CN109427752B - 显示装置 - Google Patents

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Abstract

提供了一种显示装置。所述显示装置可以包括基底、多个像素、第一数据线、第二数据线、缺陷感测线、第一输入垫和静电放电元件。基底可以包括彼此相邻的显示区域和外围区域。多个像素可以位于显示区域上，并且可以包括第一像素和第二像素。第一数据线可以电连接到第一像素。第二数据线可以电连接到第二像素，并且可以与第一数据线电隔离。缺陷感测线可以位于外围区域上。第一输入垫可以电连接到缺陷感测线。静电放电元件可以通过缺陷感测线电连接到第一输入垫。

Description

显示装置
本申请要求于2017年8月24日在韩国知识产权局提交的第10-2017-0107248号韩国专利申请的优先权和权益，该韩国专利申请的全部内容通过引用包含于此。
技术领域
技术领域涉及一种显示装置。
背景技术
诸如液晶显示器(LCD)或有机发光二极管(OLED)显示器的显示装置可以包括显示面板，该显示面板包括多个像素和多条信号线。每个像素可以包括像素电极，像素电极通过晶体管连接到信号线以接收数据信号。显示面板可以包括含有基底的多个堆叠层。
在显示面板的制造工艺中，当显示面板受到冲击时，在基底和/或其它层中会出现裂纹。随着时间的推移，裂纹会在显示面板中长得越来越大并/或扩散，导致显著的缺陷。例如，如果在信号线(诸如，数据线或扫描线)中产生裂纹，则会使信号线断开，或者会增大信号线的电阻，使得不能正确地传输信号。湿气等会通过裂纹渗透到显示面板中，从而会降低显示装置的可靠性。其结果是，显示装置会发生故障。
在背景技术部分中公开的以上信息是为了增强对相关的背景技术的理解。背景技术部分可以包含不形成本领域普通技术人员在本国已知的现有技术的信息。
发明内容
实施例可以保护显示面板中的缺陷检测电路和/或缺陷检测电气元件免受静电。实施例可以在显示面板的测试期间优化缺陷检测的准确性。
根据实施例的显示装置可以包括以下元件：基底，包括含有多个像素的显示区域、包括多个输入垫的垫区域以及位于垫区域与显示区域之间并且包括裂纹感测电路的电路区域；裂纹感测线，包括两端和位于显示区域周围的部分，其中所述两端包括连接到多个输入垫中的第一输入垫的第一端以及第二端；以及多条数据线，连接到多个像素，其中，裂纹感测电路包括连接到第二端的静电放电元件。
电路区域可以包括位于其中心的中心区域，并且静电放电元件可以位于中心区域处。
电路区域可以包括：第一开关元件，包括连接到第一端的输入端子和连接到多条数据线中的第一数据线的输出端子；以及第二开关元件，包括连接到第二端的输入端子和连接到多条数据线中的第二数据线的输出端子，并且第一开关元件和第二开关元件可以不位于中心区域处。
还可以包括：第一测试数据线，使第一端和第一开关元件彼此连接；以及第二测试数据线，使第二端和第二开关元件彼此连接。
静电放电元件可以连接到第一测试数据线和第二测试数据线。
静电放电元件可以包括电容器，该电容器包括连接到第一测试数据线的第三端子以及连接到第二测试数据线的第四端子作为两个端子。
第二测试数据线可以包括多条子布线，并且电容器可以包括分别连接到多条子布线中的相应子布线的多个子电容器。
还可以包括连接到第一端并且大致平行于第一测试数据线延伸的连接布线，并且，静电放电元件可以连接到连接布线和第二测试数据线。
静电放电元件可以包括电容器，该电容器包括连接到连接布线的第三端子和连接到第二测试数据线的第四端子作为两个端子。
第二测试数据线可以包括多条子布线，并且电容器可以包括分别连接到多条子布线中的相应子布线的多个子电容器。
基底还可以包括位于显示区域与电路区域之间的弯曲区域，裂纹感测线可以包括位于弯曲区域的部分，电压传输线还可以被包括，该电压传输线具有沿显示区域的周界延伸的部分和与弯曲区域交叉的部分，并且，电压传输线和裂纹感测线可以在弯曲区域中位于彼此相同的层处。
根据实施例的显示装置可以包括以下元件：基底，包括含有多个像素的显示区域、包括多个输入垫的垫区域以及位于垫区域与显示区域之间并且包括裂纹感测电路的电路区域；裂纹感测线，包括两端和位于显示区域周围的部分，其中所述两端包括连接到多个输入垫中的第一输入垫的第一端以及第二端；以及多条数据线，连接到多个像素，其中，裂纹感测电路包括至少一个电容器，该电容器包括连接到第一输入垫的第三端子和连接到第二端的第四端子作为两个端子。
电路区域可以包括位于其中心的中心区域，并且电容器可以位于中心区域处。
电路区域可以包括：第一开关元件，具有连接到第一端的输入端子以及连接到多条数据线中的第一数据线的输出端子；以及第二开关元件，具有连接到第二端的输入端子以及连接到多条数据线中的第二数据线的输出端子，并且第一开关元件和第二开关元件可以不位于中心区域处。
还可以包括使第一端和第一开关元件彼此连接的第一测试数据线以及使第二端和第二开关元件彼此连接的第二测试数据线，第三端可以连接到第一测试数据线，第四端可以连接到第二测试数据线。
还可以包括使第一端和第一开关元件彼此连接的第一测试数据线、使第二端和第二开关元件彼此连接的第二测试数据线以及连接到第一端并且大致平行于第一测试数据线延伸的连接布线，第三端可以连接到连接布线，第四端连接到第二测试数据线。
实施例可以涉及一种显示装置。该显示装置可以包括基底、多个像素、第一数据线、第二数据线、缺陷感测线、第一输入垫和静电放电元件。基底可以包括彼此相邻的显示区域和外围区域。多个像素可以位于显示区域上，并且可以包括第一像素和第二像素。第一数据线可以电连接到第一像素。第二数据线可以电连接到第二像素，并且可以与第一数据线电隔离。缺陷感测线可以位于外围区域上。第一输入垫可以电连接到缺陷感测线。静电放电元件可以通过缺陷感测线电连接到第一输入垫。
显示区域的边缘可以位于缺陷感测线与静电放电元件之间。
显示装置可以包括第一开关元件和第二开关元件。第一开关元件的输入端子可以电连接到缺陷感测线。第一开关元件的输出端子可以电连接到第一数据线。第二开关元件的输入端子可以通过缺陷感测线电连接到第一开关元件的输入端子。第二开关元件的输出端子可以电连接到第二数据线。
