TWI664419B - 用於檢測光學膜之缺陷的裝置及方法 - Google Patents

用於檢測光學膜之缺陷的裝置及方法 Download PDF

Info

Publication number
TWI664419B
TWI664419B TW107126137A TW107126137A TWI664419B TW I664419 B TWI664419 B TW I664419B TW 107126137 A TW107126137 A TW 107126137A TW 107126137 A TW107126137 A TW 107126137A TW I664419 B TWI664419 B TW I664419B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
optical film
light
unit
screen
image
Prior art date
Application number
TW107126137A
Other languages
English (en)
Other versions
TW201920943A (zh
Inventor
金浩振
楊命坤
崔恒碩
張應鎭
Original Assignee
南韓商Ｌｇ化學股份有限公司
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 南韓商Ｌｇ化學股份有限公司 filed Critical 南韓商Ｌｇ化學股份有限公司
Publication of TW201920943A publication Critical patent/TW201920943A/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI664419B publication Critical patent/TWI664419B/zh

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
    • G01N21/892—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the flaw, defect or object feature examined
    • G01N21/896—Optical defects in or on transparent materials, e.g. distortion, surface flaws in conveyed flat sheet or rod
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N2021/9513—Liquid crystal panels
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/06—Illumination; Optics
    • G01N2201/063—Illuminating optical parts
    • G01N2201/0636—Reflectors

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Textile Engineering (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

本發明提供一種用於檢測光學膜之缺陷的裝置及方法，裝 置及方法能夠容易地檢測光學膜中/上存在的缺陷。所述裝置包括：發光單元，發射光；反射單元，反射自所述發光單元發射的所述光且將所述光引導至所述光學膜；螢幕，顯示藉由將所述光投影在所述光學膜上獲得的投影形狀以檢測所述光學膜的缺陷；以及圖像擷取單元，擷取顯示於所述螢幕上的所述投影形狀的圖像。

Description

用於檢測光學膜之缺陷的裝置及方法
本申請案主張2017年7月28日在韓國智慧財產局（Korean Intellectual Property Office）申請之韓國專利申請案第10-2017-0096299號之優先權及權益，所述申請案之全部內容以引用的方式併入本文中。
本發明是關於一種用於檢測光學膜之缺陷的裝置及方法。
具有光學特性的光學膜用來製造顯示器單元，所述顯示單元包含液晶顯示器（liquid crystal displays；LCD）、有機發光二極體（organic light emitting diodes；OLED）、電漿顯示器面板（plasma display panels；PDP）、電泳顯示器（electrophoretic displays；EPD）以及類似者。大體而言，光學膜具有一種結構，在所述結構中具有光學特性的偏光膜及用於保護偏光膜之保護膜堆疊於彼此上。
在製造及傳輸光學膜的製程期間，在某些情形下，諸如當將雜質引入至光學膜中，壓碎光學膜，刺破光學膜的表面，或光學膜起皺時，各種形狀的缺陷可出現在光學膜中/上。前述缺陷可導致使用所述光學膜製造的顯示器單元的缺陷。
因此，需要能夠檢測光學膜中/上存在的各種形狀的缺陷的技術。
韓國專利第10-1082699號（下文中，稱為專利文獻1）提出一種用於藉由擷取光學膜的圖像來檢測光學膜之缺陷的裝置。專利文獻1揭露藉由以下操作來測試光學膜：允許自光源發射的光穿過光學膜，使得光學膜的圖像由圖像擷取構件擷取，所述圖像擷取構件安裝在面對光源的位置處。
[相關技術文獻] [專利文獻] 專利文獻1：韓國專利第10-1082699號
[技術問題] 本說明書已致力於提供一種用於檢測光學膜之缺陷的裝置及方法。
[技術解決方案] 本發明的一例示性實施例提供一種用於檢測光學膜之缺陷的裝置，裝置包含：發光單元，發射光；反射單元，反射自發光單元發射的光且將光引導至光學膜；螢幕，顯示藉由將光投影在光學膜上獲得的投影形狀以檢測光學膜的缺陷；以及圖像擷取單元，擷取顯示於螢幕上的投影形狀的圖像。
本發明的另一例示性實施例提供一種檢測光學膜之缺陷的方法，方法包含：將光發射至反射單元；將由反射單元反射的光投影在光學膜上；藉由擷取螢幕的圖像來獲得圖像，所述螢幕顯示藉由將光投影在光學膜上獲得的投影形狀以檢測光學膜的缺陷；以及藉由分析圖像來檢測光學膜的缺陷。
[有利效應] 根據本發明的例示性實施例，有可能容易地檢測光學膜中/上的各種形狀的缺陷，諸如壓碎、刺破、摺疊以及起皺的形狀。
根據本發明的例示性實施例，由於藉由反射單元來擴展自發光單元發射的光的光照射寬度，因此有可能擴寬其中可檢測到光學膜之缺陷的區域。
根據本發明的例示性實施例，有可能容易地檢測光學膜中/上存在的缺陷。
貫穿本說明書中，除非明確地描述為相反情況，否則「包括（comprise）」一詞及其變化形式（諸如「包括（comprises/comprising）」）應理解為暗示包含所陳述的元件，但不排除任何其他元件。在本說明書中，當一個構件安置於另一構件「上」時，此不僅包含一個構件與另一構件接觸的情況，且亦包含在兩個構件之間存在又一構件的情況。
下文將更詳細地描述本說明書。
本發明的一例示性實施例提供一種用於檢測光學膜之缺陷的裝置，裝置包含：發光單元，發射光；反射單元，反射自發光單元發射的光且將光引導至光學膜；螢幕，顯示藉由將光投影在光學膜上獲得的投影形狀以檢測光學膜的缺陷；以及圖像擷取單元，擷取顯示於螢幕上的投影形狀的圖像。
根據本發明的例示性實施例，有可能容易地檢測光學膜中/上的各種形狀的缺陷，諸如壓碎、刺破、摺疊以及起皺的形狀。
根據本發明的例示性實施例，用於檢測光學膜之缺陷的裝置可檢查缺陷是否存在於用於製造顯示器單元的光學膜中/上。光學膜包含偏光膜，且除偏光膜之外可更包含具有光學特性的膜，諸如相位差膜、視覺補償膜以及亮度改進膜。亦即，光學膜可藉由將具有光學特性的膜附接至偏光膜的一個表面或兩個表面來得到。另外，光學膜可呈片形式或呈在光學膜的縱向方向上經延長的卷形式。
圖1是示意性地說明根據本發明的一例示性實施例的用於檢測光學膜之缺陷的裝置的組態的視圖。具體而言，圖1是說明用於檢測光學膜之缺陷的裝置的視圖，裝置包含：傳送單元500，傳送光學膜F；發光單元100，發射光；反射單元200，反射自發光單元100發射的光且將光引導至光學膜F；螢幕300，設置於與光學膜F間隔開的位置處且在所述螢幕上顯示投影形狀，所述投影形狀藉由利用光來投影光學膜F中/上存在的缺陷來得到；以及圖像擷取單元400，擷取顯示於螢幕300上的投影形狀的圖像。
根據本發明的例示性實施例，用於檢測光學膜之缺陷的裝置可包含傳送單元，所述傳送單元可在預定方向上傳送光學膜。傳送單元可包含可傳送光學膜的各種傳送方式。具體而言，傳送單元包含傳送滾輪，且可藉由使用傳送滾輪來傳送光學膜。
根據本發明的例示性實施例，傳送滾輪的直徑可為100毫米（mm）至125毫米或110毫米至120毫米。具體而言，傳送滾輪的直徑可為118毫米。另外，參看圖1，兩個傳送滾輪500的中心之間的最短距離可為200毫米至300毫米、220毫米至280毫米、或240毫米至260毫米。具體而言，兩個傳送滾輪的中心之間的最短距離可為245毫米。可在傳輸光學膜的方向上量測傳送滾輪的中心之間的距離。
由於傳送滾輪的直徑及傳送滾輪的中心之間的最短距離經調整至前述範圍，因此有可能改進用於檢測光學膜之缺陷的裝置的操作效率，且有可能有效防止傳送滾輪干擾由反射單元反射的光的情況，及當圖像擷取單元擷取螢幕的圖像時傳送滾輪干擾圖像擷取單元的情況。
根據本發明的例示性實施例，傳送滾輪可以直列方式傳送光學膜，在所述直列（in-line）方式中光學膜在單個方向上行進。因此，光學膜可持續地沿傳送滾輪傳輸同時捲繞在傳送滾輪上，且自發光單元發射的光可由反射單元反射且經引導至傳送中的光學膜。亦即，根據本發明的例示性實施例，可藉由使用卷對卷（roll-to-roll）方法來將在其縱向方向上延長的一卷光學膜供應至用於檢測光學膜之缺陷的裝置，使得可檢測到光學膜的缺陷。
根據本發明的例示性實施例，在藉由用於檢測光學膜之缺陷的裝置來檢查缺陷是否存在於在其縱向方向上延長的光學膜中/上的情況下，傳送單元可在光學膜的縱向方向上傳送光學膜。參看圖1，在光學膜F定位於螢幕300與發光單元100及反射單元200之間的情況下，可提供傳送單元500以在光學膜F的縱向方向上傳送光學膜F。
