CN103424407B - 待测物的辅助对位方法与其系统 - Google Patents

待测物的辅助对位方法与其系统 Download PDF

Info

Publication number
CN103424407B
CN103424407B CN201210177054.6A CN201210177054A CN103424407B CN 103424407 B CN103424407 B CN 103424407B CN 201210177054 A CN201210177054 A CN 201210177054A CN 103424407 B CN103424407 B CN 103424407B
Authority
CN
China
Prior art keywords
determinand
processing unit
display module
identification information
auxiliary para
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201210177054.6A
Other languages
English (en)
Other versions
CN103424407A (zh
Inventor
汪光夏
邱诗彰
吕彦德
曹育铭
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Machvision Inc
Original Assignee
Machvision Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Machvision Inc filed Critical Machvision Inc
Publication of CN103424407A publication Critical patent/CN103424407A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN103424407B publication Critical patent/CN103424407B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Landscapes

  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Image Analysis (AREA)
  • Pinball Game Machines (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

一种待测物的辅助对位方法及其系统,用于辅助辨识待测物的待测区中的特定特征的位置,该辅助对位方法包含:提供具有处理单元及显示模块的辅助对位系统,该处理单元电连接该显示模块;令该处理单元接收包含该特定特征的特征信息;令该处理单元根据该特征信息而对应产生标识信息,并在该显示模块的特定区域内显示该标识信息,其中该特定区域与该待测区相对应。借此,本发明可辅助操作员在检测程序中能够轻易地且快速地辨识待测物的特定特征在该待测物中相对应的正反两面上的对应位置,达到提升生产线效率的技术效果。

