CN105259181A - 显示屏的显示缺陷检测方法、装置及设备 - Google Patents

显示屏的显示缺陷检测方法、装置及设备 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种显示屏的显示缺陷检测方法、装置及设备，属于显示技术领域。所述方法包括：在被测显示屏的正面的第一图像中识别疑似缺陷像素，第一图像是被测显示屏处于纯色显示状态拍摄的；在被测显示屏的正面的第二图像中识别外部脏污像素，第二图像是被测显示屏处于熄灭状态且被漫反射光源向正面照射时拍摄的；对于第一图像中识别出的每一个疑似缺陷像素，检测第二图像的相同位置处是否为外部脏污像素，若不是则将其确定为显示缺陷像素。解决了现有技术通过添加专门的除污环节以降低误检测概率，影响检测效率的问题；实现了自动化地将真正的显示缺陷和外部脏污进行辨别区分，既可避免因脏污而导致误检测的情况发生，且检测效率显著提高。

Description

显示屏的显示缺陷检测方法、装置及设备
技术领域
本发明涉及显示技术领域，特别涉及一种显示屏的显示缺陷检测方法、装置及设备。
背景技术
液晶显示屏(英文：LiquidCrystalDisplay；缩写：LCD)在各类电子设备中得到了广泛应用，几乎已成为一款电子设备的标配。
在大批量生产LCD的过程中，不可避免地会出现一定数量的存在显示缺陷的产品，例如像素暗点、像素亮点或者因像素中参杂杂质而导致的显示缺陷等。因此，对LCD进行显示缺陷检测是电子设备出厂前的必经环节。在相关的检测技术中，通过控制被测LCD处于点亮状态，并从该被测LCD的正面(即被测LCD的用于显示图像的一面)拍摄得到该被测LCD的图像，然后通过对该图像进行识别和处理，确定该被测LCD是否存在显示缺陷。然而，当被测LCD的正面贴附有诸如灰尘、指纹之类的外部脏污时，会造成误检测的情况发生，将本没有显示缺陷的LCD误检测为存在显示缺陷。在现有技术中，为了减少误检测的情况发生，在图像拍摄操作之前添加专门的除污环节，由技术人员或专业设备对被测LCD进行擦拭除污。
然而，上述现有技术至少存在如下问题：通过添加专门的除污环节以降低误检测概率，这无疑会降低检测速度，影响检测效率。
发明内容
为了解决现有技术通过添加专门的除污环节以降低误检测概率，导致检测速度降低，影响检测效率的问题，本发明实施例提供了一种显示屏的显示缺陷检测方法、装置及设备。所述技术方案如下：
第一方面，提供了一种显示屏的显示缺陷检测方法，该方法包括：获取被测显示屏的正面的第一图像，该第一图像是被测显示屏处于纯色显示状态的情况下拍摄的，被测显示屏的正面是指被测显示屏的用于显示图像的一面；在第一图像中识别疑似缺陷像素，疑似缺陷像素是被测显示屏的显示屏区域中像素特征属于第一数值区间的像素，该第一数值区间是指疑似缺陷像素的像素特征对应的取值范围；获取被测显示屏的正面的第二图像，该第二图像是被测显示屏处于熄灭状态且被漫反射光源向被测显示屏的正面照射的情况下拍摄的；在第二图像中识别外部脏污像素，外部脏污像素是被测显示屏的显示屏区域中像素特征属于第二数值区间的像素，该第二数值区间是指外部脏污像素的像素特征对应的取值范围；对于第一图像中识别出的每一个疑似缺陷像素，检测第二图像的相同位置处是否为外部脏污像素；若第二图像的相同位置处不是外部脏污像素，则将疑似缺陷像素确定为显示缺陷像素。
通过在第一图像中识别疑似缺陷像素，在第二图像中识别外部脏污像素，进而依据疑似缺陷像素在第一图像中的位置和外部脏污像素在第二图像中的位置，判别疑似缺陷像素是否为显示缺陷像素；解决了现有技术通过添加专门的除污环节以降低误检测概率，导致检测速度降低，影响检测效率的问题；实现了自动化地将真正的显示缺陷和外部脏污进行辨别区分，既可避免因脏污而导致误检测的情况发生，且相比于现有技术检测速度和检测效率显著提高。
基于第一方面提供的技术方案，在一种可能的实施方式中，在第一图像中识别疑似缺陷像素，包括：分别获取第一图像中被测显示屏的显示屏区域中的每一个像素的像素特征，该像素特征包括亮度值和/或对比度；检测被测显示屏的显示屏区域中是否存在像素特征属于第一数值区间的第一候选像素；若被测显示屏的显示屏区域中存在像素特征属于第一数值区间的第一候选像素，则检测是否存在由连续排列的第一候选像素所形成的第一候选像素块且第一候选像素块中的像素个数大于第一预设阈值；若存在第一候选像素块，则将第一候选像素块中的各个第一候选像素识别为疑似缺陷像素。
通过上述方式，将一个满足上述条件的第一候选像素块识别为一处疑似缺陷，一方面目的是将微小的、对实际使用基本无影响的显示缺陷过滤掉，另一方面也可排除第一图像中噪声点对识别结果的干扰，再一方面还可减少后续的计算处理量。
类似地，基于第一方面提供的技术方案，在一种可能的实施方式中，在第二图像中识别外部脏污像素，包括：分别获取第二图像中被测显示屏的显示屏区域中的每一个像素的像素特征，该像素特征包括亮度值和/或对比度；检测被测显示屏的显示屏区域中是否存在像素特征属于第二数值区间的第二候选像素；若被测显示屏的显示屏区域中存在像素特征属于第二数值区间的第二候选像素，则检测是否存在由连续排列的第二候选像素所形成的第二候选像素块且第二候选像素块中的像素个数大于第二预设阈值；若存在第二候选像素块，则将第二候选像素块中的各个第二候选像素识别为外部脏污像素。
通过上述方式，将一个满足上述条件的第二候选像素块识别为一处外部脏污，可以排除第二图像中噪声点对识别结果的干扰。
第二方面，提供了一种显示屏的显示缺陷检测装置，该装置所包括的功能模块，用于实现上述第一方面提供的显示屏的显示缺陷检测方法。
第三方面，提供了一种电子设备，该电子设备包括如第二方面提供的显示屏的显示缺陷检测装置。
第四方面，提供了一种电子设备，该电子设备包括：处理器和存储器，存储器用于存储一个或者一个以上的指令，该指令被配置成由处理器执行，该指令用于实现上述第一方面提供的显示屏的显示缺陷检测方法。
