CN108761309A - 一种测试装置 - Google Patents

一种测试装置 Download PDF

Info

Publication number
CN108761309A
CN108761309A CN201810500471.7A CN201810500471A CN108761309A CN 108761309 A CN108761309 A CN 108761309A CN 201810500471 A CN201810500471 A CN 201810500471A CN 108761309 A CN108761309 A CN 108761309A
Authority
CN
China
Prior art keywords
vacuum
hold
testboard
needle mould
test device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201810500471.7A
Other languages
English (en)
Other versions
CN108761309B (zh
Inventor
陈文龙
牛玥童
潘伟仁
王勤生
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kunshan Long Rain Intelligent Technology Co Ltd
Original Assignee
Kunshan Long Rain Intelligent Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kunshan Long Rain Intelligent Technology Co Ltd filed Critical Kunshan Long Rain Intelligent Technology Co Ltd
Priority to CN201810500471.7A priority Critical patent/CN108761309B/zh
Publication of CN108761309A publication Critical patent/CN108761309A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN108761309B publication Critical patent/CN108761309B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
    • G01R31/2806Apparatus therefor, e.g. test stations, drivers, analysers, conveyors
    • G01R31/2808Holding, conveying or contacting devices, e.g. test adapters, edge connectors, extender boards

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

本发明公开了一种测试装置,包括测试台、设置于所述测试台中部的通孔内的升降台、周向设置于所述测试台中部的通孔边缘的放置台、设置于所述放置台用于待测产品的连接器插接的真空针模、以及设置于所述真空针模的外侧用于压紧所述连接器的压紧机构;所述压紧机构的驱动端设置有与所述真空针模相配合的压头;所述压紧机构的底部设置有用于驱动压紧机构远离所述真空针模的水平驱动机构,所述水平驱动机构与所述测试台紧固。以此结构设计,将待测试件放置于升降台,之后将连接器与真空针模对接,之后通过压头将其压紧,最后,使得升降台向下运动,与待测产品分离,以此有效提升待测产品的测试精度。本发明测试精度高,测试稳定可靠。

Description

一种测试装置
技术领域
本发明涉及自动化技术领域,尤其涉及一种测试装置。
背景技术
现有技术下在对设置有电阻电容器件的电路板进行检测时,一般将连接器与测试针对接后,都需要将电路板腾空,以此有效提升测试精度,现有技术下由于缺少必要的测试装置,在电路板腾空时,受电路板自重的影响,很容易造成连接器松脱,进而影响电路板的测试精度。
发明内容
本发明的目的在于提供一种测试稳定可靠,防止测试过程中连接器松脱,能够有效提升测试精度的测试装置。
为达此目的,本发明采用以下技术方案:
一种测试装置,包括测试台、设置于所述测试台中部的通孔内的升降台、周向设置于所述测试台中部的通孔边缘的放置台、设置于所述放置台用于待测产品的连接器插接的真空针模、以及设置于所述真空针模的外侧用于压紧所述连接器的压紧机构;所述压紧机构的驱动端设置有与所述真空针模相配合的压头;所述压紧机构的底部设置有用于驱动压紧机构远离所述真空针模的水平驱动机构,所述水平驱动机构与所述测试台紧固。
其中,所述升降台包括设置于所述测试台下底面的升降机构,所述升降机构的驱动端设置有用于和所述通孔相配合的升降板。
其中,所述升降机构包括垂直紧固于所述测试台下底面的导柱、沿所述导柱上下滑动设置的固定板、设置于所述固定板下底面的用于驱动所述升降板沿所述通孔的内壁上下运动的升降驱动气缸。
其中,所述压紧机构包括支架、设置于支架的侧壁的压紧气缸、以及设置于所述压紧气缸的驱动端的压头。
其中,所述水平驱动机构包括水平架设于所述支架的底座下底面导轨、设置于所述支架的底座下底面用于和所述导轨滑动配合的滑块、以及设置于所述支架的底座下方用于驱动所述压紧机构沿所述导轨往返滑动的驱动气缸;所述导轨的下底面与所述测试台的上表面紧固。
其中,所述支架的前后两侧均设置有用于限制所述压紧机构位移的缓冲器。
其中,所述真空针模包括真空座、设置于所述真空座的腔体内的弹性针模、以及设置于所述真空座一端与所述真空座的腔体贯通连接的抽真空接头;所述抽真空接头与外部抽真空装置相连接。
其中,所述弹性针模的测试针两侧的底板上贯穿均布有多个气孔,所述气孔与所述真空座的腔体贯通连接。
本发明的有益效果:本发明包括测试台、设置于所述测试台中部的通孔内的升降台、周向设置于所述测试台中部的通孔边缘的放置台、设置于所述放置台用于待测产品的连接器插接的真空针模、以及设置于所述真空针模的外侧用于压紧所述连接器的压紧机构;所述压紧机构的驱动端设置有与所述真空针模相配合的压头;所述压紧机构的底部设置有用于驱动压紧机构远离所述真空针模的水平驱动机构,所述水平驱动机构与所述测试台紧固。以此结构设计,将待测试件放置于升降台,之后将连接器与真空针模对接,之后通过压头将其压紧,最后,使得升降台向下运动,与待测产品分离,以此有效提升待测产品的测试精度。本发明测试精度高,测试稳定可靠。
附图说明
图1是本发明一种测试装置的轴测图。
图2是图1中压紧机构及水平驱动机构的轴测图。
图3是图1中真空针模的轴测图。
具体实施方式
下面结合附图并通过具体实施方式来进一步说明本发明的技术方案。
结合图1至图3所示,本实施例中提供了一种测试装置,该测试装置包括测试台1、设置于所述测试台1中部的通孔内的升降台2、周向设置于所述测试台1中部的通孔边缘的放置台3、设置于所述放置台3用于待测产品的连接器插接的真空针模4、以及设置于所述真空针模4的外侧用于压紧所述连接器的压紧机构5;所述压紧机构5的驱动端设置有与所述真空针模4相配合的压头53;所述压紧机构5的底部设置有用于驱动压紧机构5远离所述真空针模4的水平驱动机构6,所述水平驱动机构6与所述测试台1紧固。
具体的,本实施例中,所述升降台2包括设置于所述测试台1下底面的升降机构,所述升降机构的驱动端设置有用于和所述通孔相配合的升降板23,所述升降机构包括垂直紧固于所述测试台1下底面的导柱21、沿所述导柱21上下滑动设置的固定板22、设置于所述固定板22下底面的用于驱动所述升降板23沿所述通孔的内壁上下运动的升降驱动气缸24。以此方式设计,在测试前,使得升降板的上表面与真空针模的测试面平齐,待连接器与真空针模连接后,升降板在升降驱动气缸的作用下向下运动,并通过压紧机构将待测产品的连接器压紧,之后使得待测产品与升降板23分离,以此最大限度的提升待测试件的测试精度。
本实施例中,所述压紧机构5包括支架51、设置于支架51的侧壁的压紧气缸52、以及设置于所述压紧气缸52的驱动端的压头53,所述水平驱动机构6包括水平架设于所述支架51的底座下底面导轨61、设置于所述支架51的底座下底面用于和所述导轨61滑动配合的滑块62、以及设置于所述支架51的底座下方用于驱动所述压紧机构5沿所述导轨61往返滑动的驱动气缸63;所述导轨61的下底面与所述测试台1的上表面紧固,所述支架51的前后两侧均设置有用于限制所述压紧机构5位移的缓冲器7。以此结构设计,能够实现压头53的上下以及前后运动,继而能够方便的对插接于真空针模4的连接器定位。
本实施例中,所述真空针模4包括真空座41、设置于所述真空座41的腔体内的弹性针模42、以及设置于所述真空座41一端与所述真空座41的腔体贯通连接的抽真空接头43;所述抽真空接头43与外部抽真空装置相连接,所述弹性针模42的测试针两侧的底板上贯穿均布有多个气孔421,所述气孔421与所述真空座41的腔体贯通连接。以此结构设计,利用与真空接头相连接的真空泵,将真空座的腔体内的空气抽出,继而在测试针的两侧产生一定的负压,以此对插接于弹性针模的连接器起到一定的固定,并配合压头的压力,使连接器稳定可靠的与测试针连接。以此方式设计,即便受待测试件的重力作用,也能够使得连接器稳定可靠的与测试针连接。
以上结合具体实施例描述了本发明的技术原理。这些描述只是为了解释本发明的原理,而不能以任何方式解释为对本发明保护范围的限制。基于此处的解释,本领域的技术人员不需要付出创造性的劳动即可联想到本发明的其它具体实施方式,这些方式都将落入本发明的保护范围之内。

Claims (8)

1.一种测试装置,其特征在于:包括测试台、设置于所述测试台中部的通孔内的升降台、周向设置于所述测试台中部的通孔边缘的放置台、设置于所述放置台用于待测产品的连接器插接的真空针模、以及设置于所述真空针模的外侧用于压紧所述连接器的压紧机构;所述压紧机构的驱动端设置有与所述真空针模相配合的压头;所述压紧机构的底部设置有用于驱动压紧机构远离所述真空针模的水平驱动机构,所述水平驱动机构与所述测试台紧固。
2.根据权利要求1所述的一种测试装置,其特征在于:所述升降台包括设置于所述测试台下底面的升降机构,所述升降机构的驱动端设置有用于和所述通孔相配合的升降板。
3.根据权利要求1所述的一种测试装置,其特征在于:所述升降机构包括垂直紧固于所述测试台下底面的导柱、沿所述导柱上下滑动设置的固定板、设置于所述固定板下底面的用于驱动所述升降板沿所述通孔的内壁上下运动的升降驱动气缸。
4.根据权利要求1所述的一种测试装置,其特征在于:所述压紧机构包括支架、设置于支架的侧壁的压紧气缸、以及设置于所述压紧气缸的驱动端的压头。
5.根据权利要求4所述的一种测试装置,其特征在于:所述水平驱动机构包括水平架设于所述支架的底座下底面导轨、设置于所述支架的底座下底面用于和所述导轨滑动配合的滑块、以及设置于所述支架的底座下方用于驱动所述压紧机构沿所述导轨往返滑动的驱动气缸;所述导轨的下底面与所述测试台的上表面紧固。
6.根据权利要求4所述的一种测试装置,其特征在于:所述支架的前后两侧均设置有用于限制所述压紧机构位移的缓冲器。
7.根据权利要求1所述的一种测试装置,其特征在于:所述真空针模包括真空座、设置于所述真空座的腔体内的弹性针模、以及设置于所述真空座一端与所述真空座的腔体贯通连接的抽真空接头;所述抽真空接头与外部抽真空装置相连接。
8.根据权利要求7所述的一种测试装置,其特征在于:所述弹性针模的测试针两侧的底板上贯穿均布有多个气孔,所述气孔与所述真空座的腔体贯通连接。
CN201810500471.7A 2018-05-23 2018-05-23 一种测试装置 Active CN108761309B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201810500471.7A CN108761309B (zh) 2018-05-23 2018-05-23 一种测试装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201810500471.7A CN108761309B (zh) 2018-05-23 2018-05-23 一种测试装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN108761309A true CN108761309A (zh) 2018-11-06
CN108761309B CN108761309B (zh) 2024-05-17

Family

ID=64004846

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201810500471.7A Active CN108761309B (zh) 2018-05-23 2018-05-23 一种测试装置

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN108761309B (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114644205A (zh) * 2022-05-20 2022-06-21 昆山龙雨智能科技有限公司 一种vcm马达检测的机台

Citations (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4288745A (en) * 1980-07-22 1981-09-08 Ostby & Barton Company Printed circuit board testing means
JP2001201536A (ja) * 2000-01-19 2001-07-27 Sony Corp チップ測定用プローバ
JP2001217290A (ja) * 2000-02-01 2001-08-10 Hitachi Ltd プローブ装置及びプロービング方法
JP2004128202A (ja) * 2002-10-02 2004-04-22 Tokyo Electron Ltd 真空プローブ装置及び真空プローブ方法
TW200736640A (en) * 2006-03-17 2007-10-01 Chipcera Technology Co Ltd High voltage test mechanism for chip device and test method thereof
JP2013137241A (ja) * 2011-12-28 2013-07-11 Micronics Japan Co Ltd プローブカードの平行確認方法及び平行確認装置並びにプローブカード及びテストヘッド
KR20130126566A (ko) * 2013-10-01 2013-11-20 (주)매트릭스 가성불량 방지를 위한 핀 블록 및 이를 이용한 부품검사기
KR101452118B1 (ko) * 2013-05-29 2014-10-16 세메스 주식회사 디스플레이 셀들을 검사하기 위한 장치
CN104155563A (zh) * 2014-08-26 2014-11-19 昆山迈致治具科技有限公司 一种电路板的测试治具
CN205787848U (zh) * 2016-05-27 2016-12-07 惠州旭鑫精密自动化设备有限公司 一种屏幕连接器超精密智能对位系统
CN106483452A (zh) * 2016-10-17 2017-03-08 苏州润弘安创自动化科技有限公司 一种高精度防反光超薄柔性电路板ict测试设备及其工作方法
CN206489249U (zh) * 2016-10-17 2017-09-12 苏州润弘安创自动化科技有限公司 一种高精度超薄柔性电路板ict测试设备
KR20180013317A (ko) * 2016-07-29 2018-02-07 세메스 주식회사 반도체 소자들을 지지하기 위한 스테이지 및 이를 구비하는 반도체 소자 테스트 장치
CN207081810U (zh) * 2017-06-15 2018-03-09 昆山瑞鸿诚自动化设备科技有限公司 一种fpc半自动化测试治具
CN107850637A (zh) * 2016-03-18 2018-03-27 深圳市艾励美特科技有限公司 一种电子产品测试治具
CN208596207U (zh) * 2018-05-23 2019-03-12 昆山龙雨智能科技有限公司 一种测试装置

Patent Citations (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4288745A (en) * 1980-07-22 1981-09-08 Ostby & Barton Company Printed circuit board testing means
JP2001201536A (ja) * 2000-01-19 2001-07-27 Sony Corp チップ測定用プローバ
JP2001217290A (ja) * 2000-02-01 2001-08-10 Hitachi Ltd プローブ装置及びプロービング方法
JP2004128202A (ja) * 2002-10-02 2004-04-22 Tokyo Electron Ltd 真空プローブ装置及び真空プローブ方法
TW200736640A (en) * 2006-03-17 2007-10-01 Chipcera Technology Co Ltd High voltage test mechanism for chip device and test method thereof
JP2013137241A (ja) * 2011-12-28 2013-07-11 Micronics Japan Co Ltd プローブカードの平行確認方法及び平行確認装置並びにプローブカード及びテストヘッド
KR101452118B1 (ko) * 2013-05-29 2014-10-16 세메스 주식회사 디스플레이 셀들을 검사하기 위한 장치
KR20130126566A (ko) * 2013-10-01 2013-11-20 (주)매트릭스 가성불량 방지를 위한 핀 블록 및 이를 이용한 부품검사기
CN104155563A (zh) * 2014-08-26 2014-11-19 昆山迈致治具科技有限公司 一种电路板的测试治具
CN107850637A (zh) * 2016-03-18 2018-03-27 深圳市艾励美特科技有限公司 一种电子产品测试治具
CN205787848U (zh) * 2016-05-27 2016-12-07 惠州旭鑫精密自动化设备有限公司 一种屏幕连接器超精密智能对位系统
KR20180013317A (ko) * 2016-07-29 2018-02-07 세메스 주식회사 반도체 소자들을 지지하기 위한 스테이지 및 이를 구비하는 반도체 소자 테스트 장치
CN106483452A (zh) * 2016-10-17 2017-03-08 苏州润弘安创自动化科技有限公司 一种高精度防反光超薄柔性电路板ict测试设备及其工作方法
CN206489249U (zh) * 2016-10-17 2017-09-12 苏州润弘安创自动化科技有限公司 一种高精度超薄柔性电路板ict测试设备
CN207081810U (zh) * 2017-06-15 2018-03-09 昆山瑞鸿诚自动化设备科技有限公司 一种fpc半自动化测试治具
CN208596207U (zh) * 2018-05-23 2019-03-12 昆山龙雨智能科技有限公司 一种测试装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114644205A (zh) * 2022-05-20 2022-06-21 昆山龙雨智能科技有限公司 一种vcm马达检测的机台

Also Published As

Publication number Publication date
CN108761309B (zh) 2024-05-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN105855359A (zh) 一种钢板自动放置抓取夹持冲孔一体机
CN208224390U (zh) 一种用于触摸屏的检测装置
CN208596207U (zh) 一种测试装置
CN108761309A (zh) 一种测试装置
CN108956278B (zh) 一种再生混凝土抗压检测装置
CN209521929U (zh) 一种用于自动包装生产线的下料装置
CN218470758U (zh) 一种便于使用的设备加样机构
CN208410752U (zh) 一种触摸屏贴膜机
CN109483194A (zh) 一种自动化贴合装置
CN206316721U (zh) 伞管销钉压装机构
CN211452134U (zh) 一种传动轴总成的压缩长度以及重量的检测设备
CN111215344B (zh) 一种牛奶盒导管黏连检测设备
CN208721040U (zh) 一种检测线路板贴片高度用专用量测工装
CN208866732U (zh) 一种螺栓压料安装装置
CN208494270U (zh) 一种排枪臂
CN212314903U (zh) 一种蓝牙耳机电池ppg测厚和尺寸测量装置
CN219906052U (zh) 一种扁平电缆测试上下料装置
CN209364013U (zh) 一种自动化贴合装置
CN215999680U (zh) 一种加工机床用吸尘装置
CN207119965U (zh) 一种燃油泵自动装配线的智能化垫片压入机构
CN207355223U (zh) 宠物牵引器自动组装机
CN209489112U (zh) 线路板组装机
CN219152829U (zh) 一种pcb电路板生产加工平台
CN207942746U (zh) 一种吸盘式送面纸机构
CN220271066U (zh) 一种硬度检测设备

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant