CN109656033A - 一种区分液晶显示屏灰尘和缺陷的方法及装置 - Google Patents

Abstract

本申请公开一种区分液晶显示屏灰尘和缺陷的方法及装置，方法包括：获取待检测液晶显示屏的待检测正拍图像和待检测斜拍图像；缩放待检测正拍图像和待检测斜拍图像，得到尺寸相等的缩放正拍图像和缩放斜拍图像；确定仿射变换矩阵；根据仿射变换矩阵对缩放斜拍图像进行仿射变换，得到配准图像；分别提取缩放正拍图像和配准图像的准缺陷坐标，保存为第一集合和第二集合；逐个计算已匹配的第一集合的元素与第二集合的元素之间的视差，得到视差集合；比较视差集合内元素与距离阈值，确定准缺陷是否为真实缺陷。本申请实施例中，通过获取待检测正拍图像和待检测斜拍图像，得到各准缺陷的视差，通过与距离阈值对比，得到是否为真实缺陷。

Description

一种区分液晶显示屏灰尘和缺陷的方法及装置

技术领域

本申请涉及液晶显示屏检测技术领域，特别涉及一种区分液晶显示屏灰尘和缺陷的方法及装置。

背景技术

液晶显示屏，英文简称为LCD，是属于平面显示器的一种，用于电视机及计算机的屏幕显示。液晶显示屏具有耗电量低、体积小、辐射低的优点，深受使用者的喜爱。液晶显示屏由上至下依次由TP玻璃、上偏光片、第一玻璃基板、液晶层、第二玻璃基板、下偏光片和背光模块组成。而在液晶显示屏中的液晶层经常会出现缺陷，造成使用者在使用液晶显示屏时，出现播放画面有坏点的现象，影响画面质量，导致使用者的观感不佳。

现有技术中，液晶显示屏的检测方法是使用工业相机，在对焦清晰的前提下，通过工业相机拍摄液晶显示屏点亮时的显示状态，将显示状态转化为图像，然后利用视觉处理系统对图像进行处理，最后得到此液晶显示屏是否为良品或者不良的结果。

然而，由于受到外界环境干扰，不可避免的在液晶显示屏中引入灰尘等其他杂质，工业相机在常规直视拍摄的情况下，灰尘与缺陷在相机靶面的成像是一致的，无法准确区分，对缺陷检测的结果造成干扰，比如引起过度检测，将灰尘归结到液晶层的缺陷中。因此，现有技术中检测液晶显示屏的方法不能准确检测到液晶显示屏的缺陷，产生过度检测，影响生产液晶显示屏的效率。

