CN111292661B - 阵列基板、显示面板及显示装置 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种阵列基板、显示面板及显示装置，属于显示技术领域，其可解决现有的测试效率较低的问题。本发明的阵列基板，具有显示区及位于显示区周边的非显示区；阵列基板包括：位于非显示区的多行测试部件及与测试部件连接测试焊盘；每个测试部件与至少两个测试焊盘连接，且不同类型测试部件连接的测试焊盘的数量不同；至少部分行中设置有连接不同类型测试部件的测试焊盘，且至少部分连接不同类型测试部件的测试焊盘相邻设置。

Description

阵列基板、显示面板及显示装置

技术领域

本发明属于显示技术领域，具体涉及一种阵列基板、显示面板及显示装置。

背景技术

在显示面板的制备阶段，一般需要在阵列基板的非显示区设置多个测试部件以及多个测试焊盘，以测试显示面板的显示区内的各个显示器件的性能。目前采用的测试设备上设置有呈一排分布的十二个测试探针，因此，阵列基板中每一排的测试焊盘的数量也为十二个。每次测试过程中，可以将测试设备的测试探针插到依次对应插到测试焊盘上进行测试。

发明人发现现有技术中至少存在如下问题：目前用于测试同一类型测试部件的测试焊盘呈一排分布，例如，每个薄膜晶体管需要连接三个测试焊盘，则每一排设置三个薄膜晶体管，对应的设置呈一排分布的十二个测试焊盘。测试时，可以将测试设备的探针插到对应的测试焊盘上进行测试。但是受限于测试设备的配置，每一次测试只能五个探针有效，这样每次只能测试一个薄膜晶体管，其他的两个有效探针以及测试焊盘处于闲置状态，利用率较低，且无法实现多个测试部件的同时测试。因此，测试速度较慢，影响测试效率。

发明内容

本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一，提供一种阵列基板、显示面板及显示装置。

解决本发明技术问题所采用的技术方案是一种阵列基板，具有显示区及位于所述显示区周边的非显示区；所述阵列基板包括：位于所述非显示区的多行测试部件及与所述测试部件连接测试焊盘；每个所述测试部件与至少两个所述测试焊盘连接，且不同类型所述测试部件连接的所述测试焊盘的数量不同；

至少部分行中设置有连接不同类型所述测试部件的所述测试焊盘，且至少部分连接不同类型所述测试部件的所述测试焊盘相邻设置。

可选地，所述测试部件包括：薄膜晶体管、电阻和电容；

所述薄膜晶体管与三个所述测试焊盘连接；所述电阻与四个所述测试焊盘连接；所述电容与两个所述测试焊盘连接。

可选地，至少部分行中设置有多个薄膜晶体管和多个电容，且至少部分所述薄膜晶体管与所述电容相邻设置。

可选地，所述阵列基板还包括：多条连接线；

同一所述薄膜晶体管连接的通过三条所述连接线与三个所述测试焊盘连接；所述薄膜晶体管位于靠近三个所述测试焊盘的中间所述测试焊盘的位置。

可选地，每一行的所述测试焊盘的数量与测试设备中的测试探针的数量相等。

可选地，所述阵列基板还包括：位于所述非显示区的多个冗余测试部件；

所述冗余测试部件位于相邻的所述测试部件之间。

可选地，所述阵列基板还包括：位于所述显示区的多个显示部件；

所述冗余测试部件的尺寸与所述显示部件的尺寸相等；相邻的所述冗余测试部件之间的间距与相邻的所述显示部件之间的间距相等。

可选地，所述冗余测试部件与所述测试部件的材料相同，且同层设置。

解决本发明技术问题所采用的技术方案是一种显示面板，包括如上述提供的阵列基板。

解决本发明技术问题所采用的技术方案是一种显示装置，包括如上述提供的显示面板。

附图说明

图1为现有技术中一种阵列基板的结构示意图；

图2为现有技术中一种阵列基板的测试焊盘的排布示意图；

图3为本发明实施例提供的一种阵列基板的测试焊盘的排布示意图；

图4为本发明实施例提供的一种阵列基板的测试部件的排布示意图。

具体实施方式

为使本领域技术人员更好地理解本发明的技术方案，下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细描述。

在阵列基板的生产过程中，往往需要对阵列基板中的器件进行测试，以及时发现阵列基板中不良器件，并进行拦截，从而提高阵列基板的良率及制备效率。图1为现有技术中一种阵列基板的结构示意图，如图1所述，在现有技术中，阵列基板具有显示区10及位于显示区10周边的非显示区20。显示区10内设置有显示器件，可以进行显示。非显示区20内设置有测试部件及与测试部件连接的测试焊盘。测试部件以及测试焊盘的具体结构将在之后的具体实施方式中进行详细描述。一般显示区10内的显示器件与非显示区20内的测试部件采用相同工艺、相同材料制备而成，在测试过程中，可以将测试设备中的测试探针插至测试焊盘上，以对非显示区20内的测试部件的性能进行测试，从而判断显示区10内的显示器件的性能是否正常。图2为现有技术中一种阵列基板的测试焊盘的排布示意图，如图2所示，阵列基板的非显示区20内设置有多行的测试部件(图中未示出)及与测试部件连接的测试焊盘201，为了制备方便，可以将同一类型的测试部件设置在同一行(图中以不同填充图案的结构表示连接不同类型测试部件的测试焊盘201)，对应地，阵列基板的连接同一类型测试部件的测试焊盘201位于同一行且相邻设置。目前采用的测试设备上设置有呈一排分布的十二个测试探针，因此，阵列基板中每一排的测试焊盘的数量也为十二个。每次测试过程中，可以将测试设备的测试探针插到依次对应插到测试焊盘201上进行测试。局限于测试设备的配置，每次测试过程中，仅有部分探针可以进行有效测试，例如五个探针可以进行有效测试。然而，由于阵列基板中的测试部件连接的测试焊盘201一般少于五个，在测试过程中，每次仅可以测量同一行中的一个测试部件，并且测试设备中的探针不能被充分利用，从而影响测试部件的测试效率，进而影响阵列基板性能的评估。本发明实施例提供的阵列基板、显示面板及显示装置旨在解决现有技术中的上述技术问题。下面将结合具体实施方式及附图，对本发明实施例提供的阵列基板、显示面板及显示装置进行进一步详细描述。

实施例一

本发明实施例提供的阵列基板具有显示区10及位于显示区10周边的非显示区20。显示区10内设置有显示器件，可以进行显示。非显示区20内设置有测试部件及与测试部件连接的测试焊盘201。一般显示区10内的显示器件与非显示区20内的测试部件采用相同工艺、相同材料制备而成。图3为本发明实施例提供的一种阵列基板的测试焊盘的排布示意图，如图3所示，本发明实施例提供的阵列基板包括：位于非显示区20的多行测试部件(图中未示出)及与测试部件连接测试焊盘201；每个测试部件与至少两个测试焊盘201连接，且不同类型测试部件201连接的测试焊盘201的数量不同。至少部分行中设置有连接不同类型测试部件的测试焊盘201，且至少部分连接不同类型测试部件的测试焊盘201相邻设置。

本发明实施例提供的阵列基板在测试过程中，可以将测试设备的探针插至对应的测试焊盘201上，以对各个测试部件进行测试。每个测试部件与至少两个测试焊盘201连接，且不同类型测试部件201连接的测试焊盘201的数量不同，由于连接不同类型测试部件的测试焊盘201可以位于同一行中，并且连接不同类型测试部件的测试焊盘201可以相邻设置，当对相邻的其中一个测试部件进行测试时，可以将利用原本处于闲置的探针对相邻的另一测试部件同时进行测试。例如测试设备中五个探针可以进行有效测试，可以将连接三个测试焊盘201的测试部件与连接两个测试焊盘201的测试部件设置于同一行中且相邻设置。这样，在测试过程中测试设备上的五个探针可以同时对两个不同类型且相邻的两个测试部件进行测试，不仅可以节省测试时间，还可以充分利用测试设备中的探针。由此可以看出，本发明实施例提供的阵列基板中测试焊盘201的排布可以提高测试部件的测试效率，从而可以实现阵列基板各个测试部件的精确测试，进而可以实现对不良产品的拦截，提高产品良率。

在一些实施例中，测试部件包括：薄膜晶体管、电阻和电容；薄膜晶体管与三个测试焊盘201连接；电阻与四个测试焊盘201连接；电容与两个测试焊盘201连接。

需要说明的是，在阵列基板中设置有大量的电学器件，其中，薄膜晶体管具有栅极、源极和漏极三个电极，可以将薄膜晶体管的三个电极分别连接三个测试焊盘201，以对薄膜晶体管的性能进行测试。由于阵列基板中的电阻一般为各个信号线的线性电阻或接触电阻，阻值较低，可以采用四端法对各个电阻进行测试，因此，电阻可以连接四个测试焊盘201，以对电阻进行测试。电容的两端可以分别连接两个测试焊盘201，以对电容的性能进行测试。可以理解的是，阵列基板中的其他类型的测试部件也可以采用其他的连接方式连接不同的测试焊盘201，在此不再一一列举。

在一些实施例中，至少部分行中设置有多个薄膜晶体管和多个电容，且至少部分薄膜晶体管与电容相邻设置。

需要说明的是，局限于测试设备的配置，测试设备可以利用五个探针同时通过五个对应的测试焊盘201对连接的测试部件进行测试。薄膜晶体管可以连接三个测试焊盘，电容可以连接两个测试焊盘201，可以与测试设备上的五个探针对应，可以将薄膜晶体管与电容设置于同一行，并且可以相邻设置，在测试过程中，每次可以实现对一个薄膜晶体管和一个电容的同时测试。一般测试一个薄膜晶体管所需要的时间为30秒，测试一个电容所需要的时间为5秒，这样在测试一个薄膜晶体管的同时至少可以节省测试一个电容的时间，因此可以节约测试时间，提高阵列基板的测试效率。可以理解的是，可以根据具体的测试设备的配置，还采用其他的不同方式，对阵列基板中的各个测试焊盘201的顺序进行重新排布，从而可以充分利用测试设备，并合理安排测试顺序，进而节省测试时间，以提高测试效率。

图4为本发明实施例提供的一种阵列基板的测试部件的排布示意图，如图4所示，阵列基板中还包括：多条连接线；同一薄膜晶体管连接的通过三条连接线与三个测试焊盘201连接；薄膜晶体管位于靠近三个测试焊盘的中间测试焊盘201的位置。

需要说明的是，薄膜晶体管具有三个电极需要连接三个测试焊盘201，在现有技术中，一般将薄膜晶体管设置在三个测试焊盘201的一端，其中的部分测试焊盘201距离薄膜晶体管的距离较长，容易导致连接线上的线性电阻较大，影响测试准确度。在本发明实施例中，可以将薄膜晶体管设置于靠近三个测试焊盘201中间测试焊盘201的位置，通过连接线分别将薄膜晶体管与三个测试焊盘201连接，这样可以减少连接线的布线长度，从而可以降低连接线线性电阻的阻值，进而可以避免连接线中的电阻对薄膜晶体管性能的影响，提高测试准确度。

在一些实施例中，每一行的测试焊盘201的数量与测试设备中的测试探针的数量相等。

需要说明的是，每一行测试焊盘201的数量可以与测试设备中的测试探针的数量相等，在测试过程中，可以将测试设备中的探针与连接测试部件的一行测试焊盘201对应连接，在测试完其中部分测试部件后，可以对同一行中的其他测试部件进行测试，这样可以不必重新移动或安装测试设备，可以实现一行中多个测试部件的测试，从而可以节约测试时间，提高测试效率。

如图4所示，阵列基板还包括：位于非显示区20的多个冗余测试部件；冗余测试部件位于相邻的测试部件之间。

需要说明的是，冗余测试部件不连接测试焊盘201以及其他器件，在图4中用不同的填充图案区分测试部件与冗余测试部件。在阵列基板制备过程中，冗余测试部件可以防止非显示区20内的测试部件与显示区10内的显示部件刻蚀不均匀，从而可以避免由于刻蚀不均匀而影响测试的准确度。

在一些实施例中，阵列基板还包括：位于显示区10的多个显示部件(图中未示出)；冗余测试部件的尺寸与显示部件的尺寸相等；相邻的冗余测试部件之间的间距与相邻的显示部件之间的间距相等。

需要说明的是，冗余测试部件的尺寸及间距尽量与显示区10中的显示器件的尺寸及间距相接近乃至相等，这样可以使得非显示区20的冗余测试部件和测试部件尽量接近于显示的显示器件的排布，从而使得测试结果更接近于显示区10的显示器件的性能，实现对阵列基板的准确及有效测试。

在一些实施例中，冗余测试部件与测试部件的材料相同，且同层设置。

需要说明的是，冗余测试部件与测试部件的材料相同，且同层设置，可以通过一次构图工艺形成，从而减少制备步骤，节约制备成本。

实施例二

基于同一发明构思，本发明实施例提供了一种显示面板，该显示面板包括如上述实施例提供的阵列基板，其实现原理与上述实施例提供的阵列基板的实现原理类似，在此不再赘述。

实施例三

基于同一发明构思，本发明实施例提供了一种显示装置，该显示装置包括如上述实施例提供的显示面板，该显示装置可以包括手机、电脑、智能电视等终端设备，其实现原理与上述实施例提供的阵列基板的实现方式类似，在此不再赘述。

可以理解的是，以上实施方式仅仅是为了说明本发明的原理而采用的示例性实施方式，然而本发明并不局限于此。对于本领域内的普通技术人员而言，在不脱离本发明的精神和实质的情况下，可以做出各种变型和改进，这些变型和改进也视为本发明的保护范围。

Claims (10)

1.一种阵列基板，具有显示区及位于所述显示区周边的非显示区；其特征在于，所述阵列基板包括：位于所述非显示区的多行测试部件及与所述测试部件连接测试焊盘；每个所述测试部件与至少两个所述测试焊盘连接，且不同类型所述测试部件连接的所述测试焊盘的数量不同；

至少部分行中设置有连接不同类型所述测试部件的所述测试焊盘，且至少部分连接不同类型所述测试部件的所述测试焊盘相邻设置；

每相邻两个不同类型所述测试部件的所述测试焊盘的数量与测试设备的相邻的有效探针和闲置探针的数量相同。

2.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述测试部件包括：薄膜晶体管、电阻和电容；

所述薄膜晶体管与三个所述测试焊盘连接；所述电阻与四个所述测试焊盘连接；所述电容与两个所述测试焊盘连接。

3.根据权利要求2所述的阵列基板，其特征在于，至少部分行中设置有多个薄膜晶体管和多个电容，且至少部分所述薄膜晶体管与所述电容相邻设置。

4.根据权利要求2所述的阵列基板，其特征在于，所述阵列基板还包括：多条连接线；

同一所述薄膜晶体管连接的通过三条所述连接线与三个所述测试焊盘连接；所述薄膜晶体管位于靠近三个所述测试焊盘的中间所述测试焊盘的位置。

5.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，每一行的所述测试焊盘的数量与测试设备中的测试探针的数量相等。

6.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述阵列基板还包括：位于所述非显示区的多个冗余测试部件；

所述冗余测试部件位于相邻的所述测试部件之间。

7.根据权利要求6所述的阵列基板，其特征在于，所述阵列基板还包括：位于所述显示区的多个显示部件；

所述冗余测试部件的尺寸与所述显示部件的尺寸相等；相邻的所述冗余测试部件之间的间距与相邻的所述显示部件之间的间距相等。

8.根据权利要求6所述的阵列基板，其特征在于，所述冗余测试部件与所述测试部件的材料相同，且同层设置。

9.一种显示面板，其特征在于，包括如权利要求1-8任一项所述的阵列基板。

10.一种显示装置，其特征在于，包括如权利要求9所述的显示面板。