Description

待测物的辅助对位方法与其系统
技术领域
本发明涉及一种待测物的辅助对位方法与其系统,尤其涉及一种用于电子工业的检测程序中辅助辨识待测物的特定特征位于该待测物上的位置的方法与其系统。
背景技术
电子工业中,印刷电路板等电子组件的制造过程中会先利用自动光学检测系统(AutomaticOpticalInspection,AOI)进行检测,以检测出该印刷电路板表面的缺陷,一般而言,该印刷电路板可为具有多个部件(pieces)的软性印刷电路板、硬性印刷电路板、晶圆等,因为各该部件的质量直接关系到各该部件设置电子组件后是否能正常运作,因此对该印刷电路板进行质量检测为相当的重要环节。
其中,该自动光学检测系统在完成该印刷电路板的检测后,会将该待测物上所检测出具有缺陷的部件的相关检测结果传送到复检站,再通过该复检站的复检装置以人工判读的方式确认该检测结果是否为真实缺陷或仅为该自动光学检测系统的误判,以在确认为真实缺陷之后利用人工或机器的方式进行该部件的特定位置标记或去除,以在后续以表面粘着技术(SMT)的方式设置电子组件时,排除具有缺陷的部件。
再者,上述检测程序中仅能针对该印刷电路板的第一面中具有缺陷的部件进行处理,但实务上,对于具有缺陷的部件需要进行双面的标记或去除,以避免相对于被去除的第一面的第二面被设置电子组件,然而,针对该第二面的标记或去除目前仍以人工的方式来进行,具体来说,操作员需依照该第一面上具有缺陷的部件位置对应寻找该部件位于该第二面的位置,以标注或直接去除其特定点,但此种仅以人工进行对位的方式,当位于该印刷电路板的部件数量增多或形状不对称时,很容易发生标记错误、标记数量缺漏等的情况,且在操作上相当耗时,造成检测程序上很大的缺陷。
因此,本发明提供一种待测物的辅助对位方法与其系统,可辅助操作员能够轻易地且快速地辨识该待测物的第一面上特定位置所对应位于该第二面的位置,以达到降低操作员的作业时间,甚至可进一步应用于在特定程序中对待测物的第一面及第二面的特定部件进行对位标记,达到提升生产线效率的技术效果。
发明内容
本发明的目的在于提供一种待测物的辅助对位方法与其系统,可辅助操作员在检测程序中能够轻易地且快速地辨识该缺陷在待测物中相对应的第一面与第二面中的对应位置,达到提升生产线效率的技术效果。
为达上述目的及其他目的,本发明提供一种待测物的辅助对位方法,用于辅助辨识待测物的待测区中的特定特征的位置,该辅助对位方法包含:提供具有处理单元及显示模块的辅助对位系统,且该处理单元电连接该显示模块;令该处理单元接收包含该特定特征的特征信息;以及令该处理单元根据该特征信息而对应产生标识信息,并在该显示模块的特定区域内显示该标识信息,其中该特定区域与该待测区相对应。
为达上述目的及其他目的,本发明提供一种待测物的辅助对位系统,用于辅助辨识待测物的待测区中的特定特征的位置,该辅助对位系统包含处理单元及显示模块。其中,该处理单元,用于接收包含该特定特征的特征信息以对应产生标识信息;该显示模块,电连接该处理单元,且该显示模块用于在其特定区域内显示该标识信息,其中该特定区域与该待测区相对应。
在实施例中,该特征信息包含检测结果及控制信息,该检测结果由检测装置或复检装置所提供,且该控制信息由输入模块所提供。
在实施例中,该检测结果包含该待测物的特定位置及缺陷位置的至少其中之一,该控制信息包含该待测物的尺寸、形状、排版的至少其中之一。
在实施例中,该显示模块为显示屏幕,且该标识信息的显示方法为在该显示屏幕上的特定像素位置发亮。
在实施例中,该检测装置或该复检装置产生关于该待测物的第一面的检测结果,而该处理单元产生关于该待测物中对应于该第一面的第二面的标识信息。
在实施例中,该检测装置或该复检装置产生关于该待测物的第一面的检测结果,而该处理单元产生关于该待测物中该第一面的标识信息及对应于该第一面的第二面的标识信息。
在实施例中,该处理单元还包含切换器,用以切换该显示模块显示该待测物的第一面的标识信息及第二面的标识信息的至少其中之一。
在实施例中,该显示屏幕显示十字定位标志,该十字定位标志具有由中心向外渐层变化的色彩分布或灰阶变化,该十字定位标志用以对应该待测物的至少一个定位孔以定位该待测物。
在实施例中,该显示模块还包含至少一个定位件,设置于该显示模块,该定位件用以对应该待测物的至少一个定位孔以定位该待测物。
