KR100484675B1 - 플라즈마 디스플레이 패널 검사 시스템 및 이를 이용한검사 방법 - Google Patents

플라즈마 디스플레이 패널 검사 시스템 및 이를 이용한검사 방법 Download PDF

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Abstract

본 발명은 플라즈마 디스플레이 패널 검사 시스템 및 이를 이용한 검사 방법에 대하여 개시한다. 본 발명의 패널 검사 방법은, 패턴 발생부로부터 출력된 패턴을 플라즈마 디스플레이 패널에 인가하여 상기 패널의 유효 표시영역에 표시되는 영상신호를 암실에 위치한 카메라로 촬영하고, 상기 카메라로 촬영된 영상신호를 컴퓨터로 받아 화상 불량 결함을 검사하고 구분하며, 최적 전압 마진을 결정하여 저장, 표시한다. 따라서, 본 발명의 PDP 패널 검사 시스템 및 검사 방법에 따르면 화상 결함뿐만 아니라 최적 전압 마진, 색좌표, 휘도 및 색온도 측정이 모두 자동으로 이루어지므로 검사의 속도를 높임과 동시에 검사의 신뢰도를 높임으로써 생산성을 향상시키는 효과가 있다.

Description

플라즈마 디스플레이 패널 검사 시스템 및 이를 이용한 검사 방법{PLASMA DISPLAY PANEL TEST SYSTEM AND TEST METHOD THEREOF}
본 발명은 플라즈마 디스플레이 패널(plasma display panel; PDP)의 화상 결함 검사 시스템에 관한 것으로, 특히 자동으로 화상 결함을 검출하는 플라즈마 디스플레이 패널의 패널 검사 시스템 및 이를 이용한 패널 검사 방법에 관한 것이다.
일반적인 PDP의 패널 검사는 1차 검사 및 2차 검사로 이루어지며, 이 과정은 다음과 같다.
먼저, PDP는 검사를 수행하기 위하여 이송장치에 의해 옮겨진다. 즉, PDP 내의 기준 마크를 측정하여 검사 시작 위치로 이동하고, 미리 설정된 구간을 등속으로 이동하면서 각 라인의 영상 데이터를 받아들인다. 이 영상 데이터는 영상 처리 장치의 메모리에 저장되고, PDP의 전체 라인의 영상 데이터가 메모리에 저장될 때까지 반복된다.
이후, 영상 처리 장치는 메모리에 저장된 영상 데이터와 미리 설정된 정상 PDP의 표준 상태를 각 라인마다 비교한 후 결함이 있다고 판정되면, 결함의 종류와 크기 및 위치에 관한 데이터를 중앙 제어 장치로 전송한다.
중앙 제어 장치는 해당 위치의 결함을 확인하기 위하여 조명 및 카메라를 이동하여 결함을 확인한다. 이때, 결함이 확인되면 최종 판단을 위하여 2차 검사를 수행하기 위한 장소로 이송된다.
PDP의 2차 검사는 검사자의 육안 검사로 이루어진다. 즉, PDP가 투입되면 검사자는 수동으로 구동 전압을 조작하여 PDP가 점등되도록 하고, PDP가 점등되면 검사하고자 하는 패턴(R, G, B, W 외 20종류별 전체화면)을 변경하면서 육안으로 각 셀의 결함을 표식하거나 검사 기록 차트에 기록하고, 불량 정도를 구분하여 불량 패널은 폐기한다.
그런데, 이러한 종래의 PDP 패널 검사 방법은 사람이 직접 육안 검사를 수행하기 때문에 주위 환경 및 개인의 신체 상태에 따라 결함 판정 기준이 달라지므로 평가 산포가 클 뿐만 아니라, 고속 검사가 이루어지지 않아서 생산성을 저하시키는 문제점이 있다. 또한, 사람이 눈으로 직접 결함 상태를 체크하고 기록하기 때문에 데이터 베이스화하기 어렵다.
그러므로, 본 발명은 이러한 문제점을 해결하기 위한 것으로, 디지털 카메라를 사용하여 PDP의 화상 결함뿐만 아니라 전압 마진, 색좌표 및 휘도를 종합적으로 검사할 수 있도록 하는 것을 목적으로 한다.
이러한 기술적 과제를 달성하기 위한, 본 발명의 특징에 따른 PDP 패널 검사 시스템은 플라즈마 디스플레이 패널에 접속되어 상기 패널을 구동하기 위한 구동부; 상기 구동부와 연결되어 상기 패널의 유효 표시영역에 일정 패턴이 출력되도록 패턴을 발생시키는 패턴 발생부; 상기 패턴 발생부에서 출력된 패턴이 상기 패널에 입력되어 상기 패널의 유효 표시영역에 표시되는 영상신호를 촬영하는 카메라; 및 상기 카메라로 촬영된 영상신호를 받아 화상 불량 결함을 검사하고 상기 화상 불량 결함의 종류를 구분하여 저장, 표시하는 컴퓨터를 포함하며, 상기 패널과 카메라는 암실 내부에 위치한다.
상기 컴퓨터는 상기 패널의 화상 불량 결함을 검사하고 구분하는 프로그램을 포함하며, 상기 카메라로부터 전송된 영상신호에서 미점등 셀을 검출하고, 상기 구동부의 구동 전압을 점차적으로 증가시키면서 상기 미점등 셀을 점등시켜서 상기 미점등 셀이 모두 점등되었을 때의 구동 전압을 전압 마진 최고 전압으로 저장하고, 상기 구동부의 구동 전압을 점차적으로 감소시키면서 미소등 셀을 검출하여 소등시키고, 상기 미소등 셀이 모두 소등되었을 때의 구동 전압을 전압 마진 최저 전압으로 저장하여 최적 전압 마진을 결정한다.
상기 PDP 패널 검사 시스템은, 상기 결함이 검출된 패널의 재검사를 위하여 상기 패널의 유효 표시영역에 표시되는 영상신호를 촬영하는 리뷰 카메라와, 상기 패널과 컴퓨터 사이에 설치되고 상기 컴퓨터에 의해 직렬 데이터 통신으로 원격 제어함으로써 상기 패널의 색좌표, 휘도 및 색온도를 측정하는 색좌표 측정기를 더 포함할 수 있다.
또한, 본 발명의 다른 특징에 따른 PDP 패널 검사 방법은, 패턴 발생부로부터 출력된 패턴을 플라즈마 디스플레이 패널에 인가하여 상기 패널의 유효 표시영역에 표시되는 영상신호를 암실에 위치한 카메라로 촬영하고, 상기 카메라로 촬영된 영상신호를 컴퓨터로 받아 화상 불량 결함을 검사하고 구분하며, 최적 전압 마진을 결정하여 저장, 표시한다.
상기 컴퓨터는 상기 카메라로부터 받은 영상신호에서 상기 패널의 모아레 현상 발생을 검출하며, 상기 영상신호에서 모아레 현상 발생이 검출되면, 상기 모아레 현상이 발생된 픽셀의 그레이 레벨 수치를 판독하고, 소정 그레이 레벨을 필터링하여 모아레 현상을 제거한 후 상기 패널의 화상 불량 결함을 구분한다.
또한, 상기 컴퓨터는 상기 카메라로부터 받은 영상신호에서 상기 패널의 픽셀 점등 상태를 검사하여 5픽셀이 연속으로 오프되면 결함으로 판단하고, 상기 패널의 픽셀 점등 상태를 검사하는 과정에서 동일한 픽셀이 온, 오프를 반복하면, 상기 패널로부터 소정의 프레임 영상을 취득하여 각각의 연속된 프레임을 비교하여 휘도 변화량을 측정하여 결함 정보를 취득하고, 상기 취득한 결함 정보를 합하여 최종 결함을 판정한다.
또한, 상기 패널의 각 모서리 화상 끝점의 위치 정보와 각 변의 중앙부의 위치 정보를 추출하여 왜곡된 양만큼 수평/수직방향으로 이동한 후 패널 결함 검사를 실시한다.
또한, 상기 카메라로부터 전송된 영상신호에서 미점등 셀을 검출하고, 상기 구동부의 구동 전압을 점차적으로 증가시키면서 상기 미점등 셀을 점등시켜서, 상기 미점등 셀이 모두 점등되었을 때의 구동 전압을 전압 마진 최고 전압으로 결정하고, 상기 구동부의 구동 전압을 점차적으로 감소시키면서 미소등 셀을 검출하여 소등시키고, 상기 미소등 셀이 모두 소등되었을 때의 구동 전압을 전압 마진 최저 전압으로 결정한다.
이하, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명을 용이하게 실시할 수 있는 가장 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조로 하여 상세히 설명하면 다음과 같다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 PDP 패널 검사 시스템을 나타내는 도면이다.
도 1에 도시된 바와 같이, 본 발명의 실시예에 따른 PDP 패널 검사 시스템은 전원을 공급하는 전원 공급부(10), 검사 패턴을 발생시켜 PDP(70) 셀의 유효 표시 영역에 패턴이 출력되도록 하는 패턴 제너레이터(20), 패턴 제너레이터(20)와 연결되어 PDP를 구동시키는 xy구동부(30), PDP 셀의 패드에 접촉되는 프로브(40), PDP의 영상신호를 촬영하는 카메라(50), 전원 공급부(10)와 xy구동부(30)를 제어하고, 카메라(50)로부터 영상신호를 받아 화상 불량 결함을 검사, 구분, 저장하며, 데이터베이스로 전송하는 컴퓨터(60)를 포함한다.
이 중 전원 공급부(10)는 로직부, x 구동부, y 구동부, 버퍼 구동부에 각각 전원을 공급하기 위하여 4개의 파워(Power 1~4)로 구성되고, 특히 x 구동부와 y 구동부는 전압을 가변할 수 있도록 되어 있다.
또한, 검사를 실행하는 PDP(70)와 카메라(60)는 도 2b에 도시된 바와 같이 암실(80) 내에 설치되는데, 이러한 암실 장치(80)는 PDP 점등 화상이 카메라(50)에 전달되는 과정에서 외부 광원(90)이 유입되는 것을 막기 위한 것이다. 즉, 종래에는 도 2a에 도시된 바와 같이 PDP 화상이 카메라(50)에 전달되는 과정에서 외부 광원(90)이 유입되어 원래의 영상이 그대로 입력되지 않고, 화상 결함과 동일하거나 그 이상 수준의 휘도를 갖게 되어 결함을 검출할 수 없었다. 따라서 본 발명에서는 PDP(70)와 카메라(50)를 암실(80) 내에 설치하여 외부 광원(90)을 차단함으로써 PDP의 원화상이 그대로 카메라에 전송될 수 있도록 하였다.
상기와 같이 구성되는 PDP 패널 검사 시스템의 동작을 첨부한 도면을 참조하여 설명하면 다음과 같다.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 PDP 패널 검사 시스템의 화상 결함 검출 과정을 나타낸 것이다.
도 3에 도시되어 있듯이, 전원 공급부 및 xy구동부를 통하여 PDP를 점등시키고 패턴 제너레이터로부터 원하는 패턴을 발생시켜서 PDP로 입력한다(S310). PDP의 영상을 카메라로 취득한 후 컴퓨터로 전송하고(S320), 화상 결함 검출/구분 프로그램을 통하여 PDP의 화상 결함을 검출하여 종류별로 구분한 후(S330), 결함 내용을 모니터로 출력하고, 데이터베이스로 전송한다(S340).
이때, 프로그램을 통하여 구분되는 화상 결함은, 암점, 멸점, 암멸점, 인접셀 불량, 연속셀 불량, 리셋방전, 에지부 이상 방전, 비내림 현상, 크로스토크(Crosstalk), 오픈, 쇼트, 저방전 불량 등이며, 이러한 결함을 검출하기 위한 패턴을 차례로 발생시킨 후 모든 종류의 결함에 대한 검사가 완료되면 화상 결함 검출 검사를 마친다(S350~S360).
이러한 화상 결함을 검출하여 종류별로 구분하는 과정을 상세히 설명하면 다음과 같다.
