CN109496274A - 用于检查电子连接部的测试系统 - Google Patents

Abstract

提出了一种用于检查在所要查验的电路板的电子的结构组件与该电路板之间的电连接部、尤其是钎焊连接部的测试系统，其特征在于测试系统具有用于对电路板的和/或电子的组件的电连接部进行温度测量和/或获知热特性值的温度测量装置。

Description

用于检查电子连接部的测试系统

技术领域

本发明涉及一种根据权利要求1的前序部分所述的测试系统。

背景技术

EP 0 633 478 A2公开了一种用于检查电子的结构组件与所要检查的电路板的电子连接部的测试系统。

这种测试系统被渐渐发展。因此，电极能通过铰接部和/或机械臂被引近到电路板上，并且例如通过电阻测量来获知钎焊连接部是否被正确地定位以及是否能经由该钎焊连接部实现电路板的电子的结构组件的电接触。

对电接触的测试通过电阻测量来进行。由于错误定位、由于错误的装备或其它原因，可能会在电路板的表面上出现过度的发热。

在用电阻测量的现有的测试系统中没有设置对该发热的检查。

发明内容

基于迄今的现有技术，现在本发明的任务是，说明一种紧凑的结构形式的按类属的测试系统，以便拓展另外的功能。

本发明通过具有权利要求1的特征的测试系统来解决该任务。

根据本发明的用于检查在电子的结构组件与所要检查的或所要查验的电路板之间的电子连接部、尤其是钎焊连接部的测试系统可以有利地通过电阻测量来进行。附加地，测试系统具有用于对电连接部进行温度测量和/或用于获知电路板的或在电路板上的构件的电连接部的、即例如钎焊连接部的热特性值的温度测量装置。通过该温度测量可以在一个检验进程内以时间高效的方式并以节省空间的设计方案来对构件与电路板的电接合部进行冗余检查以及进行对构件的检查。

因此，测试系统可以同时执行多种检查，这既节省了结构空间又节省了时间。此外还可以在所要查验的电路板上一次性地识别和消除多个故障。

本发明的有利的设计方案是从属权利要求的主题。

温度测量装置有利地以能朝至少两个空间方向、优选朝三个空间方向运动的方式布置在测试系统的壳体内。由此，可以由温度测量装置对所要查验的电路板进行局部分析，这实现了更为精确的获知。

为了使所要查验的电路板和测试系统受损风险很小的同时时间高效地进行测量，有利的是，通过温度测量装置实现无接触的温度测量。

特别优选地，温度测量可以通过热敏成像系统、尤其是通过红外相机实现。

测试系统此外还具有带至少三个导电的触针的通信接口，触针通过和在电路板上的具有多个尤其是金属的接触位置或接触区域的接触装置的接触来实现与所要查验的电路板的数据存储器的数据交换，其中，数据交换根据通信协议进行。

经由触针中的至少两个可以有利地实现到所要查验的电路板的差别化的数据输送并且经由至少两个另外的触针可以实现到电路板的差别化的数据反馈。

通信接口和温度测量装置可以牢固地与测试模块、例如测试模块的电路板连接，其中，测试模块以能朝至少两个空间方向运动的方式布置在测试系统的壳体中。附加地，温度测量装置可以有利地以能沿至少一个空间方向相对测试模块运动的方式布置，从而使温度测量装置例如为了特别精确的测量而可以从测试模块朝着所要查验的电路板移动。

测试系统可以有利地具有数据存储器，在该数据存储器上保存有关于电路板的各个构件和/或部分区域的至少一个允许的热尺度的数据集，以用于和电路板的构件的所获知的温度值和/或热值相比较。

有利的是，查验薄板具有传感器设备，尤其是相机或条形码扫描仪，以用于识别所要查验的电路板的识别特征，尤其是条形码或序列号或QR码，其中，测试系统结合识别特征来调用关于针对这些电路板类型的所允许的温度分布的数据集。

此外，测试系统可以具有必要时也带有调节表征的电流源和/或电压源，以用于给温度测量装置供能，其中，电流源和/或电压源牢固地与温度测量装置连接，并且以能朝至少两个空间方向运动的方式布置在测试系统的壳体内。

测试系统，尤其是查验薄板，可以具有至少一个工具构件，以用于维修在电路板处或其上的电连接部，其中，工具构件结合借助温度测量装置获知的测量值加以控制。因此可以直接当场消除识别到的故障。

