CN111954821A - 电解质分析装置 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种电解质分析装置,其抑制在用户进行试剂更换作业时因不同的试剂与吸引喷嘴液体接触而导致的污染。电解质分析装置具有:喷嘴支撑部(203),其与吸引喷嘴(6)结合,并能够在试剂容器更换位置和试剂吸引位置之间移动;锁定机构(301),其与移动到试剂容器更换位置的喷嘴支撑部嵌合,将喷嘴支撑部固定在试剂容器更换位置;以及锁定解除机构(302),其在供给了电力的状态下,能够解除喷嘴支撑部与锁定机构的嵌合,在试剂容器(101)满足规定的条件时,通过所述锁定解除机构被控制为解除喷嘴支撑部与锁定机构的嵌合,从而喷嘴支撑部移动到试剂吸引位置。

Description

电解质分析装置
技术领域
本发明涉及一种电解质分析装置。
背景技术
电解质分析装置是测定人体的血液、尿等电解质溶液中所包含的特定电解质浓度的装置,其利用离子选择性电极进行浓度测定。作为一般的测定方法,通过直接将作为电解质溶液的血清供给到离子选择电极,或者将用稀释液稀释了的样品溶液供给到离子选择电极,来测定与比较电极液之间的液间电位,接着(或者在所述测定之前)向离子选择电极供给标准液,同样地测定与比较电极液之间的液间电位,并根据2个液间电位电平来计算样品溶液的电解质浓度。
这样,在流动型电解质分析装置中,稀释液、标准液、比较电极液这样的试剂被用作消耗品,这些试剂的更换作业由用户进行。另外,在流动型电解质分析装置中,大多对这些试剂分别设置专用的吸引喷嘴,在装置上搭载试剂的期间,通常始终保持专用的吸引喷嘴与试剂液体接触的状态。在由用户进行的更换作业中,直到将该专用的吸引喷嘴分别配置在试剂容器内为止为一系列作业。
由于这些试剂彼此之间的成分不同,如果因用户在进行试剂容器更换作业时的失误而导致不同的试剂与吸引喷嘴液体接触,或者在进行更换作业时试剂飞散等而发生试剂之间的污染,则会产生得不到正确的测定结果、无法使用作为消耗品的试剂、或者需要再次清洗装置的试剂流路等问题。特别是比较电极液,从离子选择电极的分析稳定性考虑,优选为比稀释液、标准液浓度高的水溶液,防止污染其他试剂的措施是必不可少的。
在专利文献1中,作为防止污染的措施,公开了一种检体分析装置,其在试剂容器上附加射频识别(RFID,Radio Frequency Identifier)这样的信息存储介质,在分析装置上具备读取该信息的信息读取部,由此,具有向用户通知试剂是错误的试剂、余量不足的试剂、过期的试剂的功能。另外,在专利文献1中,通过在设置试剂容器的容器设置部上设置盖,并具备进行关闭盖的许可和禁止的锁定机构及其控制部,来谋求实现防止用户放置错误的措施。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:日本特开2011-209207号公报
发明内容
发明所要解决的课题
在专利文献1的检体分析装置中,为了防止放置错误,需要向检体分析装置供给电源。在专利文献1的结构中,通过对试剂容器设置部的螺线管施加电流,来控制试剂容器设置部的盖使其锁定在关闭状态或打开状态,从而防止试剂容器的放置错误。另一方面,在不向螺线管提供电流的状态下,试剂容器设置部的盖处于锁定解除的状态。因此,在检体分析装置未接通电源的状态下,用户能够开闭试剂容器设置部的盖来进行试剂容器的更换作业,而无需通过控制部对罩进行锁定控制。
如果能够在分析装置不运转的时间段更换试剂容器,则不需要中断测定,具有能够提高分析装置的运转率的优点。另一方面,即使分析装置通过射频识别管理试剂信息,在装置未接通电源的状态下,也无法对各机构进行任何控制,因此,如果因人为错误等原因导致吸引喷嘴与不同的试剂液体接触,则会产生上述那样的污染风险。因此,优选在装置未接通电源的状态下也能够进行一部分更换作业,具体为直到使吸引喷嘴与试剂液体接触为止的作业,而不是在分析装置未接通电源的状态下完全不能进行试剂更换作业。
本发明是鉴于这种情况而完成的,其目的在于提供一种电解质分析装置,其抑制在用户进行试剂更换作业时不同的试剂与吸引喷嘴液体接触而导致的污染。
用于解决课题的手段
作为本发明的一个实施方式的电解质分析装置,其特征在于,具有:基板,其设置有试剂容器;吸引喷嘴,其从所述试剂容器吸引试剂;喷嘴支撑部,其与所述吸引喷嘴结合,并能够在试剂容器更换位置和试剂吸引位置之间移动;锁定机构,其与移动到所述试剂容器更换位置的所述喷嘴支撑部嵌合,将所述喷嘴支撑部固定在所述试剂容器更换位置;以及锁定解除机构,其在供给了电力的状态下,能够解除所述喷嘴支撑部与所述锁定机构的嵌合,在所述试剂容器满足第1条件时,通过所述锁定解除机构被控制为解除所述喷嘴支撑部与所述锁定机构的嵌合,从而所述喷嘴支撑部移动到所述试剂吸引位置。
其他课题和新的特征可以通过本说明书的描述以及附图得以明确。
发明的效果
即使在装置的电源切断时进行试剂容器的更换作业的情况下,也能够防止污染的产生。
附图说明
图1是电解质分析装置的整体概略图。
图2是电解质分析装置的外观(示意图)。
图3是进行试剂容器更换作业时的试剂容器设置部的状态。
图4是试剂容器设置部的第1结构例。
