CN110446930A - 探针插座 - Google Patents

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Abstract

本发明揭示一种用于检查待测试对象的电特性的探针插座。探针插座包含：多个电源接脚，用于将电源施加至待测试对象；多个接地接脚，平行于电源接脚布置；支撑块，用于容纳及支撑相平行的多个电源接脚或接地接脚；以及导电板，以横向于电源接脚及接地接脚的纵向方向的方向布置于支撑块内部且具有用于使多个电源接脚共同电连接的电源连接图案及用于使多个接地接脚共同电连接的接地连接图案中的至少一者。

Description

探针插座
技术领域
本发明涉及一种改良电阻及电流特性的探针插座。
背景技术
使用探针插座以检查半导体及其类似待测试装置的电特性。最近，待测试装置已减小间距但增大了可允许电流。因此，探针插座的电源接脚及接地接脚的电阻及电流特性已成为极重要的因素。如图1中所示，探针插座1包含支撑块10，其中插入多个电源接脚20及接地接脚30。待测试装置经由电源接脚群接收电源且经由接地接脚群储集。随着每一接脚的使用的数目增加，由于外来材料(例如氧化锡)累积于上部柱塞及接脚的接触尖端上或接触尖端磨损，因此探针插座1的电阻大大地增大。结果，电流不平稳地流动，且因此于一些接脚中发生过载(或过电流)，因而导致缩短接脚的使用寿命的问题。
图2为说明现有探针插座1的电流特性的视图。由于在自被分为一个组的多个接地接脚30-1至30-4中的左侧(亦即接地接脚30-1)的第二接脚的上部柱塞接触尖端累积外来材料或磨损而使电阻极高时，失效接地接脚30-1可能导致一个群组内的其他接地接脚30-2至30-4过载。结果，一个接地接脚30-1的失效使其他接地接脚30-2至30-4过载，且因此缩短整个群组的使用寿命。
发明内容
技术问题
本发明设想解决上述问题，且提供一种探针插座，其中组合为群组的多个电源接脚或多个接地接脚改良电阻及电流特性从而延长电源接脚或接地接脚的使用寿命。
技术方案
根据本发明的一实施例，揭示一种探针插座。探针插座包含：多个电源接脚，经设置以与待测试对象的电源端子相接触；支撑块，经设置以容纳及支撑平行设置的多个电源接脚；以及导电板，以横向于电源接脚的纵向方向的方向布置于支撑块内部且具有电源连接图案以使多个电源接脚共同电连接。在根据本发明的探针插座中，即使多个电源接脚中的某一电源接脚存在障碍，具有所述障碍的电源接脚仍可经由导电板使用以用于共同连接，因而延长一个群组内的其他电源接脚的使用寿命。
探针插座可还包含多个接地接脚，所述多个接地接脚经设置以与待测试对象的接地端子相接触，且支撑于支撑块中，其中导电板以横向于接地接脚的纵向方向的方向布置于支撑块内部且具有接地连接图案以使多个接地接脚共同电连接。在根据本发明的探针插座中，即使多个接地接脚中的某一接地接脚存在障碍，具有所述障碍的接地接脚仍可经由导电板使用以用于共同连接，因而延长一个群组内的其他接地接脚的使用寿命。
可将电源连接图案或接地连接图案布置于绝缘薄片上。
导电板可包含具有电源连接图案的第一导电板，以及具有接地连接图案的第二导电板。
电源连接图案或接地连接图案可包含电源接触通孔或接地接触通孔，电源接脚或接地接脚在穿过所述电源接触通孔或接地接触通孔时与所述电源接触通孔或所述接地接触通孔电接触。
电源连接图案或接地连接图案可包含朝向电源接触通孔或接地接触通孔的中心凸起的多个接触部分。
电源接触通孔或接地接触通孔的形状可如三叶草形、星形、十字形、圆形以及多边形形状中的一种。
电源接触通孔或接地接触通孔的直径可小于电源接脚或接地接脚的外径。
有益效果
根据本发明，组合成一组的多个电源接脚或多个接地接脚的电阻和电流特性得到改善，从而延长了电源接脚或接地接脚的寿命。
附图说明
图1为现有探针插座的透视图。
图2为示出图1的探针插座中的电流特性的视图。
图3及4各别为根据本发明的一实施例的探针插座的透视图及横截面视图。
图5为说明应用于根据本发明的一实施例的探针插座的导电板的视图。
图6为说明应用于根据本发明的另一实施例的探针插座的导电板的视图。
图7(a)至(c)为说明电源接脚或接地接脚所穿过的电源接触通孔或接地接触通孔的形状的视图。
图8为示出图3的探针插座中的电流特性的视图。
具体实施方式
在下文，将参考附图详细描述根据本发明的探针插座100。
图3及4各别为根据本发明的一实施例的探针插座100的透视图及横截面视图。探针插座100包含：支撑块110；多个电源接脚120，用于将电源施加至待测试对象；多个接地接脚130，平行于电源接脚120布置；以及导电板140，具有用于使多个电源接脚120电连接的电源连接图案142及使多个接地接脚130电连接的接地连接图案144。尽管于图3及4中省略，但探针插座100仍还包含用于施加测试信号以用于检查的多个信号接脚(未示出)。为便于说明，在图3及4中，将仅八个接脚说明为交替布置的多个电源接脚120及多个接地接脚130的实例。电源接脚120及接地接脚130的数目及布置根据待测试对象的种类而变化。举例而言，在将半导体及其类似待测试对象中的多个电源端子及多个接地端子各自分组于预定数目的单元中时，向其施加电源电压及接地电压。
支撑块110可由诸如塑料、陶瓷等绝缘材料制成。支撑块110包含用于容纳多个电源接脚120的多个电源接脚容纳孔111，以及用于容纳多个接地接脚130的多个接地接脚容纳孔113。支撑块110制造为可分为彼此耦接的上部支撑块112及下部支撑块114，且其中插入多个电源接脚120及多个接地接脚130，且导电板140(稍后将描述)插入于上部支撑块112与下部支撑块114之间。尽管未说明，但上部支撑块112与下部支撑块114仍可通过诸如螺栓(未示出)及螺帽(未示出)等各种构件耦接。
电源接脚120将用于检查的电源施加至待测试对象的电源端子。举例而言，电源接脚120可以如图4中所示出的弹簧接脚的形式提供，且包含中空筒体122、部分地插入于筒体122的上部部分中的上部柱塞124、部分地插入于筒体122的下部部分中的下部柱塞126以及插入于筒体122内部的上部柱塞124与下部柱塞126之间的弹簧128。
在将用于检查的电源施加至待测试对象之后，经由待测试对象的接地端子向接地接脚130施加接地电压。接地接脚130所具有的结构类似于电源接脚120的结构，且如图4中所示包含中空筒体132、部分地插入于筒体132的上部部分中的上部柱塞134、部分地插入于筒体132的下部部分中的下部柱塞136以及插入于筒体132内部的上部柱塞134与下部柱塞136之间的弹簧138。
以弹簧接脚的形式提供的电源接脚120及接地接脚130仅出于说明性目的。可替代地，可采用除弹簧接脚之外的各种接脚。
图5为说明根据本发明的一实施例的导电板140的结构的透视图。导电板140以横向于电源接脚120及接地接脚130的方向布置于支撑块110中。导电板140可通过可挠性印刷电路板(flexible printed circuit board；FPCB)或印刷电路板(printed circuitboard；PCB)来实体化。导电板140包含布置于绝缘薄片145上且使多个电源接脚120共同连接的电源连接图案142，以及布置于绝缘薄片145上且使多个接地接脚130共同连接的接地连接图案144。导电板140可通过镀敷或涂布于上部支撑块112和/或下部支撑块114的表面上的导电膜来实体化。作为此种导电膜给出的导电板140可延伸至电源接脚容纳孔111和/或接地接脚容纳孔113的内壁。
电源连接图案142包含电源接触通孔146，多个电源接脚120贯穿地插入所述电源接触通孔146中。电源接触通孔146具有非圆形形状，例如各别如图7(a)、7(b)以及7(c)中所示的三叶草形状、星形形状以及十字形状。在图7(a)、7(b)以及7(c)中，圆形线147对应于电源接脚120的筒体的外径。结果，当具有圆柱形筒体122的电源接脚120插入于非圆形电源接触通孔146中时，导电凸起部分141随着插入而弯曲或预先弯曲且因此与筒体122的外圆周表面接触。如此，至少电源接触通孔146的直径小于电源接脚120的筒体的外径。尽管未于图7(a)、7(b)以及7(c)中示出，但电源接触通孔146仍可具有圆形形状、多边形形状等。
接地连接图案144平行于电源连接图案142布置，其间保留多个电源接触通孔146。接地连接图案144包含接地接触通孔148，多个接地接脚130贯穿地插入所述接地接触通孔148中。与电源接触通孔146类似，接地接触通孔148具有非圆形形状，例如各别如图7(a)、7(b)以及7(c)中所示的三叶草形状、星形形状以及十字形状。在图7(a)、7(b)以及7(c)中，圆形线147对应于接地接脚130的筒体的外径。结果，当具有圆柱形筒体132的接地接脚130插入于非圆形接地接触通孔148中时，导电凸起部分143弯曲且因此与筒体132的外圆周表面接触。尽管未于图7(a)、7(b)以及7(c)中示出，但接地接触通孔148仍可具有圆形形状、多边形形状等。
电源连接图案142或接地连接图案144与电源接脚120或接地接脚130之间的电连接可通过分离圆柱形接触装置(未示出)或导电通孔(未示出)而非使用导电凸起部分141或导电凸起部分143的表面接触来实现。
图6为说明根据本发明的另一实施例的导电板140的视图。导电板140可通过可挠性印刷电路板(FPCB)或印刷电路板(PCB)来实体化。导电板140包含用于使电源接脚120共同连接的第一导电板140-1，以及用于使接地接脚130共同连接的第二导电板140-2。第一导电板140-1及第二导电板140-2以横向于电源接脚120及接地接脚130的方向堆迭且插入于支撑块中。
第一导电板140-1包含布置于第一绝缘薄片145-1上的电源连接图案142以使多个电源接脚120共同连接。电源连接图案142包含其中贯穿地插入多个电源接脚120的电源接触通孔146，以及其中非接触地插入接地接脚130的接地接脚通孔148′。电源接触通孔146具有非圆形形状，例如如图7中所示的三叶草形状、星形形状以及十字形状。在图7中，圆形线147对应于电源接脚120的筒体的外径。结果，当具有圆柱形筒体122的电源接脚120插入于非圆形电源接触通孔146中时，导电凸起部分141弯曲且因此与筒体122的外圆周表面接触。在此情形下，接地接脚通孔148′大于接地接脚130的筒体132以免接触接地接脚130的外表面。
第二导电板140-2包含布置于第一绝缘薄片145-2上的接地连接图案144以使多个接地接脚130共同连接。接地连接图案144包含其中贯穿地插入多个接地接脚130的接地接触通孔148，以及其中非接触地插入电源接脚120的电源接脚通孔146′。接地接触通孔148具有非圆形形状，例如如图7中所示的三叶草形状、星形形状以及十字形状。在图7中，圆形线147对应于接地接脚130的筒体的外径。结果，当具有圆柱形筒体132的接地接脚130插入于非圆形接地接触通孔148中时，导电凸起部分143弯曲且因此与筒体132的外圆周表面接触。在此情形下，电源接脚通孔146′大于电源接脚120的筒体122的外径以免与电源接脚120相接触。
图8为示出根据本发明的一实施例的探针插座100中的电流特性的视图。如其中所示，不同于现有探针插座，当由于第一接地接脚130-1的上部柱塞接触尖端累积外来材料或磨损因而电阻大大地增加时，可经由其他接地接脚130-2至130-4及导电板140将接地电压自待测试对象的接地端子施加至第一接地接脚130-1。结果，即使当于第一接地接脚130-1中发生接触故障时，亦使施加至其他接地接脚130-2至130-4的过载分散。
如上文所描述，即使在由于待与测试对象的接触点相接触的上部柱塞的接触尖端累积外来材料或接触尖端磨损而使接触电阻于电源接脚或接地接脚中大大地增加时，本揭示的探针插座仍防止一个群组内的其他电源接脚或接地接脚的电阻或电流特性劣化，且因此延长电源接脚或接地接脚的使用寿命。
尽管已示出及描述若干例示性实施例，但本领域的技术人员将了解，在不脱离本发明的原理及精神的情况下可对此等例示性实施例作出改变。
因此，本发明的范围必不限于前述例示性实施例但限定于所附权利要求范围及其等效物中。

