CN105717674A - 测量液晶层对入射光的液晶效率的方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种测量液晶层对入射光的液晶效率的方法，该方法包括：保持液晶层的下偏振片不变，使液晶层的上偏振片和下偏振片处于第一状态，第一状态是指上偏振片的偏光轴和下偏振片的偏光轴平行的状态；在第一状态下，控制液晶面板画面的亮度为0灰阶，并测量目标位置液晶面板的亮度Lvx；在第一状态下，控制液晶面板画面的亮度为255灰阶，并测量目标位置液晶面板的亮度Lvy；根据亮度Lvx和亮度Lvy，确定液晶层对入射光的液晶效率。通过上述方式，本发明能够不用拆卸模组，测量次数少、简单，且效率和准确度均很高。

Description

测量液晶层对入射光的液晶效率的方法

技术领域

本发明涉及液晶技术领域，特别是涉及一种测量液晶层对入射光的液晶效率的方法。

背景技术

目前常用的液晶面板显示模式主要包括扭曲向列相模式(TwistedNematic，简写TN)、垂直取向模式(VerticalAlignment，简写VA)，共面开关模式(InPlainSwitching，简写IPS)。

以VA模式为例：VA显示是一种垂直配向的常黑模式，其上下基板偏光片的偏光轴垂直偏贴。VA液晶显示的原理基于液晶的透光率随其所施电压的大小而变化的特性。当光通过下基板(即TFT基板)偏振片后，变成线性偏振光，偏振方向与下偏振片偏光轴的方向一致。在不加电压时，光线经过液晶不会发生偏振方向的改变。经过上基板(即CF基板)偏光片，光线被吸收，因而为黑态。当加上电压以后，液晶在电场作用下沿配向方向发生偏转。当光通过液晶层时，由于受液晶折射，线性偏振光被分解为两束光。又由于这两束光传播速度不同，因而当两束光合成后，必然使偏振光的偏振方向发生变化。当入射光达到上基板偏振片时，与下偏振片的偏光轴方向平行的光线可以通过，因而为亮态。在整个显示过程中，液晶起到一个电压控制的光阀作用。可见液晶对线偏振光的偏振方向的偏转能力非常重要，它直接影响了穿透率结果。

液晶层对入射光的液晶效率定义为：经过下偏光片产生的与下偏光片偏光轴方向平行的偏振光，在最大灰阶下，排除液晶材料吸收因素，经过液晶层后，液晶层能将多大比例的入射光的偏振方向旋转90度，从而与上偏光片偏光轴平行，使光线穿透出去。现有技术中，常规的液晶效率的测量方法是：多次测量液晶面板穿透率，通过计算排除其他影响穿透率的因素，最终计算出液晶效率。但是，这种方法测量次数多，测量过程中变异较多，且做了近似处理，所以效率和准确度均偏低。

发明内容

本发明主要解决的技术问题是提供一种测量液晶层对入射光的液晶效率的方法，能够不用拆卸模组，测量次数少、简单，且效率和准确度均很高。

为解决上述技术问题，本发明采用的一个技术方案是：提供一种测量液晶层对入射光的液晶效率的方法，所述方法包括：保持液晶层的下偏振片不变，使所述液晶层的上偏振片和下偏振片处于第一状态，所述第一状态是指所述上偏振片的偏光轴和所述下偏振片的偏光轴平行的状态；在所述第一状态下，控制液晶面板画面的亮度为0灰阶，并测量目标位置所述液晶面板的亮度Lvx；在所述第一状态下，控制液晶面板画面的亮度为255灰阶，并测量所述目标位置所述液晶面板的亮度Lvy；根据所述亮度Lvx和所述亮度Lvy，确定所述液晶层对入射光的液晶效率。

