CN110289302B - 显示面板及显示面板的测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种显示面板及显示面板的测试方法，显示面板包括：待剥离部；以及有效面板部，与待剥离部形状互补，有效面板部具有显示区，其中，待剥离部具有虚拟像素区，待剥离部包括设置于虚拟像素区的至少一个第一发光元件，至少一个第一发光元件能够与外部电路电连接。根据本发明实施例的显示面板，对显示面板的待剥离部加以利用，通过外部的测试电路与待剥离部的第一发光元件电连接，能够对第一发光元件的特性进行测试，从而一定程度掌握同一显示面板上有效面板部的显示区发光元件的特性。

Description

显示面板及显示面板的测试方法

技术领域

本发明涉及显示领域，具体涉及一种显示面板及显示面板的测试方法。

背景技术

有机发光二极管(Organic Light Emitting Display，OLED)显示装置作为平面显示装置，因具有高画质、省电、机身薄及应用范围广等优点，而被广泛的应用于手机、电视、个人数字助理、数字相机、笔记本电脑、台式计算机等各种消费性电子产品，成为显示装置中的主流。

在OLED显示装置的生产过程中，如果能够准确测试OLED发光元件的特性，对掌握OLED显示装置的使用寿命、判断OLED显示装置是否存在缺陷等方面将会存在积极作用。然而OLED显示装置中OLED发光元件的电极通常连接至对应的像素电路，难以将其电极引出至显示区外部，从而难以直接对OLED发光元件的特性进行测试。

发明内容

本发明提供一种显示面板及显示面板的测试方法，能更方便地对该显示面板上的发光元件的特性进行测试。

一方面，本发明实施例提供一种显示面板，显示面板包括：待剥离部；以及有效面板部，与待剥离部形状互补，有效面板部具有显示区，其中，待剥离部具有虚拟像素区，待剥离部包括设置于虚拟像素区的至少一个第一发光元件，至少一个第一发光元件能够与外部电路电连接。

根据本发明实施例的一个方面，显示面板还包括：测试垫，设置于待剥离部和/或有效面板部，至少一个第一发光元件电连接至对应的测试垫。

根据本发明实施例的一个方面，第一发光元件的数目为多个，多个第一发光元件排布为多行及多列，每个第一发光元件包括第一电极和第二电极，其中，每行第一发光元件的第一电极电连接至对应的一个测试垫，每列第一发光元件的第二电极电连接至对应的一个测试垫。

根据本发明实施例的一个方面，待剥离部具有覆盖虚拟像素区的第一封装区，测试垫设置于第一封装区外。

根据本发明实施例的一个方面，待剥离部具有位于虚拟像素区外周的非像素区，测试垫设置于非像素区。

根据本发明实施例的一个方面，第一发光元件的数目为多个，多个第一发光元件阵列排布于虚拟像素区，其中多个第一发光元件中的至少一个能够与外部电路电连接；有效面板部包括阵列排布于显示区的多个第二发光元件；其中，多个第一发光元件的排布方式与多个第二发光元件的排布方式相同。

根据本发明实施例的一个方面，第二发光元件为多层结构，第一发光元件为与第二发光元件的层结构相同的多层结构，其中第一发光元件的各层与第二发光元件的对应层同时形成。

根据本发明实施例的一个方面，第一发光元件的尺寸与第二发光元件的尺寸相同。

根据本发明实施例的一个方面，显示面板具有外轮廓线，待剥离部自外轮廓线的任意位置向显示面板内扩散延伸；或者，待剥离部位于显示面板内部，有效面板部围绕待剥离部的整个外周。

根据本发明实施例的一个方面，第一发光元件、第二发光元件均为有机发光二极管发光元件。

另一方面，本发明实施例提供一种显示面板的测试方法，其包括：提供根据上述任一实施方式的显示面板；以及将显示面板的待剥离部中的至少一个第一发光元件与测试电路电连接，测试第一发光元件的特性。

根据本发明实施例的显示面板，对显示面板的待剥离部加以利用，在待剥离部上设有第一发光元件，通过外部的测试电路与待剥离部的第一发光元件电连接，能够对第一发光元件的特性进行测试，从而一定程度掌握同一显示面板上有效面板部的显示区发光元件的特性。进一步地，更便于对有关显示面板上的发光元件的使用寿命、是否存在缺陷等方面进行研究。

在一些可选的实施例中，待剥离部的多个第一发光元件的排布方式与有效面板部显示区的多个第二发光元件的排布方式相同，使得便于接受测试的第一发光元件周边的发光元件排布环境与有效面板部显示区的发光元件排布环境基本一致，测试得到的第一发光元件的特性更准确接近于有效面板部显示区的第二发光元件的特性，提高对有效面板部显示区的第二发光元件特性掌握的准确度。

在一些可选的实施例中，第一发光元件的各层与第二发光元件的各层一一对应相同且同时形成，使得待剥离部中的第一发光元件的层结构与有效面板部显示区的第二发光元件的层结构基本一致。在一些可选的实施例中，第一发光元件的尺寸与第二发光元件的尺寸相同。通过将待剥离部的第一发光元件与有效面板部显示区的第二发光元件的周边元件排布环境、和/或层结构、和/或尺寸大小配置为基本一致，使得待剥离部的第一发光元件的各项特性与有效面板部显示区的第二发光元件的各项特征趋于一致，进而使得第一发光元件的特性能够更准确代表第二发光元件的特性，实现对有效面板部显示区的第二发光元件特性信息的更准确获取。

附图说明

通过阅读以下参照附图对非限制性实施例所作的详细描述，本发明的其它特征、目的和优点将会变得更明显，其中，相同或相似的附图标记表示相同或相似的特征，附图并未按照实际的比例绘制。

图1示出根据本发明实施例的显示面板的结构示意图；

图2示出图1中Q区域的局部放大示意图；

图3示出示出根据本发明实施例的显示面板剥离待剥离部后的结构示意图。

图中：

100-显示面板；CL-外轮廓线；

110-待剥离部；DP-虚拟像素区；NP-非像素区；E1-第一封装区；

111-第一发光元件；

120-有效面板部；AA-显示区；NA-非显示区；

121-第二发光元件；

130-测试垫；

100a-剥离待剥离部后得到的显示面板；NC-缺口。

具体实施方式

下面将详细描述本发明的各个方面的特征和示例性实施例，为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及具体实施例，对本发明进行进一步详细描述。应理解，此处所描述的具体实施例仅被配置为解释本发明，并不被配置为限定本发明。对于本领域技术人员来说，本发明可以在不需要这些具体细节中的一些细节的情况下实施。下面对实施例的描述仅仅是为了通过示出本发明的示例来提供对本发明更好的理解。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

应当理解，在描述部件的结构时，当将一层、一个区域称为位于另一层、另一个区域“上面”或“上方”时，可以指直接位于另一层、另一个区域上面，或者在其与另一层、另一个区域之间还包含其它的层或区域。并且，如果将部件翻转，该一层、一个区域将位于另一层、另一个区域“下面”或“下方”。

本发明实施例提供一种显示面板，显示面板可以是包含有机发光二极管(OrganicLight Emitting Diode，OLED)发光元件的显示面板，在其它一些实施例中，也可以是包含利用其它发光元件的显示面板。

图1示出根据本发明实施例的显示面板的结构示意图，显示面板100包括待剥离部110以及有效面板部120，其中图1中以阴影部分示出待剥离部110。有效面板部120与待剥离部110形状互补。待剥离部110可以在显示面板100的后续加工过程中剥离去除，从而得到形状与有效显示部120相同的显示面板。

在一些实施例中，显示面板100具有外轮廓线CL，待剥离部110自外轮廓线CL的任意位置向显示面板100内扩散延伸。待剥离部110可以在显示面板100的后续加工过程中剥离去除，剥离待剥离部110后得到的显示面板相对剥离前的显示面板100具有缺口，使得剥离待剥离部110后得到的显示面板为异形屏，其中缺口的形状与待剥离部110的形状相同。

本文中，“异形屏”指显示面板的外轮廓线的任一位置具有向内凹陷的缺口的显示面板。

在一些实施例中，显示面板100的外轮廓线CL为规则形状或大致规则的形状。例如在一些实施例中，显示面板100的外轮廓线CL为矩形、圆角矩形(大致的矩形)。在其它一些实施例中，显示面板100的外轮廓线CL还可以是圆形、方形以及其它多边形等形状。

在一些实施例中，剥离部110自矩形或大致矩形的外轮廓线CL的其中一边向显示面板100内扩散延伸，其中剥离部110扩散延伸的形状可以是规则的矩形、梯形等多边形，也可以是包含曲面的形状，还可以是水滴形、包括弓形边界的异形、包括U形边界的异形等异形形状。显示面板100在剥离待剥离部110后，得到的显示面板具有对应形状的缺口。

在其它一些实施例中，剥离部110位于显示面板100内部，有效面板部120围绕剥离部110的整个外周。待剥离部110可以在显示面板100的后续加工过程中剥离去除，剥离待剥离部110后得到的显示面板相对剥离前的显示面板100具有位于显示面板内部的开口，使得剥离待剥离部110后得到的显示面板为挖孔屏，其中开口的形状与待剥离部110的形状相同。其中，剥离部110的形状可以根据实际设计需要设置。

本文中，“挖孔屏”指显示面板的内部任一位置具有开口的显示面板，该开口的边界与显示面板的外轮廓线无交集。

请参考图1，在本实施例中，有效面板部120具有显示区AA。在一些实施例中，有效面板部120还具有位于显示区AA外周的非显示区NA。

图2示出图1中Q区域的局部放大示意图。其中在本发明实施例中，待剥离部110具有虚拟像素区DP。待剥离部110包括设置于虚拟像素区DP的至少一个第一发光元件111，至少一个第一发光元件111能够与外部电路电连接。

根据本发明实施例的显示面板100，对显示面板100的待剥离部110加以利用，在待剥离部110上设有第一发光元件111，通过外部的测试电路与待剥离部110的第一发光元件111电连接，能够对第一发光元件111的特性进行测试，从而一定程度掌握同一显示面板100上有效面板部120的显示区AA发光元件的特性。进一步地，更便于对有关显示面板100上的发光元件的使用寿命、是否存在缺陷等方面进行研究。

在一些实施例中，第一发光元件111的数目为多个，多个第一发光元件111阵列排布于虚拟像素区DP。其中多个第一发光元件111中的至少一个能够与外部电路电连接。在本实施例中，第一发光元件111为OLED发光元件。在其它一些实施例中，第一发光元件111可以是其它自发光元器件，例如是发光二极管(Light Emitting Diode，LED)发光元件。

有效面板部120可以包括阵列排布于显示区AA的多个第二发光元件121。第二发光元件121的元件类型与第一发光元件111的元件类型相同，在本实施例中，第二发光元件121为OLED发光元件。

在一些实施例中，多个第一发光元件111的排布方式与多个第二发光元件121的排布方式相同，使得便于接受测试的第一发光元件111周边的发光元件排布环境与有效面板部120显示区AA的发光元件排布环境基本一致，测试得到的第一发光元件111的特性更准确接近于有效面板部120显示区AA的第二发光元件121的特性，提高对有效面板部120显示区AA的第二发光元件121特性掌握的准确度。

本文中，多个第一发光元件111的排布方式与多个第二发光元件121的排布方式相同，即多个第一发光元件111形成的像素排布结构与多个第二发光元件121形成的像素排布结构相同。具体地，多个第一发光元件111以第一最小重复单元呈周期性重复排列，多个第二发光元件121以第二最小重复单元呈周期性重复排列，其中第一最小重复单元与第二最小重复单元相同，但第一发光元件111中第一最小重复单元的个数和第二发光元件121中第二最小重复单元的个数可以不同。

在一些实施例中，第二发光元件121为多层结构，第一发光元件111为与第二发光元件121的层结构相同的多层结构。其中，第一发光元件111的各层与第二发光元件121的对应层同时形成，以提高结构一致性，同时节省制程时间。

以第一发光元件111、第二发光元件121是OLED发光元件为例进行说明，第一发光元件111、第二发光元件121都包括相对设置的阳极、阴极以及夹设在阳极、阴极之间的发光层。在一些实施例中，第一发光元件111、第二发光元件131还分别可以包括空穴注入层、空穴传输层、电子注入层、电子传输层中至少一种，第一发光元件111与第二发光元件131包含的功能层以及各功能层的位置关系相同。第一发光元件111与第二发光元件121的各对应层分别在同一工艺步骤中形成。例如，第一发光元件111的发光层与第二发光元件121的发光层在同一蒸镀工艺中形成。

在一些实施例中，第一发光元件111的尺寸与第二发光元件121的尺寸相同。

通过将待剥离部110的第一发光元件111与有效面板部120显示区AA的第二发光元件121的周边元件排布环境、和/或层结构、和/或尺寸大小配置为基本一致，使得待剥离部110的第一发光元件111的各项特性与有效面板部120显示区AA的第二发光元件121的各项特征趋于一致，进而使得第一发光元件111的特性能够更准确代表第二发光元件121的特性，实现对有效面板部120显示区AA的第二发光元件121特性信息的更准确获取。

如图2，在一些实施例中，显示面板100还包括测试垫130。测试垫130的数量可以是多个，可以按照预定的方式进行排布。测试垫130可以设置于待剥离部110和/或有效面板部120，其中至少一个第一发光元件111电连接至对应的测试垫130。

通过将第一发光元件111电连接至测试垫130，外界测试电路可以通过与测试垫130电连接而电连接至对应的待测第一发光元件111，从而便于对第一发光元件111电测试操作的进行。

在一些实施例中，包含上述测试电路的测试装置具有探针，该测试装置可以通过探针与测试垫130对应接触连接。在一些实施例中，测试电路可以对第一发光元件111的电压、电流等特性进行检测，并且依据测试结果得到该第一发光元件111的关于电流、电压的特性曲线。根据上述关于第一发光元件111的特性测试结果，能够获知其使用寿命、是否存在故障等信息，进而以此获知同一显示面板100上有效面板部120显示区AA的第二发光元件121的对应信息。

在本实施例中，第一发光元件111的数目为多个，多个第一发光元件111排布为多行及多列。每个第一发光元件111包括第一电极和第二电极。第一发光元件111是OLED发光元件时，第一电极、第二电极中的一个为阳极，另一个为阴极。

其中，每行第一发光元件111的第一电极电连接至对应的一个测试垫130，每列第一发光元件111的第二电极电连接至对应的一个测试垫130，使得多个第一发光元件111形成无源矩阵(Passive Matrix，PM)。

在一些实施例中，有效面板部120显示区AA的每个第二发光元件121与各自对应的像素电路电连接，其中像素电路中设有薄膜晶体管(Thin Film Transistor，TFT)、电容等器件。在待剥离部110内，不设有与每个第一发光元件111对应电连接的像素电路。本实施例中，测试垫130直接与多个第一发光元件111的第一电极、第二电极分别电连接，能够在测试中排除像素电路的TFT等器件对测试结果的影响，提高对发光元件检测的准确性。

接受特性测试时，可以将外部的测试电路与上述多行第一发光元件111对应的多个测试垫130以及上述多列第一发光元件111对应的多个测试垫130电连接，通过PM驱动的方式驱动待剥离部110的多个第一发光元件111发光，并对其特性进行检测。由于采用PM驱动的方式对待剥离部110的多个第一发光元件111进行测试，能够排除其他例如有源矩阵(Active Matrix，AM)驱动方式中像素电路的TFT等器件对测试结果的影响，提高对发光元件检测的准确性。

需要说明的是，第一发光元件111与测试垫130的电连接方式可以不限于上述示例的方式。在其它一些实施例中，也可以是将待剥离部110的多个第一发光元件111中的一个或若干个第一发光元件111电连接至对应的测试垫130。

在一些实施例中，待剥离部110具有位于虚拟像素区DP外周的非像素区NP，测试垫130可以设置于非像素区NP。在其它一些实施例中，测试垫130也可以设置于有效面板部120的非显示区NA。在一些实施例中，也可以将一部分数量的测试垫130设置于待剥离部110的非像素区NP，另一部分数量的测试垫130设置于有效面板部120的非显示区NA。

在一些实施例中，待剥离部110具有覆盖虚拟像素区DP的第一封装区E1。图2中，以虚线示出本实施例中第一封装区E1的外轮廓。在一些实施例中，测试垫130设置于第一封装区E1外。

在一些实施例中，有效面板部120具有覆盖显示区AA的第二封装区，第一封装区E1的层结构可以与第二封装区相同，并且同时形成。在至少部分测试垫130设置于有效面板部120的非显示区NA的实施方式中，测试垫130可以设置于第二封装区外。

通过将测试垫130设置在第一封装区E1和/或第二封装区外，使得封装后的显示面板100仍然能够接收对其发光元件特性的测试，并且测试结果更接近其发光元件的真实工作环境，提高测试的准确性。

本发明实施例还提供一种显示面板的测试方法，以下将以对上述实施例的显示面板100的测试过程为例，对显示面板的测试方法示例性说明。

在显示面板的测试方法中，首先提供第一显示面板，其中第一显示面板为上述任一实施方式的显示面板100。本实施例中提供上述本发明实施例的显示面板100。

之后，将第一显示面板的待剥离部中的至少一个第一发光元件与测试电路电连接，测试第一发光元件的特性。在本实施例中，至少一个第一发光元件电连接至对应测试垫，外部的测试电路可以通过与测试垫电连接而电连接至对应的待测第一发光元件，从而便于对第一发光元件电测试操作的进行。

在一些实施例中，外部的测试电路可以对第一发光元件的电压、电流等特性进行检测，并且依据测试结果得到该第一发光元件的关于电流、电压的特性曲线。根据上述关于第一发光元件的特性测试结果，能够获知其使用寿命、是否存在故障等信息，进而以此获知同一第一显示面板上有效面板部显示区的第二发光元件的对应信息。

在一些实施例中，完成测试的第一显示面板在后续过程中可以进行剥离的步骤，即剥离第一显示面板的待剥离部，得到与第一显示面板的有效面板部形状对应的第二显示面板。

图3示出示出根据本发明实施例的显示面板的测试方法中剥离待剥离部后的结构示意图。剥离待剥离部前的显示面板100即第一显示面板，剥离待剥离部后得到的显示面板100a即第二显示面板。其中，剥离待剥离部后得到的显示面板100a相对剥离前的显示面板100具有缺口NC，使得剥离待剥离部后得到的显示面板100a为异形屏，其中缺口NC的形状与第一显示面板的待剥离部的形状相同。

根据本发明实施例的显示面板及其测试方法，对显示面板的待剥离部加以利用，在待剥离部上设有第一发光元件，通过外部测试电路与待剥离部的第一发光元件电连接，能够对第一发光元件的特性进行测试，从而一定程度掌握同一显示面板上有效面板部的显示区发光元件的特性。进一步地，更便于对有关显示面板上的发光元件的使用寿命、是否存在缺陷等方面进行研究。

依照本发明如上文所述的实施例，这些实施例并没有详尽叙述所有的细节，也不限制该发明仅为所述的具体实施例。显然，根据以上描述，可作很多的修改和变化。本说明书选取并具体描述这些实施例，是为了更好地解释本发明的原理和实际应用，从而使所属技术领域技术人员能很好地利用本发明以及在本发明基础上的修改使用。本发明仅受权利要求书及其全部范围和等效物的限制。

Claims (11)

1.一种显示面板，其特征在于，包括：

待剥离部；以及

有效面板部，与所述待剥离部形状互补，所述有效面板部具有显示区，所述有效面板部包括阵列排布于所述显示区的多个第二发光元件；

其中，所述待剥离部具有虚拟像素区，所述待剥离部包括设置于所述虚拟像素区的至少一个第一发光元件，至少一个所述第一发光元件能够与外部电路电连接，多个所述第一发光元件的排布方式与多个所述第二发光元件的排布方式相同。

2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板还包括：

测试垫，设置于所述待剥离部和/或所述有效面板部，至少一个所述第一发光元件电连接至对应的所述测试垫。

3.根据权利要求2所述的显示面板，其特征在于，所述第一发光元件的数目为多个，多个所述第一发光元件排布为多行及多列，每个所述第一发光元件包括第一电极和第二电极，

其中，每行所述第一发光元件的所述第一电极电连接至对应的一个所述测试垫，每列所述第一发光元件的所述第二电极电连接至对应的一个所述测试垫。

4.根据权利要求2所述的显示面板，其特征在于，所述待剥离部具有覆盖所述虚拟像素区的第一封装区，所述测试垫设置于所述第一封装区外。

5.根据权利要求2所述的显示面板，其特征在于，所述待剥离部具有位于所述虚拟像素区外周的非像素区，所述测试垫设置于所述非像素区。

6.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述第一发光元件的数目为多个，多个所述第一发光元件阵列排布于所述虚拟像素区，其中多个所述第一发光元件中的至少一个能够与外部电路电连接。

7.根据权利要求6所述的显示面板，其特征在于，所述第二发光元件为多层结构，所述第一发光元件为与所述第二发光元件的层结构相同的多层结构，其中所述第一发光元件的各层与所述第二发光元件的对应层同时形成。

8.根据权利要求7所述的显示面板，其特征在于，所述第一发光元件的尺寸与所述第二发光元件的尺寸相同。

9.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板具有外轮廓线，所述待剥离部自所述外轮廓线的任意位置向所述显示面板内扩散延伸；

或者，所述待剥离部位于所述显示面板内部，所述有效面板部围绕所述待剥离部的整个外周。

10.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述第一发光元件、所述第二发光元件均为有机发光二极管发光元件。

11.一种显示面板的测试方法，其特征在于，包括：

提供根据权利要求1至10任一项所述的显示面板；以及

将所述显示面板的待剥离部中的至少一个第一发光元件与测试电路电连接，测试所述第一发光元件的特性。

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