第五方面，提供了一种显示屏的显示缺陷检测设备，该设备包括：支架，以及分别与支架相连的显示屏固定组件、漫反射光源组件和图像采集组件。其中，显示屏固定组件用于固定被测显示屏；漫反射光源组件用于提供漫反射光源；图像采集组件用于在被测显示屏处于纯色显示状态的情况下，从被测显示屏的正面拍摄得到第一图像；图像采集组件还用于在被测显示屏处于熄灭状态且被漫反射光源向被测显示屏的正面照射的情况下，从被测显示屏的正面拍摄得到第二图像。被测显示屏的正面是指被测显示屏的用于显示图像的一面。
通过在设备中添加漫反射光源组件，由该漫反射光源组件提供的漫反射光源照射处于熄灭状态的被测显示屏，从而拍摄记录有外部脏污的第二图像，为自动化地辨别区分真正的显示缺陷和外部脏污提供了实现保障。
基于第五方面提供的技术方案，在第五方面的第一种可能的实施方式中，漫反射光源组件包括：壳体；设置于壳体内的发光元件，该发光元件用于提供漫反射光源；设置于壳体表面的散热孔；以及，设置于漫反射光源发出的入射光线周侧的遮光盖。
通过散热孔所起到的散热作用，避免壳体内部温度过高，从而避免发光元件过热或者损坏；通过遮光盖汇聚发光元件发出的光线，有助于提高脏污检测效果。
基于第五方面提供的技术方案，在第五方面的第二种可能的实施方式中，该设备还包括光源连接组件。光源连接组件用于将漫反射光源组件与支架活动连接。
通过将漫反射光源组件与支架之间设置为活动连接结构，从而通过调节发光元件的位置和/或角度，调整漫反射光源发出的入射光线的入射角。
基于第五方面提供的技术方案，在第五方面的第三种可能的实施方式中，该设备还包括处理组件。处理组件包括如第二方面提供的显示屏的显示缺陷检测装置。
另外，结合上述任一方面提供的技术方案，在一种可能的实施方式中，漫反射光源发出的入射光线的入射角大于等于35°且小于等于55°。
通过控制漫反射光源发出的入射光线的入射角在35°至55°之间，避免因图像过暗或者过亮导致掩盖掉部分脏污，提高脏污检测效果。优选地，在漫反射光源发出的入射光线的入射角等于45°的情况下，脏污检测效果最佳。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1A是本发明一个实施例提供的显示屏的显示缺陷检测设备的结构方框图；
图1B是图1A所示实施例中漫反射光源组件的结构示意图；
图2是本发明一个实施例提供的显示屏的显示缺陷检测方法的流程图；
图3A是本发明另一实施例提供的显示屏的显示缺陷检测方法的流程图；
图3B是图3A所示实施例中涉及的第一图像的示意图；
图3C是图3A所示实施例中涉及的第二图像的示意图；
图4是本发明一个实施例提供的显示屏的显示缺陷检测装置的结构方框图；
图5是本发明另一实施例提供的显示屏的显示缺陷检测装置的结构方框图；
图6是本发明一个实施例提供的电子设备的结构方框图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本发明实施方式作进一步地详细描述。
请参考图1A，其示出了本发明一个实施例提供的显示屏的显示缺陷检测设备的结构方框图。该显示缺陷检测设备10包括：支架11，以及分别与支架11相连的显示屏固定组件12、漫反射光源组件13和图像采集组件14。
显示屏固定组件12，用于固定被测显示屏。漫反射光源组件13，用于提供漫反射光源。图像采集组件14，用于在被测显示屏处于纯色显示状态的情况下，从被测显示屏的正面拍摄得到第一图像。其中，被测显示屏的正面是指被测显示屏的用于显示图像的一面。纯色显示状态可以是点亮且未显示任何图像的状态，此时被测显示屏呈亮白色；或者，纯色显示状态也可以是点亮且显示有纯色图像的状态，纯色图像可以是纯白色图像、纯黑色图像或者其它单一颜色图像。图像采集组件14，还用于在被测显示屏处于熄灭状态且被漫反射光源向被测显示屏的正面照射的情况下，从被测显示屏的正面拍摄得到第二图像。
本实施例提供的显示缺陷检测设备10，可用于对LCD的显示缺陷进行检测。该显示缺陷包括但不限于像素暗点、像素亮点或者因像素中参杂杂质而导致的显示缺陷等。另外，被测显示屏可以是已安装于电子设备之上的显示屏，也可以是未安装于电子设备之上的显示屏。在被测LCD为已安装于电子设备之上的显示屏的情况下，由电子设备提供背光源，控制该被测LCD处于点亮状态或者熄灭状态。在被测LCD为未安装于电子设备之上的显示屏的情况下，该显示缺陷检测设备10还包括用于向被测显示屏提供背光源的背光源组件，通过该背光源组件控制被测LCD处于点亮状态或者熄灭状态。当然，在本发明实施例中，并不限定被测显示屏可以是除LCD之外其它类型的显示屏，如有机发光二极管(英文：OrganicLight-EmittingDiode；缩写：OLED)屏。另外，本发明实施例并不限定被测显示屏所安装的电子设备的类型。例如，被测显示屏可应用于诸如手机、平板电脑、电子书阅读器、显示器、家电设备、可穿戴设备等各类电子设备中。
漫反射光源组件13用于提供高均匀漫反射光源。在本发明实施例中，利用在被测显示屏的正面贴附有外部脏污的情况下，投射至外部脏污位置处的入射光线会发生漫反射现象这一特性，实现对被测显示屏上的外部脏污的采集和识别。其中，外部脏污包括但不限于灰尘、指纹、水渍、油渍等各种类型的脏污。在实际应用场景下，被测显示屏上存在灰尘的现象较为常见。在本发明实施例中，通过控制被测显示屏处于熄灭状态，并利用漫反射光源组件13提供的漫反射光源照射被测显示屏，使得被测显示屏上的外部脏污得以呈现。另外，由于漫反射光源发出的入射光线的入射角过大会使得第二图像过暗，而入射角过小又会使得第二图像过亮，第二图像过暗或者过亮均会掩盖掉部分外部脏污，不利于后续的脏污识别。因此，在漫反射光源发出的入射光线的入射角大于等于35°且小于等于55°的情况下，脏污检测效果较佳。优选地，漫反射光源发出的入射光线的入射角为45°。
结合参考图1B，其示例性地示出了一种漫反射光源组件13的结构示意图。如图1B所示，漫反射光源组件13，包括：壳体131；设置于壳体131内的发光元件(图中未示出)，该发光元件用于提供漫反射光源；设置于壳体131表面的散热孔132；以及，设置于漫反射光源发出的入射光线周侧的遮光盖133。其中，散热孔132起到散热作用，防止壳体131内部温度过高，导致发光元件过热甚至损坏。遮光盖133用于汇聚漫反射光源发出的光线，以提高脏污检测效果。可选地，发光元件与壳体131之间为活动连接结构，从而通过调节发光元件的位置和/或角度，调整漫反射光源发出的入射光线的入射角。