发明内容

本申请的目的在于提供一种区分液晶显示屏灰尘和缺陷的方法及装置，以解决现有技术不能准确检测到液晶显示屏的缺陷，产生过度检测的问题。

第一方面，本申请实施例提供的一种区分液晶显示屏灰尘和缺陷的方法，所述方法包括：

获取待检测液晶显示屏的待检测正拍图像和待检测斜拍图像其中，所述待检测正拍图像从直拍相机获得，所述待检测斜拍图像从斜拍相机获得；

缩放所述待检测正拍图像和所述待检测斜拍图像，得到尺寸相等的缩放正拍图像和缩放斜拍图像；

确定仿射变换矩阵；

根据所述仿射变换矩阵对所述缩放斜拍图像进行仿射变换，得到配准图像；

提取所述缩放正拍图像的准缺陷坐标，保存为第一集合；

提取所述配准图像的准缺陷坐标，保存为第二集合；

匹配所述第一集合的元素和所述第二集合的元素；

逐个计算已匹配的第一集合的元素与第二集合的元素之间的视差，得到视差集合；

比较所述视差集合内元素与距离阈值，确定准缺陷是否为真实缺陷。

进一步地，确定仿射变换矩阵的步骤包括：

获取标定板的正拍标定图像和斜拍标定图像，其中，所述标定板上设有m*n个标定孔；

统一所述正拍标定图像的尺寸和斜拍标定图像的尺寸，得到尺寸相等的缩放标定正拍图像和缩放标定斜拍图像；

提取所述缩放正拍标定图像中标定孔圆心的坐标和所述缩放斜拍标定图像中标定孔圆心的坐标；

匹配所述缩放正拍标定图像中标定孔圆心和所述缩放斜拍标定图像中标定孔圆心；

根据匹配后的标定孔圆心在所述缩放正拍标定图像和所述缩放斜拍标定图像中的坐标，以所述缩放正拍标定图像为基准，计算所述缩放正拍标定图像和缩放斜拍标定图像的变换矩阵，得到仿射变换矩阵。

进一步地，匹配所述第一集合的元素和所述第二集合的元素包括：所述第一集合的元素和所述第二集合的元素按集合内元素的位置关系匹配。

进一步地，比较所述视差集合内元素与距离阈值，确定准缺陷是否为真实缺陷的步骤包括：

如果所述视差集合内元素小于或等于第一预设距离，确定准缺陷为真实缺陷；

如果所述视差集合内元素大于第一预设距离，确定准缺陷为灰尘。

进一步地，如果所述视差集合内元素大于第一预设距离，确定准缺陷为灰尘的步骤包括：

如果第一集合内的元素的横坐标较第二集合内的元素的横坐标远离斜拍相机，则灰尘为下表面灰尘；

如果第一集合内的元素的横坐标较第二集合内的元素的横坐标靠近斜拍相机，则灰尘为上表面灰尘。

第二方面，本申请实施例提供的一种区分液晶显示屏灰尘和缺陷的装置，所述装置包括：

获取单元，用于获取待检测液晶显示屏的待检测正拍图像和待检测斜拍图像，其中，所述待检测正拍图像从直拍相机获得，所述待检测斜拍图像从斜拍相机获得；

缩放单元，用于缩放所述待检测正拍图像和所述待检测斜拍图像，得到尺寸相等的缩放正拍图像和缩放斜拍图像；

确定单元，用于确定仿射变换矩阵；

仿射变换单元，用于根据所述仿射变换矩阵对所述缩放斜拍图像进行仿射变换，得到配准图像；

第一提取单元，用于提取所述缩放正拍图像的准缺陷坐标，保存为第一集合；

第二提取单元，用于提取所述配准图像的准缺陷坐标，保存为第二集合；

匹配单元，用于匹配所述第一集合的元素和所述第二集合的元素；

计算单元，用于逐个计算已匹配的第一集合的元素与第二集合的元素之间的视差，得到视差集合；

比较单元，用于比较所述视差集合内元素与距离阈值，确定准缺陷是否为真实缺陷。

进一步地，所述确定单元包括：

采集单元，用于获取标定板的正拍标定图像和斜拍标定图像，其中，所述标定板上设有m*n个标定孔；

统一单元，用于统一所述正拍标定图像的尺寸和斜拍标定图像的尺寸，得到尺寸相等的缩放标定正拍图像和缩放标定斜拍图像；

坐标提取单元，用于提取所述缩放正拍标定图像中标定孔圆心的坐标和所述缩放斜拍标定图像中标定孔圆心的坐标；

配对单元，用于匹配所述缩放正拍标定图像中标定孔圆心和所述缩放斜拍标定图像中标定孔圆心；

确定仿射变换矩阵单元，用于根据匹配后的标定孔圆心在所述缩放正拍标定图像和所述缩放斜拍标定图像中的坐标，以所述缩放正拍标定图像为基准，计算所述缩放正拍标定图像和缩放斜拍标定图像的变换矩阵，得到仿射变换矩阵。

进一步地，所述匹配单元包括：位置匹配单元，用于所述第一集合的元素和所述第二集合的元素按集合内元素的位置关系匹配。

进一步地，所述比较单元包括：

第一比较单元，用于如果所述视差集合内元素小于或等于第一预设距离，确定准缺陷为真实缺陷；

第二比较单元，用于如果所述视差集合内元素大于第一预设距离，确定准缺陷为灰尘。

进一步地，所述第二比较单元还包括：

如果所述视差集合内元素的值大于零，且绝对值大于第一预设距离，则灰尘为下表面灰尘；

如果所述视差集合内元素的值小于零，且绝对值大于第一预设距离，则灰尘为上表面灰尘。

由以上技术方案可知，本申请提供的一种区分液晶显示屏灰尘和缺陷的方法及装置，所述方法包括：获取待检测液晶显示屏的待检测正拍图像和待检测斜拍图像，其中，所述待检测正拍图像从直拍相机获得，所述待检测斜拍图像从斜拍相机获得；缩放所述待检测正拍图像和所述待检测斜拍图像，得到尺寸相等的缩放正拍图像和缩放斜拍图像；确定仿射变换矩阵；根据所述仿射变换矩阵对所述缩放斜拍图像进行仿射变换，得到配准图像；提取所述缩放正拍图像的准缺陷坐标，保存为第一集合；提取所述配准图像的准缺陷坐标，保存为第二集合；匹配所述第一集合的元素和所述第二集合的元素；逐个计算已匹配的第一集合的元素与第二集合的元素之间的视差，得到视差集合；比较所述视差集合内元素与距离阈值，确定准缺陷是否为真实缺陷。本申请实施例中，通过获取待检测正拍图像和待检测斜拍图像，得到各准缺陷的视差，通过与距离阈值对比，得到是否为真实缺陷。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本申请实施例提供的一种区分液晶显示屏灰尘和缺陷的方法的流程图；

图2为本申请实施例提供的立体视觉系统拍摄的场景图；

图3为本申请实施例提供的确定仿射变换矩阵的流程图；

图4为本申请实施例提供的正拍标定图像和斜拍标定图像的示意图；

图5为本申请实施例提供的立体视觉系统拍摄待检测液晶显示屏的示意图；

图6为本申请实施例提供的一种区分液晶显示屏灰尘和缺陷的装置的结构示意图；

图7为本申请实施例提供的一种确定单元的结构示意图。

图示说明：

其中，1-直拍相机，2-斜拍相机，3-对焦层，31-真实缺陷，32-上表面灰尘，33-下表面灰尘，4-缩放正拍图像，5-配准图像，a-正拍标定图像，b-斜拍标定图像，001-获取单元，002-缩放单元，003-确定单元，004-仿射变换单元，005-第一提取单元，006-第二提取单元，007-匹配单元，008-计算单元，009-比较单元，301-采集单元，302-统一单元，303-坐标提取单元，304-配对单元，305-确定仿射变换矩阵单元。

具体实施方式

如图1所示的一种区分液晶显示屏灰尘和缺陷的方法流程图，所述方法包括：

S100、获取待检测液晶显示屏的待检测正拍图像和待检测斜拍图像，其中，所述待检测正拍图像从直拍相机获得，所述待检测斜拍图像从斜拍相机获得；

本申请实施例采用搭建的两路立体视觉系统，具体如图2所示，两个相机分别为直拍相机1和斜拍相机2，形成双目系统。直拍相机1和斜拍相机2分别对待检测的液晶显示屏进行拍摄，所述斜拍相机2位于待检测液晶显示屏的一侧，所述直拍相机1位于待检测液晶显示屏的上方。基于成像原理，对液晶显示屏不同位置的被成像物，在液晶显示屏内的对焦层3上会呈现不同的位置。通过直拍相机1拍摄的待检测液晶显示屏得到的图像为待检测正拍图像，通过斜拍相机2拍摄的待检测液晶显示屏得到的图像为待检测斜拍图像。