显示装置可以包括以下元件：第一测试数据线，使缺陷感测线与第一开关元件彼此电连接；第二测试数据线，使缺陷感测线与第二开关元件彼此电连接。
静电放电元件可以电连接在第一测试数据线与第二测试数据线之间。
静电放电元件可以包括电容器。电容器的第一端子可以电连接到第一测试数据线。电容器的第二端子可以电连接到第二测试数据线。
第二测试数据线可以包括多条子布线。电容器可以包括多个子电容器。多个子电容器可以分别电连接到多条子布线中的相应子布线。
显示装置可以包括电连接到缺陷感测线并且平行于第一测试数据线延伸的连接布线。静电放电元件可以通过连接布线电连接到第一测试数据线。
静电放电元件可以包括电容器。电容器的第一端子可以电连接到连接布线。电容器的第二端子可以电连接到第二测试数据线。
第二测试数据线可以包括多条子布线。电容器可以包括多个子电容器。多个子电容器可以分别电连接到多条子布线中的相应子布线。
显示装置可以包括以下元件：电压传输线，位于缺陷感测线与多个像素之间；以及绝缘层，位于基底上。基底还可以包括相对于显示区域弯曲的弯曲部。绝缘层的部分可以位于弯曲部上。缺陷感测线的一段可以位于弯曲部上并且可以与绝缘层的所述部分直接接触。电压传输线的一段可以位于弯曲部上，并且可以与绝缘层的所述部分直接接触。
静电放电元件可以包括电容器。电容器的第一端子可以通过缺陷感测线电连接到第一输入垫。
电容器的第一端子可以通过缺陷感测线的第一段和缺陷感测线的第二段二者电连接到第一输入垫。缺陷感测线的第一段和缺陷感测线的第二段可以彼此平行地延伸。
显示装置可以包括位于缺陷感测线与静电放电元件之间的第一开关元件。第一开关元件的输入端子可以电连接到缺陷感测线。第一开关元件的输出端子可以电连接到第一数据线。
显示装置可以包括以下元件：第二开关元件。第二开关元件的输入端子可以电连接到缺陷感测线。第二开关元件的输出端子可以电连接到第二数据线。静电放电元件可以位于第一开关元件与第二开关元件之间。
基底还可以包括相对于显示区域弯曲的弯曲部。缺陷感测线的第一段可以位于弯曲部上。静电放电元件可以通过缺陷感测线的第一段电连接到第一输入垫。
缺陷感测线的第二段可以与缺陷感测线的第一段分开，并且可以位于弯曲部上。静电放电元件可以通过缺陷感测线的第一段和缺陷感测线的第二段两者电连接到第一输入垫。
静电放电元件可以位于弯曲部与第一开关元件之间。
第一数据线和第二数据线彼此直接相邻而没有中间数据线。静电放电元件可以电连接在第一数据线与第二数据线之间。
显示装置还可以包括：测试数据线，与第一数据线交叉并将静电放电元件电连接到缺陷感测线。
根据实施例，可以保护用于检测在显示面板中产生的诸如裂纹的缺陷的电路和/或电气元件免受静电，并且可以在显示面板的测试期间优化缺陷检测的准确度。
附图说明
图1是根据实施例的包括在显示装置中的显示面板的俯视平面图。
图2是示出根据实施例的具有弯曲部的显示面板的侧视图。
图3是根据实施例的包括在显示装置中的显示面板的俯视平面图。
图4是根据实施例的包括在显示装置中的显示面板的俯视平面图。
图5是根据实施例的包括在显示装置中的显示面板的俯视平面图。
图6是根据实施例的显示装置的沿图1中示出的线I-Ia截取的剖视图。
图7是根据实施例的显示面板的电路区域的一部分的布局图。
图8是根据实施例的显示面板的沿图7中示出的线VII-VIIa截取的剖视图。
图9是根据实施例的显示面板的电路区域的一部分的布局图。
具体实施方式
参照附图描述示例实施例。如本领域技术人员将认识到的，可以以各种不同方式修改所描述的实施例。
尽管这里可以使用术语“第一”、“第二”等来描述各种元件，但是这些元件不应受这些术语的限制。这些术语可以用于将一元件与另一元件区分开。因此，在不脱离一个或更多个实施例的教导的情况下，第一元件可以被命名为第二元件。作为“第一”元件的元件的描述可以不需要或暗示存在第二元件或其它元件。这里也可以使用术语“第一”、“第二”等来区分元件的不同类别或组。为简洁起见，术语“第一”、“第二”等可以分别表示“第一类型(或第一组)”、“第二类型(或第二组)”等。
在附图中，为了更好理解和易于描述，可以夸大某些元件的厚度。
当第一元件被称为“在”第二元件“上”时，第一元件可以直接在第二元件上，或者第一元件与第二元件之间可以存在一个或更多个中间元件。当第一元件被称为“直接在”第二元件“上”时，第一元件与第二元件之间不意图存在中间元件(除了诸如空气的环境元件)。词语“在……上”或“在……上方”可以意味着位于物体部分上或下方，而不一定意味着位于相对物体的基于重力方向的上侧上。
除非明确地描述为相反，否则词语“包括”以及诸如“包含”或“含有”的变型可以暗示包括所述元件但不排除其它元件。术语“连接”可以意味着“电连接”；术语“绝缘”可以意味着“电绝缘”。
图1是根据实施例的包括在显示装置中的显示面板的俯视平面图。图2是示出根据实施例的具有弯曲部的显示面板的侧视图。
参照图1和图2，根据实施例的显示装置可以包括显示面板1000，显示面板1000具有作为用于显示图像的区域的显示区域DA以及与显示区域DA相邻、毗邻和/或围绕显示区域DA的外围区域PA。显示面板1000包括基底110。基底110可以包括分别与显示面板1000的显示区域DA和外围区域PA对应的显示区域和外围区域。
基底110可以包括玻璃、塑料等中的至少一种，并且可以具有柔性。例如，基底110可以由塑料材料(诸如，PET、PEN、PC、PAR、PEI、PES或PI)、金属薄膜或薄膜玻璃形成。
显示区域DA可以在与由x方向和y方向限定的平面平行的表面上显示图像。当在与x方向和y方向垂直的方向上观看时观察到的结构可以被称为平面结构，并且当沿与x方向或y方向垂直的方向切割时观察到的结构可以被称为剖面结构。
显示区域DA包括多个像素PX和多条信号线。
信号线包括用于传输栅极信号的多条栅极线121和用于传输数据信号的多条数据线171。每条栅极线121在显示区域DA中基本在x方向上延伸，并且可以连接到显示区域DA外部的栅极驱动器400a和400b。每条数据线171在显示区域DA中基本在y方向上延伸，并且也延伸到显示区域DA的外部。
像素PX可以包括开关元件和连接到开关元件的像素电极。开关元件可以是诸如集成在显示面板1000上的晶体管的三端子元件。开关元件根据通过栅极线121传输的栅极信号而导通或截止，用于控制数据信号向像素电极的传输。