另外，漫反射光源组件13与支架11之间可以是固定连接结构，也可以是活动连接结构。在一种可能的实施方式中，如图1A所示，该显示缺陷检测设备10还包括：光源连接组件15。光源连接组件15用于将漫反射光源组件13与支架11活动连接。比如，如图1B所示，光源连接组件15可包括螺栓151，利用螺栓151将漫反射光源组件13固定于支架11之上，通过拧动螺栓151可调节漫反射光源组件13的位置。通过将漫反射光源组件13与支架11之间设置为活动连接结构，可便于调整漫反射光源发出的入射光线的入射角。
图像采集组件14包括摄像头，如高精度摄像头。摄像头与被测显示屏的正面相对设置。在本发明实施例中，通过控制被测显示屏处于纯色显示状态，利用图像采集组件14从被测显示屏的正面拍摄得到第一图像，进而通过对该第一图像进行分析从中识别疑似缺陷像素。疑似缺陷像素是指第一图像中的被测显示屏的显示屏区域中，像素特征属于第一数值区间的像素；其中，第一数值区间是指疑似缺陷像素的像素特征对应的取值范围。第一数值区间可以是预先设定的，也可以是根据第一图像中的被测显示屏的显示屏区域中各个像素的像素特征确定出的。疑似缺陷像素在被测显示屏上所对应的位置，可能是被测显示屏中真正的显示缺陷所在位置，也可能是贴附于被测显示屏正面的外部脏污所在位置。另外，还通过控制被测显示屏处于熄灭状态且被漫反射光源向被测显示屏的正面照射，利用图像采集组件14从被测显示屏的正面拍摄得到第二图像，进而通过对该第二图像进行分析从中识别外部脏污像素。外部脏污像素是指第二图像中的被测显示屏的显示屏区域中，像素特征属于第二数值区间的像素；其中，第二数值区间是指外部脏污像素的像素特征对应的取值范围。第二数值区间可以是预先设定的，也可以是根据第二图像中的被测显示屏的显示屏区域中各个像素的像素特征确定出的。外部脏污像素在被测显示屏上所对应的位置，即为贴附于被测显示屏正面的外部脏污所在位置。此外，在拍摄第一图像和第二图像时，应当保持摄像头与被测显示屏之间的相对位置不变，从而确保拍摄得到的第一图像和第二图像完全对应，为后续的识别匹配提供准确性保障。
可选地，如图1A所示，该显示缺陷检测设备10还包括：处理组件16。处理组件16用于获取图像采集组件14拍摄的第一图像和第二图像，在第一图像中识别疑似缺陷像素，在第二图像中识别外部脏污像素。处理组件16还用于从疑似缺陷像素中剔除外部脏污像素，根据剔除后的结果确定显示缺陷像素。其中，显示缺陷像素在被测显示屏上所对应的位置，即为被测显示屏中真正的显示缺陷所在位置。具体来讲，处理组件16还用于对于第一图像中识别出的每一个疑似缺陷像素，检测第二图像的相同位置处是否为外部脏污像素，并在检测出第二图像的相同位置处不是外部脏污像素的情况下，将疑似缺陷像素确定为显示缺陷像素。处理组件16具备数据处理和计算功能。例如，处理组件16可以是一台计算机。
请参考图2，其示出了本发明一个实施例提供的显示屏的显示缺陷检测方法的流程图。该方法可应用于图1A所示显示缺陷检测设备10的处理组件16中。该方法可以包括如下几个步骤：
步骤202，获取被测显示屏的正面的第一图像，该第一图像是被测显示屏处于纯色显示状态的情况下拍摄的，被测显示屏的正面是指被测显示屏的用于显示图像的一面。
步骤204，在第一图像中识别疑似缺陷像素，疑似缺陷像素是被测显示屏的显示屏区域中像素特征属于第一数值区间的像素，该第一数值区间是指疑似缺陷像素的像素特征对应的取值范围。
步骤206，获取被测显示屏的正面的第二图像，该第二图像是被测显示屏处于熄灭状态且被漫反射光源向被测显示屏的正面照射的情况下拍摄的。
步骤208，在第二图像中识别外部脏污像素，外部脏污像素是被测显示屏的显示屏区域中像素特征属于第二数值区间的像素，该第二数值区间是指外部脏污像素的像素特征对应的取值范围。
步骤210，对于第一图像中识别出的每一个疑似缺陷像素，检测第二图像的相同位置处是否为外部脏污像素。
步骤212，若第二图像的相同位置处不是外部脏污像素，则将疑似缺陷像素确定为显示缺陷像素。
综上所述，本实施例提供的方法，通过在第一图像中识别疑似缺陷像素，在第二图像中识别外部脏污像素，进而依据疑似缺陷像素在第一图像中的位置和外部脏污像素在第二图像中的位置，判别疑似缺陷像素是否为显示缺陷像素；解决了现有技术通过添加专门的除污环节以降低误检测概率，导致检测速度降低，影响检测效率的问题；实现了自动化地将真正的显示缺陷和外部脏污进行辨别区分，既可避免因脏污而导致误检测的情况发生，且相比于现有技术检测速度和检测效率显著提高。
请参考图3A，其示出了本发明另一实施例提供的显示屏的显示缺陷检测方法的流程图。在本实施例中，以该方法应用于图1A所示显示缺陷检测设备的处理组件16中为例进行举例说明。该方法可以包括如下几个步骤：
步骤301，获取被测显示屏的正面的第一图像。
处理组件获取被测显示屏的正面的第一图像。其中，被测显示屏的正面是指被测显示屏的用于显示图像的一面。第一图像是正对被测显示屏的正面拍摄得到的，第一图像中包含被测显示屏的正面的完整图像。
第一图像是被测显示屏处于纯色显示状态的情况下拍摄的。纯色显示状态可以是点亮且未显示任何图像的状态，此时被测显示屏呈亮白色；或者，纯色显示状态也可以是点亮且显示有纯色图像的状态，纯色图像可以是纯白色图像、纯黑色图像或者其它单一颜色图像。在被测显示屏处于纯色显示状态下，被测显示屏的显示缺陷均会呈现。其中，显示缺陷包括但不限于像素暗点、像素亮点或者因像素中参杂杂质而导致的显示缺陷等。因此，在被测显示屏存在显示缺陷的情况下，第一图像中便会记录有显示缺陷。另外，在被测显示屏的正面贴附有外部脏污的情况下，第一图像中也可能相应记录有全部或者部分的外部脏污。其中，外部脏污包括但不限于灰尘、指纹、水渍、油渍等各种类型的脏污。
步骤302，在第一图像中识别疑似缺陷像素。
处理组件在第一图像中识别疑似缺陷像素。疑似缺陷像素是第一图像中的被测显示屏的显示屏区域中，像素特征属于第一数值区间的像素。其中，第一数值区间是指疑似缺陷像素的像素特征对应的取值范围。第一数值区间可以是预先设定的；或者，第一数值区间也可以是根据第一图像中的被测显示屏的显示屏区域中各个像素的像素特征确定出的。像素特征包括亮度值和/或对比度。例如，将第一图像中的被测显示屏的显示屏区域中，亮度值小于第一亮度值阈值的像素识别为疑似缺陷像素；再例如，将第一图像中的被测显示屏的显示屏区域中，对比度大于第一对比度阈值的像素识别为疑似缺陷像素。当然，在其它可能的实施方式中，也可综合考虑亮度值和对比度两方面因素，在第一图像中识别疑似缺陷像素。
疑似缺陷像素在被测显示屏上所对应的位置，可能是被测显示屏中真正的显示缺陷所在位置，也可能是贴附于被测显示屏正面的外部脏污所在位置。一处疑似缺陷(真正的显示缺陷或者外部脏污)的分布形状可以是点、线、斑等形状。因此，一处疑似缺陷对应于一个或者多个疑似缺陷像素。
在一种可能的实施方式中，本步骤包括如下几个子步骤：
1、分别获取第一图像中被测显示屏的显示屏区域中的每一个像素的像素特征；
2、检测上述被测显示屏的显示屏区域中是否存在像素特征属于第一数值区间的第一候选像素；
3、若上述被测显示屏的显示屏区域中存在像素特征属于第一数值区间的第一候选像素，则检测是否存在由连续排列的第一候选像素所形成的第一候选像素块且第一候选像素块中的像素个数大于第一预设阈值；
4、若存在上述第一候选像素块，则将上述第一候选像素块中的各个第一候选像素识别为疑似缺陷像素。
其中，第一预设阈值可根据图像采集组件中摄像头的分辨率进行设定。例如，设定第一预设阈值为20。通过上述方式，将一个满足上述条件的第一候选像素块识别为一处疑似缺陷，一方面目的是将微小的、对实际使用基本无影响的显示缺陷过滤掉，另一方面也可排除第一图像中噪声点对识别结果的干扰，再一方面还可减少后续的计算处理量。
步骤303，获取被测显示屏的正面的第二图像。
处理组件获取被测显示屏的正面的第二图像。第二图像也是正对被测显示屏的正面拍摄得到的，第二图像中包含被测显示屏的正面的完整图像。
第二图像是被测显示屏处于熄灭状态且被漫反射光源向被测显示屏的正面照射的情况下拍摄的。在被测显示屏处于熄灭状态下，被测显示屏的显示缺陷均不可见。进一步地，通过漫反射光源向被测显示屏的正面照射被测显示屏，在被测显示屏的正面贴附有外部脏污的情况下，投射至外部脏污位置处的入射光线会发生漫反射现象。相应地，第二图像中便会记录有外部脏污。
另外，由于漫反射光源发出的入射光线的入射角过大会使得第二图像过暗，而入射角过小又会使得第二图像过亮，第二图像过暗或者过亮均会掩盖掉部分外部脏污，不利于后续的脏污识别。因此，在漫反射光源发出的入射光线的入射角大于等于35°且小于等于55°的情况下，脏污检测效果较佳。优选地，漫反射光源发出的入射光线的入射角为45°。
步骤304，在第二图像中识别外部脏污像素。
处理组件在第二图像中识别外部脏污像素。外部脏污像素是第二图像中的被测显示屏的显示屏区域中，像素特征属于第二数值区间的像素。其中，第二数值区间是指外部脏污像素的像素特征对应的取值范围。第二数值区间可以是预先设定的；或者，第二数值区间也可以是根据第二图像中的被测显示屏的显示屏区域中各个像素的像素特征确定出的。像素特征包括亮度值和/或对比度。例如，将第二图像中的被测显示屏的显示屏区域中，亮度值大于第二亮度值阈值的像素识别为外部脏污像素；再例如，将第二图像中的被测显示屏的显示屏区域中，对比度大于第二对比度阈值的像素识别为外部脏污像素。当然，在其它可能的实施方式中，也可综合考虑亮度值和对比度两方面因素，在第二图像中识别外部脏污像素。
外部脏污像素在被测显示屏上所对应的位置，即为贴附于被测显示屏正面的外部脏污所在位置。一处外部脏污的分布形状可以是点、线、斑等形状。因此，一处外部脏污对应于一个或者多个外部脏污像素。
与识别疑似缺陷像素的方式相类似，在一种可能的实施方式中，本步骤包括如下几个子步骤：
1、分别获取第二图像中被测显示屏的显示屏区域中的每一个像素的像素特征；
2、检测上述被测显示屏的显示屏区域中是否存在像素特征属于第二数值区间的第二候选像素；
3、若上述被测显示屏的显示屏区域中存在像素特征属于第二数值区间的第二候选像素，则检测是否存在由连续排列的第二候选像素所形成的第二候选像素块且第二候选像素块中的像素个数大于第二预设阈值；
4、若存在上述第二候选像素块，则将上述第二候选像素块中的各个第二候选像素识别为外部脏污像素。
其中，第二预设阈值可根据图像采集组件中摄像头的分辨率进行设定。例如，设定第二预设阈值为20。通过上述方式，将一个满足上述条件的第二候选像素块识别为一处外部脏污，可以排除第二图像中噪声点对识别结果的干扰。
在第一图像中识别出了疑似缺陷像素的情况下，处理组件从疑似缺陷像素中剔除外部脏污像素，根据剔除后的结果确定显示缺陷像素。其中，显示缺陷像素在被测显示屏上所对应的位置，即为被测显示屏中真正的显示缺陷所在位置。具体来讲，包括如下步骤305和步骤306。
步骤305，对于第一图像中识别出的每一个疑似缺陷像素，检测第二图像的相同位置处是否为外部脏污像素。
步骤306，若第二图像的相同位置处不是外部脏污像素，则将疑似缺陷像素确定为显示缺陷像素。
在一个例子中，结合参考图3B和图3C，假设在第一图像31中的a、b、c和d四个位置处识别出四处疑似缺陷(如图3B所示)，在第二图像32中的A、B、C和E四个位置处识别出四处外部脏污(如图3C所示)。通过比对分析，可以确定a、b和c三个位置处的疑似缺陷均为外部脏污，而非真正的显示缺陷；d位置处的疑似缺陷在第二图像32的相同位置处不是外部脏污，因此d位置处的疑似缺陷为真正的显示缺陷。
若每一个疑似缺陷像素在第二图像的相同位置处均为外部脏污像素，则确定被测显示屏不存在显示缺陷。
可选地，在疑似缺陷像素中存在显示缺陷像素的情况下，本实施例还包括如下步骤307。
步骤307，记录显示缺陷像素在被测显示屏的显示屏区域中的位置。
处理组件记录显示缺陷像素在被测显示屏的显示屏区域中的位置，以便后续根据该记录的位置从被测显示屏中准确找出显示缺陷所在位置，并对其进行修复。
另外，上述步骤302之后，还包括如下步骤308。
步骤308，若在第一图像中未识别出疑似缺陷像素，则确定被测显示屏不存在显示缺陷。
若在第一图像中未识别出疑似缺陷像素，则处理组件确定被测显示屏不存在显示缺陷。考虑到在实际应用场景下，被测显示屏是良品(也即不存在显示缺陷)的概率是远大于被测显示屏是次品(也即存在显示缺陷)的概率的，且在通常情况下检测环境是相对干净无尘的，仅有少部分的被测显示屏表面可能贴附有外部脏污，因此为了减少处理组件的计算处理量，优先执行步骤301和步骤302，并在第一图像中识别出了疑似缺陷像素的情况下，再执行步骤303和步骤304，否则在第一图像中未识别出疑似缺陷像素的情况下，即可直接确定被测显示屏为良品，无需执行步骤303和步骤304对第二图像进行处理和分析。
需要补充说明的一点是，由于第一图像是在被测显示屏处于点亮状态下拍摄的，部分微小的外部脏污可能会被掩盖而无法记录于第一图像中，但这并不会影响到对显示缺陷的检测识别，因为仅需确保第一图像中记录的疑似缺陷中包含全部真正的显示缺陷即可。
综上所述，本实施例提供的方法，通过在第一图像中识别疑似缺陷像素，在第二图像中识别外部脏污像素，进而依据疑似缺陷像素在第一图像中的位置和外部脏污像素在第二图像中的位置，判别疑似缺陷像素是否为显示缺陷像素；解决了现有技术通过添加专门的除污环节以降低误检测概率，导致检测速度降低，影响检测效率的问题；实现了自动化地将真正的显示缺陷和外部脏污进行辨别区分，既可避免因脏污而导致误检测的情况发生，且相比于现有技术检测速度和检测效率显著提高。
另外，还通过将一个连续排列的且像素个数大于第一预设阈值的第一候选像素块识别为一处疑似缺陷，一方面目的是将微小的、对实际使用基本无影响的显示缺陷过滤掉，另一方面也可排除第一图像中噪声点对识别结果的干扰，再一方面还可减少后续的计算处理量。类似地，通过将一个连续排列的且像素个数大于第二预设阈值的第二候选像素块识别为一处外部脏污，可以排除第二图像中噪声点对识别结果的干扰。
另外，还通过控制漫反射光源发出的入射光线的入射角在35°至55°之间，避免因图像过暗或者过亮导致掩盖掉部分脏污，提高脏污检测效果。优选地，在漫反射光源发出的入射光线的入射角等于45°的情况下，脏污检测效果最佳。
此外，在硬件方面，与现有技术相比，仅需添加一个漫反射光源组件，而无需通过技术人员或专业设备对被测显示屏进行擦拭除污，充分节约了设备成本和人力成本。
在上述方法实施例中，仅以各步骤的执行主体为处理组件进行举例说明，在其它可能的实施方式中，各步骤的执行主体也可以是独立于上述显示屏的显示缺陷检测设备的电子设备，该电子设备可以是一台独立的计算机。
下述为本发明装置实施例，可以用于执行本发明方法实施例。对于本发明装置实施例中未披露的细节，请参照本发明方法实施例。
请参考图4，其示出了本发明一个实施例提供的显示屏的显示缺陷检测装置的结构方框图。该装置可通过软、硬件或者两者的结合实现成为一台具备计算处理能力的电子设备的部分或者全部。该装置可以包括：第一获取模块410、第一识别模块420、第二获取模块430、第二识别模块440、检测模块450和第一确定模块460。
第一获取模块410，用于获取被测显示屏的正面的第一图像，第一图像是被测显示屏处于纯色显示状态的情况下拍摄的，被测显示屏的正面是指被测显示屏的用于显示图像的一面。
第一识别模块420，用于在第一获取模块410获取的第一图像中识别疑似缺陷像素，疑似缺陷像素是被测显示屏的显示屏区域中像素特征属于第一数值区间的像素，该第一数值区间是指疑似缺陷像素的像素特征对应的取值范围。
第二获取模块430，用于获取被测显示屏的正面的第二图像，第二图像是被测显示屏处于熄灭状态且被漫反射光源向被测显示屏的正面照射的情况下拍摄的。
第二识别模块440，用于在第二获取模块430获取的第二图像中识别外部脏污像素，外部脏污像素是被测显示屏的显示屏区域中像素特征属于第二数值区间的像素，该第二数值区间是指外部脏污像素的像素特征对应的取值范围。
检测模块450，用于对于第一识别模块420从第一图像中识别出的每一个疑似缺陷像素，检测第二图像的相同位置处是否为外部脏污像素。
第一确定模块460，用于若检测模块450检测出第二图像的相同位置处不是外部脏污像素，则将疑似缺陷像素确定为显示缺陷像素。
综上所述，本实施例提供的装置，通过在第一图像中识别疑似缺陷像素，在第二图像中识别外部脏污像素，进而依据疑似缺陷像素在第一图像中的位置和外部脏污像素在第二图像中的位置，判别疑似缺陷像素是否为显示缺陷像素；解决了现有技术通过添加专门的除污环节以降低误检测概率，导致检测速度降低，影响检测效率的问题；实现了自动化地将真正的显示缺陷和外部脏污进行辨别区分，既可避免因脏污而导致误检测的情况发生，且相比于现有技术检测速度和检测效率显著提高。
请参考图5，其示出了本发明另一实施例提供的显示屏的显示缺陷检测装置的结构方框图。该装置可通过软、硬件或者两者的结合实现成为一台具备计算处理能力的电子设备的部分或者全部。该装置可以包括：第一获取模块510、第一识别模块520、第二获取模块530、第二识别模块540、检测模块550和第一确定模块560。
第一获取模块510，用于获取被测显示屏的正面的第一图像，第一图像是被测显示屏处于纯色显示状态的情况下拍摄的，被测显示屏的正面是指被测显示屏的用于显示图像的一面。
第一识别模块520，用于在第一获取模块510获取的第一图像中识别疑似缺陷像素，疑似缺陷像素是被测显示屏的显示屏区域中像素特征属于第一数值区间的像素，该第一数值区间是指疑似缺陷像素的像素特征对应的取值范围。
第二获取模块530，用于获取被测显示屏的正面的第二图像，第二图像是被测显示屏处于熄灭状态且被漫反射光源向被测显示屏的正面照射的情况下拍摄的。
第二识别模块540，用于在第二获取模块530获取的第二图像中识别外部脏污像素，外部脏污像素是被测显示屏的显示屏区域中像素特征属于第二数值区间的像素，该第二数值区间是指外部脏污像素的像素特征对应的取值范围。
检测模块550，用于对于第一识别模块520从第一图像中识别出的每一个疑似缺陷像素，检测第二图像的相同位置处是否为外部脏污像素。
第一确定模块560，用于若检测模块550检测出第二图像的相同位置处不是外部脏污像素，则将疑似缺陷像素确定为显示缺陷像素。
在一种可能的实施方式中，第一识别模块520，具体用于：
分别获取第一获取模块510获取的第一图像中被测显示屏的显示屏区域中的每一个像素的像素特征，该像素特征包括亮度值和/或对比度；
