CN113630594B - 一种显示面板坏点检测系统 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种显示面板坏点检测系统，包括图像采集模块、图像处理模块、图像分析模块和匹配验证模块；所述图像采集模块用于采集显示面板的显示图像；所述图像处理模块用于对显示图像进行划分，得到显示划分图像，获取显示划分图像的像素值并组合，得到划分像素集；所述图像分析模块用于根据划分像素集对显示图像进行分析计算，得到显示分析集；所述匹配验证模块用于根据显示分析集对显示面板的坏点进行验证；本发明用于解决现有方案中对显示面板进行摄像采集纯色图像并对其进行分析时，不能高效准确的分析外部附着物与显示面板坏点的区别，导致显示面板坏点检测的效果不佳的技术问题。

Description

一种显示面板坏点检测系统

技术领域

本发明涉及显示面板技术领域，具体涉及一种显示面板坏点检测系统。

背景技术

液晶显示屏的坏点又称点缺勤，它是指液晶屏显示黑白两色和红、绿、蓝三原色下所显示的子像素点，每个点是指一个子像素。坏点大概可以分为两类，其中暗坏点是无论屏幕显示内容如何变化也无法显示内容的“黑点”，而最令人讨厌的则是那种只要开机后就一直存在的亮点。若是由于技术因素所产生的坏点是尚不可修复的。但是如果是因为保持在一个静止不动的画面很长时间所产生的坏点，则有可能使用软件修复或者擦拭方式去除。

公开号CN101715050A的发明专利公开了一种图像传感器坏点检测的方法和系统，所述方法包括：利用图像传感器对多个不同颜色的单色面板分别采集相应的单色图像；分别对各个单色图像进行像素分析，将得到的各个单色图像的坏点坐标记录在各个单色坏点列表中；通过比较所述各个单色坏点列表，综合确定出所述图像传感器的坏点坐标。该发明还提供了一种图像传感器坏点检测的系统，包括单色图像获取模块、像素分析模块和坏点确定模块。该发明可以检测出多种颜色环境下的坏点，更加准确地检测出不同情况的坏点，提高了坏点检测的准确性。同时，该发明将各个单色图像的坏点列表进行综合分析，划分不同的坏点级别，能够适应不同检测质量的需要，灵活性强。

存在的缺陷包括：对显示面板进行摄像采集纯色图像并对其进行分析时，不能高效准确的分析外部附着物与显示面板坏点的区别，导致显示面板坏点检测的效果不佳。

发明内容

本发明的目的在于提供一种显示面板坏点检测系统，解决以下技术问题：现有方案中对显示面板进行摄像采集纯色图像并对其进行分析时，不能高效准确的分析外部附着物与显示面板坏点的区别，导致显示面板坏点检测的效果不佳。

本发明的目的可以通过以下技术方案实现：

一种显示面板坏点检测系统，包括图像采集模块、图像处理模块、图像分析模块和匹配验证模块；所述图像采集模块用于采集显示面板的显示图像；所述图像处理模块用于对显示图像进行划分，得到显示划分图像，获取显示划分图像的像素值并组合，得到划分像素集；

所述图像分析模块用于根据划分像素集对显示图像进行分析计算，得到显示分析集；所述匹配验证模块用于根据显示分析集对显示面板的坏点进行验证。

进一步地，所述图像采集模块用于采集显示面板的显示图像的具体步骤包括：

获取显示面板的纯色页面，对显示面板的纯色页面进行摄像，得到显示图像。

进一步地，所述图像处理模块用于对显示图像进行划分的具体步骤包括：

获取显示面板的长度和宽度，根据显示面板的长度和宽度按预设的比例设定划分矩阵，根据划分矩阵将显示图像上的显示面板进行均等划分，得到划分图像，设定显示图像上的任一顶角为原点以及根据划分矩阵建立坐标系，将坐标系与划分图像组合，得到显示划分图像。

进一步地，获取显示划分图像的像素值并组合的具体步骤包括：

利用图像处理算法获取显示划分图像的像素值，根据坐标系将若干个像素值组合，得到划分像素集。

进一步地，所述图像分析模块用于根据划分像素集对显示图像进行分析计算的具体步骤包括：

获取划分像素集中划分矩阵内各个像素值并进行累加，得到矩阵的累加值，计算划分矩阵内像素的累加值与预设的矩阵标准值之间的差值，并将其设定为匹配值，将若干个匹配值根据坐标系进行组合，得到显示分析集。