根據本發明的例示性實施例，廣泛已知的構件可用作發光單元，且只要構件發射光就沒有限制。具體而言，考慮到發光單元的使用壽命、亮度穩定性以及可維護性，發光單元可包含發光二極體（light emitting diode；LED）。另外，發光單元可包含多個LED，且除LED以外可包含發光構件，諸如螢光燈或白熾燈。
根據本發明的例示性實施例，反射單元可包含能夠改變自發光單元發射的光的路徑的構件。具體而言，反射單元可包含平面反射鏡。由於反射單元包含平面反射鏡，因此可容易地調整自發光單元發射的光相對於反射單元的反射角，且因而可將光有效引導至光學膜。
圖2是示意性地說明根據本發明的例示性實施例的藉由反射單元來將自發光單元發射的光引導至光學膜的情況的視圖。具體而言，參考圖2，自發光單元100發射的光可由反射單元200反射且經引導至光學膜F。
根據本發明的例示性實施例，反射單元可將光引導至光學膜同時擴展光的光照射寬度。當自發光單元發射的光由反射單元反射時，光的光照射寬度可經擴展同時光的路徑經改變為指向光學膜。亦即，根據本發明的例示性實施例，由於藉由反射單元來擴展自發光單元發射的光的光照射寬度，因此有可能擴寬其中可檢測到光學膜之缺陷的區域。
參考圖2，可藉由反射單元200來在光學膜F的寬度方向上擴展自發光單元100發射的光的光照射寬度d4。相關技術中的裝置藉由將光直接發射至光學膜上而不使用反射單元來檢測光學膜的缺陷，設置有多個發光單元以便擴展在其中檢測到光學膜之缺陷的區域。相反地，根據本發明的例示性實施例，可僅提供單個發光單元，因為光照射寬度可藉由使用反射單元來擴展，且因而，有可能減小用於檢測光學膜之缺陷的裝置所用的安裝成本。另外，由於僅提供單一發光單元，有可能減小用於檢測光學膜之缺陷的裝置所用的安裝空間，且有可能減小操作用於檢測光學膜之缺陷的裝置所需的成本。
根據本發明的例示性實施例，反射單元可將自發光單元發射的光引導至光學膜，使得光照射寬度是900毫米或大於900毫米。參考圖2，反射單元可將光引導至光學膜，使得光照射寬度d4是900毫米至3,000毫米、900毫米至2,500毫米、900毫米至1,500毫米、1,500毫米至3,000毫米、或1,700毫米至2,500毫米。
由於由反射單元反射的光的光照射寬度經調整至前述範圍，因此有可能在光學膜的整個寬度方向上有效引導光，且有可能防止光的量的均勻度降低。
根據本發明的例示性實施例，經引導至光學膜的光的光照射寬度可藉由調整發光單元與反射單元之間的距離來控制。具體而言，有可能藉由減小發光單元與反射單元之間的距離來擴展經引導至光學膜的光的光照射寬度。另外，有可能藉由增大發光單元與反射單元之間的距離來減小經引導至光學膜的光的光照射寬度。
根據本發明的例示性實施例，將藉由反射單元引導至光學膜的光投影在光學膜上，且投影形狀可顯示於螢幕上，所述投影形狀藉由將光投影在光學膜上使得投影光學膜中/上存在的缺陷來得到。
根據本發明的例示性實施例，利用來投影光的螢幕可用作所述螢幕。具體而言，聚丙烯（polypropylene）板可用於螢幕。另外，螢幕的表面可處理成白色，使得藉由投影光學膜中/上存在的缺陷得到的投影形狀可明顯地顯示於螢幕上。另外，為使顯示於螢幕上的投影形狀的失真最小化，螢幕的表面經處理以減小螢幕的表面粗糙度。另外，螢幕可具有光漫射及透射特性。
同時，光學膜中/上存在的缺陷可具有由外力造成的光學膜的各種形狀，諸如壓碎、刺破、摺疊或起皺的形狀。更詳細地，光學膜中/上存在的缺陷可意指由引入雜質造成的光學膜的壓碎形狀、當光學膜捲繞於傳送滾輪上時形成的壓碎形狀、當塗覆至光學膜上的黏合劑或黏附劑的厚度變形時形成的壓碎形狀、或一種缺陷，在所述缺陷中，光學膜的前部或後部形狀變形，或光學膜的形狀由於當摺疊光學膜時形成的皺折而改變。
根據本發明的例示性實施例，有可能藉由分析顯示於螢幕上的投影形狀來確定光學膜中/上存在的缺陷的類型及大小。具體而言，當光學膜壓碎且因此具有凸面形狀（例如，呈放大鏡形式）時，顯示於螢幕上的投影形狀的亮度高於不具有缺陷的光學膜的投影形狀的亮度，且因而，呈白點形式的投影形狀可顯示於螢幕上。
另外，在將雜質引入至光學膜中的情況下，由反射單元引導的光不能穿過光學膜，且因而，顯示於螢幕上的投影形狀的亮度低於不具有缺陷的光學膜的投影形狀的亮度，使得呈黑點形式的投影形狀可顯示於螢幕上。另外，在光學膜摺疊或光學膜刺破的情況下，顯示於螢幕上的投影形狀可經顯示為呈持續地連接及延長的包含白點或黑點的線形式。
因此，根據本發明的例示性實施例，有可能藉由分析顯示於螢幕上的投影形狀來確定光學膜中/上存在的缺陷的類型及大小，且因而有可能確定光學膜是否具有缺陷。
根據本發明的例示性實施例，圖像擷取單元可經提供以與螢幕間隔開，且可藉由擷取投影形狀的圖像來獲得顯示於螢幕上的投影形狀的圖像。獲得圖像的方法可藉由以下操作來執行：藉由擷取投影形狀的圖像，所述投影形狀藉由光學膜的缺陷來顯示於螢幕上；藉由使用包含於圖像擷取單元中的相機；以及藉由將圖像轉換成圖像資料。CCD感測器或掃描相機可用作包含於圖像擷取單元中的相機，但相機的類型不受限制。另外，為使顯示於螢幕上的所擷取的投影形狀的圖像的失真最小化，圖像擷取單元的焦點可經設置為形成於螢幕的中心處。
根據本發明的例示性實施例，圖像擷取單元的數目可大於一個。因此，用於檢測光學膜之缺陷的裝置可包含單個發光單元及多個圖像擷取單元。多個圖像擷取單元可分別擷取圖像擷取區域的圖像，所述圖像擷取區域可定義於螢幕上。具體而言，在使用具有水平長度大於豎直長度的矩形形狀的螢幕的情況下，多個圖像擷取單元可分別擷取圖像擷取區域的圖像，所述圖像擷取區域定義於螢幕的水平方向上。作為一實例，在進行設置使得第一圖像擷取區域、第二圖像擷取區域以及第三圖像擷取區域定義於螢幕上的情況下，第一圖像擷取單元可擷取第一圖像擷取區域上的投影形狀的圖像，第二圖像擷取單元可擷取第二圖像擷取區域上的投影形狀的圖像，且第三圖像擷取單元可擷取第三圖像擷取區域上的投影形狀的圖像。由於提供多個圖像擷取單元，因此可精確地擷取廣泛分佈於螢幕上的投影形狀的圖像，且因而有可能較為準確地檢測光學膜的缺陷。
