CN110196504A - 一种应用于lcd玻璃aoi测试的屏蔽干扰污点方法及系统 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种应用于LCD玻璃AOI测试的屏蔽干扰污点方法及系统，包括步骤：断开LCD玻璃的脚位供电，对LCD玻璃显示界面进行拍照得到初始图像；对LCD玻璃的单一脚位进行供电，对LCD玻璃显示界面进行拍照得到显示图像；对显示图像与模板图像进行对比，得到第一差异图像；对第一差异图像与初始图像对比，得到真实差异图像。能够实现对LCD玻璃上的污点进行屏蔽，使LCD玻璃通电后产生的图像进行准确识别，避免LCD玻璃因为玻璃上的污点而影响LCD玻璃正常生产的缺陷。
Description
技术领域
本发明涉及LCD检测设备领域，尤其涉及的是一种应用于LCD玻璃AOI测试的屏蔽干扰污点方法及系统。
背景技术
LCD白玻璃是电子设备中用于显示的元器件，其中包括用于显示的玻璃屏和用于连接的引脚，在LCD玻璃生产过程中，需要检验LCD玻璃是否能合格。
现有的检验过程为通过AOI设备进行测试，对LCD的脚位进行通电，通电后的脚位显示对应的图像，通过对图像进行拍照后与标准模板进行对比，得到差异图像，最后检验差异图像是否满足合格品的要求，但是现有的LCD玻璃在生产过程中，会对玻璃进行标记，或玻璃上残留有污迹，这样的污点与通电后产生的图像交汇在一起，从而对差异图像的判定产生干扰，由于这样的污点干扰，无法对通电后的LCD玻璃所产生的图像进行准确识别，从而导致LCD玻璃的AOI测试的结果不准确，影响LCD玻璃的正常生产。
因此，现有技术还有待于改进和发展。
发明内容
本发明要解决的技术问题在于，针对现有技术的上述缺陷，提供一种应用于LCD玻璃AOI测试的屏蔽干扰污点方法及系统，能够实现对LCD玻璃上的污点进行屏蔽，使LCD玻璃通电后产生的图像进行准确识别，避免LCD玻璃因为玻璃上的污点而影响LCD玻璃正常生产的缺陷。
本发明解决技术问题所采用的技术方案如下：
一种应用于LCD玻璃AOI测试的屏蔽干扰污点方法，包括步骤：
断开LCD玻璃的脚位供电，对LCD玻璃显示界面进行拍照得到初始图像；
对LCD玻璃的单一脚位进行供电，对LCD玻璃显示界面进行拍照得到显示图像；
对显示图像与模板图像进行对比，得到第一差异图像；
对第一差异图像与初始图像对比，得到真实差异图像。
进一步，在对显示图像与模板图像进行对比，得到第一差异图像的具体步骤为；
对显示图像与模板图像进行差分运算；
根据运算结果生成第一差异图像。
进一步，在如果有干扰污点，则对干扰污点进行屏蔽的具体步骤为：
对第一差异图像与初始图像进行差分运算；
根据运算结果生成真实差异图像。
进一步，在对第一差异图像与初始图像对比，得到真实差异图像的步骤之后还包括有：
对真实差异图像进行判断是否满足合格图像的标准；
根据判断结果判断LCD玻璃的脚位是否合格。
一种应用于LCD玻璃AOI测试的屏蔽干扰污点系统，其中，包括有：
初始拍照模块，所述初始拍照模块用于断开LCD玻璃的脚位供电，对LCD玻璃显示界面进行拍照得到初始图像；
显示拍照模块，所述显示拍照模块用于对LCD玻璃的单一脚位进行供电，对LCD玻璃显示界面进行拍照得到显示图像；
第一分析对比模块，所述第一分析对比模块用于对显示图像与模板图像进行对比，得到第一差异图像；
差异分析对比模块，所述差异分析对比模块用于对第一差异图像与初始图像对比，得到真实差异图像。
进一步，所述第一分析对比模块具体包括有：
第一运算单元，所述第一运算单元用于对显示图像与模板图像进行差分运算；
第一差异图像生成单元，所述第一差异图像生成单元用于根据运算结果生成第一差异图像。
进一步，所述差异分析对比模块包括有：
第二运算单元，所述第二运算单元用于对第一差异图像与初始图像进行差分运算；
真实差异图像生成单元，所述判断单元用于根据运算结果生成真实差异图像。
进一步，还包括有合格判断模块，所述合格判断模块用于对真实差异图像进行判断是否满足合格图像的标准并根据判断结果判断LCD玻璃的脚位是否合格。
