CN110596139A - 一种屏缺陷检测方法和系统 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种屏缺陷检测方法和系统。所述屏缺陷检测方法，包括：采用设置在屏前不同角度的第一成像装置和第二成像装置对屏进行连续成像获取第一视图和第二视图；根据所述第一视图和第二视图获取缺陷点，并根据所述第一视图中所述缺陷点到预设参考点的第一距离和所述第二视图中同一所述缺陷点到所述预设参考点的第二距离的比较判断该缺陷点在所述屏的层位置。通过采用上述方法，可以判定缺陷所在层位置,从而对缺陷进行区分处理。
Description
技术领域
本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种屏缺陷检测方法和系统。
背景技术
在显示屏生产过程中，由于各种原因显示屏可能会存在缺陷，这些缺陷包括划伤，异物，毛屑，刮伤，赃物等。缺陷的存在使得工厂产品的生产良率降低，可以通过缺陷检测检测出存在缺陷的显示屏，提升出货品质。
现有的显示屏缺陷检测方法，一般采用如图1所示的方式，使用侧光源进行照明，屏膜内以及膜外的异物都会将光线照亮，因而用相机进行检测时，不管是膜内还是膜外的异物都会被检测出来，将有异物的屏标记为缺陷屏。
但是现有显示屏缺陷检测方法无法区分缺陷所在层位置，即缺陷在表面还是下层，一旦屏被标记为缺陷屏，需要全部更换，导致屏生产成本较高。
发明内容
针对现有技术的以上缺陷或改进需求，本发明提出了一种屏缺陷检测方法和系统，能够检测屏缺陷所在层位置。
根据本发明的一个方面，本发明的一种屏缺陷检测方法，包括：
采用设置在屏前不同角度的第一成像装置和第二成像装置对屏进行连续成像获取第一视图和第二视图；
根据所述第一视图和第二视图获取缺陷点，并根据所述第一视图中所述缺陷点到预设参考点的第一距离和所述第二视图中同一所述缺陷点到所述预设参考点的第二距离的比较判断该缺陷点在所述屏的层位置。
通过采用此方法,可以判定屏缺陷所在层位置,从而可以区分屏缺陷是位于上表面还是里层,配套地进行区分处理,而不用全部更换缺陷屏,可以大大降低屏生产的成本。
作为本发明的进一步改进，所述判断该缺陷点在所述屏的层位置具体是：
若所述第一距离和所述第二距离的差值小于或等于第一预设阈值，则判定所述缺陷点位于屏上表面，若所述差值大于所述第一预设阈值，则判定所述缺陷点位于屏下层。
作为本发明的进一步改进，所述判定所述缺陷点位于屏下层具体是：
所述缺陷点位于屏下层的具体层位置是根据所述第一距离和所述第二距离的差值大小确定，即所述差值越大，所述缺陷点所在层越远离所述屏上表面。
作为本发明的进一步改进，所述第一预设阈值是根据所述缺陷点在与屏表面平行的平面坐标系中的水平坐标位置预先设置的。
作为本发明的进一步改进，所述第一成像装置被设置在屏正前方，所述第二成像装置被设置在屏侧前方。
作为本发明的进一步改进，所述第一成像装置和/或第二成像装置均为线扫相机。
通过采用了线扫相机,可以准确定位距离,使得检测准确性更高。
根据本发明的另一个方面，本发明提供了一种屏缺陷检测系统，包括：设置在屏前不同角度的第一成像装置和第二成像装置，用来对屏进行连续成像获取第一视图和第二视图；
控制装置，用来根据所述第一视图和第二视图获取缺陷点，并根据所述第一视图中所述缺陷点到预设参考点的第一距离和所述第二视图中所述缺陷点到所述预设参考点的第二距离的比较判断该缺陷点在所述屏的层位置。
综上所述，总体而言，通过本发明所构思的以上技术方案与现有技术相比，具有以下有益效果：可以判定屏缺陷所在层位置,从而可以区分屏缺陷是位于上表面还是里层,配套地进行区分处理,而不用全部更换缺陷屏,可以大大降低屏生产的成本。如果缺陷位于屏上表面的保护玻璃盖板,可以通过擦拭方式去除保护玻璃盖板的灰尘或赃物来去除缺陷或仅仅更换保护玻璃盖板去除缺陷,而不用全部更换缺陷屏。擦拭或更换玻璃盖板的成本远远小于更换整块屏的成本,从而可以大大降低屏生产的成本。
附图说明
图1是现有屏缺陷检测方法示意图；
图2至4是本发明实施例提供的屏缺陷检测方法示意图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。此外，下面所描述的本发明各个实施方式中所涉及到的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互组合。
本发明实施例所提供的方案，可以采用位于屏不同角度的第一成像装置和第二成像装置对屏进行成像判定屏缺陷所在层位置,从而可以区分屏缺陷是位于上表面还是里层,配套地进行缺陷处理,而不用全部更换缺陷屏,可以大大降低屏生产的成本。
图2是本发明的屏缺陷检测方法和系统应用到实际屏检测中的示意图。本发明可以应用到现有电脑、通讯、消费型电子等行业中，本文所指的屏包括但不限于各种类型的面板、LED显示屏、LCD显示屏、OLED显示屏、手机屏、游戏机屏幕、玻璃、亚克力板等。
屏缺陷检测系统包括设置在屏前不同角度的第一成像装置和第二成像装置，用来对屏进行连续成像获取第一视图和第二视图；控制装置(图中未示出)，用来根据所述第一视图和第二视图获取缺陷点，根据所述第一视图中所述缺陷点到预设参考点的第一距离和所述第二视图中所述缺陷点到所述预设参考点的第二距离判断所述缺陷点所在层位置。
优选地，第一成像装置被设置在屏正前方，所述第二成像装置被设置在屏侧前方。
优选地，第一成像装置到屏中心点的连线与第二成像装置到屏中心点的连线所形成的夹角范围为30°～45°。此角度下获取的第一距离和第二距离较为准确，经实验验证能够获得更好的检测精度。
优选地，第一成像装置和第二成像装置均为线扫相机。面阵相机每次即可拍摄一整幅图像，但是其景深不足，即只能判断一定深度范围内的缺陷，超过景深范围内的缺陷拍摄不到，无法定位距离远近。而线扫相机每次只拍摄一条线的图像，通过连续采图拼接合成成一整幅图像，可以准确定位距离,因而缺陷检测精度较高相对于面阵相机更高。
以第一成像装置为正视线扫相机，第二成像装置为侧视线扫相机为例说明。根据要检测的精度，以及线扫镜头的焦距，计算出所需要的工作距离，即沿着拍摄方向线扫相机镜头距离屏幕表面中心点的距离。使得正视线扫相机、侧视线扫相机均满足满足WD＝f(1+L/l)。其中WD为线扫相机的工作距离，f为镜头焦距，L为线扫相机拍摄的视场宽度，l为线扫相机靶面宽度。
在屏的两侧各架设一只侧光源，且光源的角度需要可调。可以有其他照明方案，如背光源等，不影响本专利实施。
结合图3至4说明本发明的屏检测方法包括步骤：
S1采用设置在屏前不同角度的第一成像装置和第二成像装置对屏进行连续成像获取第一视图和第二视图。皮带线/载台控制被测屏移动，第一成像装置和第二成像装置对屏进行连续成像获取不同角度的两张图像。
S2根据所述第一视图和第二视图获取缺陷点，根据所述第一视图中所述缺陷点到预设参考点的第一距离和所述第二视图中所述缺陷点到所述预设参考点的第二距离的比较判断所述缺陷点在屏的层位置。可以采用现有技术中任意方法从图像中获取缺陷怎么从拍摄图片中找出缺陷点，例如通过计算每个小区域的平均图像灰度值与背景灰度值的差值来比较，一般缺陷的灰度会大于背景的灰度。
以第一成像装置为正视线扫相机，第一成像装置为侧视线扫相机为例说明如何判断缺陷点所在层位置。
假设获取到缺陷点A，由于成像是在二维平面内的，图像没有深度信息，在正视线扫相机拍摄的图片中，拍摄的缺陷点A距离屏边缘点O的水平距离即缺陷点A与正视相机的连线与表面层交点到O点的距离为La1，侧视线扫相机拍摄的图片中，拍摄的缺陷点A距离屏边缘点O的水平距离即缺陷点A与侧视相机的连线与表面层交点C到O点的距离为La2。距离La1和La2可以用两个视图中A点与O点间隔像素点个数表示。由于A缺陷存在于被测屏的下层，所以距离La1和La2之差会较大。假设获取到如图的缺陷点B，在正视线扫相机拍摄的图片中，拍摄的缺陷点B距离屏边缘点O的水平距离为Lb1，侧视线扫相机拍摄的图片中，缺陷点B距离屏边缘点O的水平距离为Lb2，距离Lb1和Lb2可以用两个视图中B点与O点间隔像素点个数表示。由于B缺陷存在于被测屏的上表面，所以距离Lb1和Lb2之差会相等或由于拍摄误差而接近。
因此可以判断距离La1和La2或Lb1和Lb2之差是否小于或等于第一预设阈值，若所述差值小于或等于所述第一预设阈值，则判定所述缺陷点位于屏上表面，若所述差值大于所述第一预设阈值，则判定所述缺陷点位于屏下层，即屏上表面以下层。实验中，对于16k的线扫相机，这个距离差一般在10个像素以内，因此可以将第一预设阈值设为10。因La1和La2之差于第一预设阈值，则判定A点位于屏下层。因Lb1和Lb2小于或等于所述第一预设阈值，则判定B点位于屏上表面。
可选地，还可以根据距离La1和La2差值大小判断缺陷位于屏下层中的哪一层，一般当缺陷越远离屏上表面，距离差越大。若所述差值大于所述第一预设阈值且小于或等于第二预设阈值，则判定所述缺陷点位于屏下层中靠近表面层的第一层，若所述差值大于所述第二预设阈值，则判定所述缺陷点位于屏下层远离表面层的第二层，且所述第二预设阈值大于所述第一预设阈值。可以根据判断结果更换相应层的屏来去除缺陷,降低成本。
第一预设阈值和第二预设阈值可以根据所述缺陷点在与屏表面平行的平面坐标系中的水平坐标位置预先定义。一般来说，当缺陷点位于屏下层时，缺陷点越靠近屏正中心，距离差一般会越小，缺陷点越远离屏正中心，距离差一般会越大，可以预先为与屏表面平行的平面坐标系中不同位置预设多组不同的第一预设阈值和第二预设阈值，当获取到缺陷点后，根据缺陷点位置获取所对应的第一预设阈值和第二预设阈值。
通过不同角度的成像装置的视差，从两个视图中获取缺陷点到预设参考点的距离差,从而可以判定屏缺陷在屏的层位置,从而可以区分屏缺陷是位于上表面还是下层或具体在下层的哪一层,从而可以配套地进行区分处理,而不用全部更换缺陷屏,可以大大降低屏生产的成本。如果缺陷位于屏上表面的保护玻璃盖板,可以通过擦拭方式去除保护玻璃盖板的灰尘或赃物来去除缺陷或仅仅更换保护玻璃盖板去除缺陷,而不用全部更换缺陷屏。擦拭或更换玻璃盖板的成本远远小于更换整块屏的成本,从而可以大大降低屏生产的成本。并且成像装置可以采用线扫相机，或者可以设置成像装置的角度，使得可以更精确地从两个视图中获取缺陷点到预设参考点的距离差，从而可以进一步提高缺陷所在层位置的检测精度。同时，本系统的组成非常简单,适用性性强。
本领域的技术人员容易理解，以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种屏缺陷检测方法，其特征在于，包括：
采用设置在屏前不同角度的第一成像装置和第二成像装置对屏进行连续成像获取第一视图和第二视图；
根据所述第一视图和第二视图获取缺陷点，并根据所述第一视图中所述缺陷点到预设参考点的第一距离和所述第二视图中同一所述缺陷点到所述预设参考点的第二距离的比较判断该缺陷点在所述屏的层位置。
2.如权利要求1所述的一种屏缺陷检测方法，其特征在于，所述判断该缺陷点在所述屏的层位置具体是：
若所述第一距离和所述第二距离的差值小于或等于第一预设阈值，则判定所述缺陷点位于屏上表面，若所述差值大于所述第一预设阈值，则判定所述缺陷点位于屏下层。
3.如权利要求2所述的一种屏缺陷检测方法，其特征在于，所述判定所述缺陷点位于屏下层具体是：
所述缺陷点位于屏下层的具体层位置是根据所述第一距离和所述第二距离的差值大小确定，即所述差值越大，所述缺陷点所在层越远离所述屏上表面。
4.如权利要求2所述的一种屏缺陷检测方法，其特征在于，所述第一预设阈值是根据所述缺陷点在与屏表面平行的平面坐标系中的水平坐标位置预先设置的。
5.如权利要求1至4任一项所述的一种屏缺陷检测方法，其特征在于，所述第一成像装置被设置在屏正前方，所述第二成像装置被设置在屏侧前方。
6.如权利要求5所述的一种屏缺陷检测方法，其特征在于，所述第一成像装置和/或第二成像装置为线扫相机。
7.一种屏缺陷检测系统，其特征在于，包括：
设置在屏前不同角度的第一成像装置和第二成像装置，用来对屏进行连续成像获取第一视图和第二视图；
控制装置，用来根据所述第一视图和第二视图获取缺陷点，并根据所述第一视图中所述缺陷点到预设参考点的第一距离和所述第二视图中所述缺陷点到所述预设参考点的第二距离的比较判断该缺陷点在所述屏的层位置。
8.如权利要求7所述的一种屏缺陷检测系统，其特征在于，所述第一成像装置被设置在屏正前方，所述第二成像装置被设置在屏侧前方。
9.如权利要求7或8所述的一种屏缺陷检测系统，其特征在于，所述第一成像装置和/或第二成像装置均线扫相机。
10.如权利要求7或8所述的一种屏缺陷检测系统，其特征在于，所述第一成像装置到屏中心点的连线与所述第二成像装置到屏中心点的连线所形成的夹角范围为30°～45°。
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|---|---|
| CN (1) | CN110596139A (zh) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN112051038A (zh) * | 2020-09-10 | 2020-12-08 | 惠州高视科技有限公司 | 一种用于检测穿戴设备的显示屏的缺陷检测方法及系统 |
| CN112129782A (zh) * | 2020-09-09 | 2020-12-25 | 武汉精测电子集团股份有限公司 | 显示面板异物分层检测方法和装置 |
| CN112986258A (zh) * | 2021-02-09 | 2021-06-18 | 厦门威芯泰科技有限公司 | 一种表面缺陷检测装置和判断表面缺陷所在表面的方法 |
| CN113358038A (zh) * | 2020-03-04 | 2021-09-07 | 武汉精立电子技术有限公司 | 一种厚度测量装置、方法及电子设备 |
| CN113866182A (zh) * | 2021-09-09 | 2021-12-31 | 安徽亿普拉斯科技有限公司 | 一种用于检测显示模组缺陷的检测方法及系统 |
| CN114166864A (zh) * | 2021-12-08 | 2022-03-11 | 成都南方电子仪表有限公司 | 一种透明屏幕缺陷的定位检测系统和定位检测方法 |
| CN114660068A (zh) * | 2022-02-28 | 2022-06-24 | 厦门聚视智创科技有限公司 | 一种高精度缺陷限度判断方法 |
Citations (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010060500A (ja) * | 2008-09-05 | 2010-03-18 | Showa Denko Kk | 円筒体の表面検査装置 |
| CN101988908A (zh) * | 2009-07-31 | 2011-03-23 | 法国圣-戈班玻璃公司 | 用于对基板的缺陷进行区分的方法和系统 |
| CN103399018A (zh) * | 2011-08-18 | 2013-11-20 | 三星康宁精密素材株式会社 | 用于检测玻璃衬底的表面缺陷的设备和方法 |
| CN106526917A (zh) * | 2016-12-07 | 2017-03-22 | 北京工业大学 | 一种采用线阵相机扫描的液晶屏点阵检测装置 |
| CN107764834A (zh) * | 2017-12-07 | 2018-03-06 | 南京波长光电科技股份有限公司 | 一种自动检测透明零件表面缺陷的装置及其检测方法 |
| CN108318503A (zh) * | 2018-02-06 | 2018-07-24 | 凌云光技术集团有限责任公司 | 液晶屏幕灰尘检测方法和装置 |
| CN108344749A (zh) * | 2018-02-11 | 2018-07-31 | 凌云光技术集团有限责任公司 | 一种基于双面阵相机进行液晶屏缺陷分层检测的方法 |
| CN109001208A (zh) * | 2018-05-28 | 2018-12-14 | 南京中电熊猫平板显示科技有限公司 | 一种显示面板的缺陷定位装置及缺陷定位方法 |
-
2019
- 2019-08-26 CN CN201910791596.4A patent/CN110596139A/zh active Pending
Patent Citations (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010060500A (ja) * | 2008-09-05 | 2010-03-18 | Showa Denko Kk | 円筒体の表面検査装置 |
| CN101988908A (zh) * | 2009-07-31 | 2011-03-23 | 法国圣-戈班玻璃公司 | 用于对基板的缺陷进行区分的方法和系统 |
| CN103399018A (zh) * | 2011-08-18 | 2013-11-20 | 三星康宁精密素材株式会社 | 用于检测玻璃衬底的表面缺陷的设备和方法 |
| CN106526917A (zh) * | 2016-12-07 | 2017-03-22 | 北京工业大学 | 一种采用线阵相机扫描的液晶屏点阵检测装置 |
| CN107764834A (zh) * | 2017-12-07 | 2018-03-06 | 南京波长光电科技股份有限公司 | 一种自动检测透明零件表面缺陷的装置及其检测方法 |
| CN108318503A (zh) * | 2018-02-06 | 2018-07-24 | 凌云光技术集团有限责任公司 | 液晶屏幕灰尘检测方法和装置 |
| CN108344749A (zh) * | 2018-02-11 | 2018-07-31 | 凌云光技术集团有限责任公司 | 一种基于双面阵相机进行液晶屏缺陷分层检测的方法 |
| CN109001208A (zh) * | 2018-05-28 | 2018-12-14 | 南京中电熊猫平板显示科技有限公司 | 一种显示面板的缺陷定位装置及缺陷定位方法 |
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN113358038A (zh) * | 2020-03-04 | 2021-09-07 | 武汉精立电子技术有限公司 | 一种厚度测量装置、方法及电子设备 |
| CN112129782A (zh) * | 2020-09-09 | 2020-12-25 | 武汉精测电子集团股份有限公司 | 显示面板异物分层检测方法和装置 |
| CN112051038A (zh) * | 2020-09-10 | 2020-12-08 | 惠州高视科技有限公司 | 一种用于检测穿戴设备的显示屏的缺陷检测方法及系统 |
| CN112986258A (zh) * | 2021-02-09 | 2021-06-18 | 厦门威芯泰科技有限公司 | 一种表面缺陷检测装置和判断表面缺陷所在表面的方法 |
| CN112986258B (zh) * | 2021-02-09 | 2023-12-22 | 厦门威芯泰科技有限公司 | 一种表面缺陷检测装置和判断表面缺陷所在表面的方法 |
| CN113866182A (zh) * | 2021-09-09 | 2021-12-31 | 安徽亿普拉斯科技有限公司 | 一种用于检测显示模组缺陷的检测方法及系统 |
| CN114166864A (zh) * | 2021-12-08 | 2022-03-11 | 成都南方电子仪表有限公司 | 一种透明屏幕缺陷的定位检测系统和定位检测方法 |
| CN114660068A (zh) * | 2022-02-28 | 2022-06-24 | 厦门聚视智创科技有限公司 | 一种高精度缺陷限度判断方法 |
| CN114660068B (zh) * | 2022-02-28 | 2024-06-25 | 厦门聚视智创科技有限公司 | 一种高精度缺陷限度判断方法 |
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| PB01 | Publication | ||
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| RJ01 | Rejection of invention patent application after publication | ||
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