CN110741245A - 用于检测光学膜的缺陷的装置和方法 - Google Patents

用于检测光学膜的缺陷的装置和方法 Download PDF

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Abstract

本发明提供了能够容易地检测光学膜中/上存在的缺陷的用于检测光学膜的缺陷的装置和方法。光学膜缺陷检测装置包括：用于照射光的光照射单元；用于通过反射由所述光照射单元照射的光而将光引导至光学膜的反射单元；用于显示投射形状的屏幕，所述投射形状是当将光投射到所述光学膜上时所述光学膜中的缺陷的投射；和用于采集显示在所述屏幕上的投射形状的图像的成像单元。

Description

用于检测光学膜的缺陷的装置和方法
技术领域
本申请要求于2017年7月28日向韩国知识产权局提交的韩国专利申请第10-2017-0096299号的优先权和权益，其全部内容通过引用并入本文。
本发明涉及用于检测光学膜的缺陷的装置和方法。
背景技术
具有光学特性的光学膜用于制造包括液晶显示器(LCD)、有机发光二极管(OLED)、等离子体显示面板(PDP)、电泳显示器(EPD)等的显示单元。通常，光学膜具有其中具有光学特性的偏光膜和用于保护偏光膜的保护膜彼此堆叠的结构。
在制造和运输光学膜的过程期间，在某些情况下可能在光学膜中/光学膜上出现具有各种形状的缺陷，例如当异物被引入光学膜中，光学膜被挤压，光学膜的表面被划伤或者光学膜起皱时。上述缺陷可能导致通过使用光学膜制造的显示单元的缺陷。
因此，需要能够检测光学膜中/光学膜上存在的具有各种形状的缺陷的技术。
韩国专利第10-1082699号(在下文中，称为专利文献1)提出了用于通过采集光学膜的图像来检测光学膜的缺陷的装置。专利文献1公开了通过使由光源发射的光穿过光学膜使得通过安装在面向光源的位置处的图像采集装置采集光学膜的图像来测试光学膜。
[相关技术文献]
[专利文献]
专利文献1：韩国专利第10-1082699号
发明内容
技术问题
本说明书致力于提供用于检测光学膜的缺陷的装置和方法。
技术方案
本发明的一个示例性实施方案提供了用于检测光学膜的缺陷的装置，所述装置包括：发光单元，其发射光；反射单元，其反射由发光单元发射的光并将光引导至光学膜；屏幕，其显示通过将光投射在光学膜上获得的投射形状以检测光学膜的缺陷；和图像采集单元，其采集显示在屏幕上的投射形状的图像。
本发明的另一个示例性实施方案提供了检测光学膜的缺陷的方法，所述方法包括：向反射单元发射光；将由反射单元反射的光投射在光学膜上；通过采集显示通过将光投射在光学膜上获得的投射形状以检测光学膜的缺陷的屏幕的图像来获得图像；以及通过分析图像来检测光学膜的缺陷。
有益效果
根据本发明的示例性实施方案，可以容易地检测光学膜中/光学膜上的具有各种形状(例如挤压、划伤、折叠和起皱的形状)的缺陷。
根据本发明的示例性实施方案，由于由发光单元发射的光的光照射宽度被反射单元扩展，因此可以加宽可以检测光学膜的缺陷的区域。
根据本发明的示例性实施方案，可以容易地检测光学膜中/光学膜上存在的缺陷。
附图说明
图1是示意性地示出根据本发明的一个示例性实施方案的用于检测光学膜的缺陷的装置的配置的图。
图2是示意性地示出根据本发明的示例性实施方案的由发光单元发射的光通过反射单元被引导至光学膜的状态的图。
图3是示意性地示出根据本发明的示例性实施方案的包括分析单元的用于检测光学膜的缺陷的装置的配置的图。
图4a是示意性地示出当第一角度和第二角度小于25°时在由反射单元反射的光与传送单元之间产生干扰的状态的图，图4b是示意性地示出当第一角度和第二角度大于48°时在图像采集单元采集屏幕的图像时光与传送单元相干扰的状态的图。
图5是示出根据实施例1、比较例1和比较例2获得的光学膜的图像的图。
具体实施方式
在整个本说明书中，除非明确相反地描述，否则词语“包括”和诸如“包含”或“含有”的变型将被理解为暗示包括所述要素但不排除任何其他要素。在本说明书中，当一个构件设置在另一构件“上”时，这不仅包括一个构件与另一构件接触的情况，而且还包括在两个构件之间存在又一构件的情况。
在下文中，将更详细地描述本说明书。
本发明的一个示例性实施方案提供了用于检测光学膜的缺陷的装置，所述装置包括：发光单元，其发射光；反射单元，其反射由发光单元发射的光并将光引导至光学膜；屏幕，其显示通过将光投射在光学膜上获得的投射形状以检测光学膜的缺陷；和图像采集单元，其采集显示在屏幕上的投射形状的图像。
根据本发明的示例性实施方案，可以容易地检测光学膜中/光学膜上的具有各种形状(例如挤压、划伤、折叠和起皱的形状)的缺陷。
根据本发明的示例性实施方案，用于检测光学膜的缺陷的装置可以检查在用于制造显示单元的光学膜中/光学膜上是否存在缺陷。光学膜包括偏光膜，并且除偏光膜之外还可以包括具有光学特性的膜，例如相位差膜、视觉补偿膜和亮度改善膜。即，光学膜可以通过将具有光学特性的膜附接至偏光膜的一个表面或两个表面上而制成。此外，光学膜可以为在光学膜的纵向方向上延伸的片或辊的形式。
图1是示意性地示出根据本发明的一个示例性实施方案的用于检测光学膜的缺陷的装置的配置的图。具体地，图1是示出用于检测光学膜的缺陷的装置的图，所述装置包括：传送光学膜F的传送单元500；发射光的发光单元100；反射由发光单元100发射的光并将光引导至光学膜F的反射单元200；设置在与光学膜F间隔开的位置处并且显示通过经由光投射光学膜F中/光学膜F上存在的缺陷而形成的投射形状的屏幕300；和采集显示在屏幕300上的投射形状的图像的图像采集单元400。
根据本发明的示例性实施方案，用于检测光学膜的缺陷的装置可以包括可以在预定方向上传送光学膜的传送单元。传送单元可以包括可以传送光学膜的各种传送装置。具体地，传送单元包括传送辊，并且可以通过使用传送辊来传送光学膜。
根据本发明的示例性实施方案，传送辊的直径可以为100mm至125mm、或110mm至120mm。具体地，传送辊的直径可以为118mm。此外，参照图1，两个传送辊500的中心之间的最短距离可以为200mm至300mm、220mm至280mm、或240mm至260mm。具体地，两个传送辊的中心之间的最短距离可以为245mm。可以在传送光学膜的方向上测量传送辊的中心之间的距离。
由于将传送辊的直径和传送辊的中心之间的最短距离调节至上述范围，因此可以改善用于检测光学膜的缺陷的装置的运行效率，并且可以有效地防止传送辊与由反射单元反射的光干扰的情况以及当图像采集单元采集屏幕的图像时传送辊与图像采集单元干扰的情况。
根据本发明的示例性实施方案，传送辊可以以其中光学膜在单个方向上行进的直列(in-line)方式传送光学膜。因此，光学膜可以在被卷绕在传送辊上的同时沿传送辊连续地传送，并且由发光单元发射的光可以通过反射单元反射并被引导至被传送的光学膜。即，根据本发明的示例性实施方案，可以通过使用辊对辊法将在其纵向方向上延伸的光学膜的辊供应至用于检测光学膜的缺陷的装置，使得可以检测光学膜的缺陷。
根据本发明的示例性实施方案，在通过用于检测光学膜的缺陷的装置检查在其纵向方向上延伸的光学膜中/光学膜上是否存在缺陷的情况下，传送单元可以在光学膜的纵向方向上传送光学膜。参照图1，传送单元500可以被设置成在光学膜F位于屏幕300与发光单元100和反射单元200之间的状态下在光学膜F的纵向方向上传送光学膜F。
根据本发明的示例性实施方案，可以使用公知的装置作为发光单元，并且没有限制，只要装置发射光即可。具体地，考虑到发光单元的寿命、亮度稳定性和可维护性，发光单元可以包括发光二极管(LED)。此外，发光单元可以包括多个LED，并且除LED之外还可以包括诸如荧光灯或白炽灯的发光装置。
