CN111742390A - 电荷检测质谱分析 - Google Patents

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Abstract

本文公开了用于执行电荷检测质谱分析(CDMS)的各种方法和设备。具体地说，公开了用于监测来自CDMS装置的检测器信号以确定所述CDMS装置的离子阱(10)中存在多少个离子的技术。例如，如果不存在离子，则可以提前终止测量。类似地，如果存在多于一个离子，则可以提前终止所述测量，或者可以从所述阱(10)中移除离子，直到留下仅单个离子。还提供了用于增加所述阱(10)中有单个离子的概率的技术。还提供了一种用于衰减离子束的技术。

Description

电荷检测质谱分析
相关申请的交叉引用
本申请要求于2018年2月22日提交的英国专利申请第1802917.3号的优先权和权益。此申请的全部内容通过引用的方式并入本文。
技术领域
本发明总体上涉及质谱分析的方法，并且具体地涉及用于执行电荷检测质谱分析的方法和装置。还提供了一种用于衰减离子束的方法和装置。
背景技术
电荷检测质谱分析(CDMS)是其中单个离子的质量通过同时测量质荷比(m/z)和所述离子的电荷来确定的一种技术。因此，此方法可以避免对解析与传统质谱分析方法相关的多个电荷状态的需要，尤其是在使用电喷雾离子化的情况下。CDMS技术的实例在Keifer等人“具有几乎完美的电荷准确度的电荷检测质谱分析(Charge Detection MassSpectrometry with Almost Perfect Charge Accuracy)”,《分析化学(Anal.Chem.)》2015,87,10330-10337(DOI:10.1021/acs.analchem.5b02324)中描述。
发明内容
根据第一方面，提供了一种电荷检测质谱分析的方法，所述方法包括：在电荷检测质谱分析装置的离子阱内监测在第一离子捕获事件期间来自所述电荷检测质谱分析装置的电荷检测器的检测器信号，以确定在所述第一离子捕获事件期间所述离子阱内存在多少个离子。
所述方法可以进一步包括：当确定在所述第一离子捕获事件期间所述离子阱内不存在离子时，终止所述第一离子捕获事件和/或发起第二离子捕获事件。
所述方法可以另外或可替代地包括：当确定在所述第一离子捕获事件期间所述离子阱内存在多于一个离子时，终止所述第一离子捕获事件和/或发起第二离子捕获事件。
在实施例中，当确定在所述第一离子捕获事件期间所述离子阱内存在多于一个离子时，所述方法可以包括从所述离子阱中喷射或以其它方式移除所述离子中的一个或多个离子。例如，所述方法可以包括从所述离子阱中喷射或以其它方式移除所有所述离子，并且发起第二离子捕获事件。然而，还设想的是，所述方法可以包括从所述离子阱中喷射或以其它方式移除少于所有所述离子。例如，所述方法可以包括从所述离子阱中喷射或以其它方式移除所述离子中的一个或多个离子，使得(或直到)仅单个离子留在所述离子阱内。
例如，可以基于由所述电荷检测质谱分析装置记录在图谱中的质量数量和/或基于由所述电荷检测质谱分析装置检测到的总电荷来确定所述电荷检测质谱分析装置的所述离子阱内存在的离子的数量。在实施例中，通过分析来自电荷检测器的瞬变检测器信号来确定离子阱内存在的离子的数量。例如，在实施例中，可以在小于约1秒的发起离子捕获事件的时间内，如在约0.5秒内进行确定。在实施例中，可以在0.2秒内或在0.1秒内进行确定。
在第一方面的方法的实施例中的任何一个实施例中，所述方法通常使用电荷检测质谱分析装置来执行。电荷检测质谱分析装置通常可以包括用于容纳待分析的一个或多个离子的离子阱以及位于离子阱内的用于确定待分析的一个或多个离子的电荷的(至少一个)电荷检测器。电荷检测器可以包括一个或多个电荷检测电极。电荷检测质谱分析装置还可以包括用于处理例如从电荷检测器获得的信号的控制电路系统。电荷检测质谱分析装置通常可以包括质谱仪的一部分。因此，质谱仪的各种离子引导或操纵组件可以设置在电荷检测质谱分析装置的上游和/或下游。
因此，根据第二方面，提供了一种电荷检测质谱分析装置，其包括：离子阱，所述离子阱用于容纳待分析的一个或多个离子；在所述离子阱内的一个或多个电荷检测器，所述一个或多个电荷检测器用于确定所述待分析的一个或多个离子的电荷；以及控制电路系统，所述控制电路系统用于监测在第一离子捕获事件期间来自所述一个或多个电荷检测器的检测器信号，以确定在所述第一离子捕获事件期间所述离子阱内存在多少个离子。
在不相互矛盾的程度上，在第二方面中的本发明可以包含关于本发明的第一方面描述的任何一个或所有特征，并且反之亦然。因此，即使在本文中没有明确陈述，所述装置也可以包括用于执行本文描述的方法或发明的步骤中的任何一个步骤的适合的构件或电路系统。
具体地说，当确定在所述第一离子捕获事件期间所述离子阱内不存在离子时，所述控制电路系统可以被配置成终止所述第一离子捕获事件和/或发起第二离子捕获事件。
另外或可替代地，当确定在所述第一离子捕获事件期间所述离子阱内存在多于一个离子时，所述控制电路系统可以被配置成终止所述第一离子捕获事件和/或发起第二离子捕获事件。
在实施例中，当确定在所述第一离子捕获事件期间所述离子阱内存在多于一个离子时，所述控制电路系统可以被配置成从所述离子阱中喷射或以其它方式移除所述离子中的一个或多个离子。例如，控制电路系统可以使所有离子从离子阱中喷射或以其它方式被移除，并且然后发起第二离子捕获事件。然而，还设想的是，可以从离子阱中喷射(移除)少于所有离子。例如，控制电路系统可以被配置成从离子阱中喷射或以其它方式移除离子中的一个或多个离子，使得仅单个离子留在离子阱内。
可以使用适合的信号处理电路系统来确定电荷检测质谱分析装置的离子阱内存在的离子的数量。信号处理电路系统可以例如被配置成基本上实时地分析(瞬变)信号，以确定在第一离子捕获事件期间离子阱内存在多少个离子。
在实施例中，离子阱的几何形状可以被配置成使得当存在多于一个离子时，离子轨迹变得不稳定，从而引起除了一个离子之外的所有离子的喷射。以这种方式，当在第一离子捕获时段期间离子阱内存在多于一个离子时，离子阱可以被配置成自然地喷射一个或多个离子。
在实施例中，提供了多个电荷检测质谱分析装置。每个电荷检测质谱分析装置可以包括离子阱和一个或多个电荷检测器，并且因此每个电荷检测质谱分析装置可以能够执行独立的测量。然后多个电荷检测质谱分析装置可以用于执行同时或并行测量。
例如，在一些实施例中，多个此类电荷检测质谱分析装置可以布置在离子引导器内。可替代地考虑的是，可以提供一种电荷检测质谱分析装置，所述电荷检测质谱分析装置包括定位在离子引导器内的多个离子阱或离子捕获区域，每个离子阱或离子捕获区域具有相关联的一个或多个电荷检测器。
在这种情况下，电荷检测质谱分析装置可以被布置成增加在离子阱(或捕获区域)内(仅)有单个离子的可能性。例如，离子阱中的每个离子阱可以被配置成使得当存在多于一个离子时，离子轨迹变得不稳定，从而引起除了一个离子之外的所有离子的喷射。同时，离子引导器可以提供离子的整体(径向)限制。因此，当将多个离子注入到离子引导器中时，由于空间电荷效应，离子可以自然地将自身分布在多个离子阱(捕获区域)之间，并且在实施例中，使得在离子阱(捕获区域)中的任何一个离子阱(捕获区域)中存在不多于一个离子。
上述第一方面的方法可以在此设备内实施。在所述情况下，所述方法可以包括监测来自电荷检测质谱分析装置中的每个(或任何一个)电荷检测质谱分析装置的检测器信号，以确定每个(或一个)离子阱内存在多少个离子。然而，据信此设备凭借其自身特性而具有新颖性和创造性。
因此，根据另外的方面，提供了一种电荷检测质谱分析装置，其包括：离子引导器，所述离子引导器用于限制多个离子，其中所述离子引导器包括多个离子阱，并且其中每个离子阱的几何形状被配置成使得当存在多于一个离子时，离子轨迹变得不稳定，从而引起除了一个离子之外的所有离子从所述离子阱喷射，使得当多个离子传递到所述电荷检测质谱分析装置时，所述多个离子将自身分布在所述多个离子阱之间，使得在所述离子阱中的任何一个离子阱中存在不多于一个离子。离子引导器可以包括任何适合的离子引导器。例如，在实施例中，离子引导器可以包括堆叠环离子引导器，但是其它布置当然将是可能的。根据相关方面，提供了一种电荷检测质谱分析的方法，所述方法包括：将待分析的多个离子传递到根据此另外的方面的电荷检测质谱分析装置。
在一些实施例中，可以使用多个独立的电荷检测质谱分析装置，每个电荷检测质谱分析装置包括离子阱和一个或多个电荷检测器。然后可以提供如透镜或束分离器装置等上游离子光学装置，以将待分析的多个离子选择性地或顺序地传递到电荷检测质谱分析装置的相应的离子阱。因此，此布置可以允许执行复用(交错)测量，从而提高占空比。这可以与第一方面的方法或上述另外的方面的设备组合使用。即，可以监测来自多个电荷检测质谱分析装置中的每个电荷检测质谱分析装置的检测器信号，以确定每个装置内存在多少个离子。然而，还据信此设备凭借其自身特性而具有新颖性和创造性。
因此，根据又一个方面，提供了一种电荷检测质谱分析设备，其包括：多个电荷检测质谱分析装置；以及离子光学装置，所述离子光学装置用于将待分析的相应的多个离子选择性地或顺序地传递到所述多个电荷检测质谱分析装置。每个电荷检测质谱分析装置包括离子阱和一个或多个电荷检测器，所述一个或多个电荷检测器用于检测离子阱内的离子，使得每个离子阱能够执行独立的测量。离子光学装置可以与电荷检测质谱分析装置分开地设置并且设置在所述电荷检测质谱分析装置的上游。然而，还设想的是，可以将离子光学装置整合为单电荷检测质谱分析装置的一部分，所述单电荷检测质谱分析装置包括多个离子阱以及用于将待分析的相应的多个离子选择性地或顺序地传递到多个离子阱的离子光学装置。根据相关方面，提供了一种电荷检测质谱分析的方法，所述方法包括：将多个离子选择性地或顺序地传递到相应的多个离子阱，使得将单个离子传递到离子阱中的每个离子阱；以及在相应的离子阱内分析离子。
在实施例中，多个电荷检测质谱分析装置可以以微制造阵列的形式配置。以这种方式，可以提供数百个并行工作的装置，从而允许以高得多的速率产生图谱。根据用于填充阱的机理，每个阱然后可以容纳零个、一个或多于一个离子。在所述情况下，可以丢弃来自容纳零个或多个离子的阱的数据。因此，在实施例中，并行地提供多个电荷检测质谱分析装置，并且然后在信号处理期间可以丢弃来自给出无信号(无离子)或不良信号(多个离子)的任何装置的测量值。
在实施例中，一个或多个电荷检测质谱分析装置用于测量单个离子。例如，在第一方面的实施例中，如上所述，当检测到不是这种情况时，可以终止测量，或者相应地调节装置操作。因此，实施例涉及单离子电荷检测质谱分析的方法。然而，在其它实施例中，可以使用单电荷检测质谱分析装置同时测量多个离子。即，在电荷检测质谱分析装置的单个离子阱内可以同时存在多个离子。在这种情况下，为了最小化离子之间的干扰，离子阱几何形状和电场可以被布置成使得离子轨迹远离电荷检测器岔开，使得当离子阱内同时存在多个离子时，离子在其移动远离电荷检测器时彼此岔开。即，当离子未正穿过或未正经过电荷检测器时，离子的轨迹使得离子可以彼此分开。例如，离子轨迹可以限定“哑铃”或“H”形，使得所有离子可以穿过中央电荷检测器，但是然后当它们移动远离电荷检测器时而散开。以这种方式，可以减小空间电荷相互作用的影响。例如，电荷检测器可以定位在阱的中央中，其中离子轨迹被设置成使得离子在其穿过电荷检测器时具有最大速度。然而，在远离离子检测器的情况下，在轨迹的离子移动相对较慢并且因此最容易受到空间电荷效应的影响的极端处，轨迹可以被设计成使离子彼此远离。
因此，根据又一个方面，提供了一种电荷检测质谱分析装置，其包括：离子阱，所述离子阱用于容纳待分析的一个或多个离子；以及在所述离子阱内的电荷检测器，所述电荷检测器用于确定所述待分析的一个或多个离子的电荷，其中所述离子阱被配置成使得离子轨迹远离所述电荷检测器岔开，使得当所述离子阱内同时存在多个离子时，所述离子远离所述电荷检测器彼此散开，以减少所述多个离子之间的空间电荷相互作用。
根据上述方面或实施例中的任何一个方面或实施例的一个或多个电荷检测质谱分析装置通常可以包含一个或多个电荷检测器电极。在一些实施例中，仅提供单个电荷检测器，所述单个电荷检测器可以包括例如呈金属圆筒形式的单个电极。然而，其它布置当然将是可能的。例如，在其它实施例中，电荷检测质谱分析装置可以包括多个电荷检测器(每个电荷检测器包括一个或多个电极)。
根据又一个方面，提供了一种电荷检测质谱分析装置，其包括：离子阱，所述离子阱用于容纳待分析的一个或多个离子；以及在所述离子阱内的多个电荷检测器，所述多个电荷检测器用于确定所述待分析的一个或多个离子的电荷。离子阱可以具有多程几何形状，或者可以具有循环或折叠的飞行路径几何形状。
在实施例中，根据本文所述的方面中的任何一个方面，可以将基本上二次电势施加到电荷检测质谱分析装置的一个(或多个)离子阱，使得离子在离子阱内经历基本上谐波运动。
实际上，根据另一个方面，提供了一种电荷检测质谱分析装置，其包括：离子阱，所述离子阱用于容纳待分析的一个或多个离子；以及在所述离子阱内的一个或多个电荷检测器，所述一个或多个电荷检测器用于确定所述待分析的一个或多个离子的电荷，其中将基本上二次电势施加到所述离子阱，使得离子在所述离子阱内经历基本上谐波运动。
在实施例中，可以使用正向拟合和/或贝叶斯信号处理技术处理从电荷检测质谱分析装置获得的信号。实际上，根据另一个方面，提供了一种电荷检测质谱分析的方法，所述方法包括：从电荷检测质谱分析装置的电荷检测器获得一个或多个信号；以及使用正向拟合和/或贝叶斯信号处理技术处理所述一个或多个信号，以提取所述电荷检测质谱分析装置内的一个或多个离子的电荷值。
离子束可以在被传递到根据上述方面或实施例中的任何一个方面或实施例的电荷检测质谱分析装置之前被衰减。以这种方式，可以控制(减少)传递到电荷检测质谱分析装置中的离子通量，以降低在单个离子捕获事件期间给定阱中存在多于一个离子的可能性。可以使用任何适合的离子束衰减装置。然而，在实施例中，离子束衰减装置包括多个离子束衰减器，所述多个离子束衰减器各自可操作以传输基本上100％的离子(高传输(或低衰减)状态)或传输基本上0％的离子(低传输(或高衰减)状态)。
每个离子束衰减器可以被布置成在高离子传输状态与低离子传输状态之间交替切换，使得有效地切断穿过离子束衰减器的连续离子束以产生不连续的衰减离子束。然后，可以通过使衰减离子束穿过气体填充区域(如离子引导器或者通常是气室)，使所得衰减离子束均质化并转换回基本上连续的离子束，在所述气体填充区域中，离子与气体分子之间的相互作用使离子以分散方式有效散开。
为了改善衰减，可以串联设置多个离子束衰减器，其中从每个离子束衰减器输出的衰减离子束穿过相应的一个(或多个)气体填充区域，以便产生基本上连续的离子束，以输入到系列中的下一个离子束衰减器(以此类推，其中提供了多于两个离子束衰减器)，从而产生多个衰减输出。
多个离子束衰减器可以以一个或多个离子束衰减器和一个或多个气体填充区域(气室)的交替顺序一个接一个地连续布置。然而，其它布置当然将是可能的。
以这种方式，进入的离子束因此可以在其穿过一系列离子束衰减器时容易地衰减，以可靠地产生非常低的通量。应当理解，此离子束衰减装置还可以用于其它应用，并且不限于与电荷检测质谱分析检测装置组合使用。例如，存在可能期望可靠地减少离子通量的各种应用。一般来说，离子束衰减装置可以用于期望可控制地减少离子通量的任何实验中。例如，离子束衰减装置可以设置在任何适合的离子阱的上游，以避免过度填充阱。其具体实例可以是将离子提供给离子迁移分离装置的离子阱。作为另一个实例，离子束衰减装置可以被提供为检测器系统的一部分(或者可以设置在检测器系统的上游)以避免检测器饱和。另外的实例将是控制进入反应室的离子通量，以便优化离子-分子或离子-离子反应的效率。然而，各种其它布置当然将是可能的。