检测被测显示屏的显示屏区域中是否存在像素特征属于第一数值区间的第一候选像素；
若被测显示屏的显示屏区域中存在像素特征属于第一数值区间的第一候选像素，则检测是否存在由连续排列的第一候选像素所形成的第一候选像素块且第一候选像素块中的像素个数大于第一预设阈值；
若存在第一候选像素块，则将第一候选像素块中的各个第一候选像素识别为疑似缺陷像素。
类似地，在一种可能的实施方式中，第二识别模块540，具体用于：
分别获取第二获取模块530获取的第二图像中被测显示屏的显示屏区域中的每一个像素的像素特征，该像素特征包括亮度值和/或对比度；
检测被测显示屏的显示屏区域中是否存在像素特征属于第二数值区间的第二候选像素；
若被测显示屏的显示屏区域中存在像素特征属于第二数值区间的第二候选像素，则检测是否存在由连续排列的第二候选像素所形成的第二候选像素块且第二候选像素块中的像素个数大于第二预设阈值；
若存在第二候选像素块，则将第二候选像素块中的各个第二候选像素识别为外部脏污像素。
可选地，本实施例提供的装置还包括：第二确定模块522。
第二确定模块522，用于若第一识别模块520在第一图像中未识别出疑似缺陷像素，则确定被测显示屏不存在显示缺陷。
可选地，本实施例提供的装置还包括：记录模块570。
记录模块570，用于记录第一确定模块560确定出的显示缺陷像素在被测显示屏的显示屏区域中的位置。
综上所述，本实施例提供的装置，通过在第一图像中识别疑似缺陷像素，在第二图像中识别外部脏污像素，进而依据疑似缺陷像素在第一图像中的位置和外部脏污像素在第二图像中的位置，判别疑似缺陷像素是否为显示缺陷像素；解决了现有技术通过添加专门的除污环节以降低误检测概率，导致检测速度降低，影响检测效率的问题；实现了自动化地将真正的显示缺陷和外部脏污进行辨别区分，既可避免因脏污而导致误检测的情况发生，且相比于现有技术检测速度和检测效率显著提高。
另外，还通过将一个连续排列的且像素个数大于第一预设阈值的第一候选像素块识别为一处疑似缺陷，一方面目的是将微小的、对实际使用基本无影响的显示缺陷过滤掉，另一方面也可排除第一图像中噪声点对识别结果的干扰，再一方面还可减少后续的计算处理量。类似地，通过将一个连续排列的且像素个数大于第二预设阈值的第二候选像素块识别为一处外部脏污，可以排除第二图像中噪声点对识别结果的干扰。
需要说明的是：在上述各装置实施例中，仅以上述各功能模块的划分进行举例说明，实际应用中，可以根据需要而将上述功能分配由不同的功能模块完成，即将设备的内部结构划分成不同的功能模块，以完成以上描述的全部或者部分功能。另外，上述实施例提供的显示屏的显示缺陷检测装置与显示屏的显示缺陷检测方法的方法实施例属于同一构思，其具体实现过程详见方法实施例，这里不再赘述。
本发明一个实施例还提供了一种电子设备，该电子设备可以是一台计算机。该电子设备包括如上述图4或者图5所示实施例提供的显示屏的显示缺陷检测装置。该装置中各个功能模块与上述方法实施例中各步骤一一对应，具体参见方法实施例中的介绍和说明，此处不再赘述。
请参考图6，其示出了本发明一个实施例提供的电子设备的结构方框图。如图6所示，电子设备600包括：总线610，以及通过总线610通信的处理器620和存储器630。存储器630用于存储一个或者一个以上的指令，该指令被配置成由处理器620执行。其中：
所述处理器620，用于获取被测显示屏的正面的第一图像，所述第一图像是所述被测显示屏处于纯色显示状态的情况下拍摄的，所述被测显示屏的正面是指所述被测显示屏的用于显示图像的一面；
所述处理器620，还用于在所述第一图像中识别疑似缺陷像素，所述疑似缺陷像素是所述被测显示屏的显示屏区域中像素特征属于第一数值区间的像素，所述第一数值区间是指所述疑似缺陷像素的像素特征对应的取值范围；
所述处理器620，还用于获取所述被测显示屏的正面的第二图像，所述第二图像是所述被测显示屏处于熄灭状态且被漫反射光源向所述被测显示屏的正面照射的情况下拍摄的；
所述处理器620，还用于在所述第二图像中识别外部脏污像素，所述外部脏污像素是所述被测显示屏的显示屏区域中像素特征属于第二数值区间的像素，所述第二数值区间是指所述外部脏污像素的像素特征对应的取值范围；
所述处理器620，还用于对于所述第一图像中识别出的每一个所述疑似缺陷像素，检测所述第二图像的相同位置处是否为所述外部脏污像素；
所述处理器620，还用于若所述第二图像的相同位置处不是所述外部脏污像素，则将所述疑似缺陷像素确定为显示缺陷像素。
综上所述，本实施例提供的电子设备，通过在第一图像中识别疑似缺陷像素，在第二图像中识别外部脏污像素，进而依据疑似缺陷像素在第一图像中的位置和外部脏污像素在第二图像中的位置，判别疑似缺陷像素是否为显示缺陷像素；解决了现有技术通过添加专门的除污环节以降低误检测概率，导致检测速度降低，影响检测效率的问题；实现了自动化地将真正的显示缺陷和外部脏污进行辨别区分，既可避免因脏污而导致误检测的情况发生，且相比于现有技术检测速度和检测效率显著提高。
在基于图6所示实施例提供的可选实施例中，所述处理器620，具体用于：
分别获取所述第一图像中所述被测显示屏的显示屏区域中的每一个像素的像素特征，所述像素特征包括亮度值和/或对比度；
检测所述被测显示屏的显示屏区域中是否存在所述像素特征属于所述第一数值区间的第一候选像素；
若所述被测显示屏的显示屏区域中存在所述像素特征属于所述第一数值区间的第一候选像素，则检测是否存在由连续排列的所述第一候选像素所形成的第一候选像素块且所述第一候选像素块中的像素个数大于第一预设阈值；
若存在所述第一候选像素块，则将所述第一候选像素块中的各个第一候选像素识别为所述疑似缺陷像素。
在基于图6所示实施例提供的可选实施例中，所述处理器620，具体用于：
分别获取所述第二图像中所述被测显示屏的显示屏区域中的每一个像素的像素特征，所述像素特征包括亮度值和/或对比度；
检测所述被测显示屏的显示屏区域中是否存在所述像素特征属于所述第二数值区间的第二候选像素；
若所述被测显示屏的显示屏区域中存在所述像素特征属于所述第二数值区间的第二候选像素，则检测是否存在由连续排列的所述第二候选像素所形成的第二候选像素块且所述第二候选像素块中的像素个数大于第二预设阈值；
若存在所述第二候选像素块，则将所述第二候选像素块中的各个第二候选像素识别为所述外部脏污像素。
在基于图6所示实施例提供的可选实施例中，
所述处理器620，还用于若所述第一图像中未识别出所述疑似缺陷像素，则确定所述被测显示屏不存在显示缺陷。
在基于图6所示实施例提供的可选实施例中，所述处理器，还用于记录所述显示缺陷像素在所述被测显示屏的显示屏区域中的位置。
应当理解的是，在本文中使用的，除非上下文清楚地支持例外情况，单数形式“一个”(“a”、“an”、“the”)旨在也包括复数形式。还应当理解的是，在本文中使用的“和/或”是指包括一个或者一个以上相关联地列出的项目的任意和所有可能组合。
上述本发明实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例的全部或部分步骤可以通过硬件来完成，也可以通过程序来指令相关的硬件完成，所述的程序可以存储于一种计算机可读存储介质中，上述提到的存储介质可以是只读存储器，磁盘或光盘等。
以上所述仅为本发明的较佳实施例，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (22)

1.一种显示屏的显示缺陷检测方法，其特征在于，所述方法包括：
获取被测显示屏的正面的第一图像，所述第一图像是所述被测显示屏处于纯色显示状态的情况下拍摄的，所述被测显示屏的正面是指所述被测显示屏的用于显示图像的一面；
在所述第一图像中识别疑似缺陷像素，所述疑似缺陷像素是所述被测显示屏的显示屏区域中像素特征属于第一数值区间的像素，所述第一数值区间是指所述疑似缺陷像素的像素特征对应的取值范围；
获取所述被测显示屏的正面的第二图像，所述第二图像是所述被测显示屏处于熄灭状态且被漫反射光源向所述被测显示屏的正面照射的情况下拍摄的；
在所述第二图像中识别外部脏污像素，所述外部脏污像素是所述被测显示屏的显示屏区域中像素特征属于第二数值区间的像素，所述第二数值区间是指所述外部脏污像素的像素特征对应的取值范围；
对于所述第一图像中识别出的每一个所述疑似缺陷像素，检测所述第二图像的相同位置处是否为所述外部脏污像素；
若所述第二图像的相同位置处不是所述外部脏污像素，则将所述疑似缺陷像素确定为显示缺陷像素。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述在所述第一图像中识别疑似缺陷像素，包括：
分别获取所述第一图像中所述被测显示屏的显示屏区域中的每一个像素的像素特征，所述像素特征包括亮度值和/或对比度；
检测所述被测显示屏的显示屏区域中是否存在所述像素特征属于所述第一数值区间的第一候选像素；
若所述被测显示屏的显示屏区域中存在所述像素特征属于所述第一数值区间的第一候选像素，则检测是否存在由连续排列的所述第一候选像素所形成的第一候选像素块且所述第一候选像素块中的像素个数大于第一预设阈值；
若存在所述第一候选像素块，则将所述第一候选像素块中的各个第一候选像素识别为所述疑似缺陷像素。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述在所述第二图像中识别外部脏污像素，包括：
分别获取所述第二图像中所述被测显示屏的显示屏区域中的每一个像素的像素特征，所述像素特征包括亮度值和/或对比度；
检测所述被测显示屏的显示屏区域中是否存在所述像素特征属于所述第二数值区间的第二候选像素；
若所述被测显示屏的显示屏区域中存在所述像素特征属于所述第二数值区间的第二候选像素，则检测是否存在由连续排列的所述第二候选像素所形成的第二候选像素块且所述第二候选像素块中的像素个数大于第二预设阈值；
若存在所述第二候选像素块，则将所述第二候选像素块中的各个第二候选像素识别为所述外部脏污像素。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述在所述第一图像中识别疑似缺陷像素之后，还包括：
若所述第一图像中未识别出所述疑似缺陷像素，则确定所述被测显示屏不存在显示缺陷。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将所述疑似缺陷像素确定为显示缺陷像素之后，还包括：
记录所述显示缺陷像素在所述被测显示屏的显示屏区域中的位置。
6.根据权利要求1至5任一所述的方法，其特征在于，所述漫反射光源发出的入射光线的入射角大于等于35°且小于等于55°。
7.一种显示屏的显示缺陷检测装置，其特征在于，所述装置包括：
第一获取模块，用于获取被测显示屏的正面的第一图像，所述第一图像是所述被测显示屏处于纯色显示状态的情况下拍摄的，所述被测显示屏的正面是指所述被测显示屏的用于显示图像的一面；
第一识别模块，用于在所述第一图像中识别疑似缺陷像素，所述疑似缺陷像素是所述被测显示屏的显示屏区域中像素特征属于第一数值区间的像素，所述第一数值区间是指所述疑似缺陷像素的像素特征对应的取值范围；
第二获取模块，用于获取所述被测显示屏的正面的第二图像，所述第二图像是所述被测显示屏处于熄灭状态且被漫反射光源向所述被测显示屏的正面照射的情况下拍摄的；
第二识别模块，用于在所述第二图像中识别外部脏污像素，所述外部脏污像素是所述被测显示屏的显示屏区域中像素特征属于第二数值区间的像素，所述第二数值区间是指所述外部脏污像素的像素特征对应的取值范围；
检测模块，用于对于所述第一图像中识别出的每一个所述疑似缺陷像素，检测所述第二图像的相同位置处是否为所述外部脏污像素；
第一确定模块，用于若所述第二图像的相同位置处不是所述外部脏污像素，则将所述疑似缺陷像素确定为显示缺陷像素。
8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述第一识别模块，具体用于：
分别获取所述第一图像中所述被测显示屏的显示屏区域中的每一个像素的像素特征，所述像素特征包括亮度值和/或对比度；
检测所述被测显示屏的显示屏区域中是否存在所述像素特征属于所述第一数值区间的第一候选像素；