根据本发明的示例性实施方案，反射单元可以包括能够改变由发光单元发射的光的路径的装置。具体地，反射单元可以包括平面反射镜。由于反射单元包括平面反射镜，因此可以容易地调节由发光单元发射的光相对于反射单元的反射角，并因此可以将光有效地引导至光学膜。
图2是示意性地示出根据本发明的示例性实施方案的由发光单元发射的光通过反射单元被引导至光学膜的状态的图。具体地，参照图2，由发光单元100发射的光可以通过反射单元200反射并被引导至光学膜F。
根据本发明的示例性实施方案，反射单元可以将光引导至光学膜，同时扩展光的光照射宽度。当由发光单元发射的光通过反射单元反射时，在改变光的路径以直接朝向光学膜的同时，可以扩展光的光照射宽度。即，根据本发明的示例性实施方案，由于由发光单元发射的光的光照射宽度通过反射单元而扩展，因此可以加宽可以检测光学膜的缺陷的区域。
参照图2，由发光单元100发射的光的光照射宽度d4可以通过反射单元200在光学膜F的宽度方向上扩展。通过在不使用反射单元的情况下将光直接发射到光学膜上来检测光学膜的缺陷的相关技术中的装置设置有多个发光单元以扩展检测光学膜的缺陷的区域。相比之下，根据本发明的示例性实施方案，可以仅设置单个发光单元，因为可以通过使用反射单元扩展光照射宽度，并因此可以减小用于检测光学膜的缺陷的装置的安装成本。此外，由于仅设置单个发光单元，因此可以减少用于检测光学膜的缺陷的装置的安装空间，并且可以减小运行用于检测光学膜的缺陷的装置所需的成本。
根据本发明的示例性实施方案，反射单元可以将由发光单元发射的光引导至光学膜，使得光照射宽度为900mm或更大。参照图2，反射单元可以将光引导至光学膜，使得光照射宽度d4为900mm至3,000mm、900mm至2,500mm、900mm至1,500mm、1,500mm至3,000mm、或1,700mm至2,500mm。
由于将由反射单元反射的光的光照射宽度调节至上述范围，因此可以在光学膜的整个宽度方向上有效地引导光，并且可以防止光量的均匀性劣化。
根据本发明的示例性实施方案，可以通过调节发光单元与反射单元之间的距离来控制被引导至光学膜的光的光照射宽度。具体地，可以通过减小发光单元与反射单元之间的距离来扩展被引导至光学膜的光的光照射宽度。此外，可以通过增加发光单元与反射单元之间的距离来减小被引导至光学膜的光的光照射宽度。
根据本发明的示例性实施方案，将通过反射单元被引导至光学膜的光投射在光学膜上，并且通过将光投射在光学膜上使得投射光学膜中/光学膜上存在的缺陷而形成的投射形状可以显示在屏幕上。
根据本发明的示例性实施方案，可以使用用于投射光的屏幕作为屏幕。具体地，可以将聚丙烯片用于屏幕。此外，可以将屏幕的表面处理成白色使得通过投射光学膜中/光学膜上存在的缺陷而形成的投射形状可以清楚地显示在屏幕上。此外，为了使显示在屏幕上的投射形状的失真(distortion)最小化，对屏幕的表面进行处理以减小屏幕的表面粗糙度。此外，屏幕可以具有光漫射和透射特性。
同时，光学膜中/光学膜上存在的缺陷可以具有各种形状(例如由外力引起的光学膜的挤压、划伤、折叠或起皱的形状)。更详细地，光学膜中/光学膜上存在的缺陷可以意指通过引入异物而引起的光学膜的挤压形状，当将光学膜卷绕在传送辊上时形成的挤压形状，当施加到光学膜上的粘结剂或粘合剂的厚度变形时形成的挤压形状，或者通过当折叠光学膜时形成的褶皱而导致光学膜的前形状或后形状失真或者光学膜的形状改变的缺陷。
根据本发明的示例性实施方案，可以通过分析显示在屏幕上的投射形状来确定光学膜中/光学膜上存在的缺陷的类型和尺寸。具体地，当光学膜被挤压并因此具有凸状形状(例如，以放大镜的形式)时，显示在屏幕上的投射形状的亮度高于不具有缺陷的光学膜的投射形状的亮度，并因此可以在屏幕上显示白点形式的投射形状。
此外，在将异物引入光学膜中的情况下，由反射单元引导的光无法穿过光学膜，并因此显示在屏幕上的投射形状的亮度低于不具有缺陷的光学膜的投射形状的亮度，使得可以在屏幕上显示黑点形式的投射形状。此外，在光学膜被折叠或光学膜被划伤的情况下，显示在屏幕上的投射形状可以以包括连续地连接和延伸的白点或黑点的线的形式显示。
因此，根据本发明的示例性实施方案，可以通过分析显示在屏幕上的投射形状来确定光学膜中/光学膜上存在的缺陷的类型和尺寸，并因此可以确定光学膜是否具有缺陷。
根据本发明的示例性实施方案，图像采集单元可以被设置成与屏幕间隔开，并且可以通过采集投射形状的图像来获得显示在屏幕上的投射形状的图像。获得图像的方法可以通过以下进行：通过使用图像采集单元中包括的相机来采集由于光学膜的缺陷而显示在屏幕上的投射形状的图像，并且通过将图像转换为图像数据。CCD传感器或扫描相机可以用作图像采集单元中包括的相机，但相机的类型没有限制。此外，为了使显示在屏幕上的投射形状的采集的图像的失真最小化，图像采集单元的焦点可以被设置成形成在屏幕的中心处。
根据本发明的示例性实施方案，图像采集单元的数量可以多于一个。因此，用于检测光学膜的缺陷的装置可以包括单个发光单元和多个图像采集单元。多个图像采集单元可以分别采集可以限定在屏幕上的图像采集区域的图像。具体地，在使用具有水平长度大于垂直长度的矩形形状的屏幕的情况下，多个图像采集单元可以分别采集限定在屏幕的水平方向上的图像采集区域的图像。作为实例，在设定为使得第一图像采集区域、第二图像采集区域和第三图像采集区域限定在屏幕上的情况下，第一图像采集单元可以采集在第一图像采集区域上的投射形状的图像，第二图像采集单元可以采集在第二图像采集区域上的投射形状的图像，第三图像采集单元可以采集在第三图像采集区域上的投射形状的图像。由于设置有多个图像采集单元，因此可以精确地采集广泛分布在屏幕上的投射形状的图像，并因此可以更准确地检测光学膜的缺陷。
图3是示意性地示出根据本发明的示例性实施方案的包括分析单元的用于检测光学膜的缺陷的装置的配置的图。具体地，图3是示出具有分析单元600的用于检测光学膜的缺陷的装置的图，所述分析单元600连同图像采集单元400一起运行，并且通过分析由图像采集单元400采集的图像来确定光学膜F中/光学膜F上是否存在缺陷。
根据本发明的示例性实施方案，用于检测光学膜的缺陷的装置还可以包括分析单元，所述分析单元通过分析屏幕的被图像采集单元采集以显示投射形状的图像来检测光学膜的缺陷。分析单元使用由图像采集单元获得的图像数据作为输入数据，并且可以通过使用关于输入的图像数据中的图像的亮度的数值来进行图像处理。可以对已经经历图像处理的数据进行以下分析过程：通过将投射形状的亮度值与不具有缺陷的光学膜的投射形状的亮度值进行比较来确定光学膜的投射形状是否具有黑点或白点从而检测缺陷。此外，分析单元可以通过测量具有黑点或白点的部分的尺寸来分析缺陷。
分析单元可以包括嵌入有能够进行图像处理和比较分析的分析程序的电子装置。具体地，可以使用计算机、平板PC、个人便携式电话、可穿戴装置、可编程逻辑控制器(programmable logic controller，PLC)等作为分析单元。
根据本发明的示例性实施方案，屏幕与图像采集单元采集屏幕的图像的方向之间形成的第一角度θ1可以等于光学膜与投射在光学膜上的光之间形成的第二角度θ2。
参照图1，可以调节图像采集单元400的位置、发光单元100的位置或反射单元200的位置使得屏幕300与图像采集单元400采集屏幕300的图像的方向之间形成的第一角度θ1被设定为等于光学膜F与投射在光学膜F上的光之间形成的第二角度θ2。具体地，可以通过固定反射单元的位置并调节发光单元的位置或者通过固定发光单元的位置并调节反射单元的位置来调节第二角度。
根据本发明的示例性实施方案，由于将第一角度和第二角度设定为彼此相等，因此使显示在屏幕上的投射形状的失真最小化，使得可以减小在分析投射形状的采集的图像时产生的误差，并且可以更准确地检测光学膜中/光学膜上存在的缺陷。
根据本发明的示例性实施方案，第一角度和第二角度可以为25°或更大且48°或更小。具体地，第一角度和第二角度可以为30°或更大且40°或更小、35°或更大且40°或更小、或者30°或更大且45°或更小。更具体地，第一角度和第二角度可以为35°。
由于将第一角度和第二角度调节至上述范围，因此可以使显示在屏幕上的投射形状的失真最小化，并且可以更精确地获得投射形状的采集的图像。此外，在第一角度和第二角度彼此相等并且第一角度和第二角度在上述范围内的情况下，可以通过抑制由图像采集单元检测的光学膜的缺陷的平均峰值亮度值降低来更精确地检测光学膜中/光学膜上存在的缺陷。
在本发明中，亮度值是指由图像采集单元获得的图像的亮度的程度，并且可以通过基于灰度级进行分类而设定为0级至255级。在这种情况下，0级是指图像的亮度对应于黑色的情况，255级是指图像的亮度对应于白色的情况。此外，光学膜的缺陷的平均峰值亮度值可以意指在所获得的图像中未检测到缺陷的区域与检测到缺陷的区域之间的亮度值(灰度级)之差的平均值。
在第一角度和第二角度小于25°的情况下，显示在屏幕上的投射形状的失真可能增加，并且屏幕与图像采集单元采集屏幕的图像的方向之间形成的角度减小，并因此可能存在以下问题：从由图像采集单元采集的图像中遗漏了投射形状并因此获得错误的图像。此外，在第一角度和第二角度小于25°的情况下，在由发光单元发射并由反射单元反射的光被引导至光学膜的同时，光和传送单元彼此干扰，并因此可能存在获得错误的图像的问题。
图4a是示意性地示出当第一角度和第二角度小于25°时由反射单元反射的光和传送单元彼此干扰的状态的图。具体地，图4a是示出当第一角度θ1和第二角度θ2小于25°时由反射单元200反射的光和传送单元500彼此干扰的状态的图。
在第一角度和第二角度大于48°的情况下，可能存在以下问题：光量的均匀性降低，因为由反射单元引导的光在光学膜上经历界面反射或不规则反射。此外，在第一角度和第二角度大于48°的情况下，在图像采集单元采集屏幕的图像时，光与传送单元相干扰，并因此可能存在获得错误的图像的问题。
图4b是示意性地示出当第一角度和第二角度大于48°时在图像采集单元采集屏幕的图像时光与传送单元相干扰的状态的图。具体地，图4b是示出当第一角度θ1和第二角度θ2大于48°时图像采集单元400获得屏幕300的图像的区域与传送单元500相干扰的状态的图。
根据本发明的示例性实施方案，屏幕与光学膜的其上投射有光的区域之间的距离可以为90mm或更大且130mm或更小。具体地，屏幕与光学膜的其上投射有光的区域之间的距离可以为100mm或更大且120mm或更小、或者105mm或更大且115mm或更小。更具体地，屏幕与光学膜的其上投射有光的区域之间的距离可以为90mm。在本发明中，光学膜的其上投射有光的区域可以意指光学膜的位于屏幕的一侧的区域，屏幕与光学膜的其上投射有光的区域之间的距离可以意指最短距离。
参照图1，由于将屏幕300与光学膜F的其上投射有光的区域之间的距离d1调节至上述范围，因此可以有效地防止由光学膜与屏幕之间存在的异物(例如灰尘)形成的投射形状显示在屏幕上，并且通过投射光学膜中/光学膜上存在的缺陷而形成的投射形状可以更清楚地显示在屏幕上。
根据本发明的示例性实施方案，发光单元上的发射光的点与反射单元上的反射光的点之间的距离可以为165mm或更大且185mm或更小。具体地，发光单元上的发射光的点与反射单元上的反射光的点之间的距离可以为170mm或更大且180mm或更小。更具体地，发光单元上的发射光的点与反射单元上的反射光的点之间的距离可以为175mm。