因此，根据又一个方面，提供了一种离子束衰减设备，其包括：第一离子束衰减器，所述第一离子束衰减器可在高离子传输模式或低离子传输模式下操作，以便选择性地衰减离子束，其中所述第一离子束衰减器的输出穿过第一气体填充区域；第二离子束衰减器，所述第二离子束衰减器可在高离子传输模式或低离子传输模式下操作，以便选择性地衰减离子束；以及控制电路系统，所述控制电路系统被配置成：将所述第一离子束衰减器在所述高离子传输模式与所述低离子传输模式之间反复切换，以在所述第一离子束衰减器的所述输出处产生第一非连续离子束，其中所述第一非连续离子束在到达所述第二离子束衰减器之前穿过所述气体填充区域并由此转换成基本上连续的离子束；并且将所述第二离子束衰减器在所述高离子传输模式与所述低离子传输模式之间反复切换，以在所述第二离子束衰减器的输出处产生第二非连续离子束。
根据相关方面，提供了一种衰减离子束的方法，所述方法包括：将所述离子束传递到第一离子束衰减器，并且将所述第一离子束衰减器在高离子传输模式与低离子传输模式之间反复切换，以在所述第一离子束衰减器的输出处产生第一非连续离子束；使所述第一非连续离子束穿过气体填充区域，以将第一衰减离子束转换成基本上连续的衰减离子束；将所述基本上连续的离子束传递到第二离子束衰减器，并且将所述第二离子束衰减器在高离子传输模式与低离子传输模式之间反复切换，以在所述第二离子束衰减器的输出处产生第二非连续离子束。
在实施例中，所述第二非连续离子束穿过第二气体填充区域并转换成基本上连续的衰减离子束。即，所述方法可以包括使第二衰减离子束穿过第二气体填充区域以产生基本上连续的衰减离子束。
所述第一离子束衰减器和/或所述第二离子束衰减器可以包括一个或多个静电透镜。所述一个或多个静电透镜可以包括一个或多个电极，其中可以通过改变施加到所述电极的一个或多个电压来使离子束衰减器的状态交替。然而，其它布置当然是可能的。例如，一个或多个离子束衰减器可以包括机械快门或机械离子束衰减器。可替代地，一个或多个离子束衰减器可以包括磁性离子门或磁性离子束衰减器。
来自每个离子束衰减器的输出可以穿过气体填充区域。通常，气体填充区域包括离子引导器或气室。因此，差动泵浦孔可以设置在气体填充区域的入口和/或出口处。
可以选择气体填充区域内的气体压力以及气体填充区域的长度，以在每个离子束衰减器之间使衰减离子束基本上完全转换成连续离子束。
第一离子束衰减器和第二离子束衰减器可以具有相同的衰减因子(并且可以以相同的频率交替)。可替代地，第一离子束衰减器和第二离子束衰减器可以提供不同的衰减因子。
当以这种方式使用多于一个离子束衰减器时，可以存在多于一种方式来实现期望的衰减水平。例如，如果需要使用两个透镜将强度衰减到1％，则可以将第一衰减器设置为1％，并且将第二衰减器设置为100％，或者反之亦然。可替代地，两个装置都可以以中间值操作，以给出1％的组合传输率。例如，第一离子束衰减器和第二离子束衰减器都可以以10％操作，或者离子束衰减器中的一个离子束衰减器以20％操作，离子束衰减器中的另一个离子束衰减器以5％操作，依此类推。由于衰减装置在长期使用期间可能会被污染，因此可能期望在第一离子束衰减器与第二离子束衰减器之间均匀地平衡衰减，或者定期更换最经常用于衰减的衰减器，以延长维护、清洁和/或替换之间的时段。因此，在实施例中，当期望提供目标总衰减时，所述方法可以包括以维持目标总衰减的方式调节由第一离子束衰减器和第二离子束衰减器提供的相对衰减。
根据另外的方面，提供了一种单离子电荷检测质谱分析的方法，其中实时分析信号并且将所述信号用于提前终止将不产生有用数据的捕获事件。例如，可以提前终止不容纳离子或存在超过最大数量的离子的捕获事件。
应当理解，至少在不相互矛盾的程度上，这些另外的方面中的任何一个方面中的本发明可以包含关于本发明的第一方面和第二方面描述的特征中的任何一个或所有特征，并且反之亦然。本领域技术人员还将理解，本文描述的本发明的所有描述的实施例可以适当地包含本文描述的特征中的任何一个或多个或所有特征。
附图说明
现将仅通过实例并且参考附图描述各个实施例，其中：
图1示意性地示出了可以在实施例中使用的单电荷检测质谱分析(CDMS)装置；
图2展示了当CDMS装置(如图1所示的CDMS装置)的离子阱内存在多于一个离子时，检测器信号可以如何变化；
图3示出了获得良好瞬变的速率如何随在其之后可以终止不需要的瞬变的时间而变化；
图4A和4B展示了可以如何衰减离子束；
图5示意性地示出了可以在实施例中使用的离子束衰减装置；
图6示出了用于将相应的离子选择性地或顺序地传递到多个CDMS装置的离子光学装置的使用；
图7示出了包括布置在离子引导器内的多个CDMS装置的设备；
图8示出了在单个离子阱内具有多个电荷检测器的CDMS装置的实例；并且
图9A、9B、9C和10展示了根据实施例可以用作CDMS装置的离子阱的SpiroTOF装置的操作。
具体实施方式
各个实施例涉及电荷检测质谱分析(CDMS)的方法。将理解的是，CDMS通常涉及同时测量离子的质荷比(m/z)和电荷(z)。以这种方式，然后可以(间接)确定离子的质量(m)。通常可以使用电荷检测电极直接测量离子的电荷。例如，当使离子穿过(或经过)电荷检测电极时，所述离子将在电荷检测电极上感应出电荷，所述电荷然后可以通过例如连接到电荷检测电极的适合的检测(信号处理)电路系统来检测。离子的质荷比通常可以以各种适合的方式确定。例如，质荷比可以根据CDMS装置内离子的飞行时间或离子速度(只要知道每个电荷的能量)来确定。因此，CDMS实验的各个实例是已知的，并且将理解的是，本文描述的实施例通常可以根据需要应用于任何适合的CDMS实验。
然而，通常，质荷比可以根据例如位于捕获场内的离子的振荡频率来确定。因此，CDMS装置通常可以包括离子阱，在所述离子阱内容纳待分析的离子。因此，在离散的“离子捕获事件”中对离子进行分析。因此，在每个离子捕获事件中，将离子阱打开以允许离子进入离子阱以进行分析。在离子捕获事件结束时，然后可以将那些离子喷射，并且发起新的离子捕获事件。
例如，在一些CDMS实验如在Keifer等人“具有几乎完美的电荷准确度的电荷检测质谱分析”,《分析化学》2015,87,10330-10337(DOI:10.1021/acs.analchem.5b02324)中描述的CDMS实验中，在离子阱中分析单个离子持续至多约三秒的时段。在Keifer等人描述的CDMS实验中，使离子反复穿过位于离子阱中央处的金属圆筒，所述金属圆筒连接到放大器和数字转换器。当离子位于圆筒的中央处时，圆筒上感应的电荷的量值等于离子上的电荷。
图1示意性地示出了根据一个实施例的单CDMS装置。如图1所示，所述装置包括呈圆锥形阱10形式的静电离子阱，所述圆锥形阱由一对间隔开的圆锥形电极10A、10B形成，可以向所述圆锥形电极施加适合的电场以便将离子限制在圆锥形阱10内。电荷检测器12设置在圆锥形阱10内，所述电荷检测器包括充当电荷检测电极的金属圆筒。一个或多个离子通过电荷检测器12的电极的移动产生指示一个或多个离子的电荷的信号。因此，可以将离子注入到圆锥形阱10中并且由此对所述离子进行限制(离子捕获事件)，并使所述离子在电荷检测器12的电极之间移动，以便执行CDMS测量。一旦已经执行了CDMS测量，就可以将当前位于圆锥形阱10内的任何离子喷射，并且发起新的离子捕获事件(通过注入一组新的离子)。
然而，其它布置当然将是可能的。因此，尽管图1示出了圆锥形阱10，但是应当理解，可以使用任何其它适合的离子阱。类似地，一个或多个电荷检测电极的任何适合的布置可以与此类离子阱组合使用。
因此，在经过良好校准的系统中，可以使用记录信号的幅度来测量离子上的电荷。然而，因为信噪比低，所以通常可能需要许多次离子通过以进行准确的电荷测量。例如，当前的现有技术仪器能够产生优于单位电荷分辨率的分辨率，使得可以精确地确定几乎所有捕获的离子上的电荷。阱中离子的振荡频率与其质荷比有关。尽管信号通常是明显非正弦的，但记录的瞬变的傅立叶变换允许测量质荷比(尽管分辨率较低)。综合起来，质荷比和电荷的测量允许确定离子的质量。
应当理解，此方法对于产生高分子量物质(如，在兆道尔顿及以上的范围内)的质谱可能特别有用，因为传统的(例如)电喷雾质谱在这种情况下可能难以解释，因为不同的电荷状态往往彼此之间难以分辨。然而，CDMS技术可能相对较慢。例如，通常可能需要成千上万个离子捕获事件来建立有用的质谱。因此，缩短产生图谱所需的时间的方法是特别有意义的。
现在将描述本公开的各个实例。
单个离子选择
在一些实施例中，可能期望选择单个离子(N＝1)用于分析以高效地操作CDMS装置。根据Kiefer等人描述的技术，将离子到达泊松分布的平均值设置为一个离子(在～0.5毫秒的填充时段内)。然而，这意味着在大多数情况下(～63％)，填充将导致无离子(N＝0)或多于一个离子(N>1)。当N＝0时，浪费了(较长的)采集时间(高达～三秒)。此外，当离子阱中容纳多于一个(N>1)离子时，由于空间电荷效应，信号可能会受到严重污染。
因此，在实施例中，可以实时监测检测器信号，并且如果在一段时间(例如，10毫秒或50毫秒或100毫秒)后信号处理表明N＝0或N>1，则可以提前终止当前采集并且开始新的填充事件，从而提高了吞吐量。例如，可以通过施加适合的电场以(迅速地)从CDMS装置中移除所有离子来终止采集。例如，通过移除捕获场和/或施加一个或多个喷射场，则可以将离子从阱中“喷射”(或以其它方式移除)并损失到系统中或与电极的碰撞中。
可替代地，在其它实施例中，当确定N>1时，可以激励阱中的离子以喷射N-1个离子(使得这些离子被损失，如上所述)，从而仅留下单个离子用于分析。这可以确定性地完成，或者可以执行另外的监测以检查仅留一个离子。应当理解，与开始新的填充事件相比，从阱中喷射离子可以是有利的，因为在所述情况下，成功率可以接近100％(而新填充通常将仅有37％的情况成功—即，新填充将有～63％的可能性导致无离子或多于一个离子)。
类似地，以这种方式，如果例如由于残留气体的散射或不稳定轨迹而在捕获时段期间损失了离子(使得N＝0)，则可以提前终止采集，从而允许新的填充事件。
因此，与固定的离子捕获时段用于CDMS测量(即使没有离子被测量或者其中存在损害信号的多个离子)的更常规的方法形成对比，在实施例中，如果信号处理表明N＝0或N>1，则可以提前终止离子捕获事件。可替代地，如果信号处理表明N>1，则可以调节CDMS装置的操作，直到N＝1。因此，可以基于对CDMS装置中存在多少个离子的确定来动态地控制所述装置。
可以使用任何适合的技术来监测检测器信号。例如，在一些实施例中，实时信号处理可以由一系列重叠变迹快速傅立叶变换组成。阱中存在的离子数量的估计可以例如基于图谱中存在的高于噪声阈值的质量数量，或检测到的总电荷，或这些的组合。
还设想了用于微调离子到达率以最大化N＝1的概率的实施例。例如，在一些实例中，一个或多个动态范围增强(DRE)透镜可以用于在宽动态范围内实时控制离子束的通量。例如，涉及多个DRE透镜的配置可以帮助在宽动态范围内实时控制离子束的通量，以帮助最大化N＝1个离子到达CDMS装置的概率，所述多个DRE透镜通过处于碰撞室压力下的用于束再合并的气体填充室分开。
在一些实施例中，代替当确定存在多于一个离子时从离子阱激励离子，离子阱本身可以被设计成使得当存在多于一个离子时，离子轨迹变得不稳定，从而引起除了一个离子之外的所有离子的喷射。换句话说，离子阱可以被设计为所谓的“泄漏性”单个离子阱。例如，这可以使用适当设计的几何形状和/或通过向离子阱施加一个或多个适当的电场来实现。在实施例中，一个或多个离子阱可以是美国专利第8,835,836号(MICROMASS)中描述的类型，其中一旦达到离子阱的电荷容量，由于库仑排斥而对离子施加的力使得过量的离子将泄漏或以其它方式从阱中射出。
离子阱—空间电荷效应
图2示出了一系列图谱，所述图谱通过分别在0.05秒、0.08秒、0.2秒和1秒后模拟在被配置用于CDMS的圆锥形阱中的具有100eV能量的两个相同离子的运动和检测所述两个相同离子而获得。瞬变以1.25MHz的速率采样。使用快速傅立叶变换(FFT)从原始瞬变获得图谱。离子的质量为100kDa并且电荷为100，因此其质荷比为1000Th。
具体地说，图2将离子彼此不相互作用时获得的理想数据与考虑实际空间电荷效应时获得的数据进行比较。理想数据基本上与针对单个离子所获得的数据相同，并且正如预期的，示出了分辨率随着时间的增加而稳定增加，其中峰以正确的质荷比为中心。另一方面，在两个离子能够相互作用的情况下，可以看出，即使在0.05秒之后，仍然存在与正确的质荷比的偏差，并且到0.08秒时，信号已分裂为两个不同的峰。到0.2秒时，这两个峰已经倒塌，并且到瞬变结束时(在1秒时)，数据被完全损坏。
通过在瞬变仍在进行的同时提供并分析这些数据，可以在0.08秒或甚至更早的时间内确定阱中是否存在多于一个离子。可以使用统计或贝叶斯模型比较(将存在一个峰的概率与两个峰或多于两个峰的概率进行比较)或假设检验，或者通过简单地对图谱的平滑版本中的峰进行计数，或者通过测量与单个峰的预期宽度相比的图谱在最大强度分数处的全宽，或者通过各种其它可能的方法来进行此确定。
在这种情况下，由于整个瞬变长度为1秒，因此在0.2秒之后终止捕获(允许120毫秒进行数据处理)节省了0.8秒的无用采集时间。
因此，图2示出了可以非常快速地识别离子阱何时容纳多于一个离子，以允许提前终止瞬变，或者允许控制离子阱以喷射一个或多个离子。显然，当不存在信号时，也可以非常快速地识别出这种情况，在这种情况下，也可以提前终止瞬变。
更一般地，如果整个瞬变时间为TL，并且瞬变在其不容纳离子或容纳多于一个离子的情况下在时间TS之后结束，则获得良好瞬变的速率为：
Figure BDA0002641614370000121
其中，λ是在阱填充时段期间进入阱的离子的平均数量。不管TL和TS的值如何，当λ＝1时，R良好被最大化，因此应优化供应阱的离子束的强度，以尽可能地获得此速率。对于λ＝1，
Figure BDA0002641614370000131
图3示出了对于TL＝1的固定值并且TS变化，R良好如何变化。对于TS＝0.2，以R良好＝0.74的速率获得良好的单个离子瞬变，所述速率是无法提前终止不良瞬变(即，TS＝TL＝1)时获得的速率的两倍以上。
高动态范围离子束衰减
如上所述，设想了用于在宽动态范围内实时控制离子束的通量以帮助最大化N＝1个离子到达CDMS装置的概率的实施例。然而，应当理解，存在期望以受控的、定量的、无偏置的方式降低离子束的强度的许多情形。即，衰减程度不应取决于m/z、离子迁移率、碎片或电荷减少的倾向或每种性质的相关范围内的任何其它离子特性。
例如，这可能期望避免由高离子通量引起的不希望的问题，包含阱(包含离子迁移率实验中使用的那些阱)的过度填充(导致离子的失控和偏置损失或不希望的碎片化)、空间电荷效应、检测器饱和(导致定量准确度、质量准确度和人为峰的损失)以及仪器内部表面的充电，所述仪器内部表面的充电在包含但不限于产生在涉及单一离子或少量离子的实验(如CDMS)中使用的受控低离子通量的一系列应用中导致离子的进一步损失或向前传输的离子束的变形。
当束以定量和无偏置的方式衰减后，通常可以通过简单地重新缩放或以其它方式调节讨论中的仪器产生的数据(例如，由质谱仪产生的质谱峰的强度)来恢复从原始未衰减束获得的理想信号的许多性质。
衰减程度在实验的持续时间内可以是恒定的，或者可以以预定方式变化，或者响应于从实验期间已经采集的数据中获得的信息(以数据相关方式)而变化。
束衰减还可以导致小信号的损失，所述小信号在衰减后降至检测阈值以下。由于这个原因，仪器可以利用不同程度的衰减在两种或更多种操作模式之间交替。然后，可以通过从衰减较小的数据中获取小信号并且从衰减较大的数据中获取较大信号来从两个或更多个数据集重建最终组合数据集。
美国专利第7,683,314号(MICROMASS)公开了离子束的衰减的方法，所述方法通过在其中传输率为基本上100％(对于时间ΔT2)的模式与其中传输率为基本上0％(对于时间ΔT1)的模式之间交替来操作。例如，这可以通过使减速电压交替以将离子束在两种状态之间反复切换来实现。