为了实现彩色显示，每个像素PX可以显示预定颜色中的一种，并且可以通过将由预定颜色显示的图像进行组合来识别期望颜色的图像。由多个像素PX显示的预定颜色的示例可以是红色、绿色和蓝色的三原色，或者黄色、青色和品红色的三原色，并且除了所述的三原色之外还可以包括诸如白色的至少一种不同的颜色。
除了显示区域DA之外，如图1中所示，显示面板1000可以包括外围区域PA、弯曲区域BDA(其可以相对于显示区域DA弯曲)、电路区域650、垫(pad，也可以称为“焊盘”)区域660等。
位于显示区域DA周围的外围区域PA可以是与显示区域DA相邻并包围显示区域DA的区域。弯曲区域BDA可以位于显示区域DA的下侧下，并且可以在x方向上延伸穿过显示面板1000。垫区域660位于弯曲区域BDA的外侧，从而被设置为与显示面板1000或基底110的下边缘110A邻近。即，弯曲区域BDA可以位于显示区域DA与垫区域660之间。电路区域650包括诸如晶体管的多个电气元件，并且可以位于显示区域DA的下侧下。如图1中所示，电路区域650可以位于弯曲区域BDA与垫区域660之间，或者可选地，电路区域650可以位于显示区域DA与弯曲区域BDA之间或位于显示区域DA的上侧上的外围区域PA处。
外围区域PA可以包括栅极驱动器400a和400b、电压传输线177以及裂纹感测线150M1和150M2(或缺陷感测线150M1和150M2)。
栅极驱动器400a和400b连接到多条栅极线121，用于施加栅极信号。栅极驱动器400a和400b可以与多条信号线和位于显示区域DA上的开关元件一起形成在基底110上。图1示出了栅极驱动器400a和400b逐一设置在基于显示区域DA的右侧和左侧上的示例。在实施例中，栅极驱动器400a和400b中的任意一个可以是不必要的。
电压传输线177可以沿显示区域DA的诸如上侧、右侧和左侧的至少三个侧延伸，并且可以传输诸如共电压的预定电压。
裂纹感测线150M1和150M2中的每条可以具有包括第一端15a和第二端15b的两端，并且可以在第一端15a和第二端15b之间沿显示区域DA的左侧和上侧的一部分或者沿显示区域DA的右侧和上侧的一部分延伸。例如，裂纹感测线150M1可以包括在显示区域DA的左外围区域PA中基本在y方向上延伸的部分以及在左半显示区域DA的上外围区域PA中基本在x方向上延伸的部分，裂纹感测线150M2可以包括在显示区域DA的右外围区域PA中基本在y方向上延伸的部分以及在右半显示区域DA的上外围区域PA中基上在x方向上延伸的部分。
裂纹感测线150M1和150M2中的每条可以从连接到垫区域660的第一端15a开始，通过弯曲区域BDA在外围区域PA中沿显示区域DA的周界延伸，在显示区域DA的右外围区域PA/左外围区域PA或者上外围区域PA中往复至少一次以形成至少一个弯曲部分，并再次穿过弯曲区域BDA以在第二端15b处连接到电路区域650。裂纹感测线150M1和150M2的第一端15a连接到垫区域660，从而接收测试电压。
当位于弯曲区域BDA处的导电层的剖面位置与位于外围区域PA处的裂纹感测线150M1和150M2的剖面位置不相同时，裂纹感测线150M1和150M2可以包括位于弯曲区域BDA的上方和下方的至少一个接触部分。裂纹感测线150M1和150M2可以包括相对于接触部分而位于剖面中的不同层上的部分。接触部分可以包括至少一个接触孔。在弯曲区域BDA中，电压传输线177以及裂纹感测线150M1和150M2可以全部与图6中示出的第三绝缘层160(的同一表面/侧面)和/或另一绝缘层(的同一表面/侧面)直接接触。
在实施例中，不同于图1，左裂纹感测线150M1和右裂纹感测线150M2可以在显示区域DA上彼此连接。裂纹感测线150M1和150M2与电路区域650和/或焊盘区域660的连接关系可以与图1中示出的结构不同。
在平面图中，在位于显示区域DA的右侧/左侧的外围区域PA中，栅极驱动器400a和400b可以位于显示区域DA的边缘与电压传输线177之间，电压传输线177可以位于栅极驱动器400a和400b与裂纹感测线150M1和150M2之间，并且裂纹感测线150M1和150M2可以位于电压传输线177和基底110的边缘之间。然而，这些组成元件的布置可以以其它方式来改变。
显示面板1000在弯曲区域BDA中弯曲，使得位于电路区域650和/或垫区域660中的元件可以隐藏在显示面板1000的后面，并可以从显示装置的前面不被看到。图1示出了显示面板1000在弯曲区域BDA中没有显著地弯曲的状态，图2示意性地示出了显示面板1000在弯曲区域BDA中弯曲的状态。多条布线可以穿过弯曲区域BDA，并且多条布线可以在弯曲区域BDA中基本在y方向上延伸。可以在弯曲区域BDA中去除基底110的至少一部分。
取决于显示装置的结构，弯曲区域BDA可以是不必要的。
参照图1和图2，垫区域660可以包括多个垫(pad，也可以称为“焊盘”)，所述多个垫可以电连接到驱动芯片750的垫(pad，也可以称为“焊盘”)和/或电路膜700的垫(pad，也可以称为“焊盘”)。根据实施例，驱动芯片750和/或电路膜700可以通过垫区域660电连接到显示面板1000。
如图2中所示，驱动芯片750可以位于显示面板1000上或电路膜700上。驱动芯片750可以包括产生驱动信号以驱动显示面板1000的驱动器。
电路膜700可以是膜类型。参照图2，当弯曲显示面板1000时，电路膜700可以连接到弯曲区域BDA外部的区域。驱动器、时序控制器等可以位于电路膜700中。
包括在垫区域660中的多个垫可以包括输入垫(pad，也可以称为“焊盘”)70a和70b以及输入垫(pad，也可以称为“焊盘”)80a和80b。
电路区域650连接到裂纹感测线150M1和150M2并包括裂纹感测电路(或缺陷感测电路)，裂纹感测电路(或缺陷感测电路)能够基于裂纹感测线150M1和150M2中的至少一条的电阻变化来感测在基底110或在外围区域PA处沉积在基底110上的层中发生的缺陷(诸如，裂纹或突起)。裂纹感测线150M1和150M2的电阻变化可以通过经由裂纹感测电路测试显示区域DA的点亮状态来确认。