测试模块可以具有带传输器的转换器模块，用该转换器模块实现了与在所要查验的电路板上的通信模块的流电的分离以及确保了在以太网连接的意义下的匹配，尤其与是否与通信模块存在另外的到以太网插口的电连接还是没有都无关。

附图说明

接下来结合多个实施例并借助附图地详细阐释本发明。其中：

图1示出关于根据本发明的用于查验电子的电路板的受轴线控制的测试系统的示意图；

图2示出作为根据本发明的测试系统的一部分的测试模块的示意图；

图3示出用于制造电路板的生产线的示意图，其具有被整合在该生产线中的根据本发明的测试系统；

图4示出作为根据本发明的测试系统的一部分的通信接口的第一种变型方案的示意图；

图5示出作为根据本发明的测试系统的一部分的通信接口的第二种变型方案的示意图；

图6a示出用于和测试系统的通信接口进行数据交换的电路板的接触装置的示意图；

图6b示出用于移出和移入通信接口的触针的保持设备的示意图；

图7示出在电路板上的用于和测试系统的通信接口进行数据交换的第二种接触装置的示意图；

图8示出根据图5的根据本发明的测试系统的通信接口的第二种变型方案的示意性的底视图；

图9示出根据本发明的测试系统的测试模块的多个构件与通信接口的布置的接线图；

图10示出LDO电压源与测试模块的线路图的示意图；

图11示出用于以太网通信的转换器模块的示意图；

图12示出旋转的通信接口的示意图；

图13示出具有不同的通信协议的实现方案的示意图。

具体实施方式

用于查验电子的电路板的测试系统本身公知。测试系统用于查验布置在电路板上并且与该电路板钎焊的各个电子构件的功能性。相应的测试系统还用于查验电子构件或电子部件彼此间以及与电路板的导体迹线的电连接部。

图1示出了根据本发明的用于测试电子的电路板的测试系统1，其中，各自的所要检查的电路板6在该电路板6的上侧6a上具有多个被整合的电路8。

在所要查验的电路板上方，由测试系统1引近至少一个销状的探针2、优选多个销状的探针2。这些探针可以优选构造为电极。可以例如通过机械臂3引近一个探针或多个探针，机械臂在所要查验的电路板6上方例如通过能移动的伸缩臂或者通过受x、y和z向线性马达驱动的铰接臂以能自由地在x、y和z平面内运动的方式引导向电路板的触点7或引导离开。在这些触点7上可以获知电阻值。

机械臂3可以例如被构造成线性引导的滑架，该滑架具有一个或多个铰接部，从而使销状的探针2能从上方或从多个轴线被引近到电路板上。

在所要查验的电路板6下方布置着测试模块4，该测试模块是测试系统1的一部分并且能朝向电路板6的下侧6b移动。测试模块4因此类似能移动地能沿x、y和z方向相对电路板6运动地布置。这方面例如在x和y方向上能够通过线性引导部、例如通过线性引导的滑轨或所谓的线性台来实现。这方面尤其可以通过辊式、链式或牵引索式引导部来实现。然后，该x和y线性引导部能通过机械臂或另外的线性引导部来沿z方向，也就是垂直于电路板6的薄板平面来运动。

对此替选地，电路板6也可以以能相对测试模块4和/或销状的探针2运动的方式布置。在这种情况下，测试系统1具有支架，该支架至少能沿x以及y方向运动地、必要时例如能通过高度可调的线性台也能沿z方向运动地被支承。

测试模块4因此可以从下方被引近电路板6。不同于从上方引近的查验电子构件与电路板6的电连接部的各个探针地，测试模块承担对功能测试的检查，例如检查电路板6的通信模块9的数据传输。

测试模块4具有通信接口5，通信接口用于和所要查验的电路板6的通信模块9通信。借助通信接口5可以通过测试系统1实现对布置在所要查验的电路板6上的数据存储器10进行编程。测试系统可以以这种方式将数据保存到该数据存储器上，例如序列号、IP/Mac地址以及在车间被预设的校准单值和/或数据集。通信接口5的两个优选的变型方案在图4和图5中示出。

通信接口5在图4中优选具有壳体区段21和多个触针22，触针以阵列结构23的形式从壳体区段21的端面24突出。阵列结构23的触针22呈总共有九个触针的矩形的布局方式来布置。壳体区段21被安置在可以是测试模块4或者是与测试模块4脱离的经由数据线路以及供能线路以及优选也经由固定的机械的连接部与测试模块4连接的薄板上。