进一步地，所述匹配验证模块用于根据显示分析集对显示面板的坏点进行验证的具体步骤包括：

获取显示分析集中的若干个匹配值，获取坏点对应的像素值，计算匹配值与像素值之间的比值，若该比值为整数，则判定该划分矩阵内存在坏点并生成第一分析信号；若该比值不为整数且小于k，则判定划分矩阵内不存在坏点但显示面板表面存在附着物并生成第二分析信号；若该比值不为整数且不小于k，则判定划分矩阵内存在坏点且显示面板表面存在附着物并生成第三分析信号；其中，k表示为正整数；将第一分析信号、第二分析信号和第三分析信号组合，得到验证集。

本发明的有益效果：

本发明通过图像采集模块、图像处理模块、图像分析模块和匹配验证模块之间的配合使用，利用图像采集模块采集显示面板的显示图像；利用图像处理模块用于对显示图像进行划分，得到显示划分图像，获取显示划分图像的像素值并组合，得到划分像素集；通过对采集的显示图像进行处理划分，使得干个划分矩阵独立分析，可以为后续的坏点分析提供数据支持，进而可以提高坏点分析的效率和准确性，便于对坏点的位置进行快速定位和处理；

利用图像分析模块根据划分像素集对显示图像进行分析计算，得到显示分析集；利用匹配验证模块根据显示分析集对显示面板的坏点进行验证，通过分析计算可以基于图像分析显示面板表面是否有附着物，可以分析获取坏点的数量和坐标，实现对显示面板进行摄像采集纯色图像并对其进行分析时，可以高效准确的分析外部附着物与显示面板坏点的区别，提高显示面板坏点检测的效果。

附图说明

下面结合附图对本发明作进一步的说明。

图1为本发明一种显示面板坏点检测系统的模块框图。

图2为装载有显示面板坏点检测系统的装置的电子设备结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。

请参阅图1所示，本发明为一种显示面板坏点检测系统，包括图像采集模块、图像处理模块、图像分析模块和匹配验证模块；所述图像采集模块用于采集显示面板的显示图像；具体的步骤包括：

获取显示面板的纯色页面，对显示面板的纯色页面进行摄像，得到显示图像。

本发明实施例中，纯色页面包括但不限于纯黑色、纯白色或者七彩颜色中任一种的纯色，通过纯色页面可以直观的获取到显示面板上的坏点，而本申请基于获取的显示面板的纯色页面进行自动识别坏点的位置、数量以及区分是否为外部异物附着在显示面板上。

所述图像处理模块用于对显示图像进行划分，得到显示划分图像，具体的步骤包括：

获取显示面板的长度和宽度，根据显示面板的长度和宽度按预设的比例设定划分矩阵，根据划分矩阵将显示图像上的显示面板进行均等划分，得到划分图像，设定显示图像上的任一顶角为原点以及根据划分矩阵建立坐标系，将坐标系与划分图像组合，得到显示划分图像。

本发明实施例中，基于显示面板的长度和宽度按预设的比例设定划分矩阵可以快速的定位到异常显示的位置，例如，显示面板的长度和宽度分别为47.6cm和26.8cm，预设的比例可以为0.1，则划分矩阵的长度和宽度为4.76cm和2.68cm，则该显示面板上均等划分有100个划分矩阵，通过获取该100个划分矩阵的显示图像对应的像素值进行分析，可以快速获取到每个划分矩阵的坏点情况，便于快速统计坏点的坐标和数量。

获取显示划分图像的像素值并组合，得到划分像素集；具体的步骤包括：

利用图像处理算法获取显示划分图像的像素值，根据坐标系将若干个像素值组合，得到划分像素集；其中，图像处理算法可以为OpenCV算法。

OpenCV是一个基于BSD许可(开源)发行的跨平台计算机视觉和机器学习软件库，可以运行在Linux、Windows、Android和Mac OS操作系统上，由一系列C函数和少量C++类构成，同时提供了Python、Ruby、MATLAB等语言的接口，实现了图像处理和计算机视觉方面的很多通用算法，本申请中通过OpenCV获取图片某点像素值的方法是通过显示图像像素的坐标获得像素值，涉及的代码可以为IplImage*Temp＝*iterIplOri；

CvScalar pColor＝cvGet2D(Temp,nTesty,nTestx)；

int Pixl1＝pColor.val[0]；//B分量

int Pixl2＝pColor.val[1]；//G分量

int Pixl3＝pColor.val[2]；//R分量

所述图像分析模块用于根据划分像素集对显示图像进行分析计算，得到显示分析集；具体的步骤包括：

获取划分像素集中划分矩阵内各个像素值，利用公式

计算得到矩阵的累加值JL；其中，η表示为预设的像素修正因子，取值为0.656824，XS表示为划分矩阵内的像素值；利用公式PP＝JL-XS0计算划分矩阵内像素的累加值与预设的矩阵标准值之间的差值并将其设定为匹配值；其中，PP表示为匹配值，SX0表示为预设的矩阵标准值，将若干个匹配值根据坐标系进行组合，得到显示分析集。

本发明实施例中，通过计算若干个划分矩阵内各个像素值的累加值以及与预设的矩阵标准值之间的差值，可以使得干个划分矩阵独立分析，基于该差值可以为后续的坏点分析提供数据支持，进而可以提高坏点分析的效率和准确性。

所述匹配验证模块用于根据显示分析集对显示面板的坏点进行验证，具体的步骤包括：

获取显示分析集中的若干个匹配值，获取坏点对应的像素值，计算匹配值与像素值之间的比值，若该比值为整数，则判定该划分矩阵内存在坏点并生成第一分析信号，根据第一分析信号将该划分矩阵进行标记并获取对应的坐标，得到第一标记坐标；

若该比值不为整数且小于k，则判定划分矩阵内不存在坏点但显示面板表面存在附着物并生成第二分析信号，根据第二分析信号将该划分矩阵进行标记并获取对应的坐标，得到第二标记坐标；

若该比值不为整数且不小于k，则判定划分矩阵内存在坏点且显示面板表面存在附着物并生成第三分析信号，根据第三分析信号将该划分矩阵进行标记并获取对应的坐标，得到第三标记坐标；其中，k表示为正整数；将第一分析信号、第二分析信号和第三分析信号组合，得到验证集。

本发明实施例中，坏点对应的像素值可以基于现有检测结果中获取，计算匹配值与像素值之间的比值，可以进一步分析坏点的数量、坐标以及显示面板是否存在外部的附着物，比如，当比值为2.5，k取值为1时，则判定划分矩阵内存在坏点且显示面板表面存在附着物，坏点数量为两个；当比值为2，k取值为1时，则判定该划分矩阵内存在坏点，坏点数量为两个；当比值为0.5，k取值为1时，则判定划分矩阵内不存在坏点但显示面板表面存在附着物，根据第一标记坐标、第二标记坐标或者第三标记坐标可以快速定位到坏点或者附着物的位置，可以解决现有方案中基于图像分析坏点时无法区分显示面板表面是否有附着物，导致坏点分析的效果不佳的问题。

本发明中的公式均是去除量纲取其数值计算，通过采集大量数据进行软件模拟得到最接近真实情况的一个公式，公式中的预设比例系数和阈值由本领域的技术人员根据实际情况设定或者通过大量数据模拟获取。

如图2所示，是本发明实现显示面板坏点检测系统的装置的电子设备结构示意图。

电子设备可以包括处理器、存储器和总线，还可以包括存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，如显示面板坏点检测系统的程序。

其中，所述存储器至少包括一种类型的可读存储介质，所述可读存储介质包括闪存、移动硬盘、多媒体卡、卡型存储器(例如：SD或DX存储器等)、磁性存储器、磁盘、光盘等。所述存储器在一些实施例中可以是电子设备的内部存储单元，例如该电子设备的移动硬盘。所述存储器在另一些实施例中也可以是电子设备的外部存储设备，例如电子设备上配备的插接式移动硬盘、智能存储卡(Smart Media Card，SMC)、安全数字(Secure Digital，SD)卡、闪存卡(Flash Card)等。所述存储器还可以既包括电子设备的内部存储单元也包括外部存储设备。所述存储器不仅可以用于存储安装于电子设备的应用软件及各类数据，例如显示面板坏点检测系统的代码等，还可以用于暂时地存储已经输出或者将要输出的数据。

所述处理器在一些实施例中可以由集成电路组成，例如可以由单个封装的集成电路所组成，也可以是由多个相同功能或不同功能封装的集成电路所组成，包括一个或者多个中央处理器(Central Processing unit，CPU)、微处理器、数字处理芯片、图形处理器及各种控制芯片的组合等。所述处理器是所述电子设备的控制核心(Control Unit)，利用各种接口和线路连接整个电子设备的各个部件，通过运行或执行存储在所述存储器内的程序或者模块(例如执行显示面板坏点检测系统等)，以及调用存储在所述存储器内的数据，以执行电子设备的各种功能和处理数据。

所述总线可以是外设部件互连标准(peripheral component interconnect，简称PCI)总线或扩展工业标准结构(extended industry standard architecture，简称EISA)总线等。该总线可以分为地址总线、数据总线、控制总线等。所述总线被设置为实现所述存储器以及至少一个处理器等之间的连接通信。

图2仅示出了具有部件的电子设备，本领域技术人员可以理解的是，图2示出的结构并不构成对所述电子设备的限定，可以包括比图示更少或者更多的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件布置。

例如，尽管未示出，所述电子设备还可以包括给各个部件供电的电源(比如电池)，电源可以通过电源管理装置与所述至少一个处理器逻辑相连，从而通过电源管理装置实现充电管理、放电管理、以及功耗管理等功能。电源还可以包括一个或一个以上的直流或交流电源、再充电装置、电源故障检测电路、电源转换器或者逆变器、电源状态指示器等任意组件。所述电子设备还可以包括多种传感器、蓝牙模块、Wi-Fi模块等，在此不再赘述。

所述电子设备还可以包括网络接口，所述网络接口可以包括有线接口和/或无线接口(如WI-FI接口、蓝牙接口等)，通常用于在该电子设备与其他电子设备之间建立通信连接。

该电子设备还可以包括用户接口，用户接口可以是显示器(Display)、输入单元(比如键盘(Keyboard))，用户接口还可以是标准的有线接口、无线接口。在一些实施例中，显示器可以是LED显示器、液晶显示器、触控式液晶显示器以及OLED(Organic Light-Emitting Diode，有机发光二极管)触摸器等。其中，显示器也可以适当的称为显示屏或显示单元，用于显示在电子设备中处理的信息以及用于显示可视化的用户界面。

在本发明的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“左”、“右”等指示方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以及特定的方位构造和操作，因此，不能理解为对本发明的限制。此外，“第一”、“第二”仅由于描述目的，且不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。因此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者多个该特征。本发明的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。

在本发明的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”“相连”“连接”等应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接连接，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

以上对本发明的一个实施例进行了详细说明，但所述内容仅为本发明的较佳实施例，不能被认为用于限定本发明的实施范围。凡依本发明申请范围所作的均等变化与改进等，均应仍归属于本发明的专利涵盖范围之内。

Claims (1)

1.一种显示面板坏点检测系统，其特征在于，包括图像采集模块、图像处理模块、图像分析模块和匹配验证模块；所述图像采集模块用于采集显示面板的显示图像；所述图像处理模块用于对显示图像进行划分，得到显示划分图像，获取显示划分图像的像素值并组合，得到划分像素集；

所述图像分析模块用于根据划分像素集对显示图像进行分析计算，得到显示分析集；所述匹配验证模块用于根据显示分析集对显示面板的坏点进行验证；

所述图像采集模块用于采集显示面板的显示图像的具体步骤包括：

获取显示面板的纯色页面，对显示面板的纯色页面进行摄像，得到显示图像；

所述图像处理模块用于对显示图像进行划分的具体步骤包括：

获取显示面板的长度和宽度，根据显示面板的长度和宽度按预设的比例设定划分矩阵，根据划分矩阵将显示图像上的显示面板进行均等划分，得到划分图像，设定显示图像上的任一顶角为原点以及根据划分矩阵建立坐标系，将坐标系与划分图像组合，得到显示划分图像；

获取显示划分图像的像素值并组合的具体步骤包括：

利用图像处理算法获取显示划分图像的像素值，根据坐标系将若干个像素值组合，得到划分像素集；

所述图像分析模块用于根据划分像素集对显示图像进行分析计算的具体步骤包括：

获取划分像素集中划分矩阵内各个像素值并进行累加，得到矩阵的累加值，对矩阵的累加值进行计算分析，得到显示分析集；

对矩阵的累加值进行计算分析的具体步骤包括：计算划分矩阵内像素的累加值与预设的矩阵标准值之间的差值，并将其设定为匹配值，将若干个匹配值根据坐标系进行组合，得到显示分析集；

所述匹配验证模块用于根据显示分析集对显示面板的坏点进行验证的具体步骤包括：

获取显示分析集中的若干个匹配值，获取坏点对应的像素值，计算匹配值与像素值之间的比值，对比值进行分析得到验证集；

对比值进行分析得到验证集的具体步骤包括：若该比值为整数，则判定该划分矩阵内存在坏点并生成第一分析信号；若该比值不为整数且小于k，则判定划分矩阵内不存在坏点但显示面板表面存在附着物并生成第二分析信号；若该比值不为整数且不小于k，则判定划分矩阵内存在坏点且显示面板表面存在附着物并生成第三分析信号；其中，k表示为正整数；将第一分析信号、第二分析信号和第三分析信号组合，得到验证集。

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