CN109164610A - 显示面板测量方法及设备 - Google Patents

Abstract

本发明公开一种显示面板测量方法及显示面板测量设备，该显示面板测量方法包括：选取液晶面板预设位置的两个测试点，分别为第一测试点及第二测试点；测试第一测试点在第一偏振片和第二偏振片处于不同状态下液晶层的穿透率；测试第二测试点在第一偏振片和第二偏振片处于不同状态下液晶层的穿透率；根据第一测试点在第一偏振片和第二偏振片处于不同状态下液晶层的穿透率，及第二测试点在第一偏振片和第二偏振片处于不同状态下液晶层的穿透率确定液晶层效率。本发明技术方案通过对两个测试点获取多组测试参数，降低参数变异的影响，提高了液晶效率测试的精度。

Description

显示面板测量方法及设备

技术领域

本发明涉及液晶效率测量技术领域，特别涉及一种显示面板测量方法及设备。

背景技术

VA型液晶面板是工业领域常用的一种液晶面板。其显示原理是，当自然光经过下基板(即TFT基板)偏振后变成线偏振光，在液晶层不加电压时，线偏振光通过液晶层偏振方向不会改变，经过上基板(即CF基板)偏振片时光线被吸收，液晶面板呈现黑态；与之相对的，在给液晶层施加电压后，偏振光经过液晶层后偏振方向发生改变，透过上基板后光线可以在液晶面板呈现一定亮态。因此，在整个显示过程中，液晶改变偏振光偏振方向的能力非常重要，直接关系着液晶穿透率。

液晶效率的定义为：经过第二偏振片产生的偏振光在经过液晶层后，液晶层可以将多大比例的入射光的偏振方向旋转90度。

现有的液晶效率测量方法是选取一测试点，根据这一测试点所得数据来计算液晶效率，但此种方法易受测量过程中测量参数变异影响，测量数据误差大也无法得知。

发明内容

本发明的主要目的是提供一种显示面板测量方法，旨在提高液晶层效率测量的精度。

为实现上述目的，本发明提出的显示面板测量方法，包括：

选取液晶面板预设位置的两个测试点，分别为第一测试点及第二测试点；

测试第一测试点在第一偏振片和第二偏振片处于不同状态下液晶层的穿透率；

测试第二测试点在第一偏振片和第二偏振片处于不同状态下液晶层的穿透率；

根据第一测试点在第一偏振片和第二偏振片处于不同状态下液晶层的穿透率，及第二测试点在第一偏振片和第二偏振片处于不同状态下液晶层的穿透率确定液晶层效率。

在一实施例中，所述测试第一测试点在第一偏振片和第二偏振片处于不同状态下液晶层的穿透率包括：

测试第一测试点在第一状态下液晶层的穿透率，第一状态为液晶层贴附有第一偏振片和第二偏振片；

测试第一测试点在第二状态下液晶层的穿透率，第二状态为除去第一偏振片，贴附有第二偏振片；

测试第一测试点在第三状态下液晶层的穿透率，第三状态为除去第一偏振片和第二偏振片。

在一实施例中，测量第一测试点液晶面板的亮度L₁是液晶面板灰阶为255时的亮度。

在一实施例中，所述测试第二测试点在第一偏振片和第二偏振片处于不同状态下液晶层的穿透率包括：

测试第二测试点在第一状态下液晶层的穿透率，第一状态为液晶层贴附有第一偏振片和第二偏振片；

测试第二测试点在第二状态下液晶层的穿透率，第二状态为除去第一偏振片，贴附有第二偏振片；

测试第二测试点在第三状态下液晶层的穿透率，第三状态为除去第一偏振片和第二偏振片。

在一实施例中，采用如下公式计算在第一偏振片和第二偏振片处于不同状态下液晶层的穿透率：

T＝Li/Lj；

其中，Li为测量所得的液晶面板的亮度，Lj为同一状态下的除去液晶面板后测量所得的背光灯的亮度。

在一实施例中，测量第一测试点液晶面板的亮度L_1是液晶面板灰阶为255时的亮度。

在一实施例中，所述根据第一测试点在第一偏振片和第二偏振片处于不同状态下液晶层的穿透率，及第二测试点在第一偏振片和第二偏振片处于不同状态下液晶层的穿透率确定液晶层效率包括：