图5A是表示喷嘴支撑部被锁定机构锁定的状态的图。
图5B是表示喷嘴支撑部被锁定解除机构解除锁定的状态的图。
图6是锁定机构和锁定解除机构的结构例。
图7A是装置电源接通状态下的试剂容器更换流程例。
图7B是装置电源切断状态下的试剂容器更换流程例。
图8是试剂容器设置部的第2结构例。
图9A是试剂容器设置部的第3结构例(俯视图)。
图9B是试剂容器设置部的第3结构例(侧视图)。
图10是试剂容器设置部的第4结构例(俯视图)。
图11是试剂容器设置部的第4结构例中的喷嘴支撑部的结构例。
具体实施方式
图1是电解质分析装置的整体概略图。电解质分析装置不限于单个装置,也可以搭载在自动分析装置上。作为自动分析装置,例如有生化自动分析装置、免疫自动分析装置等。或者,也可以搭载在用于临床检查的质量分析装置、测定血液的凝固时间的凝固分析装置、或者它们与生化自动分析装置、免疫自动分析装置的复合系统、以及应用它们的自动分析系统中。
图1所示的电解质分析装置是使用离子选择电极(以下称为ISE电极(IonSelective Electrode))的流动型电解质分析装置。在图1中,作为电解质分析装置的主要机构,示出了样品分注部、ISE电极部、试剂部、机构部、废液机构这5个机构以及对它们进行控制并根据测定结果进行电解质浓度的运算、显示的控制装置。
样品分注部包括样品探针14。通过样品探针14分注保持在样品容器15内的患者检体等样品,并将其引入分析装置内。在此,所谓检体是指从患者的生物体采集的分析对象的总称,例如血液或尿等。对它们进行了规定的预处理的分析对象也被称为检体。
ISE电极部包括稀释槽11、运送喷嘴13、稀释液喷嘴24、内部标准液喷嘴25、ISE电极1、比较电极2、夹管阀23、电压计27和放大器28。在样品分注部分注的样品被排出到稀释槽11中,通过从稀释液喷嘴24排出到稀释槽11内的稀释液对其进行稀释和搅拌。运送喷嘴13通过流路与ISE电极1连接,从稀释槽11吸引的稀释后的样品溶液通过该流路被输送到ISE电极1。另一方面,收容在比较电极液瓶5中的比较电极液通过在夹管阀23关闭的状态下使运送注射器10动作而被输送到比较电极2。通过使被输送到ISE电极流路的稀释后的样品溶液与被输送到比较电极流路的比较电极液接触,使ISE电极1与比较电极2电导通。ISE电极部通过ISE电极1与比较电极2之间的电位差来测定样品中所包含的特定电解质的浓度。
具体而言,在ISE电极1上粘贴有离子感应膜,该离子感应膜具有电动势根据样品溶液中的特定离子(例如钠离子(Na+)、钾离子(K+)、氯离子(Cl-)等)的浓度而变化的性质,ISE电极1输出与样品溶液中的各离子浓度对应的电动势,通过电压计27以及放大器28来取得ISE电极1与比较电极2之间的电动势。在控制装置29中,对于各离子,根据取得的电动势来运算并显示检体中的离子浓度。残留在稀释槽11中的样品溶液通过废液机构排出。
另外,ISE电极1与比较电极2之间的电位差受到温度变化等的影响。为了校正因这种温度变化等的影响而引起的电位变动,在一个样品测定后到下一个样品测定为止的期间,从内部标准液喷嘴25向稀释槽11内排出内部标准液,与上述样品的情况同样地(但是,不进行对内部标准液的稀释)进行测定。优选利用在样品测定期间实施的内部标准液测定结果,进行与变动量对应的校正。
试剂部包括从试剂容器吸引试剂的吸引喷嘴6、脱气机构7、过滤器16,并供给测定所需的试剂。在进行电解质测定时,作为试剂,使用内部标准液、稀释液、比较电极液这3种试剂,在试剂部中,设置有收容内部标准液的内部标准液瓶3、收容稀释液的稀释液瓶4、收容比较电极液的比较电极液瓶5。图1表示该状态。另外,当进行装置的清洗时,在试剂部中设置有收纳清洗液的清洗液瓶。
内部标准液瓶3和稀释液瓶4分别经由过滤器16通过流路与内部标准液喷嘴25、稀释液喷嘴24连接,各喷嘴以将前端导入稀释槽11内的形状设置。另外,比较电极液瓶5经由过滤器16通过流路与比较电极2连接。在稀释液瓶4和稀释槽11之间的流路以及比较电极液瓶5和比较电极2之间的流路上分别连接有脱气机构7,向稀释槽11内以及比较电极2内供给脱气后的试剂。这是由于通过注射器使流路成为负压而从瓶中吸出试剂,因此溶入试剂中的气体在试剂内表现为气泡。脱气机构被设置为在试剂中进入了气泡的状态下不向稀释槽11、比较电极2供给。
机构部包括内部标准液注射器8、稀释液注射器9、运送注射器10、电磁阀17、18、19、20、21、22、30、预热器12,承担各机构内或各机构间的送液等动作。例如,内部标准液和稀释液分别通过内部标准液注射器8和稀释液注射器9以及设置在流路中的电磁阀的动作向稀释槽11输送。预热器12通过将到达ISE电极1的内部标准液和稀释液的温度控制在一定范围内,来抑制温度对ISE电极1的影响。
废液机构包括第1废液喷嘴26、第2废液喷嘴36、真空瓶34、废液接收器35、真空泵33和电磁阀31、32,用于排出残留在稀释槽11中的样品溶液以及残留在ISE电极部的流路中的反应液。
接下来,对图1所示的电解质测定装置的电解质浓度测定动作进行说明。测定动作由控制装置29控制。