图4A示出了在此衰减步骤之后的理想束强度与时间的关系。由于所得束是不连续或切断的，所以可以操作位于离子引导器或气体碰撞室的上游的此装置，以便将其转换成已减小到其原始强度的分数ΔT2/ΔT1的基本上连续的束，如图4B所示。
然而，由于不可避免地需要有限的时间来使离子束完全响应于预期在接通状态与切断状态之间切换的电压变化，当接通状态的持续时间ΔT2变得太短时，没有足够的时间来在下一个电压变化之前恢复100％的传输率并且衰减不再是线性或定量的。另一方面，当时间间隔ΔT1变得与穿过下游气室或离子引导器的时间相当时，不再可能将束恢复到基本上连续的束。
这意味着此装置可以实现的定量衰减程度存在实际限制(例如，衰减到典型装置中原始强度的1％)。
根据本公开的实施例，提供了一种使用上述类型的两种衰减装置的衰减方法，所述两种衰减装置由气室或离子引导器分开，所述气室或离子引导器被设计成将离子束转换成基本上连续的束。
图5示出了根据一个实施例的衰减装置的实例。如所示出的，所述装置包含第一衰减装置50和相同类型的第二衰减装置52，所述第一衰减装置包括限定静电透镜的多个电极。第一衰减装置50和第二衰减装置52由第一离子引导器或气体碰撞室54分开。因此，进入的离子束可以被第一衰减装置50衰减(例如，根据类似于图4A所示的方案)。当切断的离子束穿过第一离子引导器或气体碰撞室54时，离子与气体分子的相互作用使离子散开，并且束被转换回基本上连续的束(如图4B所示)。束然后被传递到第二衰减装置52，在所述第二衰减装置处，束在穿过第二离子引导器或气体碰撞室56之前被再次衰减。
第一衰减装置50在完全传输模式(对于长度ΔTA2的时间段)与低传输模式(对于长度ΔTA1的时间段)之间交替。然后，通过随后的离子引导器或气体碰撞室54将所得束以其原始强度的分数ΔTA2/ΔTA1优先转换成基本上连续的束。类似地，第二衰减装置52分别以高传输和低传输时间段ΔTB2和ΔTB1操作，使得通过第二装置52的平均传输率为ΔTB2/ΔTB1。优先地，束随后可以被第二离子引导器或气体碰撞室56转换成基本上连续的束。上述布置的总体结果是，离子束被减小到其原始强度的分数(ΔTA2ΔTB2)/(ΔTA1ΔTB1)。
如果第一衰减装置50和第二衰减装置52中的每个能够独立地将离子束定量地减小到其原始强度的分数p，则组合装置可以定量地实现原始强度的分数p2。例如，如果单独的装置的最大定量衰减为1％，则组合装置可以实现0.01％。
显然，所述概念可以扩展到包含多于两个装置，所述多于两个装置由被设计成产生基本上连续的束的离子引导器或气体碰撞室分开。例如，当各自单独地能够将离子束减小到其原始强度的分数p的N个装置以这种方式组合时，可以定量地实现原始束强度的分数pN。这种幂律行为意味着可以使用相对较少的装置定量地实现极高的衰减因子。例如，这可能需要实现得到用单个离子填入阱的高概率所需要的低离子到达速率。
在实践中，衰减装置或相关的气室不必在仪器中连续布置。所述衰减装置或相关的气室可以被如反应室、质量过滤器、离子迁移装置等其它装置分开。这些另外的装置中的每个装置可以用于若干种目的或以若干种不同的模式操作，并且可以被配置成使离子反应、裂解或过滤，或者(可能同时)将脉冲离子束转换成基本上连续的离子束。
另外，衰减装置中的一个或另一个或两个衰减装置可以在完全传输模式下连续操作，其中仅根据需要激活衰减。
阱的空间电荷容限
在实施例中，可能期望CDMS装置能够同时分析多个离子以增加吞吐量。然而，如上所述，在常规CDMS装置如Kiefer等人所述的CDMS装置的情况下，当离子阱中存在多于一个离子时，空间电荷效应可以显著影响性能。
因此，在一些实施例中，设想CDMS装置可以包括多个离子阱。例如，CDMS装置可以包括被布置成从上游装置接收多个离子的多个并行的离子阱，每个离子阱具有相关的一个或多个电荷检测电极。在此实例中，可以使用适当的离子光学器件(例如，离子透镜或束分离装置)在多个离子阱之间共享来自上游装置的多个离子。因此，所述系统可以被布置成使得(单个)离子被顺序地或选择性地传递到多个不同的离子阱之一。
图6示出了这种布置的实例，其中图1中所示的一般类型的两个CDMS装置并行布置，并且其中如离子透镜或其它束分离装置等离子光学装置60设置在CDMS装置的上游，用于将离子选择性地或顺序地传递到相应的CDMS装置。一般来说，可以使用任何适合的离子光学装置将离子引导到相应的装置。例如，美国专利公布第2004/0026614号(MICROMASS)描述了用于离子束操纵的各种技术。当然，尽管图6仅示出了两个CDMS装置，但是可以根据需要将其扩展到任意数量的并行CDMS装置。此外，CDMS装置不需要在物理上并行布置，并且可以以任何适合的方式布置。例如，所述装置可以被布置成彼此基本上相对或正交。
作为另一个实例，CDMS装置可以包括一系列“泄漏性”离子阱，其中每个离子阱具有被配置成使得当存在多于一个离子时轨迹变得不稳定的几何形状。在这种情况下，如果将离子适当地限制在CDMS装置内，则由于空间电荷效应，离子将自然地将自身沿着一系列阱分布。因此，一系列离子阱可以容纳在如堆叠环离子引导器等离子引导器内。
图7示出了这种布置的实例，其中图1中所示的一般类型的两个CDMS装置72、74形成在单个离子引导器70内，其中离子引导器的电极因此为CDMS装置提供了离子阱和电荷检测器。例如，然后可以将适合的RF和/或DC电势施加到离子引导器70的电极，以便(径向地)将离子限制在离子引导器70内，并且还沿着离子引导器的长度限定一个或多个轴向捕获区域，其中电极位于一个或多个捕获区域的中央中，从而然后提供电荷检测器以执行CDMS测量。因此，可以将离子注入到离子引导器70中，并且可以允许所述离子自然地分布在限定CDMS装置72、74的离子捕获区域之间。然后可以在从离子阱中的每个离子阱(和离子引导器70)喷射离子之前，在每个CDMS装置72、74中并行执行CDMS测量。尽管图7仅示出了两个CDMS装置72、74，但是应当理解，在这种布置中可以使用任何数量的CDMS装置。
在这些实施例中，CDMS装置内的离子阱中的每个离子阱可以被布置成仅分析单个离子。例如，可以提供N个离子阱(其中，N>1)以分析N个离子。
然而，还设想了在单个离子阱内分析多个离子(N>1)的实施例。例如，如果其可以被布置成使轨迹在电荷检测器电极的区域之外岔开(成扇形散开)，则可以将离子阱的容量增加到超出单个离子(同时仍提供足够的信号质量)。例如，在三个维度上，轨迹可以占据“哑铃”(或旋转的“H”)形状。在这种情况下，当离子缓慢移动时，离子将倾向于最远地分开，并且因此，将降低空间电荷效应。因此，在实施例中，可以同时分析多个离子(N>1)，其中离子的离子轨迹被布置成在电荷检测器电极的区域之外岔开。
可替代地或另外，离子阱可以被扩展成容纳多于一个电荷检测电极。例如，可以使离子采取像例如离子阱内的轨迹那样的折叠飞行路径，其中在例如多程操作中使离子在两个反射电极之间反复来回传递，以便沿着基本上呈之字形或“W”形的路径行进。然后可以沿着折叠飞行路径周期性地放置电荷检测电极(例如，代替在折叠飞行路径仪器内可以找到的周期性聚焦元件)。因此，每个离子可以穿过多个电荷检测电极中的每个电荷检测电极(使得可以对每个离子进行多次测量，从而潜在地改善了信号质量)。作为另一个实例，代替使用折叠飞行路径类型几何形状，可以将多检测器配置环绕成圆形，以给出具有多个电荷检测电极的循环CDMS装置。可以单独地分析来自每个电荷检测电极的信号，或者如果更方便的话，可以将某些信号进行电子耦合，并且在后处理中对组合信号进行去卷积。
作为又一个实例，所述装置可以是线性或圆形的，其中无正交捕获并且许多电荷检测电极沿着飞行路径布置(例如，以与离子速度傅立叶变换质谱分析技术类似的方式)。
例如，图8示出了CDMS装置的实例，其中多个独立的电荷检测电极设置在单个圆锥形阱10内。尽管图8示出了四个电荷检测器82、84、86、88，但是应当理解，可以根据需要使用任何数量的电荷检测器。在实施例中，此装置可以用于(以增加的分辨率)分析单个离子。然而，如果离子轨迹被充分分离，则图8的装置还可以用于对多个离子同时执行测量。如所示出的，电荷检测器彼此解耦。这允许提取更多信息。例如，尽管可以单独地分析四个(在此实例中)信号并且将结果组合，但是在实施例中，可以使用单独未组合的信号同时进行质荷比和电荷值的推断。用于分析数据的各种方法都是可能的。例如，可以使用极大似然(最小二乘)、最大后验、马尔可夫链蒙特卡罗方法、多级抽样等来分析信号。各种其它布置当然将是可能的。
用于更高的分辨率或更快的操作的改善的轨迹
本申请人已经进一步认识到，在离子阱内使用近似二次电势可以提高装置的能量容限，例如，这是因为质荷比相同但能量不同的离子将产生具有更类似(或基本上相同)形状的信号。更多的谐波(正弦)信号可以产生更清晰的图谱(其中谐波减少)。因此，在实施例中，使用基本上二次电势来将离子限制在离子阱内，使得离子在离子阱内(并穿过一个或多个电荷检测器电极)经历基本上谐波运动。在这种情况下，电荷检测器电极可以定位于基本上二次电势的中央处。然而，其它布置当然将是可能的。
可以利用具有适当的基本上二次电势的各种现有几何形状。例如，设想了可以使用Orbitrap型装置或SpiroTOF装置(例如，如美国专利第9,721,779号(MICROMASS)或美国专利申请公布第2017/0032951号(MICROMASS)中所述)。具有中央电极的装置(尤其是Orbitrap)具有相对较高的空间电荷容限。
图9A、9B、9C和10展示了根据实施例可以用作CDMS装置的离子阱的SpiroTOF装置的操作。如图9A所示，将离子注入到限定在内部圆筒100与外部圆筒102之间的环形区域中，所述内部圆筒和外部圆筒各自包括电极的轴向布置。在注入期间，离子束可以沿装置的轴线扩展(例如，如美国专利第9,245,728号(MICROMASS)中所述)。选择施加在内部圆筒与外部圆筒之间的电势以允许离子在装置的入口区域内形成稳定的圆形轨道104，如图9B所示。一旦将离子注入到稳定的圆形轨道中，离子就可以初始地沿装置的轴线加速，如图9C所示。
然后可以沿着装置建立基本上二次轴向电势，以使离子开始以基本上简单的谐波运动轴向振荡，如图10所示。可以选择条件，使得轨道保持圆形(如图10所示)，或者可以允许离子径向振荡(通过在初始加速期间施加某一径向激励)。然后可以将电荷检测器1100定位在装置内，例如位于所述装置的中央中，使得离子反复地从检测器电极近旁穿过以产生信号。电荷检测器1100可以包括从用于固定装置中的基本上四极-对数电势(quadro-logarithmic potential)的现有电极中选择的区段中的一个或多个区段，或者它们可以是具有被设计成最小化对所述电势的扰动的几何形状和电压的另外的电极。
这种布置的优点在于，即使对于少量的离子，也可以通过在初始注入期间的束扩展来增加离子之间的平均初始间隔，从而减小空间电荷效应。此外，内部电极100有助于将离子彼此屏蔽。另外，当相同质荷比的离子缓慢移动(在其轴向运动的极限处)并且因此最容易受到空间电荷效应的影响时，由于束扩展，其平均间隔最大。
然而，其它布置当然将是可能的。例如，使用基本上四极-对数电势的Orbitrap型几何形状也可以提供类似的优点。例如，对于Cassinian轨道如在美国专利第8,735,812号(BRUKER DALTONIK GMBH)中描述的那些，也可能是这种情况，这取决于所选择的轨迹。
信号处理
众所周知，对非谐波信号使用傅立叶变换处理会产生伪像“谐波”。然而，在实施例中，可以使用正向拟合/贝叶斯信号处理，所述正向拟合/贝叶斯信号处理使用一个或多个模型峰形状。这可以显著降低谐波的强度并改善推断的图谱的信噪比。因此，这继而可以在固定时间内提供较高的质量分辨率(或者类似地在较短时间内实现相同的分辨率)。例如，本申请人已经认识到，类似的技术如在美国专利申请公布第2016/0282305号(MICROMASS)中描述的用于处理离子迁移率数据的技术也可以有利地用于处理根据本文所述的各个实施例获得的CDMS信号。例如，通过使用类似的此类技术，在实施例中可以从拟合的幅度中提取电荷值。特别是如果减少了空间电荷限制，则此类信号处理方法可以因此能够从包含多于一个离子的捕获事件中提取高质量图谱。
尽管已经参考优选实施例对本发明进行了描述，但是本领域的技术人员应当理解，在不脱离所附权利要求中所阐述的本发明的范围的情况下，可以在形式和细节上做出各种改变。

Claims (25)

1.一种电荷检测质谱分析的方法，其包括：
在电荷检测质谱分析装置的离子阱内监测在第一离子捕获事件期间来自所述电荷检测质谱分析装置的电荷检测器的检测器信号，以确定在所述第一离子捕获事件期间所述离子阱内存在多少个离子。
2.根据权利要求1所述的方法，其进一步包括：当确定在所述第一离子捕获事件期间所述离子阱内不存在离子时，终止所述第一离子捕获事件和/或发起第二离子捕获事件。
3.根据权利要求1或2所述的方法，其进一步包括：当确定在所述第一离子捕获事件期间所述离子阱内存在多于一个离子时，终止所述第一离子捕获事件和/或发起第二离子捕获事件。
4.根据任一前述权利要求所述的方法，其进一步包括：当确定在所述第一离子捕获事件期间所述离子阱内存在多于一个离子时，从所述离子阱中喷射或以其它方式移除所述离子中的一个或多个离子。
5.根据权利要求4所述的方法，其包括从所述离子阱中喷射或以其它方式移除所有所述离子，并且发起第二离子捕获事件。
6.根据权利要求4所述的方法，其包括从所述离子阱中喷射或以其它方式移除所述离子中的一个或多个离子，使得仅单个离子留在所述离子阱内。
7.根据任一前述权利要求所述的方法，其中基于由所述电荷检测质谱分析装置记录在图谱中的质量数量和/或基于由所述电荷检测质谱分析装置检测到的总电荷来确定所述电荷检测质谱分析装置的所述离子阱内存在的离子的数量。
8.根据任一前述权利要求所述的方法，其中所述离子阱的几何形状被配置成使得当存在多于一个离子时，离子轨迹变得不稳定，从而引起除了一个离子之外的所有离子的所述喷射。
9.一种电荷检测质谱分析装置，其包括：
离子阱，所述离子阱用于容纳待分析的一个或多个离子；
在所述离子阱内的一个或多个电荷检测器，所述一个或多个电荷检测器用于确定所述待分析的一个或多个离子的电荷；以及
控制电路系统，所述控制电路系统用于监测在第一离子捕获事件期间来自所述一个或多个电荷检测器的检测器信号，以确定在所述第一离子捕获事件期间所述离子阱内存在多少个离子。
10.一种电荷检测质谱分析装置，其包括：
离子引导器，所述离子引导器用于限制多个离子，其中所述离子引导器包括多个离子阱，并且其中每个离子阱的几何形状被配置成使得当存在多于一个离子时，离子轨迹变得不稳定，从而引起除了一个离子之外的所有离子从所述离子阱喷射，
使得当多个离子传递到所述电荷检测质谱分析装置时，所述多个离子将自身分布在所述多个离子阱之间，使得在所述离子阱中的任何一个离子阱中存在不多于一个离子。
11.一种电荷检测质谱分析的方法，其包括：
将待分析的多个离子传递到根据权利要求10所述的电荷检测质谱分析装置。
12.一种电荷检测质谱分析设备，其包括：
多个电荷检测质谱分析装置；以及
离子光学装置，所述离子光学装置用于将待分析的相应的多个离子选择性地或顺序地传递到所述多个电荷检测质谱分析装置。
13.一种电荷检测质谱分析的方法，其包括：
将多个离子选择性地或顺序地传递到相应的多个电荷检测质谱分析装置，使得将单个离子传递到所述电荷检测质谱分析装置中的每个电荷检测质谱分析装置；以及
在相应的离子阱内分析所述离子。
14.一种电荷检测质谱分析装置，其包括：
离子阱，所述离子阱用于容纳待分析的一个或多个离子；以及
在所述离子阱内的电荷检测器，所述电荷检测器用于确定所述待分析的一个或多个离子的电荷，
其中所述离子阱被配置成使得离子轨迹远离所述电荷检测器岔开，使得当所述离子阱内同时存在多个离子时，所述离子远离所述电荷检测器彼此散开，以减少所述多个离子之间的空间电荷相互作用。