根据第一测试点在第一状态、第二状态及第三状态下液晶层的穿透率和第二测试点在第二状态下液晶层的穿透率确定第一测试点对应的液晶层效率；

根据第二测试点在第一状态、第二状态及第三状态下液晶层的穿透率和第一测试点在第二状态下液晶层的穿透率确定液晶层效率确定第二测试点对应的液晶层效率；

将第一测试点对应的液晶层效率和第二测试点对应的液晶层效率的平均值作为最终测量所得的液晶层效率。

在一实施例中，

采用如下公式确定第一测试点对应的液晶层效率：

η₁＝T₁*T₃/(2T₂*T₅)；

采用如下公式确定第二测试点对应的液晶层效率：

η₂＝T₄*T₆/(2T₂*T₅)；

其中，T₁、T₂、T₃分别为第一测试点在第一状态、第二状态及第三状态下液晶层的穿透率，T₄、T₅、T6分别为第二测试点在第一状态、第二状态及第三状态下液晶层的穿透率，η₁、η₂为第一测试点及第二测试点对应的液晶层效率。

在一实施例中，所述显示面板测量方法还包括：

比较第一测试点对应的液晶层效率与第二测试点对应的液晶层效率的差值是否在预设范围内；

若否，返回至所述测试第一测试点在第一状态下液晶层的穿透率的步骤，第一状态为液晶层贴附有第一偏振片和第二偏振片。

在一实施例中，所述比较第一测试点对应的液晶层效率与第二测试点对应的液晶层效率的差值是否在预设范围内包括：

将所述差值除以第一测试点对应的液晶层效率或第二测试点对应的液晶层效率，判断比值是否在±5％之内。

在一实施例中，在所述将第一测试点对应的液晶层效率和第二测试点对应的液晶层效率的平均值作为最终测量所得的液晶层效率之前还包括：

选取若干个与所述预设位置相邻的第三测试点；

测量每一第三测试点在在第一状态下液晶层的穿透率，第一状态为液晶层贴附有第一偏振片和第二偏振片；

测量每一第三测试点在第二状态下液晶层的穿透率，第二状态为除去第一偏振片，贴附有第二偏振片；

依据第三测试点在第一状态下液晶层的穿透率、第三测试点第二状态下液晶层的穿透率、第一测试点在第二状态下液晶层的穿透率、第二测试点在第二状态下液晶层的穿透率确定第三测试点对应的液晶层效率；

相应地，所述将第一测试点对应的液晶层效率和第二测试点对应的液晶层效率的平均值作为最终测量所得的液晶层效率包括：

根据将第一测试点对应的液晶层效率、第二测试点对应的液晶层效率和第三测试点对应的液晶层效率的平均值作为最终测量所得的液晶层效率确定液晶层效率。

在一实施例中，采用如下公式确定第三测试点对应的液晶层效率：

η＝T_N*T_M/(2T₂*T₅)；

其中，T_N、T_M分别为第三测试点在在第一状态下及第二状态下液晶层的穿透率，η为第三测试点对应的液晶层效率。

为实现上述目的，本发明还提出一种显示面板测量设备，包括测量测量模块及处理模块，其中

所述测量模块，用于选取液晶面板预设位置的两个测试点，分别为第一测试点及第二测试点，测试第一测试点在第一偏振片和第二偏振片处于不同状态下液晶层的穿透率，测试第二测试点在第一偏振片和第二偏振片处于不同状态下液晶层的穿透率；

所述处理模块，根据第一测试点在第一偏振片和第二偏振片处于不同状态下液晶层的穿透率，及第二测试点在第一偏振片和第二偏振片处于不同状态下液晶层的穿透率确定液晶层效率。

本发明技术方案通过采用测量第一测试点在第一偏振片和第二偏振片处于不同状态下液晶层的穿透率，同时测量第二测试点在第一偏振片和第二偏振片处于不同状态下液晶层的穿透率，获得多组数据，相比现有技术中的测试方法，增加了数据组数，减小了环境变量对测试的影响，从而提高了测试的精度。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。

图1为本发明液晶显示器一实施例的流程图；

图2为本发明显示面板测量方法一实施例的流程图；

图3为图2中步骤S200的细化流程图；

图4为图2中步骤S300的细化流程图；

图5为图2中步骤S400的细化流程图；

图6为液晶面板预设位置的两个测试点的示意图。

本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

需要说明，本发明实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。

另外，在本发明中涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当人认为这种技术方案的结合不存在，也不在本发明要求的保护范围之内。

本发明提出一种显示面板测量方法。参加图1，液晶显示器100通常包括第一偏振片10、CF(color filter，彩色滤光片)玻璃基板20、液晶层30、Array(阵列)玻璃基板40及第二偏振片50。按照上述顺序叠加后形成液晶面板。在进行测试，能够拆除测试点垂直方向上对应的部分第一偏振片10及第二偏振片50，通过专业的仪器设备测试所需参数，从而完成液晶效率测试。

参照图2及图6，该显示面板测量方法，包括：

S100、选取液晶面板预设位置的两个测试点，分别为第一测试点70及第二测试点80。

本显示面板测量方法可应用于TN(Twisted Nematic，扭曲向列型)、VA(VerticalAlignment，垂直配向)、IPS(In-Plane Switching，平面转换)等类型的液晶面板。在此不一一列举。预设位置为液晶面板的居中位置，第一测试点70和第二测试点80相邻，第一测试点70和第二测试点80之间的距离依据实际测试而设定。需要说明的是，选取居中位置，有利于后续步骤的中穿透率的测试。

S200、测试第一测试点在第一偏振片10和第二偏振片50处于不同状态下液晶层的穿透率。

本实施例中，第一偏振片10和第二偏振片50包括有三种组合状态，即：1、第一偏振片10和第二偏振片50同时贴附有；2、去掉第一偏振片10、贴附有第二偏振片50；3、同时去掉第一偏振片10和第二偏振片50。然后分别测得第一测试点70在不同状态下液晶层的穿透率。

S300、测试第二测试点80在第一偏振片10和第二偏振片50处于不同状态下液晶层的穿透率。

同理，分别测得第二测试点80在上述1～3三种状态下液晶层的穿透率。

S400、根据第一测试点70在第一偏振片10和第二偏振片50处于不同状态下液晶层的穿透率，及第二测试点80在第一偏振片10和第二偏振片50处于不同状态下液晶层的穿透率确定液晶层效率。

本实施例中，第一测试点在三种不同状态下得到三组数据，第二测试点80在三种不同状态下得到三组数据，如此得到六组数据，通过该六组数据计算得到液晶层效率。

本发明技术方案通过采用测量第一测试点70在第一偏振片10和第二偏振片50处于不同状态下液晶层的穿透率，同时测量第二测试点80在第一偏振片10和第二偏振片50处于不同状态下液晶层的穿透率，获得多组数据，相比现有技术中的测试方法，增加了数据组数，减小了环境变量对测试的影响，从而提高了测试的精度。

参照图3，所述测试第一测试点70在第一偏振片10和第二偏振片50处于不同状态下液晶层的穿透率包括：

S210、测试第一测试点70在第一状态下液晶层的穿透率，第一状态为液晶层贴附有第一偏振片10和第二偏振片50。

需要说明的是，亮度可以采用照度计在测得。液晶面板的亮度是指液晶显示器完整状态下，直接测量显示器屏幕的得到亮度。然后在人工或者其他方式拆除液晶层30所在的液晶面板，直接测量液晶面板背后的背光灯的亮度，得到第一测试点70的背光灯的亮度L₀。根据公式T₁＝L₁/L₀，计算第一测试点70在第一状态下液晶层30的穿透率T1。测量第一测试点70液晶面板的亮度L₁是液晶面板灰阶为255时的亮度。

S220、测试第一测试点70在第二状态下液晶层的穿透率，第二状态为除去第一偏振片10，贴附有第二偏振片50。

类似地，测量第一测试点70除去第一偏振片10、贴附有第二偏振片50时液晶面板的亮度L₂，再测量除去液晶面板后第一测试点70的背光灯的亮度L₃；根据公式T₂＝L₂/L₃，计算第一测试点70在第二状态下液晶层30的穿透率T₂。

S230、测试第一测试点70在第三状态下液晶层的穿透率，第三状态为除去第一偏振片10和第二偏振片50。

类似地，测量第一测试点70除去第一偏振片10及第二偏振片50时液晶面板的亮度L₄，再测量除去液晶面板后第一测试点70的背光灯的亮度L5；根据公式T₃＝L₄/L₅，计算第一测试点70在第三状态下液晶层30的穿透率T₃。

参照图4，再对第一测试点70完成测试后，再对第二测试点80进行测试。所述测试第二测试点80在第一偏振片10和第二偏振片50处于不同状态下液晶层的穿透率包括：

S310、测试第二测试点80在第一状态下液晶层的穿透率，第一状态为液晶层贴附有第一偏振片10和第二偏振片50。

与第一测试点70测试的方法和步骤相同，在测试第二测试点80时，先测量液晶面板亮度，液晶面板的亮度是指液晶显示器完整状态下，直接测量显示器屏幕的得到亮度。然后在人工拆除液晶层30所在的液晶面板，直接测量液晶面板背后的背光灯的亮度，得到第二测试点80的背光灯的亮度L₀。根据公式T₄＝L₁’/L₀’，计算第二测试点80在第一状态下液晶层30的穿透率T₄。

S320、测试第二测试点80在第二状态下液晶层的穿透率，第二状态为除去第一偏振片10，贴附有第二偏振片50。

同理，测量第二测试点80除去第一偏振片10、贴附有第二偏振片50时液晶面板的亮度L₂’，再测量除去液晶面板后第二测试点80的背光灯的亮度L₃’；根据公式T₅＝L₂’/L₃’，计算第一测试点70在第二状态下液晶层30的穿透率T₅。

S330、测试第二测试点80在第三状态下液晶层的穿透率，第三状态为除去第一偏振片10和第二偏振片50。

同理，测量第二测试点80除去第一偏振片10及第二偏振片50时液晶面板的亮度L₄’，再测量除去液晶面板后第一测试点70的背光灯的亮度L₅’；根据公式T₆＝L₄’/L₅’，计算第一测试点70在第三状态下液晶层30的穿透率T₆。

由上可知，采用如下通用公式计算在第一偏振片10和第二偏振片50处于不同状态下液晶层的穿透率：

T＝Li/Lj；

其中，Li为测量所得的液晶面板的亮度，Lj为同一状态下的除去液晶面板后测量所得的背光灯的亮度。

参照图5，进一步地，所述根据第一测试点70在第一偏振片10和第二偏振片50处于不同状态下液晶层的穿透率，及第二测试点80在第一偏振片10和第二偏振片50处于不同状态下液晶层的穿透率确定液晶层效率包括：

S410、根据第一测试点70在第一状态、第二状态及第三状态下液晶层的穿透率和第二测试点80在第二状态下液晶层的穿透率确定第一测试点70对应的液晶层效率。

S420、根据第二测试点80在第一状态、第二状态及第三状态下液晶层的穿透率和第一测试点70在第二状态下液晶层的穿透率确定液晶层效率确定第二测试点80对应的液晶层效率。

S430、将第一测试点70对应的液晶层效率和第二测试点80对应的液晶层效率的平均值作为最终测量所得的液晶层效率。

值得说明的是，通过求取第一测试点70和第二测试点80对应液晶层30效率的平均值，进一步提高了测试的精度，降低了偶然操作的误差或者环境因素对测试结果造成的影响。

进一步地，本实施例中，采用如下公式确定第一测试点70对应的液晶层效率：

η₁＝T₁*T₃/(2T₂*T₅)；

采用如下公式确定第二测试点80对应的液晶层效率：

η₂＝T₄*T₆/(2T₂*T₅)；

其中，T₁、T₂、T₃分别为第一测试点70在第一状态、第二状态及第三状态下液晶层的穿透率，T₄、T₅、T6分别为第二测试点80在第一状态、第二状态及第三状态下液晶层的穿透率，η₁、η₂为第一测试点70及第二测试点80对应的液晶层效率。

进一步地，所述显示面板测量方法还包括：

比较第一测试点70对应的液晶层效率与第二测试点80对应的液晶层效率的差值是否在预设范围内；

若否，返回至所述测试第一测试点70在第一状态下液晶层的穿透率的步骤，第一状态为液晶层贴附有第一偏振片10和第二偏振片50。

本实施例中，将第一测试点70对应的液晶层30效率与第二测试点80对应的液晶层30效率进行作差，将差值的绝对值除以第一测试点70对应的液晶层30效率或者第二测试点80对应的液晶层30效率，若得到的结果在0～5％之内，说明得到的第一测试点70对应的液晶层效率与第二测试点80对应的液晶层效率，比较可靠。