首先,将通过样品分注部的样品探针14从样品容器15分注的样品排出到ISE电极部的稀释槽11中。将样品分注到稀释槽11中后,由稀释液喷嘴24通过稀释液注射器9的动作从稀释液瓶4排出稀释液并稀释样品。如上所述,为了防止由于流路内的稀释液的温度、压力变化而产生气泡,通过安装在稀释液流路途中的脱气机构7来进行脱气处理。稀释后的样品溶液通过运送注射器10、电磁阀22的动作被吸引到ISE电极1。
另一方面,通过夹管阀23和运送注射器10,从比较电极液瓶5向比较电极2内输送比较电极液。比较电极液例如是规定浓度的氯化钾(KCl)水溶液,通过样品溶液与比较电极液接触,使得ISE电极1与比较电极2电导通。另外,为了抑制样品送液期间的浓度变动的影响,比较电极液的电解质浓度优选为高浓度,但有可能在饱和浓度附近结晶化而成为流路堵塞的原因,因此,优选为0.5mmol/L~3.0mmol/L之间。使用电压计27和放大器28来测量以比较电极电位为基准的ISE电极电位。
另外,将在样品测定的前后设置于试剂部的内部标准液瓶3的内部标准液通过内部标准液注射器8向稀释槽11排出,并与样品测定同样地进行内部标准液的电解质浓度测定。
使用针对样品溶液测量的ISE电极电位,在控制装置29中进行运算,计算样品中的电解质浓度。此时,通过基于针对内部标准液测量的ISE电极电位进行校正,能够进行更准确的电解质浓度的测定。
控制装置可以构成为具有CPU(Central Processing Unit)、RAM(Random AccessMemory)、存储装置、I/O端口的计算机,RAM、存储装置、I/O端口构成为能够经由内部总线与CPU进行数据交换。I/O端口与上述各机构连接,并控制它们的动作。动作控制通过将存储装置中存储的程序读入RAM并由CPU执行来进行。另外,在控制装置29上连接有输入输出装置,能够进行来自用户的输入、测定结果的显示。
接着,对本实施例的电解质分析装置的试剂容器设置部进行说明。图2表示电解质分析装置的外观(示意图)。设置有内部标准液瓶3、稀释液瓶4、比较电极液瓶5的试剂容器设置部502被设置为,能够使用导轨501从开口部503相对于装置的壳体500拉出。开口部503通常由未图示的门封闭,在进行试剂容器更换作业时打开门来进行试剂容器更换。在进行试剂容器更换作业时,如图2(右图)所示,通过将试剂容器设置部502整个拉出到壳体500外,使用户能够容易地更换试剂容器。在试剂容器更换作业之后,再次将试剂容器设置部502收纳在壳体500内(图2(左图))。
图3表示进行试剂容器更换作业时试剂容器设置部的状态。(a)收纳试剂容器设置部502时,(b)抽出试剂容器设置部502时,(c)更换试剂容器时,无论哪种情况,都以从壳体500侧面观察的透视图来表示。以下,说明试剂容器设置部502的结构例。
实施例1
图4表示试剂容器设置部502的第1结构例。图中示出了试剂容器设置部502的吸引喷嘴6插入试剂容器101内的状态下的剖视图(示意图)。在试剂容器设置部502中,基板205上设置有试剂容器架台204。基板205载置有试剂容器101,并与未图示的导轨501结合,由此,试剂容器设置部502能够向装置的壳体内外拉出和纳入。另外,吸引喷嘴6与手柄202以及能够从试剂容器架台204升降的喷嘴支撑部203结合。另外,试剂容器设置部502上连接有电源装置303,如后所述,向在其动作中需要电力的锁定解除机构302、射频识别读写器103、容器检测器104供给电力。电源装置303在分析装置被接通电源时向试剂容器设置部502供给电力,在分析装置的电源被切断时不能向试剂容器设置部502供给电力。图中示出了喷嘴支撑部203被收容在试剂容器架台204中的状态。
图5A表示喷嘴支撑部203被锁定机构301锁定的状态。当用户更换试剂容器101时,用户通过手动提起手柄202,能够在不接触吸引喷嘴6的前提下使吸引喷嘴6从试剂容器101脱离。当喷嘴支撑部203被抬起到上限点时,通过锁定机构301使喷嘴支撑部203保持在图5A所示的位置。将该位置称为试剂容器更换位置。由此,用户可以放开手柄202并进行试剂容器101的更换作业。
吸引喷嘴6优选由金属制的管构成,该金属制的管以在用户提起手柄202时喷嘴前端位置相对于试剂容器101的载置位置不偏移的方式固定。由此,能够防止在将吸引喷嘴6设为柔软的树脂制的管时所能够设想到的,因伴随作业的吸引喷嘴前端6a的振动而导致试剂向周围飞散的情况。另一方面,吸引喷嘴6的手柄侧的端部6b与未图示的配管连接,从而将吸引喷嘴6与装置的流路连接。通过将与吸引喷嘴端部6b连接的配管设为柔软的树脂制的管,能够容易地进行试剂容器设置部502向壳体的拉出和纳入或喷嘴支撑部203的升降。
另外,在喷嘴支撑部203被锁定机构301锁定的状态下,优选吸引喷嘴前端6a与试剂容器101的试剂吸引口110之间具有规定的距离ε。由此,用户在更换试剂容器101时能够避免试剂容器101与吸引喷嘴前端6a的碰撞或者避免使试剂容器倾斜而载置于试剂容器设置部,从而能够抑制更换时试剂从试剂容器101溢出或试剂从吸引喷嘴前端6a飞散等危险的发生。
