述的用于放置料条的检测平台的吸盘组件的结构示意图一;
图6是本发明实施例所述的用于放置料条的检测平台的吸盘组件的结构示意图二。
图中,100、IC料条,1、基座,2、吸盘组件,21、料条吸盘,22、吸盘底座,23、连接板,24、光源,3、左压料组件,31、左压料底板,32、左压料气缸,33、左压料板,34、左压料固定块,35、左导向轮,4、右压料组件,41、右压料底板,42、右压料气缸,43、右压料板,44、右压料固定块,45、右导向轮,5、滑轨,6、滑块,7、固定板。
具体实施方式
需要说明的是,在不冲突的情况下,本发明中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
本文中设置有XYZ坐标系,其中X轴的正向代表右方,X轴的反向代表左方,Y轴的正向代表前方,Y轴的反向代表后方,Z轴的正向代表上方,Z轴的反向代表下方。
另外,对该具体实施方式中涉及到方位作简要说明:下述在提到每个结构件的“前”、“后”、“上”、“下”、“左”、“右”等指示的方向或位置关系,是指附图中所示的方位或位置关系;这些位置关系仅是为了便于描述和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本发明的限制。
若本发明实施例中有涉及“第一”、“第二”等的描述,则该“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。
为使本发明的上述目的、特征和优点能够更为明显易懂,下面结合附图对本发明的具体实施例做详细的说明。
如图1所示,本发明实施例优选实施例的一种用于放置料条的检测平台,包括:基座1;本实施例中,基座为框架结构,基座包括底板和围合在底板四周的侧板。可拆卸设置于所述基座1上吸盘组件2,所述吸盘组件2用于吸附IC料条100,不同规格的所述IC料条100适配不同的所述吸盘组件2;分设在所述吸盘组件2左右两侧的左压料组件3和右压料组件4,所述左压料组件3用于对所述IC料条100的左侧边进行固定,所述右压料组件4用于对所述IC料条100的右侧边进行固定;其中,所述左压料组件3和所述基座1可拆卸连接,所述右压料组件4和所述基座1滑动连接以适配不同的所述吸盘组件2。
如图5和图6所示,基于上述技术方案,吸盘组件可以和基座卡接或者通过螺栓连接,能够实现可拆卸连接即可。本实施例中,优选地,吸盘组件和基座通过螺栓连接,具有较高的连接强度,且便于拆卸。吸盘组件具有多种规格的和多种形状的,具体的,常见的吸盘组件有10寸的和12寸的,形状有矩形的和圆形的,吸盘组件可以根据料条的形状和尺寸进行匹配。圆形的吸盘组件可以适配不同尺寸的晶圆,矩形的吸盘组件可以适配不同尺寸的料条。为了更好对料条进行固定,本实施例中,在吸盘组件的左右两侧还设置有左压料组件和右压料组件,其中,所述左压料组件3和所述基座1可拆卸连接,所述右压料组件4和所述基座1滑动连接以适配不同的所述吸盘组件2,左压料组件和右压料组件之间的间距也可以根据吸盘组件的大小进行调整,该检测平台具有较好的普适性,可有效降低料条检测成本。
如图5所示,本实施例中,所述吸盘组件2包括料条吸盘21、相对设置于所述料条吸盘21下端的两个吸盘底座22,两个所述吸盘底座22均和所述基座1可拆卸连接,具体地,吸盘底座和基座的底板可拆卸连接,料条吸盘通过吸盘底座固定连接在基座上,具体地,料条吸盘上具有吸孔,料条吸盘还设置有吸嘴,吸嘴和吸孔连通,吸嘴用于外接入真空泵,从而可以在吸孔处形成负压,在IC料条放置在料条吸盘上时,可以被紧紧吸附在料条吸盘上,以便于对料条进行检测。
如图2所示,一种用于放置料条的检测平台还包括分设在所述基座1上位于所述吸盘组件2的前后两侧的两个滑轨5,具体地,滑轨设置在基座的前后两侧的侧板上,两个所述滑轨5上均滑动设置有滑块6,所述右压料组件4通过所述滑块6与所述滑轨5滑动连接。
具体地,右压料组件和滑块固定连接,右压料组件随着滑动在滑轨上滑动从而在基座上进行滑动,当左压料组件在基座固定好位置后,可以通过滑动右压料组件对左压料组件和右压料组件之间的间隙进行微调,以使料条的左右两侧边固定在左压料组件和右压料组件内,方便快捷。