若得到的结果不在0～5％之内，则说明测试结果不可靠，需要重新进行测试，此时重新对第一测试点液晶层效率及第二测试点液晶层效率进行测试。

在所述将第一测试点70对应的液晶层效率和第二测试点80对应的液晶层效率的平均值作为最终测量所得的液晶层效率之前还包括：

选取若干个与所述预设位置相邻的第三测试点；

测量每一第三测试点在在第一状态下液晶层的穿透率，第一状态为液晶层贴附有第一偏振片10和第二偏振片50；

测量每一第三测试点在第二状态下液晶层的穿透率，第二状态为除去第一偏振片10，贴附有第二偏振片50；

依据第三测试点在第一状态下液晶层的穿透率、第三测试点第二状态下液晶层的穿透率、第一测试点70在第二状态下液晶层的穿透率、第二测试点80在第二状态下液晶层的穿透率确定第三测试点对应的液晶层效率；

相应地，所述将第一测试点70对应的液晶层效率和第二测试点80对应的液晶层效率的平均值作为最终测量所得的液晶层效率包括：

根据将第一测试点70对应的液晶层效率、第二测试点80对应的液晶层效率和第三测试点对应的液晶层效率的平均值作为最终测量所得的液晶层效率确定液晶层效率。

值得说明的是，为进一步地提高测试精度，可选取一个以上的、与所述预设位置相邻的第三测试点，测试得到第三测试点对应的液晶层30效率。将得到的多组液晶层30效率求取平均值，将该平均值作为最终的液晶层30效率。

为提高测试的效率，一般第三测试点选取1至3个。

采用如下公式确定第三测试点对应的液晶层效率：

η＝T_N*T_M/(2T₂*T₅)；

其中，T_N、T_M分别为第三测试点在在第一状态下及第二状态下液晶层的穿透率，η为第三测试点对应的液晶层效率。

本发明技术方案，通过在原先测量基础上多组测量数据，可以提高测量精度，同时新增的数据不但可以测量第一测试点70液晶效率同时也可以测量第二测试点80的液晶效率，通过对比两点效率可以判断实验数据的可信度。

基于上述显示面板测量方法，本发明还提出一种显示面板测量设备，该显示面板测量设备包括测量测量模块及处理模块，其中

所述测量模块，用于选取液晶面板预设位置的两个测试点，分别为第一测试点及第二测试点，测试第一测试点在第一偏振片和第二偏振片处于不同状态下液晶层的穿透率，测试第二测试点在第一偏振片和第二偏振片处于不同状态下液晶层的穿透率。

所述处理模块，根据第一测试点在第一偏振片和第二偏振片处于不同状态下液晶层的穿透率，及第二测试点在第一偏振片和第二偏振片处于不同状态下液晶层的穿透率确定液晶层效率。

应当理解的是，该显示面板测量设备能够实现上述显示面板测量方法所要达到的步骤及目的，具体步骤及目的参照方法部分，此处不再赘述。

以上所述仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是在本发明的发明构思下，利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种显示面板测量方法，其特征在于，所述显示面板测量方法包括：

选取液晶面板预设位置的两个测试点，分别为第一测试点及第二测试点；

测试所述第一测试点在第一偏振片和第二偏振片处于不同状态下液晶层的穿透率；

测试所述第二测试点在第一偏振片和第二偏振片处于不同状态下液晶层的穿透率；

根据所述第一测试点在所述第一偏振片和所述第二偏振片处于不同状态下液晶层的穿透率，及所述第二测试点在所述第一偏振片和所述第二偏振片处于不同状态下液晶层的穿透率确定液晶层效率。

2.如权利要求1所述的显示面板测量方法，其特征在于，所述测试第一测试点在所述第一偏振片和所述第二偏振片处于不同状态下液晶层的穿透率包括：

测试所述第一测试点在第一状态下液晶层的穿透率，第一状态为液晶层贴附有第一偏振片和第二偏振片；

测试所述第一测试点在第二状态下液晶层的穿透率，第二状态为除去第一偏振片，贴附有第二偏振片；

测试所述第一测试点在第三状态下液晶层的穿透率，第三状态为除去第一偏振片和第二偏振片。

3.如权利要求2所述的显示面板测量方法，其特征在于，所述测试第二测试点在所述第一偏振片和所述第二偏振片处于不同状态下液晶层的穿透率包括：

测试所述第二测试点在第一状态下液晶层的穿透率，第一状态为液晶层贴附有所述第一偏振片和所述第二偏振片；

测试所述第二测试点在第二状态下液晶层的穿透率，第二状态为除去所述第一偏振片，贴附有所述第二偏振片；

测试所述第二测试点在第三状态下液晶层的穿透率，第三状态为除去所述第一偏振片和所述第二偏振片。

4.如权利要求3所述的显示面板测量方法，其特征在于，采用如下公式计算在所述第一偏振片和所述第二偏振片处于不同状态下液晶层的穿透率：

T＝Li/Lj；

其中，Li为测量所得的液晶面板的亮度，Lj为同一状态下的除去液晶面板后测量所得的背光灯的亮度。

5.如权利要求4中任意一项所述的显示面板测量方法，其特征在于，所述根据所述第一测试点在所述第一偏振片和所述第二偏振片处于不同状态下液晶层的穿透率，及所述第二测试点在所述第一偏振片和所述第二偏振片处于不同状态下液晶层的穿透率确定液晶层效率包括：

