CN101629871A - 偏光片检测装置及方法 - Google Patents

Abstract

偏光片检测装置及方法，该检测装置包括：一透明量测平台，用以承载一待测偏光片；滚轮，用以剥离该待测偏光片最上层的部份保护膜；光源，用以提供一检测光至该待测偏光片其保护膜被剥离的部份；以及分析单元，用以取得该待测偏光片的光学信息。本发明不需要破坏偏光片本身，并可以在线进行全面检查，大大降低生产成本及精确控制产品质量。

Description

偏光片检测装置及方法

技术领域

本发明关于一种偏光片检测装置及方法，特别关于一种非破坏性偏光片检测装置及方法。

背景技术

液晶显示器(Liquid Crystal Display，LCD)由于利用液晶的双折射性，需使用偏光片以调节入射到液晶分子的光振动方向。偏光片具有使在复数个方向振动的同时入射的自然光变成只在一个方向上振动的机能，其种类有碘系、染料系、相位差、半透射(semi-transmissive)及反射型等的偏光膜。其中，碘系偏光膜在制作具有高透射及高偏光特性的高精细LCD用偏光膜时，是将碘应用在透明的PVA(Poly Vinyl Alcohol)膜中而变成可以吸收可见光区域的光。

请参照图1，其显示一偏光片结构，一般来说，该偏光片共具有五层，由上而下依序为保护膜1、第一TAC(tri acetyl cellulose)膜2、PVA膜3、第二TAC膜4、及离型膜5。由于偏光片在贴附至面板时，会去除保护膜及离型膜。因此在量测偏光片的吸收轴时，一般会将保护膜及离型膜去除。

传统的偏光片量测方法为破坏性抽样量测，首先从量产品抽样几批偏光片，再裁切成较小片的量测片，将保护膜及离型膜剥离，再将其摆上光学量测平台上，利用光源制造出不同方向的线偏光，经过偏光片后，其中与偏光片吸收轴方向平行的线偏光，将会被吸收，最后再利用分析器检测其方向，可得知偏光片的吸收轴。

传统偏光片量测方法的缺点在于必须破坏偏光片本身的结构(完全剥离保护膜及离型膜)，且无法在线检验，无法全面控管出货质量。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的是提供一偏光片检测装置及方法，不需要破坏偏光片本身，并可以在线进行全面检查，大大降低生产成本及精确控制产品质量。

为达成本发明的目的，该偏光片检测装置，可包括：一透明量测平台，用以承载一待测偏光片；滚轮，用以剥离该待测偏光片最上层的部分保护膜；一光源，用以提供一检测光至该待测偏光片其保护膜被剥离的部份；以及，一分析单元，用以取得该待测偏光片的光学信息。

根据本发明一较佳实施例，该偏光片检测装置可更包含：吸附盘，用以将该待测偏光片传送至该透明量测平台，以及，自动补偿系统，用以提供一偏光片偏斜角度至该分析单元，达到自动补偿效果。

此外，本发明还提供一种偏光片检测方法，可包括：将一待测偏光片传送至一透明量测平台；利用滚轮剥离该待测偏光片最上层的部分保护膜；利用光源提供一检测光至该待测偏光片其保护膜被剥离的部份；以及，利用分析单元取得该待测偏光片的光学信息。

根据本发明一较佳实施例，本发明所述的偏光片检测方法，当量测取得光学信息后，可更利用一自动补偿系统量测该待测偏光片，提供一偏光片偏斜角度至该分析单元，达到自动补偿效果。

为使本发明的上述目的、特征能更明显易懂，下文特举实施例，并配合附图，作详细说明如下：

附图说明

图1显示一习知偏光片的组成结构。

图2为本发明一较佳实施例所述的偏光片检测装置的示意图。

图3为本发明一较佳实施例所述的偏光片检测方法的流程图。

图4a-图4e为一系列的示意图，用以说明如何利用本发明所述的偏光片检测装置对一偏光片进行检测。

图5为本发明一较佳实施例所述的具有自动补偿系统的偏光片检测装置的示意图。

具体实施方式

请参阅图2，其显示符合本发明所述的偏光片检测装置100的一实施例其装置示意图。该偏光片检测装置，包括：

一透明量测平台10，该透明量测平台10用以承载一待测偏光片。该透明量测平台10由透光材质所构成，因此当后续使用一光源40提供一检测光至该待测偏光片时，检测光可穿过该透明量测平台10并传送光学信息至一分析单元50。此外，该透明量测平台10可具有真空吸附或静电吸附的功能，以固定该待测偏光片。

吸附盘20，该吸附盘20用来将该待测偏光片由一放置平台传送至该透明量测平台10上。该吸附盘20可具有真空吸附或静电吸附的功能，以吸取该待测偏光片，待传送至该透明量测平台10后，再解除吸附功能。

滚轮30，该滚轮30配置于该透明量测平台10之上，用来将该待测偏光片最上层的保护膜的一部份，暂时剥离该待测偏光片，使得后续光源40所提供的检测光，直接照射在该待测偏光片的第一TAC(tri acetyl cellulose)膜上，避免量测所得的光学信息受到保护膜干扰。其中，该滚轮30以一静电力或一黏力，使该保护膜部份剥离该待测偏光片。