如图2所示,一种用于放置料条的检测平台还包括设置在所述基座1上固定板7,具体地,固定板设置在基座的侧板上,所述固定板7和所述滑轨5并列设置,本实施例中,滑轨设置在侧板的上端面,固定板设置在侧板的侧壁上,所述右压料组件4和所述固定板7固定连接以对所述右压料组件4进行固定。
在右压料组件在基座上的位置确定后,通过固定板和右压料组件的固定连接实现对右压料组件的位置的固定,以便于右压料组件对料条的稳定固定。
如图3所示,所述右压料组件4包括右压料底板41,所述右压料底板41上设置有右压料气缸42,所述右压料气缸42的驱动端连接有右压料板43,所述右压料气缸42通过驱动所述右压料板43朝向所述右压料底板41移动以夹持所述IC料条100的右侧边,可以理解地,在右压料气缸驱动右压料板远离右压料底板移动时,右压料组件解除对料条的固定,所述右压料底板41的下端设置有右压料固定块44,所述右压料固定块44用于和所述固定板7固定连接。
右压料底板的前后两侧设置两个右压料固定块,两个右压料固定块卡接在固定板的外侧,右压料固定板通过螺钉和固定板进行连接,实现对右压料组件的固定。
如图3所示,所述右压料组件4还包括设置于所述右压料底板41和所述右压料板43之间的右导向轮45,所述右导向轮45用于和所述IC料条100抵接时进行导向。
将料条放置在吸盘组件上也需要对料条在吸盘组件上前后方向上位置进行调整,这时通过料条和右导向轮的转动抵接,对于料条的位置调整更加顺畅。
如图4所示,所述左压料组件3包括左压料底板31,所述左压料底板31上设置有左压料气缸32,所述左压料气缸32的驱动端连接有左压料板33,所述左压料气缸32通过驱动所述左压料板33朝向所述左压料底板31移动以夹持所述IC料条100的左侧边,可以理解地,在左压料气缸驱动左压料板远离左压料底板移动时,左压料组件解除对料条的固定,所述左压料底板31的下端设置有左压料固定块34,所述左压料固定块34用于和所述基座1固定连接。
本实施例中,左压料气缸和右压料气缸同时进行驱动,实现对料条的左右两侧边同时固定或者解除固定。并且根据料条的形状大小来确定吸盘组件的形状大小,进而确定左压料固定块在基座上的固定位置,具体地,在基座的对应位置均设置有螺孔以便于和左压料固定块固定连接。
如图4所示,所述左压料组件3还包括设置于所述左压料底板31和所述左压料板33之间的左导向轮35,所述左导向轮35用于和所述IC料条100抵接时进行导向。
将料条放置在吸盘组件上也需要对料条在吸盘组件上前后方向上位置进行调整,这时通过料条和左导向轮的转动抵接,对于料条的位置调整更加顺畅。
如图5所示,所述吸盘组件2还包括设置于两个所述吸盘底座22之间的连接板23,所述连接板23上设置有光源24。光源可以为led灯,通过在料条吸盘下发设置光源,可以实现较好的检测效果。
当需检测料条时,将吸盘组件安装于基座上,左压料组件安装于基座的位置A处,人工根据料条的宽度调节右压料模组的位置,调整好位置后将右压料固定块固定块于固定板上。
当需检测10寸晶圆时,将料条的吸盘组件拆下,再将10寸晶圆的吸盘组件安装于基座上,左压料组件安装于基座的位置B处,人工根据10寸晶圆的宽度调节右压料组件的位置,调整好位置后将右压料固定块固定于固定板上。
当需检测12寸晶圆时:将料条的吸盘组件拆下,再将12寸晶圆的吸盘组件安装于基座上,左压料组件安装于基座的位置C处,人工根据12寸晶圆的宽度调节右压料组件的位置,调整好位置后将右压料固定块固定于固定板上。
综上,本发明实施例提供一种用于放置料条的检测平台与现有技术相比,其有益效果在于:本发明实施例的用于放置料条的检测平台,通过在基座上可拆卸设置吸盘组件,便于对不同规格的所述IC料条适配不同的所述吸盘组件,从而可以对多种规格的料条进行检测,且在吸盘组件的左侧可拆卸设置左压料组件,在吸盘组件的右侧滑动设置右压料组件,左压料组件和右压料组件之间的间距也可以根据吸盘组件的大小进行调整,具有较好的普适性,可有效降低料条检测成本。
以上所述仅是本发明的优选实施方式,应当指出,对于本技术领域的普通计数人员来说,在不脱离本发明技术原理的前提下,还可以做出若干改进和替换,这些改进和替换也应视为本发明的保护范围。
Claims (9)
1.一种用于放置料条的检测平台,其特征在于,包括:
基座(1);
可拆卸设置于所述基座(1)上的吸盘组件(2),所述吸盘组件(2)用于吸附IC料条(100);
设在所述吸盘组件(2)左侧用于固定所述IC料条(100)的左侧的左压料组件(3),设在所述吸盘组件(2)右侧用于固定所述IC料条(100)的右侧的右压料组件(4);
其中,所述左压料组件(3)和所述基座(1)可拆卸固定连接,所述右压料组件(4)和所述基座(1)滑动连接以适配不同的所述吸盘组件(2)。
2.如权利要求1所述的用于放置料条的检测平台,其特征在于,还包括分设在所述基座(1)上位于所述吸盘组件(2)的前后两侧的两个滑轨(5),两个所述滑轨(5)上均滑动设置有滑块(6),所述右压料组件(4)通过所述滑块(6)与所述滑轨(5)滑动连接。
3.如权利要求2所述的用于放置料条的检测平台,其特征在于,还包括设置在所述基座(1)上固定板(7),所述固定板(7)和所述滑轨(5)并列设置,所述右压料组件(4)和所述固定板(7)固定连接以对所述右压料组件(4)进行固定。
4.如权利要求1所述的用于放置料条的检测平台,其特征在于,所述右压料组件(4)包括右压料底板(41),所述右压料底板(41)上设置有右压料气缸(42),所述右压料气缸(42)的驱动端连接有右压料板(43),所述右压料气缸(42)驱动所述右压料板(43)朝向所述右压料底板(41)移动以夹持所述IC料条(100)的右侧边,所述右压料底板(41)的下端设置有右压料固定块(44),所述右压料固定块(44)用于和所述固定板(7)固定连接。
5.如权利要求4所述的用于放置料条的检测平台,其特征在于,所述右压料组件(4)还包括设置于所述右压料底板(41)和所述右压料板(43)之间的右导向轮(45)。
6.如权利要求1所述的用于放置料条的检测平台,其特征在于,所述左压料组件(3)包括左压料底板(31),所述左压料底板(31)上设置有左压料气缸(32),所述左压料气缸(32)的驱动端连接有左压料板(33),所述左压料气缸(32)通过驱动所述左压料板(33)朝向所述左压料底板(31)移动以夹持所述IC料条(100)的左侧边,所述左压料底板(31)的下端设置有左压料固定块(34),所述左压料固定块(34)用于和所述基座(1)固定连接。
7.如权利要求6所述的用于放置料条的检测平台,其特征在于,所述左压料组件(3)还包括设置于所述左压料底板(31)和所述左压料板(33)之间的左导向轮(35)。
8.如权利要求1所述的用于放置料条的检测平台,其特征在于,所述吸盘组件(2)包括料条吸盘(21)、相对设置于所述料条吸盘(21)下端的两个吸盘底座(22),两个所述吸盘底座(22)均和所述基座(1)可拆卸连接。
9.如权利要求8所述的用于放置料条的检测平台,其特征在于,所述吸盘组件(2)还包括设置于两个所述吸盘底座(22)之间的连接板(23),所述连接板(23)上设置有光源(24)。
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202010964474.3A CN112051281A (zh) | 2020-09-14 | 2020-09-14 | 一种用于放置料条的检测平台 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202010964474.3A CN112051281A (zh) | 2020-09-14 | 2020-09-14 | 一种用于放置料条的检测平台 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN112051281A true CN112051281A (zh) | 2020-12-08 |
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ID=73611220
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202010964474.3A Pending CN112051281A (zh) | 2020-09-14 | 2020-09-14 | 一种用于放置料条的检测平台 |
Country Status (1)
Country | Link |
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