CN109672089B

CN109672089B - 火花塞

Info

Publication number: CN109672089B
Application number: CN201811182707.3A
Authority: CN
Inventors: 武市敏典; 田中邦治; 黑野启一; 吉田治树; 上垣裕则
Original assignee: NGK Spark Plug Co Ltd
Current assignee: Niterra Co Ltd
Priority date: 2017-10-13
Filing date: 2018-10-11
Publication date: 2020-07-14
Anticipated expiration: 2038-10-11
Also published as: US10340667B2; JP2019075216A; US20190115729A1; CN109672089A; DE102018125302A1; JP6623200B2

Abstract

本发明提供一种火花塞，能够提高电阻的耐久性。火花塞具备：绝缘体，具有沿着轴线延伸的轴孔；中心电极，配置于轴孔的前端侧；端子配件，配置于轴孔的后端侧；及电阻，配置于轴孔内的端子配件与中心电极之间，与端子配件及中心电极电连接，电阻与绝缘体的内周面接触。在该火花塞的沿着轴线以包含轴线的方式剖切而成的截面中，在绝缘体与电阻的边界线中的、轴线的方向的任意范围内的局部边界线上沿着轴线方向以预定的间隔绘制多个点、且通过最小二乘法使用多个点画出回归直线时，与回归直线垂直的方向上的回归直线与局部边界线的距离的平均值为0.1～0.3μm。

Description

火花塞

技术领域

本发明涉及火花塞，尤其涉及内置有电阻的火花塞。

背景技术

已知为了抑制在点火时产生的电波噪音而内置有电阻的火花塞(专利文献1)。专利文献1中公开的火花塞具备：具有轴孔的绝缘体；分别配置于轴孔的前端侧及后端侧的中心电极及端子配件；及配置于轴孔内的端子配件与中心电极之间并与端子配件及中心电极电连接的电阻，点火时的放电电流在电阻中流动。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2013-187049号公报

但是，在上述的现有技术中，根据集肤效应，放电电流的电流密度在绝缘体与电阻的边界面附近变大，因此当因焦耳热产生的边界面附近的电阻的发热量过大时，电阻易于从边界面附近开始劣化。

发明内容

本发明是为了解决上述问题而作出的，其目的在于提供能够抑制劣化并提高电阻的耐久性的火花塞。

为了达成该目的，本发明的火花塞具备：绝缘体，具有从前端侧向后端侧沿着轴线延伸的轴孔；中心电极，配置于轴孔的前端侧；端子配件，配置于轴孔的后端侧；及电阻，配置于轴孔内的端子配件与中心电极之间，与端子配件及中心电极电连接，电阻与绝缘体的内周面接触。在该火花塞的沿着轴线以包含轴线的方式剖切而成的截面中，在绝缘体与电阻的边界线中的、轴线的方向的任意范围内的局部边界线上沿着轴线方向以预定的间隔绘制多个点、且通过最小二乘法使用多个点画出回归直线时，与回归直线垂直的方向上的回归直线与局部边界线上的点的距离的平均值为0.1～0.3μm。

发明效果

根据技术方案1所述的火花塞，在包含轴线的截面中，绝缘体与电阻的局部边界线上的点与回归直线的距离的平均值为0.1～0.3μm，因此能够避免因边界面的粗糙度引起的电阻的边界面附近的电阻值过大。而且，能够发挥由边界面的凹凸带来的锚定效果，难以发生边界面破坏。由此，能够提高电阻的耐久性。

根据技术方案2所述的火花塞，绝缘体的相对密度为94～98％，因此能够发挥边界面的锚定效果，更难以发生边界面破坏。另外，由于绝缘体的直径10μm以上的气孔的比例为0.5％以下，因此难以在绝缘体与电阻的边界面存在绝缘体的开气孔。能够避免电阻侵入到绝缘体的开气孔而使电阻的边界面附近的电阻值过大，因此不仅具有技术方案1的效果，还能够提高因发热引起的电阻的劣化的抑制效果。

根据技术方案3所述的火花塞，绝缘体含有94wt％(质量百分比)以上的氧化铝，因此能够容易地抑制边界面的粗糙。其结果是，能够容易地抑制边界面附近的电阻的发热量，因此不仅具有技术方案1或2的效果，还能够进一步抑制因发热引起的电阻的劣化。