在本发明的优选的变型方案中，由于对通信接口的供能和数据传导直接通过测试模块4和布置在该测试模块上的或与该测试模块连接的构件来实现，从而避免了长的数据传输路程并且可以提高数据传送时的信号质量以及提高传输速度。

阵列结构23用于接触在所要查验的电路板上的通信模块9。在此，电路板9具有金属的接触区域11。接触区域11是点状的或呈矩形的部段，这些部段彼此相间隔并且具有和阵列结构23的触针22一样的布局方式。

触针22被弹簧支承在壳体区段中，从而使触针在与电路板6的接触区域11接触时部分地被移入到壳体区段21中。由于触针22的可伸缩性或者说可移入壳体区段或从中壳体区段移出的特性，使得可以防止触针22变弯以及防止电路板6的接触区域11受损。触针22可以经由至少一个固定元件来保持在移入定位中，在该移入定位中，与被弹簧支承的触针22协同作用的弹簧被压缩并且因此处于张紧状态。因此能够改变阵列结构，即改变完全移出的触针的数量，并且因此与电路板的接触区域11的数量相匹配。倘若提供比对应的接触区域11更多的触针22，那么刚性突出的、即非弹动地支承的触针就靠置在电路板的未受保护的表面上，由此会造成触针22受损以及导致电路板的刮破。这方面通过能使各个触针22被可固定地能移入壳体区段21或从壳体区段21移出的特性来有利地防止。

图2示意性地示出了与通信接口5相结合的前述的测试模块4。该测试模块4优选用于使测试系统1例如结合计算机地与所要查验的电路板6通信。但附加地也可能有用的是，经由通信模块5从所要查验的电路板截取测量数据并进一步传递给测试系统的测量电极。这经由在测试模块4上的转换触头发生。

这些转换触头能够实现将测试模块4用于通信、用于进一步传递测量数据或者混合式运行。

经由尤其也具有转换触头的转换器模块45，还可以经由通信模块5将附加的数据源直接与所要查验的电路板6连接起来。优选来自测试系统1的控制信号，例如控制在转换器模块45上的继动器的转换。

图5的通信接口5优选同样具有壳体区段31和多个呈阵列结构33的触针32。在中央布置着榫头34，其被弹簧支承并且在与电路板接触时以预定的距离下沉到壳体区段31中。由此防止了在阵列结构33安置在电路板6上时电路板6受损或触针受损。

阵列结构23或33在本发明的范畴内被称为由于多个触针22或32构成的结构，这些触针以彼此间固定不变的且限定的间距被安置在电路板6上并且在触点处进行数据交换。

在此，在最为简单的情况下，使用三个触针。以此已经能够根据所谓的SPI总线系统(串行外设接口(Serial Peripheral Interface))实现数据传输。在此，需要第一触针22或32来引导数据、第二触针22或32来反馈数据以及第三触针22或32用于参考电位。

通过补充另外的触针可以补充另外的功能。因此，可以截取另外的参考电位。也可以实现流电的分离。可以用一个或多个电压对电路板供应电压。此外可以例如通过借助触针22或32传输控制指令来执行一种或多种模拟。此外，可以通过触针22或32进行对电路板6的构件的测量值查验，作为对所传达的控制指令的回答。另外的触针22或32可以作为征兆线路用于查验电路板6的构件的运行准备情况。

通过通信接口5可以通过与电路板6的接触区域11的接触在用于以太网连接的通信模块之前查验电路板的以太网连接。

每个阵列结构23或33的触针22或32的数量尤为优选是九或十。

通信接口的前述的变型方案具有特别的优点，即，通信接口可以被测试模块4直接定位以及从该测试模块4起具有到通信接口5的短的信号和能量供应线路。由此防止了由于长的传输路程造成的数据损失以及也通过通信接口5实现了精确的信号生成和信号接收。

接触区域11是通信接口5的阵列结构22或32的对接件。接触区域11可以具有不同的形状，例如圆形或四边形。它们是闭合的金属的表面。多个接触区域11，例如九个接触区域11，形成了接触装置12。接触装置12的接触区域以图案的形式彼此相间隔。接触区域11的这些间距相对每一个相邻的接触区域优选始终相同地布置。接触区域没有可能破坏数据连接的其它构件和/或阻焊漆或其它涂层。

