CN112304969A - 显示模块检测设备、方法、装置及系统和存储介质 - Google Patents
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Abstract
本发明实施例公开了一种显示模块检测设备、方法、装置、系统和存储介质。所述一种显示模块检测设备,包括:暗室,设置有检测位;光源,设置在所述暗室内;图像采集装置,设置在所述暗室内,用于对位于所述检测位且处于所述光源照明下未点亮的待测显示模块进行图像采集,以得到采集图像;检测分析装置,连接所述图像采集装置,用于对所述采集图像进行分析处理,以判断所述待测显示模块的表面层的颜色是否合格。本发明提供的一种显示模块检测设备能够在不受环境光的影响下对待测显示模块进行采集图像,排除了其他因素对测量的影响,通过分析处理,能够精确的判断样品表面层颜色是否合格,其效率高,误检率低。
Description
技术领域
本发明涉及图像处理技术领域,尤其涉及一种显示模块检测设备、一种显示模块检测方法、一种显示模块检测装置、一种显示模块检测系统和一种存储介质。
背景技术
LED显示屏行业中,LED灯焊装在一个标准大小的、背景为黑色的电路板上,多个电路板拼接成为一块大的显示灯板,即显示屏;在焊装LED灯之前,为了不影响观赏性,生产商会将电路板上镶嵌LED的一面喷上墨色的油,使拼接好的LED显示屏在不亮灯的情况下背景看起来一致。
目前,在LED显示屏的实际生产中,由于工艺问题,不能保证每一批LED灯板喷墨后的颜色和下一批LED灯板喷墨的颜色完全一致,这就会使得用多个灯板拼接起来的显示屏看起来颜色不均匀,造成花屏的现象,极大的影响了LED显示屏的销售。为了避免这种现象,LED显示屏生产商普遍采用人工观察来判断LED灯板的颜色,并根据颜色差异将灯板分类。然而,由于人眼观察容易疲劳,而且观测误差上下浮动较大,就造成了判断结果不准确等问题。
发明内容
本发明的实施例提供一种显示模块检测设备、一种显示模块检测方法、一种显示模块检测装置、一种显示模块检测系统和存储介质,以实现提升检测效率。
一方面,本发明实施例提出的一种显示模块检测设备,包括:
暗室,设置有检测位;
光源,设置在所述暗室内;
图像采集装置,设置在所述暗室内,用于对位于所述检测位且处于所述光源照明下未点亮的待测显示模块进行图像采集,以得到采集图像;
检测分析装置,连接所述图像采集装置,用于对所述采集图像进行分析处理,以判断所述待测显示模块的表面层的颜色是否合格。
本发明通过在暗室设置光源,然后通过图像采集装置进行采集图像,避免了环境光源对图像采集的影响,并通过检测分析装置检测分析,其效率高,误检率低,且可实现批量检测。
在本发明的一个实施例中,所述检测位包括并排设置的第一放置区和第二放置区;所述图像采集装置用于对位于所述第一放置区且处于所述光源照明下未点亮的所述待测显示模块以及位于所述第二放置区且处于所述光源照明下未点亮的样本显示模块进行图像采集,以得到所述采集图像。
在本发明的一个实施例中,所述检测分析装置具体用于框选所述采集图像中对应所述待测显示模块的第一图像的至少部分区域和对应所述样本显示模块的第二图像的至少部分区域,获取所述第一图像的所述至少部分区域的第一表面层颜色数据和所述第二图像的所述至少部分区域的第二表面层颜色数据,以及根据所述第一表面层颜色数据相对于所述第二表面层颜色数据的差异判断所述待测显示模块的所述表面层的颜色是否合格。
在本发明的一个实施例中,所述表面层为所述显示模块设置有多个LED像素的一侧的油墨层,且所述油墨层环绕所述多个LED像素。
另一方面,本发明实施例提供的一种显示模块检测方法,包括:
对处于暗室的检测位且处于光源照明下未点亮的待测显示模块进行图像采集,以得到采集图像;以及
对所述采集图像进行分析处理,以判断所述待测显示模块的表面层的颜色是否合格。
在本发明的一个实施例中,所述对处于所述检测位且处于光源照明下未点亮的待测显示模块进行图像采集,以得到采集图像,包括:对并排位于所述检测位且处于光源照明下未点亮的所述待测显示模块和样本显示模块同时进行图像采集,以得到所述采集图像。
