CN110364101A - 显示面板 - Google Patents
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Abstract
一种显示面板可包括：多个像素组；第一照明测试电路，用于测试所述多个像素组中的至少一个像素；解复用器，用于将数据信号提供到所述多个像素组；和第二照明测试电路，用于测试所述多个像素组中的一个或多个像素。所述第一照明测试电路和所述解复用器中的至少一个位于所述多个像素组和所述第二照明测试电路之间。
Description
技术领域
技术领域涉及显示面板和显示装置。
背景技术
显示装置的示例包括液晶显示(LCD)装置、场发射显示(FED)装置、等离子体显示面板(PDP)装置和有机发光显示(OLED)装置。显示装置可包括显示面板。
在显示装置的制造工艺中，可通过一个或多个照明测试来检测显示装置的显示面板的缺陷。用于执行显示面板的照明测试的照明测试电路可形成在显示面板的非显示区域中。
发明内容
一些示例实施例涉及具有最小非显示区域的显示面板。
一些示例实施例涉及具有最小非显示区域的显示装置。
根据示例实施例，显示面板可包括：显示区域，所述显示区域包括在第一方向上延伸并且布置在与所述第一方向垂直的第二方向上的多个数据线和耦接到所述数据线的多个像素行；非显示区域，所述非显示区域配置为围绕所述显示区域；第一照明测试电路，所述第一照明测试电路形成于在所述第一方向上与所述显示区域相邻的所述非显示区域中，所述第一照明测试电路配置为将照明测试电压通过所述数据线提供到所述像素行；解复用器，所述解复用器形成于在所述第一方向上与所述第一照明测试电路相邻的所述非显示区域中，所述解复用器配置为将数据信号通过所述数据线提供到所述像素行；和第二照明测试电路，所述第二照明测试电路形成于在所述第一方向上与所述解复用器相邻的所述非显示区域中，所述第二照明测试电路配置为将所述照明测试电压通过所述数据线提供到所述像素行。
在示例实施例中，所述非显示区域可包括其上安装有提供所述数据信号的数据集成电路(IC)的所述数据集成电路的安装区域。
在示例实施例中，所述第二照明测试电路可形成在所述数据集成电路的所述安装区域中。
在示例实施例中，所述第二照明测试电路可形成于在所述第一方向上与所述数据集成电路的所述安装区域相邻的切割区域中。
在示例实施例中，所述第二照明测试电路可在照明测试处理之后被切除。
在示例实施例中，所述显示区域可包括：第一像素行，所述第一像素行包括交替布置的显示第一颜色的第一像素和显示第二颜色的第二像素；第二像素行，所述第二像素行包括显示第三颜色的第三像素；和第三像素行，所述第三像素行包括以与所述第一像素行的相反顺序布置的所述第一像素和所述第二像素。
在示例实施例中，所述第一照明测试电路可将所述照明测试电压提供到所述第二像素行，并且所述第二照明测试电路可将所述照明测试电压提供到所述第一像素行和所述第三像素行。
在示例实施例中，所述第二照明测试电路可将所述照明测试电压交替提供到所述第一像素行和所述第三像素行中包括的所述第一像素和所述第二像素。
在示例实施例中，所述第一照明测试电路可包括第三晶体管，所述第三晶体管响应于第三测试控制信号将第三照明测试电压提供到所述第三像素。
在示例实施例中，所述第二照明测试电路可包括：第一晶体管，所述第一晶体管配置为响应于第一测试控制信号将第一照明测试电压提供到所述第一像素；和第二晶体管，所述第二晶体管配置为响应于第二测试控制信号将第二照明测试电压提供到所述第二像素。
在示例实施例中，所述第一照明测试电路可将所述照明测试电压提供到所述第一像素行和所述第三像素行，并且所述第二照明测试电路可将所述照明测试电压提供到所述第二像素行。
在示例实施例中，所述第一照明测试电路可将所述照明测试电压交替提供到所述第一像素行和所述第三像素行中包括的所述第一像素和所述第二像素。
在示例实施例中，所述第一照明测试电路可包括：第一晶体管，所述第一晶体管配置为响应于第一测试控制信号将第一照明测试电压提供到所述第一像素；和第二晶体管，所述第二晶体管配置为响应于第二测试控制信号将第二照明测试电压提供到所述第二像素。
在示例实施例中，所述第二照明测试电路可包括第三晶体管，所述第三晶体管配置为响应于第三测试控制信号将第三照明测试电压提供到所述第三像素。
根据示例实施例，显示装置可包括：显示面板，所述显示面板包括包含多个像素行的显示区域和围绕所述显示区域的非显示区域，所述显示面板包括形成为与所述显示区域的一侧相邻的第一照明测试电路、形成为与所述第一照明测试电路的一侧相邻的解复用器和形成为与所述解复用器的一侧相邻的第二照明测试电路；数据驱动器，所述数据驱动器配置为产生数据信号，其中，所述数据驱动器被实现为数据集成电路(IC)并且安装在所述非显示区域的所述数据集成电路的安装区域中；扫描驱动器，所述扫描驱动器配置为产生提供到所述像素行的扫描信号；和时序控制器，所述时序控制器配置为产生用于控制所述数据驱动器和所述扫描驱动器的控制信号。
在示例实施例中，所述第二照明测试电路可形成在所述数据集成电路的所述安装区域中。
在示例实施例中，所述第二照明测试电路可形成在与所述数据集成电路的所述安装区域的一侧相邻的切割区域中，并且所述切割区域可在照明测试处理之后被切除。
在示例实施例中，所述显示区域可包括：第一像素行，所述第一像素行包括交替布置的显示第一颜色的第一像素和显示第二颜色的第二像素；第二像素行，所述第二像素行包括显示第三颜色的第三像素；和第三像素行，所述第三像素行包括以与所述第一像素行的相反顺序布置的所述第一像素和所述第二像素。
在示例实施例中，所述第一照明测试电路可将所述照明测试电压提供到所述第一像素行和所述第三像素行，并且所述第二照明测试电路可将所述照明测试电压提供到所述第二像素行。
在示例实施例中，所述第一照明测试电路可将所述照明测试电压提供到所述第二像素行，并且所述第二照明测试电路可将所述照明测试电压提供到所述第一像素行和所述第三像素行。
实施例可涉及显示面板。所述显示面板可包括以下元件：第一数据线和第二数据线，所述第一数据线和第二数据线每个在第一方向上延伸；第一像素组，所述第一像素组电连接到所述第一数据线；第二像素组，所述第二像素组电连接到所述第二数据线；第一照明测试电路，所述第一照明测试电路配置为将第一照明测试电压通过所述第一数据线和所述第二数据线中的至少一个提供到所述第一像素组的像素和所述第二像素组的像素中的至少一个；解复用器，所述解复用器配置为将数据信号分别通过所述第一数据线和所述第二数据线提供到所述第一像素组和所述第二像素组；和第二照明测试电路，所述第二照明测试电路配置为将第二照明测试电压通过所述第一数据线和所述第二数据线中的一个或多个提供到所述第一像素组的所述像素和所述第二像素组的所述像素中的一个或多个。所述第一照明测试电路和所述解复用器中的至少一个可在所述第一方向上位于所述第二照明测试电路和所述第一像素组之间。
所述显示面板可包括数据集成电路，所述数据集成电路配置为将所述数据信号提供到所述解复用器。
所述第二照明测试电路可与所述数据集成电路重叠。
所述数据集成电路可在所述第一方向上位于所述第二照明测试电路和所述解复用器之间。
所述显示面板可包括以下元件：第三数据线，所述第三数据线在与所述第一方向不同的第二方向上延伸；和第三像素组，所述第三像素组电连接到所述第三数据线。所述第一像素组可包括显示第一颜色的第一个第一颜色像素和显示第二颜色的第一个第二颜色像素。所述第二像素组可包括显示第三颜色的第三颜色像素。所述第三像素组可包括显示所述第一颜色的第二个第一颜色像素和显示所述第二颜色的第二个第二颜色像素。所述第一个第一颜色像素可在所述第二方向上与所述第二个第二颜色像素对齐。所述第一个第二颜色像素可在所述第二方向上与所述第二个第一颜色像素对齐。
所述第一照明测试电路可将所述第一照明测试电压提供到所述第二像素组。所述第二照明测试电路可将所述第二照明测试电压提供到所述第一像素组和所述第三像素组。
所述第二照明测试电路可将所述第二照明测试电压交替提供到所述第一个第一颜色像素和所述第一个第二颜色像素。
所述第一照明测试电路可包括晶体管，所述晶体管配置为响应于测试控制信号将第三照明测试电压提供到所述第三颜色像素。
所述第二照明测试电路可包括以下元件：第一晶体管，所述第一晶体管配置为响应于第一控制信号将第一测试电压提供到所述第一个第一颜色像素；和第二晶体管，所述第二晶体管配置为响应于第二控制信号将第二测试电压提供到所述第一个第二颜色像素。
所述第一照明测试电路可将所述第一照明测试电压提供到所述第一像素组和所述第三像素组。所述第二照明测试电路可将所述第二照明测试电压提供到所述第二像素组。
所述第一照明测试电路可将所述第一照明测试电压交替提供到所述第一个第一颜色像素和所述第一个第二颜色像素。
所述第一照明测试电路可包括以下元件：第一晶体管，所述第一晶体管配置为响应于第一控制信号将第一测试电压提供到所述第一个第一颜色像素；和第二晶体管，所述第二晶体管配置为响应于第二控制信号将第二测试电压提供到所述第一个第二颜色像素。
所述第二照明测试电路可包括晶体管，所述晶体管配置为响应于测试控制信号将第三照明测试电压提供到所述第三颜色像素。
实施例可涉及用于制造显示面板的方法。所述方法可包括以下步骤：提供彼此电绝缘的第一数据线和第二数据线；提供电连接到所述第一数据线的第一像素组；提供电连接到所述第二数据线的第二像素组；提供第一照明测试电路，所述第一照明测试电路配置为将第一照明测试电压通过所述第一数据线和所述第二数据线中的至少一个提供到所述第一像素组的像素和所述第二像素组的像素中的至少一个；提供解复用器，所述解复用器配置为将数据信号分别通过所述第一数据线和所述第二数据线提供到所述第一像素组和所述第二像素组；提供第二照明测试电路，所述第二照明测试电路配置为将第二照明测试电压通过所述第一数据线和所述第二数据线中的一个或多个提供到所述第一像素组的所述像素和所述第二像素组的所述像素中的一个或多个。所述第一照明测试电路和所述解复用器中的至少一个可位于所述第二照明测试电路和所述第一像素组之间；使用至少所述第二照明测试电路执行照明测试处理；以及在所述照明测试处理之后，去除所述第二照明测试电路使得所述显示面板不包括所述第二照明测试电路。
实施例可涉及显示装置。所述显示装置可包括以下元件：多个像素组；第一照明测试电路，所述第一照明测试电路用于测试所述多个像素组的至少一个像素；解复用器，所述解复用器用于将数据信号提供到所述多个像素组；第二照明测试电路，所述第二照明测试电路用于测试所述多个像素组的一个或多个像素，其中，所述第一照明测试电路和所述解复用器中的至少一个可位于所述多个像素组和所述第二照明测试电路之间；数据集成电路，所述数据集成电路配置为产生所述数据信号；扫描驱动器，所述扫描驱动器配置为产生用于控制所述数据信号到所述多个像素组的供给的扫描信号；和时序控制器，所述时序控制器配置为产生用于控制所述数据集成电路和所述扫描驱动器的控制信号。
所述第二照明测试电路可与所述数据集成电路重叠。
所述显示装置可包括显示面板基底。所述第二照明测试电路可位于所述显示面板基底和所述数据集成电路之间。
所述多个像素组可包括以下像素组：第一像素组，所述第一像素组包括显示第一颜色的第一个第一颜色像素和显示第二颜色的第一个第二颜色像素；第二像素组，所述第二像素组包括显示第三颜色的第三颜色像素；和第三像素组，所述第三像素组包括第二个第一颜色像素和第二个第二颜色像素。所述第一个第一颜色像素可在一方向上与所述第二个第二颜色像素对齐。所述第一个第二颜色像素可在所述方向上与所述第二个第一颜色像素对齐。
所述第一照明测试电路可将第一照明测试电压提供到所述第一像素组和所述第三像素组。所述第二照明测试电路可将第二照明测试电压提供到所述第二像素组。
所述第一照明测试电路可将第一照明测试电压提供到所述第二像素组。所述第二照明测试电路可将第二照明测试电压提供到所述第一像素组和所述第三像素组。
根据实施例，显示面板和/或显示装置可具有小尺寸和轻重量。
附图说明
图1A是示出根据示例实施例的显示面板的图(例如，平面图)。
图1B是示出根据示例实施例的显示面板的图(例如，平面图)。
图2是示出根据示例实施例的在图1A和图1B的显示面板中包括的第一照明测试电路、第二照明测试电路和解复用器的图(例如，电路图)。
图3是示出根据示例实施例的图2的第一照明测试电路、第二照明测试电路和解复用器的操作的时序图。
图4是示出根据示例实施例的在图1A和图1B的显示面板中包括的第一照明测试电路、第二照明测试电路和解复用器的图。
图5是示出根据示例实施例的图4的第一照明测试电路、第二照明测试电路和解复用器的操作的时序图。
图6是示出根据示例实施例的显示装置的框图。
图7A是示出根据示例实施例的在图6的显示装置中包括的显示面板的图。
图7B是示出根据示例实施例的显示面板的剖面的剖视图。
图8A是示出根据示例实施例的在图6的显示装置中包括的显示面板的图。
图8B是示出根据示例实施例的在照明测试处理之后已经从中去除第二照明测试电路的图8A的显示面板的图。
具体实施方式
参照附图描述了示例实施例。虽然文中可使用术语“第一”、“第二”等来描述各种元件，但是这些元件不应当受这些术语的限制。这些术语可用于将一个元件与另一元件区分开。因此，在不脱离一个或多个实施例的教导的情况下，可将第一元件称为第二元件。将元件描述为“第一”元件可不要求或暗示存在第二元件或其它元件。文中也可使用术语“第一”、“第二”等来区分不同类别或集合的元件。为了简洁起见，术语“第一”、“第二”等可分别代表“第一类型(或第一集合)”、“第二类型(或第二集合)”等。术语“耦接”可指的是“电连接”；术语“连接”可指的是“电连接”；术语“行”可指的是“行”、“列”、“线”或“组”；术语“数据电压”可与术语“数据信号”可交换地使用。
图1A和图1B是根据示例实施例的显示面板的图。
参照图1A和图1B，显示面板100可包括显示区域DA和非显示区域NDA。
在显示区域DA中，数据线DL在第一方向1ST DIRECTION上延伸并且在与第一方向1ST DIRECTION垂直的第二方向2ND DIRECTION上布置。第一方向1ST DIRECTION可垂直于显示面板100的上侧并且第二方向2ND DIRECTION可平行于显示面板100的上侧。数据线DL中的每个可电耦接到像素行。
像素行中的每个像素行可布置为平行于数据线DL。在照明测试处理(lightingtest process)中，像素行中的每个像素行中包括的像素可响应于通过数据线DL提供的照明测试电压而发光。在一些示例实施例中，显示区域DA可包括第一像素行PX_L1、第二像素行PX_L2和第三像素行PX_L3。第一像素行PX_L1可包括显示第一颜色的第一颜色像素(或第一像素)和显示第二颜色的第二颜色像素(或第二像素)。第一像素行PX_L1中的第一像素和第二像素可交替布置。第二像素行PX_L2可包括显示第三颜色的第三颜色像素(或第三像素)。第三像素行PX_L3可包括第一像素和第二像素。在第三像素行PX_L3中包括的第一像素和第二像素可相对于在第一像素行PX_L1中包括的第一像素和第二像素以相反的顺序布置。例如，第一颜色可以是红色，第二颜色可以是蓝色，并且第三颜色可以是绿色。例如，如图1A和图1B中所示，显示区域DA可具有这样的布局，在所述布局中，包括第一像素行PX_L1、第二像素行PX_L2、第三像素行PX_L3和另一第二像素行PX_L2的集合在第二方向2NDDIRECTION上重复布置。
虽然在图1A和图1B中未示出扫描线，但是显示区域DA还可包括在第二方向2NDDIRECTION上延伸并且在第一方向1ST DIRECTION上布置的扫描线。像素行中的像素中包括的每个像素可布置在数据线DL和扫描线的交叉区域中。当驱动显示面板100时，像素中的每个像素可响应于通过对应的扫描线提供的扫描信号以发射具有与通过对应的数据线DL提供的数据信号对应的亮度的光。扫描信号可控制数据信号到像素的供应。
非显示区域NDA可邻接和/或围绕显示区域DA。在非显示区域NDA中可形成第一照明测试电路120、解复用器(demultiplexer)140和第二照明测试电路160。
第一照明测试电路120可形成于在第一方向1ST DIRECTION上与显示区域DA相邻的非显示区域NDA中。在显示面板100的照明测试处理中，第一照明测试电路120可将照明测试电压通过数据线DL提供到显示区域DA中的像素行。在一些示例实施例中，第一照明测试电路120可将照明测试电压提供到第二像素行PX_L2。第一照明测试电路120可将照明测试电压提供到在第二像素行PX_L2中包括的第三像素，并且可检测第三像素的照明缺陷。第一照明测试电路120可包括第三晶体管，所述第三晶体管响应于第三测试控制信号将第三照明测试电压提供到第三像素。在显示面板100的照明测试处理中，第三晶体管可响应于第三测试控制信号而导通并且将第三照明测试电压提供到第三像素。在示例实施例中，第一照明测试电路120可将照明测试电压提供到第一像素行PX_L1和第三像素行PX_L3。第一照明测试电路120可将照明测试电压提供到第一像素行PX_L1和第三像素行PX_L3中包括的第一像素和第二像素，并且可检测第一像素和第二像素的照明缺陷。第一照明测试电路120可将照明测试电压交替地提供到第一像素和第二像素。第一照明测试电路120可包括第一晶体管和第二晶体管，所述第一晶体管响应于第一测试控制信号将第一照明测试电压提供到第一像素，所述第二晶体管响应于第二测试控制信号将第二照明测试电压提供到第二像素。在显示面板100的照明测试处理中，第一晶体管可响应于第一测试控制信号而导通并且将第一照明测试电压提供到第一像素。此外，在显示面板100的照明测试处理中，第二晶体管可响应于第二测试控制信号而导通并且将第二照明测试电压提供到第二像素。
解复用器140可形成于在第一方向1ST DIRECTION上与第一照明测试电路120相邻的非显示区域NDA中。当驱动显示面板100时，解复用器140可将数据信号通过数据线DL提供到显示区域DA中的像素行。解复用器140可包括第一控制晶体管和第二控制晶体管，所述第一控制晶体管将数据电压/信号提供到第一像素行PX_L1和第三像素行PX_L3，所述第二控制晶体管将数据电压/信号提供到第二像素行PX_L2。第一控制晶体管可响应于从第一控制线提供的第一控制信号而导通并且可将数据电压提供到第一像素行PX_L1和第三像素行PX_L3。第二控制晶体管可响应于从第二控制线提供的第二控制信号而导通并且将数据电压提供到第二像素行PX_L2。
第二照明测试电路160可形成于在第一方向1ST DIRECTION上与解复用器140相邻的非显示区域中。在显示面板100的照明测试处理中，第二照明测试电路160可将照明测试电压通过数据线DL提供到像素行。在一些示例实施例中，第二照明测试电路160可将照明测试电压提供到第一像素行PX_L1和第三像素行PX_L3。第二照明测试电路160可将照明测试电压提供到包括在第一像素行PX_L1和第三像素行PX_L3的第一像素和第二像素，并且可检测第一像素和第二像素的照明缺陷。第二照明测试电路160可将照明测试电压交替提供到第一像素和第二像素。第二照明测试电路160可包括第一晶体管和第二晶体管，所述第一晶体管响应于第一测试控制信号将第一照明测试电压提供到第一像素，所述第二晶体管响应于第二测试控制信号将第二照明测试电压提供到第二像素。在显示面板100的照明测试处理中，第一晶体管可响应于第一测试控制信号而导通并且将第一照明测试电压提供到第一像素。第二晶体管可响应于第二测试控制信号而导通并且将第二照明测试电压提供到第二像素。在示例实施例中，第二照明测试电路160可将照明测试电压提供到第二像素行PX_L2。第二照明测试电路160可将照明测试电压提供到第二像素行PX_L2中包括的第三像素，并且可检测第三像素的照明缺陷。第二照明测试电路160可包括第三晶体管，所述第三晶体管响应于第三测试控制信号将第三照明测试电压提供到第三像素。在显示面板100的照明测试处理中，第三晶体管可响应于第三测试控制信号而导通并且将第三照明测试电压提供到第三像素。