根据技术方案4所述的火花塞，具备配置于绝缘体的外周面并且在自身的外周面形成有外螺纹的筒状的主体配件。外螺纹的标称直径为12mm以下，因此能够按照主体配件而使绝缘体变细。当根据绝缘体的粗细而内置于绝缘体的电阻变细时，与电阻粗的情况相比，电阻的边界面(电阻的外周面)的面积与体积之比变大。其结果是，随着电阻变细，电阻的边界面附近的发热对于体积的影响变大，因此容易发生因发热引起的电阻的劣化。相对于此，在技术方案4所述的火花塞中，通过使边界面的粗糙度变小，能够抑制边界面附近的电阻的发热，因此不仅具有技术方案1～3中任一项的效果，在主体配件的外螺纹的标称直径为12mm以下时，还能够使抑制因发热引起的电阻的劣化的效果变大。

附图说明

图1是本发明的一个实施方式的火花塞的单侧剖视图。

图2是示出绝缘体与电阻的边界线的火花塞的剖视图。

图3是绝缘体与电阻的边界线中的任意范围内的局部边界线。

附图标记说明

10 火花塞

11 绝缘体

12 内周面

14 外周面

15 中心电极

18 端子配件

19 主体配件

21 外螺纹

24 电阻

28 边界线

30 局部边界线

31 点

32 回归直线

P 距离

具体实施方式

下面，参照附图说明本发明的优选实施方式。图1是本发明的一个实施方式的火花塞10的以轴线O为界的单侧剖视图。在图1中，将纸面下侧称为火花塞10的前端侧，将纸面上侧称为火花塞10的后端侧。如图1所示，火花塞10具备绝缘体11、中心电极15、端子配件18及主体配件19。

绝缘体11是由机械特性、高温下的绝缘性优异的氧化铝等形成的部件，通过使轴孔沿着轴线O贯通而形成内周面12。在内周面12的前端侧设置有朝向后端侧的后端朝向面13。后端朝向面13的内径随着朝向前端而逐渐变小。

中心电极15是沿着轴线O延伸的棒状的部件，具备轴部16和外径比轴部16大的头部17。中心电极15的铜芯材或以铜为主成分的芯材由镍或镍基合金覆盖。中心电极15的头部17与绝缘体11的内周面12的后端朝向面13卡定，轴部16的前端从绝缘体11的轴孔露出。

端子配件18是连接有高压线缆(未图示)的棒状的部件，由具有导电性的金属材料(例如低碳素钢等)形成。端子配件18以前端侧插入到绝缘体11的轴孔的状态固定于绝缘体11的后端。

在绝缘体11的外周面14固定有主体配件19。主体配件19是由具有导电性的金属材料(例如低碳素钢等)形成的大致圆筒状的部件。主体配件19具备：本体部20，包围绝缘体11的前端侧的外周；及座部22，与本体部20的后端侧连接，并且以凸缘状向本体部20的径向外侧伸出。在本体部20的外周面形成有外螺纹21。将外螺纹21紧固连接于内燃机(气缸头)的螺纹孔(未图示)来固定主体配件19。外螺纹21的标称直径设定为12mm以下。

主体配件19的一部分隔着密封件27而与绝缘体11的轴线O方向的前端侧抵接，从而固定绝缘体11。密封件27是由比构成主体配件19的金属材料更软质的软钢板等金属材料形成的圆环状的板材。

接地电极23是与主体配件19的前端接合的金属制成(例如镍基合金制成)的部件。在本实施方式中，接地电极23形成为棒状，前端侧弯曲并与中心电极15相对。在接地电极23与中心电极15之间形成火花间隙。

电阻24抑制放电电流中的成为电波噪音的原因的频带成分的产生。作为电阻24，使用将骨材和导电性粉末混合而成的电阻。作为电阻24的骨材，例如列举玻璃粉末、无机化合物粉末。作为骨材的玻璃粉末，例如列举B₂O₃-SiO₂类、BaO-B₂O₃类、SiO₂-B₂O₃-CaO-BaO类、SiO₂-ZnO-B₂O₃类、SiO₂-B₂O₃-Li₂O类及SiO₂-B₂O₃-Li₂O-BaO类等的粉末。作为骨材的无机化合物粉末，例如列举氧化铝、氮化硅、莫来石(Mullite)及滑石(Steatite)等的粉末。上述的骨材可以仅使用一种，也可以并用两种以上。

