JPS63269045A - 画像処理式複屈折率計 - Google Patents
画像処理式複屈折率計Info
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- JPS63269045A JPS63269045A JP10377287A JP10377287A JPS63269045A JP S63269045 A JPS63269045 A JP S63269045A JP 10377287 A JP10377287 A JP 10377287A JP 10377287 A JP10377287 A JP 10377287A JP S63269045 A JPS63269045 A JP S63269045A
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Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は被測定試料の全面にわたる歪を同時に求めるこ
とができる画像処理式複屈折重訂に関する。
とができる画像処理式複屈折重訂に関する。
方解石を始めとして結晶や分子鎖が配列する透光物質の
ほとんどにおいて、入射光はその物質内で二つの屈折光
となり複屈折を起こす。これを利用して近年高分子材料
の歪を測定する測定技術が開発されている。
ほとんどにおいて、入射光はその物質内で二つの屈折光
となり複屈折を起こす。これを利用して近年高分子材料
の歪を測定する測定技術が開発されている。
従来の複屈折の測定は、第６図に示すように構成されて
いた。測定光１００としては、光源１０１を出た光を偏
光子１０２と１，１４波長板１０３を通して円偏光させ
たものを使用する。従来の複屈折の測定方法はこの測定
用光１００を固定した被測定試料１０４を透過させ、透
過した光をｆｉ工秒３０回程度で回転させた検光子１０
５を介して光′１ｕ子倍増管などの光検知器１０６で検
出し、この検出１３号のフーリエ解析を行なって楕円率
を求め、複屈折の最大値や符号を求めるものであった。
いた。測定光１００としては、光源１０１を出た光を偏
光子１０２と１，１４波長板１０３を通して円偏光させ
たものを使用する。従来の複屈折の測定方法はこの測定
用光１００を固定した被測定試料１０４を透過させ、透
過した光をｆｉ工秒３０回程度で回転させた検光子１０
５を介して光′１ｕ子倍増管などの光検知器１０６で検
出し、この検出１３号のフーリエ解析を行なって楕円率
を求め、複屈折の最大値や符号を求めるものであった。
さらに光源として）ｌｅ Ｎｃレーザビーム、半導体
レーザビームによってφ１■１〜２．５ＩＩＩ程度のス
ポットの複屈折を測定する装置が一般的であった。
レーザビームによってφ１■１〜２．５ＩＩＩ程度のス
ポットの複屈折を測定する装置が一般的であった。
しかしながら、上記従来の複屈折の測定方法では、測定
領域が上記のようにスポットである外に複屈折の最大値
や符号からは、分子鎖の主軸の配向角やその符号が被測
定試料上でどの方向に対応するかなど、分子配向情報を
求めることは全く不可能であった。近年、光ディスク等
の高分子基板などの歪みを論する場合には、広い面積の
複屈折即ち歪状態の分布情報を得ることが不可欠であり
、これに対応し得る従来技術がないことが大きな問題点
となっていた。
領域が上記のようにスポットである外に複屈折の最大値
や符号からは、分子鎖の主軸の配向角やその符号が被測
定試料上でどの方向に対応するかなど、分子配向情報を
求めることは全く不可能であった。近年、光ディスク等
の高分子基板などの歪みを論する場合には、広い面積の
複屈折即ち歪状態の分布情報を得ることが不可欠であり
、これに対応し得る従来技術がないことが大きな問題点
となっていた。
Ｃ問題点を解決するための手段〕
本発明は前記問題点を解決するためになされたもので、
被測定試料の所定面に均一な照度を与える手段と、前記
被測定試料の前後に設けたニコル態様の偏光子と検光子
とを光軸の直交面において回転させる手段と、この回転
角の関数として求めた被測定資料全面の複屈折情報を捉
えるビデオカメラと、このビデオカメラ信号の画像処理
手段の出力信号における偏光ニコルの回転の明るさが回
転前の明るさを基準とし、回転前より明るい場合には回
転前の明るさのデータを訂正する演算手段と、この演算
した明暗データを表示する手段とで構成したものである
。
被測定試料の所定面に均一な照度を与える手段と、前記
被測定試料の前後に設けたニコル態様の偏光子と検光子
とを光軸の直交面において回転させる手段と、この回転
角の関数として求めた被測定資料全面の複屈折情報を捉
えるビデオカメラと、このビデオカメラ信号の画像処理
手段の出力信号における偏光ニコルの回転の明るさが回
転前の明るさを基準とし、回転前より明るい場合には回
転前の明るさのデータを訂正する演算手段と、この演算
した明暗データを表示する手段とで構成したものである
。
上記構成によって、本発明は、被測定試料全面にわたっ
て投射される均一な照度によって生じる複屈折すなわち
歪を、ビデオカメラによって捉え、画像処理装置によっ
てディジタル信号化し、上記ビデオカメラ上の各走査画
素についての歪を直交ニコル態様の偏光子と検光子との
被測定試料に対する回転角の関数として求め、前記画像
処理装置の出力信号における偏光ニコルの回転後の明る
さが回転前の明るさを基準とし、回転前より明るい場合
には、回転前の明るさのデータを演算手段が訂正し、こ
の訂正されたデータをＣＲＴに濃淡またはカラー別とし
て表示する。
て投射される均一な照度によって生じる複屈折すなわち
歪を、ビデオカメラによって捉え、画像処理装置によっ
てディジタル信号化し、上記ビデオカメラ上の各走査画
素についての歪を直交ニコル態様の偏光子と検光子との
被測定試料に対する回転角の関数として求め、前記画像
処理装置の出力信号における偏光ニコルの回転後の明る
さが回転前の明るさを基準とし、回転前より明るい場合
には、回転前の明るさのデータを演算手段が訂正し、こ
の訂正されたデータをＣＲＴに濃淡またはカラー別とし
て表示する。
以下、本発明の一実施例を説明するが、これに先立って
、本発明の詳細な説明する。
、本発明の詳細な説明する。
ガラスのような等質等方な透明体に歪あるいは応力を生
じると、光学的に異方体を呈するようになり、結晶体と
同様に複屈折の現象が生じる。
じると、光学的に異方体を呈するようになり、結晶体と
同様に複屈折の現象が生じる。
これは主として塩化ビニールを材料としてプレス成形さ
れているビデオディスク等のプラスチックスのような高
分子物質にも広く認められる。
れているビデオディスク等のプラスチックスのような高
分子物質にも広く認められる。
この際、光学的性質と応力状態との関係は次のようにな
る。
る。
第１図に示すように二枚の偏光板即ち偏光子７と検光子
９を直交ニコルの状態にし、その間に光学的異方体の物
質８を入れ、上記直交ニコルを回転させると一般に明る
くなったり暗くなったりして見える。
９を直交ニコルの状態にし、その間に光学的異方体の物
質８を入れ、上記直交ニコルを回転させると一般に明る
くなったり暗くなったりして見える。
これは試料８の複屈折による楕円偏光の偏光状態が直交
ニコルの回転と共に変化するためである。
ニコルの回転と共に変化するためである。
全試料の進相軸（ｆ−ｆ’）、遅相軸（ｓ−ｓ ’ ）
に対して第２図の様に直線偏光成分し−ｐ’）がθなる
角度で入射したとすると検光子９を通過して眼に達する
光の強度は次の式で与えられる。
に対して第２図の様に直線偏光成分し−ｐ’）がθなる
角度で入射したとすると検光子９を通過して眼に達する
光の強度は次の式で与えられる。
Ａ：入射直線偏光の振幅
λ：入射直線偏光の波長
ｄ：試料の厚み
ｎｆ：進相軸方向屈折率
ｎＳ：遅相軸方向屈折率
試料の複屈折Δｎｄ （ｎｍ）は上式のｔｔ −ｄ（ｎ
ｆ−ｎｓ）／λにあたり、これを数値として求めるため
にはＡ２．θを求める必要がある。これを求めるために
、次の手順を踏まなければならない。
ｆ−ｎｓ）／λにあたり、これを数値として求めるため
にはＡ２．θを求める必要がある。これを求めるために
、次の手順を踏まなければならない。
■ 試料８を挿入する以前に検光子９．偏光子７を平行
にし、Ａ２に相当する光強度Ｉ。を求める。
にし、Ａ２に相当する光強度Ｉ。を求める。
■ 試料８を挿入し、偏光子７．検光子９を直交ニコル
の状態にして、この直交ニコルを回転させながら最大に
なる光強度（１，、Ｘ）を求める。