电路板9的接触装置12的接触区域11优选呈圆形图案地、优选布置在至少两个或更多个的环形轨迹上或者同样优选呈矩形图案地、优选呈正方形地布置在电路板6上。

相应的图案在图6a、6b和7中示出。

在图6b中详细示出了触针的保持设备36。由此能够将触针从通信接口的壳体移出并移入。在图6b中示出的保持设备在此仅是用于将触针保持在壳体内的移入定位中的多种变型方案中的一种。触针32在此包括呈盘形的造型部36a。其以能运动的方式被支承在通道36d中。弹簧36b挤压造型部36a，造型部的运动受到伸入通道中的止挡36e的限制。为了保持在移入定位中，设有电磁铁36c，该电磁铁在电磁铁激活时吸住触针的盘。倘若电磁铁36c未被激活，那么触针仅被弹簧支承。从触针出来线缆36f，其用于信号传输和/或能量传输。保持设备不受图6a限制，而是也可以用于前述的通信接口的所有其他的变型方案。

接触区域11优选被镀金或镀锌，以便更好地在之间进行数据传导。

相应的接触装置12在通信路径上优选布置在电路板6的通信模块9附近，从而使电路板的各个构件的通信和数据例如录制(Aufspielen)到电路板的数据存储器上可以在绕开通信模块9，也就是例如是太网插口的情况下进行。

具有构造成以太网接口的通信模块的所要查验的电路板6，在查验时可以以非根据本发明的方式通过任意的测试系统经由标准以太网插口与该测试系统的通信接口接触。

但在本发明的范畴内建议的是，自动进行这种查验，其中，通过经由以太网标准插口的插塞连接被证实对该目的而言是费事的。这种以太网接口的自动查验迄今仍无法由创办的研发例如用于查验钎焊接触的自动化的测试系统的公司供应。

通信接口5可以优选具有一个或多个仿效电路板6的通信模块9的构件的构件。这些构件在图4和5中布置在壳体区段21或31中并且可以例如构造成也被称为变换器的转换器模块45。这种转换器模块可以优选是以太网磁力转换器。相应的转换器模块大多也被整合在以太网插头中，但以太网插头可以通过通信接口5与电路板6上的接触装置12的接触区域11的接触而被绕开。

因此，通信模块利用这些构件可以没有在转换之前和之后地由于长的数据线路而造成较大信号损失的情况下经由阵列结构23、33与电路板6连接并交换数据。

通过用测试模块4的通信接口5的构件对电路板的通信模块9的构件进行功能相同的仿效，可以确保与处理器单元、数据存储器和在所要查验的电路板6上的另外的构件的安全的通信，而并不取决于，电路板6的跨接的以太网插口是否不具有转换器模块、是否具有一个转换器模块或多个彼此串联或并联的转换器模块。

在通过测试系统例如结合在电路板上的条形码读取电路板上的以太网插口的类型之后，测试系统可以选出相应于该以太网插口的接线方案的相应的构件电路，从而尽管存在跨接，仍实现了在测试系统1与电路板6之间的一致的数据交换，就好像测试系统经由电路板6的以太网插口与该电路板连接似的。

因此可以例如在10至100Mbit/s的典型的数据传输率的情况下进行数据交换。

在图5和图8中布置着具有榫头34的阵列结构33的变型方案，在该变型方案中，榫头被构造成定心榫头，并且触针32彼此相间隔地沿着径向于该定心榫头延伸的线布置。

触针32可以移出并且例如结合固定机构在需要时移出。因此可以视电路板的构件类型而定地移入非所需的触针32。

可以结合处在电路板上的条形码来鉴定构件类型，条形码可以借助处在测试模块4上的相机13鉴定。然后可以视条形码的预设而定，相应地操作以及尤其是准备好通信接口5和所属的构件以及测试模块4的另外的构件。

通过可移入触针，使得在所要查验的电路板上需要很少的空间给接触区域11，因而可以节省电路板的材料以及达到在电路板上的最佳的构件布局。

通过定心榫头的定心可以尤其与接触区域11在电路板6上的布局协同作用，如在图8中所示那样。

此外在此有利的是，阵列结构，即销状的金属的触针22、32的结构，以能围绕由定心榫头限定的轴线转动的方式布置。因此，销状的触针可以更好地移向接触区域11并且与该接触区域接触，因此可以有利地减少接触区域11的数量。阵列结构的可转动性即使在如图4中那样的触针的呈矩形的阵列结构的情况下也是有利的。

