DE102004063488A1 - Anlage zur automatischen Erkennung und Behebung von Lötfehlern an mit elektronischen Bauteilen bestückten Leiterplatten - Google Patents

Anlage zur automatischen Erkennung und Behebung von Lötfehlern an mit elektronischen Bauteilen bestückten Leiterplatten Download PDF

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Abstract

Die Erfindung betrifft eine Anlage zur automatischen Erkennung und Behebung von Lötfehlern an mit elektronischen Bauteilen bestückten Leiterplatten mit einer Einrichtung zum Transport der Leiterplatten durch die Anlage und mindestens einer Vorrichtung zur Ermittlung von Lötfehlern. Dabei werden in dieser Vorrichtung Ort und gegebenenfalls Art der Lötfehler ermittelt und einer Steuereinheit zugeführt. Ferner ist mindestens eine Vorrichtung zur Reparatur dieser Lötfehler vorgesehen, wobei die Leiterplatten und zumindest die Vorrichtung zur Reparatur der Lötfehler über die Steuereinheit derart relativ zueinander positionierbar sind, dass mit der Vorrichtung zur Reparatur der Lötfehler die von der Vorrichtung zur Ermittlung von Lötfehlern ermittelten defekten Lötstellen selektiv reparierbar sind.

Description

  • Die Erfindung betrifft eine Anlage zur automatischen Erkennung und Behebung von Lötfehlern an mit elektronischen Bauteilen bestückten Leiterplatten.
  • Bei der Bestückung und Belötung derartiger Leiterplatten, sogenannten Printed Circuit Boards (PCB), mit elektronischen Bauteilen, treten üblicherweise in nicht unerheblicher Größenordnung Lötfehler auf, die zum Versagen der gesamten Leiterplatte führen können. Derartige Lötfehler können beispielsweise unerwünschte Lötbrücken, nicht oder nicht ausreichend durchgeführte Lötungen, zu hoher Lotauftrag oder dergleichen mehr sein. Zur Ermittlung dieser Fehler ist es bekannt, elektrische Funktionsprüfungen, Röntgenuntersuchungen, Ultraschalluntersuchungen oder optische Untersuchungen durchzuführen. So ist es beispielsweise bekannt, mittels eines Kamerasystems und Bildvergleichs oder Reflexionsmessung Lötstellen an Leiterplatten im Produktionsprozess optisch zu überwachen und bei Feststellung eines Fehlers die Leiterplatte auszusondern. Die ausgesonderten Leiterplatten werden dann entweder verworfen oder manuell repariert. Dies ist aufwendig und damit kostenintensiv.
  • Ausgehend von diesem Stand der Technik ist es daher die Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine Anlage zur Erkennung und Behebung von Lötfehlern zu schaffen, die eine automatische Erkennung und Behebung von Lötfehlern, insbesondere unmittelbar im Herstellungsprozess, ermöglicht.
  • Diese Aufgabe wird durch eine Anlage nach der Lehre des Anspruchs 1 gelöst.
  • Vorteilhafte Ausgestaltungen der Erfindung sind Gegenstand der Unteransprüche.
  • Die erfindungsgemäße Anlage zur Erkennung und Behebung von Lötfehlern an mit elektronischen Bauteilen bestückten Leiterplatten weist zunächst einmal eine Einrichtung zum Transport der Leiterplatten durch die Anlage auf. Dies kann in bekannter Weise beispielsweise ein Transportband, ein Kettenförderer oder dergleichen sein. Weiter weist die Anlage mindestens eine Vorrichtung zur Ermittlung von Lötfehlern auf, wobei in dieser Vorrichtung Ort und gegebenenfalls Art der Lötfehler ermittelt werden. Die Informationen über Art und/oder Ort der Lötfehler werden einer Steuereinheit zugeführt. Ferner ist die erfindungsgemäße Anlage mit mindestens einer Vorrichtung zur Reparatur dieser Lötfehler versehen. Dazu werden die Leiterplatten und zumindest die Vorrichtung zur Reparatur der Lötfehler über die Steuereinheit derart relativ zueinander positioniert, dass mit der Vorrichtung zur Reparatur der Lötfehler die von der Vorrichtung zur Ermittlung von Lötfehlern ermittelten defekten Lötstellen selektiv reparierbar sind.