借此,本发明的待测物的辅助对位方法与其系统,利用处理单元与显示模块,来辅助操作员在检测程序中能够轻易地且快速地辨识待测物的特定特征位于该待测物中相对应的第一面与第二面上的对应位置,达到提升生产线效率的技术效果。
附图说明
图1为本发明具体实施例的待测物的辅助对位系统的功能方块图。
图2为本发明具体实施例的待测物利用辅助对位系统进行对位的示意图。
图3为本发明具体实施例的待测物利用辅助对位系统进行对位的示意图。
图4为本发明具体实施例的待测物的辅助对位方法的步骤流程图。
主要部件附图标记:
10辅助对位系统
12处理单元
14显示模块
142边框
144显示区
1442特定区域
3印刷电路板
30颜色区块
31待测区
32部件
34槽孔
36第一面
38第二面
S31、S32、S33步骤
Sin特征信息
具体实施方式
为充分了解本发明的目的、特征及技术效果,这里通过下述具体的实施例,并结合附图,对本发明做详细说明,说明如下:
请参照图1与图3,图1为本发明具体实施例的待测物的辅助对位系统的功能方块图,图2及图3为待测物利用辅助对位系统进行特定特征对位的示意图。在图1中,辅助对位系统10,用于辅助辨识待测物的待测区的特定特征位于该待测物上的位置,该辅助对位系统10包含:处理单元12及显示模块14。其中该显示模块14供操作员观看。
该处理单元12,用于接收包含该特定特征的特征信息Sin,且该处理单元12执行软件程序以对应产生标识信息,其中该特定特征例如包含检测结果,该检测结果可由检测装置(图未示)或复检装置(图未示)所提供,其中该检测结果可包含该待测物上的特定位置或缺陷位置的至少其中之一。
该显示模块14,电连接该处理单元12,且该显示模块14用于在其特定区域内显示该标识信息,其中该特定区域与该待测物的待测区相对应,其中该待测区可仅为该待测物上的部分区域或为该待测物上的全部区域,举例来说,若该待测区的面积小于该待测物的面积,则该特定区域的面积小于该待测物的面积,若该待测区的面积等于该待测物的面积,则该特定区域的面积等于该待测物的面积。
本实施例中,该特征信息Sin包含该检测结果及控制信息,且该控制信息由输入模块(图未示)所提供。其中,该输入模块可通过操作员的输入设定而产生该控制信息,该控制信息可包含例如该待测物的尺寸、形状、排版的至少其中之一的信息。
具体来说,如图2所示,本实施例以该待测物为具有多个部件32的印刷电路板3为例示说明,且各该部件32周围设置有槽孔34,而该待测区31的面积可小于或等于该印刷电路板3的面积。其中,上述的该待测物的尺寸、形状可为各该部件32的尺寸、形状或该印刷电路板3的尺寸、形状;该排版可为这些部件32在该印刷电路板3上的排版,例如这些部件32的数量及排列方式;该待测物上的特定位置可为该印刷电路板3上特定部件32的位置,而该待测物的缺陷位置可为由该检测装置所检测出位于该印刷电路板3上具有缺陷的部件32的位置。
回到图1,其中,该标识信息可经人眼所辨识出,例如该显示模块14可为LED灯板或显示屏幕。其中,若该输入模块产生该控制信息,且该检测装置或该复检装置产生关于该待测物中第一面的检测结果,而该处理单元12可根据具有该控制信息及该检测结果的特征信息Sin而产生关于该待测物中该第一面的标识信息及对应于该第一面的第二面的标识信息,亦即该显示模块14可用于显示关于该第一面的标识信息及关于该第二面的标识信息的至少其中之一,该处理单元12亦可仅产生关于该待测物中对应于该第一面的第二面的标识信息,进而显示在显示模块14。
具体而言,如图2所示,一并参照图1,该显示模块14以具有边框142与定义有显示区144的显示屏幕为例来说明,该检测结果包含该检测装置所检测出位于该印刷电路板3的第一面36的具有缺陷的部件32的位置,且该输入模块经由操作员输入该印刷电路板3的尺寸、形状、排版而产生该控制信息后,该处理单元12接收到具有该控制信息及该检测结果的特征信息Sin即执行该软件程序以对应产生关于该印刷电路板3的第一面36的标识信息及关于对应于该第一面36的第二面38的标识信息,该标识信息的显示方式为在该显示区144上的特定像素位置发亮呈现颜色区块30,例如红色区块等,且该颜色区块30的形状与各该部件32相同。
