CN113075805A - 一种判断线残风险的方法 - Google Patents
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Abstract
本申请提供一种判断线残风险的方法。所述判断线残风险的方法包括：将所述待测材料设置在基板之间以形成待测液晶盒；判断所述待测液晶盒的初始线残风险；若无初始线残风险，则对所述待测液晶盒进行配向处理并对配向后的所述待测液晶盒进行电压保持率测试和离子浓度测试，获得所述待测材料的第一电压保持率和第一离子浓度；以及对所述待测液晶盒进行老化处理，并对老化后的所述待测液晶盒进行电压保持率测试和离子浓度测试，获取所述待测材料的第二电压保持率和第二离子浓度；根据所述第一电压保持率和所述第二电压保持率的差异程度和/或所述第一离子浓度和所述第二离子浓的差异程度，判断所述待测材料的线残风险，从而避免产品发生线残问题。
Description
技术领域
本申请涉及液晶材料技术领域，尤其涉及一种判断线残风险的方法。
背景技术
近年来，液晶显示已与日常生活密不可分，液晶手机、液晶显示器、液晶电视等产品已抢占了全部或大部分的市场份额。随着液晶产品拥有量的增大和使用的深入，人们对液晶产品的显示品质也提出了更高的要求：广视角，高对比度，快速画面切换(快速响应时间)，低耗电，及画面稳定。
而画面稳定需要改善的问题之一就是“残像”。所谓“残像”即影像残留，通常可分为“面残像”和“线残像”。二者产生的本质原因一致，即当液晶屏幕长时间保持一幅静止画面时，液晶分子由于受到长时间的电荷驱动而被极化，从而造成液晶分子不能在信号电压控制下正常偏转。也就是说即便改变显示画面的内容，屏幕上仍然可以看到静止图像的痕迹。
其中，有一些线残像的发生与聚酰亚胺(PI)和液晶(LC)材料有关，然而，现有技术的液晶显示面板在聚酰亚胺和液晶等材料开发过程中，其电压保持率(VHR：voltageholding ratio)和离子浓度(Ion concentration)等测试方法无法甄别材料的线残风险，导致在产品上发生线残的技术问题。
发明内容
本申请提供了一种判断线残风险的方法，可在液晶盒材料开发阶段，有效判断材料是否存在线残风险，从而避免产品发生线残的技术问题。
为实现上述功能，本申请提供的技术方案如下：
一种判断线残风险的方法，所述方法包括：
将所述待测材料设置在基板之间以形成待测液晶盒；
判断所述待测液晶盒的初始线残风险；
若无初始线残风险，则对所述待测液晶盒进行配向处理，并对配向后的所述待测液晶盒进行电压保持率测试和离子浓度测试，获得所述待测材料的第一电压保持率和第一离子浓度；以及
对所述待测液晶盒进行老化处理，并对老化后的所述待测液晶盒进行电压保持率测试和离子浓度测试，获取所述待测材料的第二电压保持率和第二离子浓度；
根据所述第一电压保持率和所述第二电压保持率的差异程度和/或所述第一离子浓度和所述第二离子浓的差异程度，判断所述待测材料的线残风险。
在本申请的判断线残风险的方法中，所述待测材料为液晶材料，所述液晶材料夹设在所述待测液晶盒的基板之间。
在本申请的判断线残风险的方法中，所述待测材料为配向材料，所述配向材料设置在所述待测液晶盒的基板与液晶层之间。
在本申请的判断线残风险的方法中，所述判断所述待测材料的线残风险的步骤包括：
获取所述第一电压保持率和所述第二电压保持率的差值；
获取所述第二离子浓度和所述第一离子浓度的差值；
若所述第一电压保持率和所述第二电压保持率的差值大于5％；和/或
若所述第二离子浓度和所述第一离子浓度的差值大于5％，且所述第二离子浓度大于500pC，则所述待测材料存在线残风险。
在本申请的判断线残风险的方法中，所述判断所述待测液晶盒的初始线残风险的步骤包括：
对所述待测材料进行电压保持率测试和离子浓度测试，并获取所述待测材料的初始电压保持率和初始离子浓度；
若所述待测材料的初始电压保持率小于80％和/或所述初始离子浓度大于1000pC，则所述待测材料存在初始线残风险。
在本申请的判断线残风险的方法中，所述方法还包括：
提供一标准液晶盒，所述标准液晶盒包括位于基板之间的合格液晶材料；
对所述标准液晶盒进行电压保持率测试和离子浓度测试，获得所述合格液晶材料的第三电压保持率和第三离子浓度；以及
对所述标准液晶盒进行老化处理，并对老化后的所述标准液晶盒进行电压保持率测试和离子浓度测试，获取所述合格液晶材料的第四电压保持率和第四离子浓度；
若所述待测材料的第一电压保持率和第二电压保持率的差异程度与所述合格液晶材料的第三电压保持率和第四电压保持率的差异程度大于2％；和/或
所述待测材料的第一离子浓度和第二离子浓的差异程度与所述合格液晶材料的第三离子浓度和第四离子浓度的差异程度大于50pc，则所述待测材料存在线残风险
在本申请的判断线残风险的方法中，所述方法还包括：
提供一标准液晶盒，所述标准液晶盒包括位于基板之间的合格配向材料；
对所述标准液晶盒进行电压保持率测试和离子浓度测试，获得所述合格配向材料的第五电压保持率和第五离子浓度；以及
对所述标准液晶盒进行老化处理，并对老化后的所述标准液晶盒进行电压保持率测试和离子浓度测试，获取所述合格配向材料的第六电压保持率和第六离子浓度；
若所述待测材料的第一电压保持率和第二电压保持率的差异程度与所述合格配向材料的第五电压保持率和第六电压保持率的差异程度大于2％；和/或
所述待测材料的第一离子浓度和第二离子浓的差异程度与所述合格配向材料的第五离子浓度和第六离子浓度的差异程度大于50pc，则所述待测材料存在线残风险。
在本申请的判断线残风险的方法中，所述对所述标准液晶盒进行老化处理的温度和时间与对所述待测液晶盒进行老化处理的温度和时间相同。
在本申请的判断线残风险的方法中，所述对所述待测液晶盒进行老化处理的步骤包括：将所述待测液晶盒放置在环境温度范围为40℃～85℃的环境中加热处理0～500小时。
在本申请的判断线残风险的方法中，所述对所述待测液晶盒进行老化处理的步骤包括：将所述待测液晶盒放置在环境温度为60℃的环境中加热处理300小时。
本申请的有益效果：本申请通过对无初始线残风险的待测液晶盒进行配向处理，并对配向后的所述待测液晶盒进行电压保持率测试和离子浓度测试，获得所述待测材料的第一电压保持率和第一离子浓度；对所述待测液晶盒进行老化处理，并对老化后的所述待测液晶盒进行电压保持率测试和离子浓度测试，获取所述待测材料的第二电压保持率和第二离子浓度，根据所述第一电压保持率和所述第二电压保持率的差异程度和/或所述第一离子浓度和所述第二离子浓的差异程度，可在液晶盒材料开发阶段，有效判断材料是否存在线残风险，从而避免产品发生线残的技术问题。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为现有线残像测试使用的画面；
图2为本申请实施例所提供的判断线残风险的方法流程图；
图3为本申请实施例所提供的待测液晶盒的待测材料的电压保持率随温度变化的柱形图；
图4为本申请实施例所提供的待测液晶盒的待测材料的离子浓度随温度变化的柱形图；
图5为本申请实施例所提供的标准液晶盒的合格液晶材料的电压保持率随温度变化的柱形图；
图6为本申请实施例所提供的标准液晶盒的合格液晶材料的离子浓度随温度变化的柱形图。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。此外，应当理解的是，此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本申请，并不用于限制本申请。在本申请中，在未作相反说明的情况下，使用的方位词如“上”和“下”通常是指装置实际使用或工作状态下的上和下，具体为附图中的图面方向；而“内”和“外”则是针对装置的轮廓而言的。