圖3是示意性地說明根據本發明的例示性實施例的包含分析單元的用於檢測光學膜之缺陷的裝置的組態的視圖。具體而言，圖3是說明具有分析單元600的用於檢測光學膜之缺陷的裝置的視圖，所述分析單元結合圖像擷取單元400來操作且藉由分析由圖像擷取單元400擷取的圖像來確定缺陷是否存在於中光學膜F中/上。
根據本發明的例示性實施例，用於檢測光學膜之缺陷的裝置可更包含分析單元，所述分析單元藉由分析由圖像擷取單元擷取以顯示投影形狀的螢幕的圖像來檢測光學膜的缺陷。分析單元使用藉由圖像擷取單元獲得的圖像資料作為輸入資料，且可藉由使用關於經輸入圖像資料中的圖像亮度的數值來執行圖像處理。可對已經過圖像處理的資料執行分析方法，所述分析方法藉由將投影形狀的亮度值與不具有缺陷的光學膜的投影形狀的亮度值進行比較來確定光學膜的投影形狀是否具有黑點或白點來檢測缺陷。另外，分析單元可藉由量測具有黑點或白點的部分的大小來分析缺陷。
分析單元可包含電子裝置，所述電子裝置嵌入有能夠執行圖像處理及比較分析的分析程式。具體而言，電腦、平板PC、個人便攜式手機、可穿戴裝置、可程式化邏輯控制器（programmable logic controller；PLC）或類似者可用作分析單元。
根據本發明的例示性實施例，形成於螢幕與一方向之間的第一角度θ 1可等於形成於光學膜與投影在光學膜上的光之間的第二角度θ 2，在所述方向上圖像擷取單元擷取螢幕的圖像。
參看圖1，圖像擷取單元400的位置、發光單元100的位置或反射單元200的位置可經調整使得形成於螢幕300與所述方向之間的第一角度θ 1經設置為等於形成於光學膜F與投影在光學膜F上的光之間的第二角度θ 2，在所述方向上圖像擷取單元400擷取螢幕300的圖像。具體而言，第二角度可藉由固定反射單元的位置及調整發光單元的位置或藉由固定發光單元的位置及調整反射單元的位置來調整。
根據本發明的例示性實施例，由於第一角度及第二角度經設置為彼此相等，因此顯示於螢幕上的投影形狀的失真最小化，使得有可能減小當分析投影形狀的經擷取圖像時發生的誤差，且有可能較為準確地檢測光學膜中/上存在的缺陷。
根據本發明的例示性實施例，第一角度及第二角度可為25°或大於25°及48°或小於48°。具體而言，第一角度及第二角度可為30°或大於30°及40°或小於40°、35°或大於35°及40°或小於40°、或30°或大於30°及45°或小於45°。更具體言之，第一角度及第二角度可為35°。
由於第一角度及第二角度經調整至前述範圍，因此有可能使顯示於螢幕上的投影形狀的失真最小化，且有可能較為精確地獲得投影形狀的經擷取圖像。另外，在第一角度及第二角度彼此相等且第一角度及第二角度在前述範圍內的情況下，有可能藉由抑制由圖像擷取單元檢測到的光學膜的缺陷的平均峰（peak）值亮度值減小來較為精確地檢測光學膜中/上存在的缺陷。
在本發明中，亮度值是指藉由圖像擷取單元獲得的圖像的明亮程度，且可藉由基於灰階（gray level）分類來設置在0級至255級。在此情況下，0級是指圖像亮度對應於黑色的情況，且255級是指圖像亮度對應於白色的情況。另外，光學膜的缺陷的平均峰值亮度值可意指在所獲得圖像中沒有檢測到缺陷的區域與檢測到缺陷的區域之間的亮度值（灰階（gray level））的差的平均值。
在第一角度及第二角度小於25°的情況下，顯示於螢幕上的投影形狀的失真可增大，且形成於螢幕與圖像擷取單元擷取螢幕圖像的方向之間的角度減小，且因而可存在問題，其中自藉由圖像擷取單元擷取的圖像省略投影形狀且因此獲得不正確的圖像。另外，在第一角度及第二角度小於25°的情況下，當自發光單元發射且由反射單元反射的光經引導至光學膜時，光及傳送單元彼此干擾，且因而可存在獲得不正確圖像的問題。
圖4a是示意性地說明當第一角度及第二角度小於25°時，由反射單元反射的光與傳送單元彼此干擾的情況的視圖。具體而言，圖4a是說明當第一角度θ 1及第二角度θ 2小於25°時，由反射單元200反射的光與傳送單元500彼此干擾的情況的視圖。
在第一角度及第二角度大於48°的情況下，可存在光的量的均勻度減小的問題，因為藉由反射單元引導的光在光學膜上進行介面反射或不規則反射。另外，在第一角度及第二角度大於48°的情況下，光干擾傳送單元同時圖像擷取單元擷取螢幕的圖像，且因而可存在獲得不正確圖像的問題。
圖4b是示意性地說明當第一角度及第二角度大於48°時，光干擾傳送單元同時圖像擷取單元擷取螢幕的圖像的情況的視圖。具體而言，圖4b是說明當第一角度θ 1及第二角度θ 2大於48°時，圖像擷取單元400獲得螢幕300的圖像的區域干擾傳送單元500的情況的視圖。
根據本發明的例示性實施例，螢幕與光投影於光學膜上的的區域之間的距離可為90毫米或大於90毫米及130毫米或小於130毫米。具體而言，螢幕與光投影於光學膜上的區域之間的距離可為100毫米或大於100毫米、及120毫米或小於120毫米、或105毫米或大於105毫米、及115毫米或小於115毫米。更具體言之，螢幕與光投影在光學膜上的區域之間的距離可為90毫米。在本發明中，光投影在光學膜上的區域可意指安置在螢幕的一側處的光學膜的區域，且螢幕與光投影在光學膜上的區域之間的距離可意指最短距離。
參看圖1，由於螢幕300與光投影在光學膜F上的區域之間的距離d1經調整至前述範圍，因此可有效防止藉由雜質（諸如光學膜與螢幕之間的存在的灰塵）得到的投影形狀顯示於螢幕上，且藉由投影光學膜中/上存在的缺陷得到的投影形狀可較為明顯地顯示於螢幕上。
根據本發明的例示性實施例，發光單元上的自其發射光的點與反射單元上的在其上反射光的點之間的距離可為165毫米或大於165毫米及185毫米或小於185毫米。具體而言，發光單元上的其處發射光的點與反射單元上的在其處反射光的點之間的距離可為170毫米或大於170毫米及180毫米或小於180毫米。更具體言之，發光單元上的其處發射光的點與反射單元上的在其處反射光的點之間的距離可為175毫米。
參看圖1，發光單元100上的其處發射光的點與反射單元200上的在其處反射光的點之間的距離d3經調整至前述範圍，使得在適當地維持由反射單元反射的光的強度的情況下，光可經引導至光學膜。因此，藉由投影光學膜中/上存在的缺陷得到的投影形狀可明顯地顯示於螢幕上。另外，由於距離d3經調整至前述範圍，因此反射單元可有效擴展自發光單元發射的光的光照射寬度。
