CN111650766B - 一种液晶显示麻点失效的检测方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种液晶显示麻点失效的检测方法，其包括以下步骤：步骤一：将外观检验合格的样品进行酸性盐雾试验；步骤二：将经过酸性盐雾试验的外观检验合格的样品进行高温高湿环境试验；步骤三：将经过高温高湿环境试验的外观检验合格的样品进行高温高湿环境及密闭的加压环境组合试验。本发明提供本发明能够快速筛选剔除早期失效品(制造缺陷)，提高液晶重大隐蔽性质量缺陷的筛选不良检出率，降低产线封存返包及售后故障率。
Description
技术领域
本发明涉及液晶领域，特别涉及一种液晶显示麻点失效的检测方法。
背景技术
液晶是一种高分子材料，因为其特殊的物理、化学、光学特性，20世纪中叶开始被广泛应用在轻薄型的显示技术上，利用液晶的基本性质实现显示。自然光经过一偏振片后“过滤”为线性偏振光，由于液晶分子在盒子中的扭曲螺距远比可见光波长大得多，所以当沿取向膜表面的液晶分子排列方向一致或正交的线性偏振光入射后，其偏光方向在经过整个液晶层后会扭曲90°由另一侧射出，正交偏振片起到透光的作用；如果在液晶盒上施加一定值的电压，液晶长轴开始沿电场方向倾斜，当电压达到约2倍阈值电压后，除电极表面的液晶分子外，所有液晶盒内两电极之间的液晶分子都变成沿电场方向的再排列，这时90°旋光的功能消失，在正交片振片间失去了旋光作用，使器件不能透光。如果使用平行偏振片则相反。正是这样利用给液晶盒通电或断电的办法使光改变其透－遮住状态，从而实现显示。上下偏振片为正交或平行方向时显示表现为常白或常黑模式。
目前，液晶制造工艺不良在生产过程出现典型失效模式有以下几种：ITO线路蚀刻不良短路、显示阴影、电极污染问题、合模错位、原材料缺陷。经常出现液晶在厂家测试时正常且相关实验结果正常，但是液晶在消费者使用一定时间后出现显示不良。由于对液晶的制造缺陷早期失效问题没有有效的筛选方法，检验未考虑实际高温高湿环境、酸性环境等外界环境因素对液晶影响，因为液晶质量缺陷导致实际应用失效多达100多单，此问题严重产品质量。
液晶在白色家电领域、显示领域应用非常广泛，但是液晶在实际应用中出现麻点(反光片铝层出现铝箔腐蚀产生微小空洞即液晶显示麻点问题)会影响液晶显示效果，直接影响观看效果。但是针对液晶麻点问题，行业一直没有快速有效筛选测试方法。经解剖观察黑点形貌、电镜元素扫描、实验复现验证，分析黑点形成原因为液晶偏光片PVA膜中吸附的碘在高温环境下发生升华穿透TAC膜后与反射膜中的铝层在水汽条件下发生氧化还原反应，铝层被腐蚀呈现黑点现象，即为“麻点”。
具体如图1所示，其为液晶早期麻点失效的不良品的示意图，液晶反光片结构层由下至上依次为：离型膜1、第一PSA胶(压敏胶)2、第一TAC(三醋酸纤维薄膜)3、PVA(Patterned Vertical Alignment，图像垂直调整)膜4、TAC 5、PSA胶6及反射膜7，偏光片中起偏振作用的核心膜材是PVA膜4经过染色后吸附具有二项吸收功能的碘分子，通过拉伸使碘分子在PVA膜有序排列，形成具有均匀二向吸收性能的偏振膜，其透过轴与拉伸方向垂直。是偏光片的核心部分，决定偏光片的偏光性能、透过率、色调等关键光学指标。
碘系偏光膜缺陷高温高湿情况下碘分子的性能易受到破坏，耐候性差，如果液晶偏光片制造存在缺陷，在高温高湿环境因为水汽渗入可能会出现碘分子迁移，与铝发生化学反应生成碘化铝，从而导致铝箔腐蚀产生微小空洞，即麻点8，麻点8通常出现在反射膜7中。
为了能够快速筛选剔除早期失效品(制造缺陷)，提高液晶重大隐蔽性质量缺陷的筛选不良检出率，降低产线封存返包及售后故障率，本发明提供一种液晶显示麻点失效的检测方法。
发明内容
本发明的目的在于提供一种液晶显示麻点失效的检测方法，从而能够快速筛选剔除早期失效品(制造缺陷)，提高液晶重大隐蔽性质量缺陷的筛选不良检出率，降低产线封存返包及售后故障率。
为达上述目的，本发明提供一种液晶显示麻点失效的检测方法，其包括以下步骤：
步骤一：将外观检验合格的样品进行酸性盐雾试验；
步骤二：将经过酸性盐雾试验的外观检验合格的样品进行高温高湿环境试验；
步骤三：将经过高温高湿环境试验的外观检验合格的样品进行高温高湿环境及密闭的加压环境组合试验。
所述的液晶显示麻点失效的检测方法，其中，在步骤一中，将外观检验合格的样品悬挂放置在NaCl浓度5％+冰醋酸、PH值3.0的标准盐雾箱内进行盐雾试验，持续时间为48-96h。
所述的液晶显示麻点失效的检测方法，其中，在步骤一中，盐雾箱内温度为45-50℃±2℃。
所述的液晶显示麻点失效的检测方法，其中，在步骤二中，试验条件为温度80℃-90℃/湿度85％-95％，持续时间优选为120-480h。
所述的液晶显示麻点失效的检测方法，其中，在步骤二中，试验温度及湿度为85℃/85％或85℃/95％。
所述的液晶显示麻点失效的检测方法，其中，步骤二包括以下子步骤：
1)在温度及湿度为0℃/40％的环境下持续30min；
2)在温度及湿度为85℃/40％的环境下持续15min；
3)在温度及湿度为85℃/85％的环境下持续570min；
4)在温度及湿度为85℃/85％的环境下持续15min；
5)在温度及湿度为85℃/40％的环境下持续30min；
6)在温度及湿度为30℃/40％的环境下持续60min；
7)在温度及湿度为30℃/40％的环境下持续15min；
8)再依次进行步骤1)-步骤7)，直至达到96h。
所述的液晶显示麻点失效的检测方法，其中，在步骤三中，试验条件为温度80℃-90℃/湿度85％-95％，持续时间120-480h。
所述的液晶显示麻点失效的检测方法，其中，在步骤三中，试验温度及湿度为85℃/85％或85℃/95％。
所述的液晶显示麻点失效的检测方法，其中，密闭的加压环境施加压力范围为0.5mpa--1.5mpa。
所述的液晶显示麻点失效的检测方法，其中，密闭的加压环境施加压力为1.0mpa。
本发明的有益效果在于：本发明通过不同实验方案组合可以快速有效筛选检测液晶早期失效不良及隐蔽性的可靠性问题，从而将不良品在来料检验环节通过实验方案快速筛选剔除早期失效品(制造缺陷)，提高液晶重大早期失效质量缺陷的筛选不良检出率，降低产线封存返包及售后投诉故障率。
附图说明
图1为液晶早期麻点失效的不良品的示意图；
图2为根据本发明的液晶显示麻点失效的检测方法的流程图；
图3为高温高湿环境试验的优选实施例的流程图。
具体实施方式
下面将结合附图对本发明作进一步说明。
如图2所示，其为根据本发明的液晶显示麻点失效的检测方法的流程图。本发明提供一种液晶显示麻点失效的检测方法，其主要包括以下步骤：
步骤一：PH3.0*48H酸性盐雾试验
将外观检验合格的样品悬挂放置在NaCl浓度5％+冰醋酸、PH值3.0的标准盐雾箱内进行盐雾试验，持续时间优选为48-96h，盐雾箱内温度优选为45-50℃±2℃。
需要说明的是：试验方法按GB/T 2423.17的要求进行盐雾试验。
步骤二：高温高湿环境试验
经过步骤一的酸性盐雾试验后，将外观检验合格的样品进行高温高湿环境试验，试验条件为根据碘升华温度70℃，优选地选取温度80℃-90℃/湿度85％-95％，持续时间优选为120-480h。
在优选实施例中，试验温度及湿度选取85℃/85％或85℃/95％，实际具体时间根据实际情况确定，一般最快时间24h即可出现麻点失效，最长需要240h，一般选取96h。
该方案可以有效筛选剔除液晶偏光片制造工艺缺陷不良及液晶制造不良，是目前通过研究及大量实际试验验证确定有效的液晶黑点失效(偏光片制造缺陷不良碘迁移)快速筛选检测创新方案。
在优选实施例中，步骤二的试验进行96h，如图3所示，具体流程步骤依次为：
1)在温度及湿度为0℃/40％的环境下持续30min；
2)在温度及湿度为85℃/40％的环境下持续15min；
3)在温度及湿度为85℃/85％的环境下持续570min；
4)在温度及湿度为85℃/85％的环境下持续15min；
5)在温度及湿度为85℃/40％的环境下持续30min；
6)在温度及湿度为30℃/40％的环境下持续60min；
7)在温度及湿度为30℃/40％的环境下持续15min；
8)再依次进行步骤1)-步骤7)，直至达到96h。
该优选实施例的试验条件及时长经测试能够有效快速地筛选剔除液晶偏光片制造工艺缺陷不良及液晶制造不良，试验效果良好。
步骤三：高温高湿环境+密闭的加压环境组合试验
将外观检验合格的样品进行高温高湿环境+密闭的加压环境组合试验，试验条件为温度80℃-90℃/湿度85％-95％，持续时间120-480h，试验温度及湿度优选为85℃/85％或85℃/95％，密闭的加压环境施加压力范围0.5mpa--1.5mpa，推荐1.0mpa。
在步骤三在步骤二增加了密闭加压环境，使得试验条件最为苛刻，更加可以有效筛选剔除液晶偏光片制造工艺缺陷不良及液晶制造不良，是目前通过研究及大量实际实验验证确定最为有效的液晶麻点失效(偏光片制造缺陷不良碘迁移)快速筛选检测创新方案。
综上所述，本发明的有益效果在于：本发明通过不同实验方案组合可以快速有效筛选检测液晶早期失效不良及隐蔽性的可靠性问题，从而将不良品在来料检验环节通过实验方案快速筛选剔除早期失效品(制造缺陷)，提高液晶重大早期失效质量缺陷的筛选不良检出率，降低产线封存返包及售后投诉故障率。
虽然已经参考优选实施例对本发明进行了描述，但在不脱离本发明的范围的情况下，可以对其进行各种改进并且可以用等效物替换其中的部件。尤其是，只要不存在结构冲突，各个实施例中所提到的各项技术特征均可以任意方式组合起来。本发明并不局限于文中公开的特定实施例，而是包括落入权利要求的范围内的所有技术方案。
Claims (10)
1.一种液晶显示麻点失效的检测方法，其特征在于，所述麻点由液晶偏光片PVA膜中吸附的碘在高温环境下发生升华穿透TAC膜后与反射膜中的铝层在水汽条件下发生氧化还原反应，铝层被腐蚀呈现黑点现象，该检测方法包括以下步骤：
步骤一：将外观检验合格的样品进行酸性盐雾试验；
步骤二：将经过酸性盐雾试验的外观检验合格的样品进行高温高湿环境试验；
步骤三：将经过高温高湿环境试验的外观检验合格的样品进行高温高湿环境及密闭的加压环境组合试验。
2.根据权利要求1所述的液晶显示麻点失效的检测方法，其特征在于，在步骤一中，将外观检验合格的样品悬挂放置在NaCl浓度5％+冰醋酸、PH值3.0的标准盐雾箱内进行盐雾试验，持续时间为48-96h。
3.根据权利要求1所述的液晶显示麻点失效的检测方法，其特征在于，在步骤一中，盐雾箱内温度为45-50℃±2℃。
4.根据权利要求1所述的液晶显示麻点失效的检测方法，其特征在于，在步骤二中，试验条件为温度80℃-90℃/湿度85％-95％，持续时间优选为120-480h。
5.根据权利要求4所述的液晶显示麻点失效的检测方法，其特征在于，在步骤二中，试验温度及湿度为85℃/85％或85℃/95％。
6.根据权利要求1所述的液晶显示麻点失效的检测方法，其特征在于，步骤二包括以下子步骤：
1)在温度及湿度为0℃/40％的环境下持续30min；
2)在温度及湿度为85℃/40％的环境下持续15min；
3)在温度及湿度为85℃/85％的环境下持续570min；
4)在温度及湿度为85℃/85％的环境下持续15min；
5)在温度及湿度为85℃/40％的环境下持续30min；
6)在温度及湿度为30℃/40％的环境下持续60min；
7)在温度及湿度为30℃/40％的环境下持续15min；
8)再依次进行步骤1)-步骤7)，直至达到96h。
7.根据权利要求1至6中任一项所述的液晶显示麻点失效的检测方法，其特征在于，在步骤三中，试验条件为温度80℃-90℃/湿度85％-95％，持续时间120-480h。
8.根据权利要求7所述的液晶显示麻点失效的检测方法，其特征在于，在步骤三中，试验温度及湿度为85℃/85％或85℃/95％。
9.根据权利要求1至6中任一项所述的液晶显示麻点失效的检测方法，其特征在于，密闭的加压环境施加压力范围为0.5mpa--1.5mpa。
10.根据权利要求9所述的液晶显示麻点失效的检测方法，其特征在于，密闭的加压环境施加压力为1.0mpa。
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Non-Patent Citations (1)
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| 空调遥控器液晶碘迁移失效的研究与应用;解伟，张成成，李文涛，王小龙，施庆西;《河南科技》;20200505;全文 * |
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