裂纹感测线150M1和150M2的第一端15a可以连接到垫区域660的输入垫70a和70b，并且裂纹感测线150M1和150M2的第二端15b可以连接到测试数据线91a和91b。裂纹感测线150M1和150M2的连接到输入垫70a和70b的第一端15a可以连接到测试数据线71a和71b。
两条测试数据线91a和91b可以彼此分开和电隔离，并且两条测试数据线71a和71b也可以彼此分开和电隔离。测试数据线71a、71b、91a和91b中的每条可以基本在x方向上延伸，并且可以在与数据线171绝缘的同时与数据线171交叉。
电路区域650的裂纹感测电路还可以包括测试栅极线81和连接到测试栅极线81的多个开关元件Q1和Q2。
测试栅极线81连接到输入垫80a和80b，并可以在电路区域650中基本在x方向上延伸。测试栅极线81可以通过输入垫80a和80b接收用于测试的栅极信号。
多个开关元件Q1和Q2可以沿基本在x方向上延伸的一行或多行布置，并且可以被设置为与多条数据线171中的一部分对应。图1示出了其中多个开关元件Q1和Q2沿一行布置的示例。开关元件Q1和Q2可以在x方向上交替地布置，并且开关元件Q1和Q2中的每个可以针对每条数据线171而逐一地设置。开关元件Q2可以设置在电路区域650的局部区域(例如，电路区域650的右局部区域和左局部区域)处，并且开关元件Q1可以设置在剩余区域处。图1示出了其中一个开关元件Q2设置在电路区域650的左侧和右侧二者的示例，但可选地，多个开关元件Q2可以被设置为在电路区域650的右侧和左侧处在x方向上与开关元件Q1邻近。此外，可以各种改变开关元件Q1和Q2的布置。
开关元件Q1和Q2中的每个的栅极端子连接到测试栅极线81，并且其输出端子连接到对应的数据线171。开关元件Q1的输入端子连接到测试数据线71a和71b，开关元件Q2的输入端子连接到测试数据线91a和91b。
参照图1，输入垫70a和70b与开关元件Q1之间的测试数据线71a和71b可以包括匹配电阻器R1和R2。通过输入垫70a和70b施加的测试电压可以在经由匹配电阻器R1和R2减小了第一电压差之后施加到开关元件Q1的输入端子。另一方面，通过输入垫70a和70b施加的测试电压可以传输到裂纹感测线150M1和150M2，并且，通过裂纹感测线150M1和150M2的布线电阻而减小了第二电压差的电压可以通过测试数据线91a和91b施加到开关元件Q2的输入端子。匹配电阻器R1和R2中的每个的电阻可以等于或接近于裂纹感测线150M1和150M2中的每条的布线电阻。此外，可以确定匹配电阻器R1和R2的电阻，使得在裂纹感测线150M1和150M2中没有诸如裂纹或翘起(lifting)的损坏而作为正常状态的情况下，第一电压差和第二电压差彼此基本相等或等值。在实施例中，匹配电阻器R1和R2的电阻可以基于裂纹检测灵敏度来确定。例如，匹配电阻器R1和R2中的每个的电阻可以被确定为裂纹感测线150M1和150M2中的每条的布线电阻的大约1.5倍。
数据线171也可以在电路区域650的下方延伸，并且可以连接到用于测试显示区域DA的缺陷的点亮电路755。点亮电路755可以包括诸如多个晶体管等的电气元件。点亮电路755可以位于显示区域DA的下方或上方。图1示出了点亮电路755位于垫区域660(具体地，设置有驱动芯片750的区域)处的示例。
参照图1，显示面板1000还包括分别连接到裂纹感测线150M1的第二端15b和裂纹感测线150M2的第二端15b的静电放电元件92a和92b。静电放电元件92a和92b可以连接到与裂纹感测线150M1和150M2的第二端15b连接的布线(例如，测试数据线91a和91b)。静电放电元件92a和92b均可以是/包括电容器、晶体管或二极管。静电放电元件92a和92b均可以是/包括电气元件，该电气元件能够存储或释放流入裂纹感测线150M1的第二端15b和裂纹感测线150M2的第二端15b中的一个的静电。在实施例中，静电放电元件92a和92b中的每个是电容器。
当静电放电元件92a和92b中的每个是电容器时，电容器的一端/端子可以连接到测试数据线91a和91b中的一条，而另一端/端子可以连接到与输入垫70a和70b中的一个连接的布线(例如，测试数据线71a和71b中的一条)。在实施例中，静电放电元件92a和92b中的每个可以连接到与裂纹感测线150M1和150M2中的一条的第二端15b连接的布线(例如，测试数据线91a和91b中的一条)以及与输入垫70a和70b中的一个连接的布线(例如，测试数据线71a和71b中的一条)。由于开关元件Q1和Q2中的每个的输出端子连接到对应的数据线171，开关元件Q1的输入端子连接到测试数据线71a和71b中的一个，开关元件Q2的输入端子连接到测试数据线91a和91b中的一个，因此，静电放电元件92a和92b中的每个可以电连接在连接到开关元件Q1的输出端子的数据线171与连接到开关元件Q2的输出端子的数据线171之间。
静电放电元件92a和92b可以位于中心区域650C，中心区域650C基本位于电路区域650之中的中心处。根据实施例，由于多个开关元件Q1和Q2位于电路区域650的右侧/左侧，并且在中心区域650C中形成了没有设置开关元件Q1和Q2的空的空间，所以静电放电元件92a和92b可以位于该空间中。因此，测试数据线91a和91b中的每条可以延伸到中心区域650C，并且测试数据线71a和71b中的每条也可以延伸到中心区域650C。
如果没有连接到裂纹感测线150M1和150M2的第二端15b的静电放电元件92a和92b，则具有相对大电阻的裂纹感测线150M1和150M2用作天线，使得会容易地产生裂纹感测线150M1和150M2中的每条的第一端15a与第二端15b之间的大的电势差。在这种情况下，静电倾向于积聚在裂纹感测线150M1和150M2的第二端15b中，使得连接到裂纹感测线150M1和150M2的裂纹感测电路会易受静电的影响，并在连接到裂纹感测线150M1和150M2的第二端15b的开关元件Q2中会产生漏电流。因此，在不是用于测试诸如外围区域PA的裂纹的缺陷的步骤的缺陷测试步骤中(例如，在使用点亮电路755的显示区域DA的缺陷测试步骤中)，连接到与开关元件Q2连接的数据线171的像素PX的点亮状态会错误地显示为缺陷状态。也就是说，即使连接到开关元件Q2的数据线171或连接到数据线171的像素PX没有缺陷，连接到对应数据线171的像素PX列也以弱暗线显示，使得会错误地检测到缺陷。
在根据实施例的显示面板1000中，裂纹感测线150M1和150M2的第二端15b连接到静电放电元件92a和92b，使得可以存储或释放静电。例如，静电可以存储在静电放电元件92a和92b的电容器中，或者可以通过连接到电容器的另一端的布线(例如，测试数据线71a和71b)释放到输入垫70a和70b。因此，可以防止由于静电引起的裂纹感测电路的开关元件Q2的损坏，并且可以防止开关元件Q2的漏电流。有利地，可以防止在缺陷测试过程中错误的缺陷检测。
短路布线72a、72b、82a和82b可以分别连接到输入垫70a、70b、80a和80b。短路布线72a、72b、82a和82b可以从输入垫70a、70b、80a和80b延伸到显示面板1000或基底110的下边缘110A。结束于下边缘110A的短路布线72a、72b、82a和82b的端部可以不连接到另一个导体，而是可以处于浮置状态。短路布线72a、72b、82a和82b可以在制造工艺期间连接到位于下边缘110A下的短路棒，从而传输诸如地电压的预定电压。
图3是根据实施例的包括在显示装置中的显示面板的俯视平面图。图3中示出的显示面板1000a可以包括参照图1和图2讨论的特征和/或结构。然而，静电放电元件92a和92b中的每个的电容器的一端连接到测试数据线91a和91b中的一条，静电放电元件92a和92b中的每个的电容器的另一端连接到作为与测试数据线71a和71b分离的布线的连接布线73a和73b中的一条。连接布线73a和73b可以连接到输入垫70a和70b以及裂纹感测线150M1和150M2的第一端15a，并且可以延伸为在电路区域650中基本平行于x方向并基本平行于测试数据线71a和71b。
图4是根据实施例的包括在显示装置中的显示面板的俯视平面图。图4中示出的显示面板1000b可以包括参照图1、图2和图3中的一个或更多个讨论的结构和/或特征。然而，其中设置有裂纹感测电路的电路区域650可以设置在显示区域DA与弯曲区域BDA之间。
因此，连接在裂纹感测线150M1和150M2的第一端15a与输入垫70a和70b之间的布线以及连接在测试栅极线81与输入垫80a和80b之间的布线可以穿过弯曲区域BDA。穿过弯曲区域BDA的布线可以包括位于弯曲区域BDA的上侧和下侧的周围的至少一个接触部分。接触部分可包括至少一个接触孔。
图5是根据实施例的包括在显示装置中的显示面板的俯视平面图。图5中示出的显示面板1000c可以包括参照图1、图2、图3和图4中的一个或更多个讨论的特征和/或结构。然而，显示面板1000c可以包括弯曲裂纹感测线150M3和150M4。
与上述裂纹感测线150M1和150M2不同，用于检测是否发生弯曲区域BDA的诸如裂纹的缺陷的弯曲裂纹感测线150M3和150M4可以被定位为基本局限于弯曲区域BDA以及弯曲区域BDA的周围。详细地，弯曲裂纹感测线150M3和150M4均可以位于弯曲区域BDA的右/左边缘区域处，并且均可以从连接到垫区域660的一端15c开始，在近似y方向上延伸，在弯曲区域BDA内往复一次或更多次以形成弯曲部分，然后返回以在另一端15d处连接到电路区域650。弯曲裂纹感测线150M3和150M4中的每个的一端15c可以连接到垫区域660，从而接收测试电压。
当位于弯曲区域BDA处的导电层的剖面位置与位于弯曲区域BDA外部的弯曲裂纹感测线150M3和150M4的剖面位置彼此不相同时，弯曲裂纹感测线150M3和150M4可以包括位于弯曲区域BDA的上侧和下侧的周围的至少一个接触部分。弯曲裂纹感测线150M3和150M4可以包括基于接触部分而在剖面上位于彼此不同的层的部分。接触部分可以包括至少一个接触孔。
在图5中，省略了上述裂纹感测线150M1和150M2，并且仅示出了弯曲裂纹感测线150M3和150M4。在实施例中，裂纹感测线150M1和150M2也可以与弯曲裂纹感测线150M3和150M4一起被包括。在实施例中，还可以形成连接到裂纹感测线150M1和150M2的附加裂纹感测电路，并且该附加裂纹感测电路的构造可以与电路区域650的裂纹感测电路的构造相同。在实施例中，在弯曲区域BDA中，位于左侧的弯曲裂纹感测线150M3可以位于裂纹感测线150M1与基底110的边缘之间，位于右侧的弯曲裂纹感测线150M4可以位于裂纹感测线150M2与基底110的边缘之间。
像根据实施例的弯曲裂纹感测线150M3和150M4与显示面板1000c的电路区域650的连接关系一样的构造及其效果可以与像裂纹感测线150M1和150M2与上述显示面板1000、1000a和1000b的电路区域650的连接关系一样的构造及其效果相同或类似。
根据一个或更多个实施例的一种或更多种测试显示面板1000、1000a、1000b和1000c中的一个的缺陷(诸如，裂纹)的方法描述如下。
首先，将测试电压通过垫区域660施加到裂纹感测线150M1和150M2的一端15a和/或弯曲裂纹感测线150M3和150M4的一端15c以及测试数据线71a和71b。同此一起，如果将栅极导通电压的栅极信号施加到测试栅极线81，则使电路区域650的开关元件Q1和Q2导通，并且使施加到测试数据线71a和71b的测试电压通过导通的开关元件Q1而施加到相应的数据线171。作为预定电压的测试电压可以是例如显示具有最低灰度的像素PX的电压，并且在这种情况下，它可以是大约7V。因此，连接到导通的开关元件Q1的像素PX可以显示诸如黑色的低灰度。
如果在显示面板1000、1000a、1000b和1000c的外围区域PA和/或弯曲区域BDA中没有产生裂纹、翘起等，即，如果显示面板1000、1000a、1000b和1000c处于损坏未施加到裂纹感测线150M1和150M2和/或弯曲裂纹感测线150M3和150M4的正常状态，则通过裂纹感测线150M1和150M2和/或弯曲裂纹感测线150M3和150M4施加到电路区域650的测试数据线91a和91b的电压可以与施加到测试数据线71a和71b的电压基本相同。为此，可以控制匹配电阻器R1和R2。在这种情况下，连接到开关元件Q2的像素PX也可以像连接到开关元件Q1的像素PX一样显示诸如黑色的预定灰度。