在本发明的一个实施例中,所述对所述采集图像进行分析处理,以判断所述待测显示模块的表面层的颜色是否合格,包括:
框选所述采集图像中对应所述待测显示模块的第一图像的至少部分区域和对应所述样本显示模块的第二图像的至少部分区域,
获取所述第一图像的所述至少部分区域的第一表面层颜色数据和所述第二图像的所述至少部分区域的第二表面层颜色数据,以及
根据所述第一表面层颜色数据相对于所述第二表面层颜色数据的差异判断所述待测显示模块的所述表面层的颜色是否合格。
在本发明的一个实施例中,所述表面层为所述显示模块设置有多个LED像素的一侧的油墨层,且所述油墨层环绕所述多个LED像素。
在本发明的一个实施例中,所述获取所述第一图像的所述至少部分区域的第一表面层颜色数据,包括:
获取所述第一图像的所述至少部分区域的图像像素的亮度最大值,以确定所述第一图像的所述至少部分区域包含的灰度级的数量;
统计每个所述灰度级上图像像素的个数;
采用公式sU=∑i*Histogram[i]计算总体质量矩,其中sU表示所述总体质量矩,i表示所述第一图像的所述至少部分区域包含的灰度级数量,Histogram[i]表示每个所述灰度级上图像像素的个数;
以所述第j个灰度级作为阈值,以获取小于所述阈值的各个灰度级上的图像像素作为目标图像像素;以及
基于所述目标图像像素得到所述第一表面层颜色数据。
再一方面,本发明实施例提供的一种显示模块检测装置,用于执行前述任意一种显示模块检测方法,包括:
图像采集控制模块,用于控制图像采集装置对处于暗室的检测位且处于光源照明下未点亮的待测显示模块进行图像采集,以得到采集图像;以及
图像分析处理模块,用于对所述采集图像进行分析处理,以判断所述待测显示模块的表面层的颜色是否合格。
又一方面,本发明实施例提供的一种显示模块检测系统,包括:处理器和存储器;其中,所述存储器存储由所述处理器执行的指令,且所述处理器用于执行所述指令以实现前述任意一种显示模块检测方法。
再又一方面,本发明实施例提供的一种存储介质,其中,所述存储介质为非易失性存储器且存储有程序代码,所述程序代码被被一个或多个处理器执行时实现前述任意一种显示模块检测方法。
综上所述,本发明实施例能够在不受环境光的影响下对待测显示模块进行采集图像,排除了其他因素影响,通过分析处理,能够精确的判断样品表现层颜色是否合格,其效率高,误检率低。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明第一实施例提供的显示检测设备的结构示意图图。
图2为本发明第一实施例提供的检测位的俯视图。
图3为本发明第二实施例提供的一种显示模块检测方法流程图。
图4为本发明第二实施例提供的对采集图像进行分析处理的流程图。
图5为本发明第三实施例提供的显示模块检测装置结构示意图。
图6为本发明第四实施例提供的显示模块检测系统结构示意图。
图7为本发明第五实施例的一种存储介质的示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
【第一实施例】
如图1所示,发明第一实施例提供了一种显示模块检测设备,例如包括:
暗室1,设置有检测位2;
光源3,设置在暗室1内;
图像采集装置4,设置在暗室1内,用于对位于检测位2且处于光源3照明下未点亮的待测显示模块进行图像采集,以得到采集图像;
检测分析装置5,连接图像采集装置,用于对所述采集图像进行分析处理,以判断所述待测显示模块的表面层的颜色是否合格。
具体地,暗室1为设置有遮光设备的空间,以防止环境光影响暗室1内亮度。暗室1其内部设置有放置待测显示模块的检测位2,其内部设置有光源3,光源3用于对检测位2提供照明;暗室1内部设置有图像采集装置4,用于采集位于检测位2上的未点亮的待测显示模块,从而得到采集图像。检测分析装置5对图像采集装置4得到的采集图像进行分析处理。优选地,光源3为面光源或者多个点光源,图像采集装置4为相机(例如佳能7D、70D),分析检测装置5可以为个人计算机,其典型的安装有现有比较成熟的图像分析处理软件。