举例来说,当该待测区31的面积等于该印刷电路板3的面积,则可在该显示区144内与该印刷电路板3的边界所围绕的区域大小相同的特定区域1442内显示出该印刷电路板3的第一面36的缺陷位置,以供操作员将该印刷电路板3对应地放置于该显示屏幕上时对照出具有缺陷的部件32,在此,先以该印刷电路板3的第二面38贴附至该显示区144表面且对应于该特定区域1442的位置,此时,如图3所示,该颜色区块30会通过该印刷电路板3上对应具有缺陷的部件32周围的槽孔34显露出,即具有缺陷的部件32会被与该印刷电路板3相异的颜色所围绕,以供该操作员观看,上述步骤使该操作员可轻易地且快速地立即辨识并确认具有缺陷的部件32位于该第一面36的位置,同时,该操作员可直接在该印刷电路板3的第一面36进行标记或去除。其中,该颜色区块30的面积略大于各该部件32的面积,以在该印刷电路板3覆盖于该显示区144的特定区域1442上时,该颜色区块30的一部分仍可通过具有缺陷的部件32周围的槽孔34显露出供操作员观看。
再者,该处理单元12可执行该软件程序,并根据位于该第一面36的具有缺陷的部件32的位置,使该处理单元进行反转且对应产生具有缺陷的部件32位于该第二面38的位置的标识信息,以在该显示区144上的特定像素位置发亮而呈现颜色区块30,在此,以该印刷电路板3的第一面36贴附至该显示区144表面且对应于该特定区域1442的位置,此时,该颜色区块30会通过该印刷电路板3上对应具有缺陷的部件32周围的槽孔34显露出,即具有缺陷的部件32会被与该印刷电路板3相异的颜色所围绕,以供该操作员观看,上述步骤使该操作员可立即辨识并确认具有缺陷的部件32位于该第二面38的位置,改善现有该操作员需根据该检测结果而一个一个对应地寻找具有缺陷的部件32以进行标记或去除。
其中,该标识信息亦可利用闪烁或其他可经人眼辨识的方式,在该印刷电路板3上具有缺陷的部件32周围的槽孔或具有缺陷的部件32旁特定位置的槽孔显露出,供该操作员易于观察和辨识。
在实施例中,该处理单元12可还包含切换器(图未示),用以切换而选择该显示模块显示该待测物的第一面的标识信息及第二面的标识信息的至少其中之一。
在实施例中,该显示屏幕可用于显示十字定位标志(图未示),该十字定位标志具有由其中心向外渐层变化的色彩分布或灰阶变化,用以对应位于该待测物的至少一个定位孔,使该待测物放置于该显示屏幕上进行对位时,该十字定位标志可通过该定位孔部分地显示而供操作员观测,可通过该十字定位标志的色彩或灰阶分布辨识该待测物所在的位置相对该显示屏幕的位置,进一步决定该待测物需移动的方向,以将该待测物放置于适当的位置而准确地进行该待测物的对位标记,避免放置待测物时挡住屏幕所显示的定位标志而造成难以定位的情况。
值得注意的是,该处理单元在提供给操作者使用前,应先进行像素数目与实际距离的相对调整,以使在该显示模块所显示的标识信息的尺寸等同于该待测物的实际尺寸。
再者,在实施例中,该显示模块14可还包含至少一个定位件(图未示),该定位件可为描述该定位孔的位置的十字标志亦可为描述待测物的外型的其他标志,或者该定位件可为定位针、定位凸柱等,该定位件设置于该显示模块14,例如位于该显示屏幕的边框142上,用以对应该待测物上的至少一个定位标志以将该待测物定位于该显示模块14,使该待测物放置于该显示模块时,各该定位标志可对应地套设在各该定位件,以使该待测物放置于适当的位置而准确地进行该特定特征的对位标记。
请参照图4,为本发明具体实施例的待测物的辅助对位方法的步骤流程图。如图所示,待测物的辅助对位方法,用于辅助辨识待测物的待测区的特定特征位于该待测物上的位置。
其中,该辅助对位方法起始于步骤S31,提供具有处理单元及显示模块的辅助对位系统,且该处理单元电连接该显示模块。
接着步骤S32,令该处理单元接收包含该特定特征的特征信息。
又接着步骤S33,令该处理单元根据该特征信息而对应产生标识信息,并在该显示模块的特定区域内显示该标识信息,以供操作员辨识并将该特定特征对位标记于该待测物上,其中该特定区域与该待测区相对应。
综上所述,本发明的待测物的辅助对位方法与其系统,利用处理单元与显示模块,来辅助操作员在检测程序中能够轻易地且快速地辨识待测物的特定特征位于该待测物中相对应的第一面与第二面中的对应位置,达到提升生产线效率的技术效果。
本发明在上文中已以较佳实施例揭露,然而本领域技术人员应理解的是,该实施例仅用于描绘本发明,而不应解读为限制本发明的范围,凡是与该实施例等效的变化与置换,均应视为涵盖于本发明的范畴内。因此,本发明的保护范围当以权利要求书所作限定为准。

Claims (14)

1.一种待测物的辅助对位方法,其特征在于,用于辅助辨识待测物的待测区中的特定特征的位置,该辅助对位方法包含:
提供具有处理单元及显示模块的辅助对位系统,该处理单元电连接该显示模块;
令该处理单元接收包含该特定特征的特征信息;以及
令该处理单元根据该特征信息而对应产生标识信息,并在该显示模块的特定区域内显示该标识信息,以供该待测物对应放置于该显示模块上时对照出具有该特定特征的位置,其中该特定区域与该待测区相对应。
2.如权利要求1所述的辅助对位方法,其特征在于,该特征信息包含检测结果及控制信息,该检测结果由检测装置或复检装置所提供,且该控制信息由输入模块所提供。
3.如权利要求2所述的辅助对位方法,其特征在于,该检测结果包含该待测物的特定位置及缺陷位置的至少其中之一,该控制信息包含该待测物的尺寸、形状及排版的至少其中之一。
4.如权利要求1所述的辅助对位方法,其特征在于,该显示模块为显示屏幕,且该标识信息的显示方法为在该显示屏幕上的特定像素位置发亮。
5.如权利要求2所述的辅助对位方法,其特征在于,该检测装置或该复检装置产生关于该待测物的第一面的检测结果,而该处理单元产生关于该待测物中对应于该第一面的第二面的标识信息。
6.如权利要求2所述的辅助对位方法,其特征在于,该检测装置或该复检装置产生关于该待测物的第一面的检测结果,而该处理单元产生关于该待测物中该第一面的标识信息及对应于该第一面的第二面的标识信息。
7.一种待测物的辅助对位系统,其特征在于,用于辅助辨识待测物的待测区中的特定特征的位置,该辅助对位系统包含:
处理单元,用于接收包含该特定特征的特征信息以对应产生标识信息;以及
显示模块,电连接该处理单元,且该显示模块用于承载该待测物以及在其特定区域内显示该标识信息,以供该待测物对应放置于该显示模块上时对照出具有该特定特征的位置,其中该特定区域与该待测区相对应。
8.如权利要求7所述的辅助对位系统,其特征在于,该特征信息包含检测结果及控制信息,该检测结果由检测装置或复检装置所提供,且该控制信息由输入模块所提供。
9.如权利要求7所述的辅助对位系统,其特征在于,该显示模块为显示屏幕。
10.如权利要求8所述的辅助对位系统,其特征在于,该检测装置产生关于该待测物的第一面的检测结果,而该处理单元产生关于该待测物中对应于该第一面的第二面的标识信息。
11.如权利要求8所述的辅助对位系统,其特征在于,该检测装置或该复检装置产生关于该待测物的第一面的检测结果,而该处理单元产生关于该待测物中该第一面的标识信息及对应于该第一面的第二面的标识信息。
12.如权利要求11所述的辅助对位系统,其特征在于,该处理单元还包含切换器,用以切换该显示模块显示该待测物的第一面的标识信息及第二面的标识信息的至少其中之一。
13.如权利要求9所述的辅助对位系统,其特征在于,该显示屏幕显示十字定位标志,该十字定位标志具有由其中心向外渐层变化的色彩分布或灰阶变化,该十字定位标志用以对应该待测物的至少一个定位孔以定位该待测物。
14.如权利要求7所述的辅助对位系统,其特征在于,该显示模块还包含至少一个定位件,设置于该显示模块。
CN201210177054.6A 2012-05-22 2012-05-31 待测物的辅助对位方法与其系统 Active CN103424407B (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW101118127A TWI472741B (zh) 2012-05-22 2012-05-22 Auxiliary Alignment Method and Its System
TW101118127 2012-05-22

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN103424407A CN103424407A (zh) 2013-12-04
CN103424407B true CN103424407B (zh) 2015-12-16

Family

ID=49649478

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201210177054.6A Active CN103424407B (zh) 2012-05-22 2012-05-31 待测物的辅助对位方法与其系统

Country Status (2)

Country Link
CN (1) CN103424407B (zh)
TW (1) TWI472741B (zh)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106018435A (zh) * 2016-08-08 2016-10-12 无锡宇宁智能科技有限公司 一种用于smt贴装产品外观检测的装置
CN112985276B (zh) * 2019-12-13 2023-03-10 万润科技精机(昆山)有限公司 电路板的厚度量测方法及厚度量测系统

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3759620A (en) * 1972-05-30 1973-09-18 Philco Ford Corp Flaw detection and marking apparatus
US4189337A (en) * 1978-04-10 1980-02-19 Camsco, Inc. Real time labeler system
US4295198A (en) * 1979-04-02 1981-10-13 Cogit Systems, Inc. Automatic printed circuit dimensioning, routing and inspecting apparatus
JPS60263807A (ja) * 1984-06-12 1985-12-27 Dainippon Screen Mfg Co Ltd プリント配線板のパタ−ン欠陥検査装置
US4783826A (en) * 1986-08-18 1988-11-08 The Gerber Scientific Company, Inc. Pattern inspection system
US4924505A (en) * 1987-08-03 1990-05-08 Vexcel Corporation Method of mensuration of an image on an object
US4978220A (en) * 1988-03-04 1990-12-18 Cimflex Teknowledge Corporation Compensating system for inspecting potentially warped printed circuit boards
US5204912A (en) * 1990-02-26 1993-04-20 Gerber Systems Corporation Defect verification and marking system for use with printed circuit boards
JP5060821B2 (ja) * 2007-04-10 2012-10-31 ラピスセミコンダクタ株式会社 基板検査装置及び基板検査方法
TWI391649B (zh) * 2008-09-16 2013-04-01 Au Optronics Corp 面板缺陷之點燈測試機台及面板缺陷之點燈測試方法

Also Published As

Publication number Publication date
TW201348694A (zh) 2013-12-01
CN103424407A (zh) 2013-12-04
TWI472741B (zh) 2015-02-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR102281106B1 (ko) 결함 검출 방법, 결함 검출을 위한 시스템 및 훈련 방법
US20160209207A1 (en) Board inspection method and board inspection system using the same
TWI585398B (zh) Projection-type printed circuit board re-inspection system and methods, and marking the location of the defect
CN104535587A (zh) 一种基于机器视觉的pcba焊点检测方法
CN103218961A (zh) 一种lcd缺陷在线检测方法及系统
KR101256369B1 (ko) 다수의 카메라를 이용한 평판 디스플레이 패널 검사 장치 및 방법
US9471972B2 (en) Solder print inspecting device
TWI484164B (zh) Optical re - inspection system and its detection method
KR101711020B1 (ko) 마크 및 패턴 인식을 통한 tfog 본딩 얼라인 검사장치
CN111199700A (zh) 显示背板检测设备及其检测方法、装置
US20110283530A1 (en) Component mounting system
CN102681227A (zh) 液晶显示面板的检测方法
CN105115979A (zh) 基于图像拼接技术的pcb工作片aoi检测方法
CN110865087A (zh) 一种基于人工智能的pcba质量检测方法
CN110428764B (zh) 显示面板检测方法
CN103424407B (zh) 待测物的辅助对位方法与其系统
WO2017018788A1 (ko) 기판 검사 장치 및 방법
CN109633948A (zh) 显示面板检测方法及显示面板检测装置
CN104637833A (zh) 晶粒选择方法及坏晶地图产生方法
CN104107806A (zh) 电脑视觉辨识输出图像辅助led晶粒挑选系统及其方法
JP4249543B2 (ja) 回路基板の外観検査方法及び回路基板の外観検査装置
CN106526448A (zh) 一种电源驱动板自动检测系统和检测方法
KR102034042B1 (ko) 평판 디스플레이 패널의 외관 스크래치 검사 방법
CN110763703A (zh) 一种辅助印刷电路板快速定位定点放大观察的投影式系统
CN110196504B (zh) 一种应用于lcd玻璃aoi测试的屏蔽干扰污点方法及系统

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant