CN110241439A - 一种等离子体处理制备表面羟基化wo3薄膜光电极材料的方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种等离子体处理制备表面羟基化WO3薄膜光电极材料的方法,具体步骤为:先在FTO导电玻璃表面制备WO3晶种,然后以H2WO4的H2O2溶液、乙腈、草酸和盐酸溶液为原料,在WO3晶种表面水热生长纳米片状WO3;后采用低温等离子体技术对WO3薄膜电极表面进行处理,得到表面羟基化的WO3薄膜。本发明制备的表面羟基化WO3薄膜与水的润湿性好,体相载流子浓度增加,界面电荷转移加快,有效促进了光电催化水分解性能。并且,等离子体处理WO3薄膜工艺简单,节能环保,无公害,效率高,时间短,对大规模处理WO3光电极提供了一种重要途径。
Description
技术领域
本发明涉及材料领域,特别是涉及一种等离子体处理制备表面羟基化WO3薄膜光电极材料的方法,主要作为光阳极材料,用于光电催化水分解产氢。
背景技术
光电化学水分解是制备可再生氢气的有效、绿色途径,近年来吸引了越来越多研究者的关注。其中,半导体光电极材料的设计和选择是实现高效光电催化水分解的关键。半导体光电催化水分解主要涉及光吸收、载流子的分离和转移,以及半导体/溶液界面的化学反应这三个步骤,任何一个步骤效率低下都会抑制光电催化过程的量子效率。因此,开发高效光电极材料,需要满足以下几点:1)降低半导体的带隙,增加半导体电极的光谱吸收范围;2)抑制载流子的复合,促进载流子分离和转移,提升载流子体相电导率;3)促进半导体/溶液界面的电荷转移。但是,目前还没有半导体能满足以上全部要求。例如,TiO2虽价格低廉、性质稳定,但其带隙(3.2eV)较大,仅能吸收太阳能光谱的紫外光部分。而部分带隙较小的半导体,电子和空穴的还原和氧化能力减弱,不利于界面的电荷转移反应。
在各种半导体光电极材料中,WO3材料由于其廉价,无毒和良好的光吸收性质而被广泛应用于光电催化水分解领域,成为近年来的明星材料。特别地,WO3的价带电位较正,光生空穴具有较强的氧化力,能够将水分解为氧气。尽管如此,WO3光阳极的电流密度远低于其理论最大光电流密度,主要归因于载流子复合太快,而界面电荷转移较慢。为此,研究者尝试了多种策略与途径来提高WO3光电极材料的活性,比如,结构调控、掺杂、表面改性等。在光电催化过程中,氧空位的调控被证实能够显著改变半导体的光电特性,进而实现更加高效的太阳能到氢能的转化。例如,在缺氧的环境中,当氮气或者氢气等还原性气体存在时,通过高温煅烧可制备出含氧缺陷的WO3薄膜电极,并显著改善其光电催化水分解性能。但是,这些改性方法均涉及到高温煅烧过程,需消耗大量的电能,增加了制备成本。而且,氢气等易燃易爆气体的使用,增加了实验过程的危险性,不利于工业上的大批量生产。因此,氧缺陷的引入和调控急需一种低成本、高效的技术路线。
作为一种新兴的合成和表面改性手段,等离子体处理技术最近被广泛用于电化学器件和纳米材料的改性。该技术可以制造出具有特殊表面性质的材料,其效果往往是其他商业技术手段无法比拟的。等离子体是指物质的第四状态,通过足够的能量可以激活气体产生等离子体。对于不完全电离过程,等离子体由非离子化分子、高速运动的电子、受激原子、离子和自由基物种组成。在本发明中,我们利用射频放电激发空气来产生等离子体,产生的离子、激发态分子和自由基等活性粒子与WO3电极表面发生化学反应,引入羟基基团,充当WO3电极表面的氧缺陷,进而增加WO3电极体相的载流子浓度。另外,羟基基团的引入还可以增加WO3电极表面对水分子的亲和力,提升水分子的吸附,有效提高了WO3电极光电催化水分解的活性。据我们所知,这是第一次尝试采用低温等离子体技术制备表面羟基化的WO3光电极材料,该制备工艺简单,能耗低,时间短,成本低,可实现批量生产,该制备方法的开发对其他半导体材料的改性具有重要的借鉴意义。
发明内容
基于现有技术的不足,本发明的目的在于提供一种等离子体处理制备表面羟基化WO3薄膜光电极材料的方法,本发明先通过旋涂法在氟掺杂的SnO2透明导电玻璃(FTO)上生长WO3晶种,然后通过水热法在WO3晶种表面进一步生长纳米片状WO3。随后采用空气等离子处理WO3电极表面,通过等离子体产生的自由基引发WO3薄膜表面的羟基化反应。
本发明的目的通过以下操作步骤实现:
1)称取1-5g H2WO4和1-2g聚乙烯醇(PVA),溶解在15-30ml的H2O2(30wt%)中,通过旋涂仪将200uL该溶液均匀旋涂至FTO导电玻璃上,待室温干燥后,在空气中500℃煅烧2h,升温速率180℃/h,FTO玻璃表面获得一层WO3晶种;
2)将钨酸加入到30wt%的H2O2溶液中,95℃加热2h,使H2WO4完全溶解,得到一定浓度的H2WO4溶液;往该溶液里分别加入乙腈、草酸和盐酸(6mol/L),搅拌均匀,转入反应釜中,放入含有WO3晶种的FTO玻璃,150-190℃反应1-5小时,自然冷却至室温,取出,水洗,自然干燥,400-600℃煅烧1-5小时;
3)将制备好的WO3薄膜电极放入低温等离子清洗机内,利用空气等离子体对WO3电极进行射频放电改性处理,设置等离子体清洗机的处理时间、功率以及空气流量,即得表面羟基化的WO3薄膜光电极材料。
优选地,步骤2所述H2WO4溶液浓度为0.01-0.1mol/L。
优选地,步骤2所述乙腈加入体积为8-10ml,草酸加入量为0.15-0.3g,盐酸(6mol/L)加入体积为0.4-0.7ml。
优选地,步骤3所述处理时间为1-60min,功率为20-250W,空气流量为200-500ml/min。
本发明的有益效果是:在不影响WO3薄膜本体结构和晶相的前提下,赋予了WO3电极表面新的特性,该过程操作简单,成本低廉,环境友好,且工艺的使用范围广,易于实现其工业化连续生产。并且,所制备的表面羟基化WO3薄膜光阳极亲水性明显提高,导电率增加,在pH为7的磷酸钠电解质中,表面羟基化WO3薄膜展现了优异的光电催化水分解性能。
附图说明
图1为实施例一中制备的WO3薄膜的X射线衍射图;
图2为实施例一中制备的WO3和表面羟基化WO3薄膜的紫外可见漫反射图谱;
图3为实施例一中制备的WO3和表面羟基化WO3薄膜电极在暗态和光照下的线性扫描伏安曲线图;
图4为实施例一中制备的WO3薄膜电极的扫描电镜图;
图5为实施例一中制备的表面羟基化WO3薄膜电极的扫描电镜图;
图6为实施例一中制备的WO3和表面羟基化WO3薄膜电极的静态水接触角测试。
具体实施方式
为了更好的理解本发明,下面结合实施例和附图进一步阐明本发明的内容,但本发明的内容不仅仅局限于下面的实施例。
实施例一
一种等离子体处理制备表面羟基化WO3薄膜光电极材料的方法,具体步骤如下:称取1.25g的H2WO4和0.5g聚乙烯醇(PVA)溶解在17ml的H2O2(30wt%)中,移取200uL上述溶液旋涂到FTO上,旋涂机参数设置为低速500转/秒,时间10秒,高速1500转/秒,时间30秒;待FTO薄膜室温干燥后,在空气中500℃煅烧2h,升温速率180℃/h,得到WO3/FTO晶种;将1.25gH2WO4溶于30mL H2O中,加入17mL的30wt%的H2O2,在95℃加热2h,得到澄清溶液,定容至100ml容量瓶中,得0.05mol/L的H2WO4溶液;在10mL乙腈中加入3mL H2WO4(0.05mol/L)溶液、0.2g草酸和0.5mL浓度为6mol/l的盐酸溶液和2.5ml的去离子水,搅拌15min,使溶液充分搅拌均匀,导电面朝下,放入WO3/FTO玻璃,180℃水热2h,自然冷却至室温;取出WO3薄膜,在空气中500℃煅烧1h,即得WO3薄膜;将制备好的WO3薄膜电极放入低温等离子清洗机内,利用空气等离子体对WO3电极进行射频放电改性处理,设置等离子体清洗机的处理时间为5min、功率150W以及空气流量300ml/min,即得表面羟基化的WO3薄膜光电极材料。
实施例二
一种等离子体处理制备表面羟基化WO3薄膜光电极材料的方法,具体步骤如下:称取1.5g的H2WO4和0.6g聚乙烯醇(PVA)溶解在20ml的H2O2(30wt%)中,移取200uL上述溶液旋涂到FTO上,旋涂机参数设置为低速600转/秒,时间15秒,高速1800转/秒,时间20秒;待FTO薄膜室温干燥后,在空气中500℃煅烧2h,升温速率180℃/h,得到WO3/FTO晶种;将1.5gH2WO4溶于30mL H2O中,加入20mL的30wt%的H2O2,在95℃加热2h,得到澄清溶液,定容至100ml容量瓶中,得0.06mol/L的H2WO4溶液;在10mL乙腈中加入3mL H2WO4(0.06mol/L)溶液、0.2g草酸和0.5mL浓度为6mol/l的盐酸溶液和2.5ml的去离子水,搅拌15min,使溶液充分搅拌均匀,导电面朝下,放入WO3/FTO玻璃,180℃水热2h,自然冷却至室温;取出WO3薄膜,在空气中500℃煅烧1h,即得WO3薄膜;将制备好的WO3薄膜电极放入低温等离子清洗机内,利用空气等离子体对WO3电极进行射频放电改性处理,设置等离子体清洗机的处理时间为10min、功率100W以及空气流量250ml/min,即得表面羟基化的WO3薄膜光电极材料。
实施例三
一种等离子体处理制备表面羟基化WO3薄膜光电极材料的方法,具体步骤如下:称取2g的H2WO4和0.8g聚乙烯醇(PVA)溶解在25ml的H2O2(30wt%)中,移取200uL上述溶液旋涂到FTO上,旋涂机参数设置为低速800转/秒,时间10秒,高速2000转/秒,时间20秒;待FTO薄膜室温干燥后,在空气中500℃煅烧2h,升温速率180℃/h,得到WO3/FTO晶种;将1.25g H2WO4溶于30mL H2O中,加入17mL的30wt%的H2O2,在95℃加热2h,得到澄清溶液,定容至100ml容量瓶中,得0.05mol/L的H2WO4溶液;在10mL乙腈中加入3mL H2WO4(0.05mol/L)溶液、0.2g草酸和0.5mL浓度为6mol/l的盐酸溶液和2.5ml的去离子水,搅拌15min,使溶液充分搅拌均匀,导电面朝下,放入WO3/FTO玻璃,180℃水热2h,自然冷却至室温;取出WO3薄膜,在空气中500℃煅烧1h,即得WO3薄膜;将制备好的WO3薄膜电极放入低温等离子清洗机内,利用空气等离子体对WO3电极进行射频放电改性处理,设置等离子体清洗机的处理时间为20min、功率150W以及空气流量400ml/min,即得表面羟基化的WO3薄膜光电极材料。
实施例四
一种等离子体处理制备表面羟基化WO3薄膜光电极材料的方法,具体步骤如下:称取1.25g的H2WO4和0.5g聚乙烯醇(PVA)溶解在17ml的H2O2(30wt%)中,移取200uL上述溶液旋涂到FTO上,旋涂机参数设置为低速500转/秒,时间10秒,高速1500转/秒,时间30秒;待FTO薄膜室温干燥后,在空气中500℃煅烧2h,升温速率180℃/h,得到WO3/FTO晶种;将1.25gH2WO4溶于30mL H2O中,加入17mL的30wt%的H2O2,在95℃加热2h,得到澄清溶液,定容至100ml容量瓶中,得0.05mol/L的H2WO4溶液;在10mL乙腈中加入3mL H2WO4(0.05mol/L)溶液、0.2g草酸和0.5mL浓度为6mol/l的盐酸溶液和2.5ml的去离子水,搅拌15min,使溶液充分搅拌均匀,导电面朝下,放入WO3/FTO玻璃,180℃水热2h,自然冷却至室温;取出WO3薄膜,在空气中500℃煅烧1h,即得WO3薄膜;将制备好的WO3薄膜电极放入低温等离子清洗机内,利用空气等离子体对WO3电极进行射频放电改性处理,设置等离子体清洗机的处理时间为10min、功率150W以及空气流量250ml/min,即得表面羟基化的WO3薄膜光电极材料。
对实施例一中制备的WO3和表面羟基化的WO3薄膜进行表征,结果说明如下
图1为制备的WO3薄膜的X射线衍射图谱,衍射峰强度高且尖锐,说明在高温煅烧之后,WO3结晶性好。根据MDI jade检索软件匹配可知,该衍射图对应于单斜WO3晶相。根据Scherrer方程,可以计算晶粒的尺寸为35nm。