具体地,当需要对待测显示模块进行检测时,首先将待测显示模块放置在暗室1内部的检测位2上,其中,该待测显示模块不上电未点亮。然后,打开光源3,以照射使得检测位2上的待测显示模块亮度均匀,避免出现亮暗差别。紧接着,启动图像采集装置4,利用图像采集装置4对该待测显示模块进行图像采集,得到该待测显示模块的采集图像,并将该采集图像发送至检测分析模块装置5。当该检测分析装置5得到采集图像之后,检测分析装置模块5对该采集图像进行分析处理,判断该待测显示模块的表面层其颜色是否合格。
进一步地,如图2所示,检测位2包括并排设置的第一放置区21和第二放置区22;图像采集装置5用于对位于第一放置区21且处于光源3照明下未点亮的所述待测显示模块以及位于第二放置区22且处于光源3照明下未点亮的样本显示模块进行图像采集,以得到所采集图像。
具体地,第一放置区21和第二放置区22在光源3的作用下,其光暗程度相同,且距离图像采集装置距离相同。在第一放置区21和第二放置区22上分别对应放置待测显示模块和样本显示模块。图像采集装置4同时或分别对第一放置区21的待测显示模块进行图形采集,以达到在相同条件下,完成对待测显示模块和样本显示模块的图像采集,从而获取采集图像,其中,该采集图像包括采集待测显示模块得到的第一图像和采集样本显示模块的第二图像。
进一步地,检测分析装置5具体用于框选采集图像中对应待测显示模块的第一图像的至少部分区域和对应样本显示模块的第二图像的至少部分区域,获取第一图像的至少部分区域的第一表面层颜色数据和第二图像的至少部分区域的第二表面层颜色数据,以及根据第一表面层颜色数据相对于第二表面层颜色数据的差异判断待测显示模块的表面层的颜色是否合格。
具体地,在图像采集装置4获取采集图像之后,其将采集得到的第一图像和第二图像发送至检测分析装置5。由于第一图像上的颜色基本一致,且第二图像上的颜色基本一致,所以选取第一图像和第二图像上的部分区域作为待框选区域即可。检测分析装置5分别框选第一图像的至少部分区域作为第一框选区域,框选第二图像的至少部分区域作为第二框选区域。检测分析装置5对第一框选区域进行分析处理,得到第一表面层颜色数据;检测分析装置5对第二框选区域进行分析处理,得到第二表面层颜色数据。然后检测分析装置5根据第一表面层颜色数据和第二表面层颜色数据比对,判断其差异是否在合格范围之内,若在合格范围之内,则判断其合格;若否,则不合格。
在一个具体实施方式中,待测模块可以为LED面板或其他需要检测的物体,所述表面层例如为待测显示模块设置有多个LED像素的一侧的油墨层,且油墨层环绕多个LED像素。
综上所述,本发明第一实施例提供的一种显示模块检测设备能够在不受环境光的影响下对待测显示模块进行采集图像,排除了其他因素影响,通过分析处理,能够精确的判断样品表现层颜色是否合格,其效率高,误检率低。
【第二实施例】
如图3所示,发明第二实施例在上述第一实施例的基础上提供了一种显示模块检测方法,例如包括以下步骤:
S1、对处于暗室的检测位且处于光源照明下未点亮的待测显示模块进行图像采集,以得到采集图像;以及
S2、对所述采集图像进行分析处理,以判断所述待测显示模块的表面层的颜色是否合格。
具体地,该显示模块检测方法首先将未点亮的待测显示模块放置在暗室内的检测位上,并通过光源为检测位上的待测显示模块提供照明;然后对给待测显示模块进行图像采集,从而得到采集图像。在得到采集图像之后,对该采集图像进行分析处理。通过对采集图像的分析,得到该待测显示模块的表面层颜色数据,进而根据该表面层颜色数据判断其是否合格。
进一步地,步骤S1例如包括:S11、对并排位于检测位且处于光源照明下未点亮的待测显示模块和样本显示模块进行图像采集,以得到采集图像。
具体地,检测位上并排放置有未点亮的待测显示模块和样本显示模块,图像采集时,分别或者同时对该检测位上的待测显示模块和样本显示模块进行图像采集,得到采集图像,其中,该采集图像包括采集待测显示模块得到的第一图像和采集对应样本显示模块的第二图像。由于在采集图像时,对待测显示模块进行采集和对样本显示模块进行采集处于相同的环境条件,避免了环境光对检测结果的影响,提高了检测的准确性。
具体地,图像采集时还可以先对样本显示模块进行图像采集,以获取第二图像,并将第二图像进行存储,在之后的图像采集中,只需要对待测显示模块进行图像采集,以获取第一图像。
进一步地,如图4所示,步骤S2例如包括:
S21、框选采集图像中对应待测显示模块的第一图像的至少部分区域和对应样本显示模块的第二图像的至少部分区域,
S22、获取第一图像区域的至少部分区域的第一表面层颜色数据和第二区域的至少部分区域的第二表面层颜色数据,以及
S23、根据第一表面层颜色数据相对于第二表面层颜色数据的差异判断待测显示模块的表面层的颜色是否合格。
具体地,在获取采集图像之后,由于第一图像上的颜色基本一致,且第二图像上的颜色基本一致,所以检测该显示模块部分区域即可。优选的,从存储介质中获取第二图像同时采集第一图像,或者采集获取第一图像和第二图像。选取第一图像和第二图像上的部分区域作为待框选区域。框选第一图像的至少部分区域作为第一框选区域,框选第二图像的至少部分区域作为第二框选区域。然后对第一框选区域进行分析处理,得到第一表面层颜色数据;对第二框选区域进行分析处理,得到第二表面层颜色数据。最后根据第一表面层颜色数据和第二表面层颜色数据比对,判断其差异是否在合格范围之内,若在合格范围之内,则判断其合格;若否,则不合格。
在一个具体实施方式中,所述表面层为待测显示模块设置有多个LED像素的一侧的油墨层,且所述油墨层环绕所述多个LED像素。
在一个具体实施方式中,步骤S22例如包括:
(a)根据第一框选区域获取第一表面层颜色数据,具体为:
(a1)获取第一框选区域的图像像素的亮度最大值,以确定该区域包含的灰度级的数量;
(a2)统计每个灰度级上图像像素的个数;
(a3)采用公式sU=∑i*Histogram[i]计算总体质量矩,其中,sU表示总体质量矩,i表示第一框选区域包含的灰度级数量,Histogram[i]表示每个灰度级上图像像素的个数;
(a4)遍历每个灰度级,找到第j个灰度级,使最大,其中Var表示方差,D=U*S-C*sU,C表示前j个灰度级上图像像素的个数之和,S表示全部i个灰度级上图像像素的个数之和,U表示前j个灰度级的质量矩;
(a5)以第j个灰度级作为阈值,以获取小于阈值的各个灰度级上的图像像素作为目标图像像素;以及
(a6)基于目标图像像素得到第一表面层颜色数据,优选地,计算该目标图像像素的均值,将该均值作为第一表层颜色数据;以及
(b)根据第二框选区域获取第二表面层颜色数据,具体可以参照(a1)-(a6)所述方法步骤来获取第二表面层颜色数据。
在一个具体实施方式中,步骤S23例如包括:
(i)根据第一表面层颜色数据和第二表面层颜色数据获取差异值。具体地,采用公式diff=(aveB-aveA)/aveA计算差异值,其中,diff表示差异值,aveA表示第一表面层颜色数据,aveB表示第二表面层颜色数据;以及
(ii)通过该差异值判断待测显示模块的表面层的颜色是否合格。具体地,以样品显示模块的表面层的颜色作为参照,当更换待测显示模块时,如果待测显示模块的表面层的颜色亮,则diff为负数,如果待测显示模块的表面层的颜色暗,则diff为负数。在获取diff之后,可人为的设置一个diff的范围,若diff在该范围内,则其对应的待测样品为合格,若否,则不合格。
【第三实施例】
如图5所示,本发明第三实施例提供了一种显示模块检测装置50,包括:图像采集控制模块51和图像分析处理模块52,
具体地,图像采集控制模块51用于控制图像采集装置对处于暗室的检测位且处于光源照明下未点亮的待测显示模块进行图像采集,以得到采集图像,图像采集模块51还可以包括存储单元,用于将图像采集的数据进行存储;以及
图像分析处理模块52,用于对所述采集图像进行分析处理,以判断所述待测显示模块的表面层的颜色是否合格。
至于图像采集控制模块51和图像分析处理模块52的具体功能细节可参考前述第二实施例中步骤S1、S2的相关描述,在此不再赘述。此外,值得一提的是,图像采集控制模块51和图像分析处理模块52可以为软件模块,存储于非易失性存储器中且由一个或多个处理器执行相关操作以进行前述第二实施例中的步骤S1和S2。
【第四实施例】
如图6所示,本发明的第四实施例提供了一种显示模块检测系统60,包括:处理器61和存储器62;其中,存储器62存储由处理器61执行的指令,且所述指令例如使得处理器61执行操作以进行一种显示模块检测方法,例如包括:控制图像采集装置对处于暗室的检测位且处于光源照明下未点亮的待测显示模块进行图像采集,以得到采集图像;以及对所述采集图像进行分析处理,以判断所述待测显示模块的表面层的颜色是否合格。具体步骤细节可参考前述第二实施例的相关描述,在此不再赘述。
【第五实施例】
如图7所示,本发明第五实施例提供的一种存储介质70,其为非易失性存储器且存储有程序代码,当所述程序代码被计算机执行时实现一种显示模块检测方法,例如包括:控制图像采集装置对处于暗室的检测位且处于光源照明下未点亮的待测显示模块进行图像采集,以得到采集图像;以及对所述采集图像进行分析处理,以判断所述待测显示模块的表面层的颜色是否合格。具体步骤细节可参考前述第二实施例的相关描述,在此不再赘述。
此外,可以理解的是,前述各个实施例仅为本发明的示例性说明,在技术特征不冲突、结构不矛盾、不违背本发明的发明目的前提下,各个实施例的技术方案可以任意组合、搭配使用。
在本发明所提供的几个实施例中,应该理解到,所揭露的系统,装置和/或方法,可以通过其它的方式实现。例如,以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的,例如,所述单元/模块的划分,仅仅为一种逻辑功能划分,实际实现时可以有另外的划分方式,例如多路单元或模块可以结合或者可以集成到另一个系统,或一些特征可以忽略,或不执行。另一点,所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口,装置或单元的间接耦合或通信连接,可以是电性,机械或其它的形式。
所述作为分离部件说明的单元/模块可以是或者也可以不是物理上分开的,作为单元/模块显示的部件可以是或者也可以不是物理单元,即可以位于一个地方,或者也可以分布到多路网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元/模块来实现本实施例方案的目的。
另外,在本发明各个实施例中的各功能单元/模块可以集成在一个处理单元/模块中,也可以是各个单元/模块单独物理存在,也可以两个或两个以上单元/模块集成在一个单元/模块中。上述集成的单元/模块既可以采用硬件的形式实现,也可以采用硬件加软件功能单元/模块的形式实现。
上述以软件功能单元/模块的形式实现的集成的单元/模块,可以存储在一个计算机可读取存储介质中。上述软件功能单元存储在一个存储介质中,包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机,服务器,或者网络设备等)的一个或多个处理器执行本发明各个实施例所述方法的部分步骤。而前述的存储介质包括:U盘、移动硬盘、只读存储器(Read-Only Memory,简称ROM)、随机存取存储器(Random Access Memory,简称RAM)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
最后应说明的是:以上实施例仅用以说明本发明的技术方案,而非对其限制;尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换;而这些修改或者替换,并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。
Claims (12)
1.一种显示模块检测设备,其特征在于,包括:
暗室,设置有检测位;
光源,设置在所述暗室内;
图像采集装置,设置在所述暗室内,用于对位于所述检测位且处于所述光源照明下未点亮的待测显示模块进行图像采集,以得到采集图像;