일반적인 PDP 패널 검사 시스템에 사용되는 카메라와 PDP는 격자 셀 구조를 갖는데, 각각의 격자가 정확하게 매칭되지 않으면 모아레(Moire) 현상이 발생하게 된다. 모아레 현상이란, 도 4와 같이 모기장 같은 망사 두 장이 겹쳐있을 때 망사를 이루는 세밀한 직물의 격자간격보다 훨씬 크고 변화가 다양한 얼룩무늬가 나타나거나, 머리빗 두 개를 겹쳐서 보면 머리빗의 빗살보다 간격이 넓은 새로운 어두운 그림자가 나타나는 등 주기적인 무늬가 겹쳐서 원래의 주기보다 큰 무늬를 만드는 현상을 말한다.
그러므로, 원래의 결함만 가지는 패널만의 화상을 이용하면 결함 검출이 용이하지만, 모아레 현상에 의해 결함이 없는 부분에도 결함이 검출되어 종래에는 자동으로 화상을 검사하는 것이 불가능하며, 이러한 문제를 해결하기 위하여 렌즈의 초점 심도를 흐리게 하거나, 패널과 카메라의 격자 매칭을 위한 기구부의 초고정밀 세팅 등의 작업이 필요하였다.
따라서 본 발명에 따른 PDP 패널 검사 장치는 이러한 문제점을 해결하기 위하여 소프트웨어적으로 모아레 현상을 제거한다.
즉, 모아레 현상이 발생되는 각 픽셀의 그레이 레벨 수치를 임의로 판독하여, 소프트웨어적으로 필터링하여 모아레 현상을 제거한다. 즉, 모아레 현상에서 발생되는 띠무늬는 0~256그레이 중 80~130그레이 레벨 정도이므로 이 범위에 해당하는 값을 전부 0으로 변환하고 그 이외의 값을 그대로 유지함으로써 모아레 현상을 제거할 수 있다. 이렇게 모아레 무늬가 제거된 화상을 정상적인 화상과 비교하여 결함을 구분한다. 이때, 화상 구분 방법으로 종래에는 일반적으로 패턴 비교법, 1픽셀 비교법, 3픽셀 비교법이 사용되는데, 이러한 방법들은 결함이 아닌 이상 화상을 검출하여 신뢰도가 떨어지며, 특히 3픽셀 비교법은 카메라와 패널간의 기구부 정밀 세팅 등의 고난이도 작업이 요구된다. 따라서 본 발명에서는 오픈 크기 적출법을 사용한다.
도 5에 본 발명의 실시예에 따른 PDP 패널 검사 시스템에서의 오픈 크기 적출법을 나타내었다.
오픈 크기 적출법은, 도 5에 도시된 바와 같이, 1픽셀 암점 결함이 있는 경우, 최소 5픽셀이 오프되어야 1점의 불량이 발생한다는 점에 착안하여 수평 방향으로 5픽셀보다 작은 결함을 제거한다. 즉, PDP를 R(red)만으로 점등하였을 때 주변의 G(green)가 2 픽셀, B(blue)가 2 픽셀만 오프되어야 정상적인 점등 상태이며, R 1픽셀까지 오프되면 총 5 픽셀이 오프되고 이것은 정상적인 점등 상태가 아니다. 따라서 5픽셀 크기 이상의 결함은 결함으로 판정하고, 정상적인 점등 상태에서는 G, B만 오프되는 2 픽셀 크기의 결함은 결함이 아닌 것으로 판단하여 제거한다. 이러한 방법을 통해 암점, 명점, 인접셀 불량, 연속셀 불량, 리셋 방전불량, 에지부 이상방전, 크로스토크, 오픈, 쇼트, 저방전 불량 등의 결함을 검출, 구분할 수 있다.
한편, 오픈 크기 적출법을 적용할 때 일정한 시간 간격을 두고 동일한 위치의 픽셀이 온, 오프를 반복하는 멸점 결함은 휘도 변화 측정법을 통하여 검출할 수 있다.
먼저, 도 6에 도시된 바와 같이, 10개 정도의 프레임 영상을 취득, 저장하여 각 프레임에 대한 결함 정보를 추출하고, 이러한 각각의 결함 정보를 합한 결과를 최종 버퍼 프레임에 저장한 후 앞서 기술한 오픈 크기 적출법을 사용하여 멸점 결함을 검출한다. 암멸점, 비내림 현상 결함도 이와 같은 방법으로 검출할 수 있다. 이때, 영상을 취득하는 프레임 개수를 늘리면 검사의 신뢰도는 향상되나 검사 시간이 상승하여 비효율적이므로 10개 정도가 적당하다.
한편, 렌즈를 거쳐 카메라에 입력되는 영상은 실제 PDP의 영상과 다른 왜곡된 영상인데, 이것은 렌즈와 패널과의 거리가 가까울 뿐만 아니라 대형화면을 카메라 1대에 입력할 때 렌즈의 곡률, 가공정도 및 패널과 카메라의 평행도 등에 의해 변형된 화상이 전송되기 때문이다. 이러한 이유로 패널의 모서리 부분에서 발생되는 결함을 검출할 수 없으므로, 종래에는 패널의 모서리 일부는 검사하지 않고, 왜곡된 영상 내의 별도의 검사 영역을 설정하여 검사하였다.
그러나 패널의 모서리 부위에서 화상 결함 발생 빈도가 높아서 화상 검사 결함의 신뢰도를 높이기 위하여서는 모서리 부위의 결함도 검사해야 한다. 따라서 본 발명에서는 도 7에 도시된 바와 같이, 패널의 각 모서리의 화상 끝점 정보와 각 변의 중간 돌출 정보를 추출하여 왜곡된 양만큼 수평과 수직 그리드로 변경되도록 화상을 조정하였다. 이렇게 조정된 화상을 이용하여 앞서 기술한 오픈 크기 적출법, 휘도 변화 측정법으로 화상 결함을 검출하면 패널의 모서리 부위의 결함도 검출할 수 있다.
한편, 위와 같은 과정을 거쳐서 화상 결함이 검출되더라도 도 8에 도시된 바와 같이 PDP가 일정 각도만큼 틀어진 경우에는 결함 위치 측정에서 오차가 발생하게 되고, 이러한 오차로 인해 적은 영역만을 촬영하는 리뷰 카메라에서는 결함을 관찰할 수 없는 경우가 발생하게 되어, 검사자는 검사가 잘못된 것으로 오인할 수 있다. 따라서 본 발명은 이러한 문제를 해결하기 위하여 패널에 얼라인 마크가 표시되도록 영상을 편집하고, 패널이 최초 영상에 대해 얼마만큼 틀어졌는지를 확인하여 결함의 위치를 보정한 후 리뷰 검사를 실시한다.
도 9는 본 발명의 실시예에 따른 PDP 패널 검사 시스템의 PDP 최적 전압 마진 검사 과정을 나타낸 것이다.
도 9에 도시되어 있듯이, 전원 공급기를 통하여 PDP를 점등시키고 패턴 제너레이터로부터 블루 색상의 전면 발광 패턴을 발생시키고 구동부로부터 1V의 구동 전압을 PDP로 입력한다(S910, S920). 이후, PDP의 영상을 카메라로 취득한 후 취득한 영상을 컴퓨터로 전송하고, 미점등 셀을 검출하여 점등시킨다(S930, S940). 이때 미점등 셀이 점등되지 않으면(S950) 구동 전압을 1V씩 상승시킨 후 PDP 영상을 카메라로 취득하고 컴퓨터로 전송한 후 다시 미점등 셀을 검출하는 과정을 되풀이한다(S920 ~ S940). 이렇게 하여 미점등 셀이 모두 점등되면, 이때의 구동전압을 전압 마진 최고 전압으로 판단하여 저장한다(S960).
또한, 전압 마진 최저 전압을 검출하기 위해 구동 전압을 5V 더 상승시킨 후 다시 1V 감소시키고 카메라로 PDP 영상을 취득하여 컴퓨터로 전송한다(S970, S980). 컴퓨터에서는 미소등 셀이 있는지를 검사하고 미소등 셀이 검출되면 그 셀을 소등시킨다(S990). 이때 미소등 셀이 소등되지 않으면 (S1000) 구동 전압을 1V씩 감소시킨 후 PDP 영상을 카메라로 취득하고 컴퓨터로 전송하여 다시 미소등 셀을 검출하는 과정을 되풀이한다(S970 ~ S990). 이렇게 하여 미소등 셀이 모두 소등되면, 이때의 구동전압을 전압 마진 최저 전압으로 판단하여 저장한다(S1100).
한편, 도 10은 본 발명의 실시예에 따른 PDP 패널 검사 시스템에서의 색좌표 측정 방법을 나타낸 것이다.
종래에는 수동으로 색좌표를 측정하던 것을 본 발명의 실시예에 따른 PDP 화상 결함 검사 시스템에서는 도 10에 도시된 바와 같이, 패널(70)과 컴퓨터(60) 사이에 색좌표 측정기(100)를 연결하고 컴퓨터(60)를 통하여 RS-232C(Recommended Standard 232 Revision C) 등의 직렬 데이터 통신으로 원격 제어함으로써 자동으로 색좌표, 휘도 및 색온도를 측정할 수 있다.
상기 도면과 발명의 상세한 설명은 단지 본 발명의 예시적인 것으로서, 이는 단지 본 발명을 설명하기 위한 목적에서 사용된 것이지 의미한정이나 특허청구범위에 기재된 본 발명의 범위를 제한하기 위하여 사용된 것은 아니다. 그러므로 본 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상에 의해 정해져야 할 것이다.
이상에서와 같이 본 발명의 PDP 패널 검사 시스템 및 검사 방법에 따르면 화상 결함 뿐만 아니라 최적 전압 마진, 색좌표, 휘도 및 색온도 측정이 모두 자동으로 이루어지므로 검사의 속도를 높임과 동시에 검사의 신뢰도를 높임으로써 생산성을 향상시키는 효과가 있다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 플라즈마 디스플레이 패널 검사 시스템을 나타낸 도이다.
도 2a는 종래기술의 플라즈마 디스플레이 패널 검사 시스템에서 카메라가 설치된 모습을 나타낸 도이다.
도 2b는 본 발명의 실시예에 따른 플라즈마 디스플레이 패널 검사 시스템에서 암실 내에 설치된 카메라를 나타낸 도이다.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 플라즈마 디스플레이 패널 검사 시스템의 화상 결함 검출 과정을 나타낸 도이다.
도 4는 모아레 현상을 나타낸 도이다.
도 5는 본 발명의 실시예에 따른 플라즈마 디스플레이 패널 검사 시스템에서의 오픈 크기 적출법을 나타낸 도이다.
도 6은 본 발명의 실시예에 따른 플라즈마 디스플레이 패널 검사 시스템에서의 멸점 결함 측정법을 나타낸 도이다.
도 7은 본 발명의 실시예에 따른 플라즈마 디스플레이 패널 검사 시스템에서의 모서리 결함 측정법을 나타낸 도이다.
도 8은 본 발명의 실시예에 따른 플라즈마 디스플레이 패널 검사 시스템에서 결함의 위치 측정 오차를 보정하는 방법을 나타낸 도이다.
도 9는 본 발명의 실시예에 따른 플라즈마 디스플레이 패널 검사 시스템의 PDP 최적 전압 마진 검사 과정을 나타낸 도이다.
도 10은 본 발명의 실시예에 따른 플라즈마 디스플레이 패널 시스템에서의 색좌표 측정 방법을 나타낸 도이다.
***도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명***
10 : 전원 공급부 20 : 패턴 제너레이터
30 : xy 구동부 50 : 카메라
70 : 패널 80 : 암실

Claims (11)

  1. 플라즈마 디스플레이 패널에 접속되어 상기 패널을 구동하기 위한 구동부;
    상기 구동부와 연결되어 상기 패널의 유효 표시영역에 일정 패턴이 출력되도록 패턴을 발생시키는 패턴 발생부;
    상기 패턴 발생부에서 출력된 패턴이 상기 패널에 입력되어 상기 패널의 유효 표시영역에 표시되는 영상신호를 촬영하는 카메라; 및
    상기 패널의 화상 불량 결함을 검사하고 구분하는 프로그램이 내장되어 있으며, 상기 카메라로 촬영된 영상신호를 받아 방전셀의 점등 및 소등 상태와 그레이 레벨 수치를 측정하여 화상 불량 결함을 검사하고 상기 화상 불량 결함의 종류를 구분하여 저장, 표시하는 컴퓨터
    를 포함하며,
    상기 패널과 카메라는 암실 내부에 위치하는 플라즈마 디스플레이 패널 검사 시스템.
  2. 삭제
  3. 제1항에 있어서,
    상기 컴퓨터는 상기 카메라로부터 전송된 영상신호에서 미점등 셀을 검출하고, 상기 구동부의 구동 전압을 점차적으로 증가시키면서 상기 미점등 셀을 점등시켜서 상기 미점등 셀이 모두 점등되었을 때의 구동 전압을 전압 마진 최고 전압으로 저장하고,
    상기 구동부의 구동 전압을 점차적으로 감소시키면서 미소등 셀을 검출하여 소등시키고, 상기 미소등 셀이 모두 소등되었을 때의 구동 전압을 전압 마진 최저 전압으로 저장하여 최적 전압 마진을 결정하는 플라즈마 디스플레이 패널 검사 시스템.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 결함이 검출된 패널의 재검사를 위하여 상기 패널의 유효 표시영역에 표시되는 영상신호를 촬영하는 리뷰 카메라
    를 더 포함하는 플라즈마 디스플레이 패널 검사 시스템.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 패널과 컴퓨터 사이에 설치되고 상기 컴퓨터에 의해 직렬 데이터 통신으로 원격 제어함으로써 상기 패널의 색좌표, 휘도 및 색온도를 측정하는 색좌표 측정기
    를 더 포함하는 플라즈마 디스플레이 패널 검사 시스템.
  6. 플라즈마 디스플레이 패널의 검사 시스템을 이용한 패널 검사 방법에 있어서,
    패턴 발생부로부터 출력된 패턴을 플라즈마 디스플레이 패널에 인가하여 상기 패널의 유효 표시영역에 표시되는 영상신호를 암실에 위치한 카메라로 촬영하고, 상기 카메라로 촬영된 영상신호를 컴퓨터로 받아 방전셀의 점등 및 소등 상태와 그레이 레벨 수치를 측정하여 화상 불량 결함을 검사하고 상기 화상 불량 결함의 종류를 구분하여 저장, 표시하는
    플라즈마 디스플레이 패널 검사 방법.
  7. 제6항에 있어서,
    상기 컴퓨터는 상기 카메라로부터 받은 영상신호에서 상기 패널의 모아레 현상 발생을 검출하며,
    상기 영상신호에서 모아레 현상 발생이 검출되면, 상기 모아레 현상이 발생된 픽셀의 그레이 레벨 수치를 판독하고 소정 그레이 레벨을 필터링하여 모아레 현상을 제거한 후 상기 패널의 화상 불량 결함을 구분하는 플라즈마 디스플레이 패널 검사 방법.
  8. 제6항에 있어서,
    상기 컴퓨터는 상기 카메라로부터 받은 영상신호에서 상기 패널의 픽셀 점등 상태를 검사하여 5픽셀이 연속으로 오프되면 결함으로 판단하는 플라즈마 디스플레이 패널 검사 방법.
  9. 제6항에 있어서,
    상기 패널의 픽셀 점등 상태를 검사하는 과정에서 동일한 픽셀이 온, 오프를 반복하면, 상기 패널로부터 소정의 프레임 영상을 취득하여 각각의 연속된 프레임을 비교하여 휘도 변화량을 측정하여 결함 정보를 취득하고, 상기 취득한 결함 정보를 합하여 최종 결함을 판정하는 플라즈마 디스플레이 패널 검사 방법.
  10. 제6항에 있어서,
    상기 패널의 각 모서리 화상 끝점의 위치 정보와 각 변의 중앙부의 위치 정보를 추출하여 왜곡된 양만큼 수평/수직방향으로 이동한 후 패널 결함 검사를 실시하는 플라즈마 디스플레이 패널 검사 방법.
  11. 제6항에 있어서,
    상기 카메라로부터 전송된 영상신호에서 미점등 셀을 검출하고, 상기 구동부의 구동 전압을 점차적으로 증가시키면서 상기 미점등 셀을 점등시켜서, 상기 미점등 셀이 모두 점등되었을 때의 구동 전압을 전압 마진 최고 전압으로 결정하고,
    상기 구동부의 구동 전압을 점차적으로 감소시키면서 미소등 셀을 검출하여 소등시키고, 상기 미소등 셀이 모두 소등되었을 때의 구동 전압을 전압 마진 최저 전압으로 결정하는 플라즈마 디스플레이 패널 검사 방법.
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