图5B表示从图5A所示的状态通过锁定解除机构302解除了喷嘴支撑部203的锁定的状态。锁定机构301在从电源装置303向锁定解除机构302供给电源的状态下,通过锁定解除机构302,按照控制装置29的控制来执行锁定解除。此时,优选在喷嘴支撑部203上设置阻尼机构,使得即使用户没有把持手柄202,吸引喷嘴6以及喷嘴支撑部203也能够缓慢地下降。在本例中,喷嘴支撑部203在下降到尽头的状态下停止,将该位置称为试剂吸引位置。
图6是表示锁定机构301和锁定解除机构302的结构例的图。锁定机构301具有固定侧基座601和可动侧基座602,在固定侧基座601和可动侧基座602之间设有弹簧604。另外,在可动侧基座602的与设有弹簧604的面相对的面上连接有轴承603。锁定解除机构302具有螺线管611,螺线管611与可动侧基座602连接。
(a)平常时的试剂容器设置部502为图4的状态。在平常时,螺线管611断开,轴承603与喷嘴支撑部203的引导部203a接触。此时,通过压缩弹簧604,从而借助弹簧604的弹性力将轴承603按压在引导部203a上。
(b)锁定时的试剂容器设置部502为图5A的状态。在锁定时,螺线管611也被断开。通过沿方向621抬起喷嘴支撑部203,轴承603与设置在喷嘴支撑部203上的锁定用凹部203b嵌合。由此,喷嘴支撑部203被锁定,使得即使用户将手从手柄上放开,喷嘴支撑部203也不会下降。此时,弹簧604的长度为自然长度附近的长度。
这样,无论装置是否接通电源,都能够通过利用弹簧的弹性力,抬起喷嘴支撑部203,将吸引喷嘴6从试剂容器101中拉出,并在该状态下进行锁定。另外,不限于弹簧,只要能够使用弹性体,并且其动作不需要电力,也可以通过其他机械作用来锁定喷嘴支撑部203。
(c)锁定解除时的试剂容器设置部502为图5B的状态。螺线管611导通并向方向622拉动轴承603以及可动侧基座602。由此,轴承603从锁定用凹部203b拔出,喷嘴支撑部203向方向623下降。在规定时间后,螺线管611断开,轴承603与喷嘴支撑部203的引导部203a接触。在喷嘴支撑部203下降到尽头时,返回到平常时的状态。
为了使螺线管611动作,需要对螺线管611供给电力,由控制装置29进行使螺线管611导通的控制。由此,为了解除喷嘴支撑部203的锁定,并将吸引喷嘴6插入试剂容器,必须供给装置电源。另外,只要锁定解除动作由控制装置29控制,锁定解除机构302也可以通过其他作用解除喷嘴支撑部203的锁定。例如,也可以通过大于弹簧的弹性力的气压来解除锁定。
并且,在试剂容器101上附有射频识别标签102,该射频识别标签102中存储有试剂的类别、残液量、有效期限、批号等与试剂有关的信息(参照图4)。为了与射频识别标签102交换信息,在试剂容器架台204上,在载置有试剂容器101的状态下,在相对的位置设置有射频识别读写器103。另外,试剂容器101设置有用于检测在试剂容器载置位置上放置有试剂容器的容器检测器104。容器检测器104例如具有发射红外光的光源和检测红外光的光检测器。通过由光检测器检测有无来自试剂容器101的反射光,来判定有无试剂容器101。另外,射频识别标签和射频识别读写器只是一个例子,只要能够通过设置于试剂容器设置部的信息读取器读出存储在该信息存储介质中的与所收容的试剂有关的信息即可。
接着,对试剂容器的更换流程进行说明。如上所述,在本实施例的试剂容器设置部502中,无论是否接通装置电源,都能够卸下原来的试剂容器并设置新的试剂容器,另一方面,能够仅在接通装置电源的状态下将吸引喷嘴插入新的试剂容器。图7A表示装置电源接通状态下的试剂容器更换流程例,图7B表示装置电源切断状态下的试剂容器更换流程例。
首先,对装置电源接通状态下的试剂容器更换流程(图7A)进行说明。如上所述,用户把持手柄202并抬起喷嘴支撑部203(S702),在喷嘴支撑部203被锁定的状态下(S703),卸下试剂容器101(S704)。由此,容器检测器104的试剂容器检测关闭(S705)。当用户重新将新的试剂容器101载置于试剂容器设置部502(S706)时,容器检测器104检测新的试剂容器101(S707)。射频识别读写器103以容器检测器104对试剂容器的检测为触发,开始读取试剂容器101的射频识别信息。控制装置29根据射频识别信息来判定试剂容器中收容的试剂是否正常(S708)。作为具体的判定内容,例如可以举出试剂的种类是否为本来应该放置在该载置场所的试剂、残液量是否充分、是否已过了试剂的有效期限等。在射频识别信息正常的情况下,控制装置29登记所读取到的射频识别信息(S709),并通过锁定解除机构302进行锁定机构301的解除动作(S710)。当锁定被解除时,喷嘴支撑部203自动下降,吸引喷嘴6向试剂容器101内的规定的吸引位置移动。另一方面,在射频识别信息不正常的情况下,将这一情况显示在控制装置29的显示部上。由此,用户能够在吸引喷嘴6接触错误的试剂之前,更换为正确的试剂容器(S704~S706)。这样,吸引喷嘴6仅对正常试剂进行液体接触,从而能够防止因用户对试剂容器的错误放置等而引起的污染。