作为电阻24的导电性粉末，例如列举由半导性氧化物、金属及非金属导电性材料等形成的粉末。作为半导性氧化物，例如列举SnO₂。作为金属，例如列举Zn、Sb、Sn、Ag及Ni等。作为非金属导电性材料，例如列举无定形碳(碳黑)、石墨、碳化硅、碳化钛、氮化钛、碳化钨及碳化锆等。上述的导电性粉末可以仅使用一种，也可以并用两种以上。

导电体25是用于将中心电极15的头部17封固固定于绝缘体11的内周面12的具有导电性的部件。连接部26是用于将电阻24和端子配件18电连接的部件。导电体25及连接部26使用对玻璃粉末及导电性粉末的混合物进行烧制而成的部件。玻璃粉末及导电性粉末使用与电阻24的材料的玻璃粉末及导电性粉末同样的粉末。根据需要，导电体25及连接部26可以含有TiO₂等半导性的无机化合物粉末、绝缘性粉末等。电阻24通过导电体25及连接部26而与中心电极15及端子配件18电连接。

火花塞10例如通过下面的方法制造。首先，在绝缘体11的轴孔中插入中心电极15，使中心电极15的头部17与后端朝向面13卡定。接着，将导电体25的原料粉末加入到轴孔，并填充于头部17的周围。使用压缩用棒材(未图示)对填充于头部17的周围的原料粉末进行预压缩。接着，将电阻24的原料粉末加入到轴孔，并填充至导电体25的原料粉末的后端侧。使用压缩用棒材(未图示)对填充于轴孔的原料粉末进行预压缩。接着，将连接部26的原料粉末加入到轴孔，并填充至电阻24的原料粉末的后端侧。使用压缩用棒材(未图示)对填充至轴孔的原料粉末进行预压缩。

接着，将绝缘体11移送至炉内，例如加热到比原料粉末中含有的玻璃成分的软化温度高的温度。在使原料粉末软化后，通过插入到绝缘体11的轴孔的端子配件18，在轴线O方向上压缩已软化的原料粉末。结果是，原料粉末被压缩烧结，在轴孔内形成导电体25、电阻24及连接部26。

接着，将绝缘体11插入到预先接合有接地电极23的主体配件19，来将主体配件19组装于绝缘体11。以使接地电极23的前端部与中心电极15相对的方式对接地电极23进行弯曲加工，从而获得火花塞10。

绝缘体11含有Al、Si、Ba及稀土类元素等。绝缘体11含有94～97wt％的Al₂O₃(氧化铝)。由此，能够确保烧结性，并且获得良好的机械强度及耐电压性能。例如通过ICP(电感耦合等离子体)发光光谱分析、ICP质量分析等对绝缘体11含有的元素进行定量分析。通过X射线衍射法，对绝缘体11进行成分分析。

Si成分、Ba成分是烧结助剂衍生的成分，通常在绝缘体11的烧结时熔融而形成液相，作为促进绝缘体11的致密化的烧结助剂发挥功能。绝缘体11能够含有Ba以外的Mg、Ca等碱土类金属。Mg成分及Ca成分与Ba成分同样地作为烧结助剂发挥功能。

稀土类成分是烧结助剂衍生的成分，含有Sc(钪)、Y(钇)、La(镧)、Ce(铈)、Pr(镨)、Nd(钕)、Pm(钷)、Sm(钐)、Eu(铕)、Gd(钆)、Tb(铽)、Dy(镝)、Ho(钬)、Er(铒)、Tm(铥)、Yb(镱)及Lu(镥)。稀土类成分在烧结时抑制氧化铝的异常晶粒生长，确保绝缘体的机械强度。由于含有Y、La、Pr、Nd及Yb的成分容易处理，因此优选稀土类成分。在不破坏本发明的目的的范围内，绝缘体11可以含有不可避免的杂质等其他元素。作为其他元素，列举Na、S、N、B、Ti、Cr、Mn、Fe、Co、Ni等。

通过对成形体进行烧制而获得绝缘体11。成形体是在对混合绝缘体11的原料粉末、粘接剂、溶媒等而获得的浆进行喷雾干燥来获得球状的造粒物之后通过例如橡胶冲压或模具冲压等各种方法对该造粒物进行成形而获得的。获得的成形体通过在外表面通过树脂胶合砂轮等进行研磨而形状被修整后，被烧制而成。

图2是示出绝缘体11与电阻24的边界线28的火花塞10的剖视图。通过在绝缘体11的轴孔填充电阻24的原料粉末之后对绝缘体11进行加热，电阻24的原料粉末被软化而形成电阻24。因此，在绝缘体11的内周面12中的电阻24接触的部分，仿形于电阻24而形成绝缘体11与电阻24的边界线28。因此，边界线28的粗糙度依赖于绝缘体11的内周面12的表面粗糙度。边界线28是在用包含轴线O(参照图1)的平面(图1纸面)剖切绝缘体11及电阻24时在该切口显现的线，是绝缘体11与电阻24的边界面的一部分。

绝缘体11的内周面12的表面粗糙度能够通过设定绝缘体11的原料粉末的粒度分布、形成绝缘体11的成形体的轴孔的芯件、冲头等的表面粗糙度等来控制。通过减小绝缘体11的原料粉末的粒径，对芯件、冲头等的表面进行镜面加工，能够减小绝缘体11的内周面12的表面粗糙度。

图3是绝缘体11与电阻24的边界线28中的轴线O方向的任意范围内的局部边界线30(边界线28的一部分)。下面，说明局部边界线30的分析方法。基于通过SEM(扫描式电子显微镜)等显微镜(Microscope)等获得的图像，例如使用图像分析软件WinROOF2013(三谷商事制造)进行局部边界线30的分析。为了分析局部边界线30而使用的基准长度L(局部边界线30的轴线O方向(图3的上下方向)的长度)设为50μm。

首先，为了将局部边界线30设为数字形式的数据，在轴线O方向上以预定的间隔在局部边界线30上绘制多个点31。在本实施方式中，点31的轴线O方向的间隔设为0.7μm。接着，使用多个点31，通过最小二乘法求出回归直线32。然后，测定全部的回归直线32与局部边界线30(多个点31)各自的距离P(垂直于回归直线32的方向的距离)，求出全部的测定值的平均值。火花塞10的平均值设定为0.1～0.3μm。

此外，求出回归直线32与局部边界线30的距离P的局部边界线30上的点31可以是与求出回归直线32的点31相同的点，也可以是与求出回归直线32的点31不同的点。这是因为，由于全部的点31位于局部边界线30上，因此使用与求出回归直线32的点31相同的点测定出的距离P的平均值和使用与求出回归直线32的点31不同的点测定出的距离P的平均值为大致相同的值。

在此，火花塞10通过点火时的放电电流在电阻24中流动来抑制电波噪音。根据集肤效应，与电阻24的中央附近相比，边界面(边界线28)附近的放电电流的电流密度变高。若由于焦耳热使边界面附近的电阻24的发热量过大，则电阻24易于从边界面附近开始劣化。

绝缘体11和电阻24在边界面(边界线28)上交织在一起，当边界面的粗糙度变大时，出现电阻24的边界面附近的电阻值变大的趋势，因此边界面附近的发热量增加，电阻24的寿命容易变短。另一方面，若边界面的粗糙度变小，则电阻24的边界面附近的电阻值变小，出现由边界面的凹凸带来的锚定效果变差的趋势，易于发生边界面破坏。

相对于此，由于火花塞10的局部边界线30上的各点31与回归直线32的距离P的平均值设定为0.1～0.3μm，因此不会因边界面(边界线28)的粗糙度而使边界面附近的电阻24的电阻值过大。由此，抑制边界面附近的电阻24的发热，能够抑制电阻24的劣化。而且，能够发挥因边界面的凹凸带来的锚定效果，难以发生边界面破坏。由此，能够提高电阻24的耐久性。

当绝缘体11的相对密度为94～98％时，防止边界面(边界线28)的粗糙度过大，并且电阻24侵入到绝缘体11的内周面12而易于发挥边界面的锚定效果，因此更难以发生边界面破坏。相对密度是通过实验(阿基米德法)求出的密度除以理论密度得到的值。就理论密度而言，通过ICP发光光谱分析及ICP质量分析，对绝缘体11中的除Al以外含有0.1wt％以上的元素进行定量分析，将其他作为氧化铝进行计算。

绝缘体11的直径10μm以上的气孔的比例(下面称为“气孔率”)为0.5％以下。基于通过SEM等显微镜(Microscope)等获得的图像，例如使用图像分析软件WinROOF2013(三谷商事制造)，进行气孔率的计算。气孔率是在视场内显现的被绝缘体11包围的直径10μm以上的气孔的面积之和除以绝缘体11的面积及气孔的面积之和(即视场的面积)得到的值。气孔的直径是具有与该视场内显现的气孔的截面相等的面积的圆的直径(相当于圆的直径)。

通过将直径10μm以上的气孔的气孔率设为0.5％以下，能够使绝缘体11的开气孔难以存在于电阻24的边界面。其结果是，能够使电阻24(主要为玻璃成分)难以侵入到存在于绝缘体11的边界面的开气孔，因此能够避免边界面附近的电阻24的电阻值过大。因此，能够提高对因发热引起的电阻24的劣化的抑制效果。

由于绝缘体11含有94wt％以上的氧化铝，因此与氧化铝的含有率低的绝缘体相比，能够容易地抑制电阻24的边界面的粗糙度。其结果是，能够容易地抑制边界面附近的电阻24的发热量，因此能够进一步抑制因发热引起的电阻24的劣化。

配置于绝缘体11的外周面14的主体配件19的外螺纹21的标称直径为12mm以下。因此，能够根据主体配件19而使主体配件19保持的绝缘体11变细。当根据绝缘体11的粗细而内置于绝缘体11的电阻24变细时，与电阻24粗的情况相比，电阻24的边界面(电阻24的外周面)的面积与体积之比变大。其结果是，随着电阻24变细，边界面附近的发热对于电阻24的体积的影响变大，因此易于发生因发热引起的电阻24的劣化。相对于此，火花塞10能够抑制边界面附近的电阻24的发热，因此在主体配件19的外螺纹21的标称直径为12mm以下时，能够使抑制因发热引起的电阻24的劣化的效果尤其大。

实施例

通过实施例更详细地说明本发明，但是本发明并不限定于该实施例。

如表1所示，试验者基于在实施方式中说明的火花塞10，制作了局部边界线30上的各点31与回归直线32的距离P的平均值、绝缘体11的相对密度、被绝缘体11包入的直径10μm以上的气孔率、绝缘体11的氧化铝含有率及主体配件19的外螺纹21的标称直径为各种值的样本1～15。为了调查上述的要素产生的影响，样本1～15中除了上述的要素以外的要素为恒定。

【表1】

此外，样本1～15的主体配件19的厚度相同，主体配件19的外螺纹21的标称直径小的样本14、15的绝缘体11的粗细比样本1～13的绝缘体11的粗细细。另外，样本1～15中，通过使通过冲压成形制作绝缘体11的成形体时的冲头的表面粗糙度不同，而使局部边界线30上的各点31与回归直线32的距离P的平均值不同。

就基准长度50μm的局部边界线30而言，该平均值是以0.7μm的间隔绘制的局部边界线30上的多个点31与回归直线32的距离P的平均(单位为μm)。在本实施例中，求出回归直线32与局部边界线30的距离P的局部边界线30上的点31与求出回归直线32的局部边界线30上的点31为相同的点。但是，求出距离P的点31可以是与求出回归直线32的点31不同的点。平均值的小数第3位四舍五入。

针对各样本，在端子配件18与中心电极15之间施加5V的直流电压测定电阻值，使用预先测定出的电阻温度特性，将此时的测定值修正为20℃时的电阻值。接着，将各样本置于350℃的环境下进行如下的试验：将放电电压设定为25kV，在中心电极15与接地电极23之间以1分钟3600次的速度产生预定时间的火花。在试验后，放置1小时，与试验前同样地测定电阻值，将此时的测定值修正为20℃时的电阻值。测定试验后的电阻值为试验前的电阻值的1.5倍以上的时间(下面称为“寿命时间”)。

针对各样本各进行10次试验，按照下面的基准对10次试验的寿命时间的平均值分数化并进行评价。

1分：寿命时间小于150小时

2分：寿命时间为150小时以上且小于200小时

3～9分：寿命时间为200小时以上且小于550小时(寿命时间为200小时以上且小于250小时为3分，每50小时加1分)

10分：寿命时间为550小时以上

分数高的表示寿命时间长且耐久性优异。

在该试验后，用与轴线O正交且通过密封件27的前端的面剖切各样本，使绝缘体11的剖切面露出。将剖切面露出的绝缘体11埋入到热塑性树脂，对剖切面进行镜面抛光。利用扫描型电子显微镜(SEM)观察镜面抛光后的抛光面，使用图像分析软件，求出直径10μm以上的气孔的比例(气孔率)。

如表1所示，距离的平均值小于0.10μm的样本1、平均值超过0.30μm的样本2的评价都为1分。推断样本1边界面破坏，样本2因边界面附近的电阻的发热而使电阻极早劣化。

绝缘体的相对密度小于94.0％且直径10μm以上的气孔率超过0.50％的样本3的评价为4分，绝缘体的相对密度超过98.0％的样本4的评价为5分。推断样本3、4的电阻因边界面附近的电阻发热而比样本6～15早劣化。

绝缘体的氧化铝的含有率小于94.0％的样本5的评价为5分。推断样本5的电阻因边界面附近的电阻的发热而比样本6～15早劣化。

可知样本6～15能够确保450小时以上的寿命时间。样本6～15的主体配件的外螺纹的标称直径是6～12mm。根据该实施例可知：通过将局部边界线30上的各点31与回归直线32的距离P的平均值设为0.10～0.30μm，显著地延长电阻的寿命时间。

以上，基于实施方式说明了本发明，但本发明不受上述实施方式的任何限定，能够容易地推断能够在不脱离本发明宗旨的范围内进行各种改进变形。例如，当然能够代替冲压成形而通过注塑成形获得绝缘体11的成形体。在通过注塑成形获得成形体的情况下，能够省略成形后的研磨、抛光的整形工序。

在实施方式中，说明了绝缘体11含有Si、Ba及稀土类元素且含有94～97wt％的Al₂O₃的情况，但并不是必须限定于此。当然能够按照火花塞10的规格，采用不含有Si、Ba及稀土类元素中的任意一种以上的绝缘体11，或者采用含有比97wt％多的Al₂O₃的绝缘体11。

在实施方式中，说明了通过由导电性玻璃形成的连接部26将电阻24与端子配件18连接的情况，但是并不是必须限定于此。例如，当然能够代替导电性玻璃，在电阻24与端子配件18之间具备具有导电性的弹簧等弹性体(连接部)，将电阻24与端子配件18电连接。

在实施方式中，说明了使与主体配件19接合的接地电极23弯曲的情况。但是，并不是必须限定于此。当然可以使用直线状的接地电极23来代替使用弯曲的接地电极23。在该情况下，使主体配件19的前端侧在轴线O方向上延伸，将直线状的接地电极23与主体配件19接合，使接地电极23的前端部与中心电极15相对。

在实施方式中，说明了将接地电极23配置为使接地电极23的前端部和中心电极15在轴线O上相对的情况。但是，并不是必须限定于此，能够适当地设定接地电极23与中心电极15的位置关系。作为接地电极23与中心电极15的另外的位置关系，例如能够列举以使中心电极15的侧面与接地电极23的前端部相对的方式配置接地电极23等。

在实施方式中，说明了在主体配件19上接合有一根接地电极23的情况，但是并不是必须限定于此，当然能够将多根接地电极23与主体配件19接合。

Claims

1.一种火花塞，具备：

绝缘体，具有从前端侧向后端侧沿着轴线延伸的轴孔；

中心电极，配置于所述轴孔的前端侧；

端子配件，配置于所述轴孔的后端侧；及

电阻，配置于所述轴孔内的所述端子配件与所述中心电极之间，与所述端子配件及所述中心电极电连接，

所述电阻与所述绝缘体的内周面接触，

在该火花塞的沿着所述轴线以包含所述轴线的方式剖切而成的截面中，在所述绝缘体与所述电阻的边界线中的、所述轴线的方向的任意范围内的局部边界线上沿着轴线方向以预定的间隔绘制多个点、且通过最小二乘法使用所述多个点画出回归直线时，与所述回归直线垂直的方向上的所述回归直线与所述局部边界线上的点的距离的平均值为0.1～0.3μm。

2.根据权利要求1所述的火花塞，其中，

所述绝缘体的相对密度为94～98％，所述绝缘体的直径10μm以上的气孔的比例为0.5％以下。

3.根据权利要求1或2所述的火花塞，其中，

所述绝缘体含有94wt％以上的氧化铝。

4.根据权利要求3所述的火花塞，其中，

所述火花塞具备筒状的主体配件，所述筒状的主体配件配置于所述绝缘体的外周面、并且在该主体配件自身的外周面形成有外螺纹，

所述外螺纹的标称直径为12mm以下。

5.根据权利要求1或2所述的火花塞，其中，

所述外螺纹的标称直径为12mm以下。