若所述被测显示屏的显示屏区域中存在所述像素特征属于所述第一数值区间的第一候选像素，则检测是否存在由连续排列的所述第一候选像素所形成的第一候选像素块且所述第一候选像素块中的像素个数大于第一预设阈值；
若存在所述第一候选像素块，则将所述第一候选像素块中的各个第一候选像素识别为所述疑似缺陷像素。
9.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述第二识别模块，具体用于：
分别获取所述第二图像中所述被测显示屏的显示屏区域中的每一个像素的像素特征，所述像素特征包括亮度值和/或对比度；
检测所述被测显示屏的显示屏区域中是否存在所述像素特征属于所述第二数值区间的第二候选像素；
若所述被测显示屏的显示屏区域中存在所述像素特征属于所述第二数值区间的第二候选像素，则检测是否存在由连续排列的所述第二候选像素所形成的第二候选像素块且所述第二候选像素块中的像素个数大于第二预设阈值；
若存在所述第二候选像素块，则将所述第二候选像素块中的各个第二候选像素识别为所述外部脏污像素。
10.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：
第二确定模块，用于若所述第一图像中未识别出所述疑似缺陷像素，则确定所述被测显示屏不存在显示缺陷。
11.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：
记录模块，用于记录所述显示缺陷像素在所述被测显示屏的显示屏区域中的位置。
12.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括如权利要求7至11任一所述的显示屏的显示缺陷检测装置。
13.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括：处理器和存储器，所述存储器用于存储一个或者一个以上的指令，所述指令被配置成由所述处理器执行；
所述处理器，用于获取被测显示屏的正面的第一图像，所述第一图像是所述被测显示屏处于纯色显示状态的情况下拍摄的，所述被测显示屏的正面是指所述被测显示屏的用于显示图像的一面；
所述处理器，还用于在所述第一图像中识别疑似缺陷像素，所述疑似缺陷像素是所述被测显示屏的显示屏区域中像素特征属于第一数值区间的像素，所述第一数值区间是指所述疑似缺陷像素的像素特征对应的取值范围；
所述处理器，还用于获取所述被测显示屏的正面的第二图像，所述第二图像是所述被测显示屏处于熄灭状态且被漫反射光源向所述被测显示屏的正面照射的情况下拍摄的；
所述处理器，还用于在所述第二图像中识别外部脏污像素，所述外部脏污像素是所述被测显示屏的显示屏区域中像素特征属于第二数值区间的像素，所述第二数值区间是指所述外部脏污像素的像素特征对应的取值范围；
所述处理器，还用于对于所述第一图像中识别出的每一个所述疑似缺陷像素，检测所述第二图像的相同位置处是否为所述外部脏污像素；
所述处理器，还用于若所述第二图像的相同位置处不是所述外部脏污像素，则将所述疑似缺陷像素确定为显示缺陷像素。
14.根据权利要求13所述的电子设备，其特征在于，所述处理器，具体用于：
分别获取所述第一图像中所述被测显示屏的显示屏区域中的每一个像素的像素特征，所述像素特征包括亮度值和/或对比度；
检测所述被测显示屏的显示屏区域中是否存在所述像素特征属于所述第一数值区间的第一候选像素；
若所述被测显示屏的显示屏区域中存在所述像素特征属于所述第一数值区间的第一候选像素，则检测是否存在由连续排列的所述第一候选像素所形成的第一候选像素块且所述第一候选像素块中的像素个数大于第一预设阈值；
若存在所述第一候选像素块，则将所述第一候选像素块中的各个第一候选像素识别为所述疑似缺陷像素。
15.根据权利要求13所述的电子设备，其特征在于，所述处理器，具体用于：
分别获取所述第二图像中所述被测显示屏的显示屏区域中的每一个像素的像素特征，所述像素特征包括亮度值和/或对比度；
检测所述被测显示屏的显示屏区域中是否存在所述像素特征属于所述第二数值区间的第二候选像素；
若所述被测显示屏的显示屏区域中存在所述像素特征属于所述第二数值区间的第二候选像素，则检测是否存在由连续排列的所述第二候选像素所形成的第二候选像素块且所述第二候选像素块中的像素个数大于第二预设阈值；
若存在所述第二候选像素块，则将所述第二候选像素块中的各个第二候选像素识别为所述外部脏污像素。
16.根据权利要求13所述的电子设备，其特征在于，
所述处理器，还用于若所述第一图像中未识别出所述疑似缺陷像素，则确定所述被测显示屏不存在显示缺陷。
17.根据权利要求13所述的电子设备，其特征在于，
所述处理器，还用于记录所述显示缺陷像素在所述被测显示屏的显示屏区域中的位置。
18.一种显示屏的显示缺陷检测设备，其特征在于，所述设备包括：支架，以及分别与所述支架相连的显示屏固定组件、漫反射光源组件和图像采集组件；
所述显示屏固定组件，用于固定被测显示屏；
所述漫反射光源组件，用于提供漫反射光源；
所述图像采集组件，用于在所述被测显示屏处于纯色显示状态的情况下，从所述被测显示屏的正面拍摄得到第一图像，所述被测显示屏的正面是指所述被测显示屏的用于显示图像的一面；
所述图像采集组件，还用于在所述被测显示屏处于熄灭状态且被所述漫反射光源向所述被测显示屏的正面照射的情况下，从所述被测显示屏的正面拍摄得到第二图像。
19.根据权利要求18所述的设备，其特征在于，所述漫反射光源组件，包括：
壳体；
设置于所述壳体内的发光元件，所述发光元件用于提供所述漫反射光源；
设置于所述壳体表面的散热孔；以及，
设置于所述漫反射光源发出的入射光线周侧的遮光盖。
20.根据权利要求18所述的设备，其特征在于，所述设备还包括：光源连接组件；
所述光源连接组件，用于将所述漫反射光源组件与所述支架活动连接。
21.根据权利要求18所述的设备，其特征在于，所述漫反射光源发出的入射光线的入射角大于等于35°且小于等于55°。
22.根据权利要求18至21任一所述的设备，其特征在于，所述设备还包括：处理组件；
所述处理组件包括如权利要求7至11任一所述的显示屏的显示缺陷检测装置。
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