然而，如果在显示面板1000、1000a、1000b和1000c的外围区域PA和/或弯曲区域BDA中产生裂纹、翘起/突起等，即，如果裂纹感测线150M1和150M2和/或弯曲裂纹感测线150M3和150M4断开或损坏使得布线电阻增大，则不向连接到开关元件Q2的像素PX施加黑色数据电压，或者不充分地施加黑色数据电压。因此，可以沿连接到开关元件Q2的像素PX的列识别出耀眼白线(hard white line)或弱白线。如上所述，可以通过识别的白线来检测在显示面板1000、1000a、1000b和1000c的外围区域PA和/或弯曲区域BDA中产生的诸如裂纹的缺陷。
图6是根据实施例的显示装置的沿图1中示出的线I-Ia截取的剖视图。参照图6以及图1至图5中的一个或更多个来描述显示装置的剖面结构。
参照图6，阻挡层120可以位于基底110上。如附图中所示，阻挡层120可以包括多个层或可以由单层制成。
有源图案位于阻挡层120上。有源图案可包括位于显示区域DA处的有源图案130和位于外围区域PA处的有源图案130d。有源图案130和130d中的每个可以包括源区、漏区和源区与漏区之间的沟道区。有源图案可以包括非晶硅、多晶硅或氧化物半导体。
第一绝缘层141可以位于有源图案130和130d上，并且第一导电层可以位于第一绝缘层141上。第一导电层可以包括：导体155，与位于显示区域DA处的有源图案130叠置；导体150d，与位于外围区域PA处的有源图案130d叠置；以及如上所述的多条栅极线121和测试栅极线81。
有源图案130和与有源图案130叠置的导体155可以一起形成晶体管TRa，有源图案130d和与有源图案130叠置的导体150d可以一起形成晶体管TRd。晶体管TRa可以用作包括在位于显示区域DA处的像素PX中的开关元件，晶体管TRd可以用作包括在栅极驱动器400a和400b中的开关元件。
第二绝缘层142可以位于第一导电层和第一绝缘层141上，第二导电层可以位于第二绝缘层142上。第二导电层可以包括上述的裂纹感测线150M1和150M2。可选地，裂纹感测线150M1和150M2可以与第一导电层位于同一层，并且可以包括与第一导电层的材料相同的材料。
第二导电层还可以包括上述的测试数据线71a、71b、91a和91b等。可选地，测试数据线71a、71b、91a和91b中的至少一者可以位于第一导电层处。
第三绝缘层160可以位于第二导电层和第二绝缘层142上。
第一绝缘层141、第二绝缘层142和第三绝缘层160中的至少一个可以包括诸如氮化硅(SiNx)、氧化硅(SiOx)、氮氧化硅(SiON)的无机绝缘材料和/或有机绝缘材料。可以在弯曲区域BDA中去除第一绝缘层141、第二绝缘层142和第三绝缘层160中的至少一个的部分或全部。
第一绝缘层141、第二绝缘层142和第三绝缘层160可以包括位于晶体管TRa的源区和/或漏区处的接触孔165以及位于晶体管TRd的源区和/或漏区处的接触孔165d。
第三导电层可以位于第三绝缘层160上。第三导电层可以包括通过接触孔165连接到晶体管TRa的源区或漏区的导体170和通过接触孔165d连接到晶体管TRd的源区或漏区的导体170d、电压传输线177以及上述的数据线171。
第一导电层、第二导电层和第三导电层中的至少一个可以包括诸如铜(Cu)、铝(Al)、钼(Mo)的金属或合金。
钝化层180位于第三导电层和第三绝缘层160上。钝化层180可以包括无机绝缘材料和/或诸如聚丙烯酸树脂和聚酰亚胺类树脂的有机绝缘材料，钝化层180的上表面可以是基本平坦的。
像素电极层位于钝化层180上。像素电极层可以包括：像素电极191，与显示区域DA的每个像素PX对应；以及电压传输电极197，位于外围区域PA处。电压传输电极197可以物理地和电气地连接到电压传输线177，从而接收共电压。像素电极层可以包括半透射导电材料或反射导电材料。
像素限定层350位于钝化层180和像素电极层上。像素限定层350可以具有形成在像素电极191上的开口351，并且还可以包括位于外围区域PA处的至少一个坝部350d。坝部350d可以延伸以在平面图中与基底110的边缘平行。间隔件360d还可以位于坝部350d上。
裂纹感测线150M1和150M2可以相对于坝部350d而位于外侧，但不限于此。
像素限定层350可以包括诸如聚丙烯酸树脂和聚酰亚胺类树脂的光敏材料。
发射层370位于像素电极191上。发射层370可以包括位于像素限定层350的开口351中的部分。发射层370还可以包括位于外围区域PA并位于像素限定层350上的至少一个虚设发射层370d。发射层370可以包括有机发射材料或无机发射材料。
共电极270位于发射层370上。共电极270也形成在像素限定层350上。共电极270可以在整个多个像素PX中连续地形成。共电极270可以物理地和电气地连接到外围区域PA中的电压传输电极197，从而接收共电压。共电极270可以包括导电透明材料。
每个像素PX的像素电极191、发射层370和共电极270一起形成发光二极管(LED)ED，像素电极191和共电极270中的一个为阴极而另一个为阳极。
保护和封装发光二极管(LED)ED的封装部380可以位于共电极270上。封装部380包括无机层381和383中的至少一个以及至少一个有机层382，并且无机层381和383中的至少一个与至少一个有机层382可以交替地堆叠。有机层382包括有机材料并且可以具有平坦化特性。无机层381和383可以包括诸如氧化铝(AlOx)、氧化硅(SiOx)、氮化硅(SiNx)和氮氧化硅(SiON)的无机材料。
由于无机层381和383的平面区域比有机层382的平面区域宽，所以两个无机层381和383可以在外围区域PA中彼此竖直地接触。位于无机层381和383的底部的无机层381可以在外围区域PA中与第三绝缘层160的上表面接触，但不限于此。在外围区域PA中，包括无机层381和383的封装部380可以与裂纹感测线150M1和150M2叠置。
包括在封装部380中的有机层382的边缘可以位于坝部350d与显示区域DA之间。坝部350d可以用于在形成封装部380的有机层382时防止有机材料溢出到外部，因此封装部380的有机层382的外边缘可以比坝部350d基本位于更内部。
包括无机绝缘材料或/和有机绝缘材料的缓冲层389可以位于封装部380上。可以省略缓冲层389。
第四导电层位于缓冲层389上。第四导电层可以包括第一触摸导体TEa。第一触摸绝缘层391可以位于第四导电层上，第五导电层可以位于第四导电层上。第五导电层可以包括第二触摸导体TEb。第二触摸绝缘层392可以位于第五导电层上。当第一触摸导体TEa或/和第二触摸导体TEb形成电容式触摸传感器时，可以感测外部物体的触摸。可以省略第一触摸导体TEa和第二触摸导体TEb中的至少一个。
图7是根据实施例的显示面板的电路区域的一部分的布局图。图8是根据实施例的显示面板的沿图7中示出的线VII-VIIa截取的剖视图。参照图7和图8以及图1至图6中的一个或更多个描述根据一个或更多个实施例的显示面板1000、1000a、1000b和1000c中的一个或更多个的静电放电元件92a的结构。
图7示出了显示面板1000、1000a、1000b和1000c中的一个或更多个的电路区域650的中心区域650C中的左侧部分。测试数据线91a可以包括多个子布线91aa和91ab，并且子布线91aa和91ab中的每个连接到位于中心区域650C中的静电放电元件92aa和92ab中的一个。静电放电元件92aa和92ab包括在静电放电元件92a中。
静电放电元件92aa和92ab中的每个包括至少一个电容器。
静电放电元件92aa可以包括：第一端子158，连接到测试数据线91a的子布线91aa的一端；第二端子178，连接到测试数据线71a(或图3中示出的连接布线73a)；以及第三端子131h。
参照图7和图8，第一端子158和第二端子178彼此叠置并且被至少一个绝缘层(例如，经由第二绝缘层142和第三绝缘层160)分开，以形成可以存储和释放静电的第一电容器C1。第一端子158和第三端子131h可以彼此叠置并且可以被至少一个绝缘层(例如，第一绝缘层141)分开，以形成可以存储和释放静电的第二电容器C2。第一端子158和第二端子178是导电的，第三端子131h可以是半导体。第一端子158可以位于上述的第一导电层中，第二端子178可以位于上述的第三导电层中，第三端子131h可以包括在上述的有源图案130和130d中。导电区域136h和137h位于第三端子131h的相对侧，导电区域136h和137h可以连接到第三端子131h。第二端子178可以通过包括在第一绝缘层141、第二绝缘层142和第三绝缘层160中的接触孔66连接到导电区域136h和137h。因此，导电区域136h和137h可以与第二端子178一起接收通过测试数据线71a(或连接布线73a)传输的输入垫70a的电压。第二端子178可以通过连接布线711连接到测试数据线71a(或连接布线73a)。
类似地，静电放电元件92ab可以包括：第一端子158a，连接到测试数据线91a的子布线91ab的一端；第二端子178a，连接到测试数据线71a(或连接布线73a)；以及第三端子131ha。
第一端子158a和第二端子178a可以彼此叠置并且可以被至少一个绝缘层(例如，第二绝缘层142和第三绝缘层160)分开，以形成可以存储和释放静电的第一电容器C1a。第一端子158a和第三端子131ha可以彼此叠置并且可以被至少一个绝缘层(例如，第一绝缘层141)分开，以形成可以存储和释放静电的第二电容器C2a。第一端子158a和第二端子178a可以是导电的，第三端子131ha可以是半导体。第一端子158a可以位于第一导电层中，第二端子178a可以位于第三导电层中，第三端子131ha可以包括在上述的有源图案130和130d中。导电区域136ha和137ha可以位于第三端子131ha的相对侧，并且导电区域136ha和137ha可以连接到第三端子131ha。第二端子178a可以通过包括在第一绝缘层141、第二绝缘层142和第三绝缘层160中的接触孔66a连接到导电区域136ha和137ha。因此，导电区域136ha和137ha可以与第二端子178a一起接收通过测试数据线71a(或连接布线73a)传输的输入垫70a的电压。第二端子178a可以直接连接到测试数据线71a(或连接布线73a)。
如上所述，静电放电元件92aa可以包括第一电容器C1和第二电容器C2，静电放电元件92ab可以包括第一电容器C1a和第二电容器C2a。第一电容器C1、第一电容器C1a、第二电容器C2和第二电容器C2a可以被称为子电容器。
在实施例中，第三端子131h和131ha以及第二电容器C2和C2a可以是不必要的。
图9是根据实施例的显示面板的电路区域的一部分的布局图。图9示出了根据一个或更多个实施例的显示面板1000、1000a、1000b和1000c中的一个或更多个的电路区域650的中心区域650C中的左侧部分。测试数据线91a可以包括多条子布线91ac、91ad、91ae和91af。一对子布线91ac和91af可以通过连接布线714彼此连接，并且一对子布线91ad和91ae可以通过连接布线713彼此连接。在中心区域650C中，子布线91ac和91af连接到静电放电元件92ac，子布线91ad和91ae连接到静电放电元件92ad。静电放电元件92ac和92ad包括在静电放电元件92a中。
静电放电元件92ac和92ad中的每个包括至少一个电容器。
静电放电元件92ac可以包括：第一端子158b，连接到测试数据线91a的子布线91ac和91af中的每条的一端；第二端子178b，连接到测试数据线71a(或连接布线73a)；以及第三端子131hb。第一端子158b和第二端子178b形成第一电容器C1b，第一端子158b和第三端子131hb形成第二电容器C2b，用于存储和释放静电。第一端子158b和第二端子178b可以是导电的，第三端子131hb可以是半导体。导电区域136hb和137hb可以位于第三端子131hb的相对侧，导电区域136hb和137hb可以连接到第三端子131hb。第二端子178b可以通过接触孔66b连接到导电区域136hb和137hb。
类似地，静电放电元件92ad可以包括：第一端子158c，连接到测试数据线91a的子布线91ad和91ae中的每条的一端；第二端子178c，连接到测试数据线71a(或连接布线73a)；以及第三端子131hc。第一端子158c和第二端子178c形成第一电容器C1c，第一端子158c和第三端子131hc形成第二电容器C2c，用于存储和释放静电。第一端子158c和第二端子178c可以是导电的，第三端子131hc可以是半导体。导电区域136hc和137hc可以位于第三端子131hc的相对侧，并且导电区域136hc和137hc可以连接到第三端子131hc。第二端子178c可以通过接触孔66c连接到导电区域136hc和137hc。第二端子178c可以通过连接布线712连接到测试数据线71a(或连接布线73a)。
如上所述，静电放电元件92ac可以包括第一电容器C1b和第二电容器C2b，静电放电元件92ad可以包括第一电容器C1c和第二电容器C2c。
在实施例中，第三端子131hb和131hc以及第二电容器C2b和C2c可以是不必要的。
根据实施例的显示装置可以是例如有机/无机发射显示装置或液晶显示器。
虽然已经描述了示例实施例，但实际的实施例不限于所描述的实施例。实施例意图覆盖在由所附权利要求限定的精神和范围内的各种修改和等同布置。

Claims (19)

1.一种显示装置，所述显示装置包括：
基底，包括彼此相邻的显示区域和外围区域；
多个像素，位于所述显示区域上并包括第一像素和第二像素；
第一数据线，电连接到所述第一像素；
第二数据线，电连接到所述第二像素并与所述第一数据线电隔离；
缺陷感测线，位于所述外围区域上；
第一输入垫，电连接到所述缺陷感测线；
静电放电元件，通过所述缺陷感测线电连接到所述第一输入垫；以及
第一测试数据线，与所述第一数据线或所述第二数据线交叉，并且将所述静电放电元件电连接到所述缺陷感测线。
2.根据权利要求1所述的显示装置，其中，所述显示区域的边缘位于所述缺陷感测线与所述静电放电元件之间。
3.根据权利要求1所述的显示装置，所述显示装置还包括：
第一开关元件，其中，所述第一开关元件的输入端子电连接到所述缺陷感测线，并且，其中所述第一开关元件的输出端子电连接到所述第一数据线；以及
第二开关元件，其中，所述第二开关元件的输入端子通过所述缺陷感测线电连接到所述第一开关元件的所述输入端子，并且，其中，所述第二开关元件的输出端子电连接到所述第二数据线。
4.根据权利要求3所述的显示装置，所述显示装置还包括：
第二测试数据线，将所述缺陷感测线与所述第二开关元件彼此电连接，
其中，所述第一测试数据线将所述缺陷感测线与所述第一开关元件彼此电连接。
5.根据权利要求4所述的显示装置，其中，所述静电放电元件电连接在所述第一测试数据线与所述第二测试数据线之间。
6.根据权利要求5所述的显示装置，其中，所述静电放电元件包括电容器，其中，所述电容器的第一端子电连接到所述第一测试数据线，并且，其中，所述电容器的第二端子电连接到所述第二测试数据线。
7.根据权利要求6所述的显示装置，其中，所述第二测试数据线包括多条子布线，其中，所述电容器包括多个子电容器，并且，其中，所述多个子电容器分别电连接到所述多条子布线中的相应的子布线。
8.根据权利要求4所述的显示装置，所述显示装置还包括：
连接布线，电连接到所述缺陷感测线并平行于所述第一测试数据线延伸，
其中，所述静电放电元件通过所述连接布线电连接到所述第一测试数据线。
9.根据权利要求8所述的显示装置，其中，所述静电放电元件包括电容器，其中，所述电容器的第一端子电连接到所述连接布线，并且，其中，所述电容器的第二端子电连接到所述第二测试数据线。
10.根据权利要求9所述的显示装置，其中，所述第二测试数据线包括多条子布线，其中，所述电容器包括多个子电容器，并且，其中，所述多个子电容器分别电连接到所述多条子布线中的相应的子布线。
11.根据权利要求1所述的显示装置，所述显示装置还包括：
电压传输线，位于所述缺陷感测线与所述多个像素之间；以及
绝缘层，位于所述基底上，
其中，所述基底还包括相对于所述显示区域弯曲的弯曲部，其中，所述绝缘层的部分位于所述弯曲部上，其中，所述缺陷感测线的一段位于所述弯曲部上并与所述绝缘层的所述部分直接接触，并且，其中，所述电压传输线的一段位于所述弯曲部上并与所述绝缘层的所述部分直接接触。
12.根据权利要求1所述的显示装置，其中，所述静电放电元件包括电容器，所述电容器的第一端子通过所述缺陷感测线电连接到所述第一输入垫。
13.根据权利要求12所述的显示装置，其中，所述电容器的所述第一端子通过所述缺陷感测线的第一段和所述缺陷感测线的第二段二者电连接到所述第一输入垫，并且，其中，所述缺陷感测线的所述第一段和所述缺陷感测线的所述第二段彼此平行地延伸。
14.根据权利要求1所述的显示装置，所述显示装置还包括：
第一开关元件，位于所述缺陷感测线和所述静电放电元件之间，其中，所述第一开关元件的输入端子电连接到所述缺陷感测线，并且，其中，所述第一开关元件的输出端子电连接到所述第一数据线。
15.根据权利要求14所述的显示装置，所述显示装置还包括：
第二开关元件，其中，所述第二开关元件的输入端子电连接到所述缺陷感测线，其中，所述第二开关元件的输出端子电连接到所述第二数据线，并且，其中，所述静电放电元件位于所述第一开关元件与所述第二开关元件之间。
16.根据权利要求14所述的显示装置，其中，所述基底还包括相对于所述显示区域弯曲的弯曲部，其中，所述缺陷感测线的第一段位于所述弯曲部上，并且，其中，所述静电放电元件通过所述缺陷感测线的所述第一段电连接到所述第一输入垫。
17.根据权利要求16所述的显示装置，其中，所述缺陷感测线的第二段与所述缺陷感测线的所述第一段间隔开并位于所述弯曲部上，并且，其中，所述静电放电元件通过所述缺陷感测线的所述第一段和所述缺陷感测线的所述第二段两者电连接到所述第一输入垫。
18.根据权利要求16所述的显示装置，其中，所述静电放电元件位于所述弯曲部与所述第一开关元件之间。
19.根据权利要求1所述的显示装置，其中，所述第一数据线和所述第二数据线彼此直接相邻而没有中间数据线，并且，其中，所述静电放电元件电连接在所述第一数据线与所述第二数据线之间。
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