CN108195567A - 一种太阳眼镜功能片的质量检测装置及检测方法 - Google Patents

一种太阳眼镜功能片的质量检测装置及检测方法 Download PDF

Info

Publication number
CN108195567A
CN108195567A CN201810009292.3A CN201810009292A CN108195567A CN 108195567 A CN108195567 A CN 108195567A CN 201810009292 A CN201810009292 A CN 201810009292A CN 108195567 A CN108195567 A CN 108195567A
Authority
CN
China
Prior art keywords
glass substrate
functional sheet
sunglasses
line
detection device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201810009292.3A
Other languages
English (en)
Other versions
CN108195567B (zh
Inventor
翁秋龙
张新华
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Truly Semiconductors Ltd
Original Assignee
Truly Semiconductors Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Truly Semiconductors Ltd filed Critical Truly Semiconductors Ltd
Priority to CN201810009292.3A priority Critical patent/CN108195567B/zh
Publication of CN108195567A publication Critical patent/CN108195567A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN108195567B publication Critical patent/CN108195567B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/02Testing optical properties
    • G01M11/0292Testing optical properties of objectives by measuring the optical modulation transfer function

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

本发明公开了一种太阳眼镜功能片的质量检测装置,所述太阳眼镜功能片包括贴附有SRF膜的线偏光片,所述质量检测装置包括暗室箱体、亮度测试器、及检测机构,所述检测机构设于所述暗室箱体内,所述检测机构包括平行设置的第一玻璃基板和第二玻璃基板,所述第一玻璃基板下方设置有第一线偏光片,所述第二玻璃基板上方设置有待测太阳眼镜功能片;所述第二玻璃基板下方设置有光源,且所述光源与所述亮度测试器的亮度测试探头正相对;所述第一线偏光片的吸收轴与待测太阳眼镜功能片中的线偏光片的吸收轴相互垂直。本发明可以根据测试的亮度值检测太阳眼镜功能片的质量,且结构简单便于实现,可提高检测速度,提高检测的效率和准确率。

Description

一种太阳眼镜功能片的质量检测装置及检测方法
技术领域
本发明涉及显示技术领域,特别是涉及了一种太阳眼镜功能片的质量检测装置及检测方法。
背景技术
由于用SRF膜贴线偏光片组成的太阳眼镜功能片有色差低的优点,越来越多的工业和车载项目采用这种方式做成太阳眼镜功能片,SRF膜贴线偏光片这一工序有交给偏光片供应商贴附也有本厂自己贴附。
SRF膜贴线偏光片时,要求SRF膜的偏光轴与线偏光片的穿透轴夹角为45°,但无论是偏光片供应商贴附还是本厂贴附都有可能存在夹角有偏差的情况,这就会造成质量问题。然而SRF膜贴线偏光片后,无论贴的夹角为多少度,用肉眼看是无法识别的,甚至是否已经贴了SRF膜都较难察觉。
综上所述,提供一种结构简单,并能够实现太阳眼镜功能片的质量检测装置及检测方法,仍是目前业界面临的挑战。
发明内容
为了弥补已有技术的缺陷,本发明提供一种太阳眼镜功能片的质量检测装置及检测方法。
本发明所要解决的技术问题通过以下技术方案予以实现:
一种太阳眼镜功能片的质量检测装置,所述太阳眼镜功能片包括贴附有SRF膜的线偏光片,所述质量检测装置包括暗室箱体、亮度测试器、及检测机构,所述检测机构设于所述暗室箱体内,所述检测机构包括平行设置的第一玻璃基板和第二玻璃基板,所述第一玻璃基板下方设置有第一线偏光片,所述第二玻璃基板上方设置有待测太阳眼镜功能片;所述第二玻璃基板下方设置有光源,且所述光源与所述亮度测试器的亮度测试探头正相对;所述第一线偏光片的吸收轴与待测太阳眼镜功能片中的线偏光片的吸收轴相互垂直。
进一步地,所述第一玻璃基板的一侧端与所述第二玻璃基板的一侧端可转动的相连接。
进一步地,所述第一玻璃基板的一侧端通过转轴与所述第二玻璃基板可转动的相连接。
进一步地,所述第一玻璃基板和第二玻璃基板的另一侧端设置有将第一玻璃基板和第二玻璃基板进行可拆卸固定连接的锁固机构。
进一步地,所述锁固机构为卡扣结构。
进一步地,所述亮度测试器包括显示屏和亮度测试探头,所述亮度测试探 头与显示屏连接,所述显示屏设置于所述暗室箱体外,所述亮度测试探头设置于所述暗室箱体内。
进一步地,所述第一玻璃基板和第二玻璃基板之间的间隙为0.1-1mm,所述第一玻璃基板和第二玻璃基板的厚度不超过0.5mm,透过率接近100%。
进一步地,所述第一玻璃基板上设有第一水平对位线,以定位第一线偏光片,所述第二玻璃基板上设有第二水平对位线,以定位待测太阳眼镜功能片。
进一步地,所述光源的波长为380-780nm。
本发明还提供一种太阳眼镜功能片的质量检测方法,其采用上述质量检测装置,包括如下步骤:
S1. 校准:将第一线偏光片对准第一水平对位线贴附于第一玻璃基板下方,将太阳眼镜功能片标准品对准第二水平对位线贴附于第二玻璃基板上方,利用亮度测试器测试出标准亮度值L;其中所述太阳眼镜功能片标准品中,SRF膜的偏光轴与线偏光片的穿透轴夹角为45°;
S2.测试:使步骤S1中的第一线偏光片保持不动,移走太阳眼镜功能片验证样品,将待测太阳眼镜功能片对准第二水平对位线贴附于第二玻璃基板上方,利用亮度测试器测试出亮度值L1;将亮度L1与标准亮度值L对比,若亮度L1与标准亮度值L相差越小则证明太阳眼镜功能片的质量越好。
本发明具有如下有益效果:
本发明可以根据测试的亮度值检测太阳眼镜功能片的质量,且结构简单便于实现,可提高检测速度,提高检测的效率和准确率。
附图说明
图1为本发明的结构示意图。
图中:1、暗室箱体,2、亮度测试器,3、亮度测试探头,4、显示屏,5、第一玻璃基板,6、第二玻璃基板,7、第一线偏光片,8、待测太阳眼镜功能片,9、光源,10、转轴,11、卡扣结构。
具体实施方式
下面结合实施例对本发明进行详细的说明,实施例仅是本发明的优选实施方式,不是对本发明的限定。
一种太阳眼镜功能片的质量检测装置,所述太阳眼镜功能片包括贴附有SRF膜的线偏光片。
所述质量检测装置包括暗室箱体、亮度测试器、及检测机构。
本发明对暗室箱体的形状不作特别限定,作为举例,所述暗室箱体可以为方形,但不局限于此。
本发明对暗室箱体的照度不作特别限定,优选地,所述暗室箱体的照度小于5Lux。
所述亮度测试器包括显示屏和亮度测试探头,所述亮度测试探头与显示屏连接,所述亮度测试探头设置于所述暗室箱体内,所述显示屏设置于所述暗室箱体外。通过上述设置,方便亮度数据读取。
所述检测机构设于所述暗室箱体内,优选地,所述暗室箱体底部设有支撑架,所述检测机构设于支撑架上。
所述检测机构包括平行设置的第一玻璃基板和第二玻璃基板,测试时,所述第二玻璃基板与所述亮度测试器之间的距离固定,所述第一玻璃基板和第二玻璃基板之间的间隙为0.1-1mm,所述第一玻璃基板和第二玻璃基板的厚度不超过0.5mm,透过率接近100%。需要说明的是,透过率接近100%是指光学透过率为99.5%-100%。
所述第一玻璃基板下方设置有第一线偏光片,所述第二玻璃基板上方设置有待测太阳眼镜功能片,所述第一线偏光片的吸收轴与待测太阳眼镜功能片中的线偏光片的吸收轴相互垂直。优选地,所述第一线偏光片贴附在第一玻璃基板下方,所述待测太阳眼镜功能片贴附在第二玻璃基板上方。需要说明的是,在判定线偏光片的吸收轴角度时,待测太阳眼镜功能片中的线偏光片的粘面向下,第一线偏光片的粘面向上。
所述第二玻璃基板下方设置有光源,且所述光源与所述亮度测试器的亮度测试探头正相对。本发明中,所述光源的亮度固定,光源波长为380nm~780nm。
优选地,所述第一玻璃基板上设有第一水平对位线,以定位第一线偏光片,所述第二玻璃基板上设有第二水平对位线,以定位待测太阳眼镜功能片。优选地,所述第一水平对位线和第二水平对位线相互平行。通过上述设置,方便不同尺寸的偏光片对位。
本发明中,光源发出的光线经过待测太阳眼镜功能片中的线偏光片后变为线偏振光,线偏振光经过SRF膜时会转为椭圆偏振光;当太阳眼镜功能片中线偏光片的穿透轴与SRF膜的偏光轴的夹角为45°时,线偏振光经过SRF膜时会转为圆偏振光,此时再经过第一线偏光片透过率最高,经亮度测试器测试的亮度最高,若太阳眼镜功能片中线偏光片的穿透轴与SRF膜的偏光轴夹角与45°有偏差时,经亮度测试器测试的亮度相对降低,因此,本发明可以根据测试的亮度值检测太阳眼镜功能片的质量,且结构简单便于实现,可提高检测速度,提高检测的效率和准确率。
作为进一步改进,所述第一玻璃基板的一侧端与所述第二玻璃基板的一侧端可转动的相连接,优选地,转轴位于所述第一玻璃基板一侧端,所述第一玻璃基板的一侧端通过转轴与所述第二玻璃基板可转动的相连接,但不局限于此。通过上述设置,所述第一玻璃基板在收拢状态时贴靠在第二玻璃基板上,也可以使第一玻璃基板绕着转轴转动张开,使得第一玻璃基板倾斜与第二玻璃基板之间成一定角度,以方便更换第二玻璃基板上的待测太阳眼镜功能片。
作为进一步改进,所述第一玻璃基板和第二玻璃基板的另一侧端设置有将第一玻璃基板和第二玻璃基板进行可拆卸固定连接的锁固机构,优选地,所述锁固机构为卡扣结构,但不局限于此。通过上述设置,使得在测试时,检测机构与亮度测试器之间的距离固定,提高检测的准确率。
本发明的另一实施例中还提供一种太阳眼镜功能片的质量检测方法,其采用上述质量检测装置,包括如下步骤:
S1. 校准:将第一线偏光片对准第一水平对位线贴附于第一玻璃基板下方,将太阳眼镜功能片标准品对准第二水平对位线贴附于第二玻璃基板上方,利用亮度测试器测试出标准亮度值L;其中所述太阳眼镜功能片标准品中,SRF膜的偏光轴与线偏光片的穿透轴夹角为45°;
S2.测试:使步骤S1中的第一线偏光片保持不动,移走太阳眼镜功能片验证样品,将待测太阳眼镜功能片对准第二水平对位线贴附于第二玻璃基板上方,利用亮度测试器测试出亮度值L1;将亮度L1与标准亮度值L对比,若亮度L1与标准亮度值L相差越小,则证明太阳眼镜功能片中SRF膜与线偏光片的夹角越接近45°,太阳眼镜功能片的质量越好,反之则相反。
以上所述实施例仅表达了本发明的实施方式,其描述较为具体和详细,但并不能因此而理解为对本发明专利范围的限制,但凡采用等同替换或等效变换的形式所获得的技术方案,均应落在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种太阳眼镜功能片的质量检测装置,所述太阳眼镜功能片包括贴附有SRF膜的线偏光片,其特征在于,所述质量检测装置包括暗室箱体、亮度测试器、及检测机构,所述检测机构设于所述暗室箱体内,所述检测机构包括平行设置的第一玻璃基板和第二玻璃基板,所述第一玻璃基板下方设置有第一线偏光片,所述第二玻璃基板上方设置有待测太阳眼镜功能片;所述第二玻璃基板下方设置有光源,且所述光源与所述亮度测试器的亮度测试探头正相对;所述第一线偏光片的吸收轴与待测太阳眼镜功能片中的线偏光片的吸收轴相互垂直。
2.如权利要求1所述的质量检测装置,其特征在于,所述第一玻璃基板的一侧端与所述第二玻璃基板的一侧端可转动的相连接。
3.如权利要求2所述的质量检测装置,其特征在于,所述第一玻璃基板的一侧端通过转轴与所述第二玻璃基板可转动的相连接。
4.如权利要求2所述的质量检测装置,其特征在于,所述第一玻璃基板和第二玻璃基板的另一侧端设置有将第一玻璃基板和第二玻璃基板进行可拆卸固定连接的锁固机构。
5.如权利要求4所述的质量检测装置,其特征在于,所述锁固机构为卡扣结构。
6.如权利要求1所述的质量检测装置,其特征在于,所述亮度测试器包括显示屏和亮度测试探头,所述亮度测试探 头与显示屏连接,所述显示屏设置于所述暗室箱体外,所述亮度测试探头设置于所述暗室箱体内。
7.如权利要求1所述的质量检测装置,其特征在于,所述第一玻璃基板和第二玻璃基板之间的间隙为0.1-1mm,所述第一玻璃基板和第二玻璃基板的厚度不超过0.5mm,透过率接近100%。
8.如权利要求1所述的质量检测装置,其特征在于,所述第一玻璃基板上设有第一水平对位线,以定位第一线偏光片,所述第二玻璃基板上设有第二水平对位线,以定位待测太阳眼镜功能片。
9.如权利要求1所述的质量检测装置,其特征在于,所述光源的波长为380-780nm。
10.一种太阳眼镜功能片的质量检测方法,其采用权利要求1-9任一项所述质量检测装置,包括如下步骤:
S1. 校准:将第一线偏光片对准第一水平对位线贴附于第一玻璃基板下方,将太阳眼镜功能片标准品对准第二水平对位线贴附于第二玻璃基板上方,利用亮度测试器测试出标准亮度值L;其中所述太阳眼镜功能片标准品中,SRF膜的偏光轴与线偏光片的穿透轴夹角为45°;
S2.测试:使步骤S1中的第一线偏光片保持不动,移走太阳眼镜功能片验证样品,将待测太阳眼镜功能片对准第二水平对位线贴附于第二玻璃基板上方,利用亮度测试器测试出亮度值L1;将亮度L1与标准亮度值L对比,若亮度L1与标准亮度值L相差越小则证明太阳眼镜功能片的质量越好。
CN201810009292.3A 2018-01-05 2018-01-05 一种太阳眼镜功能片的质量检测装置及检测方法 Active CN108195567B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201810009292.3A CN108195567B (zh) 2018-01-05 2018-01-05 一种太阳眼镜功能片的质量检测装置及检测方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201810009292.3A CN108195567B (zh) 2018-01-05 2018-01-05 一种太阳眼镜功能片的质量检测装置及检测方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN108195567A true CN108195567A (zh) 2018-06-22
CN108195567B CN108195567B (zh) 2019-11-08

Family

ID=62588383

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201810009292.3A Active CN108195567B (zh) 2018-01-05 2018-01-05 一种太阳眼镜功能片的质量检测装置及检测方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN108195567B (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109187577A (zh) * 2018-08-29 2019-01-11 深圳市盛波光电科技有限公司 一种偏光片隐性缺陷光线检测装置及方法

Citations (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101201491A (zh) * 2007-12-20 2008-06-18 友达光电股份有限公司 具检测功能的偏光片贴附方法及系统
CN201188053Y (zh) * 2007-12-21 2009-01-28 康博丽贸易(上海)有限公司 偏光测试仪
CN101369059A (zh) * 2007-08-13 2009-02-18 中华映管股份有限公司 检测装置及检测方法
CN101629871A (zh) * 2009-08-07 2010-01-20 苏州达信科技电子有限公司 偏光片检测装置及方法
CN101806966A (zh) * 2010-03-31 2010-08-18 苏州达信科技电子有限公司 检测装置及检测方法
CN102589845A (zh) * 2012-02-24 2012-07-18 明基材料有限公司 偏光片的检测方法
CN103697836A (zh) * 2013-12-19 2014-04-02 合肥京东方光电科技有限公司 偏光片的轴角测定装置
CN204694640U (zh) * 2015-06-10 2015-10-07 深圳技师学院 多功能珠宝首饰检测工作台
CN105136821A (zh) * 2015-08-21 2015-12-09 深圳大学 一种用于检测偏光片内部缺陷的成像仿真方法及其系统
CN105157580A (zh) * 2015-08-06 2015-12-16 武汉华星光电技术有限公司 一种偏光片尺寸的检测方法及装置
CN205484115U (zh) * 2016-01-04 2016-08-17 北京京东方显示技术有限公司 一种偏光片的检测装置
CN107179124A (zh) * 2017-06-19 2017-09-19 奇华光电(昆山)股份有限公司 一种el测试机构

Patent Citations (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101369059A (zh) * 2007-08-13 2009-02-18 中华映管股份有限公司 检测装置及检测方法
CN101201491A (zh) * 2007-12-20 2008-06-18 友达光电股份有限公司 具检测功能的偏光片贴附方法及系统
CN201188053Y (zh) * 2007-12-21 2009-01-28 康博丽贸易(上海)有限公司 偏光测试仪
CN101629871A (zh) * 2009-08-07 2010-01-20 苏州达信科技电子有限公司 偏光片检测装置及方法
CN101806966A (zh) * 2010-03-31 2010-08-18 苏州达信科技电子有限公司 检测装置及检测方法
CN102589845A (zh) * 2012-02-24 2012-07-18 明基材料有限公司 偏光片的检测方法
CN103697836A (zh) * 2013-12-19 2014-04-02 合肥京东方光电科技有限公司 偏光片的轴角测定装置
CN204694640U (zh) * 2015-06-10 2015-10-07 深圳技师学院 多功能珠宝首饰检测工作台
CN105157580A (zh) * 2015-08-06 2015-12-16 武汉华星光电技术有限公司 一种偏光片尺寸的检测方法及装置
CN105136821A (zh) * 2015-08-21 2015-12-09 深圳大学 一种用于检测偏光片内部缺陷的成像仿真方法及其系统
CN205484115U (zh) * 2016-01-04 2016-08-17 北京京东方显示技术有限公司 一种偏光片的检测装置
CN107179124A (zh) * 2017-06-19 2017-09-19 奇华光电(昆山)股份有限公司 一种el测试机构

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109187577A (zh) * 2018-08-29 2019-01-11 深圳市盛波光电科技有限公司 一种偏光片隐性缺陷光线检测装置及方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN108195567B (zh) 2019-11-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4628824B2 (ja) フイルムの欠陥検査装置及びフイルムの製造方法
JP4921090B2 (ja) 光学異方性パラメータ測定方法及び測定装置
CN101086483A (zh) 用于检查膜缺陷的设备和方法
WO2011122185A1 (ja) 樹脂被膜付き鋼板の表面検査方法及びその表面検査装置
US20150377708A1 (en) Optical system and array substrate detecting device
KR20160052592A (ko) 광학 이방성의 파라미터들을 측정하기 위한 방법 및 장치
JP2006226995A (ja) 光学的異方性パラメータ測定方法及び測定装置
CN108195567B (zh) 一种太阳眼镜功能片的质量检测装置及检测方法
TWI757776B (zh) 相位差薄膜的配向不均缺陷檢出方法及配向不均缺陷檢出裝置
CN105021130A (zh) 一种石英晶片尺寸的测量方法
JP2001059795A (ja) 欠陥検査装置
TW201736829A (zh) 用於檢查偏光板之方法及裝置
CN106154593B (zh) 异向性量测系统、异向性量测方法及其校正方法
CN108776399B (zh) 偏光片的吸收轴的量测装置及量测方法
EP3881041A1 (en) System and methods for automated evaluation of glass-based substrates for birefringence defects
CN111650766B (zh) 一种液晶显示麻点失效的检测方法
KR101367922B1 (ko) 높은 반사 및 투과 효율과 투과광의 위상 지연을 이용하여기판을 검사하는 방법 및 장치
JPH08201276A (ja) 分子配向角測定装置
CN109282969A (zh) 偏光度的测量方法
KR100663540B1 (ko) Lcd 패널을 자동으로 교정하기 위한 장치 및 방법
JPS63269045A (ja) 画像処理式複屈折率計
JP2014157108A (ja) 偏光解消効果を評価するための偏光解析装置
CN105158938A (zh) 液晶显示器用偏光片的选取方法
JP3142804B2 (ja) 2次元液晶セルパラメータ検出方法及び装置
TWI245892B (en) Device for checking optical film

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant