TWI480530B - 顯示器用玻璃基板的亮度不均勻評估方法及其玻璃基板的製造方法 - Google Patents

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Description

顯示器用玻璃基板的亮度不均勻評估方法及其玻璃基板的製造方法
本發明有關於一種防止於顯示器面板上發生亮度不均勻的顯示器用玻璃基板。
自省空間(space saving)化的觀點考慮，近年來平板顯示器正在普及，而代替了先前普及的陰極射線管(cathode ray tube，CRT)型顯示器。尤其是，液晶顯示器比較省電，故而使用於電視(television)、行動電話、便攜式遊戲機、汽車導航系統(car navigation system)等各種顯示裝置中。
液晶顯示器中，於正交的一組偏光板之間配置有被配設有透明電極的液晶顯示器用玻璃基板所夾持的液晶，藉由在透明電極間施加電壓而使液晶分子的配向發生變化，從而使自背光裝置(backlight)照射出的光的偏光狀態發生變化，藉此顯示影像等。
另一方面，眾所周知，若玻璃存在變形，則所透過的光由於玻璃的變形而會產生雙折射(double refraction)。即，若液晶顯示器中之顯示器用玻璃基板存在變形，則液晶的配向以外的偏光要素會增加，從而僅藉由在透明電極間施加電壓無法控制偏光狀態。結果，使液晶顯示器發生顯示不均勻，而導致液晶顯示器的品質降低。而且，近年來，液晶顯示器的大畫面化使得發生亮度不均勻的問題變得顯著，尤其是，若顯示器用玻璃基板存在變形，則當液晶顯示器的整個表面顯示黑色時自偏光板洩漏的背光裝置的光變得不一樣，因此明顯出現上述亮度不均勻。如此，液晶顯示器中所發生的亮度不均勻成為嚴重的問題，且組裝液晶面板之後進行亮度不均勻的評估時將花費時間與費用，故而必須於玻璃基板的狀態下進行亮度不均勻的評估。
作為檢測出玻璃板的變形的裝置，下述專利文獻1中提出了包括正交的兩個偏光板(偏光子(polarizer)與析光片(analyzer))試料台所構成的光彈性(photo-elastic)裝置。若於使兩個偏光板的主軸相互正交的狀態下觀察試料台上的玻璃板，則於該玻璃板存在變形時，可觀察到玻璃板的變形的像。於該變形的像中，觀察到的較暗的部分對應於玻璃板的主應力與偏光板的主軸方向一致的部分，藉由使試料台上的玻璃板相對於偏光板而旋轉，或者，使偏光板相對於試料台上的玻璃板而旋轉來進行觀察，從而可求出玻璃板的主應力線。
然而，下述專利文獻1所揭示的方法中，試料台上的玻璃板、與一方的偏光板(偏光子)以及他方的偏光板(析光片)是於相互隔開的狀態下配置著，故而導致這些構件的表面的散射光穿過他方的偏光板(析光片)，而無法獲得對比度(contrast)良好的變形像。因此，下述專利文獻1所揭示的方法中，雖然可求出玻璃板的主應力線(主應力的方向)，但是如亮度不均勻般，變形的方向不一樣，因此，無法迅速且準確地對亦受到微小的變形的影響的細微的品質進行評估。
下述專利文獻2中揭示了如下內容，為了提供一種抑制搬送時的變形或加熱處理所引起的熱翹曲的顯示器用玻璃基板，而根據雙折射的光路差進行換算來求出1個玻璃基板上隔著規定的間隔的多個點上的偏差應力，藉此來對變形進行測定。
然而，該方法中必須於多個點測定1個玻璃基板的偏差應力，故而對1個玻璃基板進行評估時需要較長時間，而無法在短時間內迅速進行評估。而且，因對1個玻璃基板的每個區域測定偏差應力，故而無法一次性對1個玻璃基板進行整體評估。
如上所述，為了對玻璃板的彎曲(deflection)或翹曲(warpage)的形狀品質進行評估，先前以來是對玻璃基板的變形進行測定，但是並非於組裝為顯示器面板之前，於玻璃基板的狀態下對該玻璃基板上所發生的亮度不均勻的程度進行評估。
【專利文獻1】日本專利特開昭55-58428號公報
【專利文獻2】日本專利特開2001-180957號公報
本發明是為了解決上述先前技術上的問題而開發的，其目的在於提供一種於組裝為顯示器面板之前，在玻璃基板的狀態下，能以低成本而迅速且準確地對該玻璃基板中所發生的亮度不均勻進行評估的方法、顯示器用玻璃基板的製造方法、以及可防止亮度不均勻的發生的顯示器用玻璃基板。
本發明的第1發明是有關於一種顯示器用玻璃基板的亮度不均勻評估方法，在配置於自光源照射光的方向上的第1偏光板、和以與該第1偏光板的偏光軸正交的方式而配置的第2偏光板之間插入顯示器用玻璃基板，對自上述光源發出且透過上述第1偏光板、上述顯示器用玻璃基板、以及上述第2偏光板的光進行檢測，且評估亮度不均勻，該評估方法的特徵在於：上述顯示器用玻璃基板是與上述第1偏光板以及上述第2偏光板形成面接觸。較佳的構成方式為，於大於等於應進行亮度不均勻評估的顯示器用玻璃基板的區域(亮度不均勻評估範圍)的範圍內，該玻璃基板與第1偏光板以及第2偏光板形成面接觸。
本發明的第2發明關於如第1發明所述之顯示器用玻璃基板的亮度不均勻評估方法，其中上述光源與上述第1偏光板接觸。
本發明的第3發明關於如第1發明或第2發明所述之顯示器用玻璃基板的亮度不均勻評估方法，其中上述光源的亮度大於等於8000 cd/m2 。
本發明的第4發明關於如第1發明至第3發明中的任一發明所述之顯示器用玻璃基板的亮度不均勻評估方法，其中上述顯示器用玻璃基板的板厚為0.01 mm~1.1 mm。
本發明的第5發明關於如第1發明至第4發明中的任一發明所述之顯示器用玻璃基板的亮度不均勻評估方法，其中上述顯示器用玻璃基板的1邊的長度大於等於900 mm。
本發明的第6發明關於如第1發明至第5發明中的任一發明所述之顯示器用玻璃基板的亮度不均勻評估方法，其中自與上述第2偏光板具有10°~80°視角的位置來進行評估。
本發明的第7發明關於如第1發明至第6發明中的任一發明所述之顯示器用玻璃基板的亮度不均勻評估方法，其中上述第1偏光板、上述第2偏光板、以及上述顯示器用玻璃基板是豎立設置著。
本發明的第8發明關於如第1發明至第7發明中的任一發明所述之顯示器用玻璃基板的亮度不均勻評估方法，其中自與上述第2偏光板相距2~6 m的位置來進行評估。
本發明的第9發明關於如第1發明至第8發明中任一發明所述之顯示器用玻璃基板的亮度不均勻評估方法，其中上述顯示器用玻璃基板為液晶顯示器用玻璃基板。
本發明的第10發明關於如第9發明所述之顯示器用玻璃基板的亮度不均勻評估方法，其中上述光源為液晶顯示器用背光單元(backlight unit)。
本發明的第11發明關於一種顯示器用玻璃基板的製造方法，其特徵在於包括：第1步驟，搬送成形後玻璃帶，且切成規定的長度之後切斷端緣部，藉此來製作顯示器用玻璃基板；第2步驟，在配置於自光源而來的光的照射一側上的第1偏光板、和以與該第1偏光板的偏光軸正交的方式而配置的第2偏光板之間插入上述第1步驟中所製作的上述顯示器用玻璃基板之後，使這些板分別形成面接觸；第3步驟，對自上述光源而來且透過上述第1偏光板、上述顯示器用玻璃基板、以及上述第2偏光板的光進行檢測，且評估亮度不均勻；以及第4步驟，將經評估的上述顯示器用玻璃基板區分為良品與不良品。
本發明的第12發明是關於一種顯示器用玻璃基板，是藉由如第11發明所述之製造方法而製造。
[發明之效果]
根據本發明的第1發明，使顯示器用玻璃基板與第1偏光板以及第2偏光板進行面接觸，故而難以受到這些構件的表面上的散射光的影響，從而可獲得對比度良好的圖像。因此，於組裝為顯示器面板之前，於玻璃基板的狀態下，能以低成本而迅速且準確地對該玻璃基板中所發生的亮度不均勻進行評估。尤其是構成為，在大於等於應進行亮度不均勻評估的顯示器用玻璃基板的區域(亮度不均勻評估範圍)的範圍內，該玻璃基板與第1偏光板以及第2偏光板形成面接觸，由此，可一次性地對該玻璃基板的亮度不均勻評估範圍進行檢查，從而可縮短檢查時所需要的時間。而且，考慮到有時亦會由於顯示器用玻璃基板以外的構件(例如，背光單元或偏向板)而發生亮度不均勻，但藉由使用本發明的方法，與實際上已組裝顯示器用面板的情況相比，可更準確地對玻璃基板引起的亮度不均勻進行評估。
根據本發明的第2發明，光源與第1偏光板接觸，故而光源與第1偏光板的位置和已組裝顯示器面板時的情況相同，因此，可於更接近已製成顯示器面板的狀態之狀態下對顯示器用玻璃基板的亮度不均勻進行評估，且可更準確地對顯示器用玻璃基板的亮度不均勻進行評估。
根據本發明的第3發明，光源的亮度大於等於8000 cd/m2 ，故而光自正交的偏光板而來的光所透過的部位被更明亮地強調，因此，可更迅速且準確地對顯示器用玻璃基板的亮度不均勻進行評估。
根據本發明的第4發明，顯示器用玻璃基板的板厚為0.01 mm~1.1 mm，故而，厚度條件與顯示器中實際使用的玻璃基板的厚度相同，因此可於更接近已製成顯示器面板的狀態之狀態下對顯示器用玻璃基板的亮度不均勻進行評估，且可更準確地對顯示器用玻璃基板的亮度不均勻進行評估。
根據本發明的第5發明，顯示器用玻璃基板的1邊的長度大於等於900 mm，故而可更迅速且準確地對容易發生亮度不均勻的大型顯示器中所使用的顯示器用的玻璃基板的亮度不均勻進行評估。
根據本發明的第6發明，自與第2偏光板具有10°~80°視角的位置來進行評估，故而評估面的對比度不會變化而平均的亮度提高，因此可容易用肉眼來評估亮度不均勻。
根據本發明的第7發明，第1偏光板、第2偏光板、以及顯示器用玻璃基板是豎立設置著，故而可更準確地對顯示器用玻璃基板的亮度不均勻進行評估。
根據本發明的第8發明，自與第2偏光板相距2~6 m的位置來進行評估，故而容易確認顯示器用玻璃基板的亮度不均勻，又，可自使用者實際收看薄型電視的距離而更準確地對顯示器用玻璃基板的亮度不均勻進行評估。
根據本發明的第9發明，顯示器用玻璃基板為液晶顯示器用玻璃基板，故而可對更容易產生亮度不均勻的液晶顯示器中所使用的液晶顯示器用玻璃基板的亮度不均勻進行評估。
根據本發明的第10發明，光源為液晶顯示器用背光單元，故而使用的是與液晶顯示器所使用的光源相同的光源，因此，可於更接近已製成液晶面板的狀態之狀態下對顯示器用玻璃基板的亮度不均勻進行評估，且可更準確地對顯示器用玻璃基板的亮度不均勻進行評估。
根據本發明的第11發明，包括：第1步驟，搬送成形後玻璃帶，且切成規定的長度之後切斷端緣部，藉此製作顯示器用玻璃基板；第2步驟，在配置於自光源而來的光之照射一側上的第1偏光板、和以與第1偏光板的偏光軸正交的方式而配置的第2偏光板之間插入上述第1步驟中製作的顯示器用玻璃基板之後，使這些板分別形成面接觸；第3步驟，對自光源發出且透過第1偏光板、顯示器用玻璃基板、以及第2偏光板的光進行檢測，以評估亮度不均勻；以及第4步驟，將經評估的顯示器用玻璃基板區分為良品與不良品，故而，能製造出可防止在組裝至顯示器面板時發生亮度不均勻的顯示器用玻璃基板。
根據本發明的第12發明，其是藉由本發明的第11發明所述之製造方法而製造的顯示器用玻璃基板，故而能形成可防止在組裝至顯示器面板時發生亮度不均勻的顯示器用玻璃基板。
為讓本發明之上述特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉實施例，並配合所附圖式作詳細說明如下。
以下，參照圖式對於本發明的顯示器用玻璃基板的亮度不均勻評估方法的較佳的實施形態進行說明。
本發明的顯示器用玻璃基板的亮度不均勻評估方法的特徵在於：在配置於自光源(1)而來的光之照射一側上的第1偏光板(2)、和以與第1偏光板(2)的偏光軸正交的方式而配置的第2偏光板(3)之間插入顯示器用玻璃基板(4)，使第1偏光板(2)與顯示器用玻璃基板(4)形成面接觸，且使第2偏光板(3)與顯示器用玻璃基板(4)形成面接觸。
此處所謂的「面接觸」，不僅包括顯示器用玻璃基板、第1偏光板、以及第2偏光板分別同樣地使所有部分相接觸的情形，亦包含有一部分稍微分離的情形，即，表面彼此實質上相接觸的情形。
光源(1)的種類並無特別限定，可使用螢光燈、白熾燈(incandescent lamp)、發光二極體(light-emitting diode)等。光源(1)的配置數量可根據光源(1)的種類而適當選擇，但數量必須滿足能均勻地照射至少第1偏光板的整個表面。光的顏色(light colour)亦無特別限定，但較佳為使用亮色。其原因在於，第1偏光板(2)與第2偏光板(3)正交，故而若使用暗色，則存在肉眼幾乎無法檢測出光的可能性。通常使用白色的光。
光源(1)的亮度較佳為大於等於8000 cd/m2 ，更好的是大於等於10000 cd/m2 。藉此，自正交的偏光板而來的光所透過的部位被更明亮地強調，故而可更迅速且準確地對顯示器用玻璃基板的亮度不均勻進行評估。
光源(1)如圖2所示，較佳為以與第1偏光板(2)接觸的方式而配置。其原因在於，藉此，能在更接近已製成顯示器面板的狀態之狀態下對顯示器用玻璃基板的亮度不均勻進行評估，且可更準確地對顯示器用玻璃基板的亮度不均勻進行評估。
第1偏光板(2)為俯視時大致呈矩形狀的板狀體，如圖2所示，包括偏光薄膜(21)與板狀透明體(22)，藉由將偏光薄膜(21)黏貼於板狀透明體(22)上而構成第1偏光板(2)。較佳為，第1偏光板(2)的大小大於等於進行亮度不均勻的評估的顯示器用玻璃基板(4)的大小，至少偏光薄膜(21)必須大於等於顯示器用玻璃基板(4)的亮度不均勻評估範圍。第1偏光板(2)是以板狀透明體(22)為光源(1)側、偏光薄膜(21)為顯示器用玻璃基板(4)側的方式而配置。其原因在於，藉此不會受板狀透明體(22)所具有的變形的影響，而僅對顯示器用玻璃基板(4)的亮度不均勻進行評估。
板狀透明體(22)需要為剛性高且不易變形的材質，可使用板玻璃或硬質塑料等。板狀透明體(22)的板厚可根據所選擇的材質的剛性而適當選擇，但較佳為至少具有使用本發明的評估方法時不會發生變形的程度的板厚。例如，當材質選擇板玻璃時，板厚較佳為大於等於0.5 mm。板狀透明體(22)須大於等於至少偏光薄膜(21)的大小。
第2偏光板(3)與第1偏光板(2)相同，為俯視時大致呈矩形狀的板狀體，如圖2所示，包括偏光薄膜(31)與板狀透明體(32)，藉由將偏光薄膜(31)黏貼於板狀透明體(32)上而構成第2偏光板(3)。第2偏光板(3)的大小與第1偏光板(2)同樣，通常與第1偏光板(2)相同。第2偏光板(3)是以偏光薄膜(31)為顯示器用玻璃基板(4)側的方式而配置。
顯示器用玻璃基板(4)採用的是矽酸鹽玻璃，較佳為採用矽土玻璃、硼矽酸玻璃，最好的是採用無鹼硼矽酸玻璃。若顯示器用玻璃基板(4)中含有鹼成分，則鹼成分會溶出，從而可能會損傷薄膜電晶體(Thin Film Transistor，TFT)。再者，此處所謂無鹼硼矽酸玻璃是指實質上不含鹼成分的玻璃，具體而言，是指鹼成分小於等於1000 ppm的玻璃。關於本發明中的鹼成分的含量，較佳為鹼成分小於等於500 ppm，更佳為鹼成分小於等於300 ppm。
顯示器用玻璃基板(4)為俯視時大致呈矩形狀的板狀體，板厚較佳為0.01 mm~1.1 mm。其原因在於，若比0.01 mm薄太多，則容易受到光的干擾、或因評估對象顯示器用玻璃基板的變形而引起的內部變形等的影響，若比1.1 mm厚太多，則評估時的亮度會降低。板厚更好的是0.1 mm~0.7 mm，進而更好的是0.1 mm~0.5 mm。
顯示器用玻璃基板(4)的1邊的長度較佳為大於等於900 mm。其原因在於，藉此，可對容易發生亮度不均勻的大型顯示器中所使用的玻璃基板的亮度不均勻進行評估。
本發明所使用的顯示器用玻璃基板(4)，可藉由輾平(rollout)法、浮式(float)法、開口下拉(slit down)法、溢流下拉法(overflow down-draw)等公知的方法而成形。其中，較佳為藉由溢流下拉法而成形。其原因在於，溢流下拉法中，成形時玻璃板的兩個表面不與成形構件接觸，所獲得的玻璃薄膜的兩個表面(透光面)不易產生劃痕，即便不研磨亦可獲得較高的表面品質。
本發明的顯示器用玻璃基板的評估方法中，使第1偏光板(2)與顯示器用玻璃基板(4)形成面接觸，且使第2偏光板(3)與顯示器用玻璃基板(4)形成面接觸。若使該些構件相離，則第1偏光板(2)、顯示器用玻璃基板(4)、以及第2偏光板(3)的表面上的散射光會透過第2偏光板(3)，從而評估表面的對比度會降低，故而，無法迅速且準確地對顯示器用玻璃基板的亮度不均勻進行評估。本發明中，藉由面接觸可消除上述散射光，故而可迅速且準確地對顯示器用玻璃基板的亮度不均勻進行評估。
本發明的顯示器用玻璃基板的評估方法中，如圖3所示，較佳為，評估位置並不是第2偏光板(3)的正前方，而是自上下方向、以及左右方向上具有某種程度的視角的方向來對顯示器用玻璃基板(4)的亮度不均勻進行評估。其原因在於，自第2偏光板(3)的正前方難以評估亮度不均勻，而當相對於光源(1)具有視角時(斜著進行評估時)，評估面的對比度不會變化而平均的亮度會提高，故而，容易用肉眼來評估亮度不均勻。較佳為，自上下方向、以及左右方向上具有10°~80°的視角的方向來進行評估，更好的是，自具有30°~60°的視角的方向來進行評估。
本發明的顯示器用玻璃基板的評估方法，若存在來自周圍的反射光，則難以確切地對亮度不均勻進行評估，故而，較佳為，評估環境較暗，更好的是暗室。
本發明的顯示器用玻璃基板的評估方法中，較佳為，第1偏光板(2)、第2偏光板(3)、以及顯示器用玻璃基板(4)是豎立設置著。其原因在於，藉此，對顯示器用玻璃基板(4)的亮度不均勻進行評估時，難以自較近的位置來判定，而可自相離較遠的位置更準確地進行判定，故而，當使第1偏光板(2)、第2偏光板(3)、以及顯示器用玻璃基板(4)豎立設置時，可自較如圖4所示的水平載置時更遠的位置來對顯示器用玻璃基板(4)的亮度不均勻進行判定。
再者，本發明的顯示器用玻璃基板的評估方法亦可如圖4所示，以將光源(1)、第1偏光板(2)，顯示器用玻璃基板(4)、第2偏光板(3)依次水平堆積的方式而積層，而與第2偏光板(3)隔著間隔而自上方來對亮度不均勻進行評估。使用該形態的方法時，可更切實地防止第1偏光板(2)、顯示器用玻璃基板(4)、第2偏光板(3)由於重力或外力等造成的彎曲。
本發明的顯示器用玻璃基板的評估方法中，較佳為，自與第2偏光板(3)相距2~6 m的位置來進行評估。其原因在於，藉此，容易確認顯示器用玻璃基板(4)的亮度不均勻，而且，可隔著使用者實際上收看薄型電視的距離而更準確地對顯示器用玻璃基板(4)的亮度不均勻進行評估。若比2 m近，則由視角引起的漏光程度變大，又，若比6 m遠，則由於評估者(5)的視力限制而難以用肉眼進行評估，因此，任一情況下均難以觀察到顯示器用玻璃基板(4)的亮度不均勻，故而欠佳。
較佳為，顯示器用玻璃基板(4)為液晶顯示器用玻璃基板。其原因在於，藉此，可對更容易產生亮度不均勻的液晶顯示器中所使用的玻璃基板的亮度不均勻進行評估。
此外，較佳為，光源(1)採用液晶用的背光單元。其原因在於，藉由使用與液晶顯示器所使用的光源相同的光源、及相同的玻璃基板，可於更接近已製成液晶面板的狀態之狀態下對顯示器用玻璃基板的亮度不均勻進行評估，且可更準確地對顯示器用玻璃基板的亮度不均勻進行評估。例如，較好的是使用配設有多個冷陰極線管的螢光燈、或白色二極體的液晶用背光單元。
本發明的顯示器用玻璃基板的評估方法中，就評估者用肉眼的目視判定來進行的形態進行了說明，但亦可藉由使用公知的電荷耦合裝置(charge couple device，CCD)相機等的圖像處理裝置，來測定並解析亮度，並機械地進行亮度不均勻的判定。
本發明的顯示器用玻璃基板(4)的評估方法，可於整體調查、抽樣調查的任一形態下進行。進行整體調查時，關於評估後判斷為良品的顯示器用玻璃基板(4)，對基板兩個表面進行研磨之後，進行清洗、乾燥、捆包。就利用浮式法而成形的顯示器用玻璃基板(4)而言，需要研磨步驟，故而較佳為進行整體調查。另一方面，就利用溢流下拉法而成形的顯示器用玻璃基板而言，不需要研磨步驟，故而較佳為進行抽樣調查。抽樣調查時，於每個規定期間內自生產線(manufacture line)中抽取規定數量的顯示器用玻璃基板(4)，且使用本發明的顯示器用玻璃基板(4)的評估方法進行良品的判定。藉由抽樣調查而判斷每個批次(lot)的亮度不均勻的狀態，關於評估中直接使用的顯示器用玻璃基板(4)，不論良品還是不良品均不用作產品，而是進行再熔融、再成形。
圖5是表示本發明的顯示器用玻璃基板所使用的成形法的一例的示意圖。
本發明的顯示器用玻璃基板可藉由以下的製造方法來製作。
剛自剖面為楔型的成形體(6)的下端部(61)流下後的玻璃帶(G)，一面藉由冷卻輥(7)而使寬度方向上的收縮受到限制，一面向下方拉伸，從而變薄直至達到規定的厚度為止。繼而，利用緩冷爐(annealer)將達到上述規定厚度的玻璃帶(G)漸漸冷卻，且除去玻璃帶(G)的熱畸變(thermal strain)，將玻璃帶(G)切成規定尺寸之後，切斷端緣部，從而成形為顯示器用玻璃基板(4)。就玻璃帶(G)的切斷而言，可首先切斷端緣部，之後再切成規定尺寸亦可。
使用經成形且切斷的顯示器用玻璃基板(4)，使第1偏光板(2)與顯示器用玻璃基板(4)形成面接觸，且使第2偏光板(3)與顯示器用玻璃基板(4)形成面接觸。之後，自螢光燈等的光源來對第1偏光板(2)照射光，而自第2偏光板(4)側觀察由通過第1偏光板(2)與顯示器用玻璃基板(4)、以及第2偏光板(3)的光量的變化所引起的亮度不均勻的有無，藉此，來對顯示器用玻璃基板(4)的亮度不均勻進行評估。作為亮度不均勻，當存在具有縱橫斜方向的方向性的不均勻、或識別為與周圍亮度不同的不規則形狀的區域的不均勻等、在較狹窄的區域內可確認有明暗差的情況下，判定為不良。使用限度樣本(boundary sample)作為判定基準。於進行整體調查時，對於判定為良品的顯示器用玻璃基板(4)而言，其後經過加工、研磨、清洗、捆包等的步驟之後就出貨。而對於判定為不良品的顯示器用玻璃基板(4)而言，進行再熔融、再成形之後，再次對亮度不均勻進行評估。於進行抽樣調查時，當所抽出顯示器用玻璃基板(4)判定為良品時，對該批次中的其他顯示器用玻璃基板(4)進行出貨作業。而對判定中所使用的顯示器用玻璃基板(4)則不出貨，進行再熔融。當判定為不良品時，對該批次中的所有顯示器用玻璃基板(4)不出貨而進行再熔融。重新設定熔融條件、成形條件等的操作條件，針對每個規定批次進行亮度不均勻的評估，繼續重新設定條件，直至判定顯示器用玻璃基板(4)為良品為止。
根據上述製造方法，可形成當組裝至顯示器面板時可防止亮度不均勻的發生的顯示器用玻璃基板(2)。
[產業上的可利用能性]
本發明可較好地使用於對顯示器用玻璃基板有無發生亮度不均勻而進行的評估中。
雖然本發明已以實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可作些許之更動與潤飾，故本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。
1‧‧‧光源
2‧‧‧第1偏光板
3‧‧‧第2偏光板
4‧‧‧顯示器用玻璃基板
5‧‧‧評估者
6‧‧‧成形體
7‧‧‧冷卻輥
21‧‧‧偏光薄膜
22‧‧‧板狀透明體
31‧‧‧偏光薄膜
32‧‧‧板狀透明體
61‧‧‧(成形體的)下端部
G‧‧‧玻璃帶
圖1是本發明的顯示器用玻璃基板的亮度不均勻評估方法的概略構成圖。
圖2是本發明的顯示器用玻璃基板的亮度不均勻評估方法中所使用的偏光板的詳細圖。
圖3是表示利用本發明的顯示器用玻璃基板的亮度不均勻評估方法來對亮度不均勻進行實際評估的狀態的說明圖。
圖4是表示本發明的顯示器用玻璃基板的亮度不均勻評估方法的其他實施形態的說明圖。
圖5是表示用於本發明的顯示器用玻璃基板的成形法的一例的示意圖。
1．．．光源
2．．．第1偏光板
3．．．第2偏光板
4．．．顯示器用玻璃基板

Claims (13)

  1. 一種顯示器用玻璃基板的亮度不均勻評估方法，在配置於自光源而來的光之照射一側上的第1偏光板、和以與該第1偏光板的偏光軸正交的方式而配置的第2偏光板之間插入顯示器用玻璃基板，對自上述光源發出且透過上述第1偏光板、上述顯示器用玻璃基板、以及上述第2偏光板的光進行檢測，且評估亮度不均勻，該評估方法的特徵在於：上述顯示器用玻璃基板是與上述第1偏光板以及上述第2偏光板形成面接觸。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之顯示器用玻璃基板的亮度不均勻評估方法，其中上述光源與上述第1偏光板接觸。
  3. 如申請專利範圍第1項或第2項所述之顯示器用玻璃基板的亮度不均勻評估方法，其中上述光源的亮度大於等於8000cd/m2 。
  4. 如申請專利範圍第1項或第2項所述之顯示器用玻璃基板的亮度不均勻評估方法，其中上述顯示器用玻璃基板的板厚為0.01mm~1.1mm。
  5. 如申請專利範圍第1項或第2項所述之顯示器用玻璃基板的亮度不均勻評估方法，其中上述顯示器用玻璃基板的1邊的長度大於等於900mm。
  6. 如申請專利範圍第1項或第2項所述之顯示器用玻 璃基板的亮度不均勻評估方法，其中自與上述第2偏光板具有10°~80°視角的位置來進行評估。
  7. 如申請專利範圍第1項或第2項所述之顯示器用玻璃基板的亮度不均勻評估方法，其中上述第1偏光板、上述第2偏光板、以及上述顯示器用玻璃基板是豎立設置著。
  8. 如申請專利範圍第7項所述之顯示器用玻璃基板的亮度不均勻評估方法，其中自與上述第2偏光板相距2~6m的位置來進行評估。
  9. 如申請專利範圍第4項所述之顯示器用玻璃基板的亮度不均勻評估方法，其中上述顯示器用玻璃基板為液晶顯示器用玻璃基板。
  10. 如申請專利範圍第5項所述之顯示器用玻璃基板的亮度不均勻評估方法，其中上述顯示器用玻璃基板為液晶顯示器用玻璃基板。
  11. 如申請專利範圍第9項所述之顯示器用玻璃基板的亮度不均勻評估方法，其中上述光源為液晶顯示器用背光單元。
  12. 一種顯示器用玻璃基板的製造方法，其特徵在於包括：第1步驟，搬送成形後玻璃帶，且切成規定的長度之後切斷端緣部，藉此來製作顯示器用玻璃基板；第2步驟，在配置於自光源而來的光之照射一側上的 第1偏光板、和以與該第1偏光板的偏光軸正交的方式而配置的第2偏光板之間插入上述第1步驟中所製作的上述顯示器用玻璃基板之後，使這些板分別形成面接觸；第3步驟，對自上述光源發出且透過上述第1偏光板、上述顯示器用玻璃基板、以及上述第2偏光板的光進行檢測，且評估亮度不均勻；以及第4步驟，將經評估的上述顯示器用玻璃基板區分為良品與不良品。
  13. 一種顯示器用玻璃基板，其是藉由申請專利範圍第12項中所述的製造方法而製造。
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