此外，如在图12和图8中所示那样的阵列结构23、33的可旋转性是有利的，这是因为以这种方式可以使电路板6以不同的定向输送，即沿电路板的纵向或横向方向输送并且在测试系统1中加以查验，而不必使电路板通过旋转就位。更确切地说，可以通过旋转阵列结构23、33使阵列结构的定位针22、32按照电路板的定向来取向。电路板的从非最佳的方向旋转或输送到测试系统中因此并不影响测试和数据传输。

阵列结构例如通过阵列结构的能转动的支承部进行旋转，因此可以有利地在本发明的范畴内实现用于触针的呈矩形的阵列结构和触针的线性布局。

通过保存不同的数据集，使得测试模块4可以经由不同的通信协议如在图13中所示那样与所要查验的电路板6和处于该电路板上的通信模块9以及数据存储器10通信。因此可以视通信方式而定实现通信协议的个性化的输入以及必要时在通信方式之间更换。为此不会实现另外的系统，而是可以在对钎焊位置和电子构件进行表面查验期间进行数据传输。

由此可以通过测试系统视需求而定地将不同的通信协议应用到所要查验的电路板6上，并且/或者查验电路板6的这些通信协议的存在。这种通信协议例如是l2C、SPI、USB、以太网、Profilbus和/或UART。

驱动器的电平在此优选能经由保存在数据存储器上的或测试模块4的逻辑组件上的软件或直接经由检查系统1加以调整。因此测试模块4经由通信接口5不仅能用不同的通信协议通信，而且也能将通信信号的电压电平与所要查验的电路板6的水平进行匹配。

此外，在数据存储器上或测试模块4的逻辑组件上保存着自诊断程序，用该自诊断程序可以实现对测试模块4和通信接口5的诊断并且该自诊断程序可以由处理器或测试模块4的逻辑组件实施。

在本发明的范畴内，通信接口5被称为用于功能检查的第一构件，用该通信接口通过发送通信数据给电路板6以及接收，可以通过测试系统1查验电路板6的、尤其是配属于该电路板6的管理着数据存储器的处理器单元的正确的数据传输。优选可以在本发明的范畴内使用的另外的构件在接下来加以说明。

测试模块4在本发明的范畴内具有至少一个或多个第二构件，第二构件用作用于在电路板6和测试模块4之间间隔的以及必要时用于支撑电路板6以防止完全弯曲的承托元件18。

可以布置在测试模块4上的第三构件是用于在可见光谱内拍摄图像的相机13。该相机19可以履行不同的功能。

相机可以用于对所要查验的电路板6进行定位确定。

该相机替选或附加地也可以对所要查验的电路板6调查应当装备的构件的存在。

此外，相机13可以替选或附加地检测在电路板6上的条形码和序列号并且由数据存储器根据该条形码给电路板查询特定的数据集和控制程序并初始化。这也可以尤其包括用于调查电路板6或者是布置在该电路板上的构件的特殊的预设或应当借助通信接口转达给电路板6的数据存储器的数据的范围。

相机13此外可以查验钎焊位置的存在。

还可以附加地通过相机实施另外的功能、例如另外的诊断功能。

测试模块4的第四构件可以例如包括金属的销状的探针20，其例如用于通过电阻测量查验布置在底侧的钎焊触点，但该金属的销状的探针不同于从电路板6上方引近的探针2地、刚性地随着测试模块4或仅能沿一个方向运动、尤其是能移出地布置在测试模块4上。由此减小了该金属的探针20的机械上的花费。

替选地或除了通过前述的一个构件或前述的多个构件实现的机械的功能之外地，也可以仅通过通信接口5录制数据、例如录制通信协议。通过在例如通过探针2查验钎焊连接期间的同时将数据录制到所要查验的电路板6的数据存储器10上，使得在质量检验的同时有针对性地实现了时间节省。

数据的录制例如可以作为一种基础编程或基本编程进行。所要查验的电路板6可以尤其用在自动化技术的测量仪中。可以依赖于各自的测量仪、测量仪的应用领域和在制造测量仪时的生产线来将数据传输给数据存储器10。数据传输可以专门由电路板的装备来进行，从而可以将用于控制、查验和/或鉴定电路板6的各个构件或结构组件的数据从测试模块4的数据存储器经由通信接口5和通信模块9转录到电路板的数据存储器10上。

替选地或除了前述构件之外地，测试模块4也可以包括一个或多个工具构件50，例如用于构成钎料的钎焊元件51或钳52。同样可以设置另外的工具构件，例如螺丝刀和类似工具构件。通过对工具的驱控可以在用于通过上部的探针2探测到有故障的紧密的时间顺序内进行简单地维修所要查验的电路板6或移除装备辅助。

附加地，测试模块4也可以具有用于对工具构件或用于查验功能的构件供应电压的电流源和/或电压源。

测试系统1具有数据存储器35，该数据存储器上储存着相应的测试程序。该测试程序控制撑托元件18、触针22、探针20和/或必要时另外的工具50、51、52的使用和它们的定位。由此可以查验具有构件的不同的间距的不同的所要查验的电路板6以及供应数据。

除了在上侧通过探针2执行的钎焊位置测试外，在本发明的根据本发明的变型方案中通过测试模块4还对各个构件进行功能测试。

查验薄板4的前述构件可以单独地或特别优选共同地布置在测试模块4上。后一种是有利的，这是因为这样能保持固定的间距。

由于测试模块4在电路板6下方能沿x、y和z方向移动，使得在对电子的构件与电路板的线路的连接部进行质量检验的同时，也进行对所要查验的电路板的各自的构件的功能查验，这导致时间节省以及导致从空间上省去了附加的测试系统。

本发明的另一个方面是对测试系统4以及与之连接的构件，即通信接口5以及对所要查验的电路板6、还有另外的构件，例如诸如钳或钎焊元件的工具元件以及一个或多个相机进行电压供应和/或电流供应。在迄今公知的测试系统中，电压供应通过在测试系统外的、即在空间上远离试样或所要查验的电路板6的电流源和/或电压源来实现。

根据本发明的观点，电流源和/或电压源14是测试系统1的一部分并且尤其是测试模块4的组成部分。由此防止了由于长的线路17引起的电压降。电流源和/或电压源可以由控制单元15根据程序控制或者通过手动地输入由控制单元15控制。

测试系统1本身由壳体16限界。当测试模块4以及通信接口5和电流源和/或电压源14以能运动的方式布置在壳体中时，那么控制单元15优选刚性地布置在测试系统1的壳体16中或其上或者布置在该壳体16外。

在本发明的特别的实施变型方案中，触针22、32经由电流供应线路直接与电流源和/或电压源14连接。电流源和/或电压源14可以从外部，即在测试系统1的壳体16外地被供以能量并且同样从外部用控制指令调整到电压送出值。

通过控制单元15可以调整输送给测试模块4以及通信接口5的电压或者输送给测试模块4以及尤其是通信接口5的电流强度，或者可以调整所输送的电流强度或所输送的电压。因此，触针22、32尤其可以用预定的电压和/或预定的电流强度的电流运行。

在本发明的范畴内，由较大的电压或较大的电流强度与所输送的电压或电流强度的大小无关地生成了离散的更小的电压值和/或电流强度值的构件，被称为电流源和/或电压源14。

为了查验到达触针22或32上的是哪个电压值，可以使电流源和/或电压源14优选通过回读线路、所谓的感测线路与触针连接。在当前的电流源和/或电压源14中，将输出电压或输出电压的一部分与参考电压进行比较并且被如下这样调节，即，使得即使在负载发生波动时，在所要查验的电路板6上的输出电压也保持恒定。不过这种状态大多在理想情况下存在。因此所要与参考电压比较的电压就在负载附近、也就是在是触针22或32的情况下在具有波动的电压降的供入线路后面地借助回读线路来获知。由此，在供入线路上的电压降被一起调节并且使得在负载上、即在通信接口5的触针上的电压即使在真实情况下也保持恒定。前述的线路可以通过与各自的探针的电压输入端的串联来产生，从而电流源和/或电压源14均衡了线路电阻的电压降。由电流源和/或电压源14产生的电压因此可以在用回读的值校准之后进行匹配。因此，电压降可以通过触针22、32与电流源和/或电压源14之间的线路路径加以均衡并且必要时也可以均衡电压波动。

总之，可以通过优选保存在测试模块4的数据存储器上的程序来控制通过电流源和/或电压源进行的电压供应。可编程的电压源的优选类型也作为LDO(低压差线性(Low-Drop-Out)稳压器)来公知并且可以在本发明的范畴内用作电流源和/或电压源14的优选的形式。

电流源和/或电压源14被如下这样设计，即，使得它可以极为迅速地、优选在几个纳秒的范围内对在所要查验的电路板上的负载变化作出反应并且进行均衡。当所要查验的电路板6是具有带有快速通信的快速微处理器和存储组件的构件时，该构件具有动态的负载变化时，这优选是需要的。

该功能优选由具有快速的调节特性和/或具有电容器的组件实现，这些电容器可以消除非常短的能量峰值。

在本发明的另外优选的变型方案中，电流强度值同样可以被读取并且受到利用所保存的数据集进行校准的限制。该数据集同样可以优选保存在测试模块4的数据存储器上和/或控制单元15上。

用于优选使用的电流源和/或电压源14的线路图在图10的线路图中示出。其中：

图9示出了通信模块4的主要的组成部分。核心形成通信单元25。通信单元表示不同的通信协议，并且/或者将来自测试系统的协议，例如USB转换成其他协议。接在通信芯片28之后的乘法器27(MUX)可以将各个通信信号切换到通信接口5的任意的触针2、32上。这在所要查验的电路板6上设计触点7或阵列结构23时又带来了灵活性。驱动器/传感器29可以接在乘法器27(MUX)后，驱动器/传感器可以匹配通信信号的信号电平。因此提高了通信单元25的灵活性，这是因为通信单元可以与不同的信号电平以及因此与所要查验的电路板6的不同的电压技术相匹配。此外，驱动器/传感器29也可以包含经由通信线路测量电流并且在有偏差的情况下例如触发错误通知或进行切断的传感器。对通信芯片28、乘法器27、驱动器/传感器29的以及接在下游的继动器矩阵24的控制，通过逻辑组件26示出，逻辑组件又与测试系统处于连接。逻辑组件26可以通过FPGA、微型计算机或具有逻辑功能的其它的芯片实现。附加的继动器矩阵24扩展了测试模块4的灵活性，在测试模块中，附加的继动器矩阵提供了如下可能性，即，将多个信号源、电压供应、通信接口和测量数据以及来自通信单元25的接口信号切换到通信接口5的每个任意的触针2、32上。这也适用于测试模块4的电流源和/或电压源14，但也适用于测试系统1的就像与测试模块4连接的供应单元。在此，也能设想混合的或组合的互连。继动器矩阵24同样可以由控制单元26驱控。

在图10中示出的LDO是所谓的低压差线性稳压器。通信模块是控制LDO以及连接至测试系统1的通信模块。LDO可以被设定在测试模块4上或通信接口5上。图10的图形示出了被设定在测试模块4上。

转换器模块45优选是测试模块4的组成部分并且可以经由通信接口5与所要查验的电路板6连接。所要查验的电路板包含有通信模块9，该通信模块优选支持以太网或Profinet通信，转换器模块45的变换器的磁力46、即传输器或转换器被以如下方式确定规格，即，实现了与通信模块9的流电的分离以及可以在以太网连接的意义下表示电的匹配。附加地，转换器模块45的磁力46被如下这样地计算，即，能实现具有100Mbit/s的以太网/Profinet通信，而这与是否用通信模块9经由电连接部48安装所谓的以太网插口无关。安装在所要查验的电路板6上的以太网插口47是否包含由构造方式引起的磁力还是不包含同样是微不足道的。

除了上述结构元件外，测试模块4也可以具有优选形式为红外相机130的热敏成像系统，或者具有温度传感器、优选无接触地测量的温度传感器。然而，温度传感器的变型方案基于温度测量的较小的检测范围而不那么优选。而红外相机能够实现对所要查验的电路板6的各个结构元件和它们与电路板6的连接部的温度测量。红外相机的温度测量可以通过测试模块4的自由的定位用红外相机30沿着所要查验的电路板6的表面在特定的优选的位置处进行。温度测量可以优选无接触地进行。替选地或除了通过红外相机进行温度测量之外，也可以为探针设有温度传感器，通过与电路板的接触执行温度测量。然而，该变型方案需要较高的设计结构上的和控制机械上的花费并伴随比红外相机更为耗时的测量。