非显示区域NDA可包括其上安装有提供数据信号的数据集成电路(IC)的数据集成电路的安装区域180。数据集成电路的安装区域180可设置为与解复用器140相邻。安装区域180可以是用于数据集成电路的指定位置和/或可以是显示面板100的基底的一部分。将数据集成电路和第二照明测试电路160耦接到解复用器140的连接线CL可形成在数据集成电路的安装区域180和解复用器140之间。在照明测试处理中，数据集成电路可不安装在数据集成电路的安装区域180上。数据集成电路可在照明测试处理之后安装在数据集成电路的安装区域180上。在示例实施例中，第二照明测试电路160可与数据集成电路(的安装区域180)重叠。第二照明测试电路160可在安装数据集成电路之后位于数据集成电路下面。在示例实施例中，如图1B中所示，第二照明测试电路160可形成于在第一方向1ST DIRECTION上与数据集成电路的安装区域180相邻的切割区域CA中。其上形成有第二照明测试电路160的切割区域CA可在显示面板100的照明测试处理之后被切除/去除。
根据示例实施例的显示面板100可包括第一照明测试电路120和第二照明测试电路160，所述第一照明测试电路120和第二照明测试电路160形成在非显示区域NDA中以执行形成在显示区域DA中的像素行的照明测试。第二照明测试电路160可与数据集成电路(的安装区域180)重叠或者可设置于在照明测试处理之后将被切除/去除的切割区域CA中，使得非显示区域NDA可最小化。
图2是示出图1的显示面板中包括的第一照明测试电路、第二照明测试电路和解复用器的示例的图，并且图3是用于描述图2的第一照明测试电路、第二照明测试电路和解复用器的操作的时序图。
第一像素行PX_L1、第二像素行PX_L2和第三像素行PX_L3可形成在显示面板200的显示区域DA中。第一像素行PX_L1可包括交替布置的显示第一颜色的第一像素R和显示第二颜色的第二像素B。第二像素行PX_L2可包括显示第三颜色的第三像素G。第三像素行PX_L3可包括以第一像素行PX_L1的相反顺序交替布置的第一像素R和第二像素B。例如，第一颜色可以是红色，第二颜色可以是蓝色，并且第三颜色可以是绿色。如图2中所示，第一像素行PX_L1、第二像素行PX_L2、第三像素行PX_L3和第二像素行PX_L2可在第二方向2NDDIRECTION上重复布置。
第一照明测试电路220、解复用器240和第二照明测试电路260可布置在显示面板200的非显示区域NDA中。第一照明测试电路220可形成于在第一方向1ST DIRECTION上与显示区域DA相邻的非显示区域NDA中，并且解复用器240可形成于在第一方向1ST DIRECTION上与第一照明测试电路220相邻的非显示区域NDA中。第二照明测试电路260可形成为与解复用器240相邻。将第二照明测试电路260和解复用器240耦接的连接线CL可形成在第二照明测试电路260和解复用器240之间。在一些示例实施例中，第二照明测试电路260可与数据集成电路的安装区域重叠。在示例实施例中，第二照明测试电路260可形成于在第一方向1STDIRECTION上与数据集成电路的安装区域相邻的切割区域中，并且在照明测试处理之后可被切除/去除。
第一照明测试电路220可包括耦接到第二像素行PX_L2的数据线DL的第三晶体管T3。第三晶体管T3的栅电极可耦接到提供第三测试控制信号TCS3的第三测试控制线，第三晶体管T3的第一电极可耦接到第二像素行PX_L2的数据线DL，并且第三晶体管T3的第二电极可耦接到提供第三照明测试电压DC3的第三电压提供线。第三测试控制信号TCS3可具有使第三晶体管T3导通或截止的电压电平。第三照明测试电压DC3可具有使第二像素行PX_L2中包括的第三像素G发光的电压电平。
解复用器240可包括耦接到第一像素行PX_L1的数据线DL和第三像素行PX_L3的数据线DL的第一控制晶体管TC1和耦接到第二像素行PX_L2的数据线DL的第二控制晶体管TC2。第一控制晶体管TC1的栅电极可耦接到第一控制线，第一控制晶体管TC1的第一电极可耦接到第一像素行PX_L1的数据线DL和第三像素行PX_L3的数据线DL，并且第一控制晶体管TC1的第二电极可耦接到与第二照明测试电路260耦接的连接线CL。第一控制信号CS1可具有使第一控制晶体管TC1导通或截止的电压电平。第二控制晶体管TC2的栅电极可耦接到第二控制线，第二控制晶体管TC2的第一电极可耦接到第二像素行PX_L2的数据线DL，并且第二控制晶体管TC2的第二电极可耦接到与第二照明测试电路260耦接的连接线CL。从第二控制线提供的第二控制信号CS2可具有使第二控制晶体管TC2导通或截止的电压电平。
解复用器240可通过连接线CL耦接到第二照明测试电路260。第二照明测试电路260可包括耦接到连接线CL的第一晶体管T1和第二晶体管T2。第一晶体管T1的栅电极可耦接到提供第一测试控制信号TCS1的第一测试控制线，第一晶体管T1的第一电极可耦接到连接线CL，并且第一晶体管T1的第二电极可耦接到提供第一照明测试电压DC1的第一电压提供线。第一测试控制信号TCS1可具有使第一晶体管T1导通或截止的电压电平。第一照明测试电压DC1可具有使第一像素行PX_L1和第三像素行PX_L3中包括的第一像素R发光的电压电平。第二晶体管T2的栅电极可耦接到提供第二测试控制信号TCS2的第二测试控制线，第二晶体管T2的第一电极可耦接到连接线CL，并且第二晶体管T2的第二电极可耦接到提供第二照明测试电压DC2的第二电压提供线。第二测试控制信号TCS2可具有使第二晶体管T2导通或截止的电压电平。第二照明测试电压DC2可具有使第一像素行PX_L1和第三像素行PX_L3中包括的第二像素B发光的电压电平。
参照图3，第一照明测试电路220、解复用器240和第二照明测试电路260可基于第一测试控制信号TCS1、第二测试控制信号TCS2和第三测试控制信号TCS3以及第一控制信号CS1和第二控制信号CS2在第一周期P1和第二周期P2中操作。第一测试控制信号TCS1、第二测试控制信号TCS2和第三测试控制信号TCS3以及第一控制信号CS1和第二控制信号CS2可具有第一电压电平V1和第二电压电平V2。例如，第一电压电平V1可使第一晶体管T1、第二晶体管T2、第三晶体管T3以及第一控制晶体管TC1和第二控制晶体管TC2截止。第二电压电平V2可使第一晶体管T1、第二晶体管T2、第三晶体管T3、以及第一控制晶体管TC1和第二控制晶体管TC2导通。
在第一周期P1中，可将具有第二电压电平V2的第三测试控制信号TCS3提供到第一照明测试电路220，可将具有第二电压电平V2的第一控制信号CS1和具有第一电压电平V1的第二控制信号CS2提供到解复用器240，并且可将具有第二电压电平V2的第一测试控制信号TCS1和具有第一电压电平V1的第二测试控制信号TCS2提供到第二照明测试电路260。在第一照明测试电路220中，第三晶体管T3可响应于具有第二电压电平V2的第三测试控制信号TCS3而导通。当第三晶体管T3导通时，可将第三照明测试电压DC3提供到第二像素行PX_L2的数据线DL。因此，在第二像素行PX_L2中包括的第三像素G可发光。在第二照明测试电路260中，第一晶体管T1可响应于具有第二电压电平V2的第一测试控制信号TCS1而导通，并且第二晶体管T2可响应于具有第一电压电平V1的第二测试控制信号TCS2而截止。当第一晶体管T1导通时，可将第一照明测试电压DC1通过第一晶体管T1提供到连接线CL。在解复用器240中，第一控制晶体管TC1可响应于具有第二电压电平V2的第一控制信号CS1而导通，第二晶体管T2可响应于具有第一电压电平V1的第二控制信号CS2而截止。可将通过连接线CL提供的第一照明测试电压DC1通过第一控制晶体管TC1提供到第一像素行PX_L1或第三像素行PX_L3的数据线DL。由于第一照明测试电压DC1具有使第一像素R发光的电压电平，因此第一像素行PX_L1和第三像素行PX_L3中包括的第一像素R可发光。
在第二周期P2中，可将具有第二电压电平V2的第三测试控制信号TCS3提供到第一照明测试电路220，可将具有第二电压电平V2的第一控制信号CS1和具有第一电压电平V1的第二控制信号CS2提供到解复用器240，并且可将具有第一电压电平V1的第一测试控制信号TCS1和具有第二电压电平V2的第二测试控制信号TCS2提供到第二照明测试电路260。在第一照明测试电路220中，第三晶体管T3可响应于具有第二电压电平V2的第三测试控制信号TCS3而导通。当第三晶体管T3导通时，可将第三照明测试电压DC3提供到第二像素行PX_L2的数据线DL。因此，第二像素行PX_L2中包括的第三像素G可发光。在第二照明测试电路260中，第一晶体管T1可响应于具有第一电压电平V1的第一测试控制信号TCS1而截止，并且第二晶体管T2可响应于具有第二电压电平V2的第二测试控制信号TCS2而导通。当第二晶体管T2导通时，可将第二照明测试电压DC2通过第二晶体管T2提供到连接线CL。在解复用器240中，第一控制晶体管TC1可响应于具有第二电压电平V2的第一控制信号CS1而导通，并且第二控制晶体管TC2可响应于具有第一电压电平V1的第二控制信号CS而截止。可将通过连接线CL提供的第二照明测试电压DC2通过第一控制晶体管TC1提供到第一像素行PX_L1或第三像素行PX_L3的数据线DL。由于第二照明测试电压DC2具有使第二像素B发光的电压电平，因此第一像素行PX_L1和第三像素行PX_L3中包括的第二像素B可发光。
在第一像素R和第三像素G于其期间发光的第一周期P1中可检测第一像素R和第三像素G的照明缺陷。在第二像素B和第三像素G于其期间发光的第二周期P2中，可检测第二像素B和第三像素G的照明缺陷。
显示面板可包括用于第一像素R、第二像素B和第三像素G的照明测试的彼此分离的第一照明测试电路220和第二照明测试电路260。第二照明测试电路260可与数据集成电路的安装区域重叠或者可形成在切割区域中。因此，显示面板200的非显示区域NDA可最小化。
图4是示出图1的显示面板中包括的第一照明测试电路、第二照明测试电路和解复用器的图。图5是示出用于描述图4的第一照明测试电路、第二照明测试电路和解复用器的操作的时序图。
参照图4，显示面板300可包括显示区域DA和非显示区域NDA。
第一像素行PX_L1、第二像素行PX_L2和第三像素行PX_L3可形成在显示面板300的显示区域DA中。第一像素行PX_L1可包括交替布置的显示第一颜色的第一像素R和显示第二颜色的第二像素B。第二像素行PX_L2可包括显示第三颜色的第三像素G。第三像素行PX_L3可包括以第一像素行PX_L1的相反顺序交替布置的第一像素R和第二像素B。例如，第一颜色可以是红色，第二颜色可以是蓝色，并且第三颜色可以是绿色。如图4中所示，第一像素行PX_L1、第二像素行PX_L2、第三像素行PX_L3和第二像素行PX_L2可在第二方向2NDDIRECTION上重复布置。
第一照明测试电路320、解复用器340和第二照明测试电路360可布置在显示面板300的非显示区域NDA中。第一照明测试电路320可形成于在第一方向1ST DIRECTION上与显示区域DA相邻的非显示区域NDA中，并且解复用器340可形成于在第一方向1ST DIRECTION上与第一照明测试电路320相邻的非显示区域NDA中。第二照明测试电路360可形成为与解复用器340相邻。将第二照明测试电路360和解复用器340耦接的连接线CL可形成在第二照明测试电路360和解复用器340之间。在示例实施例中，第二照明测试电路360可与数据集成电路的安装区域重叠。在示例实施例中，第二照明测试电路360可形成于在第一方向1STDIRECTION上与数据集成电路的安装区域相邻的切割区域中，并且可在照明测试处理之后被切除/去除。
第一照明测试电路320可包括第一晶体管T1和第二晶体管T2，第一晶体管T1和第二晶体管T2耦接到与第一像素行PX_L1耦接的数据线DL和与第三像素行PX_L3耦接的数据线DL。第一晶体管T1的栅电极可耦接到提供第一测试控制信号TCS1的第一测试控制线，第一晶体管T1的第一电极可耦接到第一像素行PX_L1和第三像素行PX_L3的数据线DL，第一晶体管T1的第二电极可耦接到提供第一照明测试电压DC1的第一电压提供线。第一测试控制信号TCS1可具有使第一晶体管T1导通或截止的电压电平。第一照明测试电压DC1可具有使第一像素行PX_L1和第三像素行PX_L3中包括的第一像素R发光的电压电平。第二晶体管T2的栅电极可耦接到提供第二测试控制信号TCS2的第二测试控制线，第二晶体管T2的第一电极可耦接到第一像素行PX_L1和第三像素行PX_L3的数据线DL，并且第二晶体管T2的第二电极可耦接到提供第二照明测试电压DC2的第二电压提供线。第二测试控制信号TCS2可具有使第二晶体管T2导通或截止的电压电平。第二照明测试电压DC2可具有使在第一像素行PX_L1和第三像素行PX_L3中包括的第二像素B发光的电压电平。