检测分析装置,连接所述图像采集装置,用于对所述采集图像进行分析处理,以判断所述待测显示模块的表面层的颜色是否合格。
2.根据权利要求1所述的显示模块检测设备,其特征在于,所述检测位包括并排设置的第一放置区和第二放置区;所述图像采集装置用于对位于所述第一放置区且处于所述光源照明下未点亮的所述待测显示模块以及位于所述第二放置区且处于所述光源照明下未点亮的样本显示模块进行图像采集,以得到所述采集图像。
3.根据权利要求2所述的显示模块检测设备,其特征在于,所述检测分析装置具体用于框选所述采集图像中对应所述待测显示模块的第一图像的至少部分区域和对应所述样本显示模块的第二图像的至少部分区域,获取所述第一图像的所述至少部分区域的第一表面层颜色数据和所述第二图像的所述至少部分区域的第二表面层颜色数据,以及根据所述第一表面层颜色数据相对于所述第二表面层颜色数据的差异判断所述待测显示模块的所述表面层的颜色是否合格。
4.根据权利要求1至3任意一项所述的显示模块检测设备,其特征在于,所述表面层为所述显示模块设置有多个LED像素的一侧的油墨层,且所述油墨层环绕所述多个LED像素。
5.一种显示模块检测方法,其特征在于,包括:
对处于暗室的检测位且处于光源照明下未点亮的待测显示模块进行图像采集,以得到采集图像;以及
对所述采集图像进行分析处理,以判断所述待测显示模块的表面层的颜色是否合格。
6.根据权利要求5所述的显示模块检测方法,其特征在于,所述对处于所述检测位且处于光源照明下未点亮的待测显示模块进行图像采集,以得到采集图像,包括:对并排位于所述检测位且处于光源照明下未点亮的所述待测显示模块和样本显示模块进行图像采集,以得到所述采集图像。
7.根据权利要求6所述的显示模块检测方法,其特征在于,所述对所述采集图像进行分析处理,以判断所述待测显示模块的表面层的颜色是否合格,包括:
框选所述采集图像中对应所述待测显示模块的第一图像的至少部分区域和对应所述样本显示模块的第二图像的至少部分区域,
获取所述第一图像的所述至少部分区域的第一表面层颜色数据和所述第二图像的所述至少部分区域的第二表面层颜色数据,以及
根据所述第一表面层颜色数据相对于所述第二表面层颜色数据的差异判断所述待测显示模块的所述表面层的颜色是否合格。
8.根据权利要求5至7任意一项所述的显示模块检测方法,其特征在于,所述表面层为所述显示模块设置有多个LED像素的一侧的油墨层,且所述油墨层环绕所述多个LED像素。
9.根据权利要求7所述的显示模块检测方法,其特征在于,所述获取所述第一图像的所述至少部分区域的第一表面层颜色数据,包括:
获取所述第一图像的所述至少部分区域的图像像素的亮度最大值,以确定所述第一图像的所述至少部分区域包含的灰度级的数量;
统计每个所述灰度级上图像像素的个数;
采用公式sU=∑i*Histogram[i]计算总体质量矩,其中sU表示所述总体质量矩,i表示所述第一图像的所述至少部分区域包含的灰度级数量,Histogram[i]表示每个所述灰度级上图像像素的个数;
以所述第j个灰度级作为阈值,以获取小于所述阈值的各个灰度级上的图像像素作为目标图像像素;以及
基于所述目标图像像素得到所述第一表面层颜色数据。
10.一种显示模块检测装置,其特征在于,用于执行如权利要求5至9任意一项所述的显示模块检测方法,包括:
图像采集控制模块,用于控制图像采集装置对处于暗室的检测位且处于光源照明下未点亮的待测显示模块进行图像采集,以得到采集图像;以及
图像分析处理模块,用于对所述采集图像进行分析处理,以判断所述待测显示模块的表面层的颜色是否合格。
11.一种显示模块检测系统,其特征在于,包括:处理器和存储器;其中,所述存储器存储由所述处理器执行的指令,且所述处理器用于执行所述指令以实现根据权利要求5至9任意一项所述的显示模块检测方法。
12.一种存储介质,其特征在于,所述存储介质为非易失性存储器且存储有程序代码,所述程序代码被一个或多个处理器执行时实现根据权利要求5至9任意一项所述的显示模块检测方法。
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