光源40，该光源40配置于该透明量测平台10的上方，用来提供一检测光至该待测偏光片(保护膜被剥离的部份)。其中，该光源40可制造出不同方向的线偏光。

分析单元50，该分析单元50配置于该透明量测平台10的下方并对应于该光源40，用以接收并取得该待测偏光片的光学信息，例如偏光片吸收轴。

自动补偿系统60，该自动补偿系统60配置于该透明量测平台10的上方，包含第一光学扫描单元61及第二光学扫描单元62，该两光学扫描单元间相隔一距离d。藉由该第一光学扫描单元61及第二光学扫描单元62，该自动补偿系统60可计算出一偏光片偏斜角度(θ)，并将该偏光片偏斜角度(θ)传至该分析单元，可达到自动补偿的效果。

请参照图3，其为本发明所述的偏光片检测方法的流程图。

以下列举一实施例并配合图示，用以详细说明符合本发明所述的偏光片检测装置所进行的偏光片检测的方法。

首先，请参照图4a，将偏光片检测装置的吸附盘20移至放置一待测偏光片15的放置平台11上，接着，再以该吸附盘20吸附该待测偏光片15，请参照图4b。

接着，请参照图4c，将偏光片检测装置的吸附盘20移至透明量测平台10，并解除吸附盘20吸附能力，将待测偏光片15放置于该透明量测平台10上。接着，请参照图4d，在吸附盘20归位后，将滚轮30置于待测偏光片15的一端，并往透明量测平台10内侧滚动，以将待测偏光片15其最上层的保护膜17部份剥离待测偏光片15。接着，利用该光源40将一检测光45照射至偏光片15其保护膜17被剥离的部份，并利用该分析单元50取得该待测偏光片的光学信息55。

量测完毕后，将滚轮30往透明量测平台10的外侧滚动，让部份剥离的保护膜17黏覆至该偏光片15，请参照图4e。值得注意的是，经由上述检测过程后，该偏光片15本身的结构并未被破坏，可再藉由吸附盘20传送至其它的置片区域。

在上述检测流程中，为了使偏光片15可以定位在透明量测平台10上，而不受偏光片摆放歪斜造成偏光片吸收轴量测上的误差，在本发明一较佳实施例中，可利用一自动补偿系统60对所测得的光学信息进行自动补偿，请参照图5。该自动补偿系统60包含第一光学扫描单元61及第二光学扫描单元62，可以判读出高低差。首先，固定该第一及第二光学扫描单元61及62间的距离d，并利用该第一及第二光学扫描单元61及62扫描出歪斜的偏光片15与透明量测平台端12的距离a及b，并依据以下三角函数公式(i)及(ii)算出边长c及偏光片偏斜角度θ，提供至分析单元，即可达到自动补偿的效果。

$C=\frac{\mathrm{ad}}{b-a}$ $\mathrm{\θ}={\tan }^{-1}\left(\frac{b}{c+d}\right)$

公式(i)                公式(ii)

综合上述，本发明所提供的偏光片检测装置及方法，不需要破坏偏光片本身，并可以在线进行全面检查，大大降低生产成本及精确控制产品质量。

Claims (14)

1.一种偏光片检测装置，其特征在于包括：

一透明量测平台，用以承载一待测偏光片；

滚轮，用以剥离该待测偏光片最上层的部份保护膜；

光源，用以提供一检测光至该待测偏光片其保护膜被剥离的部份；以及分析单元，用以取得该待测偏光片的光学信息。

2.如权利要求1所述的偏光片检测装置，其特征在于进一步包含：

吸附盘，用以将该待测偏光片传送至该透明量测平台。

3.如权利要求1所述的偏光片检测装置，其特征在于进一步包含：

自动补偿系统，用以提供一偏光片偏斜角度至该分析单元，达到自动补偿效果。

4.如权利要求3所述的偏光片检测装置，其特征在于该自动补偿系统包含第一光学扫描单元及第二光学扫描单元。

5.如权利要求1所述的偏光片检测装置，其特征在于该透明量测平台以真空吸附方式固定该待测偏光片；或者，该透明量测平台以静电吸附方式固定该待测偏光片。

6.如权利要求1所述的偏光片检测装置，其特征在于该光学信息包括偏光片吸收轴。

7.如权利要求1所述的偏光片检测装置，其特征在于该滚轮以一静电力或一黏力，使该保护膜部份剥离该待测偏光片。

8.一种偏光片检测方法，其特征在于包括：

将一待测偏光片传送至一透明量测平台；

利用一滚轮剥离该待测偏光片最上层的部份保护膜；

利用一光源提供一检测光至该待测偏光片其保护膜被剥离的部份；以及

利用一分析单元取得该待测偏光片的光学信息。

9.如权利要求8所述的偏光片检测方法，其特征在于该待测偏光片利用一吸附盘传送至该透明量测平台。

10.如权利要求8所述的偏光片检测方法，其特征在于该透明量测平台以真空吸附方式固定该待测偏光片；或者，该透明量测平台以静电吸附方式固定该待测偏光片。

11.如权利要求8所述的偏光片检测方法，其特征在于该光学信息包括偏光片吸收轴。

12.如权利要求8所述的偏光片检测方法，其特征在于该滚轮以一静电力或一黏力，使该保护膜部份剥离该待测偏光片。

13.如权利要求8所述的偏光片检测方法，其特征在于进一步包含：

利用一自动补偿系统量测该待测偏光片，提供一偏光片偏斜角度至该分析单元，达到自动补偿效果。

14.如权利要求13所述的偏光片检测方法，其特征在于该自动补偿系统包含一第一光学扫描单元及一第二光学扫描单元。

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