KR101292570B1 - 액정표시장치의 변형 검사시스템 - Google Patents

Abstract

본 발명에 따른 액정표시장치 변형 검사시스템은 챔버내에서 액정표시장치를 조립된 상태로 지면과 수직으로 배치한 상태로 검사하므로, 고온 다습의 가혹조건 및 사용자의 실제 설치환경에서의 내부 부품의 변형여부를 신속하게 검출할 수 있게 된다.

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Description

액정표시장치의 변형 검사시스템{SYSTEM FOR TESTING DISTORTION OF LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE}

본 발명은 액정표시장치의 변형 검사시스템에 관한 것으로, 액정표시장치를 실제 사용자의 설치조건에서 조립된 상태로 부품의 변형을 검사할 수 있는 액정표시장치의 변형 검사시스템에 관한 것이다.

근래, 핸드폰(Mobile Phone), PDA, 노트북컴퓨터와 같은 각종 휴대용 전자기기가 발전함에 따라 이에 적용할 수 있는 경박단소용의 평판표시장치(Flat Panel Display Device)에 대한 요구가 점차 증대되고 있다. 이러한 평판표시장치로는 LCD(Liquid Crystal Display), PDP(Plasma Display Panel), FED(Field Emission Display), VFD(Vacuum Fluorescent Display) 등이 활발히 연구되고 있지만, 양산화 기술, 구동수단의 용이성, 고화질의 구현이라는 이유로 인해 현재에는 액정표시장치(LCD)가 각광을 받고 있다.

LCD는 액정의 굴절률 이방성을 이용하여 화면에 정보를 표시하는 장치이다. 도 1에 도시된 바와 같이, LCD(1)는 하부기판(5)과 상부기판(3) 및 상기 하부기판(5)과 상부기판(3) 사이에 형성된 액정층(7)으로 구성되어 있다. 하부기판(5)은 구동소자 어레이(Array)기판이다. 도면에는 도시하지 않았지만, 상기 하부기판(5)에는 복수의 화소가 형성되어 있으며, 각각의 화소에는 박막트랜지스터(Thin Film Transistor;이하, TFT라 한다)와 같은 구동소자가 형성되어 있다. 상부기판(3)은 컬러필터(Color Filter)기판으로서, 실제 컬러를 구현하기 위한 컬러필터층이 형성되어 있다. 또한, 상기 하부기판(5) 및 상부기판(3)에는 각각 화소전극 및 공통전극이 형성되어 있으며 액정층(7)의 액정분자를 배향하기 위한 배향막이 도포되어 있다.

상기 하부기판(5) 및 상부기판(3)은 실링재(Sealing Material)(9)에 의해 합착되어 있으며, 그 사이에 액정층(7)이 형성되어 상기 하부기판(5)에 형성된 구동소자에 의해 액정분자를 구동하여 액정층을 투과하는 광량을 제어함으로써 정보를 표시하게 된다.

액정표시장치의 제조공정은 크게 하부기판(5)에 구동소자를 형성하는 구동소자 어레이기판공정과 상부기판(3)에 컬러필터를 형성하는 컬러필터기판공정 및 셀(Cell)공정으로 구분될 수 있는데, 이러한 액정표시장치의 공정을 도 2를 참조하여 설명하면 다음과 같다.

우선, 구동소자 어레이공정에 의해 하부기판(5)상에 배열되어 화소영역을 정의하는 복수의 게이트라인(Gate Line) 및 데이터라인(Data Line)을 형성하고 상기 화소영역 각각에 상기 게이트라인과 데이터라인에 접속되는 구동소자인 박막트랜지스터를 형성한다(S101). 또한, 상기 구동소자 어레이공정을 통해 상기 박막트랜지스터에 접속되어 박막트랜지스터를 통해 신호가 인가됨에 따라 액정층을 구동하는 화소전극을 형성한다.

또한, 상부기판(3)에는 컬러필터공정에 의해 컬러를 구현하는 R,G,B의 컬러필터층과 공통전극을 형성한다(S104).

이어서, 상기 상부기판(3) 및 하부기판(5)에 각각 배향막을 도포한 후 상부기판(3)과 하부기판(5) 사이에 형성되는 액정층의 액정분자에 배향규제력 또는 표면고정력(즉, 프리틸트각(Pretilt Angle)과 배향방향)을 제공하기 위해 상기 배향막을 러빙(Rubbing)한다(S102,S105). 그 후, 하부기판(5)에 셀갭(Cell Gap)을 일정하게 유지하기 위한 스페이서(Spacer)를 산포하고 상부기판(3)의 외곽부에 실링재(9)를 도포한 후 상기 하부기판(5)과 상부기판(3)에 압력을 가하여 합착한다(S103,S106,S107).

한편, 상기 하부기판(5)과 상부기판(3)은 대면적의 유리기판으로 이루어져 있다. 다시 말해서, 대면적의 유리기판에 복수의 패널(Panel)영역이 형성되고, 상기 패널영역 각각에 구동소자인 TFT 및 컬러필터층이 형성되기 때문에 낱개의 액정패널을 제작하기 위해서는 상기 유리기판을 절단, 가공해야만 한다(S108). 이후, 상기와 같이 가공된 개개의 액정패널에 액정주입구를 통해 액정을 주입하고 상기 액정주입구를 봉지하여 액정층을 형성한 후 각 액정패널을 검사함으로써 액정패널을 제작하게 된다(S109,S110).

액정패널의 검사는 통상적으로 외관검사, 전기적 점등검사, 중력불량검사 및 액정패널과 내부 부품의 변형검사로 구분할 수 있다. 점등검사는 완성된 액정패널에 신호를 인가하여 각종 전기소자들이 이상없이 작동하는 지를 검사하는 것이고 외관검사는 작업자가 육안으로 액정패널을 검사하여 액정패널의 불량여부를 검사하는 것이다. 또한, 중력불량검사는 중력에 의해 액정이 액정패널의 하부에 몰리는 것을 검사하는 것이다.

내부 부품의 변형검사는 액정패널과 광학시트나 확산판과 같은 내부 부품의 변형을 검사하여 내부부품의 변형에 기인하는 불량여부를 검사하는 것이다. 특히, 이러한 변형검사는 고온 및 다습한 환경에서 내부 부품의 변형을 검사함으로써 가혹한 조건에서 액정표시장치의 신뢰성을 검사하는 것이다.

이러한 변형검사는 주로 접촉식 및 비접촉식 3차원 좌표측정기(Coordinate Measuring Machine)을 이용하여 3차원으로 측정하는데, 이러한 종래 변형검사에는 다음과 같은 문제가 있다.

첫째, 종래 3차원 좌표측정기에서 내부부품의 변형을 검사하기 위해서는 액정표시장치를 분해하여 분해된 부품의 변형을 검사해야만 한다. 그러나, 이 경우 실제 조립된 상태에서의 내부 부품의 변형을 검출할 수가 없었다. 더욱이, 액정표시장치의 분해에 많은 시간이 소모되므로, 검사에 장시간이 소모되고 비용이 증가하게 된다.

둘째, 가혹환경에서의 검사가 불가능하게 된다. 액정표시장치의 변형검사를 고온 다습한 가혹조건에서 검사하기 위해서는 챔버내에 고온 다습한 환경을 만든 후 변형검사를 실시해야만 한다. 그러나, 종래 3차원 좌표측정기는 크기가 대형으로서, 챔버내에서 실제 검사를 하기란 불가능하였다. 따라서, 챔버내의 가혹 환경에 액정표시장치를 일정 시간 방치한 후, 챔버 외부로 배출한 후 변형검사를 해야 만 하므로, 실질적인 가혹환경에서의 검사가 불가능하였다.

셋째, 실제 액정표시장치의 설치환경에서의 검사가 불가능하였다. 종래 3차원 좌표측정기는 지면과 수평한 테이블이 배치되고 상기 테이블에 액정표시장치를 로딩한 상태에서 변형검사를 실행하므로, 실제 액정표시장치가 사용자환경에서 설치되는 조건(즉, 지면과 수직으로 설치되는 조건)과 다르므로 설치환경에서 발생할 수 있는 변형을 검출할 수 없었다.

본 발명은 상기한 점을 감안하여 제안된 것으로, 액정패널을 고온 다습한 환경변화가 가능한 챔버내에 조립된 상태로 지면과 수직으로 설치한 상태로 변형여부를 검사하므로, 신속한 검사가 가능하게 되고 가혹환경에서의 변형검사를 할 수 있는 액정표시장치 변형 검사시스템을 제공하는 것을 목적으로 한다.

상기한 목적을 달성하기 위해, 본 발명에 따른 액정표시장치 변형 검사시스템은 액정표시장치를 지면과 수직으로 고정하는 고정부; 상기 액정표시장치의 전면 또는 후면에 설치되어 액정표시소에 광을 조사함으로써 액정표시장치의 내부 부품의 변위를 측정하는 레이저센서; 상기 액정표시장치 전면 또는 후면에 설치되어 레이저센서를 가로방향 및 세로방향을 이송시키는 이송수단; 및 상기 레이저센서로부터 입력되는 정보에 기초하여 액정표시장치의 내부 부품의 위치를 검출한 후 설정된 부품의 위치와 비교하여 부품의 변형을 판단하는 제어부로 구성된다.

상기 레이저센서는 투과형 레이저센서 또는 비투과형 레이저센서이며, 비투과형 레이저센서를 사용할 경우에는 액정표시장치에 형성된 창을 통해 레이저를 조사하여 액정표시장치 내부를 조사한다.

상기 제어부는 부품의 설정된 위치값 및 차이 설정값이 저장된 저장부; 레이저센서에서 측정된 값이 입력되면 상기 측정값에 기초하여 측정된 부품의 위치를 검출하는 위치검출부; 및 상기 위치검출부에서 검출된 위치와 저장부에 저장된 해 당 부품의 설정된 위치를 비교하여 그 차이값을 산출하여 상기 차이값에 기초하여 부품의 변형을 판별하는 변형판별부로 구성된다.

본 발명에서는 액정표시장치 변형 검사장치를 챔버내에 설치하여 액정표시장치의 변형을 검사하므로, 가혹조건에서의 검사가 가능하게 된다. 또한, 본 발명에서는 액정표시장치를 분해하지 않고 조립된 상태로 검사하므로, 신속한 검사가 가능하게 된다.

이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명에 대해 상세히 설명한다.

도 3은 본 발명에 따른 액정표시장치의 변형검사시스템의 변형검사장치의 구조를 나타내는 도면이다.

도 3에 도시된 바와 같이, 본 발명의 변형검사장치는 크게 액정표시장치(100)가 고정되는 고정부와 상기 고정된 액정표시장치(100)의 변형을 측정하는 측정부로 이루어진다. 이때, 상기 변형검사장치는 검사조건을 조절할 수 있는 챔버(11)내에 설치된다.

고정부는 액정표시장치을 고정시키는 고정프레임(20)과 고정프레임(20) 하부에 위치하여 상기 고정프레임(20)의 각도를 조절하는 고정프레임 각도조절부(24)로 구성된다. 상기 고정프레임(20)은 통상적으로 지면과 수직에 가깝게 설치되므로, 액정표시장치(100) 역시 실제 액정표시장치(100)를 사용할 때와 유사하게 지면과 수직에 가깝게 고정된다.

상기 고정프레임 각도조절부(24)는 액정표시장치(100)를 고정시키는 고정프레임(20)의 설치각도를 조절한다. 일반적으로 액정표시장치(100)는 설치환경에 따라 다양한 각도로 설치될 수 있다. 따라서, 본 발명에서는 이러한 다양한 설치환경에서의 내부부품의 변형검사를 실행하기 위해 상기 고정프레임(20)의 각도를 조절하여 다양한 설치각도에서 액정표시장치(100)의 변형검사를 실행하는 것이다. 도면에는 도시하지 않았지만, 상기 각도조절부(24)에는 스토퍼(stopper)가 설치되어 고정프레임(20)이 설정 각도를 유지하도록 상기 고정프레임(20)을 고정시킨다.

상기 고정프레임 각도조절부(24)는 작업자에 의해 수동으로 구동하여 고정프레임(20)의 각도를 조절할 수 있지만, 자동으로 각도를 조절할 수도 있다. 도면에는 도시하지 않았지만, 상기 고정프레임 각도조절부(24)에는 스텝모터(step motor)가 구비되어 상기 고정프레임 각도조절부(24)를 설정된 각도로 자동으로 구동함으로써 고정프레임(20)의 각도를 조절할 수 있다.

측정부는 프레임(12)과 프레임(12)에 설치된 제1가이드(14) 및 제2가이드(17)와, 상기 제1가이드(14) 및 제2가이드(17)를 따라 각각 이동하는 제1리니어가이드(16) 및 제2리니어가이드(18)와, 상기 제2리니어가이드(18)에 설치되어 고정부에 고정된 액정표시장치(100)의 변위를 측정하는 레이저센서(30)로 구성된다.

도 4에 도시된 바와 같이, 상기 제1가이드(14)는 프레임(12)에 가로방향으로 상하에 한쌍이 설치되고 상기 한쌍의 제1가이드(14) 각각에는 제1리니어가이드(16)가 설치되어 상기 제1가이드(14)를 따라 이동한다. 제1가이드(14)에 설치된 한쌍의 제1리니어가이드(16)에는 제2가이드(17)가 설치되어 세로로 배치되어 상기 제1리니 어가이드(16)가 이동함에 따라 상기 제2가이드(17) 전체가 가로방향으로 이동한다. 제2리니어가이드(18)는 제2가이드(17)에 설치되어 상기 제2가이드(17)를 따라 세로방향으로 이동한다. 또한, 상기 제2리니어가이드(16)에는 레이저센서(30)가 설치된다.

상기 고정부와 측정부 하부에는 고정부의 고정프레임(20)과 측정부의 프레임(10)을 지지하는 바닥부(4)가 구비되어 있으며, 측정부의 프레임(10)의 모서리에는 CCD카메라(32)가 설치되어 상기 제1 및 제2리니어가이드(16,18) 및 레이저센서(30)의 이동상태를 검출한다.

상기와 같은 구성의 변형검사장치에서는 고정부의 고정프레임(20)에 액정표시장치(100)가 고정되면, 상기 고정프레임 각도조절부(24)에 의해 상기 액정표시장치(100)를 원하는 각도로 배치한다. 이 상태에서 제1가이드(14)에 설치된 제1리니어가이드(16)가 이동하면 제2가이드(17)가 세로방향으로 이동하게 되고, 이와 동시에 제2가이드(17)에 설치된 제2리니어가이드(18)가 세로방향으로 이동함에 따라 상기 제2리니어가이드(18)에 설치된 레이저센서(30)가 가로방향 및 세로방향으로 이동하여 상기 레이저센서(30)를 원하는 곳에 위치시킨다.

도 5에 도시된 바와 같이, 액정표시장치(100)는 크게 액정패널(liquid crystal display panel;110)과 상기 액정패널(110)의 후면에 설치된 백라이트장치(120)로 이루어진다. 도면에 도시하지 않았지만, 상기 액정패널(110)은 실제 화상이 구현되는 곳으로, 유리와 같은 상부기판 및 하부기판과 그 사이의 형성된 액정층으로 이루어진다. 특히, 하부기판은 박막트랜지스터(thin film transistor)와 같은 구동소자 및 화소전극이 형성되는 박막트랜지스터기판이고 상부기판은 컬러필터층(color filter layer)이 형성되는 컬러필터기판이다.

백라이트(120)는 실제 광을 방출하는 램프(121)와, 상기 램프(121)로부터 방출되는 광을 반사하여 광효율을 향상시키는 반사판(reflector;127)과, 상기 램프(111)로부터 방출된 광을 확산시키는 확산판(125)과, 상기 확산판(125) 상부에 배치되어 확산판(125)에서 방출되는 광을 다시 한번 확산시키고 집광하여 휘도가 향상되고 균일하게 된 광을 액정패널(110)로 공급하는 광학시트(130)로 이루어진다.

상기 액정패널(110)과 백라이트장치(120)는 각각 메인지지부(102)에 고정된 후, 하부커버(103)와 상부커버(104)에 의해 조립된다.

상기와 같은 액정표시장치(100)중에서 변형검사장치에 의해 검사되는 대상은 주로 확산판(125)과 광학시트(130)과 같은 액정표시장치(100) 내부에 배치되는 부품이다. 그런데, 상기 확산판(125)이나 광학시트(130)는 액정패널(110)과 하부커버(103)에 사이에 배치되어 있으므로, 외부에서는 관찰할 수 없게 된다.

따라서, 본 발명에서는 레이저센서(30)로서 투과형 레이저센서를 사용하거나 액정표시장치에 내부를 볼 수 있는 창을 형성하여 검사를 진행한다. 투과형 레이저센서는 적외선을 이용한 것으로, 도 6a에 도시된 바와 같이 챔버(11) 내에서 온도와 습도를 변화시키면서 레이저센서(30)를 도면표시 하지 않은 챔버(11) 내부의 액정패널(110)의 외곽에 배치시킨 상태에서 적외선을 조사하면 적외선이 액정패널(110)을 투과한 후 광학시트(130)나 확산판(125)에서 반사된 후 다시 레이저센 서(30)로 입사된다. 이때, 상기 레이저센서(30)는 제1리니어가이드(16)와 제2리니어가이드(18)가 이동함에 따라 이동되어 액정표시장치(100) 전체을 스캔하면서 적외선을 조사한다.

한편, 상기 레이저센서(30)는 액정표시장치(100)의 정면이 아니 후면에 배치되어 액정표시장치(100) 내부의 부품의 변형을 검출할 수도 있다. 이때, 상기 액정표시장치(100)는 고정부의 고정프레임(20)에 하부커버(103)가 레이저센서(30)와 마주하도록 고정된다.

또한, 레이저센서(30)로서 비투과형 레이저센서를 사용할 수도 있다. 이 경우, 도 6b에 도시된 바와 같이 하부커버(103)에 창(107)을 형성하여 레이저가 내부로 조사될 수 있도록 하여 내부의 부품에서 반사되는 레이저를 수광하여 부품의 변형을 검출한다. 이때, 레이저센서(30)에 의해 조사하고자 하는 부품의 종류에 따라 상기 하부커버(103)와 확산판(125) 등에 창(107)을 형성할 수 있을 것이다.

상기와 같이, 레이저센서(30)로부터 조사된 후 내부 부품에 의해 반사되어 다시 레이저센서(30)로 입사된 광에 의해 내부 부품의 현재 위치가 검출되고 이 검출된 부품의 현재 위치에 의해 부품의 변형여부가 판별되는데, 이러한 위치의 검출 및 변형의 판별은 제어부에서 이루어진다.

도 7에 이러한 제어부가 도시되어 있다. 도 7에 도시된 바와 같이, 제어부(60)는 레이저센서(30)에서 측정된 값이 입력되면 상기 측정값에 기초하여 측정된 부품의 위치를 검출하는 위치검출부(62)와, 상기 위치검출부(62)에서 검출된 위치와 저장부(68)에 저장된 해당 부품의 설정된 위치를 비교하여 그 차이값을 산출 한 후 차이값이 한계값을 초과하는 경우 부품의 변형을 판별하는 변형판별부(64)와, 상기 위치검출부(62)에서 검출된 부품의 위치 및 변형판별부(64)에서 검출된 부품의 변형정도를 표시하는 표시부(66)와, 부품의 설정 위치 등의 각종 정보가 저장된 저장부(68)와, 제1 및 제2리니어가이드(16,18)을 구동하여 원하는 위치로 레이저센서(30)를 이동시키는 리니어가이드 구동부(69)로 구성된다.

위치검출부(62)에서는 레이저센서(30)로부터 광이 발광된 후 부품에 반사되어 도달하는 시간을 검출하여 현재 측정되는 부품의 위치를 산출한다. 이러한 부품의 위치 산출은 레이저센서(30)가 액정표시장치(100)를 스캔하는 동안 실시간으로 이루어져 부품의 전체 위치가 산출된다. 이러한 부품의 전체 위치는 표시부(66)를 통해 표시된다.

변형판별부(64)에서는 검출된 부품의 전체 위치를 저장부(68)에 저장된 설정된 위치와 비교하여 그 차이값을 산출하며, 산출된 차이값을 저장부(68)에 저장된 설정값과 비교하여 산출된 차이값이 설정값 보다 작으면 부품의 변형 정도가 작으므로 액정표시장치(100)의 화질을 저하시키는 등의 문제를 일이키지 않을 것으로 판정한다. 또한, 산출된 차이값이 설정값 보다 크면 부품의 변형에 의해 액정표시장치의 화질이 저하된다고 판단하여 해당 액정표시장치(100)를 불량으로 판단하여, 액정표시장치(100)의 정품 판정과 불량 판정여부를 표시부(66)에 표시하여 작업자에게 알려준다.

또한, 상기 표시부(66)에는 프레임(12)의 모서리에 설치된 CCD카메라(32)에서 입력된 정보가 표시되어 현재의 액정표시장치의 검사현황 등을 파악할 수 있게 된다.

상술한 바와 같이, 본 발명에서는 검사조건이 조절가능한 챔버내에 액정표시장치를 지면과 수직으로 배치한 후, 레이저센서에 의해 조립된 상태의 액정표시장치의 내부 부품의 변형여부를 판별할 수 있게 된다.

이때, 상세한 설명에서는 본 발명을 설명하기 위해, 본 발명의 각 구성요소를 특정한 구조로 설명하고 있지만, 본 발명이 이러한 구조에만 한정되는 것은 아니다. 예를 들어, 레이저센서를 이송하기 위해, 상세한 설명에서는 가이드와 리니어가이드를 설치하였지만, 본 발명이 이러한 구성에 한정되는 것은 아니다. 예를 들어, 기어나 가이드레일과 같이 레이저센서를 액정표시장치 전체로 이동시킬 수만 있다면 어떠한 구성도 가능할 것이다. 또한, 고정부의 액정표시장치 고정방식도 특정구조로 이루어져 있지만, 본 발명이 이러한 구조에 한정되는 것이 아니라 가능한 다양한 방식으로 고정할 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명의 다양한 변형례나 본 발명을 기초로 용이하게 창안할 수 있는 구조 등도 본 발명의 범위에 포함되어야만 할 것이다.

도 1은 일반적인 액정표시장치의 구조를 나타내는 단면도.

도 2는 일반적인 액정표시장치의 제조방법을 나타내는 플로우챠트.

도 3은 본 발명에 따른 액정표시장치 변형장치의 구조를 나타내는 도면.

도 4는 본 발명에 따른 액정표시장치 변형장치의 측정부의 구조를 나타내는 도면.

도 5는 본 발명에 따른 액정표시장치의 구조를 나타내는 도면.

도 6a는 투과형 레이저센서를 이용하여 액정표시장치의 변형을 검사하는 방법을 나타내는 도면.

도 6b는 비투과형 레이저센서를 이용하여 액정표시장치의 변형을 검사하는 방법을 나타내는 도면.

도 7은 본 발명에 따른 제어부의 구조를 나타내는 블럭도.

Claims (10)

1. 액정표시장치를 지면과 수직으로 고정하는 고정부;

   상기 액정표시장치의 전면 또는 후면에 설치되어 광을 조사함으로써 액정표시장치의 내부 부품의 변위를 측정하는 레이저센서;

   상기 액정표시장치 전면 또는 후면에 설치되어 레이저센서를 가로방향 및 세로방향을 이송시키는 이송수단; 및

   부품의 설정된 위치값 및 차이 설정값이 저장된 저장부, 상기 레이저센서에서 측정된 값이 입력되면 상기 측정값에 기초하여 측정된 부품의 위치를 검출하는 위치검출부, 상기 위치검출부에서 검출된 위치와 저장부에 저장된 해당 부품의 설정된 위치를 비교하여 그 차이값을 산출하여 상기 차이값에 기초하여 부품의 변형을 판별하는 변형판별부로 구성된 제어부로 구성된 액정표시장치 변형 검사시스템.
2. 제1항에 있어서, 상기 레이저센서는 투과형 레이저센서인 것을 특징으로 하는 액정표시장치 변형 검사시스템.
3. 제1항에 있어서, 상기 레이저센서는 비투과형 레이저센서인 것을 특징으로 하는 액정표시장치 변형 검사시스템.
4. 제3항에 있어서, 상기 비투과형 레이저센서의 레이저는 하부커버에 형성된 창을 통해 액정표시장치 내부로 조사되는 것을 특징으로 하는 액정표시장치 변형 검사시스템.
5. 제1항에 있어서, 상기 고정부와 지면 사이의 각도를 조절하여 액정표시장치의 설치각도롤 조절하는 각도조절부를 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치 변형 검사시스템.
6. 제1항에 있어서, 상기 이송수단은,

   가로방향으로 상하 한쌍 배치된 제1가이드;

   상기 한쌍의 제1가이드에 설치된 한쌍의 제1리니어가이드;

   상기 한쌍의 제1리니어가이드에 설치되어 세로방향으로 배치되는 제2가이드; 및

   상기 제2가이드에 설치된 제2리니어가이드로 구성된 액정표시장치 변형 검사시스템.
7. 삭제
8. 제1항에 있어서, 상기 제어부는 상기 위치검출부에서 검출된 부품의 위치 및 변형판별부에서 검출된 부품의 변형정도를 표시하는 표시부를 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치 변형 검사시스템.
9. 제1항에 있어서, 상기 액정표시장치, 고정부, 레이저센서 및 이송수단은 검사조건의 조절이 가능한 챔버내에 배치되는 것을 특징으로 하는 액정표시장치 변형 검사시스템.
10. 화상을 구현하는 액정패널과, 상기 액정패널에 광을 공급하는 광원과, 상기 광원에서 발광되어 액정패널로 공급되는 광을 확산하고 집광하는 확산판 및 광학시트를 포함하는 액정표시장치의 전면 또는 후면에 설치되어 광을 조사함으로써 확산판 및 광학시트중 적어도 하나의 변위를 측정하는 레이저센서; 및

    상기 레이저센서로부터 입력되는 정보에 기초하여 액정표시장치의 확산판 및 광학시트중 적어도 하나의 위치를 검출한 후 설정된 위치와 비교하여 확산판 및 광학시트중 적어도 하나의 변형을 판단하는 제어부로 구성된 액정표시장치 변형 검사시스템.

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