の状態にして、この直交ニコルを回転させながら最大に
なる光強度（１，、Ｘ）を求める。
■ 理論的に■□、になるのは前弐のθ＝４５゜となる
場合であり、■■で測定した■。、■イ、Ｘ及び前式よ
り となる。
場合であり、■■で測定した■。、■イ、Ｘ及び前式よ
り となる。
■ また進相軸（ｆ−ｆ ”）及び遅相軸（ｓ−ｓ ’
）の方向はＩ□８を記録した時の偏光子及び検光子よ
り４５°の角度をなしている。
）の方向はＩ□８を記録した時の偏光子及び検光子よ
り４５°の角度をなしている。
■ 本発明装置は上記■〜■の操作を、被測定試料ディ
スク全面にわたって照射させた平行光源と、ビデオカメ
ラと、画像処理装置と、マイコンを用いて第３図に示す
ようにＣＲＴ１９上に歪状態を等高純として表示を一度
に行なうものである。
スク全面にわたって照射させた平行光源と、ビデオカメ
ラと、画像処理装置と、マイコンを用いて第３図に示す
ようにＣＲＴ１９上に歪状態を等高純として表示を一度
に行なうものである。
第４図は本発明を実施した複屈折測定装置のブロック構
成図である。
成図である。
光源としてハロゲンランプあるいはキセノンランプ等の
単色光を使用し、光源１の背後に楕円鏡２を設置し、一
方向に反射させた光をミキサーレンズ３を通って折り返
し鏡４により一定方向に光を曲げ、次に凸レンズ５によ
り平行光にした後、凸レンズ５前方に設置した拡散板６
としての例えばスリガラスによって均一な照度になった
光を第１ニコル偏光子７例えばダイクロツクを通して一
方向に偏光させた光を被測定試料８の所定面に与え、試
料８を通過した光が次に前記偏光板と直交した第２ニコ
ル検光子９を通過せしめる。なお、偏光板は回転機構１
０により光軸の直交面において回転可能に組立てられて
いる。
単色光を使用し、光源１の背後に楕円鏡２を設置し、一
方向に反射させた光をミキサーレンズ３を通って折り返
し鏡４により一定方向に光を曲げ、次に凸レンズ５によ
り平行光にした後、凸レンズ５前方に設置した拡散板６
としての例えばスリガラスによって均一な照度になった
光を第１ニコル偏光子７例えばダイクロツクを通して一
方向に偏光させた光を被測定試料８の所定面に与え、試
料８を通過した光が次に前記偏光板と直交した第２ニコ
ル検光子９を通過せしめる。なお、偏光板は回転機構１
０により光軸の直交面において回転可能に組立てられて
いる。
検光子９を通過した光は広角レンズ１１によりビデオカ
メラ１２に集光される。１４はビデオカメラ１２で捉え
た被測定試料８における全面の複屈折光の情報をディジ
タル化する画像処理装置であり、マイコン１５はＣＰＵ
１６．メモリ１７゜入出力装置１８を含み、入出力装置
１８は画像処理装置１４の出力端、偏光板の回転機構１
０の端子、ＣＲＴ１９の端子と接続される。なお、１３
はビデオカメラ１２のモニタ用受像器である。
メラ１２に集光される。１４はビデオカメラ１２で捉え
た被測定試料８における全面の複屈折光の情報をディジ
タル化する画像処理装置であり、マイコン１５はＣＰＵ
１６．メモリ１７゜入出力装置１８を含み、入出力装置
１８は画像処理装置１４の出力端、偏光板の回転機構１
０の端子、ＣＲＴ１９の端子と接続される。なお、１３
はビデオカメラ１２のモニタ用受像器である。
次に実施例の作用を説明する。その際のフローチャート
を第５図に示す。
を第５図に示す。
（１） 偏光子７と検光市９を平行にしてＡ２に相当
する光の強さをディジタル化してマイコン１５のメモリ
１７ａに記憶させる。
する光の強さをディジタル化してマイコン１５のメモリ
１７ａに記憶させる。
（２）試料をセットして偏光子７と検光子９とを垂直に
し、初期画面１の濃度をマイコン１５のメモリ１７ｂに
、また回転角度をメモリ１７Ｃに記憶する。
し、初期画面１の濃度をマイコン１５のメモリ１７ｂに
、また回転角度をメモリ１７Ｃに記憶する。
（３）直交ニコル態様の偏光子７と検光子９とを光軸の
直交面において５°回転させ、各走査点の明るさを初期
画面１の信号を訂正してマイコン１５メモリ１７ｄに記
憶すると同時に、その時の角度即ち５°をマイコン１５
のメモリ１７ｃに代入する。
直交面において５°回転させ、各走査点の明るさを初期
画面１の信号を訂正してマイコン１５メモリ１７ｄに記
憶すると同時に、その時の角度即ち５°をマイコン１５
のメモリ１７ｃに代入する。
（４） （３１項で述べた動作を３５５°となるまで
繰返す。
繰返す。
以上により、本発明は直交ニコル態様の偏光子と検光子
とを回転し、その回転角の関数として被測定試料全面の
複屈折の大きさと符号を測定し、その大きさと符号を含
めて回転角を変数とした濃淡画像の表示を行う。複屈折
の大きさは回転角に対して歪の方向ないし分子鎖の主軸
方向およびその直角方向を示すような変化をし、その符
号は被測定試料上の方向に対応して表示される。
とを回転し、その回転角の関数として被測定試料全面の
複屈折の大きさと符号を測定し、その大きさと符号を含
めて回転角を変数とした濃淡画像の表示を行う。複屈折
の大きさは回転角に対して歪の方向ないし分子鎖の主軸
方向およびその直角方向を示すような変化をし、その符
号は被測定試料上の方向に対応して表示される。
従って、歪の方向や分子鎖の主軸方向が被測定試料面上
でどの方向となっているかと言った情報がマイコン１５
の測定アルゴリズムに従って演算され、ＣＲＴ１９の画
面に濃度の等高純として表示されるので、直ちに被測定
材料としてのディスク面等の歪を求めることができる。
でどの方向となっているかと言った情報がマイコン１５
の測定アルゴリズムに従って演算され、ＣＲＴ１９の画
面に濃度の等高純として表示されるので、直ちに被測定
材料としてのディスク面等の歪を求めることができる。
又表示はハード・コピー等によりプリントアウトも可能
である。
である。
なお、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、
本発明の主旨に沿って種々の応用と実施態様を取り得る
ものである。
本発明の主旨に沿って種々の応用と実施態様を取り得る
ものである。
以上述べたように本発明によれば次の効果を奏する。
（１）大面積の単光平行光を用い被測定物面に与え、所
定面積全体の情報をビデオカメラ等で捉え、画像処理装
置を介してマイコン等で演算処理して、被測定物の所定
面の全体にわたって複屈折即ち歪を同時に測定・表示す
ることが可能になった。
定面積全体の情報をビデオカメラ等で捉え、画像処理装
置を介してマイコン等で演算処理して、被測定物の所定
面の全体にわたって複屈折即ち歪を同時に測定・表示す
ることが可能になった。
（２）光ディスクのプレス製造時において、材料のブレ
ンド化や型に流すときのスピード等の歪要因となるパラ
メータを、測定結果を見ながら最適に調整することが可
能となり、品質の向上と歩止り率の向上が図れる。
ンド化や型に流すときのスピード等の歪要因となるパラ
メータを、測定結果を見ながら最適に調整することが可
能となり、品質の向上と歩止り率の向上が図れる。
第１図ないし第３図は本発明の測定原理の説明用図、第
４図は本発明実施例のブロック構成図、第５図は本実施
例のフローチャート図、第６図は従来方式の構成説明図
である。 １・・・光源 ５・・・凸レンズ７・・・
偏光子 ８・・・試料９・・・検光子
１２・・・テレビカメラ１３・・・白黒カメラ
１４・・・画像処理装置１５・・・マイコン
１９・・・ディスプレイ特許出願人 株式会社 オ
ーク製作所第１図 第２図
４図は本発明実施例のブロック構成図、第５図は本実施
例のフローチャート図、第６図は従来方式の構成説明図
である。 １・・・光源 ５・・・凸レンズ７・・・
偏光子 ８・・・試料９・・・検光子
１２・・・テレビカメラ１３・・・白黒カメラ
１４・・・画像処理装置１５・・・マイコン
１９・・・ディスプレイ特許出願人 株式会社 オ
ーク製作所第１図 第２図
Claims (1)
- 被測定試料の所定面に均一な照度を与える手段と、前記
被測定試料の前後に設けたニコル態様の偏光子と検光子
とを光軸の直交面において回転させる手段と、この回転
角の関数として求めた被測定資料全面の複屈折情報を捉
えるビデオカメラと、このビデオカメラ信号の画像処理
手段の出力信号における偏光ニコルの回転の明るさが回
転前の明るさを基準とし、回転前より明るい場合には回
転前の明るさのデータを訂正する演算手段と、この演算
した明暗データを表示する手段とで構成することを特徴
とする画像処理式複屈折率計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10377287A JPS63269045A (ja) | 1987-04-27 | 1987-04-27 | 画像処理式複屈折率計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10377287A JPS63269045A (ja) | 1987-04-27 | 1987-04-27 | 画像処理式複屈折率計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63269045A true JPS63269045A (ja) | 1988-11-07 |
Family
ID=14362744
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10377287A Pending JPS63269045A (ja) | 1987-04-27 | 1987-04-27 | 画像処理式複屈折率計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63269045A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02213752A (ja) * | 1989-02-15 | 1990-08-24 | Nippon Steel Corp | 光学的異方性物質の組織の測定方法 |
| US5257092A (en) * | 1990-06-27 | 1993-10-26 | Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha | Apparatus for measuring polarization and birefringence |
| JP2004219451A (ja) * | 2003-01-09 | 2004-08-05 | National Institute Of Information & Communication Technology | 偏光可変板 |
| JP2020026989A (ja) * | 2018-08-10 | 2020-02-20 | Ｊｆｅエンジニアリング株式会社 | 異常検出方法 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58115993A (ja) * | 1981-12-29 | 1983-07-09 | Eisaku Umezaki | 光弾性縞の画像解析 |
-
1987
- 1987-04-27 JP JP10377287A patent/JPS63269045A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58115993A (ja) * | 1981-12-29 | 1983-07-09 | Eisaku Umezaki | 光弾性縞の画像解析 |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02213752A (ja) * | 1989-02-15 | 1990-08-24 | Nippon Steel Corp | 光学的異方性物質の組織の測定方法 |
| US5257092A (en) * | 1990-06-27 | 1993-10-26 | Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha | Apparatus for measuring polarization and birefringence |
| JP2004219451A (ja) * | 2003-01-09 | 2004-08-05 | National Institute Of Information & Communication Technology | 偏光可変板 |
| JP2020026989A (ja) * | 2018-08-10 | 2020-02-20 | Ｊｆｅエンジニアリング株式会社 | 異常検出方法 |
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