采用上述方案的有益效果是：本发明提供一种应用于LCD玻璃AOI测试的屏蔽干扰污点方法及系统，通过对LCD玻璃的初始状态进行拍照得到污点的初始图像，对单个LCD玻璃通电后产生的图像进行拍照得到显示图像，并通过显示图像与模板图像进行对比，对比后的图像与初始图像对比得到去除污点的真实差异图像，实现对LCD玻璃上的污点进行屏蔽，使LCD玻璃通电后产生的图像进行准确识别，避免LCD玻璃因为玻璃上的污点而影响LCD玻璃正常生产的缺陷。
附图说明
图1是本发明应用于LCD玻璃AOI测试的屏蔽干扰污点方法的实施例流程示意图。
图2是本发明应用于LCD玻璃AOI测试的屏蔽干扰污点方法的优选实施例流程示意图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚、明确，以下参照附图并举实施例对本发明进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
如图1、图2所示，本发明提出一种应用于LCD玻璃AOI测试的屏蔽干扰污点方法，包括有如下步骤：
步骤S100、断开LCD玻璃的脚位供电，对LCD玻璃显示界面进行拍照得到初始图像。
在本实施的步骤中， LCD玻璃至于AOI测试机中进行测试，LCD玻璃的脚位与AOI的供电模块连接，先断开LCD玻璃的脚位供电，使LCD玻璃不显示任何图像，对LCD玻璃的显示界面进行拍照，拍照后得到初始图像，如果LCD玻璃上有污点，则初始图像上会呈现出污点位置，初始图像也是污点图像。
步骤S200、对LCD玻璃的单一脚位进行供电，对LCD玻璃显示界面进行拍照得到显示图像。
具体的，对LCD玻璃的单一脚位进行供电，供电后LCD玻璃上显示出图像，该图像与该脚位相对应，对通电后的LCD玻璃的显示界面拍照，得到显示图像，显示图像上有对应脚位通电后显示的图案和LCD玻璃上的污点，如果拿显示图像与对应脚通电后所显示的图案的标准模板图像进行对比，则会应为污点的干扰而无法进行准确判断，因此需要去除污点的干扰。
步骤S300、对显示图像与模板图像进行对比，得到第一差异图像。
具体的实施过程中，模板图像为对应脚通电后所显示的图案的标准模板图像，对显示图像与模板图像进行对比，可以对比出差异的图像，该图像为第一差异图像，第一差异图像上包含有真实的差异图像及污点。
具体的步骤S300包括有以下步骤：
步骤S310、对显示图像与模板图像进行差分运算。
步骤S320、根据运算结果生成第一差异图像。
具体实施方式为，对显示图像与模板图像进行差分运算，通过差分运算处理图像的方式很多，如通过OpenCV计算机视觉库对两幅图像进行对应位置的像素值相减操作，得到差异的图像部分；再根据运算结果生成第一差异图像。
步骤S400、对第一差异图像与初始图像对比，得到真实差异图像。
具体的过程中，第一差异图像包含有：LCD玻璃通电后显示的图像与模板图像之间对比的真实差异图案，以及初始图像上的污点图案，通过对第一差异图像与初始图像对比可清除污点图案，从而使LCD玻璃上保留真实差异图案。
具体的步骤S400包括有以下步骤：
步骤S410、对第一差异图像与初始图像进行差分运算。
步骤S420、根据运算结果生成真实差异图像。
具体实施过程中，对第一差异图像与初始图像进行差分运算，通过差分运算处理图像的方式可采用步骤S310的方式，得到差异的图像部分；再根据运算结果生成真实差异图像。真实差异图像可以用于判断通电后的LCD所显示的图像是否满足合格产品的要求。
步骤S500、对真实差异图像进行判断是否满足合格图像的标准。
步骤S600、根据判断结果判断LCD玻璃的脚位是否合格。
具体的实施过程中，该过程为判断LCD玻璃在通电后所显示的内容是否合格的过程，即对LCD通电后所显示的图案与标准的模板图像进行对比后有差异值，该差异值在一定范围内是合格的，超出一定范围为次品，通过该标准对真实差异图像进行判断是否满足合格图像的标准，进而找出通电后产生图案所对应的脚位，判断脚位是否合格。
使用上述过程，对LCD玻璃的每个脚位依次通电，可对LCD玻璃的脚位逐一判断，从而可实现对整个LCD玻璃是否合格作出正确判断。
本实施例方法中，通过对LCD玻璃的初始状态进行拍照得到污点的初始图像，对单个LCD玻璃通电后产生的图像进行拍照得到显示图像，并通过显示图像与模板图像进行对比，对比后的图像与初始图像对比得到去除污点的真实差异图像，实现对LCD玻璃上的污点进行屏蔽，使LCD玻璃通电后产生的图像进行准确识别，避免LCD玻璃因为玻璃上的污点而影响LCD玻璃正常生产的缺陷。
本发明还提出一种应用于LCD玻璃AOI测试的屏蔽干扰污点系统,包括有：初始拍照模块，所述初始拍照模块用于断开LCD玻璃的脚位供电，对LCD玻璃显示界面进行拍照得到初始图像；显示拍照模块，所述显示拍照模块用于对LCD玻璃的单一脚位进行供电，对LCD玻璃显示界面进行拍照得到显示图像；第一分析对比模块，所述第一分析对比模块用于对显示图像与模板图像进行对比，得到第一差异图像；差异分析对比模块，所述差异分析对比模块用于对第一差异图像与初始图像对比，得到真实差异图像。
所述第一分析对比模块具体包括有：第一运算单元，所述第一运算单元用于对显示图像与模板图像进行差分运算；第一差异图像生成单元，所述第一差异图像生成单元用于根据运算结果生成第一差异图像。
所述差异分析对比模块包括有：第二运算单元，所述第二运算单元用于对第一差异图像与初始图像进行差分运算；真实差异图像生成单元，所述判断单元用于根据运算结果生成真实差异图像。
系统还包括有合格判断模块，所述合格判断模块用于对真实差异图像进行判断是否满足合格图像的标准并根据判断结果判断LCD玻璃的脚位是否合格。
该系统通过各模块的设置，与上述方法相对应，能执行上述方法。实现对LCD玻璃上的污点进行屏蔽，使LCD玻璃通电后产生的图像进行准确识别，避免LCD玻璃因为玻璃上的污点而影响LCD玻璃正常生产的缺陷。
综上所述，本发明提供一种应用于LCD玻璃AOI测试的屏蔽干扰污点方法及系统，通过对LCD玻璃的初始状态进行拍照得到污点的初始图像，对单个LCD玻璃通电后产生的图像进行拍照得到显示图像，并通过显示图像与模板图像进行对比，对比后的图像与初始图像对比得到去除污点的真实差异图像，实现对LCD玻璃上的污点进行屏蔽，使LCD玻璃通电后产生的图像进行准确识别，避免LCD玻璃因为玻璃上的污点而影响LCD玻璃正常生产的缺陷。
应当理解的是，本发明的应用不限于上述的举例，对本领域普通技术人员来说，可以根据上述说明加以改进或变换，所有这些改进和变换都应属于本发明所附权利要求的保护范围。
Claims (8)
1.一种应用于LCD玻璃AOI测试的屏蔽干扰污点方法，其特征在于，包括步骤：
断开LCD玻璃的脚位供电，对LCD玻璃显示界面进行拍照得到初始图像；
对LCD玻璃的单一脚位进行供电，对LCD玻璃显示界面进行拍照得到显示图像；
对显示图像与模板图像进行对比，得到第一差异图像；
对第一差异图像与初始图像对比，得到真实差异图像。
2.根据权利要求1所述的应用于LCD玻璃AOI测试的屏蔽干扰污点方法，其特征在于：在对显示图像与模板图像进行对比，得到第一差异图像的具体步骤为；
对显示图像与模板图像进行差分运算；
根据运算结果生成第一差异图像。
3.根据权利要求1所述的应用于LCD玻璃AOI测试的屏蔽干扰污点方法，其特征在于：在如果有干扰污点，则对干扰污点进行屏蔽的具体步骤为：
对第一差异图像与初始图像进行差分运算；
根据运算结果生成真实差异图像。
4.根据权利要求1所述的应用于LCD玻璃AOI测试的屏蔽干扰污点方法，其特征在于：在对第一差异图像与初始图像对比，得到真实差异图像的步骤之后还包括有：
对真实差异图像进行判断是否满足合格图像的标准；
根据判断结果判断LCD玻璃的脚位是否合格。
5.一种应用于LCD玻璃AOI测试的屏蔽干扰污点系统，其特征在于，包括有：
初始拍照模块，所述初始拍照模块用于断开LCD玻璃的脚位供电，对LCD玻璃显示界面进行拍照得到初始图像；
显示拍照模块，所述显示拍照模块用于对LCD玻璃的单一脚位进行供电，对LCD玻璃显示界面进行拍照得到显示图像；
第一分析对比模块，所述第一分析对比模块用于对显示图像与模板图像进行对比，得到第一差异图像；
差异分析对比模块，所述差异分析对比模块用于对第一差异图像与初始图像对比，得到真实差异图像。
6.根据权利要求5所述的应用于LCD玻璃AOI测试的屏蔽干扰污点系统，其特征在于，所述第一分析对比模块具体包括有：
第一运算单元，所述第一运算单元用于对显示图像与模板图像进行差分运算；
第一差异图像生成单元，所述第一差异图像生成单元用于根据运算结果生成第一差异图像。
7.根据权利要求5所述的应用于LCD玻璃AOI测试的屏蔽干扰污点系统，其特征在于，所述差异分析对比模块包括有：
第二运算单元，所述第二运算单元用于对第一差异图像与初始图像进行差分运算；
真实差异图像生成单元，所述判断单元用于根据运算结果生成真实差异图像。
8.根据权利要求5所述的应用于LCD玻璃AOI测试的屏蔽干扰污点系统，其特征在于，还包括有：
合格判断模块，所述合格判断模块用于对真实差异图像进行判断是否满足合格图像的标准并根据判断结果判断LCD玻璃的脚位是否合格。
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Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US20070071304A1 (en) * | 2005-09-27 | 2007-03-29 | Sharp Kabushiki Kaisha | Defect detecting device, image sensor device, image sensor module, image processing device, digital image quality tester, and defect detecting method |
| JP2008014842A (ja) * | 2006-07-06 | 2008-01-24 | Seiko Epson Corp | シミ欠陥検出方法及び装置 |
| CN105259181A (zh) * | 2015-10-26 | 2016-01-20 | 华为技术有限公司 | 显示屏的显示缺陷检测方法、装置及设备 |
| CN106198569A (zh) * | 2016-08-03 | 2016-12-07 | 广东工业大学 | 一种ltps/igzo玻璃基板破洞快速检测方法 |
| CN109656033A (zh) * | 2017-10-12 | 2019-04-19 | 凌云光技术集团有限责任公司 | 一种区分液晶显示屏灰尘和缺陷的方法及装置 |
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Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US20070071304A1 (en) * | 2005-09-27 | 2007-03-29 | Sharp Kabushiki Kaisha | Defect detecting device, image sensor device, image sensor module, image processing device, digital image quality tester, and defect detecting method |
| JP2008014842A (ja) * | 2006-07-06 | 2008-01-24 | Seiko Epson Corp | シミ欠陥検出方法及び装置 |
| CN105259181A (zh) * | 2015-10-26 | 2016-01-20 | 华为技术有限公司 | 显示屏的显示缺陷检测方法、装置及设备 |
| CN106198569A (zh) * | 2016-08-03 | 2016-12-07 | 广东工业大学 | 一种ltps/igzo玻璃基板破洞快速检测方法 |
| CN109656033A (zh) * | 2017-10-12 | 2019-04-19 | 凌云光技术集团有限责任公司 | 一种区分液晶显示屏灰尘和缺陷的方法及装置 |
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