15.一种电荷检测质谱分析装置，其包括：
离子阱，所述离子阱用于容纳待分析的一个或多个离子；以及
在所述离子阱内的多个电荷检测器，所述多个电荷检测器用于确定所述待分析的一个或多个离子的电荷。
16.根据权利要求15所述的电荷检测质谱分析装置，其中所述离子阱具有多程几何形状，或者其中所述离子阱具有循环或折叠的飞行路径几何形状。
17.根据任一前述权利要求所述的方法或装置，其中将基本上二次电势施加到所述离子阱或每个离子阱，使得离子在所述离子阱内经历基本上谐波运动。
18.一种电荷检测质谱分析装置，其包括：
离子阱，所述离子阱用于容纳待分析的一个或多个离子；以及
在所述离子阱内的一个或多个电荷检测器，所述一个或多个电荷检测器用于确定所述待分析的一个或多个离子的电荷，
其中将基本上二次电势施加到所述离子阱，使得离子在所述离子阱内经历基本上谐波运动。
19.根据任一前述权利要求所述的方法或装置，其中使用正向拟合和/或贝叶斯信号处理技术处理来自所述电荷检测质谱分析装置的所述信号。
20.一种电荷检测质谱分析的方法，其包括：
从电荷检测质谱分析装置的电荷检测器获得一个或多个信号；以及
使用正向拟合和/或贝叶斯信号处理技术处理所述一个或多个信号，以提取所述电荷检测质谱分析装置内的一个或多个离子的电荷值。
21.一种离子束衰减设备，其包括：
第一离子束衰减器，所述第一离子束衰减器能够在高离子传输模式或低离子传输模式下操作，以便选择性地衰减离子束，其中所述第一离子束衰减器的输出穿过第一气体填充区域；
第二离子束衰减器，所述第二离子束衰减器能够在高离子传输模式或低离子传输模式下操作，以便选择性地衰减离子束；以及
控制电路系统，所述控制电路系统被配置成：
将所述第一离子束衰减器在所述高离子传输模式与所述低离子传输模式之间反复切换，以在所述第一离子束衰减器的所述输出处产生第一非连续离子束，其中所述第一非连续离子束在到达所述第二离子束衰减器之前穿过所述气体填充区域并由此转换成基本上连续的离子束；并且
将所述第二离子束衰减器在所述高离子传输模式与所述低离子传输模式之间反复切换，以在所述第二离子束衰减器的输出处产生第二非连续离子束。
22.根据权利要求21所述的设备，其中所述第二离子束衰减器的所述输出穿过第二气体填充区域以产生基本上连续的衰减离子束。
23.一种衰减离子束的方法，其包括：
将所述离子束传递到第一离子束衰减器，并且将所述第一离子束衰减器在高离子传输模式与低离子传输模式之间反复切换，以在所述第一离子束衰减器的输出处产生第一非连续离子束；
使所述第一非连续离子束穿过气体填充区域，以将第一衰减离子束转换成基本上连续的衰减离子束；以及
将所述基本上连续的离子束传递到第二离子束衰减器，并且将所述第二离子束衰减器在高离子传输模式与低离子传输模式之间反复切换，以在所述第二离子束衰减器的输出处产生第二非连续离子束。
24.根据权利要求23所述的方法，其进一步包括使第二衰减离子束穿过第二气体填充区域以产生基本上连续的衰减离子束。
25.根据权利要求21或22所述的设备或根据权利要求23或24所述的方法，其中所述第一离子束衰减器和/或所述第二离子束衰减器包括一个或多个静电透镜。
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Families Citing this family (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB201613988D0 (en) 2016-08-16 2016-09-28 Micromass Uk Ltd And Leco Corp Mass analyser having extended flight path
GB2567794B (en) 2017-05-05 2023-03-08 Micromass Ltd Multi-reflecting time-of-flight mass spectrometers
GB2563571B (en) 2017-05-26 2023-05-24 Micromass Ltd Time of flight mass analyser with spatial focussing
WO2019030475A1 (en) 2017-08-06 2019-02-14 Anatoly Verenchikov MASS SPECTROMETER WITH MULTIPASSAGE
WO2019030477A1 (en) 2017-08-06 2019-02-14 Anatoly Verenchikov ACCELERATOR FOR MASS SPECTROMETERS WITH MULTIPASSES
WO2019030472A1 (en) 2017-08-06 2019-02-14 Anatoly Verenchikov IONIC MIRROR FOR MULTI-REFLECTION MASS SPECTROMETERS
WO2019030473A1 (en) 2017-08-06 2019-02-14 Anatoly Verenchikov FIELDS FOR SMART REFLECTIVE TOF SM
US11295944B2 (en) 2017-08-06 2022-04-05 Micromass Uk Limited Printed circuit ion mirror with compensation
EP3662503A1 (en) 2017-08-06 2020-06-10 Micromass UK Limited Ion injection into multi-pass mass spectrometers
US11081332B2 (en) 2017-08-06 2021-08-03 Micromass Uk Limited Ion guide within pulsed converters
GB201802917D0 (en) 2018-02-22 2018-04-11 Micromass Ltd Charge detection mass spectrometry
GB201806507D0 (en) 2018-04-20 2018-06-06 Verenchikov Anatoly Gridless ion mirrors with smooth fields
GB201807626D0 (en) 2018-05-10 2018-06-27 Micromass Ltd Multi-reflecting time of flight mass analyser
GB201807605D0 (en) 2018-05-10 2018-06-27 Micromass Ltd Multi-reflecting time of flight mass analyser
EP3794630A4 (en) 2018-05-14 2022-01-26 Mobilion Systems, Inc. COUPLING OF ION MOBILITY SPECTROMETER WITH MASS SPECTROMETER
GB201808530D0 (en) 2018-05-24 2018-07-11 Verenchikov Anatoly TOF MS detection system with improved dynamic range
US11450520B2 (en) 2018-06-01 2022-09-20 Thermo Finnigan Llc Apparatus and method for performing charge detection mass spectrometry
GB201810573D0 (en) 2018-06-28 2018-08-15 Verenchikov Anatoly Multi-pass mass spectrometer with improved duty cycle
GB201901411D0 (en) 2019-02-01 2019-03-20 Micromass Ltd Electrode assembly for mass spectrometer
US11543384B2 (en) 2019-11-22 2023-01-03 MOBILion Systems, Inc. Mobility based filtering of ions
WO2021207494A1 (en) 2020-04-09 2021-10-14 Waters Technologies Corporation Ion detector
CN115885176A (zh) 2020-05-22 2023-03-31 莫比莱昂系统有限公司 用于俘获和积累离子的方法和装置
US11874252B2 (en) 2020-06-05 2024-01-16 MOBILion Systems, Inc. Apparatus and methods for ion manipulation having improved duty cycle

Citations (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19605100A1 (de) * 1995-02-14 1996-08-22 Hitachi Ltd Massenspektrometer und Arbeitsverfahren unter Verwendung desselben
CN1836308A (zh) * 2003-06-05 2006-09-20 岛津研究所（欧洲）有限公司 利用离子阱质量分析器获得高准确度质谱的方法和利用离子阱质量分析器确定和 /或减小质量分析中化学位移的方法
CN101151704A (zh) * 2005-03-29 2008-03-26 萨默费尼根有限公司 离子捕集的方法和设备
US20080191130A1 (en) * 2004-07-21 2008-08-14 Micromass Uk Limited Mass Spectrometer
CN102169791A (zh) * 2010-02-05 2011-08-31 岛津分析技术研发（上海）有限公司 一种串级质谱分析装置及质谱分析方法
US20120112056A1 (en) * 2009-05-06 2012-05-10 Brucker Gerardo A Electrostatic Ion Trap
WO2013143349A1 (zh) * 2012-03-31 2013-10-03 株式会社岛津制作所 离子阱分析器以及离子阱质谱分析方法
CN103548111A (zh) * 2011-05-20 2014-01-29 塞莫费雪科学（不来梅）有限公司 用于质量分析的方法和设备
CN103745905A (zh) * 2014-01-06 2014-04-23 中国科学院化学研究所 一种具有低温电荷检测器的颗粒离子阱质谱仪
CN104766780A (zh) * 2015-03-20 2015-07-08 复旦大学 一种在离子阱质量分析器中进行高效快速分析的方法
JP2015170445A (ja) * 2014-03-06 2015-09-28 株式会社島津製作所 質量分析装置及び質量分析方法
US20160035555A1 (en) * 2012-02-02 2016-02-04 University Of Northern Iowa Research Foundation Ion trap mass analyzer apparatus, methods, and systems utilizing one or more multiple potential ion guide (mpig) electrodes
US20170098534A1 (en) * 2014-05-02 2017-04-06 908 Devices Inc. High pressure mass spectrometry systems and methods

Family Cites Families (221)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7176455B1 (en) 1994-02-23 2007-02-13 Analytica Of Branford, Inc. Multipole ion guide for mass spectrometry
US5770857A (en) 1995-11-17 1998-06-23 The Regents, University Of California Apparatus and method of determining molecular weight of large molecules
US5880466A (en) 1997-06-02 1999-03-09 The Regents Of The University Of California Gated charged-particle trap
US6480278B1 (en) 1997-12-16 2002-11-12 Stephen Douglas Fuerstenau Method and apparatus for detection of charge on ions and particles
US6987264B1 (en) 1998-01-23 2006-01-17 Analytica Of Branford, Inc. Mass spectrometry with multipole ion guides
USRE39099E1 (en) 1998-01-23 2006-05-23 University Of Manitoba Spectrometer provided with pulsed ion source and transmission device to damp ion motion and method of use
US6753523B1 (en) 1998-01-23 2004-06-22 Analytica Of Branford, Inc. Mass spectrometry with multipole ion guides
EP1357998B1 (en) 2000-05-05 2014-12-03 Entegris, Inc. Filters employing both acidic polymers and physical-adsorption media
US6576899B2 (en) 2001-01-16 2003-06-10 California Institute Of Technology Direct detection of low-energy charged particles using metal oxide semiconductor circuitry
US6744042B2 (en) 2001-06-18 2004-06-01 Yeda Research And Development Co., Ltd. Ion trapping
AUPR728901A0 (en) 2001-08-27 2001-09-20 Unisearch Limited Method and system for introducing an ion into a substrate
JP4163534B2 (ja) 2002-04-01 2008-10-08 日本電子株式会社 質量スペクトルの解析方法および装置
US20050221500A1 (en) 2002-05-20 2005-10-06 Purdue Research Foundation Protein identification from protein product ion spectra
US6888130B1 (en) 2002-05-30 2005-05-03 Marc Gonin Electrostatic ion trap mass spectrometers
US6891157B2 (en) 2002-05-31 2005-05-10 Micromass Uk Limited Mass spectrometer
WO2003102508A1 (en) 2002-05-31 2003-12-11 Analytica Of Branford, Inc. Mass spectrometry with segmented rf multiple ion guides in various pressure regions
US7034292B1 (en) 2002-05-31 2006-04-25 Analytica Of Branford, Inc. Mass spectrometry with segmented RF multiple ion guides in various pressure regions
US7078679B2 (en) 2002-11-27 2006-07-18 Wisconsin Alumni Research Foundation Inductive detection for mass spectrometry
US6858840B2 (en) 2003-05-20 2005-02-22 Science & Engineering Services, Inc. Method of ion fragmentation in a multipole ion guide of a tandem mass spectrometer
US7385187B2 (en) 2003-06-21 2008-06-10 Leco Corporation Multi-reflecting time-of-flight mass spectrometer and method of use
GB2403063A (en) 2003-06-21 2004-12-22 Anatoli Nicolai Verentchikov Time of flight mass spectrometer employing a plurality of lenses focussing an ion beam in shift direction
DE10344462B4 (de) 2003-09-25 2008-01-24 Forschungszentrum Karlsruhe Gmbh Partikel-Massen-Spektrometer zur Detektion von Nanopartikeln und Verfahren
US7361888B1 (en) 2003-10-31 2008-04-22 Analytica Of Branford, Inc. Method and apparatus for multiplexing plural ion beams to a mass spectrometer
US7217919B2 (en) 2004-11-02 2007-05-15 Analytica Of Branford, Inc. Method and apparatus for multiplexing plural ion beams to a mass spectrometer
US6967326B2 (en) 2004-02-27 2005-11-22 Lucent Technologies Inc. Mass spectrometers on wafer-substrates
GB2412486B (en) 2004-03-26 2009-01-14 Thermo Finnigan Llc Fourier transform mass spectrometer and method for generating a mass spectrum therefrom
CA2562272C (en) 2004-04-05 2013-10-29 Micromass Uk Limited Mass spectrometer
US7161146B2 (en) 2005-01-24 2007-01-09 Science & Engineering Services, Inc. Method and apparatus for producing an ion beam from an ion guide
KR100744006B1 (ko) 2005-03-25 2007-07-30 부산대학교 산학협력단 단일 입자 질량 분석기
US7170053B2 (en) 2005-03-31 2007-01-30 Battelle Memorial Institute Method and apparatus for ion mobility spectrometry with alignment of dipole direction (IMS-ADD)
CA2609908A1 (en) 2005-05-27 2006-12-07 Ionwerks, Inc. Multi-beam ion mobility time-of-flight mass spectrometry with multi-channel data recording
GB0511083D0 (en) 2005-05-31 2005-07-06 Thermo Finnigan Llc Multiple ion injection in mass spectrometry
WO2007030948A1 (en) * 2005-09-15 2007-03-22 Phenomenome Discoveries Inc. Method and apparatus for fourier transform ion cyclotron resonance mass spectrometry
GB0522327D0 (en) 2005-11-01 2005-12-07 Micromass Ltd Mass spectrometer
US20070221862A1 (en) 2006-03-22 2007-09-27 Wayne State University Coupled Electrostatic Ion and Electron Traps for Electron Capture Dissociation - Tandem Mass Spectrometry
GB0607542D0 (en) 2006-04-13 2006-05-24 Thermo Finnigan Llc Mass spectrometer
CA2656565A1 (en) 2006-06-29 2008-08-07 Ionwerks, Inc. Neutral/ion reactor in adiabatic supersonic gas flow for ion mobility time-of-flight mass spectrometry
US8395112B1 (en) 2006-09-20 2013-03-12 Mark E. Bier Mass spectrometer and method for using same
TWI484529B (zh) 2006-11-13 2015-05-11 Mks Instr Inc 離子阱質譜儀、利用其得到質譜之方法、離子阱、捕捉離子阱內之離子之方法和設備
GB0622689D0 (en) * 2006-11-14 2006-12-27 Thermo Electron Bremen Gmbh Method of operating a multi-reflection ion trap
JP4918846B2 (ja) 2006-11-22 2012-04-18 株式会社日立製作所 質量分析装置及び質量分析方法
GB0624740D0 (en) 2006-12-12 2007-01-17 Micromass Ltd Mass spectrometer
GB2445169B (en) * 2006-12-29 2012-03-14 Thermo Fisher Scient Bremen Parallel mass analysis
DE102007009272B3 (de) 2007-02-26 2008-05-15 Bruker Daltonik Gmbh Auswertung von Spektren in Schwingungs-Massenspektrometern
US7564026B2 (en) 2007-05-01 2009-07-21 Virgin Instruments Corporation Linear TOF geometry for high sensitivity at high mass
EP1990631A1 (en) 2007-05-11 2008-11-12 Technische Universiteit Delft Sensor for identifying at least one particle by means of Raman-spectroscopy
GB0712252D0 (en) 2007-06-22 2007-08-01 Shimadzu Corp A multi-reflecting ion optical device
US7608817B2 (en) 2007-07-20 2009-10-27 Agilent Technologies, Inc. Adiabatically-tuned linear ion trap with fourier transform mass spectrometry with reduced packet coalescence
US8399827B1 (en) 2007-09-10 2013-03-19 Cedars-Sinai Medical Center Mass spectrometry systems
US8039193B2 (en) 2007-09-13 2011-10-18 Performance Indicator Llc Tissue markings and methods for reversibly marking tissue employing the same
US7755040B2 (en) * 2007-09-24 2010-07-13 Agilent Technologies, Inc. Mass spectrometer and electric field source for mass spectrometer
DE102007049640B3 (de) 2007-10-17 2009-04-02 Bruker Daltonik Gmbh Messung von Tochterionenspektren aus einer MALDI-Ionisierung
US8278115B2 (en) 2007-11-30 2012-10-02 Wisconsin Alumni Research Foundation Methods for processing tandem mass spectral data for protein sequence analysis
GB0724295D0 (en) 2007-12-12 2008-01-23 Isis Innovation Ion spectrum analysing apparatus and method
JP5477295B2 (ja) 2007-12-13 2014-04-23 アカデミア シニカ 電荷監視質量分析を行うためのシステムおよび方法
GB2470133B (en) 2008-06-05 2012-12-26 Micromass Ltd Method of charge reduction of electron transfer dissociation product ions
GB0810599D0 (en) 2008-06-10 2008-07-16 Micromass Ltd Mass spectrometer
US7960690B2 (en) 2008-07-24 2011-06-14 Thermo Finnigan Llc Automatic gain control (AGC) method for an ion trap and a temporally non-uniform ion beam
US8426807B2 (en) 2008-08-01 2013-04-23 Brown University System and methods for determining molecules using mass spectrometry and related techniques
CA2733891C (en) 2008-10-01 2017-05-16 Dh Technologies Development Pte. Ltd. Method, system and apparatus for multiplexing ions in msn mass spectrometry analysis
CN101752179A (zh) 2008-12-22 2010-06-23 岛津分析技术研发（上海）有限公司 质谱分析器
WO2010080986A1 (en) 2009-01-09 2010-07-15 Mds Analytical Technologies Mass spectrometer
US7952070B2 (en) 2009-01-12 2011-05-31 Thermo Finnigan Llc Interlaced Y multipole
WO2010135830A1 (en) 2009-05-27 2010-12-02 Dh Technologies Development Pte. Ltd. Mass selector
JP5680073B2 (ja) 2009-06-24 2015-03-04 カール ツァイス マイクロスコーピー エルエルシー 荷電粒子検出器
FR2950697B1 (fr) 2009-09-25 2011-12-09 Biomerieux Sa Procede de detection de molecules par spectrometrie de masse
GB2466350B (en) 2009-11-30 2011-06-08 Microsaic Systems Ltd Mass spectrometer system
WO2011079202A1 (en) 2009-12-23 2011-06-30 Academia Sinica Apparatuses and methods for portable mass spectrometry
GB2476964A (en) 2010-01-15 2011-07-20 Anatoly Verenchikov Electrostatic trap mass spectrometer
GB2478300A (en) 2010-03-02 2011-09-07 Anatoly Verenchikov A planar multi-reflection time-of-flight mass spectrometer