根據本發明的例示性實施例，反射單元上的其處反射光的點與由反射單元反射的光經引導至其的光學膜的區域之間的距離可為580毫米或大於580毫米及650毫米或小於650毫米。具體而言，反射單元上的其處反射光的點與由反射單元反射的光經引導至其的光學膜的區域之間的距離可為590毫米或大於590毫米及630毫米或小於630毫米、600毫米或大於600毫米及610毫米或小於610毫米、590毫米或大於590毫米及610毫米或小於610毫米、或620毫米或大於620毫米及650毫米或小於650毫米。更具體言之，反射單元上的其處反射光的點與由反射單元反射的光經引導至其的光學膜的區域之間的距離可為650毫米。在本發明中，由反射單元反射的光經引導至其的光學膜的區域可意指安置在反射單元的一側處的光學膜的區域。參看圖1，由於反射單元200上的其處反射光的點與光經引導至其的光學膜F的區域之間的距離d2經調整至前述範圍，因此防止藉由反射單元引導至光學膜的光的量的均勻度降低，且光可有效投影在光學膜上。
根據本發明的例示性實施例，用於檢測光學膜之缺陷的裝置可提供於暗室中，使得顯示於螢幕上的投影形狀的失真最小化且投影形狀可較為明顯地顯示於螢幕上。
同時，圖像擷取單元與螢幕之間的距離可基於包含於圖像擷取單元中的相機的分辨率而改變。
本發明的另一例示性實施例提供一種檢測光學膜之缺陷的方法，方法包含：將光發射至反射單元；將由反射單元反射的光投影在光學膜上；藉由擷取螢幕的圖像來獲得圖像，所述螢幕顯示藉由將光投影在光學膜上獲得的投影形狀以檢測光學膜的缺陷；以及藉由分析圖像來檢測光學膜的缺陷。
根據本發明的例示性實施例，有可能容易地檢測光學膜中/上存在的缺陷。
用於根據本發明的例示性實施例的檢測光學膜之缺陷的方法中的發光單元、反射單元、螢幕、圖像擷取單元以及類似者可與包含於根據本發明的例示性實施例的用於檢測光學膜之缺陷的裝置中的發光單元、反射單元、螢幕、圖像擷取單元以及類似者一致。
根據本發明的例示性實施例，可藉由使用發光單元將光發射至反射單元。當將光發射至反射單元時，光由反射單元反射且經引導至光學膜，且經引導至光學膜的光投影在光學膜上且到達螢幕。當光投影在光學膜上時，藉由投影光學膜中/上存在的缺陷得到的投影形狀可顯示於螢幕上。有可能藉由使用圖像擷取單元來擷取顯示於螢幕上的投影形狀的圖像來獲得圖像。有可能藉由使用分析單元來分析所獲得的圖像來檢測光學膜的缺陷。
根據本發明的例示性實施例，檢測光學膜之缺陷的方法可更包含藉由使用卷對卷（roll-to-roll）方法來供應光學膜。具體而言，藉由使用卷對卷方法來在光學膜的縱向方向上供應在其縱向方向上延長的一卷光學膜，且光學膜的缺陷可檢測到。因此，根據本發明的例示性實施例，由於藉由使用卷對卷方法來供應光學膜，因此有可能改進檢測光學膜之缺陷的方法的速度，且有可能持續地執行缺陷檢測方法。
在下文中，本發明將參考用於具體描述本發明的實例來詳細地描述本發明。然而，根據本發明的實例可以各種形式進行修改，且不應解譯為本發明的範疇限於下文所描述的實例。提供本說明書之實例用於向本領域中具有通常知識者更完整地解釋本發明。 實例 1
用於檢測光學膜之缺陷的裝置的發光單元、反射單元、螢幕、圖像擷取單元以及傳送單元如圖1中所說明來設置。在此情況下，第一角度θ 1及第二角度θ 2經設置為35°。另外，螢幕與光經投影至其的光學膜的區域之間的距離d1經設置為90毫米，發光單元上的其處發射光的點與反射單元上的在其處反射光的點之間的距離d3經設置為175毫米，且反射單元上的其處反射光的點與由反射單元反射的光經引導至其的光學膜的區域之間的距離d2經設置為650毫米。另外，使用直徑為118毫米的傳送滾輪，且圖1中的兩個傳送滾輪的中心之間的最短距離經設置為245毫米。 比較例 1
除了第一角度θ 1經設置為15°且第二角度θ 2經設置為35°之外，用於檢測光學膜之缺陷的裝置以與實例1中相同的方式設置。 比較例 2
除了第一角度θ 1經設置為35°且第二角度θ 2經設置為55°之外，用於檢測光學膜之缺陷的裝置以與實例1中相同的方式設置。
根據圖像來量測平均峰值亮度值，所述圖像藉由根據實例1、比較例1以及比較例2的用於檢測光學膜之缺陷的裝置的圖像擷取單元獲得，且量測結果顯示於下表1中。在此情況下，如上文所描述，表1中的平均峰（peak）值亮度值意指在所獲得圖像中沒有檢測到缺陷的區域與檢測到缺陷的區域之間的亮度值（灰階（gray level））的差的平均值。 [表1]
平均峰值亮度值 （灰階（gray level）） 減小比率 （%）
實例1 36 -
比較例1 31 14
比較例2 3 92
在表1中，藉由基於在實例1中量測的平均峰值亮度值來計算在比較例1及比較例2中量測的平均峰值亮度值減小的程度來得到減小比率。
圖5說明根據實例1、比較例1以及比較例2獲得的光學膜的圖像。
參看表1及圖5，確定在實例1情況下，其中第一角度及第二角度經設置為彼此相等且第一角度及第二角度經設置為25°至48°，在藉由圖像擷取單元獲得的光學膜的圖像中可較為明顯地檢測到光學膜中的缺陷。相反地，確定在第一角度及第二角度彼此不同且第一角度為15°的比較例1的情況下，及在第一角度及第二角度彼此不同且第二角度為55°的比較例2的情況下，藉由圖像擷取單元獲得的圖像的平均峰值亮度值小於實例1中的平均峰值亮度值，且相比於實例1中的方法，根據所獲得的圖像來檢測光學膜中的缺陷的方法不易於執行。
因此，可看出有可能藉由使用根據本發明的例示性實施例的用於檢測光學膜之缺陷的裝置來較為有效地檢測光學膜中的缺陷。
100：發光單元 200：反射單元 300：螢幕 400：圖像擷取單元 500：傳送單元 600：分析單元 d1、d2、d3：距離 d4：光照射寬度 F：光學膜 θ 1：第一角度 θ 2：第二角度
圖1是示意性地說明根據本發明的一例示性實施例的用於檢測光學膜之缺陷的裝置的組態的視圖。 圖2是示意性地說明根據本發明的例示性實施例的藉由反射單元來將自發光單元發射的光引導至光學膜的情況的視圖。 圖3是示意性地說明根據本發明的例示性實施例的包含分析單元的用於檢測光學膜之缺陷的裝置的組態的視圖。 圖4a是示意性地說明當第一角度及第二角度小於25°時，在由反射單元反射的光與傳送單元之間出現干擾的情況的視圖；且圖4b是示意性地說明當第一角度及第二角度大於48°時，光干擾傳送單元同時圖像擷取單元擷取螢幕的圖像的情況的視圖。 圖5是說明根據實例1、比較例1以及比較例2獲得的光學膜的圖像的視圖。

Claims (7)

  1. 一種用於檢測光學膜之缺陷的裝置，所述裝置包括：發光單元，發射光；反射單元，反射自所述發光單元發射的所述光且將所述光引導至所述光學膜；螢幕，顯示藉由將所述光投影在所述光學膜上獲得的投影形狀以檢測所述光學膜的缺陷，其中形成於所述螢幕與一方向之間的第一角度θ1等於形成於所述光學膜與投影在所述光學膜上的所述光之間的第二角度θ2，所述第一角度是不小於25°以及不大於48°，且所述第二角度是不小於25°以及不大於48°；以及圖像擷取單元，在所述方向上擷取顯示於所述螢幕上的所述投影形狀的圖像。
  2. 如申請專利範圍第1項所述的裝置，其中所述螢幕與所述光投影在所述光學膜上的區域之間的最短距離是不小於90毫米以及不大於130毫米。
  3. 如申請專利範圍第1項所述的裝置，其中所述發光單元上的自其發射所述光的點與所述反射單元上的在其上反射光的點之間的距離是不小於165毫米以及不大於185毫米。
  4. 如申請專利範圍第1項所述的裝置，其中所述反射單元上的在其上反射所述光的點與由所述反射單元反射的所述光經引導至其的所述光學膜的區域之間的距離是不小於580毫米以及不大於650毫米。
  5. 如申請專利範圍第1項所述的裝置，更包括：分析單元，藉由分析由所述圖像擷取單元擷取以顯示所述投影形狀的所述螢幕的圖像來檢測所述光學膜的缺陷。
  6. 一種檢測光學膜之缺陷的方法，所述方法包括：將光發射至反射單元；將由所述反射單元反射的所述光投影在所述光學膜上，其中形成於所述螢幕與一方向之間的第一角度θ1等於形成於所述光學膜與投影在所述光學膜上的所述光之間的第二角度θ2，其中所述第一角度是不小於25°以及不大於48°，且所述第二角度是不小於25°以及不大於48°；藉由在所述方向上擷取螢幕的圖像來獲得所述圖像，所述螢幕顯示藉由將所述光投影在所述光學膜上獲得的投影形狀以檢測所述光學膜的缺陷；以及藉由分析所述圖像來檢測所述光學膜的所述缺陷。
  7. 如申請專利範圍第6項所述的方法，更包括：藉由使用卷對卷方法來供應所述光學膜。
TW107126137A 2017-07-28 2018-07-27 用於檢測光學膜之缺陷的裝置及方法 TWI664419B (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
??10-2017-0096299 2017-07-28
KR20170096299 2017-07-28

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TW201920943A TW201920943A (zh) 2019-06-01
TWI664419B true TWI664419B (zh) 2019-07-01

Family

ID=65040767

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW107126137A TWI664419B (zh) 2017-07-28 2018-07-27 用於檢測光學膜之缺陷的裝置及方法

Country Status (5)

Country Link
US (1) US11391678B2 (zh)
KR (1) KR102289972B1 (zh)
CN (1) CN110741245B (zh)
TW (1) TWI664419B (zh)
WO (1) WO2019022551A1 (zh)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11964894B2 (en) * 2018-01-31 2024-04-23 Nippon Electric Glass Co., Ltd. Glass roll, glass roll manufacturing method, and quality evaluation method
TWI771594B (zh) * 2019-06-19 2022-07-21 住華科技股份有限公司 缺陷判斷訓練方法及應用其之系統以及缺陷判斷方法及應用其之系統
CN110514671A (zh) * 2019-09-24 2019-11-29 广西贺州市红星纸业有限公司 一种新型浆板洁净度检测方法
US20230418198A1 (en) * 2020-10-13 2023-12-28 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Determining the existence of defects in print apparatuses

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005241586A (ja) * 2004-02-27 2005-09-08 Advanced Display Inc 光学フィルムの検査装置および光学フィルムの検査方法
KR101464877B1 (ko) * 2013-05-28 2014-11-24 (주)쎄미시스코 불규칙 패턴을 가지는 대상물을 검사하는 불량 검사 시스템