S200、缩放所述待检测正拍图像和所述待检测斜拍图像，得到尺寸相等的缩放正拍图像和缩放斜拍图像；

例如，所述待检测正拍图像的尺寸为15*15cm，而待检测斜拍图像的尺寸为13*13cm，可将所述待检测正拍图像的尺寸调节成13*13cm。可选的，将所述待检测斜拍图像的尺寸调节成15*15cm。可选的，将所述待检测正拍图像的尺寸和所述待检测斜拍图像的尺寸统一缩放成任意尺寸。如待检测正拍图像与所述待检测斜拍图像的尺寸不一致，会影响待检测正拍图像与待检测斜拍图像内对应点的比较，而缩放成相同尺寸的图像，同一液晶显示屏上的点的坐标相近，利于找出对应点，方便比较所述待检测正拍图像和所述待检测斜拍图像内对应位置的坐标，也有利于计算同一点在待检测正拍图像和待检测斜拍图像的转换关系。

S300、确定仿射变换矩阵。

所述缩放正拍图像和缩放斜拍图像目前只是独立存在，若所述缩放正拍图像独立存在和现有技术别无两样，而现有技术存在不能区分液晶显示屏的灰尘和缺陷。同样，所述缩放斜拍图像单独存在也不能区分液晶显示屏的灰尘和缺陷。通过仿射变换矩阵，可以将所述缩放正拍图像内的点与所述缩放斜拍图像的点联系在一起。所述仿射变换矩阵是根据与待检测显示屏同样规格的标定显示屏，在双目系统拍摄得到的标定正拍图像和标定斜拍图像计算得来的。

S400、根据所述仿射变换矩阵对所述缩放斜拍图像进行仿射变换，得到配准图像；

所述缩放斜拍图像根据所述仿射变换矩阵计算，得到与所述缩放正拍图像的配准图像。

S500、提取所述缩放正拍图像的准缺陷坐标，保存为第一集合；

当液晶显示屏有缺陷和/或灰尘时，缺陷和/或灰尘会在所述缩放正拍图像上形成一点，提取缺陷和/或灰尘在图像上形成的点的坐标，当未能判断点是否是真实缺陷前，提取的点都称为准缺陷。提取所述准缺陷坐标的方法较多，例如，可利用阈值化操作，提取准缺陷的中心，每个中心具有一个坐标。将提取的准缺陷坐标按一定顺序排列作为元素，形成第一集合。例如，准缺陷坐标分别为(20,50)、(20,60)、(30,50)和(30,60)，可按照横坐标由小至大的方式，如果相同横坐标，按纵坐标由小至大的方式排列，组成第一集合后为{x，y∣(20,50)，(20,60)，(30,50)，(30,60)}，也可按照横坐标由大至小的方式，如果横坐标相同，按纵坐标由大至小的方式排列，组成第一集合后为{x，y∣(30,60)，(30,50)，(20,60)，(20,50)}，还可以其他方式排列，在此不一一赘述。

S600、提取所述配准图像的准缺陷坐标，保存为第二集合；

当液晶显示屏有缺陷和/或灰尘时，缺陷和/或灰尘会在所述配准图像上形成一点，提取缺陷和/或灰尘在图像上形成的点的坐标，按照与步骤S500中保存第一集合的相同规则保存第二集合。

S700、匹配所述第一集合的元素和所述第二集合的元素；

液晶显示屏上的准缺陷在待检测正拍图像和待检测斜拍图像上都有体现，所以准缺陷在所述缩放正拍图像和所述配准图像上会呈现，匹配准缺陷在所述缩放正拍图像上的坐标和在所述配准图像上的坐标，组合成一对，方便二者的比较。

S800、逐个计算已匹配的第一集合的元素与第二集合的元素之间的视差，得到视差集合；

逐一计算匹配成一对的第一集合内的坐标元素第二集合内的坐标元素距离，即为视差，最终得到视差集合，这样，可将液晶显示屏的所有准缺陷的视差得到。

S900、比较所述视差集合内元素与距离阈值，确定准缺陷是否为真实缺陷。

由于准缺陷分为真实缺陷和灰尘，由于灰尘与真实缺陷最大的区别为灰尘和真实缺陷会在对焦层3成像，在对焦层3中存在一个映射位置，也就是上述提到的会在所述缩放正拍图像和所述配准图像上形成一个点。真实缺陷与灰尘在所述缩放正拍图像和所述配准图像上的视差是有较大区别的，通过与距离阈值比较，确定是否为真实缺陷，防止现有技术中过度检测的现象。

图3是本申请实施例提供的确定仿射变换矩阵的流程图，确定仿射变换矩阵的步骤包括：

S301、获取标定板的正拍标定图像和斜拍标定图像，其中，所述标定板上设有m*n个标定孔；

标定板的规格为与待检测液晶显示屏规格相同，规格这里指的是与待检测液晶显示屏成像的效果与同一点的成像位置相同。多个所述标定孔均匀分布在所述标定板上，标定孔位于不同的位置可以充分体现不同位置在正拍相机1和斜拍相机2中的图像。如图4所示，通过正拍相机1拍摄标定板得到正拍标定图像a，斜拍相机2拍摄标定板得到斜拍标定图像b。

S302、统一所述正拍标定图像的尺寸和斜拍标定图像的尺寸，得到尺寸相等的缩放标定正拍图像和缩放标定斜拍图像；

相同尺寸的缩放标定正拍图像和缩放标定斜拍图像，方便比较缩放标定正拍图像和缩放标定斜拍图像内的各标定孔的位置。

S303、提取所述缩放正拍标定图像中标定孔圆心的坐标和所述缩放斜拍标定图像中标定孔圆心的坐标；

由于标定孔为圆形孔，选择提取标定孔的圆心坐标，方便定位标定孔的位置。

S304、匹配所述缩放正拍标定图像中标定孔圆心和所述缩放斜拍标定图像中标定孔圆心；

将所述缩放正拍标定图像中的标定孔图像与所述缩放斜拍标定图像中的标定孔图像一一对应。

S305、根据匹配后的标定孔圆心在所述缩放正拍标定图像和所述缩放斜拍标定图像中的坐标，以所述缩放正拍标定图像为基准，计算所述缩放正拍标定图像和缩放斜拍标定图像的变换矩阵，得到仿射变换矩阵。

仿射变换的功能是从二维坐标到二维坐标之间的线性变换，且保持二维图形的“平直性”和“平行性”。仿射变换矩阵就是以所述缩放正拍标图像为基准图像与以缩放斜拍标定图像为待校正图像所有像素之间的映射关系。

以三个基准点为例，我们可以通过一组方程来描述基准图像与待矫正图像的对应关系。方程组的系数组成的矩阵就是仿射变换矩阵。

当获取到三对基准点坐标时，可以代入这组方程，可以求得方程组六个未知系数，此系数组成的矩阵即为仿射变换矩阵。

匹配所述第一集合的元素和所述第二集合的元素包括：所述第一集合的元素和所述第二集合的元素按集合内元素的位置关系匹配。

具体的，提取出准缺陷后，第一集合内的元素和第二集合内的元素，按照前后顺序匹配成一对，第一集合内的第一个元素与第二集合内的第一个元素为一对，第一集合内的第二个元素与第二集合内的第二个元素为一对，以此类推。

比较所述视差集合内元素与距离阈值，确定准缺陷是否为真实缺陷的步骤包括：

S901、如果所述视差集合内元素小于或等于第一预设距离，确定准缺陷为真实缺陷；

S902、如果所述视差集合内元素大于第一预设距离，确定准缺陷为灰尘。

如图5所示的立体视觉系统拍摄待检测液晶显示屏的示意图，对焦层3内有真实缺陷31，对焦层3上方有上表面灰尘32，对焦层3下方有下表面灰尘33，正拍相机1和斜拍相机2分别对待检测液晶显示屏拍摄，得到带有所述缺陷31、上表面灰尘32和下表面灰尘33的缩放正拍图像4和配准图像5，通过计算得到准缺陷的缩放正拍图像4和配准图像5的视差，若视差小于或等于第一预设距离，本申请实施例中第一预设距离可为4个像素，则说明准缺陷在缩放正拍图像4和配准图像5中的距离较近，则准缺陷为真实缺陷；如果视差大于第一预设距离，说明准缺陷在缩放正拍图像4和配准图像5中的距离较远，则准缺陷为灰尘。

步骤S902如果所述视差集合内元素大于第一预设距离，确定准缺陷为灰尘的步骤后还包括：

S9021：如果第一集合内的元素的横坐标较第二集合内的元素的横坐标远离斜拍相机，则灰尘为下表面灰尘；

再如图5所示的立体视觉系统拍摄待检测液晶显示屏的示意图，根据成像原理，在液晶显示屏上同一灰尘在所述缩放正拍图像4内与配准图像5中映射的位置比较，第一集合内的元素的横坐标较第二集合内的元素的横坐标远离斜拍相机，此时灰尘为下表面灰尘。

S9022：如果第一集合内的元素的横坐标较第二集合内的元素的横坐标靠近斜拍相机，则灰尘为上表面灰尘。

与本申请提供的一种区分液晶显示屏灰尘和缺陷的方法相对应，本申请实施例提供的一种区分液晶显示屏灰尘和缺陷的装置，如图6所示，所述装置包括：

获取单元001，用于获取待检测液晶显示屏的待检测正拍图像和待检测斜拍图像，其中，所述待检测正拍图像从直拍相机获得，所述待检测斜拍图像从斜拍相机获得；

缩放单元002，用于缩放所述待检测正拍图像和所述待检测斜拍图像，得到尺寸相等的缩放正拍图像和缩放斜拍图像；

确定单元003，用于确定仿射变换矩阵；

仿射变换单元004，用于根据所述仿射变换矩阵对所述缩放斜拍图像进行仿射变换，得到配准图像；

第一提取单元005，用于提取所述缩放正拍图像的准缺陷坐标，保存为第一集合；

第二提取单元006，用于提取所述配准图像的准缺陷坐标，保存为第二集合；

匹配单元007，用于匹配所述第一集合的元素和所述第二集合的元素；

计算单元008，用于逐个计算已匹配的第一集合的元素与第二集合的元素之间的视差，得到视差集合；

比较单元009，用于比较所述视差集合内元素与距离阈值，确定准缺陷是否为真实缺陷。

进一步地，所述确定单元003包括：

采集单元301，用于获取标定板的正拍标定图像和斜拍标定图像，其中，所述标定板上设有m*n个标定孔；

统一单元302，用于统一所述正拍标定图像的尺寸和斜拍标定图像的尺寸，得到尺寸相等的缩放标定正拍图像和缩放标定斜拍图像；

坐标提取单元303，用于提取所述缩放正拍标定图像中标定孔圆心的坐标和所述缩放斜拍标定图像中标定孔圆心的坐标；

配对单元304，用于匹配所述缩放正拍标定图像中标定孔圆心和所述缩放斜拍标定图像中标定孔圆心；

确定仿射变换矩阵单元305，用于根据匹配后的标定孔圆心在所述缩放正拍标定图像和所述缩放斜拍标定图像中的坐标，以所述缩放正拍标定图像为基准，计算所述缩放正拍标定图像和缩放斜拍标定图像的变换矩阵，得到仿射变换矩阵。

进一步地，所述匹配单元包括：位置匹配单元，用于所述第一集合的元素和所述第二集合的元素按集合内元素的位置关系匹配。

进一步地，所述比较单元包括：

第一比较单元，用于如果所述视差集合内元素小于或等于第一预设距离，确定准缺陷为真实缺陷；

第二比较单元，用于如果所述视差集合内元素大于第一预设距离，确定准缺陷为灰尘。

进一步地，所述第二比较单元还包括：

如果所述视差集合内元素的值大于零，且绝对值大于第一预设距离，则灰尘为下表面灰尘；

如果所述视差集合内元素的值小于零，且绝对值大于第一预设距离，则灰尘为上表面灰尘。

由以上技术方案可知，本申请提供的一种区分液晶显示屏灰尘和缺陷的方法及装置，所述方法包括：获取待检测液晶显示屏的待检测正拍图像和待检测斜拍图像，其中，所述待检测正拍图像从直拍相机获得，所述待检测斜拍图像从斜拍相机获得；缩放所述待检测正拍图像和所述待检测斜拍图像，得到尺寸相等的缩放正拍图像和缩放斜拍图像；确定仿射变换矩阵；根据所述仿射变换矩阵对所述缩放斜拍图像进行仿射变换，得到配准图像；提取所述缩放正拍图像的准缺陷坐标，保存为第一集合；提取所述配准图像的准缺陷坐标，保存为第二集合；匹配所述第一集合的元素和所述第二集合的元素；逐个计算已匹配的第一集合的元素与第二集合的元素之间的视差，得到视差集合；比较所述视差集合内元素与距离阈值，确定准缺陷是否为真实缺陷。本申请实施例中，通过获取待检测正拍图像和待检测斜拍图像，得到各准缺陷的视差，通过与距离阈值对比，得到是否为真实缺陷。

应当理解的是，本申请并不局限于上面已经描述并在附图中示出的精确结构，并且可以在不脱离其范围进行各种修改和改变。本申请的范围仅由所附的权利要求来限制。

Claims (10)

1.一种区分液晶显示屏灰尘和缺陷的方法，其特征在于，所述方法包括：

获取待检测液晶显示屏的待检测正拍图像和待检测斜拍图像，其中，所述待检测正拍图像从直拍相机获得，所述待检测斜拍图像从斜拍相机获得；

缩放所述待检测正拍图像和所述待检测斜拍图像，得到尺寸相等的缩放正拍图像和缩放斜拍图像；

确定仿射变换矩阵；

根据所述仿射变换矩阵对所述缩放斜拍图像进行仿射变换，得到配准图像；

提取所述缩放正拍图像的准缺陷坐标，保存为第一集合；

提取所述配准图像的准缺陷坐标，保存为第二集合；

匹配所述第一集合的元素和所述第二集合的元素；

逐个计算已匹配的第一集合的元素与第二集合的元素之间的视差，得到视差集合；

比较所述视差集合内元素与距离阈值，确定准缺陷是否为真实缺陷。

2.根据权利要求1所述的一种区分液晶显示屏灰尘和缺陷的方法，其特征在于，确定仿射变换矩阵的步骤包括：

获取标定板的正拍标定图像和斜拍标定图像，其中，所述标定板上设有m*n个标定孔；

统一所述正拍标定图像的尺寸和斜拍标定图像的尺寸，得到尺寸相等的缩放标定正拍图像和缩放标定斜拍图像；

提取所述缩放正拍标定图像中标定孔圆心的坐标和所述缩放斜拍标定图像中标定孔圆心的坐标；

匹配所述缩放正拍标定图像中标定孔圆心和所述缩放斜拍标定图像中标定孔圆心；

根据匹配后的标定孔圆心在所述缩放正拍标定图像和所述缩放斜拍标定图像中的坐标，以所述缩放正拍标定图像为基准，计算所述缩放正拍标定图像和缩放斜拍标定图像的变换矩阵，得到仿射变换矩阵。

3.根据权利要求1所述的一种区分液晶显示屏灰尘和缺陷的方法，其特征在于，匹配所述第一集合的元素和所述第二集合的元素包括：

所述第一集合的元素和所述第二集合的元素按集合内元素的位置关系匹配。

4.根据权利要求1所述的一种区分液晶显示屏灰尘和缺陷的方法，其特征在于，比较所述视差集合内元素与距离阈值，确定准缺陷是否为真实缺陷的步骤包括：

如果所述视差集合内元素小于或等于第一预设距离，确定准缺陷为真实缺陷；

如果所述视差集合内元素大于第一预设距离，确定准缺陷为灰尘。

5.根据权利要求4所述的一种区分液晶显示屏灰尘和缺陷的方法，其特征在于，如果所述视差集合内元素大于第一预设距离，确定准缺陷为灰尘的步骤包括：

如果第一集合内的元素的横坐标较第二集合内的元素的横坐标远离斜拍相机，则灰尘为下表面灰尘；

如果第一集合内的元素的横坐标较第二集合内的元素的横坐标靠近斜拍相机，则灰尘为上表面灰尘。

6.一种区分液晶显示屏灰尘和缺陷的装置，其特征在于，所述装置包括：

获取单元，用于获取待检测液晶显示屏的待检测正拍图像和待检测斜拍图像，其中，所述待检测正拍图像从直拍相机获得，所述待检测斜拍图像从斜拍相机获得；

缩放单元，用于缩放所述待检测正拍图像和所述待检测斜拍图像，得到尺寸相等的缩放正拍图像和缩放斜拍图像；

确定单元，用于确定仿射变换矩阵；

仿射变换单元，用于根据所述仿射变换矩阵对所述缩放斜拍图像进行仿射变换，得到配准图像；

第一提取单元，用于提取所述缩放正拍图像的准缺陷坐标，保存为第一集合；

第二提取单元，用于提取所述配准图像的准缺陷坐标，保存为第二集合；

匹配单元，用于匹配所述第一集合的元素和所述第二集合的元素；

计算单元，用于逐个计算已匹配的第一集合的元素与第二集合的元素之间的视差，得到视差集合；

比较单元，用于比较所述视差集合内元素与距离阈值，确定准缺陷是否为真实缺陷。

7.根据权利要求6所述的一种区分液晶显示屏灰尘和缺陷的装置，其特征在于，所述确定单元包括：

采集单元，用于获取标定板的正拍标定图像和斜拍标定图像，其中，所述标定板上设有m*n个标定孔；

统一单元，用于统一所述正拍标定图像的尺寸和斜拍标定图像的尺寸，得到尺寸相等的缩放标定正拍图像和缩放标定斜拍图像；

坐标提取单元，用于提取所述缩放正拍标定图像中标定孔圆心的坐标和所述缩放斜拍标定图像中标定孔圆心的坐标；

配对单元，用于匹配所述缩放正拍标定图像中标定孔圆心和所述缩放斜拍标定图像中标定孔圆心；

确定仿射变换矩阵单元，用于根据匹配后的标定孔圆心在所述缩放正拍标定图像和所述缩放斜拍标定图像中的坐标，以所述缩放正拍标定图像为基准，计算所述缩放正拍标定图像和缩放斜拍标定图像的变换矩阵，得到仿射变换矩阵。

8.根据权利要求6所述的一种区分液晶显示屏灰尘和缺陷的装置，其特征在于，所述匹配单元包括：

位置匹配单元，用于所述第一集合的元素和所述第二集合的元素按集合内元素的位置关系匹配。

9.根据权利要求6所述的一种区分液晶显示屏灰尘和缺陷的装置，其特征在于，所述比较单元包括：

第一比较单元，用于如果所述视差集合内元素小于或等于第一预设距离，确定准缺陷为真实缺陷；

第二比较单元，用于如果所述视差集合内元素大于第一预设距离，确定准缺陷为灰尘。

10.根据权利要求9所述的一种区分液晶显示屏灰尘和缺陷的装置，其特征在于，所述第二比较单元还包括：

如果所述视差集合内元素的值大于零，且绝对值大于第一预设距离，则灰尘为下表面灰尘；

如果所述视差集合内元素的值小于零，且绝对值大于第一预设距离，则灰尘为上表面灰尘。