根据所述第一测试点在第一状态、第二状态及第三状态下液晶层的穿透率和所述第二测试点在第二状态下液晶层的穿透率确定所述第一测试点对应的液晶层效率；

根据所述第二测试点在第一状态、第二状态及第三状态下液晶层的穿透率和所述第一测试点在第二状态下液晶层的穿透率确定液晶层效率确定所述第二测试点对应的液晶层效率；

将所述第一测试点对应的液晶层效率和所述第二测试点对应的液晶层效率的平均值作为最终测量所得的液晶层效率。

6.如权利要求5所述的显示面板测量方法，其特征在于，

采用如下公式确定所述第一测试点对应的液晶层效率：

η₁＝T₁*T₃/(2T₂*T₅)；

采用如下公式确定所述第二测试点对应的液晶层效率：

η₂＝T₄*T₆/(2T₂*T₅)；

其中，T₁、T₂、T₃分别为所述第一测试点在第一状态、第二状态及第三状态下液晶层的穿透率，T₄、T₅、T6分别为所述第二测试点在第一状态、第二状态及第三状态下液晶层的穿透率，η₁、η₂为所述第一测试点及所述第二测试点对应的液晶层效率。

7.如权利要求5所述的显示面板测量方法，其特征在于，所述显示面板测量方法还包括：

比较所述第一测试点对应的液晶层效率与所述第二测试点对应的液晶层效率的差值是否在预设范围内；

若否，返回至所述测试所述第一测试点在第一状态下液晶层的穿透率的步骤，第一状态为液晶层贴附有所述第一偏振片和所述第二偏振片。

8.如权利要求5所述的显示面板测量方法，其特征在于，在所述将所述第一测试点对应的液晶层效率和所述第二测试点对应的液晶层效率的平均值作为最终测量所得的液晶层效率之前还包括：

选取若干个与所述预设位置相邻的第三测试点；

测量每一所述第三测试点在在第一状态下液晶层的穿透率，第一状态为液晶层贴附有所述第一偏振片和所述第二偏振片；

测量每一所述第三测试点在第二状态下液晶层的穿透率，第二状态为除去所述第一偏振片，贴附有所述第二偏振片；

依据所述第三测试点在第一状态下液晶层的穿透率、所述第三测试点第二状态下液晶层的穿透率、所述第一测试点在第二状态下液晶层的穿透率、所述第二测试点在第二状态下液晶层的穿透率确定所述第三测试点对应的液晶层效率；

相应地，所述将所述第一测试点对应的液晶层效率和所述第二测试点对应的液晶层效率的平均值作为最终测量所得的液晶层效率包括：

根据将所述第一测试点对应的液晶层效率、所述第二测试点对应的液晶层效率和所述第三测试点对应的液晶层效率的平均值作为最终测量所得的液晶层效率确定液晶层效率。

9.如权利要求8所述的显示面板测量方法，其特征在于，采用如下公式确定第三测试点对应的液晶层效率：

η＝T_N*T_M/(2T₂*T₅)；

其中，T_N、T_M分别为所述第三测试点在第一状态下及第二状态下液晶层的穿透率，η为第三测试点对应的液晶层效率。

10.一种显示面板测量设备，其特征在于，包括测量测量模块及处理模块，其中

所述测量模块，用于选取液晶面板预设位置的两个测试点，分别为第一测试点及第二测试点，测试所述第一测试点在第一偏振片和第二偏振片处于不同状态下液晶层的穿透率，测试所述第二测试点在所述第一偏振片和所述第二偏振片处于不同状态下液晶层的穿透率；

所述处理模块，根据所述第一测试点在所述第一偏振片和所述第二偏振片处于不同状态下液晶层的穿透率，及所述第二测试点在所述第一偏振片和所述第二偏振片处于不同状态下液晶层的穿透率确定液晶层效率。