  • Dies bedeutet mit anderen Worten, dass die von der Vorrichtung zur Ermittlung von Lötfehlern erkannten Lötfehler, insbesondere der Ort der Lötfehler, über die Steuereinheit in Positionierbefehle für die Transporteinrichtung für die Leiterplatten und/oder die Vorrichtung zur Reparatur der Lötfehler umgesetzt werden, so dass die Vorrichtung zur Reparatur der Lötfehler selektiv an die als fehlerhaft erkannten Lötstellen, oder umgekehrt, die Leiterplatten mit den fehlerhaften Lötstellen an die Vorrichtung zur Reparatur der Lötfehler gebracht werden können, um dann genau diese Lötstellen beispielsweise nachzulöten. Durch diese In-Line-Inspektions- und Reparaturanlage, die in einfacher Weise in den normalen Produktionsablauf bei der industriellen Herstellung von bestückten Leiterplatten zu integrieren ist, kann automatisch, das heißt ohne notwendigen Benutzereingriff, die Reparatur defekter Lötstellen erfolgen, wodurch die Ausschussquote und die manuelle Nachbearbeitung auf ein Minimum reduziert werden kann.
  • Das physikalische Prinzip der Ermittlung der Lötfehler ist grundsätzlich beliebig und hängt im Wesentlichen von der Art der zu ermittelnden Lötfehler ab. Ebenso ist es grundsätzlich sowohl möglich, eine zu überprüfende Leiterplatte über ihre gesamte Fläche nach Art eines Screening- oder Scan-Verfahrens abzutasten oder aber nur bestimmte Flächenbereiche bzw. Lötstellen oder Lötstellengruppen, die sich als besonders fehlerhäufig erwiesen haben, zu überprüfen.
  • Nach einem besonders bevorzugten Ausführungsbeispiel der Erfindung weist die Vorrichtung zur Ermittlung von Lötfehlern einen optischen Aufnehmer auf. Dies kann beispielsweise eine Kamera sein, mit der Abbildungen der Lötstellen ermittelt und mit Referenzbildern verglichen werden oder Reflexionswerte der Lötstellen ermittelt werden.
  • Nach einem weiteren Ausführungsbeispiel weist die Vorrichtung zur Ermittlung von Lötfehlern einen akustischen Aufnehmer, insbesondere einen Ultraschallaufnehmer, auf, mit dem in für sich bekannter Weise nach Art eines Echolotes auch Lötfehler ermittelt werden können, die der optischen Wahrnehmung nicht zugänglich sind. In ähnlicher Weise kann die Vorrichtung zur Ermittlung von Lötfehlern beispielsweise nach Art eines Scanning Acoustic Microscope (SAM) aufgebaut sein.
  • Eine weitere Möglichkeit zur Ermittlung optisch bzw. visuell nicht erkennbarer Fehler besteht in der Verwendung einer Einrichtung zur Ermittlung der Lötfehler mittels Röntgenstrahlen.
  • Nach einem weiteren Ausführungsbeispiel weist die Vorrichtung zur Ermittlung von Lötfehlern eine Einrichtung zur elektrischen Funktionsprüfung auf.
  • Die vorstehend beschriebenen Aufnehmer bzw. Einrichtungen zur Ermittlung von Lötfehlern können jeweils für sich Verwendung finden. Um eine Vielzahl von Lötfehlern zu ermitteln, können jedoch auch zwei oder mehrere dieser Aufnehmer und Einrichtungen in Kombination verwendet werden.
  • Die Art der Vorrichtung zur Reparatur der fehlerhaften Lötstellen ist grundsätzlich beliebig, solange eine selektive Lötung einzelner Lötstellen oder Lötstellengruppen möglich ist. So kann beispielsweise die Vorrichtung zur Reparatur der Lötfehler eine Reflow-Löteinrichtung aufweisen, wie sie insbesondere bei der Einzelbestückung von Leiterplatten Verwendung findet. Dabei erfolgt üblicherweise ein Aufschmelzen des vorhandenen Lotes durch gezielte Wärmezufuhr an die jeweilige Lotstelle oder Lotstellengruppe. Die Reflow-Löteinrichtung kann dabei in an sich bekannter Weise beispielsweise als Heißluftdüse, Infrarotheizelement oder dergleichen ausgeführt sein.