参照图1，将发光单元100上的发射光的点与反射单元200上的反射光的点之间的距离d3调节至上述范围，使得可以在适当地维持由反射单元反射的光的强度的状态下将光引导至光学膜。因此，通过投射光学膜中/光学膜上存在的缺陷而形成的投射形状可以清楚地显示在屏幕上。此外，由于将距离d3调节至上述范围，因此反射单元可以有效地扩展由发光单元发射的光的光照射宽度。
根据本发明的示例性实施方案，反射单元上的反射光的点与光学膜的由反射单元反射的光被引导至的区域之间的距离可以为580mm或更大且650mm或更小。具体地，反射单元上的反射光的点与光学膜的由反射单元反射的光被引导至的区域之间的距离可以为590mm或更大且630mm或更小、600mm或更大且610mm或更小、590mm或更大且610mm或更小、或者620mm或更大且650mm或更小。更具体地，反射单元上的反射光的点与光学膜的由反射单元反射的光被引导至的区域之间的距离可以为650mm。在本发明中，光学膜的由反射单元反射的光被引导至的区域可以意指光学膜的位于反射单元的一侧的区域。参照图1，由于将反射单元200上的反射光的点与光学膜F的光被引导至的区域之间的距离d2调节至上述范围，因此防止由反射单元引导至光学膜的光量的均匀性劣化，并且可以有效地将光投射在光学膜上。
根据本发明的示例性实施方案，用于检测光学膜的缺陷的装置可以设置在暗室中使得显示在屏幕上的投射形状的失真最小化，并且投射形状可以更清楚地显示在屏幕上。
同时，可以基于图像采集单元中包括的相机的分辨率来改变图像采集单元与屏幕之间的距离。
本发明的另一个示例性实施方案提供了检测光学膜的缺陷的方法，所述方法包括：向反射单元发射光；将由反射单元反射的光投射在光学膜上；通过采集显示通过将光投射在光学膜上获得的投射形状以检测光学膜的缺陷的屏幕的图像来获得图像；以及通过分析图像来检测光学膜的缺陷。
根据本发明的示例性实施方案，可以容易地检测光学膜中/光学膜上存在的缺陷。
用于根据本发明的示例性实施方案的检测光学膜的缺陷的方法的发光单元、反射单元、屏幕、图像采集单元等可以与根据本发明的示例性实施方案的用于检测光学膜的缺陷的装置中包括的发光单元、反射单元、屏幕、图像采集单元等相同。
根据本发明的示例性实施方案，可以通过使用发光单元将光发射至反射单元。当将光发射至反射单元时，光通过反射单元反射并被引导至光学膜，并且被引导至光学膜的光被投射在光学膜上并到达屏幕。当将光投射在光学膜上时，通过投射光学膜中/光学膜上存在的缺陷而形成的投射形状可以显示在屏幕上。通过使用图像采集单元采集显示在屏幕上的投射形状的图像可以获得图像。通过使用分析单元分析所获得的图像可以检测光学膜的缺陷。
根据本发明的示例性实施方案，检测光学膜的缺陷的方法还可以包括通过使用辊对辊法供应光学膜。具体地，通过使用辊对辊法在光学膜的纵向方向上供应在其纵向方向上延伸的光学膜的辊，并且可以检测光学膜的缺陷。因此，根据本发明的示例性实施方案，由于通过使用辊对辊法供应光学膜，因此可以改善检测光学膜的缺陷的过程的速度，并且可以连续地进行缺陷检测过程。
[附图标记说明]
100：发光单元
200：反射单元
300：屏幕
400：图像采集单元
500：传送单元
600：分析单元
发明实施方式
在下文中，将参照用于具体描述本发明的实施例详细地描述本发明。然而，根据本发明的实施例可以以各种形式被修改，并且本发明的范围不被解释为限于以下将详细描述的实施例。提供本说明书的实施例以向本领域普通技术人员更完整地说明本发明。
实施例1
如图1所示，设定用于检测光学膜的缺陷的装置的发光单元、反射单元、屏幕、图像采集单元和传送单元。在这种情况下，将第一角度θ1和第二角度θ2设定为35°。此外，将屏幕与光学膜的其上投射有光的区域之间的距离d1设定为90mm，将发光单元上的发射光的点与反射单元上的反射光的点之间的距离d3设定为175mm，将反射单元上的反射光的点与光学膜的由反射单元反射的光被引导至的区域之间的距离d2设定为650mm。此外，使用直径为118mm的传送辊，并将图1中的两个传送辊的中心之间的最短距离设定为245mm。
比较例1
以与实施例1中相同的方式设定用于检测光学膜的缺陷的装置，不同之处在于将第一角度θ1设定为15°并将第二角度θ2设定为35°。
比较例2
以与实施例1中相同的方式设定用于检测光学膜的缺陷的装置，不同之处在于将第一角度θ1设定为35°并将第二角度θ2设定为55°。
平均峰值亮度值由通过根据实施例1、比较例1和比较例2的用于检测光学膜的缺陷的装置的图像采集单元获得的图像测量，其结果示于下表1中。在这种情况下，如上所述，表1中的平均峰值亮度值意指在所获得的图像中未检测到缺陷的区域与检测到缺陷的区域之间的亮度值(灰度级)之差的平均值。
[表1]
平均峰值亮度值(灰度级) 减小率(％)
实施例1 36 -
比较例1 31 14
比较例2 3 92
在表1中，通过计算基于实施例1中测量的平均峰值亮度值，比较例1和比较例2中测量的平均峰值亮度值减小的程度得到减小率。
图5示出了根据实施例1、比较例1和比较例2获得的光学膜的图像。
参照表1和图5，确定在将第一角度和第二角度设定为彼此相等并且将第一角度和第二角度设定为25°至48°的实施例1的情况下，可以在由图像采集单元获得的光学膜的图像中更清楚地检测光学膜中的缺陷。相比之下，确定在第一角度和第二角度彼此不同并且第一角度为15°的比较例1的情况下，以及在第一角度和第二角度彼此不同并且第二角度为55°的比较例2的情况下，由图像采集单元获得的图像的平均峰值亮度值小于实施例1中的平均峰值亮度值，并且与实施例1中的过程相比，由所获得的图像检测光学膜中的缺陷的过程不容易进行。
因此，可以看出通过使用根据本发明的示例性实施方案的用于检测光学膜的缺陷的装置，可以更有效地检测光学膜中的缺陷。

Claims (9)

1.一种用于检测光学膜的缺陷的装置，所述装置包括：
发光单元，其发射光；
反射单元，其反射由所述发光单元发射的光并将光引导至所述光学膜；
屏幕，其显示通过将光投射在所述光学膜上获得的投射形状以检测所述光学膜的缺陷；和
图像采集单元，其采集显示在所述屏幕上的所述投射形状的图像。
2.根据权利要求1所述的装置，其中所述屏幕与所述图像采集单元采集所述屏幕的图像的方向之间形成的第一角度θ1等于所述光学膜与投射在所述光学膜上的光之间形成的第二角度θ2。
3.根据权利要求2所述的装置，其中所述第一角度和所述第二角度为25°或更大且48°或更小。
4.根据权利要求1所述的装置，其中所述屏幕与所述光学膜的其上投射有光的区域之间的距离为90mm或更大且130mm或更小。
5.根据权利要求1所述的装置，其中所述发光单元上的发射光的点与所述反射单元上的反射光的点之间的距离为165mm或更大且185mm或更小。
6.根据权利要求1所述的装置，其中所述反射单元上的反射光的点与所述光学膜的由所述反射单元反射的光被引导至的区域之间的距离为580mm或更大且650mm或更小。
7.根据权利要求1所述的装置，还包括：
分析单元，其通过分析所述屏幕的被所述图像采集单元采集以显示所述投射形状的图像来检测所述光学膜的缺陷。
8.一种检测光学膜的缺陷的方法，所述方法包括：
向反射单元发射光；
将由所述反射单元反射的光投射在所述光学膜上；
通过采集显示通过将光投射在所述光学膜上获得的投射形状以检测所述光学膜的缺陷的屏幕的图像来获得图像；以及
通过分析所述图像来检测所述光学膜的缺陷。
9.根据权利要求8所述的方法，还包括：
通过使用辊对辊法供应所述光学膜。
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