Claims (8)

1.一种用于检查待测试对象的电特性的探针插座，所述探针插座包括：
多个电源接脚，经设置以与所述待测试对象的电源端子相接触；
支撑块，经设置以容纳及支撑平行设置的所述多个电源接脚；以及
导电板，以横向于所述电源接脚的纵向方向的方向布置于所述支撑块内部且具有电源连接图案以使所述多个电源接脚共同电连接。
2.根据权利要求1所述的探针插座，还包括多个接地接脚，所述多个接地接脚经设置以与所述待测试对象的接地端子相接触且支撑于所述支撑块中，
其中所述导电板以横向于所述接地接脚的纵向方向的方向布置于所述支撑块内部且具有接地连接图案以使所述多个接地接脚共同电连接。
3.根据权利要求2所述的探针插座，其中所述电源连接图案或所述接地连接图案经布置于绝缘薄片上。
4.根据权利要求2所述的探针插座，其中所述导电板包括具有所述电源连接图案的第一导电板，以及具有所述接地连接图案的第二导电板。
5.根据权利要求2所述的探针插座，其中所述电源连接图案或所述接地连接图案包括电源接触通孔或接地接触通孔，所述电源接脚或所述接地接脚在穿过所述电源接触通孔或所述接地接触通孔时与所述电源接触通孔或所述接地接触通孔电接触。
6.根据权利要求5所述的探针插座，其中所述电源连接图案或所述接地连接图案包括朝向所述电源接触通孔或接地接触通孔的中心凸起的多个接触部分。
7.根据权利要求5所述的探针插座，其中所述电源接触通孔或所述接地接触通孔的形状为三叶草形、星形、十字形、圆形以及多边形形状中的一种。
8.根据权利要求5所述的探针插座，其中所述电源接触通孔或所述接地接触通孔的直径小于所述电源接脚或所述接地接脚的外径。
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