接着,对装置电源切断状态下的试剂容器更换流程(图7B)进行说明。对于与图7A的更换流程内容相同的步骤,标注相同的符号来表示。用户把持手柄202并抬起喷嘴支撑部203(S702),在喷嘴支撑部203被锁定的状态下(S703),更换试剂容器101(S704、706)。如上所述,本实施例的锁定机构301能够在不供给电源的情况下,通过机械装置对喷嘴支撑部203进行锁定。当用户接通装置电源时(S721),装置确认试剂容器设置部502的容器检测器104的状态,作为初始化处理之一(S722),当容器检测器104检测到试剂容器101时,以该检测为触发进行射频识别信息的确认(S708)。在射频识别信息正常的情况下,控制装置29登记所读取到的射频识别信息(S709),并通过锁定解除机构302进行锁定机构301的解除动作(S710)。另一方面,在未检测到试剂容器或者射频识别信息不正常的情况下,作为更换未成立(S724),将这一情况显示在控制装置29的显示部上。此时,由于装置电源已经接通,所以转移到图7A的步骤S704或S705,并执行试剂的更换处理。若更换正常结束(S723),如有必要,控制装置29在之后自动执行流路内的液体置换动作、分析准备动作等。
通常,在电解质分析装置中,在电源接通后的初始处理中,自动执行向流路内的送液动作、装置状态检查动作、清洗动作等,具有能够在短时间内转移到分析动作的功能。但是,如果在初期处理后识别为试剂余量不足并进行试剂容器更换,则需要再次进行流路内的液体置换动作等,其结果是,需要有到分析开始为止的时间。根据本实施例,即使在装置电源切断时,用户也能够在维持试剂彼此的污染防止效果的状态下实施试剂更换作业,并能够在电源接通后不进行追加作业地使用装置。
而且,如果试剂容器101是由透明或半透明的材料构成的容器,且试剂容器设置部502是用户能够通过目视而容易地确认的结构,则用户能够在接通装置电源之前,通过目视确认试剂余量,从而能够根据需要预先实施试剂更换,十分方便。
实施例2
图8表示试剂容器设置部502的第2结构例。第2结构例中的与第1结构例之间的主要不同点在于,在喷嘴支撑部203上结合有两个吸引喷嘴6-1,6-2,通过由用户抬起手柄202,两个吸引喷嘴6-1,6-2被同时抬起。虽然在图8中做了省略,但图4所示的容器检测器104、射频识别读写器103分别对应于试剂容器101-1,101-2而设置。试剂容器更换流程也与图7A、图7B所示的流程相同,在用户更换了一个以上的试剂容器,且所有试剂容器的射频识别信息都正常的情况下,通过由锁定解除机构302解除喷嘴支撑部203的锁定,使得吸引喷嘴6-1,6-2分别向试剂容器101-1,101-2内的规定的吸引位置移动。在图8中,列举了关于两个试剂容器的例子,但也可以是3个以上。
根据本结构,用户能够通过一次的喷嘴支撑部203的升降动作,同时进行必要量的试剂容器更换作业,从而能够提高更换作业的效率。另外,在试剂容器设置部502中收纳有多个相同试剂的试剂容器,当一个试剂容器的试剂余量变少时能够切换使用的分析装置中,也可以将锁定解除条件设定为:即使并非所有位置上都载置有正常的试剂,也满足每一样分析所需的试剂都至少有一个被正常地载置。通过将正确地载置了必要的试剂且没有载置异常的试剂作为锁定解除条件,能够防止吸引喷嘴6与不适当的试剂接触。
实施例3
如图8所示,在试剂容器设置部502中并排配置多个试剂容器的结构能够紧凑地构成试剂容器设置部,从而能够如作为实施例2说明的那样提高更换作业的效率。如图1所示,在电解质分析装置的情况下,由于使用内部标准液、稀释液、比较电极液这3种试剂,因此作为实施例3,对载置这3种试剂容器的试剂容器设置部502的结构进行研究。由于试剂容器的更换是人工进行的,因此在更换作业中,由于试剂从吸引喷嘴的飞散、液体从试剂容器的吸引口的溢出等,而无法将发生污染的风险降为零。特别是如果将多个试剂容器相接近地并排载置,则容易因用户的作业失误而引起污染。但是,在电解质分析装置的试剂的情况下,即使内部标准液、稀释液产生一些试剂的飞散,大部分情况下其影响也能够忽视。与此相对,比较电极液与内部标准液、稀释液相比含有高浓度的离子,因此需要更严格地管理污染的风险。
图9A、图9B是载置3个试剂容器的试剂容器设置部502的结构例(第3结构例),是特别适用于使用浓度较低的两个试剂和浓度较高的一个试剂的电解质分析装置的结构。图9A是俯视图,图9B是从图9A所示的箭头方向观察的侧视图。另外,在图9A中省略了手柄202的显示。
本结构能够以降低污染风险的方式载置浓度较低的稀释液、标准液和浓度较高的比较电极液这3种试剂容器。具体而言,作为并排设置的试剂容器101-1,101-2,载置稀释液瓶、内部标准液瓶,在通过试剂容器架台204与它们隔离的位置,作为试剂容器101-3,载置比较电极液瓶。因此,在将3个试剂容器载置于图9A、9B所示的试剂容器设置部时,试剂容器架台204介于稀释液瓶的试剂吸引口110或内部标准液瓶的试剂吸引口110与比较电极液瓶的试剂吸引口110之间。另外,提起手柄202的状态是与图5A相同的状态,在锁定了喷嘴支撑部203的状态下,试剂容器架台204介于稀释液用吸引喷嘴6的前端或内部标准液用吸引喷嘴6的前端与比较电极液用吸引喷嘴6的前端之间。由此,即使在更换作业中发生试剂从比较电极液用吸引喷嘴6-3的前端飞散、液体从试剂容器(比较电极液瓶)101-3的试剂吸引口溢出等的情况下,试剂容器架台204也起到隔壁的作用,能够将从比较电极液瓶向其他试剂容器的混入风险抑制得较低。而且,如果喷嘴支撑部203为图8所示的板状,则在喷嘴支撑部203被提起的状态下进行试剂容器的更换,因此喷嘴支撑部203也能够起到隔壁的作用。