  • Nach einer besonders bevorzugten Ausgestaltung der Erfindung jedoch weist die Vorrichtung zur Reparatur der Lötfehler eine Wellenlöteinrichtung auf, die mit einer Wellenlötdüse und einem heizbaren Lottiegel versehen ist. Eine derartige Wellenlöteinrichtung kann insbesondere, jedoch keineswegs ausschließlich Verwendung finden, wenn den zu reparierenden Lötstellen Lot zugeführt werden muss.
  • Während bei den aus der Serienfertigung bekannten Wellenlötanlagen üblicherweise Düsen Verwendung finden, die die gesamte Breite der zu lötenden Platine überdecken, ist gemäß der vorliegenden Erfindung die Wellenlötdüse als Punkt- oder Flachdüse ausgeführt, mit der einzelne Lötstellen oder abgegrenzte Lötstellengruppen löt- bzw. reparierbar sind. Durch entsprechende Gestaltung beispielsweise der Wellenlötdüse, der austretenden Lötwelle und der Temperatur des Lotes kann dabei sichergestellt werden, dass ausschließlich die zu reparierenden Lötstellen dauerhaft mit dem schmelzflüssigen Lot benetzt werden.
  • Insbesondere bei der Verwendung einer Wellenlöteinrichtung kann nach einem weiteren Ausführungsbeispiel eine Vorrichtung zum Auftrag eines Flussmittels, beispielsweise in Form einer Sprüheinheit, auf die zu reparierende Lötstelle vorgesehen sein. Dadurch kann in bekannter Weise die Benetzungsfähigkeit der nachzulötenden Fehlerstellen erhöht werden.
  • Nach einem Ausführungsbeispiel kann die relative Positionierung zwischen Leiterplatte und Vorrichtung zur Reparatur der Lötfehler und/oder Vorrichtung zur Ermittlung von Lötfehlern dadurch erfolgen, dass zumindest die Leiterplatte in die entsprechende Prüf- und/oder Reparaturposition gebracht wird. Dies kann beispielsweise durch eine Vorrichtung nach Art eines x-y-Tisches erfolgen, der die Leiterplatte trägt und beispielsweise Teil der Transporteinrichtung sein kann. Weiter kann der x-y-Tisch auch eine Beweglichkeit in z-Richtung aufweisen, um ein Verbringen der Leiterplatte in den insbesondere vertikalen Arbeitsbereich der Vorrichtung zur Reparatur der Lötfehler zu ermöglichen. Dabei können die Vorrichtungen zur Ermittlung von Lötfehlern und zur Reparatur dieser Lötfehler im wesentlichen ortsfest angeordnet sein.
  • In einfacher Weise können die Vorrichtung zur Ermittlung von Lötfehlern und die Vorrichtung zur Reparatur der Lötfehler auch auf oder an einem gemeinsamen relativ zur Leiterplatte positionierbaren Träger angeordnet sein. Diese bedeutet mit anderen Worten, dass beide Vorrichtungen nur gemeinsam bewegt werden können. Dabei kann die Bewegung in Abhängigkeit vom gewünschten Freiheitsgrad der Bewegung in x- oder y-Richtung, das heißt im Wesentlichen in einer Ebene parallel zur Leiterplatte, und/oder in z-Richtung, das heißt im Wesentlichen senkrecht zur Leiterplattenebene, erfolgen. Wesentlich ist dabei nur, dass zum einen die zu überprüfenden Lötstellen in den Arbeitsbereich der Vorrichtung zur Ermittlung von Lötfehlern gebracht werden können und zum anderen die Einrichtung zur Reparatur der fehlerhaften Lötstellen derart an die fehlerhaften Lötstellen bringbar ist, dass ein Nachlöten dieser Lötstellen erfolgen kann.
  • Nach einem bevorzugten Ausführungsbeispiel der Erfindung jedoch sind die Vorrichtung zur Ermittlung von Lötfehlern und die Vorrichtung zur Reparatur der Lötfehler jeweils auf oder an einem separaten relativ zur Leiterplatte positionierbaren Träger angeordnet. Dadurch sind die Bewegungen der Einrichtung zur Ermittlung und der Einrichtung zur Reparatur der Lötfehler räumlich und funktionell getrennt, so dass gleichzeitig die Ermittlung von Lötfehlern an einer Leiterplatte und die Reparatur von Lötfehlern an einer zweiten Leiterplatte erfolgen kann. Dadurch lässt sich der Durchsatz durch eine erfindungsgemäße Anlage erhöhen.
  • Nach einem besonders bevorzugten Ausführungsbeispiel der Erfindung können mindestens zwei Vorrichtungen zur Reparatur von Lötfehlern vorgesehen sein, die vorzugsweise auf separaten, relativ zur Leiterplatte positionierbaren Trägern angeordnet sein können. Dadurch kann zum einen der Durchsatz weiter erhöht werden, da insbesondere eine Mehrzahl von Leiterplatten gleichzeitig einer Reparatur unterzogen werden können. Zum anderen lässt sich aber bei einer derartigen Gestaltung die Verwendung von mehreren unterschiedlichen Löteinrichtungen, beispielsweise eine Kombination von Reflow- und Wellenlöteinrichtungen oder eine Kombination von zwei oder mehr Wellenlöteinrichtungen mit unterschiedlichem Lotmaterial, beispielsweise bleihaltig und bleifrei, realisieren, wodurch die Anlage insgesamt flexibler und breiter einsetzbar wird.
  • In ähnlicher Weise können erfindungsgemäß mindestens zwei Vorrichtungen zur Ermittlung von Lötfehlern vorgesehen sein, die vorzugsweise auf separaten, relativ zur Leiterplatte positionierbaren Trägern angeordnet sein können. Dadurch können beispielsweise unterschiedliche Vorrichtungen zur Ermittlung von Lötfehlern in einer Anlage kombiniert werden, um unterschiedliche Lötfehler zu ermitteln. Von Vorteil ist eine derartige Gestaltung jedoch auch, wenn eine Vorrichtung am Eingang der Anlage zur Ermittlung der Lötfehler und eine weitere am Ausgang der Anlage zur Überprüfung der reparierten Lötstellen und damit des Reparaturerfolges vorgesehen ist.
  • In einfacher Weise können die Vorrichtung zur Ermittlung von Lötfehlern und die Vorrichtung zur Reparatur dieser Lötfehler lediglich auf einer Seite der Leiterplatte, insbesondere unterhalb der Leiterplatte, bezogen auf eine im Wesentlichen horizontale Transportrichtung, angeordnet sein. Nach einem weiteren Ausführungsbeispiel der Erfindung jedoch sind jeweils mindestens eine Vorrichtung zur Ermittlung von Lötfehlern und jeweils mindestens eine Vorrichtung zur Reparatur der Lötfehler gegenüber jeder Hauptfläche der Leiterplatte und damit sowohl oberhalb als auch unterhalb der Platine angeordnet. Dadurch lassen sich Lötfehler auf beiden Leiterplattenflächen in einem Durchlauf ermitteln und reparieren.
  • Nach einem weiteren Ausführungsbeispiel kann eine weitere Transporteinrichtung vorgesehen sein, mit der die Leiterplatten nach dem Reparaturlöten zum Anfang der Anlage zurücktransportierbar sind. Dies kann dabei sowohl innerhalb als auch außerhalb der erfindungsgemäßen Anlage erfolgen. Eine derartige Gestaltung ist dabei insbesondere von Vorteil, wenn die reparierten Lötstellen einer abschließenden Überprüfung beim Ausfahren aus der Anlage nicht standgehalten haben und eine erneute Reparatur der Lötstellen durchgeführt werden soll.
  • Im Folgenden wird die Erfindung anhand lediglich Ausführungsbeispiele zeigender Zeichnungen näher erläutert.
