CN111289381A - 屏体耐弯折性能检测方法 - Google Patents

屏体耐弯折性能检测方法 Download PDF

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CN111289381A CN202010241136.7A CN202010241136A CN111289381A CN 111289381 A CN111289381 A CN 111289381A CN 202010241136 A CN202010241136 A CN 202010241136A CN 111289381 A CN111289381 A CN 111289381A
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Abstract

本发明提供的屏体耐弯折性能检测方法，通过提供待检测屏体、在待检测屏体表面设置有机膜层，有机膜层远离待检测屏体的一侧开设有按预设距离间隔的多个开孔，在每个开孔内对应设置标定单元、获取标定单元在有机膜层对应的第一位置信息和每个标定单元之间的第一距离信息、对待检测屏体长度方向上的两端施加应力，以使待检测屏体产生弯折形变，检测标定单元在有机膜层对应的第二位置信息和每个标定单元之间的第二距离信息的方式，将屏体的弯折信息量化，更为准确地识别待检测屏体的弯折位置信息和形变信息，提升了产品质量验证的效率。

Description

屏体耐弯折性能检测方法
技术领域
本发明涉及显示技术领域，特别是涉及一种屏体耐弯折性能检测方法。
背景技术
相比于液晶显示屏，AMOLED(Active-matrix organic light-emitting diode，有源矩阵有机发光二极管)显示屏因其具备低功耗、高饱和度、广视角、薄厚度、柔性化等优势而倍受推崇。当下采用柔性显示面板的终端设备已经得到了广泛推广，但是在柔性显示面板使用过程中随着弯折次数的增加，柔性显示面板会出现不同程度的折痕，影响显示效果。
在柔性显示面板的产品质量验证过程中，屏体耐弯折性能是一项重要的评估指标。目前，测试柔性显示屏体耐弯折性能的检测方法通常是通过肉眼或机器识别检测显示器折痕尺寸，因此无法定量描述屏体弯折情况，影响产品质量验证的效率。
发明内容
基于此，有必要针对无法定量描述屏体弯折情况，影响产品质量验证的效率的问题，提供一种屏体耐弯折性能检测方法。
本发明提供的屏体耐弯折性能检测方法，包括：
提供待检测屏体；
在所述待检测屏体表面设置有机膜层，所述有机膜层远离所述待检测屏体的一侧开设有按预设距离间隔的多个开孔，在每个所述开孔内对应设置标定单元；
获取所述标定单元在所述有机膜层对应的第一位置信息和每个所述标定单元之间的第一距离信息；
对所述待检测屏体长度方向上的两端施加应力，以使所述待检测屏体产生弯折形变；
检测待检测屏体产生弯折形变之后所述标定单元在所述有机膜层对应的第二位置信息和每个所述标定单元之间的第二距离信息。
在其中一个实施例中，所述屏体耐弯折性能检测方法，还包括：
对比所述标定单元在所述有机膜层对应的所述第一位置信息和每个所述标定单元之间的所述第一距离信息与所述标定单元在所述有机膜层对应的所述第二位置信息和每个所述标定单元之间的所述第二距离信息，计算所述待检测屏体的形变量。
在其中一个实施例中，所述标定单元在所述有机膜层对应的所述第一位置信息、所述第二位置信息和每个所述标定单元之间的所述第一距离信息、所述第二距离信息可以通过如下方式获得：
提供探测器，对比所述标定单元在所述有机膜层对应的所述第一位置信息和所述第二位置信息识别所述待检测屏体的弯折位置信息；
所述探测器对比所述第一距离信息与所述第二距离信息识别所述待检测屏体的弯折形变信息。
在其中一个实施例中，多个所述开孔排布为第一方向上的多排和所述第二方向上的多排；其中，所述第一方向和所述第二方向平行于所述待检测屏体，所述第一方向和所述第二方向交叉。
在其中一个实施例中，所述第一方向和所述第二方向垂直。
在其中一个实施例中，所述多个所述开孔呈阵列排布。
在其中一个实施例中，设置于所述待检测屏体的所述有机膜层可以通过如下方式制备：提供所述有机膜层，在所述有机膜层表面刻蚀出所述开孔；在所述开孔内沉积形成所述标定单元；在所述待检测屏体表面设置所述有机膜层。
在其中一个实施例中，所述有机膜层的材料包括聚对苯二甲酸乙二酯、聚酰亚胺和聚二甲基硅氧烷中任一种或多种。
在其中一个实施例中，所述有机膜层的厚度为50μm-500μm。
在其中一个实施例中，所述标定单元为磷光材料。
本发明提供的屏体耐弯折性能检测方法，通过提供待检测屏体、在待检测屏体表面设置有机膜层，有机膜层远离待检测屏体的一侧开设有按预设距离间隔的多个开孔，在每个开孔内对应设置标定单元、获取标定单元在有机膜层对应的第一位置信息和每个标定单元之间的第一距离信息、对待检测屏体长度方向上的两端施加应力，以使待检测屏体产生弯折形变，检测标定单元在有机膜层对应的第二位置信息和每个标定单元之间的第二距离信息的方式，将屏体的弯折信息量化，更为准确地识别待检测屏体的弯折位置信息和形变信息，提升了产品质量验证的效率。
附图说明
图1为本发明实施例提供的屏体耐弯折性能检测方法流程图；
图2为本发明实施例提供的另一种屏体耐弯折性能检测方法流程图；
图3为本发明实施例提供的设置于待检测屏体的有机膜层示意图；
图4为本发明实施例提供的设置于待检测屏体的有机膜层沿AA’线的截面图；
图5为本发明实施例提供的另一种设置于待检测屏体的有机膜层示意图；
图6为本发明实施例提供的又一种设置于待检测屏体的有机膜层示意图；
图7为本发明实施例提供的又一种屏体耐弯折性能检测方法流程图；
图8为本发明实施例提供的制备设置于待检测屏体的有机膜层的方法流程图。
具体实施方式
为了便于理解本发明，下面将参照相关附图对本发明进行更全面的描述。附图中给出了本发明的较佳实施例。但是，本发明可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使对本发明的公开内容的理解更加透彻全面。
需要说明的是，当元件被称为“固定于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的。
除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本发明。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
随着柔性OLED显示技术的发展，柔性显示面板也逐渐从固定曲面显示面板演变为柔性曲面显示面板，当显示面板的弯折次数或者弯折曲率半径超过一定限度之后，则有可能出现器件老化的问题，导致亮度下降、产生黑点、暗线等损伤和寿命衰退，因此耐弯折特性也成为了检验显示面板可靠性的一项重要指标。目前，在产品质量检验的过程中，耐弯折特性的检测往往是通过肉眼或机器识别检测显示器折痕尺寸，无法定量描述屏体弯折情况，检测效率也相对较低。针对上述问题，本发明提供了一种屏体耐弯折性能检测方法：
请参见图1至图4，本申请的一个实施例提供一种屏体耐弯折性能检测方法，包括以下步骤：
S110：提供待检测屏体10
在本实施例中，提供的待检测屏体10既可以是固定曲面的可折叠显示面板，也可以是柔性曲面的显示面板，还可以是不具有可曲面弯折功能的显示面板，本发明对此不做限定。
S120：在待检测屏体10表面设置有机膜层11，有机膜层11远离待检测屏体10的一侧开设有按预设距离间隔的多个开孔12，在每个开孔12内对应设置标定单元13。
在本实施例中，采用贴附或涂布的方式将有机膜层11设置于待检测屏体10表面，使有机膜层11可以随待检测屏体10的弯折产生形变。有机膜层11远离待检测屏体110的一侧开设有按预设距离间隔的多个开孔12，一方面是为了缓冲有机膜层11随待检测屏体10的弯折产生形变时受到的应力，缓解其表面出现的不平整、褶皱或结构上的破坏，降低对检测效果的影响；另一方面是为了为后续流程中填充物质预留容置空间。可以理解的是，预设距离可以为待检测屏体10显示范围内的任意距离，本实施例对此不做限定。
如图1至图4所示，有机膜层11以贴附或涂布的方式设置于待检测屏体10表面，有机膜层11远离待检测屏体10的一侧开设有按预设距离间隔的多个开孔12，多个开孔12排布为第一方向上的多排和第二方向上的多排；其中，第一方向和第二方向平行于待检测屏体10，第一方向和第二方向交叉。在每个开孔12内对应设置标定单元13，一个标定单元13对应一个开孔12设置，当有机膜层11随着待检测屏体10的弯折产生形变时，设置于开孔12内的标定单元13在有机膜层11的相对位置相应地发生变化。
可选地，第一方向和第二方向垂直。
S130：获取标定单元13在有机膜层11对应的第一位置信息和每个标定单元13之间的第一距离信息。
在本实施例中，一个标定单元13对应一个开孔12设置，因此每个标定单元13均有一个其对应有机膜层11的相对位置。以多个开孔12呈阵列排布的有机膜层11为例，可以将标定单元13在有机膜层11对应的位置设定为坐标值(X，Y)，例如：将第一方向上第一排对应第二方向上第一排的标定单元13在有机膜层11对应的位置设定为坐标值(X1,Y1)；将第一方向上第一排对应第二方向上第二排的标定单元13在有机膜层11对应的位置设定为坐标值(X1,Y2)，以此类推。可以理解的是，每一个坐标值即标定单元13在有机膜层11上对应的第一位置信息。
在本实施例中，由于多个开孔12按预设距离间隔设置，因此在每个所述开孔12内对应设置的标定单元13也应当按预设距离间隔。以多个开孔12呈阵列排布的有机膜层11为例，可以将每个标定单元13之间的第一距离信息设定为定量值Mi，其中：第一方向每排的标定单元13之间的第一距离值为xi，第二方向每排的标定单元13之间的第二距离值为yi，以此类推。因此，在未待检测屏体10长度方向上的两端施加应力之前，第一方向每排的标定单元13之间的间隔距离为xi，第二方向每排的标定单元13之间间隔距离为yi。
具体地，有机膜层11可以为具有微结构的柔性薄膜，以使其可以随着待检测屏体10的弯折产生形变；在每个开孔12内对应设置标定单元13，一个标定单元13对应一个开孔12。
可以理解的是，多个开孔呈阵列排布。参见图3-6，本发明实施例提供了设置于待检测屏体的有机膜层，其中多个开孔呈阵列排布，例如：多个开孔排布可以构成矩形，也可以构成其他任意形状。将多个开孔设置为呈阵列排布，一方面可以缓冲在对待检测屏体10进行弯折时有机膜层11所受到的应力，另一方面可以为检测标定单元13在有机膜层11对应的位置信息和每个标定单元13之间的距离信息提供更为全面的检测空间。本发明实施例对多个开孔阵列排布的形状不做限定。
S140：对待检测屏体10长度方向上的两端施加应力，以使待检测屏体10产生弯折形变。
在本实施例中，对待检测屏体10长度方向上的两端施加应力，以使待检测屏体10和设置于待检测屏体10表面的有机膜层11产生弯折形变。当有机膜层11随着待检测屏体10的弯折产生形变时，设置于开孔12内的标定单元13在有机膜层的相对位置也相应发生变化。
可以理解的是，通过对待检测屏体10施加逐渐递增或逐渐递减的应力，可以检测不同应力下有机膜层11随待检测屏体10弯折发生的形变程度以及标定单元13在有机膜层11对应的第一位置信息和每个标定单元13之间的第一距离信息。
在本实施例中，由于对待检测屏体10长度方向上的两端施加应力，待检测屏体10和设置于待检测屏体10表面的有机膜层11产生弯折形变，因此当待检测屏体10展平后，设置于开孔12内的标定单元13在有机膜层的相对位置和标定单元13之间的距离也可能会相应地发生变化。
可以理解的是，本步骤可以执行多次，本方案对具体的执行次数不做限定。
S150：检测待检测屏体10产生弯折形变之后标定单元13在有机膜层12对应的第二位置信息和每个标定单元之间的第二距离信息。
在本实施例中，展平待检测屏体10后，每个标定单元13对应有机膜层11的相对位置可能相对于对待检测屏体10长度方向上的两端施加应力前的相对位置相应地发生变化。以多个开孔12呈阵列排布的有机膜层11为例，可以将标定单元13在有机膜层11对应的位置设定为坐标值(ΔXi,ΔYi)，例如：将第一方向上第一排对应第二方向上第一排的标定单元13在有机膜层11对应的位置设定为坐标值(ΔX1,ΔY1)；将第一方向上第一排对应第二方向上第二排的标定单元13在有机膜层11对应的位置设定为坐标值(ΔX1,ΔY2)，以此类推。
在本实施例中，展平待检测屏体10后，每个标定单元13之间的第二距离信息可能相对于对待检测屏体10长度方向上的两端施加应力前每个标定单元13之间的第一距离信息相应地发生变化。以多个开孔12呈阵列排布的有机膜层11为例，可以将每个标定单元13之间的第二距离信息设定为定量值ΔMi，其中：第一方向每排的标定单元13与其相邻的标定单元13的第一距离值为Δxi，第二方向每排的标定单元13与其相邻的标定单元13第二距离值为Δyi。例如，第一方向上第一排对应第二方向上第一排的标定单元13和第一方向上第一排对应第二方向上第二排的标定单元13的第一距离值为Δx1，第一方向上第一排对应第二方向上第一排的标定单元13和第一方向上第二行对应第二方向上第一排的标定单元13的第二距离值为Δy1，以此类推。
S160：对比标定单元13在有机膜层11对应的第一位置信息和每个标定单元13之间的第一距离信息与标定单元13在有机膜层11对应的第二位置信息和每个标定单元13之间的第二距离信息，计算待检测屏体10的形变量。
在本发明实施例中，对待检测屏体10长度方向上的两端施加应力前，标定单元13在有机膜层11对应的位置设定为坐标值(X，Y)，每个标定单元13之间的第一距离信息设定为定量值为M；对待检测屏体10长度方向上的两端施加应力后，标定单元13在有机膜层11对应的位置设定为坐标值(ΔX，ΔY)，每个标定单元13之间的第二距离信息设定为定量值为ΔM。
通过对比对待检测屏体10长度方向上的两端施加应力前后标定单元13在有机膜层11对应的第一位置信息和第二位置信息，可以识别待检测屏体10导致弯折变形的位置，从而确定待检测屏体10可能导致失效的风险位置。例如，对待检测屏体10长度方向上的两端施加应力之前，第一方向上第一排对应第二方向上第一排的标定单元13在有机膜层11对应的位置为坐标值(X1,Y1)，对待检测屏体10长度方向上的两端施加应力之后，第一方向上第一排对应第二方向上第一排的标定单元13在有机膜层11对应的位置变化为坐标值(ΔX1，ΔY1)；若坐标值(X1,Y1)和坐标值(ΔX1，ΔY1)相同，则待检测屏体10在该坐标位置未导致可能导致失效的弯折变形；若坐标值(X1,Y1)和坐标值(ΔX1，ΔY1)相同，则待检测屏体10在该坐标位置已导致可能导致失效的弯折变形。
在确定待检测屏体10可能导致失效的风险位置的基础上，通过对待检测屏体10长度方向上的两端施加应力前标定单元13在有机膜层11对应的第一位置信息和每个标定单元13之间的第一距离信息与对待检测屏体10长度方向上的两端施加应力后标定单元13在有机膜层11对应的第二位置信息和每个标定单元13之间的第二距离信息，可以计算可能导致失效的风险位置待检测屏体10发生的形变量Q。形变量Q的具体计算方法为：Q＝(((Δx-x)/x)+((Δy-y)/y))×100％；例如，对待检测屏体10长度方向上的两端施加应力之前，第一方向每排的标定单元13之间的第一距离值为5mm，第一方向每排的标定单元13之间的第一距离值为6mm，对待检测屏体10长度方向上的两端施加应力之后，第一方向上第一排对应第二方向上第一排的标定单元13对应的坐标位置为待检测屏体10可能导致失效的风险位置，第一方向上第一排对应第二方向上第一排的标定单元13和第一方向上第一排对应第二方向上第二排的标定单元13的第一距离值为5.5mm，第一方向上第一排对应第二方向上第一排的标定单元13和第一方向上第二排对应第二方向上第一排的标定单元13的第二距离值为6.6mm，在第一方向上第一排对应第二方向上第一排的标定单元13处对应的待检测屏体10发生的形变量Q为20％。
请参见图7，本发明实施例提供的一种屏体耐弯折性能检测方法，标定单元13在有机膜层11对应的第一位置信息和第二位置信息、每个标定单元13之间的第一距离信息和第二距离信息可以通过如下方式获得：
S210：提供探测器，对比标定单元13在有机膜层11对应的第一位置信息和第二位置信息识别待检测屏体10的弯折位置信息。
在本发明实施例中，在对待检测屏体10长度方向上的两端施加应力前，采用探测器获取标定单元13在有机膜层11对应的第一位置信息；对待检测屏体10长度方向上的两端施加应力后，采用探测器获取有机膜层11形变之后，标定单元13在有机膜层11对应的第二位置信息。
具体地，探测器可以采用图像采集的方式收集标定单元13在有机膜层11对应的第一位置信息和第二位置信息，并以坐标值的形式记录每个标定单元13的坐标位置。例如，探测器可以通过图像采集的方式获取标定单元13在有机膜层11上的分布信息，并通过标记的方式将第一方向上第一排对应第二方向上第一排的标定单元13在有机膜层11对应的位置设定为坐标值(X1,Y1)；将第一方向上第一排对应第二方向上第二排的标定单元13在有机膜层11对应的位置设定为坐标值(X1,Y2)，以此类推。
S220：探测器对比第一距离信息与第二距离信息识别待检测屏体10的弯折形变信息。
在本发明实施例中，在对待检测屏体10长度方向上的两端施加应力前，采用探测器获取每个标定单元13之间的第一距离信息；对待检测屏体10长度方向上的两端施加应力后，在确定待检测屏体10可能导致失效的风险位置的基础上，采用探测器获取可能导致失效的风险位置对应的标定单元13与其相邻的标定单元13的第二距离信息。
具体地，探测器可以采用图像采集的方式收集每个标定单元13之间的距离，并以定量值的形式记录每个标定单元13之间的第一距离信息或第二距离信息。例如，探测器可以通过图像采集的方式获取标定单元13之间的第一距离信息，并通过标记的方式将每个标定单元13之间的第一距离信息设定为定量值Mi，其中：第一方向每排的标定单元13之间的第一距离值为xi，第二方向每排的标定单元13之间的第二距离值为yi。因此，在未待检测屏体10长度方向上的两端施加应力之前，第一方向每排的标定单元13之间的间隔距离为xi，第二方向每排的标定单元13之间间隔距离为yi，以此类推；又如，探测器可以通过图像采集的方式获取标定单元13之间的第二距离信息，并通过标记的方式可以将每个标定单元13之间的第二距离信息设定为定量值ΔMi，其中：第一方向每排的标定单元13与其相邻的标定单元13的第一距离值为Δxi，第二方向每排的标定单元13与其相邻的标定单元13第二距离值为Δyi。第一方向上第一排对应第二方向上第一排的标定单元13和第一方向上第一排对应第二方向上第二排的标定单元13的第一距离值为Δx1，第一方向上第一排对应第二方向上第一排的标定单元13和第一方向上第二行对应第二方向上第一排的标定单元13的第二距离值为Δy1，以此类推。
可以理解的是，探测器所采用的图像采集方法可以是神经网络图像识别技术，也可以是小波矩图像识别技术，还可以是分形特征图像识别技术，本发明实施例对探测器所采用的具体图像采集方法不做限定。
可选地，探测器为磷光探测器。
请参见图8，在本发明实施例提供的一种屏体耐弯折性能检测方法中，设置于待检测屏体10的有机膜层11可以通过如下方式制备：
S310：提供有机膜层11，在有机膜层11表面刻蚀出开孔12。
在本发明实施例中，提供有机膜层11，将其作为检测屏体耐弯折性能的载体材料。借助光刻工艺，在有机膜层11表面刻蚀出开孔12，从而在改善有机膜层11受到应力时发生集中形变造成破损的状况，同时可以为后续步骤中在有机膜层11表面或内部填充物质预留空间。
具体地，在有机膜层11表面刻蚀出开孔12可以包括以下流程：提供有机膜层11，在有机膜层11上涂布光刻胶，通过光刻工艺对有机膜层11上涂布的感光胶进行曝光显影处理，形成对应开孔12的图形结构并剔除不需要的光刻胶，刻蚀已形成对应开孔12形状的图形结构从而形成开孔。
可以理解的是，刻蚀方式可以是湿法刻蚀，也可以是干法刻蚀，本发明实施例对此不做限定。
S320：在开孔12内沉积形成标定单元13。
在本发明实施例中，在有机膜层11表面刻蚀出开孔12之后，在开孔12内沉积形成标定单元13。在每个开孔12内对应设置标定单元13，一个标定单元13对应一个开孔12设置。
具体地，沉积形成标定单元13可以包括以下流程：提供掩膜板，将其放置于有机膜层11上，使掩膜板的材料输出单元和对应开孔12的图形结构对位，在对应开孔12的图形结构内沉积制备标定单元13的材料；其中，标定单元13远离待检测屏体10一侧的表面和有机膜层11远离待检测屏体10一侧的表面平齐。
可以理解的是，标定单元13可以通过化学气相沉积、物理气相沉积、磁控溅射等工艺制备形成，本发明实施例对此不做限定。
S330：在待检测屏体10表面设置有机膜层11。
在本发明实施例中，在待检测屏体10表面设置有机膜层11，可以采用贴附或涂布的方式将有机膜层11设置于待检测屏体10表面，使有机膜层11可以随待检测屏体10的弯折产生形变。
可选地，有机膜层11的材料包括聚对苯二甲酸乙二酯、聚酰亚胺和聚二甲基硅氧烷中任一种或多种。
可选地，有机膜层11的厚度为50μm-500μm。当有机膜层11的厚度小于50μm时，当有机膜层11随着待检测屏体10的弯折产生形变时，有机膜层11可能会因为应力变化而产生破裂；当有机膜层11的厚度大于500μm时，有机膜层11的形变量往往不能有效体现待检测屏体10的弯折程度。
可选地，开孔12的截面积可以任意选择，本发明实施例对此不做限定。
可选地，开孔12的形状可以是圆形、方形、三角形、楔形等任意形状，本发明实施例对此不做限定。
可选地，标定单元13为磷光材料。
以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.屏体耐弯折性能检测方法，其特征在于，包括：
提供待检测屏体；
在所述待检测屏体表面设置有机膜层，所述有机膜层远离所述待检测屏体的一侧开设有按预设距离间隔的多个开孔，在每个所述开孔内对应设置标定单元；
获取所述标定单元在所述有机膜层对应的第一位置信息和每个所述标定单元之间的第一距离信息；
对所述待检测屏体长度方向上的两端施加应力，以使所述待检测屏体产生弯折形变；
检测待检测屏体产生弯折形变之后所述标定单元在所述有机膜层对应的第二位置信息和每个所述标定单元之间的第二距离信息。
2.根据权利要求1所述的屏体耐弯折性能检测方法，其特征在于，还包括：
对比所述标定单元在所述有机膜层对应的所述第一位置信息和每个所述标定单元之间的所述第一距离信息与所述标定单元在所述有机膜层对应的所述第二位置信息和每个所述标定单元之间的所述第二距离信息，计算所述待检测屏体的形变量。
3.根据权利要求1所述的屏体耐弯折性能检测方法，其特征在于，所述标定单元在所述有机膜层对应的所述第一位置信息、所述第二位置信息和每个所述标定单元之间的所述第一距离信息、所述第二距离信息可以通过如下方式获得：
提供探测器，对比所述标定单元在所述有机膜层对应的所述第一位置信息和所述第二位置信息识别所述待检测屏体的弯折位置信息；
所述探测器对比所述第一距离信息与所述第二距离信息识别所述待检测屏体的弯折形变信息。
4.根据权利要求1所述的屏体耐弯折性能检测方法，其特征在于：
多个所述开孔排布为第一方向上的多排和所述第二方向上的多排；
其中，所述第一方向和所述第二方向平行于所述待检测屏体，所述第一方向和所述第二方向交叉。
5.根据权利要求4所述的屏体耐弯折性能检测方法，其特征在于，所述第一方向和所述第二方向垂直。
6.根据权利要求4所述的屏体耐弯折性能检测方法，其特征在于，多个所述开孔呈阵列排布。
7.根据权利要求1所述的屏体耐弯折性能检测方法，其特征在于，设置于所述待检测屏体的所述有机膜层可以通过如下方式制备：
提供所述有机膜层，在所述有机膜层表面刻蚀出所述开孔；
在所述开孔内沉积形成所述标定单元；
在所述待检测屏体表面设置所述有机膜层。
8.根据权利要求7所述的屏体耐弯折性能检测方法，其特征在于，所述有机膜层的材料包括聚对苯二甲酸乙二酯、聚酰亚胺和聚二甲基硅氧烷中任一种或多种。
9.根据权利要求7所述的屏体耐弯折性能检测方法，其特征在于，所述有机膜层的厚度为50μm-500μm。
10.根据权利要求7所述的屏体耐弯折性能检测方法，其特征在于，所述标定单元为磷光材料。
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