此外,作为仅比较电极液改变试剂容器的设置方向所带来的辅助效果,例如在用户更换全部3种试剂容器的情况下,对于相邻载置的稀释液瓶以及标准液瓶,能够容易地用双手分别把持并同时取下。这样,对于污染风险低的这些试剂,能够进行有效的作业。另一方面,对于污染风险高的比较电极液瓶,则为促使仅单个更换该试剂容器的配置。通过使污染风险高试剂容器的更换定时与其他试剂容器的更换定时错开,能够降低试剂容器更换中的试剂飞散引起的污染风险。
另外,试剂容器101的形状可以看作上表面为长方形的长方体形状(不妨碍在试剂容器上设置倒角、凹凸),其试剂吸引口110配置在比上表面的中心位置更靠近短边侧的位置。由此,如图8、图9A所示,即使在将试剂容器沿长度方向排列的情况下,也能够将从喷嘴支撑部203到试剂吸引口110的距离保持得较短。另外,利用试剂吸引口110靠近端部(短边侧)的情况,为了使用户能够容易地保持试剂容器,优选在容器上表面的空白空间设置试剂容器的把手。
另外,在图9A,图9B所示的试剂容器设置部中,以改变并列设置有多个试剂容器101-1,101-2的朝向和与它们隔着试剂容器架台204而载置的试剂容器101-3的朝向的方式进行载置。即,试剂容器101-1,101-2以其上表面的短边分别与试剂容器架台的规定的一面相对的方式设置,试剂容器101-3以其上表面的长边与试剂容器架台的规定的一面的背面相对的方式载置。由此,能够使试剂容器设置部整体变得紧凑,另外,如图9A所示,能够将各试剂容器101-1~101-3的试剂吸引口110-1~101-3配置在距喷嘴支撑部203的中心同等的距离处。此时,与例如将3个试剂容器在同一方向上并排设置的配置布局相比,能够得到使各试剂的吸引喷嘴的长度(插入试剂容器的吸引喷嘴的前端以及与构成流路的配管连接的吸引喷嘴的端部之间的长度)一致、或将与喷嘴6连接的可动(灵活)流路部集中在一处的效果。
在图9A,图9B的结构中,也与图8的结构同样,关于锁定解除条件,优选控制为在所有必要的试剂备齐的情况下才实施锁定解除。例如,也可以在试剂容器设置部的试剂容器的载置位置附近设置LED指示灯等,通过需要更换的试剂容器的LED的点亮/闪烁/熄灭来通知用户。
但是,能够收容在试剂容器中的试剂的量越多,越能够减少试剂容器的更换次数,效率越高。因此,优选试剂容器的高度与试剂容器设置部502、壳体500的开口部503的高度一致地尽可能高(参照图3)。或者,为了使装置紧凑,优选根据试剂容器的高度尽可能地降低试剂容器设置部502、壳体500的开口部503的高度。在此,在试剂容器设置部502中,如果喷嘴支撑部203被锁定的状态为图5A的状态,且试剂容器101的高度比图5A的状态更高,则在进行试剂容器更换时,试剂容器101和吸引喷嘴前端6a变得容易接触,或者不得不使试剂容器101倾斜而载置在载置位置,从而增加污染的风险。图10表示与这样的课题对应的试剂容器设置部502的第4结构例(俯视图)。图10中示出了将喷嘴支撑部(801,811)从试剂容器架台204拉出并锁定的状态。
在图10所示的试剂容器设置部502中,在将试剂容器101载置于基板205上时,试剂吸引口110的上端成为比试剂容器架台204的上端稍低的高度。即,设想到了放置试剂容器设置部502的容积所允许的尽可能大容量的试剂容器。在这种情况下,为了使吸引喷嘴前端6a与试剂容器101的试剂吸引口110的上端之间能够具有规定的距离ε(参照图5A),在图10的结构中,将喷嘴支撑部203构成为包括多段支柱801,811。此外,在喷嘴支撑部203被锁定机构301锁定的状态下,吸引喷嘴前端6a的位置位于试剂容器架台204的上端附近或上端以上的情况下,有可能因吸引喷嘴前端6a的振动而产生污染。因此,将喷嘴支撑部203的多段(图中为两段)支柱中的下段支柱811设为板状,具有抑制污染的产生的遮蔽板的功能。如图10所示,在喷嘴支撑部203被锁定的状态下,连接吸引喷嘴前端6a-1和吸引喷嘴前端6a-3的第1线、以及连接吸引喷嘴前端6a-2和吸引喷嘴前端6a-3的第2线都成为被下段支柱(遮蔽板)811遮蔽的状态。由此,即使在试剂容器更换作业中发生试剂从比较电极液用吸引喷嘴6-3飞散、液体从试剂容器(比较电极液瓶)101-3的试剂吸引口溢出等的情况下,除了试剂容器架台204之外,下段支柱(遮蔽板)811也起到隔壁的作用,从而能够将比较电极液从比较电极液瓶向其他试剂容器混入的风险抑制得较低。
另外,吸引喷嘴端部6b-1~6b-3均设置为靠近手柄202的中心附近,并连接有构成各自的流路的柔软的树脂制的管。
图11表示适用于图10的试剂容器设置部502的喷嘴支撑部203的结构例。图中示出了(a)平常时和(b)锁定时。喷嘴支撑部203具有上段第1支柱801和下段第2支柱(以下称为遮蔽板)811。在遮蔽板811上,在其上侧设有带阻尼功能的带轮814,在其下侧设有带轮815,在两者之间悬挂有带816。通过第1带保持部813a将第1支柱801与带816连接,通过第2带保持部813b将试剂容器架台204与带816连接,由此联动地将第1支柱801以及遮蔽板811提起。另外,第1带保持部813a与第1直线导轨812a卡合,第2带保持部813b与第2直线导轨812b卡合,由此能够稳定地进行喷嘴支撑部203的升降动作。另外,关于带阻尼功能的带轮814的阻尼功能,优选为仅在下降时产生转矩的功能。由此,在手动进行上升动作时能够减少用户的负荷。
通过这样构成喷嘴支撑部,能够使喷嘴支撑部203的移动行程H大于平时的试剂容器设置部502的高度h。这样,即使试剂容器设置部502的高度相当于试剂容器,也能够使吸引喷嘴前端充分地从试剂容器脱离,进而,能够通过使至少下段支柱具有遮蔽板的功能,来抑制污染的产生。
符号说明
1:离子选择电极,2:比较电极,3:内部标准液瓶,4:稀释液瓶,5:比较电极液瓶,6:吸引喷嘴,6a:吸引喷嘴前端,6b:吸引喷嘴端部,7:脱气机构,8:内部标准液注射器,9:稀释液注射器,10:运送注射器,11:稀释槽,12:预热器,13:运送喷嘴,14:样品探针,15:样品容器,16:过滤器,17,18,19,20,21,22,30,31,32:电磁阀,23:夹管阀,24:稀释液喷嘴,25:内部标准液喷嘴,26:第1废液喷嘴,27:电压计,28:放大器,29:控制装置,33:真空泵,34:真空瓶,35:废液接收器,101:试剂容器,102:射频识别标签,103:射频识别读写器,104:容器检测器,110:试剂吸引口,202:手柄,203:喷嘴支撑部,203a:引导部,203b:锁定用凹部,204:试剂容器架台,205:基板,301:锁定机构,302:锁定解除机构,303:电源装置,500:壳体,501:导轨,502:试剂容器设置部,503:开口部,601:固定侧基座,602:可动侧基座,603:轴承,604:弹簧,611:螺线管,621,622,623:方向,801:第1支柱,811:第2支柱(遮蔽板),812a,812b:直线导轨,813a,813b:带保持部,814:带阻尼功能的带轮,815:带轮,816:带。

Claims (13)

1.一种电解质分析装置,其特征在于,具有:
基板,其设置有试剂容器;
吸引喷嘴,其从所述试剂容器吸引试剂;
喷嘴支撑部,其与所述吸引喷嘴结合,并能够在试剂容器更换位置和试剂吸引位置之间移动;
锁定机构,其与移动到所述试剂容器更换位置的所述喷嘴支撑部嵌合,将所述喷嘴支撑部固定在所述试剂容器更换位置;以及
锁定解除机构,其在供给了电力的状态下,能够解除所述喷嘴支撑部与所述锁定机构的嵌合,
在所述试剂容器满足第1条件时,通过所述锁定解除机构被控制为解除所述喷嘴支撑部与所述锁定机构的嵌合,从而所述喷嘴支撑部移动到所述试剂吸引位置。
2.根据权利要求1所述的电解质分析装置,其特征在于,
在所述试剂容器更换位置,所述吸引喷嘴的前端与所述试剂容器的试剂吸引口之间具有规定的距离,
在所述试剂吸引位置,所述吸引喷嘴插入所述试剂容器。
3.根据权利要求1所述的电解质分析装置,其特征在于,
所述喷嘴支撑部无论有无电力供给,都能够从所述试剂吸引位置向所述试剂容器更换位置移动。
4.根据权利要求1所述的电解质分析装置,其特征在于,具有:
试剂容器设置部,其包含所述基板、所述吸引喷嘴、所述喷嘴支撑部、所述锁定机构及所述锁定解除机构;
电源装置,其向所述试剂容器设置部供给电力;以及
控制装置。
5.根据权利要求4所述的电解质分析装置,其特征在于,
所述第1条件是所述试剂容器中收容的试剂正常。
6.根据权利要求5所述的电解质分析装置,其特征在于,
所述试剂容器设置部具备信息读取器,
在所述试剂容器上粘贴有存储与所收容的试剂有关的信息的信息记录介质,
所述信息读取器在所述试剂容器设置在所述基板的状态下,读取与所述信息记录介质中存储的收容在所述试剂容器中的试剂有关的信息,
所述控制装置根据由所述信息读取器读取的所述信息来判定是否满足所述第1条件。
7.根据权利要求6所述的电解质分析装置,其特征在于,
所述信息记录介质是射频识别标签,所述信息读取器是射频识别读写器。
8.根据权利要求6所述的电解质分析装置,其特征在于,
所述试剂容器设置部具备容器检测器,
当通过所述容器检测器新检测到所述试剂容器时,所述信息读取器读取粘贴在所述试剂容器的所述信息记录介质的所述信息。
9.根据权利要求4所述的电解质分析装置,其特征在于,
在所述基板能够设置多个试剂容器,
在所述喷嘴支撑部结合有多个吸引喷嘴,
在所述多个试剂容器满足第2条件时,通过所述锁定解除机构被控制为解除所述喷嘴支撑部与所述锁定机构之间的嵌合,从而所述喷嘴支撑部移动到所述试剂吸引位置,
所述多个吸引喷嘴分别插入对应的所述多个试剂容器。
10.根据权利要求9所述的电解质分析装置,其特征在于,
所述第2条件是通过设置在所述基板的所述多个试剂容器,正常地设置分析所需的试剂。
11.根据权利要求10所述的电解质分析装置,其特征在于,
所述试剂容器设置部具备与所述多个试剂容器对应的多个信息读取器,
在所述多个试剂容器中的每一个试剂容器上粘贴有存储与所收容的试剂有关的信息的信息记录介质,
所述控制装置根据由所述多个信息读取器读取的所述信息来判定是否满足所述第2条件。
12.根据权利要求1所述的电解质分析装置,其特征在于,
所述吸引喷嘴由金属制的管构成。
13.根据权利要求4所述的电解质分析装置,其特征在于,
具有壳体,
所述试剂容器设置部在所述喷嘴支撑部位于所述试剂吸引位置的状态下收纳在所述壳体中,在从所述壳体被拉出的状态下,能够将所述喷嘴支撑部从所述试剂吸引位置向所述试剂容器更换位置移动。
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Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112654872A (zh) * 2018-10-31 2021-04-13 株式会社日立高新技术 电解质分析装置
CN114930173A (zh) * 2020-01-06 2022-08-19 株式会社日立高新技术 电解质分析装置
US20230349941A1 (en) 2020-09-29 2023-11-02 Hitachi High-Tech Corporation Automatic Analyzer
CN116745606A (zh) 2021-02-18 2023-09-12 株式会社日立高新技术 电解质分析装置

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004163319A (ja) * 2002-11-14 2004-06-10 Sysmex Corp 液体容器ユニットおよび接続機構
US20050074363A1 (en) * 2003-07-18 2005-04-07 Dunfee William David Liquid sampling probe and cleaning fluidics system
CN102066949A (zh) * 2008-06-17 2011-05-18 株式会社日立高新技术 自动分析装置
CN102207510A (zh) * 2010-03-30 2011-10-05 希森美康株式会社 检测体分析装置
CN106133527A (zh) * 2013-11-26 2016-11-16 株式会社日立高新技术 自动分析装置

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4861553A (en) * 1987-06-11 1989-08-29 Technicon Instruments Corporation Automatic sampling system
JP2692413B2 (ja) * 1991-04-26 1997-12-17 株式会社日立製作所 自動分析装置およびそれに用いる試薬取扱方法
JP4851266B2 (ja) 2006-06-30 2012-01-11 シスメックス株式会社 試料分析装置
JP2008216173A (ja) 2007-03-07 2008-09-18 Toshiba Corp 自動分析装置
JP2011102705A (ja) * 2009-11-10 2011-05-26 Hitachi High-Technologies Corp 自動分析装置
EP2541255B1 (en) 2010-02-26 2020-10-14 Sysmex Corporation Analysis device
JP5808634B2 (ja) 2011-09-30 2015-11-10 シスメックス株式会社 検体処理装置
JP6622665B2 (ja) * 2016-07-26 2019-12-18 株式会社日立ハイテクノロジーズ 電解質濃度測定装置

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004163319A (ja) * 2002-11-14 2004-06-10 Sysmex Corp 液体容器ユニットおよび接続機構
US20050074363A1 (en) * 2003-07-18 2005-04-07 Dunfee William David Liquid sampling probe and cleaning fluidics system
CN102066949A (zh) * 2008-06-17 2011-05-18 株式会社日立高新技术 自动分析装置
CN102207510A (zh) * 2010-03-30 2011-10-05 希森美康株式会社 检测体分析装置
US20110244557A1 (en) * 2010-03-30 2011-10-06 Yuichi Hamada Sample analyzer and non-transitory storage medium
CN106133527A (zh) * 2013-11-26 2016-11-16 株式会社日立高新技术 自动分析装置

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