CN111257648A - 电容检测方法及装置 - Google Patents

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CN111257648A
CN111257648A CN202010102423.XA CN202010102423A CN111257648A CN 111257648 A CN111257648 A CN 111257648A CN 202010102423 A CN202010102423 A CN 202010102423A CN 111257648 A CN111257648 A CN 111257648A
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capacitor
driving signal
signal
capacitance
reference capacitor
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薛珂
徐红如
李曙光
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Nanjing Yingruichuang Electronic Technology Co Ltd
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Nanjing Yingruichuang Electronic Technology Co Ltd
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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
    • G01R27/26—Measuring inductance or capacitance; Measuring quality factor, e.g. by using the resonance method; Measuring loss factor; Measuring dielectric constants ; Measuring impedance or related variables
    • G01R27/2605—Measuring capacitance

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Abstract

本发明涉及一种电容检测方法及装置。该电容检测方法，将待测电容和参考电容连接成电容检测电路；并对待测电容和参考电容输入第一驱动信号和第二驱动信号，从而在待测电容和参考电容之间形成通路；最后根据第一驱动信号和第二驱动信号的大小，以及参考电容的电容值计算待测电容的电容值。该电容检测方法，使待测电容和参考电容之间形成闭环通路，从而根据第一驱动信号和第二驱动信号的大小，得到待测电容和参考电容的比例关系，进而准确计算出待测电容的电容值。

Description

电容检测方法及装置
技术领域
本发明涉及电容检测技术，特别是涉及电容检测方法及装置。
背景技术
随着科学技术的发展，电子器件的应用越来越普遍。电容广泛应用于电子电路中，对电子器件的工作起重要作用。
传统技术中，通常利用开环检测方案对电容进行电容值检测。即将待测电容的电荷转移到参考电容上，从而通过参考电容的电压变化反应待测电容的电容值。
申请人在实现传统技术的过程中发现：利用开环检测方案检测电容值不够准确。
发明内容
基于此，有必要针对传统技术中开环检测方案检测电容值不够准确的问题，提供一种电容检测方法及装置。
一种电容检测方法，包括：
将待测电容和参考电容连接成电容检测电路，其中，所述待测电容的一个极板与所述参考电容的一个极板连接；
对所述待测电容的另一个极板输入第一驱动信号，对所述参考电容的另一个极板输入第二驱动信号，以使所述待测电容和所述参考电容之间形成通路；
根据所述第一驱动信号和所述第二驱动信号的大小，以及所述参考电容的电容值，计算所述待测电容的电容值。
在其中一个实施例中，所述第一驱动信号和所述第二驱动信号包括方波信号或正弦波信号的任意一种；
所述第一驱动信号和所述第二驱动信号相位相反、周期相同。
在其中一个实施例中，所述对所述待测电容的另一个极板输入第一驱动信号，对所述参考电容的另一个极板输入第二驱动信号，以使所述待测电容和所述参考电容之间形成通路，包括：
对所述待测电容的另一个极板输入第一驱动信号，对所述参考电容的另一个极板输入第二驱动信号；
在所述待测电容的一个极板和所述参考电容的一个极板之间选取电压检测点，检测所述电压检测点的电压得到第一电压值；
根据所述第一电压值调节所述第一驱动信号或/和所述第二驱动信号的大小，以使所述待测电容和所述参考电容之间形成通路。
在其中一个实施例中，所述根据所述第一电压值调节所述第一驱动信号或/和所述第二驱动信号的大小，以使所述待测电容和所述参考电容之间形成通路，包括：
判断输入所述第一驱动信号和所述第二驱动信号若干个周期后，所述第一电压值是否发生变化；
若所述第一电压值未发生变化，则所述待测电容和所述参考电容之间形成通路。
在其中一个实施例中，所述的电容检测方法，所述根据所述第一电压值调节所述第一驱动信号或/和所述第二驱动信号的大小，以使所述待测电容和所述参考电容之间形成通路，还包括：
若所述第一电压值发生变化，则执行：
对所述第一驱动信号或/和所述第二驱动信号进行电压调节；
判断输入所述第一驱动信号和所述第二驱动信号若干个周期后，所述第一电压值是否发生变化。
在其中一个实施例中，所述根据所述第一驱动信号和所述第二驱动信号的大小，以及所述参考电容的电容值，计算所述待测电容的电容值，包括：
获取所述第一驱动信号和所述第二驱动信号的大小；
获取所述参考电容的电容值；
根据
Figure BDA0002387304850000031
计算所述待测电容的电容值，其中，C1为所述待测电容的电容值；C2为所述参考电容的电容值；V2为所述第一驱动信号的电压幅值；V1为所述第二驱动信号的电压幅值。
上述电容检测方法，将待测电容和参考电容连接成电容检测电路；并对待测电容和参考电容输入第一驱动信号和第二驱动信号，从而在待测电容和参考电容之间形成通路；最后根据第一驱动信号和第二驱动信号的大小，以及参考电容的电容值计算待测电容的电容值。该电容检测方法，使待测电容和参考电容之间形成闭环通路，从而根据第一驱动信号和第二驱动信号的大小，得到待测电容和参考电容的比例关系，进而准确计算出待测电容的电容值。
一种电容检测装置，用于执行如上述任意一个实施例中所述的电容检测方法，包括：
第一信号发生模组，与所述待测电容的另一个极板和所述参考电容的另一个极板中的一个连接，所述第一信号发生模组用于输出固定驱动信号，所述固定驱动信号为所述第一驱动信号和所述第二驱动信号中的一个；
第二信号发生模组，与所述待测电容的另一个极板和所述参考电容的另一个极板中的另一个连接，所述第二信号发生模组用于输出可变驱动信号，所述可变驱动信号为所述第一驱动信号和所述第二驱动信号中的另一个。
在其中一个实施例中，所述的电容检测装置还包括：
开关K1，连接于所述第一信号发生模组与所述待测电容的另一个极板之间，用于控制所述第一信号发生模组与所述待测电容的另一个极板之间的电路通断；
开关K2，连接于所述第一信号发生模组与所述参考电容的另一个极板之间，用于控制所述第一信号发生模组与所述参考电容的另一个极板之间的电路通断；
开关K3，连接于所述第二信号发生模组与所述待测电容的另一个极板之间，用于控制所述第二信号发生模组与所述待测电容的另一个极板之间的电路通断；
开关K4，连接于所述第二信号发生模组与所述参考电容的另一个极板之间，用于控制所述第二信号发生模组与所述参考电容的另一个极板之间的电路通断。
在其中一个实施例中，所述开关K1闭合时，所述开关K2断开，所述开关K3断开，所述开关K4闭合；
所述开关K1断开时，所述开关K2闭合，所述开关K3闭合，所述开关K4断开。
在其中一个实施例中，所述第二信号发生模组包括：
比较器，连接于电压检测点，以获取所述电压检测点的第一电压值，并将所述第一电压值与预设电压值进行对比，得到比较结果；
控制器，与所述比较器连接，用于获取所述比较结果，并根据所述比较结果输出控制信号；
信号发生器，与所述控制器连接，以获取所述控制信号，并根据所述控制信号输出驱动信号。
上述电容检测装置，用于执行上述实施例中的电容检测方法。该电容检测装置，使待测电容和参考电容之间形成闭环通路，从而根据第一驱动信号和第二驱动信号的大小，得到待测电容和参考电容的比例关系，进而准确计算出待测电容的电容值。
附图说明
图1为本申请一个实施例中电容检测方法的流程示意图；
图2为本申请一个实施例中电容检测电路的结构示意图；
图3为本申请一个实施例中第一驱动信号和第二驱动信号的波形示意图；
图4为本申请一个实施例中电容检测方法的步骤S200的流程示意图；
图5为本申请一个实施例中电容检测装置及电容检测电路的组合示意图；
图6为本申请另一个实施例中电容检测装置及电容检测电路的组合示意图。
其中，各附图标号所代表的含义分别为：
10、电容检测电路；
20、电容检测装置；
210、第一信号发生模组；
220、第二信号发生模组；
222、比较器；
224、控制器；
226、信号发生器。
具体实施方式
为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本发明的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本发明。但是本发明能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本发明内涵的情况下做类似改进，因此本发明不受下面公开的具体实施例的限制。
本文中为部件所编序号本身，例如“第一”、“第二”等，仅用于区分所描述的对象，不具有任何顺序或技术含义。而本申请所说“连接”、“联接”，如无特别说明，均包括直接和间接连接(联接)。在本申请的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。
在本申请中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触，或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。
本申请提供一种电容检测方法及电容检测装置，用于向待测电容输入第一驱动信号，向参考电容输入第二驱动信号，使待测电容和参考电容之间形成闭环通路。以此，即可根据第一驱动信号和第二驱动信号的大小，得到待测电容和参考电容的比例关系，进而准确计算出待测电容的电容值。
如图1所示，在一个实施例中，本申请提供一种电容检测方法，用于检测待测电容的电容值。该电容检测方法包括：
S100，将待测电容和参考电容连接成电容检测电路，其中，待测电容的一个极板与参考电容的一个极板连接。
将待测电容C1的一个极板和参考电容C2的一个极板连接，从而构成电容检测电路10，如图2所示。为便于描述，在本申请的各实施例中：将待测电容C1与参考电容C2连接的一个极板称为第一极板，将待测电容C1未与参考电容C2连接的一个极板称为第二极板；将参考电容C2与待测电容C1连接的一个极板称为第三极板，将参考电容C2未与待测电容C1连接的一个极板称为第四极板。
待测电容C1的第一极板与参考电容C2的第三极板连接，构成电容检测电路10。
S200，对待测电容的另一个极板输入第一驱动信号，对参考电容的另一个极板输入第二驱动信号，以使待测电容和参考电容之间形成通路。
对待测电容C1的另一个极板输入第一驱动信号，即对上述第二极板输入第一驱动信号；对参考电容C2的另一个极板输入第二驱动信号，即对上述第四极板输入第二驱动信号，从而使待测电容C1和参考电容C2之间形成通路。
在本申请的各实施例中，待测电容C1和参考电容C2之间形成通路，是指待测电容C1和参考电容C2之间形成了稳定的电通路。
S300，根据第一驱动信号和第二驱动信号的大小，以及参考电容的电容值，计算待测电容的电容值。
当待测电容C1和参考电容C2之间形成通路时，根据第一驱动信号的大小与第二驱动信号的大小的比例关系，即可得到待测电容C1的电容值与参考电容C2的电容值的比例关系。此时，再根据参考电容C2的电容值，即可计算得到待测电容C1的电容值。
上述电容检测方法，将待测电容和参考电容连接成电容检测电路10；并对待测电容和参考电容输入第一驱动信号和第二驱动信号，从而在待测电容和参考电容之间形成通路；最后根据第一驱动信号和第二驱动信号的大小，以及参考电容的电容值计算待测电容的电容值。该电容检测方法，使待测电容和参考电容之间形成闭环通路，从而根据第一驱动信号和第二驱动信号的大小，得到待测电容和参考电容的比例关系，进而准确计算出待测电容的电容值。
在一个实施例中，第一驱动信号和第二驱动信号包括方波信号或正弦波信号的任意一种；第一驱动信号和第二驱动信号相位相反、周期相同。
具体的，第一驱动信号用于输入至待测电容C1的第二极板；第二驱动信号用于输入至参考电容C2的第四极板，从而使待测电容C1和参考电容C2之间形成通路。因此，第一驱动信号和第二驱动信号应相位相反，且周期相同，从而形成通路。
在一个具体的实施例中，第一驱动信号和第二驱动信号可以是方波信号，如图3所示。在图3中，上方的方波图可以表示第一驱动信号的波形图；下方的方波图可以表示第二驱动信号的波形图。在另一个具体的实施例中，第一驱动信号和第二驱动信号可以是正弦波信号。
在一个实施例中，上述电容检测方法，其步骤S200可以包括：
S210，对待测电容的另一个极板输入第一驱动信号，对参考电容的另一个极板输入第二驱动信号。
对待测电容C1的第二极板输入第一驱动信号，对参考电容C2的第四极板输入第二驱动信号。
S220，在待测电容的一个极板和参考电容的一个极板之间选取电压检测点，检测电压检测点的电压得到第一电压值。
在待测电容C1的第一极板和参考电容C2的第三极板之间选取电压检测点。这里的待测电容C1的第一极板和参考电容C2的第三极板之间，指的是电性连接第一极板和第三极板的电路上的一点。对该电压检测点进行电压检测，得到电压检测值。为便于描述，将电压检测点的电压值命名为第一电压值。
S230，根据第一电压值调节第一驱动信号或/和第二驱动信号的大小，以使待测电容和参考电容之间形成通路。
根据第一电压值调节第一驱动信号和第二驱动信号中的至少一个，从而使待测电容和参考电容之间形成通路。
其中，如图4所示，步骤S230可以包括：
S231，判断输入第一驱动信号和第二驱动信号若干个周期后，第一电压值是否发生变化。
在上述实施例中，已知待测电容C1和参考电容C2之间要形成通路，则第一驱动信号和第二驱动信号周期相同，相位相反。在本实施例中，在输入第一驱动信号和第二驱动信号若干个周期后，判断电压检测点的第一电压值是否发生变化。这里的若干个指一个或一个以上的整数。
S232，若第一电压值未发生变化，则待测电容和参考电容之间形成通路。
若第一电压值未发生变化，则表明待测电容C1和参考电容C2之间电荷转移稳定，此时，待测电容和参考电容之间形成稳定的通路。
在又一个实施例中，如图4所示，步骤S230还可以包括：
若第一电压值发生变化，则执行：
S233，对第一驱动信号或/和第二驱动信号进行电压调节。
对第一驱动信号和第二驱动信号中的至少一个进行电压调节。这里的电压调节是指调节第一驱动信号或第二驱动信号的电压幅值。一般来说，为便于操作，在本步骤中，可以仅对第一驱动信号和第二驱动信号中的一个进行电压调节。
S231，判断输入第一驱动信号和第二驱动信号若干个周期后，第一电压值是否发生变化。
换句话说，若第一电压值发生变化，则对第一驱动信号和第二驱动信号中的至少一个进行电压调节后，重新执行步骤S231，直至第一电压值在输入第一驱动信号和第二驱动信号若干个周期后不发生变化。
在一个实施例中，步骤S300可以包括：
获取第一驱动信号和第二驱动信号的大小；
获取参考电容C2的电容值；
根据
Figure BDA0002387304850000101
计算待测电容C1的电容值，其中，C1为待测电容C1的电容值；C2为参考电容C2的电容值；V2为第一驱动信号的电压幅值；V1为第二驱动信号的电压幅值。
在一个实施例中，本申请还提供一种电容检测装置20，用于执行如上述实施例中的的电容检测方法。如图5所示，该电容检测装置20可以包括第一信号发生模组210和第二信号发生模组220。
具体的，第一信号发生模组210与待测电容C1的另一个极板和参考电容C2的另一个极板中的一个连接。即第一信号发生模组210与第二极板和第四极板中的一个连接。
第一信号发生模组210用于输出固定驱动信号，固定驱动信号为第一驱动信号和第二驱动信号中的一个。由上述实施例已知，可以通过对第一驱动信号和第二驱动信号中的至少一个进行电压调节，从而使待测电容和参考电容之间形成通路。本实施例中的电容检测装置20，能够对第一驱动信号和第二驱动信号中的一个进行电压调节。当需要对第一驱动信号进行电压调节时，则第一信号发生模组210向参考电容C2输出第二驱动信号；反之，当需要对第二驱动信号进行电压调节时，则第一信号发生模组210向待测电容C1输出第一驱动信号。
第二信号发生模组220与待测电容C1的另一个极板和参考电容C2的另一个极板中的另一个连接。即第二信号发生模组220与第二极板和第四极板中的另一个连接。
第二信号发生模组220用于输出可变驱动信号，可变驱动信号为第一驱动信号和第二驱动信号中的另一个。由上述描述已知，本实施例通过对第一驱动信号和第二驱动信号中的一个进行电压调节，从而使待测电容和参考电容之间形成通路。当需要对第一驱动信号进行电压调节时，则第二信号发生模组220向待测电容C1输出第一驱动信号；反之，当需要对第二驱动信号进行电压调节时，则第二信号发生模组220向参考电容C2输出第二驱动信号。
上述电容检测装置20，用于执行上述实施例中的电容检测方法。该电容检测装置20，使待测电容C1和参考电容C2之间形成闭环通路，从而根据第一驱动信号和第二驱动信号的大小，得到待测电容和参考电容的比例关系，进而准确计算出待测电容的电容值。
需要理解的是，上述电容检测装置20，能且仅能对第一驱动信号和第二驱动信号中的一个进行电压调节。在其它实施例中，若需要同时对第一驱动信号和第二驱动信号进行电压调节，则第一信号发生模组210也可以是一用于输出可变驱动信号的信号发生模组。
在一个实施例中，如图5所示，本申请的电容检测装置20，还可以包括开关K1、开关K2、开关K3和开关K4。
其中，开关K1连接于第一信号发生模组210与待测电容C1的另一个极板之间，用于控制第一信号发生模组210与待测电容C1的另一个极板之间的电路通断。即开关K1连接于第一信号发生模组210与第二极板之间。
开关K2连接于第一信号发生模组210与参考电容C2的另一个极板之间，用于控制第一信号发生模组210与参考电容C2的另一个极板之间的电路通断。即开关K2连接于第一信号发生模组210与第四极板之间。
开关K3连接于第二信号发生模组220与待测电容C1的另一个极板之间，用于控制第二信号发生模组220与待测电容C1的另一个极板之间的电路通断。即开关K3连接于第二信号发生模组220与第二极板之间。
开关K4，连接于第二信号发生模组220与参考电容C2的另一个极板之间，用于控制第二信号发生模组220与参考电容C2的另一个极板之间的电路通断。即开关K4连接于第二信号发生模组220与第四极板之间。
进一步的，开关K1闭合时，开关K2断开，开关K3断开，开关K4闭合。此时，第一信号发生模组210向待测电容C1输出固定的第一驱动信号，第二信号发生模组220向参考电容C2输出可变的第二驱动信号。此时，可以通过调节第二驱动信号的电压，使待测电容C1和参考电容C2之间形成闭环通路。
反之，开关K1断开时，开关K2闭合，开关K3闭合，开关K4断开。此时，第一信号发生模组210向参考电容C2输出固定的第二驱动信号，第二信号发生模组220向待测电容C1输出可变的第一驱动信号。此时，可以通过调节第一驱动信号的电压，使待测电容C1和参考电容C2之间形成闭环通路。
在一个实施例中，第二信号发生模组220用于输出电压可调节的驱动信号。此时，第二信号发生模组220可以包括依次连接的比较器222、控制器224和信号发生器226。
具体的，比较器222连接于电压检测点Vcm，以获取电压检测点Vcm的第一电压值，并将第一电压值与预设电压值进行对比，得到比较结果。这里的第一电压值指电压检测点Vcm的实时检测电压，预设电压值可以是预设存储于比较器222内的电压数值。这里的比较结果包括第一电压值相对预设电压值发生变化，以及第一电压值相对预设电压值未发生变化两种。
控制器224与比较器222连接，用于获取比较结果，并根据比较结果输出控制信号。即控制器224可以获取比较器222输出的比较结果，并根据比较结果输出控制信号，以控制信号发生器226。
信号发生器226与控制器224连接，以获取控制信号，并根据控制信号输出驱动信号。
在本实施例中，比较器222用于将第一电压值与预设电压值进行对比，得到比较结果并输出至控制器224。控制器224根据比较结果控制信号发生器226。以此，当第一电压值发生变化时，则控制器224控制信号发生器226，使信号发生器226输出驱动信号的电压发生变化，直至第一电压值不变。此时，待测电容C1和参考电容C2之间形成闭环通路。
进一步的，比较器222可以在输入第一驱动信号和第二驱动信号后，每隔若干个周期进行一次第一电压值和预设电压值的比较，不再赘述。
以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种电容检测方法，其特征在于，包括：
将待测电容和参考电容连接成电容检测电路，其中，所述待测电容的一个极板与所述参考电容的一个极板连接；
对所述待测电容的另一个极板输入第一驱动信号，对所述参考电容的另一个极板输入第二驱动信号，以使所述待测电容和所述参考电容之间形成通路；
根据所述第一驱动信号和所述第二驱动信号的大小，以及所述参考电容的电容值，计算所述待测电容的电容值。
2.根据权利要求1所述的电容检测方法，其特征在于，所述第一驱动信号和所述第二驱动信号包括方波信号或正弦波信号的任意一种；
所述第一驱动信号和所述第二驱动信号相位相反、周期相同。
3.根据权利要求1所述的电容检测方法，其特征在于，所述对所述待测电容的另一个极板输入第一驱动信号，对所述参考电容的另一个极板输入第二驱动信号，以使所述待测电容和所述参考电容之间形成通路，包括：
对所述待测电容的另一个极板输入第一驱动信号，对所述参考电容的另一个极板输入第二驱动信号；
在所述待测电容的一个极板和所述参考电容的一个极板之间选取电压检测点，检测所述电压检测点的电压得到第一电压值；
根据所述第一电压值调节所述第一驱动信号或/和所述第二驱动信号的大小，以使所述待测电容和所述参考电容之间形成通路。
4.根据权利要求3所述的电容检测方法，其特征在于，所述根据所述第一电压值调节所述第一驱动信号或/和所述第二驱动信号的大小，以使所述待测电容和所述参考电容之间形成通路，包括：
判断输入所述第一驱动信号和所述第二驱动信号若干个周期后，所述第一电压值是否发生变化；
若所述第一电压值未发生变化，则所述待测电容和所述参考电容之间形成通路。
5.根据权利要求4所述的电容检测方法，其特征在于，所述根据所述第一电压值调节所述第一驱动信号或/和所述第二驱动信号的大小，以使所述待测电容和所述参考电容之间形成通路，还包括：
若所述第一电压值发生变化，则执行：
对所述第一驱动信号或/和所述第二驱动信号进行电压调节；
判断输入所述第一驱动信号和所述第二驱动信号若干个周期后，所述第一电压值是否发生变化。
6.根据权利要求1所述的电容检测方法，其特征在于，所述根据所述第一驱动信号和所述第二驱动信号的大小，以及所述参考电容的电容值，计算所述待测电容的电容值，包括：
获取所述第一驱动信号和所述第二驱动信号的大小；
获取所述参考电容的电容值；
根据
Figure FDA0002387304840000021
计算所述待测电容的电容值，其中，C1为所述待测电容的电容值；C2为所述参考电容的电容值；V2为所述第一驱动信号的电压幅值；V1为所述第二驱动信号的电压幅值。
7.一种电容检测装置，用于执行如权利要求1至6任意一项所述的电容检测方法，其特征在于，包括：
第一信号发生模组(210)，与所述待测电容的另一个极板和所述参考电容的另一个极板中的一个连接，所述第一信号发生模组(210)用于输出固定驱动信号，所述固定驱动信号为所述第一驱动信号和所述第二驱动信号中的一个；
第二信号发生模组(220)，与所述待测电容的另一个极板和所述参考电容的另一个极板中的另一个连接，所述第二信号发生模组(220)用于输出可变驱动信号，所述可变驱动信号为所述第一驱动信号和所述第二驱动信号中的另一个。
8.根据权利要求7所述的电容检测装置，其特征在于，还包括：
开关K1，连接于所述第一信号发生模组(210)与所述待测电容的另一个极板之间，用于控制所述第一信号发生模组(210)与所述待测电容的另一个极板之间的电路通断；
开关K2，连接于所述第一信号发生模组(210)与所述参考电容的另一个极板之间，用于控制所述第一信号发生模组(210)与所述参考电容的另一个极板之间的电路通断；
开关K3，连接于所述第二信号发生模组(220)与所述待测电容的另一个极板之间，用于控制所述第二信号发生模组(220)与所述待测电容的另一个极板之间的电路通断；
开关K4，连接于所述第二信号发生模组(220)与所述参考电容的另一个极板之间，用于控制所述第二信号发生模组(220)与所述参考电容的另一个极板之间的电路通断。
9.根据权利要求8所述的电容检测装置，其特征在于，所述开关K1闭合时，所述开关K2断开，所述开关K3断开，所述开关K4闭合；
所述开关K1断开时，所述开关K2闭合，所述开关K3闭合，所述开关K4断开。
10.根据权利要求7至9任意一项所述的电容检测装置，其特征在于，所述第二信号发生模组(220)包括：
比较器(222)，连接于电压检测点，以获取所述电压检测点的第一电压值，并将所述第一电压值与预设电压值进行对比，得到比较结果；
控制器(224)，与所述比较器(222)连接，用于获取所述比较结果，并根据所述比较结果输出控制信号；
信号发生器(226)，与所述控制器(224)连接，以获取所述控制信号，并根据所述控制信号输出驱动信号。
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