解复用器340可包括耦接到第一像素行PX_L1和第三像素行PX_L3的数据线DL的第一控制晶体管TC1和耦接到第二像素行PX_L2的数据线DL的第二控制晶体管TC2。第一控制晶体管TC1的栅电极可耦接到第一控制线，第一控制晶体管TC2的第一电极可耦接到第一像素行PX_L1和第三像素行PX_L3的数据线DL，第一控制晶体管TC1的第二电极可耦接到与第二照明测试电路360耦接的连接线CL。第一控制信号CS1可具有使第一控制晶体管TC1导通或截止的电压电平。第二控制晶体管TC2的栅电极可耦接到第二控制线，第二控制晶体管TC2的第一电极可耦接到第二像素行PX_L2的数据线DL，并且第二控制晶体管TC2的第二电极可耦接到与第二照明测试电路360耦接的连接线CL。第二控制信号CS2可具有使第二控制晶体管TC2导通或截止的电压电平。
解复用器340可通过连接线CL耦接第二照明测试电路360。第二照明测试电路360可包括耦接到连接线CL的第三晶体管T3。第三晶体管T3的栅电极可耦接到提供第三测试控制信号TCS3的第三测试控制线，第三晶体管T3的第一电极可耦接到连接线CL，并且第三晶体管T3的第二电极可耦接到提供第三照明测试电压DC3的第三电压提供线。第三测试控制信号TCS3可具有使第三晶体管T3导通或截止的电压电平。第三照明测试电压DC3可具有使第二像素行PX_L2中包括的第三像素G发光的电压电平。
参照图5，第一照明测试电路320、解复用器340和第二照明测试电路360可基于第一测试控制信号TCS1、第二测试控制信号TCS2和第三测试控制信号TCS3以及第一控制信号CS1和第二控制信号CS2在第一周期P1和第二周期P2中操作。第一测试控制信号TCS1、第二测试控制信号TCS2和第三测试控制信号TCS3以及第一控制信号CS1和第二控制信号CS2可具有第一电压电平V1和第二电压电平V2。例如，第一电压电平V1可使第一晶体管T1、第二晶体管T2、第三晶体管T3以及第一控制晶体管TC1和第二控制晶体管TC2截止。第二电压电平V2可使第一晶体管T1、第二晶体管T2、第三晶体管T3以及第一控制晶体管TC1和第二控制晶体管TC2导通。
在第一周期P1中，可将具有第二电压电平V2的第一测试控制信号TCS1和具有第一电压电平V1的第二测试控制信号TCS2提供到第一照明测试电路320，可将具有第一电压电平V1的第一控制信号CS1和具有第二电压电平V2的第二控制信号CS2提供到解复用器340，并且可将具有第二电压电平V2的第三测试控制信号TCS3提供到第二照明测试电路360。在第一照明测试电路320中，第一晶体管T1可响应于具有第二电压电平V2的第一测试控制信号TCS1而导通，第二晶体管T2可响应于具有第一电压电平V1的第二测试控制信号TCS2而截止。当第一晶体管T1导通时，可将第一照明测试电压DC1提供到第一像素行PX_L1和第三像素行PX_L3的数据线DL。由于第一照明测试电压DC1具有使第一像素R发光的电压电平，因此第一像素行PX_L1和第三像素行PX_L3中包括的第一像素R可发光。在第二照明测试电路360中，第三晶体管T3可响应于具有第二电压电平V2的第三测试控制信号TCS3而导通。当第三晶体管T3导通时，可将第三照明测试电压DC3通过连接线CL提供到第三晶体管T3。在解复用器340中，第一控制晶体管TC1可响应于具有第一电压电平V1的第一控制信号CS1而截止，并且第二控制晶体管TC2可响应于具有第二电压电平V2的第二控制信号CS2而导通。当第二控制晶体管TC2导通时，可将通过连接线CL提供的第三照明测试电压DC3通过第二控制晶体管TC2提供到第二像素行PX_L2的数据线DL。由于第三照明测试电压DC3具有使第三像素G发光的电压电平，因此第二像素行PX_L2中包括的第三像素G可发光。
在第二周期P2中，可将具有第一电压电平V1的第一测试控制信号TCS1和具有第二电压电平V2的第二测试控制信号TCS2提供到第一照明测试电路320，可将具有第一电压电平V1的第一控制信号CS1和具有第二电压电平V2的第二控制信号CS2提供到解复用器340，并且可将具有第二电压电平V2的第三测试控制信号TCS3提供到第二照明测试电路360。在第一照明测试电路320中，第一晶体管T1可响应于具有第一电压电平V1的第一测试控制信号TCS1而截止，并且第二晶体管T2可响应于具有第二电压电平V2的第二测试控制信号TCS2而导通。当第二晶体管T2导通时，可将第二照明测试电压DC2提供到第一像素行PX_L1和第三像素行PX_L3的数据线DL。由于第二照明测试电压DC2具有使第二像素B发光的电压电平，因此第一像素行PX_L1和第三像素行PX_L3中包括的第二像素B可发光。在第二照明测试电路360中，第三晶体管T3可响应于具有第二电压电平V2的第三测试控制信号TCS3而导通。当第三晶体管T3导通时，可将第三照明测试电压DC3通过第三晶体管T3提供到连接线CL。在解复用器340中，第一控制晶体管TC1可响应于具有第一电压电平V1的第一控制信号CS1而截止并且第二控制晶体管TC2可响应于具有第二电压电平V2的第二控制信号CS2而导通。当第二控制晶体管TC2导通时，可将通过连接线CL提供的第三照明测试电压DC3通过第二控制晶体管TC2提供到第二像素行PX_L2的数据线DL。由于第三照明测试电压DC3具有使第三像素G发光的电压电平，因此第二像素行PX_L2中包括的第三像素G可发光。
在显示面板300的照明测试处理中，在第一周期P1期间可检测第一像素R和第三像素G的照明缺陷，并且在第二周期P2期间可检测第二像素B和第三像素G的照明缺陷。
显示面板300可包括用于第一像素R、第二像素B和第三像素G的照明测试的彼此分离的第一照明测试电路320和第二照明测试电路360。第二照明测试电路360可与数据集成电路(的安装区域)重叠或者可形成在切割区域中。因此，显示面板300的非显示区域NDA可最小化。
图6是示出根据示例实施例的显示装置的框图。
参照图6，显示装置400可包括显示面板410、数据驱动器420、扫描驱动器430和时序控制器440。
显示面板410可包括显示区域DA和非显示区域NDA。在第一方向1ST DIRECTION上延伸且布置在与第一方向1ST DIRECTION垂直的第二方向2ND DIRECTION上的多个数据线可形成在显示区域DA中。第一方向1ST DIRECTION可垂直于显示面板410的上侧并且第二方向2NDDIRECTION可平行于显示面板410的上侧。数据线中的每个数据线可电耦接到像素行。像素行中的每个像素行可布置为平行于数据线。在显示面板410的照明测试处理中，像素行中的每个像素行中包括的像素可响应于通过数据线提供的照明测试电压而发光。显示区域DA可包括第一像素行、第二像素行和第三像素行。第一像素行可包括显示第一颜色的第一像素和显示第二颜色的第二像素。可交替布置第一像素行中包括的第一像素和第二像素。第二像素行可包括显示第三颜色的第三像素。第三像素行可包括第一像素和第二像素。可以以第一像素行的相反顺序交替布置第三像素行中包括的第一像素和第二像素。例如，第一颜色可以是红色，第二颜色可以是蓝色，并且第三颜色可以是绿色。例如，显示区域DA可具有其中第一像素行、第二像素行、第三像素行和第二像素行在第二方向2NDDIRECTION上重复布置的布局。此外，在第二方向2ND DIRECTION上延伸且布置在第一方向1STDIRECTION上的多个扫描线可形成在显示区域DA中。像素行中包括的像素中的每个像素可设置在数据线和扫描线的交叉区域中。
非显示区域NDA可围绕显示区域DA。第一照明测试电路、解复用器和第二照明测试电路可形成在非显示区域NDA中。第一照明测试电路可形成于在第一方向1ST DIRECTION上与显示区域DA相邻的非显示区域NDA中。在显示面板410的照明测试处理中，第一照明测试电路可将照明测试电压通过数据线提供到显示区域DA的像素行。解复用器可形成于在第一方向1ST DIRECTION上与第一照明测试电路相邻的非显示区域NDA中。当驱动显示面板410时，解复用器可将数据信号DS通过数据线提供到显示区域DA的像素行。第二照明测试电路可形成于在第一方向1ST DIRECTION上与解复用器相邻的非显示区域NDA中。在显示面板410的照明测试处理中，第二照明测试电路可将照明测试电压通过数据线提供到像素行。非显示区域NDA可包括提供数据信号DS的数据集成电路的安装区域。将数据集成电路和第二照明测试电路耦接的连接线可设置在数据集成电路的安装区域和解复用器之间。在示例实施例中，第二照明测试电路可与数据集成电路(的安装区域)重叠。在示例实施例中，第二照明测试电路可形成于在第一方向1ST DIRECTION上与数据集成电路的安装区域相邻的切割区域中。
在示例实施例中，第一照明测试电路可将照明测试电压提供到第二像素并且第二照明测试电路可将照明测试电压提供到第一像素行和第三像素行。第一照明测试电路可响应于第三测试控制信号将第三照明测试电压提供到第二像素行。第二像素行中包括的第三像素可响应于第三照明测试电压而发光。第二照明测试电路可响应于第一测试控制信号将第一照明测试电压通过连接线提供到解复用器，或者响应于第二测试控制信号将第二照明测试电压通过连接线提供到解复用器。可将第一测试控制信号和第二测试控制信号交替提供到第二照明测试电路。解复用器可响应于第一控制信号将通过连接线提供的第一照明测试电压或第二照明测试电压提供到第一像素行和第三像素行。第一像素行和第三像素行中包括的第一像素可响应于第一照明测试电压而发光，并且第二照明测试电路可响应于第二照明测试电压而发光。在第二照明测试电路中，可将第一照明测试电压和第二照明测试电压交替提供到第一像素行和第三像素行。因此，第一像素行和第三像素行中包括的第一像素和第三像素可交替发光。
在示例实施例中，第一照明测试电路可将照明测试电压提供到第一像素行和第三像素行，并且第二照明测试电路可将照明测试电压提供到第二像素行。第一照明测试电路可响应于第一测试控制信号将第一照明测试电压提供到第一像素行和第三像素行，或者响应于第二测试控制信号将第二照明测试电压提供到第一像素行和第三像素行。可将第一测试控制信号和第二测试控制信号交替提供到第一照明测试电路。第一像素行和第三像素行中包括的第一像素可响应于第一照明测试电压而发光，并且第二像素可响应于第二照明测试电压而发光。由于将第一测试控制信号和第二测试控制信号交替提供到第一照明测试电路，因此可将第一照明测试电压和第二照明测试电压交替提供到第一像素行和第三像素行。因此，第一像素行和第三像素行中包括的第一像素和第三像素可交替发光。第二照明测试电路可响应于第三测试控制信号将第三照明测试电压通过连接线提供到解复用器。解复用器可响应于第二控制信号将第三照明测试电压提供到第二像素行。第二像素行中包括的第三像素可响应于第三照明测试电压而发光。
当驱动显示装置400时，数据驱动器420可产生提供到像素行的数据信号DS。数据驱动器420可基于从时序控制器440提供的第二图像数据DATA2和第一时序控制信号CTL1产生数据信号DS，并且将数据信号DS通过显示面板410中的数据线提供到像素行。数据驱动器420可实现为数据集成电路。数据集成电路可安装在安装区域中。数据集成电路可在显示装置400的照明测试处理之后安装在安装区域上。
扫描驱动器430可产生提供到像素行的扫描信号SS。扫描驱动器430可基于从时序控制器440提供的第二时序控制信号CTL2产生扫描信号SS，并且将扫描信号SS通过显示面板410中的扫描线提供到像素行。扫描线可形成在与数据线的垂直方向上。扫描驱动器430可形成在显示面板410的非显示区域NDA中。可替代地，扫描驱动器430可实现为集成电路并且安装在非显示区域NDA上。可替代地，扫描驱动器430可实现为薄膜覆晶(chip on film，COF)并且安装在非显示区域NDA上。
时序控制器440可从外部装置接收时序控制信号CON并且产生用于控制数据驱动器420和扫描驱动器430的时序的第一时序控制信号CTL1和第二时序控制信号CTL2。此外，时序控制器440可从外部装置接收第一图像数据DATA1并且将第一图像数据DATA1转换为第二图像数据DATA2。时序控制器440可提供第一图像数据DATA1作为第二图像数据DATA2。可替代地，时序控制器440可通过补偿第一图像数据DATA1将第二图像数据DATA2提供到数据驱动器420。
根据示例实施例的显示装置400可包括用于在显示面板410的显示区域DA中形成的像素行的照明测试的形成在非显示区域NDA中的第一照明测试电路和第二照明测试电路。通过将第二照明测试电路布置在与数据集成电路的安装区域重叠的区域中或者在照明测试处理之后被切除的切割区域中，非显示区域NDA(即，无用空间(dead space))可减小。
图7A是示出图6的显示装置中包括的显示面板的示例的图，并且图7B是示出显示面板的剖面的剖视图。
参照图7A，显示装置的显示面板510可包括显示区域DA和非显示区域NDA。多个像素行PX_L1、PX_L2、PX_L3和数据线DL可形成在显示区域DA中。形成为与显示区域DA的一侧相邻的第一照明测试电路512、形成为与第一照明测试电路512的一侧相邻的解复用器514和形成为与解复用器514的一侧相邻的第二照明测试电路516位于非显示区域NDA中。第二照明测试电路516可与安装区域重叠和/或与数据集成电路520重叠。如图7B中所示，第二照明测试电路516可形成在数据集成电路520的安装区域下面，并且可位于数据集成电路520和显示面板510的基底之间。数据集成电路520在照明测试处理期间可不安装在显示面板510上并且可在照明测试处理之后安装。第二照明测试电路516可与数据集成电路520的安装区域重叠使得显示面板510的非显示区域NDA可最小化。
图8A是示出图6的显示装置中包括的显示面板的图，并且图8B是示出图8A的其中在照明测试处理之后切除第二照明测试电路的显示面板的图。
参照图8A，显示装置的显示面板610可包括显示区域DA和非显示区域NDA。多个像素行PX_L1、PX_L2、PX_L3和数据线DL可形成在显示区域DA中。形成为与显示区域DA的一侧相邻的第一照明测试电路612、形成为与第一照明测试电路612的一侧相邻的解复用器614和形成为与解复用器614的一侧相邻的第二照明测试电路616位于非显示区域NDA中。第二照明测试电路616可形成在与数据集成电路620的安装区域618的一侧相邻的切割区域CA中。如图8B中所示，在显示装置的照明测试处理之后，可将切割区域切除/去除并且可将数据集成电路620安装在数据集成电路620的安装区域618上。第二照明测试电路616可形成在切割区域CA中并且可在照明测试处理之后被切除/去除，使得显示面板610的非显示区域NDA可减小。
实施例可适用于显示装置和具有显示装置的电子装置。例如，实施例可适用于计算机监视器、笔记本计算机、数码相机、移动电话、智能电话、智能平板、电视机、个人数字助理(PDA)、便携式多媒体播放器(PMP)、MP3播放器、导航系统、游戏机、视频电话等。
前述说明了示例实施例，而不被解释为限制。尽管已经描述了一些示例实施例，但是本领域技术人员将易于理解的是，在示例实施例中可能进行很多修改。因此，所有这些修改旨在被包括在权利要求中限定的范围内。
Claims (13)
1.一种显示面板，包括：
第一数据线和第二数据线，所述第一数据线和第二数据线每个在第一方向上延伸；
第一像素组，所述第一像素组电连接到所述第一数据线；
第二像素组，所述第二像素组电连接到所述第二数据线；
第一照明测试电路，所述第一照明测试电路配置为将第一照明测试电压通过所述第一数据线和所述第二数据线中的至少一个提供到所述第一像素组的像素和所述第二像素组的像素中的至少一个；
解复用器，所述解复用器配置为将数据信号分别通过所述第一数据线和所述第二数据线提供到所述第一像素组和所述第二像素组；和
第二照明测试电路，所述第二照明测试电路配置为将第二照明测试电压通过所述第一数据线和所述第二数据线中的一个或多个提供到所述第一像素组的所述像素和所述第二像素组的所述像素中的一个或多个，其中，所述第一照明测试电路和所述解复用器中的至少一个在所述第一方向上位于所述第二照明测试电路和所述第一像素组之间。
2.根据权利要求1所述的显示面板，其中，所述显示面板还包括：数据集成电路，所述数据集成电路配置为将所述数据信号提供到所述解复用器。
3.根据权利要求2所述的显示面板，其中，所述第二照明测试电路与所述数据集成电路重叠。
4.根据权利要求2所述的显示面板，其中，所述数据集成电路在所述第一方向上位于所述第二照明测试电路和所述解复用器之间。
5.根据权利要求1所述的显示面板，其中，所述显示面板还包括：
第三数据线，所述第三数据线在与所述第一方向不同的第二方向上延伸；和
第三像素组，所述第三像素组电连接到所述第三数据线，
其中，所述第一像素组包括显示第一颜色的第一个第一颜色像素和显示第二颜色的第一个第二颜色像素，
其中，所述第二像素组包括显示第三颜色的第三颜色像素，
其中，所述第三像素组包括显示所述第一颜色的第二个第一颜色像素和显示所述第二颜色的第二个第二颜色像素，
其中，所述第一个第一颜色像素在所述第二方向上与所述第二个第二颜色像素对齐，并且
其中，所述第一个第二颜色像素在所述第二方向上与所述第二个第一颜色像素对齐。
6.根据权利要求5所述的显示面板，其中，所述第一照明测试电路配置为将所述第一照明测试电压提供到所述第二像素组，并且
其中，所述第二照明测试电路配置为将所述第二照明测试电压提供到所述第一像素组和所述第三像素组。
7.根据权利要求6所述的显示面板，其中，所述第二照明测试电路配置为将所述第二照明测试电压交替提供到所述第一个第一颜色像素和所述第一个第二颜色像素。
8.根据权利要求6所述的显示面板，其中，所述第一照明测试电路包括晶体管，所述晶体管配置为响应于测试控制信号将第三照明测试电压提供到所述第三颜色像素。
9.根据权利要求6所述的显示面板，其中，所述第二照明测试电路包括：
第一晶体管，所述第一晶体管配置为响应于第一控制信号将第一测试电压提供到所述第一个第一颜色像素；和
第二晶体管，所述第二晶体管配置为响应于第二控制信号将第二测试电压提供到所述第一个第二颜色像素。
10.根据权利要求5所述的显示面板，其中，所述第一照明测试电路配置为将所述第一照明测试电压提供到所述第一像素组和所述第三像素组，并且
其中，所述第二照明测试电路配置为将所述第二照明测试电压提供到所述第二像素组。
11.根据权利要求10所述的显示面板，其中，所述第一照明测试电路配置为将所述第一照明测试电压交替提供到所述第一个第一颜色像素和所述第一个第二颜色像素。
12.根据权利要求10所述的显示面板，其中，所述第一照明测试电路包括：
第一晶体管，所述第一晶体管配置为响应于第一控制信号将第一测试电压提供到所述第一个第一颜色像素；和
第二晶体管，所述第二晶体管配置为响应于第二控制信号将第二测试电压提供到所述第一个第二颜色像素。
13.根据权利要求10所述的显示面板，其中，所述第二照明测试电路包括晶体管，所述晶体管配置为响应于测试控制信号将第三照明测试电压提供到所述第三颜色像素。
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