图3示出了用于制造和查验根据本发明的电路板6的生产线1，该电路板优选可以用在自动化技术的测量仪中，例如测量接受器或测量转换器中。

生产线1具有用于提供电路板基体的工作站101，也被称为利用位(Nutzen)。电路板基体可以已经具有导体迹线。

生产线具有运输装置102，例如传送带，用该运输装置将电路板基体沿运输方向R进行站对站的进一步运输。

从在其内提供电路板基体的工作站101开始，将该电路板基体进一步运输给用于给电路板基体装备电子构件的工作站103，其中，这些构件中的至少一个是智能的构件，该智能的构件例如被构造成用于与电路板脱离的其它的电子装置通信的通信模块9。另外的智能的构件是中央的处理器单元，其是所要查验的电路板6的一部分并且管理数据存储器10的数据。在此，由电路板基体构成电路板6。装备可以例如借助之前安装在电路板基体上的装备掩模来进行。

紧接在用于装备的工作站103之后的是进行电路板6到钎焊炉104的运输。在钎焊炉中进行对电子构件与电路板基体的钎焊。

在通行过钎焊炉104后，通过测试系统105进行对已制好的电路板6的最终检验。在此通过测试系统105同时检验：

a)在构件与电路板之间的钎焊位置之间的电接触；以及

b)一个或多个智能的构件即例如通信模块9的功能查验。

前述功能查验优选包括对通信模块9的功能查验、对电路板6的数据存储器10的编程和/或编程的查验、对从通信模块出发到电路板6的中央的处理器单元的数据线路的检验。

对在数据存储器上的、处理器单元上和通信模块上的数据的复杂的查验不会通过从电路板的上侧导入的各个探针来进行。为此需要前述的通信接口5，其优选具有由多个触针22或32构成的各自的阵列结构23或33的前述的设计方案。

Claims (10)

1.用于检查在所要检查的电路板(6)的电子的构件与所述电路板(6)之间的电连接部、尤其是钎焊连接部的测试系统(1)，其特征在于，所述测试系统(1)具有用于对所述电路板的电连接部进行获知热特性值和/或用于温度测量的和/或用于对电子的构件进行获知热特性值和/或用于温度测量的温度测量装置(30)。

2.根据权利要求1所述的测试系统(1)，其特征在于，所述温度测量装置能沿至少两个空间方向运动地布置在所述测试系统(1)的壳体(1a)内。

3.根据权利要求1或2所述的测试系统(1)，其特征在于，通过所述温度测量装置进行无接触的温度测量。

4.根据前述权利要求中任一项所述的测试系统(1)，其特征在于，通过热敏成像系统、尤其是通过红外相机进行温度测量。

5.根据前述权利要求中任一项所述的测试系统(1)，其特征在于，所述测试系统(1)具有通信接口(5)，所述通信接口具有至少三个导电的触针(22、32)，所述触针能够通过与在所述电路板(6)上的具有多个接触位置(11)的接触装置(12)的接触实现与所要检查的电路板(6)的数据存储器的数据交换，其中，所述数据交换根据通信协议进行。

6.根据前述权利要求中任一项所述的测试系统(1)，其特征在于，所述通信接口(5)和所述温度测量装置固定地与测试模块(4)连接，所述测试模块能沿至少两个空间方向运动地布置在所述测试系统(1)的壳体(1b)中。

7.根据前述权利要求中任一项所述的测试系统(1)，其特征在于，所述测试系统(1)具有数据存储器(35)，在所述数据存储器上保存有关于电路板的单个构件和/或部分区域的至少一个允许的热尺度的数据集，以用于和所述印刷电路板的构件的所获知的温度值和/或热值相比较。

8.根据前述权利要求中任一项所述的测试系统(1)，其特征在于，所述测试模块(4)具有传感器设备，尤其是相机或条形码扫描仪，以用于识别所述电路板(6)的识别特征，尤其是识别条形码或序列号或QR码，其中，所述测试系统借助识别特征调用关于针对这种电路板类型的允许的温度分布的数据集。

9.根据前述权利要求中任一项所述的测试系统(1)，其特征在于，所述测试系统具有用于给所述温度测量装置供能的电流源和/或电压源(14)，其中，所述电流源和/或电压源(14)固定地与温度测量装置连接，并且以能沿至少两个空间方向运动的方式布置在所述测试系统(1)的壳体(1a)中。

10.根据前述权利要求中任一项所述的测试系统(1)，其特征在于，所述测试系统，尤其是测试模块(6)，具有至少一个工具构件，以用于维修在所述电路板处或其上的电连接部，其中，通过借助温度测量装置获知的测量值来控制所述工具构件。