CN101840078B - 水波纹级别测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种水波纹级别测试方法，其中执行以下步骤：采集测试面板的图像，所述测试面板即为待测试的液晶显示面板；计算所述测试面板的图像中像素的亮度值或灰度值；根据测试面板的像素的亮度值或灰度值，查找出测试面板中存在水波纹的区域；根据所述测试面板中存在水波纹区域的面积或像素个数，测试出所述测试面板的水波纹级别。根据所述测试面板中存在水波纹的区域的面积或像素个数，测试出所述测试面板的水波纹级别。该方法消除了由人工定性所带来的测试结果误差，采取定量分析的方法，准确地得到测试结果，从而保证测试结果的准确性。

Description

水波纹级别测试方法

技术领域

本发明涉及水波纹定量评价技术，尤其涉及一种水波纹级别测试方法，属于液晶显示器制造领域。

背景技术

液晶显示器主要由阵列基板、彩膜基板、偏光片、背光源和液晶等几部分组成，在其制造工艺中，阵列基板和彩膜基板的成盒工艺是必要的一步。在成盒过程中，首先在基板上涂敷取向膜材料；通过相应的取向工艺，使基板上液晶分子按一定的方式进行排列；然后，经真空对盒过程将两基板定型，并通过隔垫物控制盒厚。液晶显示器的显示原理为利用电场对液晶分子进行取向控制，根据液晶分子的折射率各向异性，使得透过率发生变化，从而可以显示图像。

液晶显示器中隔垫物是通过喷洒方式或光刻工艺形成在彩膜基板和阵列基板之间的，其作用是控制液晶显示面板的盒厚，但是，当液晶显示面板的表面受外力作用时，液晶显示面板会发生形变，当外力足够大时，彩膜基板和阵列基板在外力作用下会发生相对位移。由于阵列基板上沉积各层的厚度不同，这种位移使得隔垫物与阵列基板的接触情况发生变化。当外力撤销时，由于接触情况的变化，使得发生形变的隔垫物的相对位移难以恢复，因此，在位移较大的位置，黑矩阵(BlackMatrix，以下简称：BM)不能遮挡住光线，面板在外力作用下产生亮度不均，这种现象称为水波纹(TouchMura)现象；位移越大，漏光的亮度越高，漏光的面积也越大，水波纹的级别就越高。

现有技术中，对于水波纹级别的判定主要通过人眼目测的方法进行。首先，通过人眼目测，挑选出具有不同程度水波纹现象的样本面板，人为判定这些样本面板的级别；其次，以样本面板为基准，人为判定测试面板的级别。这种方法具有如下缺点：存在水波纹的区域可能不是连续的区域，这样会影响人眼的判定；不同人的感官有所差别，因而不同人的判定结果也会有差别；人眼目测的方法受到环境因素的影响较大，例如外界光线的产生较大影响。上述缺点都将导致最终测试结果存在较大的误差，难以保证测试结果的正确性。

发明内容

本发明的目的在于提供一种水波纹级别测试方法，保证测试结果的准确性。

本发明提供了一种水波纹级别测试方法，包括：

采集测试面板的图像，所述测试面板即为待测试的液晶显示面板；

计算所述测试面板的图像中像素的亮度值或灰度值；

根据测试面板的像素的亮度值或灰度值，查找出测试面板中存在水波纹的区域；

计算所述测试面板中存在水波纹的区域的面积或像素个数；

根据所述测试面板中存在水波纹区域的面积或像素个数，以及面积或像素个数与水波纹级别的对应关系，测试出所述测试面板的水波纹级别。

本发明通过采集测试面板的图像，并对图像进行分析，查找出测试面板中存在水波纹的区域，根据该测试面板中存在水波纹的区域的参数，测试出水波纹级别；该方法消除了由人工定性所带来的测试结果误差，采取定量分析的方法，准确地得到测试结果，从而保证测试结果的准确性。

附图说明

图1为本发明提供的一种水波纹级别测试方法实施例一的流程图；

图2为本发明提供的一种水波纹级别测试方法实施例二的流程图；

图3为本发明提供的一种水波纹级别测试方法实施例二中像素个数与水波纹级别对应关系的示意图。

具体实施方式

下面通过附图和实施例，对本发明的技术方案做进一步的详细描述。

图1为本发明提供的一种水波纹级别测试方法实施例一的流程图，本实施例具体包括如下步骤：

步骤101、采集测试面板的图像；该测试面板即为待测试的液晶显示面板；

步骤102、计算测试面板图像中像素的亮度值；

步骤103、根据测试面板的像素的亮度值，查找出测试面板中存在水波纹的区域；进一步的，当测试面板的像素的亮度值大于正常像素的亮度值时，确定该测试面板的像素属于存在水波纹的区域；

步骤104、计算查找出的测试面板中存在水波纹的区域的面积；

步骤105、根据测试面板中存在水波纹的区域的面积以及面积与水波纹级别的对应关系，测试出该测试面板的水波纹级别。

进一步的，在上述步骤101之前还可以包括：获取面积与水波纹级别的对应关系。

再进一步，获取面积与水波纹级别的对应关系可以包括：

步骤1001、采集样本面板的图像；

假设已知样本面板的水波纹级别，采用已固定的CCD镜头对样本面板进行图像采集。

步骤1002、计算样本面板的图像中像素的亮度值；

由于本实施例中对测试面板进行测试时，计算测试面板的亮度值，因此，在本步骤中，也计算样本面板的亮度值。具体可以采用亮度计进行定点测量，得到各个测试点内像素相对准确的亮度值。

步骤1003、根据样本面板的像素的亮度值，查找出样本面板中存在水波纹的样本面板区域；

判断样本面板的像素的亮度值是否大于正常像素的亮度值，若是，则确定该测试点内的样本面板的像素属于存在水波纹的区域，通过这种方法，划分出样本面板中存在水波纹的样本面板区域。

步骤1004、计算样本面板中存在水波纹的样本面板区域的面积，建立面积与水波纹级别的对应关系。

在上述步骤101中，采用图像采集系统采集测试面板的图像；例如，采用已固定的CCD镜头对测试面板进行图像采集。

在上述步骤102和步骤103中，由于产生水波纹现象的原因是黑矩阵不能遮挡光线，漏光亮度越高，水波纹级别就越高，为了定量漏光亮度的大小，本实施例采取计算测试面板的像素的亮度值的方法，查找测试面板中存在水波纹的区域；具体地，可以采用亮度计进行定点测量(该亮度计定点测量的每个测试点均为包含若干个像素的区域)，得到测试面板中各个测试点内若干个像素相对准确的平均亮度值，判断若干个像素的平均亮度值是否大于正常像素的亮度值，若是，则确定该测试点内的像素属于测试面板中存在水波纹的区域，通过这种方法，划分出测试面板中存在水波纹的区域。

在上述步骤104中，由于存在水波纹的区域的漏光亮度大小与漏光面积大小成正比，本实施例可以通过计算测试面板中存在水波纹的区域的面积进行测试。

在上述步骤105中，根据测试面板中存在水波纹的区域的面积以及面积与水波纹级别的对应关系，量化得到该测试面板的水波纹级别。

作为另外一种实施方式，由于存在水波纹的区域的漏光亮度大小与漏光面积大小成正比，而漏光面积大小又与该区域中包含像素的个数成正比，本实施例也可以通过计算存在水波纹的区域中包含像素的个数进行测试。

本实施例通过采集测试面板的图像，采用亮度计对图像进行定点测量，根据测量出的亮度值，查找出测试面板中存在水波纹的区域，根据该测试面板中存在水波纹的区域的参数，测试出测试面板的水波纹级别；该方法消除了由人工定性所带来的测试结果误差，采取定量分析的方法，准确地得到测试结果，从而保证测试结果的准确性。

图2为本发明提供的一种水波纹级别测试方法实施例二的流程图，本实施例具体包括如下步骤：

步骤201、获取像素个数与水波纹级别的对应关系；

步骤202、采集测试面板的图像；该测试面板即为待测试的液晶显示面板；

步骤203、计算测试面板图像中像素的灰度值；

步骤204、根据测试面板的像素的灰度值，查找出测试面板中存在水波纹的区域；进一步的，当测试面板的像素的灰度值大于正常像素的灰度值时，确定该测试面板的像素属于存在水波纹的区域；

步骤205、计算查找出的测试面板中存在水波纹的区域中包含像素的个数；

步骤206、根据测试面板中存在水波纹的区域中包含像素的个数以及像素个数与水波纹级别的对应关系，测试出该测试面板的水波纹级别。

具体地说，在上述步骤201中，首先采集样本面板的图像，例如，本实施例采集6个级别的样本面板的图像，其级别分别为L0、L1、L2、L3、L4和L5；计算样本面板的图像中像素的灰度值；根据样本面板的像素的灰度值，查找出样本面板中存在水波纹的样本面板区域；计算样本面板中存在水波纹的样本面板区域所包含的像素个数，建立像素个数与水波纹级别的对应关系。

图3为本发明提供的一种水波纹级别测试方法实施例二中像素个数与水波纹级别对应关系的示意图，如图3所示，计算得到6个级别的样板面板对应的像素个数，从而建立像素个数与水波纹级别的对应关系。

设L0、L1、L2、L3、L4、L5级别的样板面板的像素个数分别为A0、A1、A2、A3、A4、A5，图3中采用如下方法建立像素个数与水波纹级别的对应关系：将相邻水波纹级别的样本面板像素个数的中值作为划分水波纹级别的界限；举例来说，当面板像素个数属于范围时，其对应的水波纹级别为L0；当面板像素个数属于范围时，，其对应的水波纹级别为L1。

本实施例也可以采用其他方法，比如，将样本面板的像素个数作为划分水波纹级别的界限；举例来说：当面板像素个数属于[A0，A1)范围时，其对应的水波纹级别为L0；当面板像素个数属于[A1，A2)范围时，其对应的水波纹级别为L1。

在上述步骤202中，选取一个测试面板，采用图像采集系统采集测试面板的图像；例如，采用已固定的CCD镜头对测试面板进行图像采集。

在上述步骤203和步骤204中，由于灰度的黑白如同亮度的明暗，在色相无关性方面，两者为一致的，因此灰度也常被用于表示亮度，为了定量漏光亮度的大小，本实施例采用灰度值变化定量的表征亮度值变化。对于彩色图像转换为灰度图像，可以采用如下公式：

Y＝R*0.299+G*0.587+B*0.114

其中Y表示灰度值，R、G、B分别表示一个像素中三个子像素的像素值。通过Matlab进行处理，可以将CCD拍摄的RGB彩色图像转换为灰度图像，这样通过程序控制就可以得到各个像素点的灰度值。判断测试面板的像素的灰度值是否大于正常像素的灰度值，若是，则确定该测试面板的像素属于存在水波纹的区域，通过这种方法，划分出测试面板中存在水波纹的区域。

在上述步骤205中，由于存在水波纹的区域的漏光亮度大小与漏光面积大小成正比，而漏光面积大小又与该区域中包含像素的个数成正比，本实施例通过计算查找出的测试面板中存在水波纹的区域中包含像素的个数进行测试。

在上述步骤206中，根据测试面板中存在水波纹的区域中包含像素的个数以及步骤201获取的像素个数与水波纹级别的对应关系，量化得到该测试面板的水波纹级别。例如，见图3，设测试面板中存在水波纹的区域中包含像素的个数为800，则得到该测试面板的水波纹级别为L3。

本实施例根据测试面板中存在水波纹的区域内像素个数来判定测试面板的水波纹级别，也可以根据测试面板中存在水波纹的区域的面积来判定测试面板的水波纹级别。

本实施例通过采集测试面板的图像，将彩色图像转换为灰度图像，根据测量出的灰度值，查找出测试面板中存在水波纹的区域，根据该测试面板中存在水波纹的区域的参数，测试出水波纹级别；该方法消除了由人工定性所带来的测试结果误差，采取定量分析的方法，准确地得到测试结果，从而保证测试结果的准确性；本实施例还通过采集样本面板的图像，并对样本面板的图像进行分析，查找出样本面板中存在水波纹的区域，根据该样本面板中存在水波纹的区域内像素的个数，建立像素个数与水波纹级别的对应关系，从而确定了判定水波纹级别的量化标准，可以用于指导其他液晶显示面板的评级工作。

最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (2)

1.一种水波纹级别测试方法，其特征在于，包括：

采集样本面板的图像；

计算样本面板的图像中像素的亮度值或灰度值；

根据所述样本面板的像素的亮度值或灰度值，查找出样本面板中存在水波纹的样本面板区域；

计算所述存在水波纹的样本面板区域的面积或像素个数，建立所述面积或像素个数与水波纹级别的对应关系；

采集测试面板的图像，所述测试面板即为待测试的液晶显示面板；

计算所述测试面板的图像中像素的亮度值或灰度值；

根据测试面板的像素的亮度值或灰度值，查找出测试面板中存在水波纹的区域；

计算所述测试面板中存在水波纹的区域的面积或像素个数；

根据所述测试面板中存在水波纹区域的面积或像素个数，以及面积或像素个数与水波纹级别的对应关系，测试出所述测试面板的水波纹级别。

2.根据权利要求1所述的水波纹级别测试方法，其特征在于，所述根据测试面板的像素的亮度值或灰度值，查找出测试面板中存在水波纹的区域包括：当测试面板的像素的亮度值大于正常像素的亮度值，或测试面板的像素的灰度值大于正常像素的灰度值时，确定所述测试面板的像素属于所述存在水波纹的区域。