  • Es zeigen:
  • 1 in schematischer blockdiagrammartiger Darstellung ein erstes Ausführungsbeispiel einer erfindungsgemäßen Anlage;
  • 2 in einer der 1 entsprechenden Darstellung ein zweites Ausführungsbeispiel einer erfindungsgemäßen Anlage;
  • 3 in schematischer perspektivischer Darstellung ein weiteres Ausführungsbeispiel einer erfindungsgemäßen Anlage; und
  • 4 in einer der 1 entsprechenden Darstellung ein viertes Ausführungsbeispiel einer Anlage gemäß der Erfindung.
  • Die in der 1 schematisch dargestellte Anlage weist eine Einrichtung 1 zum Transport einer mit elektronischen Bauteilen bestückten Leiterplatte 2 auf, wobei in der Darstellung nach 1 aus Gründen einer einfacheren Darstellung die elektronischen Bauteile nicht gezeigt sind. Die Einrichtung 1 zum Transport der Leiterplatte besteht bei diesem Ausführungsbeispiel aus einem Kettenförderer, der endlos umläuft und auf dem die Leiterplatte 2 im Bereich ihrer Längsseitenkanten derart gelagert und geführt ist, dass die Unterseite der Leiterplatte 2 im Wesentlichen frei zugänglich ist. Der Transport der Leiterplatte 2 durch die Anlage erfolgt in Richtung des Pfeils F.
  • Unterhalb der Einrichtung 1 zum Transport der Leiterplatte 2 sind auf einem gemeinsamen rahmenartigen Träger 3 eine Vorrichtung zur Ermittlung von Lötfehlern in Form einer Kamera 4 sowie zwei Vorrichtungen zur Reparatur von Lötfehlern in Form zweier Wellenlöteinrichtungen 5 und 6 angeordnet. Der Träger 3 ist über nicht dargestellte Führungs- und Antriebsmittel in x-Richtung, entsprechend der durch den Pfeil F angedeuteten in der Zeichenebene liegenden Transportrichtung, und senkrecht zur Zeichenebene in y-Richtung, d.h. in einer Ebene parallel zur Leiterplatte 2, positionierbar, so dass sowohl mit der Kamera 4 als auch den Wellenlöteinrichtungen 5 und 6 jeder beliebige Punkt, insbesondere jede beliebige Lötstelle, an der Unterseite der Leiterplatte 2 anfahrbar ist.
  • Die Kamera 4 und die Wellenlöteinrichtungen 5 und 6 sind jeweils auf einem weiteren Träger 7, 8 und 9 angeordnet, die gegenüber dem Träger 3 unabhängig voneinander in z-Richtung verstellbar sind. Damit lassen sich sowohl die Kamera 4 als auch insbesondere die Wellenlöteinrichtungen 5 und 6 vertikal gegen die Leiterplatte verstellen, so dass zum einen mit der Kamera 4 insgesamt eine Position einnehmbar ist, in der die erforderlichen Abbildungen der zu überprüfenden Lötstellen erstellt werden können und zum anderen die Wellenlöteinrichtungen 5 und 6 in eine Position gebracht werden können, in der ein Nachlöten der durch die Kamera 4 ermittelten Lötfehler ermöglicht wird.
  • Aufgrund der Anordnung zweier Wellenlöteinrichtungen können diese mit unterschiedlichem Lotmaterial, beispielsweise bleifreiem und bleihaltigem Lot, versehen sein, so dass wahlweise in Abhängigkeit von den zu reparierenden Lotstellen unterschiedliche Lotmaterialen zum Einsatz kommen können.
