CN111427175B - 一种显示面板故障检测方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种显示面板故障检测方法，显示面板故障检测方法包括实验组设置步骤、对照组设置步骤、穿透率获取步骤、影响占比计算步骤、影响因子确定步骤以及故障部件确定步骤。本发明提供一种显示面板故障检测方法，检测故障面板的去除不同部件后的穿透率，并与标准面板去除不同部件后的穿透率分组对比，快速厘清影响因子，确定故障部件，确定故障显示面板的改进方向，提升良品率。

Description

一种显示面板故障检测方法

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示面板故障检测方法。

背景技术

液晶电视的亮度是消费者第一直观感觉到的参数，直接影响观众的主观感受。

液晶盒通过穿透率来影响液晶电视亮度，因此穿透率的规格对液晶盒来说很重要，是写在产品规格书中的重要参数。液晶盒的穿透率平时需要光学量测来监控。

液晶盒是很复杂的系统，有很多层材料，每层材料都会影响液晶盒的穿透率，而且不同材料的影响是不同的，而且影响原理也不同。

目前，当液晶面板的穿透率出现异常时，无法快速厘清影响因子以及定位影响液晶亮度的因素。

发明内容

本发明的目的在于，提供一种显示面板故障检测方法，以解决现有技术存在显示面板未达到穿透率的预设阈值时，如何识别故障部件的技术问题。

为实现上述目的，本发明提供一种显示面板故障检测方法，包括如下步骤：实验组设置步骤，设置实验组，包括至少一实验样本；所述实验样本包括全结构样本及部分结构样本；对照组设置步骤，设置至少一对照样本，分别与每一实验样本相对应；彼此对应的对照样本与实验样本具有相同的面板结构，对照样本为合格产品；穿透率获取步骤，分别获取每一实验样本及对照样本的穿透率；影响占比计算步骤，计算每一实验样本的影响占比；所述影响占比为彼此对应的一实验样本与一对照样本的穿透率差值与该对照样本的穿透率的比值；影响因子确定步骤，计算并比较每一部分结构样本的影响占比与全结构样本的影响占比的比值的绝对值，该绝对值最大的部分结构样本为影响因子；以及故障部件确定步骤，根据所述影响因子确定故障部件。

进一步地，在所述穿透率获取步骤之后，还包括：液晶效率计算步骤，根据所有实验样本的穿透率计算实验组的液晶效率；根据所有对照样本的穿透率计算对照组的液晶效率。

进一步地，在所述影响占比计算步骤中，计算液晶效率的第二影响占比；所述第二影响占比为所述实验组与所述对照组的液晶效率差值与该对照组的液晶效率的比值。

进一步地，在所述影响因子确定步骤中，计算并比较第二影响占比、每一部分结构样本的影响占比与全结构样本的影响占比的比值的绝对值，该绝对值最大的液晶效率或部分结构样本为影响因子。

进一步地，所述影响占比为彼此对应的一实验样本与一对照样本的穿透率差值与该对照样本的穿透率的比值。

进一步地，在所述实验组设置步骤中，提供一穿透率未达到穿透率的预设阈值的第一显示面板，所述第一显示面板包括第一上偏光片、第一液晶盒以及第一下偏光片；其中，所述全结构实验样本为所述第一显示面板；所述部分结构实验样本为去除所述第一上偏光片的第一显示面板，或去除所述第一上偏光片及所述第一下偏光片的第一显示面板，或去除所述第一下偏光片的第一显示面板。

进一步地，在所述对照组设置步骤中，提供一穿透率达到穿透率的预设阈值的第二显示面板，所述第二显示面板包括第二上偏光片、第二液晶盒以及第二下偏光片；其中，所述对照样本包括：全结构对照样本，为所述第二显示面板；部分结构对照样本，为去除所述第二上偏光片的第二显示面板，或去除所述第二上偏光片及所述第二下偏光片的第二显示面板，或去除所述第二下偏光片的第二显示面板。

进一步地，在所述对照组设置步骤中，所述对照样本为合格产品。

进一步地，在所述穿透率获取步骤中，采用光照检测法检测每一实验样本、每一对照样本的穿透率。

进一步地，在所述实验组设置步骤之前还包括：检测步骤，检测一显示面板的穿透率是否达到穿透率的预设阈值，若是，则该显示面板被划分至所述对照组，若否，该显示面板被划分至所述实验组。

本发明的技术效果在于，提供一种显示面板故障检测方法，检测故障面板的去除不同部件后的穿透率，并与标准面板去除不同部件后的穿透率分组对比，快速厘清影响因子，确定故障部件，确定故障显示面板的改进方向，提升良品率。

附图说明

下面结合附图，通过对本申请的具体实施方式详细描述，将使本申请的技术方案及其它有益效果显而易见。

图1为本实施例所述显示面板故障检测方法的流程图；

图2为本实施例所述第一显示面板的全部结构示意图；

图3为本实施例去除所述第一上偏光片的第一显示面板结构示意图；

图4为本实施例去除所述第一上、下偏光片的第一显示面板结构示意图；

图5为本实施例去除所述第一下偏光片的第一显示面板结构示意图；

图6为本实施例所述第二显示面板的全部结构示意图；

图7为本实施例去除所述第一上偏光片的第二显示面板结构示意图；

图8为本实施例去除所述第一上、下偏光片的第二显示面板结构示意图；

图9为本实施例去除所述第一下偏光片的第二显示面板结构示意图。

附图中部分标识如下：

100第一显示面板；

11第一上偏光片；12第一液晶盒；13第一下偏光片；

200第二显示面板；

21第二上偏光片；22第二液晶盒；23第二下偏光片。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

在本申请的描述中，需要理解的是，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个所述特征。在本申请的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。

下文的公开提供了许多不同的实施方式或例子用来实现本申请的不同结构。为了简化本申请的公开，下文中对特定例子的部件和设置进行描述。当然，它们仅仅为示例，并且目的不在于限制本申请。此外，本申请可以在不同例子中重复参考数字和/或参考字母，这种重复是为了简化和清楚的目的，其本身不指示所讨论各种实施方式和/或设置之间的关系。此外，本申请提供了的各种特定的工艺和材料的例子，但是本领域普通技术人员可以意识到其他工艺的应用和/或其他材料的使用。

如图1所示，本实施提供一种显示面板故障检测方法，包括如下步骤S1～S8。

S1检测步骤，检测一显示面板的穿透率是否达到穿透率的预设阈值，若是，则该显示面板被划分至所述对照组，若否，该显示面板被划分至所述实验组。假设显示面板的穿透率预设阈值的范围为a。本领域的技术人员通过检测每一一显示面板的穿透率是否在预设阈值的范围a内，若是，则该显示面板为达到穿透率的预设阈值的第二显示面板；若否，则该显示面板为未达到穿透率的预设阈值的第一显示面板。需要说明的是，每一显示面板的部件不同，其穿透率也不一样，因此，本领域的技术人员可以根据实际情况去判断显示面板穿透率的预设阈值的范围a，通过检测显示面板是否达到穿透率的预设阈值，从而确定该显示面板是为第一显示面板还是第二显示面板。

S2实验组设置步骤，设置实验组，包括至少一实验样本；所述实验样本包括全结构实验样本及部分结构实验样本。如图2～5所示，第一显示面板100包括第一上偏光片11、第一液晶盒12以及第一下偏光片13。其中，第一液晶盒12包括阵列基板和彩膜基板以及在阵列基板和彩膜基板之间设置的液晶层。

本实施例中，所述全结构实验样本为第一显示面板100的全部结构。所述部分结构实验样本为第一显示面板100的部分结构，所述部分结构实验样本包括去除第一上偏光片11的第一显示面板100，或去除第一上偏光片11及第一下偏光片13的第一显示面板100，或去除第一下偏光片13的第一显示面板100。

所述实验组包括四组实验样本，第一实验样本为第一显示面板100；第二实验样本为去除第一上偏光片11的第一显示面板100；第三实验样本为去除所述第一上偏光片及所述第一下偏光片的第一显示面板100；第四实验样本为去除所述第一下偏光片的第一显示面板。

本实施例中，所述第四实验样本可以为去除所述第一上偏光片及所述第一下偏光片的第一显示面板的结构中贴上所述第一上偏光片；也可以为去除所述第一上偏光片及所述第一下偏光片的第一显示面板的结构中，在部分第一上偏光片于部分第一下偏光片相互对应的位置将该部分第一下偏光片去除。

S3对照组设置步骤，设置至少一对照样本，分别与每一实验样本相对应；彼此对应的对照样本与实验样本具有相同的面板结构，对照样本为合格产品。

如图6～9所示，提供一穿透率正常的第二显示面板，所述第二显示面板包括第二上偏光片21、第二液晶盒22以及第二下偏光片23。其中，第二液晶盒22包括阵列基板和彩膜基板以及在阵列基板和彩膜基板之间设置的液晶层。

本实施例中，所述全结构对照样本为第二显示面板200的全部结构。所述部分结构对照样本为第二显示面板200的部分结构，所述部分结构对照样本包括去除第二上偏光片21的第二显示面板200，或去除第二上偏光片21及第二下偏光片23的第二显示面板200，或去除第二下偏光片23的第二显示面板200中。

所述对照组包括四组对照样本，第一对照样本为第二显示面板200；第二对照样本为去除第二上偏光片21的第二显示面板200；第三对照样本为去除第二上偏光片21及第二下偏光片23的第二显示面板200；第四对照样本为去除第二下偏光片23的第二显示面板200。

本实施例中，所述第四对照样本可以为去除所述第二上偏光片及所述第二下偏光片的第二显示面板的结构中贴上所述第二上偏光片；也可以为去除所述第二上偏光片及所述第二下偏光片的第二显示面板的结构中，在部分第二上偏光片于部分第二下偏光片相互对应的位置将该部分第二下偏光片去除。

S4穿透率获取步骤，分别获取每一实验样本及对照样本的穿透率。

本实施例中，每一实验样本的穿透率的计算公式为T₁＝η₁₁*AR₁*η_CF1*η_LC1*η₁₂；其中，T₁为实验样本的穿透率，η₁₁为所述上偏光片的透过率即所述上偏光片对入射偏振光的透光率，η₁₂为所述下偏光片的透过率即所述下偏光片对自然光的透过率，AR₁为开口率即所述显示面板开口率的透过率，η_CF1为透过率即所述液晶盒内各膜层的透过率，η_LC1为液晶效率即外界的自然光经过下偏光片产生的与下偏光片穿透方向平行的线偏振光，在最高灰阶下，排除液晶材料吸收因素，经过所述液晶层后，液晶层能将多大比例的入射光偏振方向旋转90度，从而与上偏光片穿透轴平行，使光线穿透出去。

其中，实验样本的穿透率获取步骤包括：

第一实验样本的穿透率获取步骤，当光照透过所述第一实验样本，获取第一实验样本的穿透率。其中，第一实验样本的穿透率为第一显示面板100全部结构的穿透率，参照图2所示。第一实验样本的穿透率的公式为T₁＝η₁₁*AR₁*η_CF1*η_LC1*η₁₂，T₁为第一实验样本的穿透率。

第二实验样本穿透率获取步骤，当光照透过所述第二实验样本，获取第二实验样本的穿透率。其中，第二实验样本的穿透率为第一显示面板100的部分结构的穿透率，即第一液晶盒12及第一下偏光片13的穿透率，参照图3所示。第二实验样本的穿透率的公式为T₁₁＝AR₁*η_CF1*η₁₂，T₁₁为第二实验样本的穿透率。

第三实验样本穿透率获取步骤，当光照透过所述第三实验样本，获取第三实验样本的穿透率。其中，第三实验样本的穿透率为第一显示面板100的部分结构的穿透率，即第一液晶盒12的穿透率，参照图4所示。第三实验样本的穿透率的公式为T₁₂＝AR₁*η_CF1，T₁₂为第三实验样本的穿透率。

第四穿透率获取步骤，当光照透过所述第四实验样本，获取第四实验样本的穿透率。其中，第四实验样本的穿透率为第一显示面板100的部分结构的穿透率，即第一上偏光片11及第一液晶盒12的穿透率，参照图5所示。第四实验样本的穿透率的公式为T₁₃＝η₁₁*AR₁*η_CF1，T₁₃为第四实验样本的穿透率。

本实施例中，每一对照样本的穿透率的计算公式为T₂＝η₂₁*AR₂*η_CF2*η_LC2*η₂₂；其中，η₂₁为所述上偏光片的透过率，η₂₂为所述下偏光片的透过率，AR为开口率，η_CF2为透过率，η_LC2为液晶效率。其中，T₂为对照样本的穿透率，η₂₁为所述上偏光片的透过率即所述上偏光片对入射偏振光的透光率，η₂₂为所述下偏光片的透过率即所述下偏光片对自然光的透过率，AR₂为开口率即所述显示面板开口率，η_CF2为透过率即所述液晶盒内各膜层的透过率，η_LC2为液晶效率即外界的自然光经过下偏光片产生的与下偏光片穿透方向平行的线偏振光，在最高灰阶下，排除液晶材料吸收因素，经过所述液晶层后，液晶层能将多大比例的入射光偏振方向旋转90度，从而与上偏光片穿透轴平行，使光线穿透出去。

每一对照样本的穿透率获取步骤包括：第一对照样本的穿透率获取步骤，当光照透过所述第一对照样本，获取第一实验样本的穿透率。其中，第一对照样本的穿透率为第二显示面板200全部结构的穿透率，参照图6所示。第一对照样本的穿透率的公式为T₂＝η₂₁*AR₂*η_CF2*η_LC2*η₂₂，T₂为第一对照样本的穿透率。

第二对照样本穿透率获取步骤，当光照透过所述第二对照样本，获取第二对照样本的穿透率。其中，第二对照样本的穿透率为第二显示面板200的部分结构的穿透率，即第二液晶盒22及第二下偏光片23的穿透率，参照图7所示。第二对照样本的穿透率的公式为T₂₁＝AR₂*η_CF2*η₂₂，T₂₁为第二对照样本的穿透率。

第三对照样本穿透率获取步骤，当光照透过所述第三对照样本，获取第三对照样本的穿透率。其中，第三对照样本的穿透率为第二显示面板200的部分结构的穿透率，即第二液晶盒22的穿透率，参照图8所示。第三对照样本的穿透率的公式为T₂₂＝AR₂*η_CF2，T₂₂为第三对照样本的穿透率。

第四穿透率获取步骤，当光照透过所述第四对照样本，获取第四对照样本的穿透率。其中，第四对照样本的穿透率为第二显示面板200的部分结构的穿透率，即第二上偏光片21及第二液晶盒22的穿透率，参照图9所示。第四对照样本的穿透率的公式为T₂₃＝η₂₁*AR₂*η_CF2，T₂₃为第四对照样本的穿透率。

S5液晶效率计算步骤，根据所有实验样本的穿透率计算实验组的液晶效率；根据所有对照样本的穿透率计算对照组的液晶效率。

具体地，在所述实验组的液晶效率计算步骤中，首先，根据第一实验样本的穿透率的公式、第二实验样本的穿透率的公式以及第三实验样本的穿透率的公式计算，得出以下结论：

T₁/T₁₁＝η₁₁*η_LC1①；

T₁₁/T₁₂＝η₁₂②。

其次，根据第一实验样本的穿透率的公式、第二实验样本的穿透率的公式、第三实验样本的穿透率的公式、第四实验样本的穿透率的公式计算以及公式①、②，得出以下结论：

T₁₃/T₁₂＝η₁₁③；

η_LC1＝T₁/2T₁₂*T₁₁*④。

由此可见，通过第三实验样本穿透率的公式T₁₂＝AR₁*η_CF1，可以验证所述显示面板各层的材料和开口率对所述显示面板穿透率的影响；通过公式η_LC1＝T₁/2T₁₂*T₁₁*④可以验证所述实验组的液晶效率对所述显示面板穿透率的影响；通过公式T₁₁/T₁₂＝η₁₂②可以验证所述第一下偏光片对所述显示面板穿透率的影响；通过公式T₁₃/T₁₂＝η₁₁③可以验证所述第一上偏光片对所述显示面板穿透率的影响。

在所述对照组的液晶效率计算步骤中，首先，根据第一对照样本的穿透率的公式、第二对照样本的穿透率的公式以及第三对照样本的穿透率的公式计算，得出以下结论：

T₂/T₂₁＝η₂₁*η_LC2⑤；

T₂₁/T₂₂＝η₂₂⑥。

其次，根据第一对照样本的穿透率的公式、第二对照样本的穿透率的公式、第三对照样本的穿透率的公式、第四对照样本的穿透率的公式计算以及公式①、②，得出以下结论：

T₂₃/T₂₂＝η₂₁⑦；

η_LC2＝T₂/2T₂₂*T₂₁*⑧。

由此可见，通过第三对照样本穿透率的公式T₂₂＝AR₂*η_CF2，可以验证所述显示面板各层的材料和开口率对所述显示面板穿透率的影响；通过公式η_LC2＝T₂/2T₂₂*T₂₁*⑧，验证所述对照组的液晶效率对所述显示面板穿透率的影响；通过公式T₂₁/T₂₂＝η₂₂⑥，验证所述第二下偏光片对所述显示面板穿透率的影响；通过公式T₂₃/T₂₂＝η₂₁⑦，验证所述第二上偏光片对所述显示面板穿透率的影响。

S6影响占比计算步骤，计算每一实验样本的影响占比；所述影响占比为彼此对应的一实验样本与一对照样本的穿透率差值与该对照样本的穿透率的比值。在所述影响占比计算步骤中，还计算液晶效率的第二影响占比；所述第二影响占比为所述实验组与所述对照组的液晶效率差值与该对照组的液晶效率的比值。

具体地，根据所述第一实验样本与所述第一对照样本的穿透率差值与该第一对照样本的穿透率的比值，为第一实验样本的影响占比；根据所述第二实验样本与所述第二对照样本的穿透率差值与该第二对照样本的穿透率的比值，为第二实验样本的影响占比；根据所述第三实验样本与所述第三对照样本的穿透率差值与该第三对照样本的穿透率的比值，为第三实验样本的影响占比；根据所述第四实验样本与所述第四对照样本的穿透率差值与该第四对照样本的穿透率的比值，为第四实验样本的影响占比。

S7影响因子确定步骤，计算并比较第二影响占比、每一部分结构样本的影响占比与全结构样本的影响占比的比值的绝对值，该绝对值最大的液晶效率或部分结构样本为影响因子。

具体地，如表1所示，表1为显示面板的全部结构或部分结构穿透率的检测表格。假设实验组的实验样本的穿透率及实验组的液晶效率包括A1、B1、C1、D1、F1；对照组的对照样本的穿透率及对照组的液晶效率包括A2、B2、C2、D2、F2。然后，通过计算获取每一实验样本的影响占比以及液晶效率的影响占比(A1-A2)/A2、(B1-B2)/B2、(C1-C2)/C2、(D1-D2)/D2、(F1-F2)/F2。其中，第一实验样本的影响占比为第二实验样本的影响占比与第三实验样本的影响占比、第四实验样本的影响占比、液晶效率的影响占比之和。

表1

S8故障部件确定步骤，根据所述影响因子确定故障部件。通过计算并比较第二实验样本的影响占比、第三实验样本的影响占比、第四实验样本的影响占比、液晶效率的影响占比与第一实验样本的影响占比的比值的绝对值，该绝对值最大的液晶效率或部分结构样本为影响因子，根据影响因子确定故障部件，从而确定显示面板的有效改善方向。

本实施例中，所述实验组设置步骤与所述对照组设置步骤可以同时进行，也可以是先设置对照组设置步骤在设置实验组设置步骤，在此不做限定。

本发明的技术效果在于，提供一种显示面板故障检测方法，检测故障面板的去除不同部件后的穿透率，并与标准面板去除不同部件后的穿透率分组对比，快速厘清影响因子，确定故障部件，确定故障显示面板的改进方向，提升良品率。

在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述的部分，可以参见其他实施例的相关描述。

以上对本申请实施例所提供的一种显示面板故障检测方法进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本申请的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请的技术方案及其核心思想；本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本申请各实施例的技术方案的范围。

Claims (9)

1.一种显示面板故障检测方法，其特征在于，包括如下步骤：

实验组设置步骤，设置实验组，包括至少一实验样本；所述实验样本包括全结构实验样本及部分结构实验样本；

对照组设置步骤，设置至少一对照样本，分别与每一实验样本相对应，其中，所述对照样本为合格产品；彼此对应的对照样本与实验样本具有相同的面板结构；

穿透率获取步骤，分别获取每一实验样本及对照样本的穿透率；

影响占比计算步骤，计算每一实验样本的影响占比；

影响因子确定步骤，计算并比较每一部分结构样本的影响占比与全结构样本的影响占比的比值的绝对值，该绝对值最大的部分结构样本为影响因子；以及

故障部件确定步骤，根据所述影响因子确定故障部件。

2.如权利要求1所述的显示面板故障检测方法，其特征在于，

在所述穿透率获取步骤之后，还包括：

液晶效率计算步骤，根据所有实验样本的穿透率计算实验组的液晶效率；根据所有对照样本的穿透率计算对照组的液晶效率。

3.如权利要求2所述的显示面板故障检测方法，其特征在于，

在所述影响占比计算步骤中，

计算液晶效率的第二影响占比；所述第二影响占比为所述实验组与所述对照组的液晶效率差值与该对照组的液晶效率的比值。

4.如权利要求3所述的显示面板故障检测方法，其特征在于，

在所述影响因子确定步骤中，

计算并比较第二影响占比、每一部分结构样本的影响占比与全结构样本的影响占比的比值的绝对值，该绝对值最大的液晶效率或部分结构样本为影响因子。

5.如权利要求1所述的显示面板故障检测方法，其特征在于，

所述影响占比为彼此对应的一实验样本与一对照样本的穿透率差值与该对照样本的穿透率的比值。

6.如权利要求1所述的显示面板故障检测方法，其特征在于，

在所述实验组设置步骤中，提供一穿透率未达到穿透率的预设阈值的第一显示面板，所述第一显示面板包括第一上偏光片、第一液晶盒以及第一下偏光片；

其中，所述全结构实验样本为所述第一显示面板；

所述部分结构实验样本为去除所述第一上偏光片的第一显示面板，或去除所述第一上偏光片及所述第一下偏光片的第一显示面板，或去除所述第一下偏光片的第一显示面板。

7.如权利要求1所述的显示面板故障检测方法，其特征在于，

在所述对照组设置步骤中，提供一穿透率达到穿透率的预设阈值的第二显示面板，所述第二显示面板包括第二上偏光片、第二液晶盒以及第二下偏光片；

其中，所述对照样本包括：

全结构对照样本，为所述第二显示面板；

部分结构对照样本，为去除所述第二上偏光片的第二显示面板，或去除所述第二上偏光片及所述第二下偏光片的第二显示面板，或去除所述第二下偏光片的第二显示面板。

8.如权利要求1所述的显示面板故障检测方法，其特征在于，

在所述穿透率获取步骤中，

采用光照检测法检测每一实验样本、每一对照样本的穿透率。

9.如权利要求1所述的显示面板故障检测方法，其特征在于，

在所述实验组设置步骤之前还包括：

检测步骤，检测一显示面板的穿透率是否达到穿透率的预设阈值，若是，则该显示面板被划分至所述对照组，若否，该显示面板被划分至所述实验组。

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