图2为制备的WO3和表面羟基化WO3薄膜的紫外可见吸收漫反射图,两种薄膜在波长低于450nm处展现了明显的吸收特性,说明WO3是一种可见光响应型半导体。有趣的是,两者的吸收光谱形状和吸收几乎一致,表明空气等离子处理对WO3的光吸收性质影响较少。基于上述结果,说明等离子处理对半导体材料的体相性质影响甚微。
图3为制备的WO3和表面羟基化WO3薄膜电极在暗态和光照下的线性扫描伏安曲线图,实验采用德国Zahner电化学工作站,WO3或者表面羟基化WO3薄膜电极作为工作电极,铂网为对电极,饱和甘汞电极为参比电极,光源为中教金源生产的模拟太阳光系统(CEL-S500),扫描速度设置为20mV/s,电解质为0.1mol/L的磷酸钠缓冲液,pH为7。测试前,溶液先鼓氮气半小时,以去除溶液中的氧气。由图可知,暗态下,WO3和表面羟基化WO3薄膜电极的电流仅微安级别,说明暗态下不产生明显的电催化水分解效果。光照后,WO3光电催化水分解的电流密度明显增加,当电位在0.6V(vs.SCE)以上时,电流密度甚至高达毫安级别。当使用表面羟基化的WO3作为工作电极时,在整个电位区间范围内,其光电流密度均比WO3电极大。并且,表面羟基化WO3薄膜电极的水分解起始电位减少为-0.04V(vs.SCE),比WO3薄膜电极的0.05V(vs.SCE)明显要低,这些现象说明等离子技术处理WO3电极是提升WO3活性的一种有效手段。
图4和图5分别为上述步骤所制备的WO3和表面羟基化WO3薄膜的扫描电镜图,由图可知,WO3由纳米片组成,纳米片表面有很多孔洞,有效增加了片层结构的比表面积,但等离子处理对WO3纳米片的形貌没有影响,这是因为等离子处理是一种比较温和的表面处理技术,该过程不涉及剧烈的化学反应,对WO3结构影响较小。
图6为制备的WO3和表面羟基化WO3薄膜电极的静态水接触角测试,经空气等离子处理后,水滴在WO3薄膜表面的接触角由38度降低为10度,说明等离子体处理后WO3薄膜表面的亲水性大幅提高,这得益于WO3薄膜表面羟基基团的引入,有利于水分子在电极表面的吸附,进而提高了WO3薄膜光电极的水分解性能。
Claims (6)
1.一种等离子体处理制备表面羟基化WO3薄膜光电极材料的方法,其特征在于包括以下步骤:
1)称取1-5g H2WO4和1-2g聚乙烯醇(PVA),溶解在15-30ml的H2O2(30wt%)溶液中,通过旋涂仪将200uL该溶液均匀旋涂至FTO导电玻璃上,待室温干燥后,在500℃空气中煅烧2h,升温速率180℃/h,FTO玻璃表面获得一层WO3晶种;
2)将钨酸加入到30wt%的H2O2溶液中,95℃加热2h,使H2WO4完全溶解,得到一定浓度的H2WO4溶液;往该溶液里分别加入乙腈、草酸和盐酸(6mol/L),搅拌均匀,转入反应釜中,放入含有WO3晶种的FTO玻璃,150-190℃反应1-5小时,自然冷却至室温,取出,水洗,干燥,400-600℃煅烧1-5小时;
3)将制备好的WO3薄膜电极放入低温等离子清洗机内,利用空气等离子体对WO3电极进行射频放电改性处理,设置等离子体清洗机的处理时间、功率以及空气流量,即得表面羟基化的WO3薄膜光电极材料。
2.根据权利要求1所述的一种等离子体处理制备表面羟基化WO3薄膜光电极材料的方法,其特征在于步骤2所述H2WO4溶液浓度为0.01-0.1mol/L。
3.根据权利要求1所述的一种等离子体处理制备表面羟基化WO3薄膜光电极材料的方法,其特征在于,步骤2所述加入乙腈、草酸和盐酸,其中乙腈加入体积为8-10ml,草酸加入量为0.15-0.3g,盐酸加入体积为0.4-0.7ml。
4.根据权利要求1所述的一种等离子体处理制备表面羟基化WO3薄膜光电极材料的方法,其特征在于,步骤3所述处理时间为1-60min。
5.根据权利要求1所述的一种等离子体处理制备表面羟基化WO3薄膜光电极材料的方法,其特征在于,步骤3所述功率为20-250W。
6.根据权利要求1所述的一种等离子体处理制备表面羟基化WO3薄膜光电极材料的方法,其特征在于,步骤3所述空气流量为200-500ml/min。
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