  • Wird nun eine zu überprüfende Leiterplatte 2 mittels der Transporteinrichtung 1 in die erfindungsgemäße Anlage gefahren, erfolgt zunächst eine optische Aufnahme der zu überprüfenden Lötstellen. Dabei kann mit der Kamera ein Bild der gesamten Unterseite der Leiterplatte 2 aufgenommen werden; alternativ oder zusätzlich kann die Kamera 4 jedoch auch durch entsprechende, insbesondere programmierbare, Positionierung Bilder vorbestimmter Bereiche oder einzelner Lötstellen der Leiterplatte 2 aufnehmen. Nach der Auswertung der von der Kamera 4 aufgenommenen Bilder in einer nicht dargestellten Auswerte- und Steuereinheit werden, falls, beispielsweise durch Bildvergleich mit Referenzbil dern, Lötfehler ermittelt worden sind, durch entsprechende in der Steuereinheit erzeugte Steuerbefehle die jeweiligen Wellenlöteinrichtungen 5 oder 6 an die zu reparierenden Lötstellen verfahren, so dass dann die automatische Reparatur durch Nachlöten erfolgen kann.
  • Die erforderlichen Lötparameter können entweder fest vorprogrammiert sein oder aber ebenfalls durch die Auswertung der von der Kamera 4 aufgenommenen Bilder in der Auswerte- und Steuereinheit programmgesteuert ermittelt und an die Wellenlöteinrichtungen weitergeleitet werden.
  • Nach der erfolgten Reparatur oder, falls kein Fehler festgestellt worden ist, nach dem Durchlaufen der Anlage ohne weitere Bearbeitung, kann die Leiterplatte 2 durch die Transporteinrichtung 1 ausgegeben oder an eine weitere Transport- oder Handhabungseinrichtung übergeben werden.
  • Das in der 2 dargestellte zweite Ausführungsbeispiel einer erfindungsgemäßen Anlage weist grundsätzlich den gleichen Aufbau wie die Anlage nach 1 auf. Gleiche Elemente in den Figuren sind mit gleichen Bezugszeichen versehen. Im Gegensatz zur Anlage nach 1 sind die unterhalb der Transporteinrichtung 1 angeordneten Elemente Kamera 4 und Wellenlöteinrichtungen 5 und 5 jedoch nicht auf einem gemeinsamen Träger angeordnet. Kamera 4 und jede Wellenlöteinrichtung 5 und 6 sind vielmehr jeweils auf oder an einem separaten Träger 10, 11 und 12 angeordnet, der jeweils in x-, y- und z-Richtung positionierbar ist. Dadurch lassen sich die Kamera 4 und die Wellenlöteinrichtungen 5 und 6 unabhängig voneinander positionieren, so dass mehrere hintereinander durch die erfindungsgemäße Anlage transportierte Leiterplatten 2 gleichzeitig geprüft und/oder repariert werden können.
  • In Transportrichtung nach den Wellenlöteinrichtungen 5 und 6 ist eine weitere Vorrichtung zur Ermittlung von Lötfehlern mit einer Kamera 13 angeordnet, die in ihrem Aufbau der Vorrichtung mit der Kamera 4 entspricht. Diese Kamera 13 dient dabei zur Überprüfung der reparierten Lötstellen. Die Überprüfung erfolgt in gleicher Weise wie bei der Kamera 4 in einer Auswerte- und Steuereinheit beispielsweise durch Bildvergleich mit einem Referenzbild.
  • Weiter ist eine zweite Transporteinrichtung 14 vorgesehen, die den Ausgang der Anlage mit dem Eingang verbindet. Insbesondere wenn durch die Kamera 13 eine reparierte Lötstelle ermittelt wird, die als immer noch fehlerhaft klassifiziert wird, kann mittels dieser Transporteinrichtung 14 ein Rücktransport der Leiterplatte 2 zum Eingang der Anlage und damit ein erneuter Durchlauf erfolgen.
  • Beim Ausführungsbeispiel nach 2 sind oberhalb der Transporteinrichtung 1 und damit oberhalb der Leiterplatte 2 eine weitere Kamera 4a, weitere Vorrichtungen 5a und 6a zur Reparatur der fehlerhaften Lötstellen und eine weitere Kamera 13a vorgesehen. Die Kameras 4a und 13a sind dabei identisch in Funktion und Aufbau zu den Kameras 4 und 13. Die Vorrichtungen 5a und 6a sind jedoch nicht als Wellenlöteinrichtungen ausgeführt sondern als Reflow-Löteinrichtungen mit Heißluftdüsen. Im Übrigen entsprechen sie in Funktion und Aufbau den Wellenlöteinrichtungen 5 und 6. Aufgrund dieser Anordnung lassen sich in einem Durchlauf fehlerhafte Lötstellen auf beiden Seiten der Leiterplatte 2 ermitteln und reparieren.