EP2372747B1 (en) 2010-03-31 2018-08-01 Thermo Fisher Scientific (Bremen) GmbH Methods and apparatus for producing a mass spectrum
JP5822919B2 (ja) 2010-06-08 2015-11-25 マイクロマス ユーケー リミテッド ビームエキスパンダを備える質量分析計
DE102010034078B4 (de) 2010-08-12 2012-06-06 Bruker Daltonik Gmbh Kingdon-Massenspektrometer mit zylindrischen Elektroden
EP2447980B1 (en) 2010-11-02 2019-05-22 Thermo Fisher Scientific (Bremen) GmbH Method of generating a mass spectrum having improved resolving power
GB2496994B (en) 2010-11-26 2015-05-20 Thermo Fisher Scient Bremen Method of mass separating ions and mass separator
US9922812B2 (en) 2010-11-26 2018-03-20 Thermo Fisher Scientific (Bremen) Gmbh Method of mass separating ions and mass separator
GB2488745B (en) 2010-12-14 2016-12-07 Thermo Fisher Scient (Bremen) Gmbh Ion Detection
WO2012083031A1 (en) 2010-12-16 2012-06-21 Indiana University Research And Technology Corporation Charge detection mass spectrometer with multiple detection stages
GB201022050D0 (en) 2010-12-29 2011-02-02 Verenchikov Anatoly Electrostatic trap mass spectrometer with improved ion injection
DE102011008713B4 (de) 2011-01-17 2012-08-02 Bruker Daltonik Gmbh Kingdon-Ionenfallen mit Cassini-Potentialen höherer Ordnung
GB2502243B (en) 2011-05-12 2018-01-03 Thermo Fisher Scient (Bremen) Gmbh Ion detection
US8455815B2 (en) 2011-07-15 2013-06-04 Bruker Daltonics, Inc. Radio frequency voltage temperature stabilization
EP2587259A1 (en) 2011-10-26 2013-05-01 Tofwerk AG Method and apparatus for determining a mobility of ions
US9831076B2 (en) * 2011-11-02 2017-11-28 Thermo Finnigan Llc Ion interface device having multiple confinement cells and methods of use thereof
DE112012004563T5 (de) 2011-11-02 2014-08-21 Leco Corporation Ionenmobilitätsspektrometer
GB2497948A (en) * 2011-12-22 2013-07-03 Thermo Fisher Scient Bremen Collision cell for tandem mass spectrometry
GB201201403D0 (en) 2012-01-27 2012-03-14 Thermo Fisher Scient Bremen Multi-reflection mass spectrometer
GB201201405D0 (en) 2012-01-27 2012-03-14 Thermo Fisher Scient Bremen Multi-reflection mass spectrometer
JP6570998B2 (ja) 2012-03-13 2019-09-04 エム ケー エス インストルメンツ インコーポレーテッドＭｋｓ Ｉｎｓｔｒｕｍｅｎｔｓ，Ｉｎｃｏｒｐｏｒａｔｅｄ Ａｒｔ・ｍｓトラップにおける微量ガス濃度
US9324551B2 (en) 2012-03-16 2016-04-26 Shimadzu Corporation Mass spectrometer and method of driving ion guide
GB201204817D0 (en) 2012-03-19 2012-05-02 Shimadzu Corp A method of processing image charge/current signals
WO2013171499A2 (en) * 2012-05-18 2013-11-21 Micromass Uk Limited Orthogonal acceleration coaxial cylinder time of flight mass analyser
GB201208843D0 (en) 2012-05-18 2012-07-04 Fasmatech Science And Technology Llc Improvements in and relating to mass or size measurement of ions
EP2856139B1 (en) 2012-06-01 2020-01-15 Smiths Detection-Watford Limited Spectrometer comprising capacitive transimpedance amplifier with offset
JP5928597B2 (ja) 2012-09-10 2016-06-01 株式会社島津製作所 イオントラップにおけるイオン選択方法及びイオントラップ装置
US8921779B2 (en) 2012-11-30 2014-12-30 Thermo Finnigan Llc Exponential scan mode for quadrupole mass spectrometers to generate super-resolved mass spectra
DE102013201499A1 (de) 2013-01-30 2014-07-31 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Verfahren zur massenspektrometrischen Untersuchung von Gasgemischen sowie Massenspektrometer hierzu
WO2014117293A1 (zh) 2013-01-31 2014-08-07 北京理工大学 基于离子阱的双极性离子分析与检测的装置和方法
GB2510837B (en) 2013-02-14 2017-09-13 Thermo Fisher Scient (Bremen) Gmbh Method of operating a mass filter in mass spectrometry
EP2972188A4 (en) 2013-03-14 2016-03-30 Odotech Inc SYSTEMS AND METHOD FOR MONITORING AND CONTROLLING DETECTION OF AIR SAMPLES FOR ANALYSIS
CN104112642B (zh) 2013-04-18 2017-05-24 岛津分析技术研发（上海）有限公司 离子导引装置以及离子导引方法
EP2797105B1 (en) 2013-04-26 2018-08-15 Amsterdam Scientific Instruments Holding B.V. Detection of ions in an ion trap
WO2014183105A1 (en) 2013-05-10 2014-11-13 Academia Sinica Nanoparticle measurement virus mass spectrometry
DE102013208959A1 (de) 2013-05-15 2014-11-20 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Vorrichtung zur massenselektiven Bestimmung eines Ions
US8796619B1 (en) 2013-06-11 2014-08-05 Science And Engineering Services, Llc Electrostatic orbital trap mass spectrometer
DE102013213501A1 (de) 2013-07-10 2015-01-15 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Massenspektrometer, dessen Verwendung, sowie Verfahren zur massenspektrometrischen Untersuchung eines Gasgemisches
FR3010527A1 (fr) 2013-09-11 2015-03-13 Univ Claude Bernard Lyon Procede de caracterisation de particules
EP2884520B8 (en) 2013-12-12 2018-03-21 RISE Acreo AB Nano mass spectrometry
WO2015097462A1 (en) 2013-12-24 2015-07-02 Micromass Uk Limited Travelling wave ims with counterflow of gas
WO2015104573A1 (en) 2014-01-07 2015-07-16 Dh Technologies Development Pte. Ltd. Multiplexed electrostatic linear ion trap
US20150228469A1 (en) 2014-02-12 2015-08-13 Shimadzu Corporation Quadrupole mass spectrometry apparatus
JP6113908B2 (ja) 2014-03-14 2017-04-12 株式会社東芝 分子検出装置および方法
DE112015001622B4 (de) 2014-04-01 2022-12-22 Micromass Uk Limited Orthogonalbeschleunigungs-Koaxialzylinder-Massenanalysator
GB2525194B (en) 2014-04-14 2017-03-29 Thermo Fisher Scient (Bremen) Gmbh Method of assessing vacuum conditions in a mass spectrometer
US10297436B2 (en) 2014-04-14 2019-05-21 Ecole Polytechnique Federale De Lausanne (Epfl) Device and method for ion cyclotron resonance mass spectrometry
GB201409074D0 (en) 2014-05-21 2014-07-02 Thermo Fisher Scient Bremen Ion ejection from a quadrupole ion trap
US9666423B2 (en) 2014-05-22 2017-05-30 W Henry Benner Instruments for measuring ion size distribution and concentration
WO2015191569A1 (en) 2014-06-13 2015-12-17 Perkinelmer Health Sciences, Inc. Rf ion guide with axial fields
US9299546B2 (en) 2014-06-16 2016-03-29 Bruker Daltonik Gmbh Methods for acquiring and evaluating mass spectra in fourier transform mass spectrometers
US9455128B2 (en) 2014-06-16 2016-09-27 Thermo Finnigan Llc Methods of operating a fourier transform mass analyzer
WO2016073850A1 (en) 2014-11-07 2016-05-12 Indiana University Research And Technology Corporation A frequency and amplitude scanned quadrupole mass filter and methods
GB201421065D0 (en) 2014-11-27 2015-01-14 Shimadzu Corp Fourier Transform mass spectrometry
EP3248210A1 (en) 2015-01-23 2017-11-29 California Institute of Technology Integrated hybrid nems mass spectrometry
US9972480B2 (en) 2015-01-30 2018-05-15 Agilent Technologies, Inc. Pulsed ion guides for mass spectrometers and related methods
GB2534892B (en) 2015-02-03 2020-09-09 Auckland Uniservices Ltd An ion mirror, an ion mirror assembly and an ion trap
EP3268978A1 (en) 2015-03-12 2018-01-17 Thermo Finnigan LLC Methods for data-dependent mass spectrometry of mixed biomolecular analytes
GB201504934D0 (en) 2015-03-24 2015-05-06 Micromass Ltd Improved method of FT-IMS
US9588047B2 (en) 2015-04-14 2017-03-07 Honeywell International Inc. Multi-cell apparatus and method for single ion addressing
US9715950B2 (en) 2015-04-14 2017-07-25 Honeywell International Inc. Single cell apparatus and method for single ion addressing
EP3086353A1 (en) 2015-04-24 2016-10-26 Thermo Fisher Scientific (Bremen) GmbH A method of producing a mass spectrum
US10446384B2 (en) 2015-04-25 2019-10-15 Dh Technologies Development Pte. Ltd. Fourier transform mass spectrometer
US9548191B2 (en) 2015-06-17 2017-01-17 Honeywell International Inc. Ion trapping with integrated electromagnets
WO2017022125A1 (ja) 2015-08-06 2017-02-09 株式会社島津製作所 質量分析装置
US10580636B2 (en) 2015-08-12 2020-03-03 California Institute Of Technology Ultrahigh resolution mass spectrometry using an electrostatic ion bottle with coupling to a quadrupole ion trap
WO2017041809A1 (en) 2015-09-07 2017-03-16 MAX-PLANCK-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. Method and apparatus for detecting particles, like biological macromolecules or nanoparticles
US11348778B2 (en) 2015-11-02 2022-05-31 Purdue Research Foundation Precursor and neutral loss scan in an ion trap
GB2559306A (en) 2015-11-27 2018-08-01 Q Tek D O O Method for targeted trace analysis with RF ion mirror
CA3003060A1 (en) 2015-11-30 2017-06-08 The Board Of Trustees Of The University Of Illinois Multimode ion mirror prism and energy filtering apparatus and system for time-of-flight mass spectrometry
US10510524B2 (en) 2016-01-18 2019-12-17 Shimadzu Corporation Ion trap mass spectrometry device and mass spectrometry method using said device
US10872755B2 (en) 2016-03-17 2020-12-22 Leidos, Inc. Low power mass analyzer and system integrating same for chemical analysis
EP3440691B1 (en) 2016-04-01 2021-11-03 Spectroswiss Sàrl Data acquisition apparatus and method for mass spectrometry
CN107271575B (zh) 2016-04-08 2020-01-14 株式会社岛津制作所 离子迁移谱和质谱并行分析的方法及装置
US10620121B2 (en) 2016-04-19 2020-04-14 Board Of Regents, The University Of Texas System Methods and systems for optothermal particle control
WO2017190031A1 (en) 2016-04-28 2017-11-02 Indiana University Research And Technology Corporation Methods and compositions for resolving components of a virus preparation
WO2017196863A1 (en) 2016-05-10 2017-11-16 Scientech Engineering Usa Corp. Device for detecting charged particles and an apparatus for mass spectrometry incorporating the same
US20170365458A1 (en) 2016-06-03 2017-12-21 Woods Hole Oceanographic Institution Adduct-Based System and Methods for Analysis and Identification of Mass Spectrometry Data
EP3465735B1 (en) 2016-06-06 2021-08-18 Thermo Finnigan LLC Rapid identification and sequence analysis of intact proteins in complex mixtures
GB2552195A (en) 2016-07-13 2018-01-17 Univ Oxford Innovation Ltd Interferometric scattering microscopy
JP7006600B2 (ja) 2016-08-23 2022-02-10 ソニーグループ株式会社 単一粒子捕捉用装置、単一粒子捕捉システム及び単一粒子の捕捉方法
GB2555609B (en) 2016-11-04 2019-06-12 Thermo Fisher Scient Bremen Gmbh Multi-reflection mass spectrometer with deceleration stage
WO2018109920A1 (ja) 2016-12-16 2018-06-21 株式会社島津製作所 質量分析装置
EP3340276A1 (en) 2016-12-21 2018-06-27 CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA - Recherche et Développement Fly-through inductive charge detector
WO2018124861A2 (ru) 2016-12-30 2018-07-05 Алдан Асанович САПАРГАЛИЕВ Времяпролетный масс-спектрометр и его составные части
EP3577677A4 (en) 2017-02-01 2020-11-25 DH Technologies Development PTE. Ltd. FOURIER TRANSFORM MASS SPECTROMETER
US10453668B2 (en) 2017-02-28 2019-10-22 The Regents Of The University Of California Spectrometry method and spectrometer device
US9911588B1 (en) 2017-03-10 2018-03-06 Thermo Finnigan Llc Methods and systems for quantitative mass analysis
US9911587B1 (en) 2017-03-10 2018-03-06 Thermo Finnigan Llc Methods and systems for quantitative mass analysis
EP3611755A4 (en) 2017-04-10 2020-07-22 Shimadzu Corporation ION ANALYSIS DEVICE AND ION DISOCIATION METHOD
US10580633B2 (en) 2017-05-23 2020-03-03 Purdue Research Foundation Systems and methods for conducting neutral loss scans in a single ion trap
DE102017208996B4 (de) 2017-05-29 2024-05-08 Leybold Gmbh Verfahren zur massenspektrometrischen Untersuchung eines Gases
EP3958290A1 (en) 2017-06-02 2022-02-23 Thermo Fisher Scientific (Bremen) GmbH Hybrid mass spectrometer
GB2563077A (en) 2017-06-02 2018-12-05 Thermo Fisher Scient Bremen Gmbh Mass error correction due to thermal drift in a time of flight mass spectrometer
GB201711795D0 (en) 2017-07-21 2017-09-06 Micromass Ltd Mobility and mass measurement using time - varying electric fields
US20200043716A1 (en) 2017-07-24 2020-02-06 Shimadzu Corporation Method for designing ion optical element and mass spectrometry device
US10937638B2 (en) 2017-07-27 2021-03-02 Purdue Research Foundation Systems and methods for performing multiple precursor, neutral loss and product ion scans in a single ion trap
WO2019060538A1 (en) 2017-09-20 2019-03-28 The Trustees Of Indiana University METHODS FOR LIPOPROTEIN RESOLUTION BY MASS SPECTROMETRY
US11069516B2 (en) 2017-09-25 2021-07-20 Dh Technologies Development Pte. Ltd. Electro static linear ion trap mass spectrometer
JP6860155B2 (ja) 2017-10-18 2021-04-14 国立大学法人東京工業大学 ジャイロ、角度計測方法
GB2570435B (en) 2017-11-20 2022-03-16 Thermo Fisher Scient Bremen Gmbh Mass spectrometer
WO2019102352A1 (en) 2017-11-21 2019-05-31 Dh Technologies Development Pte. Ltd. Methods and systems for feedback control of direct sampling interfaces for mass spectrometric analysis
GB2569800B (en) 2017-12-22 2022-09-07 Thermo Fisher Scient Bremen Gmbh Method and device for crosstalk compensation
WO2019140233A1 (en) 2018-01-12 2019-07-18 The Trustees Of Indiana University Electrostatic linear ion trap design for charge detection mass spectrometry
GB201802917D0 (en) * 2018-02-22 2018-04-11 Micromass Ltd Charge detection mass spectrometry
US11127581B2 (en) 2018-03-23 2021-09-21 Purdue Research Foundation Logical operations in mass spectrometry
GB201806507D0 (en) 2018-04-20 2018-06-06 Verenchikov Anatoly Gridless ion mirrors with smooth fields
US11145503B2 (en) 2018-05-28 2021-10-12 Dh Technologies Development Pte. Ltd. Two-dimensional fourier transform mass analysis in an electrostatic linear ion trap
US11450520B2 (en) 2018-06-01 2022-09-20 Thermo Finnigan Llc Apparatus and method for performing charge detection mass spectrometry
WO2019236142A1 (en) 2018-06-04 2019-12-12 The Trustees Of Indiana University Ion trap array for high throughput charge detection mass spectrometry
EP3803951B1 (en) 2018-06-04 2024-06-05 The Trustees of Indiana University Charge detection mass spectrometry with real time analysis and signal optimization
US11804370B2 (en) 2018-06-04 2023-10-31 Purdue Research Foundation Two-dimensional mass spectrometry using ion micropacket detection
WO2019236143A1 (en) 2018-06-04 2019-12-12 The Trustees Of Indiana University Apparatus and method for calibrating or resetting a charge detector
WO2019236139A1 (en) 2018-06-04 2019-12-12 The Trustees Of Indiana University Interface for transporting ions from an atmospheric pressure environment to a low pressure environment
AU2019281715B2 (en) 2018-06-04 2024-06-13 The Trustees Of Indiana University Apparatus and method for capturing ions in an electrostatic linear ion trap
GB201810010D0 (en) 2018-06-19 2018-08-01 Imperial Innovations Ltd Single particle automated raman trapping analysis
GB201810273D0 (en) 2018-06-22 2018-08-08 Thermo Fisher Scient Bremen Gmbh Structural analysis of ionised molecules
DE102018116308A1 (de) 2018-07-05 2020-01-09 Analytik Jena Ag Dynamische Ionenfilterung zur Reduzierung hochabundanter Ionen
CN110828022B (zh) 2018-08-14 2021-11-19 华为技术有限公司 离子光腔耦合系统及方法
US11640901B2 (en) 2018-09-05 2023-05-02 Protein Metrics, Llc Methods and apparatuses for deconvolution of mass spectrometry data
DE102018121942B3 (de) 2018-09-07 2020-01-16 Quantum Factory GmbH Ionenfalle, Verfahren zum Regeln der Ionenfalle und Verwendungen als Antrieb einer Ionenfalle
WO2020076765A1 (en) 2018-10-10 2020-04-16 Purdue Research Foundation Mass spectrometry via frequency tagging
JP7285023B2 (ja) 2018-11-20 2023-06-01 ザ・トラスティーズ・オブ・インディアナ・ユニバーシティー 単一粒子質量分光分析のためのオービトラップ
EP3891777A1 (en) 2018-12-03 2021-10-13 The Trustees of Indiana University Apparatus and method for simultaneously analyzing multiple ions with an electrostatic linear ion trap
EP3895202A1 (en) 2018-12-13 2021-10-20 DH Technologies Development Pte. Ltd. Ion injection into an electrostatic linear ion trap using zeno pulsing
EP3895204B1 (en) 2018-12-13 2023-03-15 DH Technologies Development Pte. Ltd. Electrostatic linear ion trap with a selectable ion path length
US20220013348A1 (en) 2018-12-13 2022-01-13 Dh Technologies Development Pte. Ltd. Fourier Transform Electrostatic Linear Ion Trap and Reflectron Time-of-Flight Mass Spectrometer
CN111383870B (zh) 2018-12-28 2021-08-13 华为技术有限公司 一种离子阱系统
EP3918629A1 (en) 2019-02-01 2021-12-08 DH Technologies Development Pte. Ltd. Auto gain control for optimum ion trap filling
EP3918626A1 (en) 2019-02-01 2021-12-08 DH Technologies Development Pte. Ltd. Phase locked fourier transform linear ion trap mass spectrometry
CN113366608A (zh) 2019-02-01 2021-09-07 Dh科技发展私人贸易有限公司 傅立叶变换质谱仪及使用其分析的方法
US11152198B2 (en) 2019-02-05 2021-10-19 Battelle Memorial Institute Direct determination of antibody chain pairing
WO2020198124A1 (en) 2019-03-23 2020-10-01 Muller Dyllan Christopher Device for ion capture
WO2020198332A1 (en) 2019-03-25 2020-10-01 The Regents Of The University Of California Multiplex charge detection mass spectrometry
WO2020219527A1 (en) 2019-04-23 2020-10-29 The Trustees Of Indiana University Identification of sample subspecies based on particle charge behavior under structural change-inducing sample conditions
WO2020219605A1 (en) 2019-04-25 2020-10-29 Thermo Finnigan Llc Charge detection mass spectrometry utilizing harmonic oscillation and selective temporal overview of resonant ion ( stori) plots
GB2584125B (en) 2019-05-22 2021-11-03 Thermo Fisher Scient Bremen Gmbh Dynamic control of accumulation time for chromatography mass spectrometry
JP2021015688A (ja) 2019-07-10 2021-02-12 株式会社島津製作所 質量分析装置
WO2021006811A1 (en) 2019-07-10 2021-01-14 Nanyang Technological University Device for trapping an ion, method for forming the same, and method for controlling the same
US11443930B2 (en) 2019-08-15 2022-09-13 Brigham Young University Solid-state charge detector
WO2021061650A1 (en) 2019-09-25 2021-04-01 The Trustees Of Indiana University Apparatus and method for pulsed mode charge detection mass spectrometry
CN114728237A (zh) 2019-10-10 2022-07-08 印地安纳大学理事会 用于识别、选择和纯化粒子的系统和方法
WO2021084339A1 (en) 2019-10-30 2021-05-06 Dh Technologies Development Pte. Ltd. Methods and systems of fourier transform mass spectrometry
CN115136280A (zh) 2019-12-18 2022-09-30 印地安纳大学理事会 具有电荷测量布置的质谱仪
CA3164632A1 (en) 2019-12-18 2021-06-24 The Trustees Of Indiana University Charge filter arrangement and applications thereof
EP4091191A1 (en) 2020-01-14 2022-11-23 DH Technologies Development Pte. Ltd. High pressure mass analyzer
CN114981921A (zh) 2020-02-03 2022-08-30 印地安纳大学理事会 用于电荷检测质谱仪的信号的时域分析
AU2021217957A1 (en) 2020-02-03 2022-07-14 The Trustees Of Indiana University System and method for processing virus preparations to reduce heterogeneity
GB2592591A (en) 2020-03-02 2021-09-08 Thermo Fisher Scient Bremen Gmbh Time of flight mass spectrometer and method of mass spectrometry
EP3879559A1 (en) 2020-03-10 2021-09-15 Thermo Fisher Scientific (Bremen) GmbH Method for determining a parameter to perform a mass analysis of sample ions with an ion trapping mass analyser
US20210343518A1 (en) 2020-04-01 2021-11-04 Mstm, Llc Multi-mode ionization apparatus and uses thereof
GB2598591A (en) 2020-09-03 2022-03-09 HGSG Ltd Mass spectrometer and method
WO2023111538A1 (en) 2021-12-15 2023-06-22 Waters Technologies Corporation A method of operating a charge detection mass spectrometer and a charge detection mass spectrometer

Patent Citations (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19605100A1 (de) * 1995-02-14 1996-08-22 Hitachi Ltd Massenspektrometer und Arbeitsverfahren unter Verwendung desselben
CN1836308A (zh) * 2003-06-05 2006-09-20 岛津研究所（欧洲）有限公司 利用离子阱质量分析器获得高准确度质谱的方法和利用离子阱质量分析器确定和 /或减小质量分析中化学位移的方法
US20080191130A1 (en) * 2004-07-21 2008-08-14 Micromass Uk Limited Mass Spectrometer
CN101151704A (zh) * 2005-03-29 2008-03-26 萨默费尼根有限公司 离子捕集的方法和设备
CN102648511A (zh) * 2009-05-06 2012-08-22 布鲁克机械公司 静电离子陷阱
US20120112056A1 (en) * 2009-05-06 2012-05-10 Brucker Gerardo A Electrostatic Ion Trap
CN102169791A (zh) * 2010-02-05 2011-08-31 岛津分析技术研发（上海）有限公司 一种串级质谱分析装置及质谱分析方法
CN103548111A (zh) * 2011-05-20 2014-01-29 塞莫费雪科学（不来梅）有限公司 用于质量分析的方法和设备
US20140061460A1 (en) * 2011-05-20 2014-03-06 Thermo Fisher Scientific (Bremen) Gmbh Method and Apparatus for Mass Analysis
US20160035555A1 (en) * 2012-02-02 2016-02-04 University Of Northern Iowa Research Foundation Ion trap mass analyzer apparatus, methods, and systems utilizing one or more multiple potential ion guide (mpig) electrodes
WO2013143349A1 (zh) * 2012-03-31 2013-10-03 株式会社岛津制作所 离子阱分析器以及离子阱质谱分析方法
CN103745905A (zh) * 2014-01-06 2014-04-23 中国科学院化学研究所 一种具有低温电荷检测器的颗粒离子阱质谱仪
JP2015170445A (ja) * 2014-03-06 2015-09-28 株式会社島津製作所 質量分析装置及び質量分析方法
US20170098534A1 (en) * 2014-05-02 2017-04-06 908 Devices Inc. High pressure mass spectrometry systems and methods
CN104766780A (zh) * 2015-03-20 2015-07-08 复旦大学 一种在离子阱质量分析器中进行高效快速分析的方法

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
DAVID Z. KEIFER等: ""Charge detection mass spectrometry: weighing heavier things"", 《THE ROYAL SOCIETY OF CHEMISTRY》 *

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