其中，所述液晶层对入射光的液晶效率A为：

其中，所述保持液晶层的下偏振片不变，使所述液晶层的上偏振片和下偏振片处于第一状态的步骤之前，包括：使所述液晶层的所述上偏振片和所述下偏振片处于第二状态，所述第二状态是指所述上偏振片的偏光轴和所述下偏振片的偏光轴垂直的状态；在所述第二状态下，控制液晶面板画面的亮度为0灰阶，并测量所述目标位置所述液晶面板的亮度Lvz；所述根据所述亮度Lvx和所述亮度Lvy，确定所述液晶层对入射光的液晶效率的步骤，包括：根据所述亮度Lvx、所述亮度Lvy以及所述亮度Lvz，确定所述液晶层对入射光的液晶效率。

其中，所述液晶层对入射光的液晶效率B为：

其中，所述保持液晶层的下偏振片不变，使所述液晶层的上偏振片和下偏振片处于第一状态的步骤，包括：在处于所述第二状态时，去掉原始上偏光片，使用与所述原始上偏光片同型号的新偏光片作为上偏光片，按照相对于所述原始上偏光片的偏贴方向偏转90度重新偏贴，以使得所述液晶层的所述上偏振片和所述下偏振片处于所述第一状态。

为解决上述技术问题，本发明采用的另一个技术方案是：提供一种测量液晶层对预定灰阶入射光的液晶效率的方法，所述方法包括：保持液晶层的下偏振片不变，使所述液晶层的上偏振片和下偏振片处于第一状态，所述第一状态是指所述上偏振片的偏光轴和所述下偏振片的偏光轴平行的状态；在所述第一状态下，控制液晶面板画面的亮度为0灰阶，并测量目标位置所述液晶面板的亮度Lvx；在所述第一状态下，控制液晶面板预定颜色画面的亮度为预定灰阶，并测量所述目标位置所述液晶面板的亮度Lvy’；根据所述亮度Lvx和所述亮度Lvy’，确定所述液晶层在预定灰阶下对预定颜色的入射光的液晶效率。

其中，所述液晶层在预定灰阶下对预定颜色的入射光的液晶效率A’为：

其中，所述保持液晶层的下偏振片不变，使所述液晶层的上偏振片和下偏振片处于第一状态的步骤之前，包括：使所述液晶层的所述上偏振片和所述下偏振片处于第二状态，所述第二状态是指所述上偏振片的偏光轴和所述下偏振片的偏光轴垂直的状态；在所述第二状态下，控制液晶面板画面的亮度为0灰阶，并测量所述目标位置所述液晶面板的亮度Lvz’；所述根据所述亮度Lvx和所述亮度Lvy，确定所述液晶层对入射光的液晶效率的步骤，包括：根据所述亮度Lvx、所述亮度Lvy’以及所述亮度Lvz’，确定所述液晶层在预定灰阶下对预定颜色的入射光的液晶效率。

其中，所述液晶层在预定灰阶下对预定颜色的入射光的液晶效率B’为：

其中，所述保持液晶层的下偏振片不变，使所述液晶层的上偏振片和下偏振片处于第一状态的步骤，包括：在处于所述第二状态时，去掉原始上偏光片，使用与所述原始上偏光片同型号的新偏光片作为上偏光片，按照相对于所述原始上偏光片的偏贴方向偏转90度重新偏贴，以使得所述液晶层的所述上偏振片和所述下偏振片处于所述第一状态。

本发明的有益效果是：区别于现有技术的情况，本发明保持液晶层的下偏振片不变，使液晶层的上偏振片和下偏振片处于第一状态，第一状态是指上偏振片的偏光轴和下偏振片的偏光轴平行的状态；在第一状态下，控制液晶面板画面的亮度为0灰阶，并测量目标位置液晶面板的亮度Lvx；在第一状态下，控制液晶面板画面的亮度为255灰阶，并测量目标位置液晶面板的亮度Lvy；根据亮度Lvx和亮度Lvy，确定液晶层对入射光的液晶效率。通过以上方式，能够避免现有技术中透过率的测量，不用拆装背光模组，避免因拆装导致的透过率波动的影响，使测量更简单和准确；同时，不需要采用对照组，测量数据是在同一背光亮度状态下测量出来的，量测数据很准确。

附图说明

图1是现有技术中测量液晶效率的一示意图；

图2是现有技术中测量液晶效率的另一示意图；

图3是现有技术中测量液晶效率的又一示意图；

图4是本发明测量液晶层对入射光的液晶效率的一原理示意图；

图5是本发明测量液晶层对入射光的液晶效率的另一原理示意图；

图6是本发明测量液晶层对入射光的液晶效率的方法一实施方式的流程图；

图7是现有技术中液晶面板的结构示意图；

图8是本发明测量液晶层对入射光的液晶效率的方法另一实施方式的流程图；

图9是本发明测量液晶层对预定灰阶入射光的液晶效率的方法一实施方法的流程图。

具体实施方式

在详细介绍本发明之前，先说明一下与本发明相关的现有技术情况。

液晶层对入射光的液晶效率的测量方法，现有技术中的一个测量方法如下：

请参见图1至图3，中间为液晶层1，液晶层1的上面为上偏光片2，液晶层1的下面为下偏光片3。

如图1所示，第一步，测量液晶面板的正常透过率，L为背光源亮度，L₁为透过液晶盒后的亮度。据此可以得出：

T＝L₁/L＝η_{下偏对自然光}*AR*η_CF*η_LC*η_{上偏对偏振光}(1)

T是图1中透过液晶盒后的总光透过率，η_{下偏对自然光}是下偏光片对自然光的透过率，AR是开口率(Apertureratio，简写AR)，η_CF是彩色滤光片基板(ColorFilter，简写CF)的透过率，η_LC是液晶效率，即液晶层的透过率，η_{上偏对偏振光}是上偏光片对偏振光的透过率。

如图2所示，第二步，剥离上基板(即CF基板)的偏光片，测量液晶面板的透过率，L₂是剥离上偏光片2后透过液晶盒的亮度，据此可以得出：

T’＝L₂/L＝η_{下偏对自然光}*AR*η_CF(2)

其中，T’是图2中透过液晶盒后的总光透过率。

如图3所示，第三步，同时剥离上下基板的偏光片，测量液晶面板的透过率，L₃是剥离上偏光片2和下偏光片3后透过液晶盒的亮度，据此可以得出：

T”＝L₃/L＝AR*η_CF(3)

其中，T”是图3中透过液晶盒后的总光透过率。

根据关系式(1)(2)(3)可以得出：

T/T’＝η_LC*η_{上偏对偏振光}(4)

T’/T”＝η_{下偏对自然光}(5)

假设如下关系式：

η_{上偏对偏振光}＝2*η_{上偏对自然光}(6)

η_{下偏对偏振光}＝2*η_{下偏对自然光}(7)

根据关系式(4)(5)(6)(7)，则可以得出液晶效率：

η_LC＝T*T”/2T^’2(8)

通过上述计算，排除掉其他穿透率影响因素，从而计算出液晶效率。

上述测量中，要测量三次透过率。测量次数多，因为透过率测量要分别测量背光和模组的亮度，而非同时测量，每次拆装以及人为因素都会影响到透过率的测量结果，所以测量过程中透过率容易变异；且对偏光片的透过率做了近似处理，所以测量效率和准确度均有降低；而且上下偏光片都被破坏，加大了重新偏贴使用的难度和成本。

本发明通过提供一种新的测量原理，通过设计一种新型的液晶效率测量方法，能够简化测量次数，提高测量效率；同时本发明的测量数据不用拆装背光，也不需要对照组，完全是同一时间段测量，能够提高准确度，降低重新偏贴使用的难度和成本。

下面结合附图和实施方式对本发明进行详细说明。

先介绍本发明的测量原理。

背光源发出的光经过下偏光片(TFT基板)，产生与下偏光片偏光轴方向平行的线偏振光，在最大灰阶下，排除液晶材料吸收因素，经过液晶层后，因为液晶方位角或者液晶光程差设计，液晶不是完全的1/2玻片，液晶层无法将所有入射光的偏振方向旋转90度，从而与上基板(CF基板)偏光片偏光轴平行，使光线穿透出去。液晶效率对于提升透过率非常重要，所以需要评价液晶面板的液晶效率。

正常VA和IPS模式面板为常黑模式，即上偏光片偏光轴方向与下偏光片偏光轴方向垂直。假设亮态，255灰阶时液晶效率为x％，根据波动光学理论，所有的出射光可以被分解为平行于上基板偏光片偏光轴方向和垂直于上基板偏光片偏光轴方向(即透过方向和吸收方向，相互垂直)偏振的线偏振光。如图4所示，如果在透过方向(穿透轴)上有x％的入射光，则剩下的(1-x)％入射光即在吸收方向(吸收轴)上，即亮态时，穿透轴和吸收轴入射光比例如图4。

0灰阶暗态时，因为IPS对比度在1000左右，而VA模式对比度在4000以上，暗态亮度非常低，亮态亮度远大于暗态。即在上偏光片穿透轴方向可以认为无光透过，而入射光都被吸收轴方向吸收了，无法透过，则暗态时，穿透轴和吸收轴入射光比例如图5所示。

撕掉上偏光片，然后使用同型号新偏光片重新偏贴上偏光片，偏贴方向为偏转90度，即上偏光片偏光轴方向与下偏光片偏光轴方向平行。此时为常白模式，即不加电压时，液晶不改变线偏振光的偏振方向，因为此时上下偏光片偏光轴平行，所以经过下偏光片产生的线偏振光直接从上偏光片穿透方向透过，此时显示为纯白画面，这时液晶效率即为100％，测量面板亮度Lvx。然后切到最高灰阶255灰阶，测量面板亮度Lvy，此亮度是经过液晶偏转后透过上偏片穿透方向的亮度，也即是透过原模组常黑模式时上偏光片吸收方向的亮度，(Lvy/Lvx)％即为通过上基板偏光片吸收方向的入射光的比例，则通过上基板偏光片穿透方向的入射光的比例，即为液晶效率{1-(Lvy/Lvx)}％。即当重新偏贴上偏光片，上偏光片偏转90度偏贴，上下偏光片穿透轴方向平行时，分别测量255灰阶亮态和0阶暗态的亮度，即分别为图4中的亮态时吸收轴(1-x)％的入射光与暗态时吸收轴100％的入射光。

参阅图6，图6是本发明测量液晶层对入射光的液晶效率的方法一实施方式的流程图，包括：

步骤S101：保持液晶层的下偏振片不变，使液晶层的上偏振片和下偏振片处于第一状态，第一状态是指上偏振片的偏光轴和下偏振片的偏光轴平行的状态。

通常常黑模式暗态亮度很低。例如，亮度为400，对比度为4000.则暗态亮度为0.1。说明在常黑模式下，在不加电压时，液晶对线偏振光偏转作用可以忽略。

参见图7，图7是液晶面板的结构示意图，液晶面板从上至下包括上偏光片11、上基板12、液晶层13、下基板14、下偏光片15以及背光模组16。

第一状态是指上偏振片的偏光轴和下偏振片的偏光轴平行的状态，保持液晶层的下偏振片不变，使液晶层的上偏振片和下偏振片处于第一状态，也就是说下偏光片15以及背光模组16均是不需要拆卸，保持原样即可，在需要的情况下，为了使液晶层的上偏振片和下偏振片处于第一状态，可以仅仅改变上偏振片11，是上偏光片的偏光轴改变90度，即可使得上偏振片和下偏振片处于第一状态。

对于对于VA显示模式、IPS显示模式和TN显示模式来讲，其上下偏光片均为偏光轴垂直偏贴，记为第二状态。

此时，步骤S101可以是：在处于第二状态时，去掉原始上偏光片，使用与原始上偏光片同型号的新偏光片作为上偏光片，按照相对于原始上偏光片的偏贴方向偏转90度重新偏贴，以使得液晶层的上偏振片和下偏振片处于第一状态，其中，第二状态是指上偏振片的偏光轴和下偏振片的偏光轴垂直的状态。

需要注意的是：第一，重新偏贴的上偏光片类型与原面板偏光片越接近，偏光片对结果的影响越小；优选与原面板偏光片同类型同批次的偏光片。第二，重新偏贴时，对偏贴精度有要求，如果手动偏贴，偏贴时可以给液晶背光模组信号，然后沿像素排布方向进行偏贴。第三，如果选用工厂偏贴机台偏贴，因为尺寸问题，可以选用同类型同批次下偏光片偏贴至上基板；或者对上偏光片进行裁切后再偏贴。

通过以上方式，能够避免现有技术中透过率的测量，不用拆装背光模组，避免因拆装导致的透过率波动的影响，使测量更简单和准确；同时，不需要采用对照组，测量数据是在同一背光亮度状态下测量出来的，量测数据很准确。

步骤S102：在第一状态下，控制液晶面板画面的亮度为0灰阶，并测量目标位置液晶面板的亮度Lvx。

步骤S103：在第一状态下，控制液晶面板画面的亮度为255灰阶，并测量目标位置液晶面板的亮度Lvy。

步骤S104：根据亮度Lvx和亮度Lvy，确定液晶层对入射光的液晶效率。

亮度Lvx为常白模式，即不加电压时，液晶不改变线偏振光的偏振方向所测量的液晶面板的亮度，因为此时上下偏光片穿透轴平行，所以经过下偏光片产生的线偏振光直接从上偏光片穿透轴方向透过，此时显示为纯白画面，这时的液晶效率即为100％。

亮度Lvy为切到最高灰阶255灰阶，所测量的液晶面板的亮度，此亮度是经过液晶偏转后透过上偏片穿透方向的亮度，也即是透过原模组常黑模式时上偏光片吸收方向的亮度。

如果存在一些其他方面的修正因子，把这些修改正因、亮度Lvx和亮度Lvy结合起来，或者根据经验进行结合，或者给出修正公式进行结合等等，即可确定液晶层对入射光的液晶效率。

在一实施方式中，如果忽略修正因子或者其他因素的影响时，液晶层对入射光的液晶效率A为：

$A=\{1-\frac{Lvy}{Lvx}\}\%.$

如果液晶面板对比度很低，暗态亮度很高时，说明在常黑模式下，在不加电压时，液晶对线偏振光有偏转作用，此时不加电压时液晶效率不在是100％，则需要首先测量常黑模式时暗态亮度Lvz，然后再如上述方法进行测量。参见图8，步骤S101之前还可以包括：步骤S105和步骤S106。

步骤S105：使液晶层的上偏振片和下偏振片处于第二状态，第二状态是指上偏振片的偏光轴和下偏振片的偏光轴垂直的状态。

步骤S106：在第二状态下，控制液晶面板画面的亮度为0灰阶，并测量目标位置液晶面板的亮度Lvz。

此时步骤S104具体为：根据亮度Lvx、亮度Lvy以及亮度Lvz，确定液晶层对入射光的液晶效率。

如果存在一些其他方面的修正因子，把这些修改正因、亮度Lvx、亮度Lvy以及亮度Lvz结合起来，或者根据经验进行结合，或者给出修正公式进行结合等等，即可确定液晶层对入射光的液晶效率。

其中，如果忽略修正因子或者其他因素的影响时，液晶层对入射光的液晶效率B为：

$B=\{1-\frac{Lvy}{Lvx+Lvz}\}\%.$

其中，步骤S101可以是：在处于第二状态时，去掉原始上偏光片，使用与原始上偏光片同型号的新偏光片作为上偏光片，按照相对于原始上偏光片的偏贴方向偏转90度重新偏贴，以使得液晶层的上偏振片和下偏振片处于第一状态。

下面以具体的试验数据来说明本发明的有益效果。对比方法为上述图1至图3所示的现有技术方法。表1为利用对比方法所测量得到的液晶效率的试验数据，表2为本发明方法不考虑暗态亮度测量液晶效率的试验数据，表3为本发明方法考虑暗态亮度测量液晶效率的试验数据。

表1

表2

表3

根据表1至表3，可见两种方法测量出的液晶效率接近，且常黑模式对比度很高，即暗态亮度很低时，对液晶效率的影响可以忽略。

本发明实施方式保持液晶层的下偏振片不变，使液晶层的上偏振片和下偏振片处于第一状态，第一状态是指上偏振片的偏光轴和下偏振片的偏光轴平行的状态；在第一状态下，控制液晶面板画面的亮度为0灰阶，并测量目标位置液晶面板的亮度Lvx；在第一状态下，控制液晶面板画面的亮度为255灰阶，并测量目标位置液晶面板的亮度Lvy；根据亮度Lvx和亮度Lvy，确定液晶层对入射光的液晶效率。通过以上方式，能够避免现有技术中透过率的测量，不用拆装背光模组，避免因拆装导致的透过率波动的影响，使测量更简单和准确；同时，不需要采用对照组，测量数据是在同一背光亮度状态下测量出来的，量测数据很准确。

参见图9，图9是本发明测量液晶层对预定灰阶入射光的液晶效率的方法一实施方法的流程图，本实施方式的方法和上述的方法基本相同，相同之处请参见上述方法的详细说明，在此不再详细赘叙；不同之处在于：第一，将上述方法中的255灰阶改为预定灰阶，也即是说可以测量任意的预定灰阶下液晶面板的亮度Lvy’，从而可以测量预定灰阶下的液晶效率；第二，将上述方法中入射光改为预定颜色，也即是说可以测量任意的预定颜色，在预定灰阶下的液晶效率。该方法包括：

步骤S201：保持液晶层的下偏振片不变，使液晶层的上偏振片和下偏振片处于第一状态，第一状态是指上偏振片的偏光轴和下偏振片的偏光轴平行的状态。

步骤S202：在第一状态下，控制液晶面板画面的亮度为0灰阶，并测量目标位置液晶面板的亮度Lvx。

步骤S203：在第一状态下，控制液晶面板预定颜色画面的亮度为预定灰阶，并测量目标位置液晶面板的亮度Lvy’；

步骤S204：根据亮度Lvx和亮度Lvy’，确定液晶层在预定灰阶下对预定颜色的入射光的液晶效率。

通过上述方式，能够测量任意颜色，任意灰阶的液晶效率。

其中，液晶层在预定灰阶下对预定颜色的入射光的液晶效率A’为：

$A^{,}=\{1-\frac{{\mathrm{Lvy}}^{,}}{Lvx}\}\%.$

其中，步骤S201之前，可以包括：

A、使液晶层的上偏振片和下偏振片处于第二状态，第二状态是指上偏振片的偏光轴和下偏振片的偏光轴垂直的状态。

B、在第二状态下，控制液晶面板画面的亮度为0灰阶，并测量目标位置液晶面板的亮度Lvz’。

此时，步骤S204具体为：根据亮度Lvx、亮度Lvy’以及亮度Lvz’，确定液晶层在预定灰阶下对预定颜色的入射光的液晶效率。

其中，液晶层在预定灰阶下对预定颜色的入射光的液晶效率B’为：

$B^{,}=\{1-\frac{{\mathrm{Lvy}}^{,}}{Lvx+{\mathrm{Lvz}}^{,}}\}\%.$

其中，步骤S201可以包括：在处于第二状态时，去掉原始上偏光片，使用与原始上偏光片同型号的新偏光片作为上偏光片，按照相对于原始上偏光片的偏贴方向偏转90度重新偏贴，以使得液晶层的上偏振片和下偏振片处于第一状态。

以上所述仅为本发明的实施方式，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种测量液晶层对入射光的液晶效率的方法，其特征在于，所述方法包括：

保持液晶层的下偏振片不变，使所述液晶层的上偏振片和下偏振片处于第一状态，所述第一状态是指所述上偏振片的偏光轴和所述下偏振片的偏光轴平行的状态；

在所述第一状态下，控制液晶面板画面的亮度为0灰阶，并测量目标位置所述液晶面板的亮度Lvx；

在所述第一状态下，控制液晶面板画面的亮度为255灰阶，并测量所述目标位置所述液晶面板的亮度Lvy；

根据所述亮度Lvx和所述亮度Lvy，确定所述液晶层对入射光的液晶效率。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述液晶层对入射光的液晶效率A为：

$A=\{1-\frac{Lvy}{Lvx}\}\%.$

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述保持液晶层的下偏振片不变，使所述液晶层的上偏振片和下偏振片处于第一状态的步骤之前，包括：

使所述液晶层的所述上偏振片和所述下偏振片处于第二状态，所述第二状态是指所述上偏振片的偏光轴和所述下偏振片的偏光轴垂直的状态；

在所述第二状态下，控制液晶面板画面的亮度为0灰阶，并测量所述目标位置所述液晶面板的亮度Lvz；

所述根据所述亮度Lvx和所述亮度Lvy，确定所述液晶层对入射光的液晶效率的步骤，包括：

根据所述亮度Lvx、所述亮度Lvy以及所述亮度Lvz，确定所述液晶层对入射光的液晶效率。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述液晶层对入射光的液晶效率B为：

$B=\{1-\frac{Lvy}{Lvx+Lvz}\}\%.$

5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述保持液晶层的下偏振片不变，使所述液晶层的上偏振片和下偏振片处于第一状态的步骤，包括：

在处于所述第二状态时，去掉原始上偏光片，使用与所述原始上偏光片同型号的新偏光片作为上偏光片，按照相对于所述原始上偏光片的偏贴方向偏转90度重新偏贴，以使得所述液晶层的所述上偏振片和所述下偏振片处于所述第一状态。

6.一种测量液晶层对预定灰阶入射光的液晶效率的方法，其特征在于，所述方法包括：

保持液晶层的下偏振片不变，使所述液晶层的上偏振片和下偏振片处于第一状态，所述第一状态是指所述上偏振片的偏光轴和所述下偏振片的偏光轴平行的状态；

在所述第一状态下，控制液晶面板画面的亮度为0灰阶，并测量目标位置所述液晶面板的亮度Lvx；

在所述第一状态下，控制液晶面板预定颜色画面的亮度为预定灰阶，并测量所述目标位置所述液晶面板的亮度Lvy’；

根据所述亮度Lvx和所述亮度Lvy’，确定所述液晶层在预定灰阶下对预定颜色的入射光的液晶效率。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述液晶层在预定灰阶下对预定颜色的入射光的液晶效率A’为：

$A^{,}=\{1-\frac{{\mathrm{Lvy}}^{,}}{Lvx}\}\%.$

8.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述保持液晶层的下偏振片不变，使所述液晶层的上偏振片和下偏振片处于第一状态的步骤之前，包括：

使所述液晶层的所述上偏振片和所述下偏振片处于第二状态，所述第二状态是指所述上偏振片的偏光轴和所述下偏振片的偏光轴垂直的状态；

在所述第二状态下，控制液晶面板画面的亮度为0灰阶，并测量所述目标位置所述液晶面板的亮度Lvz’；

所述根据所述亮度Lvx和所述亮度Lvy，确定所述液晶层对入射光的液晶效率的步骤，包括：

根据所述亮度Lvx、所述亮度Lvy’以及所述亮度Lvz’，确定所述液晶层在预定灰阶下对预定颜色的入射光的液晶效率。

9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述液晶层在预定灰阶下对预定颜色的入射光的液晶效率B’为：

$B^{,}=\left\{1-\frac{{\mathrm{Lvy}}^{,}}{Lvx+{\mathrm{Lvz}}^{,}}\right\}\%.$

10.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述保持液晶层的下偏振片不变，使所述液晶层的上偏振片和下偏振片处于第一状态的步骤，包括：

在处于所述第二状态时，去掉原始上偏光片，使用与所述原始上偏光片同型号的新偏光片作为上偏光片，按照相对于所述原始上偏光片的偏贴方向偏转90度重新偏贴，以使得所述液晶层的所述上偏振片和所述下偏振片处于所述第一状态。