  • In 3 ist ein weiteres Ausführungsbeispiel einer erfindungsgemäßen Anlage dargestellt. Die Transporteinrichtung 1 ist bei diesem Ausführungsbeispiel als Schienenförderer ausgebildet und weist zwei Transport- oder Führungsschienen 15, 16 auf, die mit einem Abstand voneinander angeordnet sind, der im Wesentlichen der Breite der zu transportierenden Leiterplatte 2 entspricht. Die Leiterplatte 2 ist dabei mir ihren parallel zur Transportrichtung verlaufenden Seitenkanten in den Transport- oder Führungsschienen 15, 16 geführt.
  • Auf einem gemeinsamen Träger 3 sind eine Kamera 4 und zwei Wellenlöteinrichtungen 5 und 6 angeordnet. Der Träger 3 weist eine Brücke bestehend aus zwei Längsträgern 17, 18 und zwei Querträgern 19, 20 auf, wobei die Brücke in x-Richtung, das heißt in Transportrichtung der Leiterplatte, auf Führungsbahnen 21, 22 verfahrbar ist. An den Querträgern ist eine zweite Brücke 23 in y-Richtung verfahrbar angeordnet. Auf bzw. an dieser Brücke 23 befinden sich die Kamera 4 und die Wellenlöteinrichtungen 5 und 6. Damit lassen sich Kamera und Wellenlöteinrichtungen in x- und y-Richtung frei positionieren.
  • Die Wellenlöteinrichtungen 5 und 6 sind identisch ausgebildet und weisen jeweils einen beheizbaren Tiegel 24 für das schmelzflüssige Lot auf. An der Oberseite des Tiegels befindet sich jeweils eine punkt- oder fingerförmige Wellenlötdüse 25, aus der das flüssige Lot nach oben austritt und über den kegelförmigen Fuß der Wellenlotdüse wieder nach unten in den Tiegel 24 abfließt.
  • Die Wellenlöteinrichtungen sind weiter jeweils auf einem Teller 26, 27 angeordnet, die jeweils über eine Stelleinrichtung 28, 29 vertikal, das heißt in z-Richtung verfahrbar sind. Damit lassen sich die Wellenlötdüsen 25 punktgenau an die zu reparierenden Lötstellen positionieren, so dass beispielsweise eine Nachlötung erfolgen kann.
  • Das in der 4 dargestellte Ausführungsbeispiel entspricht in seinem wesentlichen Aufbau dem Ausführungsbeispiel nach der 1. Während jedoch beim Ausführungsbeispiel nach 1 zwei Wellenlöteinrichtungen 5 und 6 vorgesehen sind, weist das Ausführungsbeispiel nach 4 lediglich eine derartige Wellenlöteinrichtung 6 auf. Zwischen der Kamera 4 und der Wellenlöteinrichtung ist ferner eine Vorrichtung 30 zum Auftrag eines Flussmittels in Form eines Sprayers (Fluxer) auf die zu reparierende Lötstelle vorgesehen, um die Fließeigenschaften des Lotes im Bereich der zu reparierenden Lötstelle bzw. deren Benetzbarkeit zu verbessern.

Claims (18)

  1. Anlage zur automatischen Erkennung und Behebung von Lötfehlern an mit elektronischen Bauteilen bestückten Leiterplatten mit einer Einrichtung zum Transport der Leiterplatten durch die Anlage, mindestens einer Vorrichtung zur Ermittlung von Lötfehlern, wobei in dieser Vorrichtung Ort und gegebenenfalls Art der Lötfehler ermittelt und einer Steuereinheit zugeführt werden, und mindestens einer Vorrichtung zur Reparatur dieser Lötfehler, wobei die Leiterplatten und zumindest die Vorrichtung zur Reparatur der Lötfehler über die Steuereinheit derart relativ zueinander positionierbar sind, dass mit der Vorrichtung zur Reparatur der Lötfehler die von der Vorrichtung zur Ermittlung von Lötfehlern ermittelten defekten Lötstellen selektiv reparierbar sind.
  2. Anlage nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Vorrichtung zur Ermittlung von Lötfehlern einen optischen Aufnehmer, insbesondere eine Kamera, aufweist.
  3. Anlage nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass die Vorrichtung zur Ermittlung von Lötfehlern einen akustischen Aufnehmer, insbesondere einen Ultraschallaufnehmer, aufweist.
  4. Anlage nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, dass die Vorrichtung zur Ermittlung von Lötfehlern nach Art eines Scanning Acoustic Microscope (SAM) aufgebaut ist.
  5. Anlage nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, dass die Vorrichtung zur Ermittlung von Lötfehlern eine Einrichtung zur elektrischen Funktionsprüfung (ICT) aufweist.
  6. Anlage nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, dass die Vorrichtung zur Ermittlung von Lötfehlern eine Einrichtung zur Ermittlung der Lötfehler mittels Röntgenstrahlen aufweist.
  7. Anlage nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, dass die Vorrichtung zur Reparatur der Lötfehler eine Reflow-Löteinrichtung aufweist.
  8. Anlage nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, dass die Reflow-Löteinrichtung als Heißluftdüse, Infrarotheizelement oder dergleichen ausgeführt ist.
  9. Anlage nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, dass die Vorrichtung zur Reparatur der Lötfehler eine Wellenlöteinrichtung mit einer Wellenlotdüse und einem heizbaren Lottiegel aufweist.
  10. Anlage nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, dass die Wellenlotdüse als Punkt- oder Flachdüse ausgeführt ist.
  11. Anlage nach einem der Ansprüche 1 bis 10, dadurch gekennzeichnet, dass eine Vorrichtung zum Auftrag eines Flussmittels auf die zu reparierende Lötstelle vorgesehen ist.
  12. Anlage nach einem der Ansprüche 1 bis 11, gekennzeichnet durch einen Leiterplattenträger nach Art eines x-y-Tisches, mit dem die Leiterplatte relativ zu der Vorrichtung zur Ermittlung von Lötfehlern und/oder die Vorrichtung zur Reparatur der Lötfehler positionierbar ist.
  13. Anlage nach einem der Ansprüche 1 bis 12, dadurch gekennzeichnet, dass die Vorrichtung zur Ermittlung von Lötfehlern und die Vorrichtung zur Reparatur der Lötfehler auf oder an einem gemeinsamen, relativ zur Leiterplatte positionierbaren Träger angeordnet sind.
  14. Anlage nach einem der Ansprüche 1 bis 12, dadurch gekennzeichnet, dass die Vorrichtung zur Ermittlung von Lötfehlern und die Vorrichtung zur Reparatur der Lötfehler jeweils auf oder an einem separaten, relativ zur Leiterplatte positionierbaren Träger angeordnet sind.
  15. Anlage nach einem der Ansprüche 1 bis 14, dadurch gekennzeichnet, dass mindestens zwei Vorrichtungen zur Reparatur von Lötfehlern vorgesehen sind, die vorzugsweise auf separaten, relativ zur Leiterplatte positionierbaren Trägern angeordnet sind.
  16. Anlage nach einem der Ansprüche 1 bis 15, dadurch gekennzeichnet, dass mindestens zwei Vorrichtungen zur Ermittlung von Lötfehlern vorgesehen sind, die vorzugsweise auf separaten, relativ zur Leiterplatte positionierbaren Trägern angeordnet sind.
  17. Anlage nach einem der Ansprüche 1 bis 16, dadurch gekennzeichnet, dass jeweils mindestens eine Vorrichtung zur Ermittlung von Lötfehlern und jeweils mindestens eine Vorrichtung zur Reparatur der Lötfehler gegenüber jeder Hauptfläche der Leiterplatte angeordnet sind.
  18. Anlage nach einem der Ansprüche 1 bis 17, gekennzeichnet durch eine weitere Transporteinrichtung, mit der die Leiterplatten nach dem Reparaturlöten zum Anfang der Anlage zurücktransportierbar sind.
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