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08128968A (ja) * 1994-10-31 1996-05-21 Sumitomo Chem Co Ltd 透明シート状成形体の欠陥検査法
JPH102868A (ja) * 1996-06-14 1998-01-06 Mitsubishi Rayon Co Ltd 透光性シート状物中の欠陥を光学的に検出する方法及び装置
JP2001201429A (ja) * 2000-01-18 2001-07-27 Mitsubishi Chemicals Corp 検査基体の欠陥検査方法および装置
JP4884738B2 (ja) 2005-09-26 2012-02-29 株式会社日本マイクロニクス 液晶パネル検査装置
KR100769326B1 (ko) * 2006-04-28 2007-10-24 충북대학교 산학협력단 편광 필름 검사 장치
JP4960026B2 (ja) * 2006-06-09 2012-06-27 富士フイルム株式会社 フイルムの欠陥検査装置及びフイルムの製造方法
KR101082699B1 (ko) 2008-08-27 2011-11-15 제일모직주식회사 광학필름용 검사장치
JP2011085520A (ja) * 2009-10-16 2011-04-28 Kaneka Corp 欠陥判別装置、欠陥判別方法及びシート状物
JP2011145082A (ja) * 2010-01-12 2011-07-28 Kaneka Corp シート状物の表面欠陥検査装置
JP2012078144A (ja) * 2010-09-30 2012-04-19 Kaneka Corp 透明体シート状物の表面欠陥検査装置
JP2012215566A (ja) * 2011-03-25 2012-11-08 Kaneka Corp 欠陥検出装置、欠陥検出方法及びシート状物
JP2014234999A (ja) 2013-05-30 2014-12-15 住友化学株式会社 欠陥検査装置及び光学表示デバイスの生産システム
KR102200303B1 (ko) * 2014-08-19 2021-01-07 동우 화인켐 주식회사 광학 필름 검사 장치
KR102063551B1 (ko) * 2016-05-24 2020-01-08 주식회사 엘지화학 광학필름의 결함 검출 시스템 및 광학필름의 결함 검출 방법

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005241586A (ja) * 2004-02-27 2005-09-08 Advanced Display Inc 光学フィルムの検査装置および光学フィルムの検査方法
KR101464877B1 (ko) * 2013-05-28 2014-11-24 (주)쎄미시스코 불규칙 패턴을 가지는 대상물을 검사하는 불량 검사 시스템

Also Published As

Publication number Publication date
KR20190013600A (ko) 2019-02-11
KR102289972B1 (ko) 2021-08-18
US20200232932A1 (en) 2020-07-23
TW201920943A (zh) 2019-06-01
CN110741245A (zh) 2020-01-31
US11391678B2 (en) 2022-07-19
WO2019022551A1 (ko) 2019-01-31
CN110741245B (zh) 2022-12-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI664419B (zh) 用於檢測光學膜之缺陷的裝置及方法
EP2482059B1 (en) Apparatus for optical inspection
CN104777168A (zh) 用于检测基板的边缘的设备
JP6707443B2 (ja) 欠陥検査用画像撮像システム、欠陥検査システム、フィルム製造装置、欠陥検査用画像撮像方法、欠陥検査方法及びフィルム製造方法
KR20110078958A (ko) 엘시디 패널 외관 검사장치
US20200378899A1 (en) Glass processing apparatus and methods
TW201606382A (zh) 光學膜黏貼位置測定裝置
CN106290175A (zh) 传送带启停装置及印刷品视觉检测设备
TWI740918B (zh) 偵測光學膜之缺陷的系統與方法
CN111272392A (zh) 检查设备及驱动检查设备的方法
JP2008298557A (ja) 光学フィルムの検査方法及び装置
KR101605000B1 (ko) 기판 검사장치
US20190033229A1 (en) Inspection device for sheet object, and inspection method for sheet object
TWI470210B (zh) 顯示裝置之光學層件之缺陷檢測方法
JP5412400B2 (ja) 透過方式測定のための軸外シート取扱装置および技術
TWI480530B (zh) 顯示器用玻璃基板的亮度不均勻評估方法及其玻璃基板的製造方法
TWI795552B (zh) 測量方法以及測量裝置
JP6294904B2 (ja) ギラツキ評価装置およびギラツキ評価方法
US20160102967A1 (en) Differential lighting
KR100902659B1 (ko) 스탬프 검사장치 및 이를 이용한 미세패턴 형성방법
KR102068560B1 (ko) 디스플레이 패널 검사장치용 백라이트 유닛
KR20200061148A (ko) 광학 필름의 결함 검사 방법 및 장치
KR102168001B1 (ko) 투명 제품 검사용 lcd 디스플레이 조명 및 이를 구비한 투명 제품 검사 장치
KR20100070966A (ko) 유리기판의 진행 방향측 에지면의 결함 검출장치
KR20150124480A (ko) 패턴 투광판을 이용한 편광필름 검사장치