请参阅图1，现有液晶显示面板线残像测试使用的画面。
现有技术中，随着液晶产品拥有量的增大和使用的深入，人们对液晶产品的显示品质也提出了更高的要求：广视角、高对比度、低耗电以及画面稳定等；其中，画面稳定需要改善的问题之一就是“残像”，“残像”即影像残留，通常可分为“面残”和“线残”，二者产生的本质原因一致，即当液晶屏幕长时间保持一幅静止画面时，液晶分子由于受到长时间的电荷驱动而被极化，从而造成液晶分子不能在信号电压控制下正常偏转。其中，有一些线残像的发生与聚酰亚胺(PI)和液晶(LC)材料有关，然而，现有技术的液晶显示面板在聚酰亚胺(PI)和液晶(LC)材料开发过程中，其电压保持率和离子浓度等测试方法无法甄别材料的线残风险，导致在产品上发生线残的技术问题。基于此，本申请提供了一种判断线残风险的方法，能够解决上诉缺陷。
现结合具体实施例对本申请的技术方案进行描述。
请参阅图2，本申请实施例所提供的判断线残风险的方法流程图。
本实施例提供一种判断线残风险的方法，所述方法包括以下步骤：
步骤S10：将所述待测材料设置在基板之间以形成待测液晶盒。
在本实施例中，所述待测材料为液晶材料，所述液晶材料夹设在所述待测液晶盒的基板之间。
步骤S20：判断所述待测液晶盒的初始线残风险。
在本实施例中，所述步骤S20包括：
步骤S21：对所述待测材料进行电压保持率测试和离子浓度测试，并获取所述待测材料的初始电压保持率和初始离子浓度。
步骤S22：分析所述待测材料的初始电压保持率和初始离子浓度，若所述待测材料的初始电压保持率小于80％和/或所述初始离子浓度大于1000pC，则所述待测材料存在初始线残风险。
具体的，若所述待测材料的初始电压保持率小于80％，和所述初始离子浓度不大于1000pC，则所述待测材料存在初始线残风险；若所述待测材料的初始电压保持率不小于80％，和所述初始离子浓度大于1000pC，则所述待测材料存在初始线残风险；若所述待测材料的初始电压保持率小于80％，和所述初始离子浓度大于1000pC，则所述待测材料存在初始线残风险；若所述待测材料的初始电压保持率不小于80％，和所述初始离子浓度不大于1000pC，则所述待测材料不存在初始线残风险。
在本实施例中，如图3所述，对所述待测材料进行电压保持率测试，获取所述待测材料的初始电压保持率93.8％；如图4所述，对所述待测材料进行离子浓度测试，获取所述待测材料的初始离子浓度237pC，由于所述待测材料的初始电压保持率93.8％大于80％，和所述待测材料的初始离子浓度237pC小于1000pC，因此所述待测材料不存在初始线残风险。
步骤S30：对所述待测液晶盒进行配向处理，并对配向后的所述待测液晶盒进行电压保持率测试和离子浓度测试，获得所述待测材料的第一电压保持率和第一离子浓度。
在本实施例中，如图3所述，对配向后的所述待测液晶盒进行电压保持率测试，获取所述待测材料的第一电压保持率95.8％；如图4所述，配向后的所述待测液晶盒进行离子浓度测试，获取所述待测材料的第一离子浓度128pC。
步骤S40：对所述待测液晶盒进行老化处理，并对老化后的所述待测液晶盒进行电压保持率测试和离子浓度测试，获取所述待测材料的第二电压保持率和第二离子浓度。
在本实施例中，所述步骤S40包括：将所述待测液晶盒放置在环境温度范围为40℃～85℃的环境中加热处理0～500小时。
所述环境温度包括但不限于60℃、65℃、70℃、75℃、80℃以及85℃；所述加热处理时间包括但不限于120小时、240小时以及300小时。
请结合图3，本申请实施例所提供的待测液晶盒的待测材料的电压保持率随温度变化的柱形图。
在本实施例中，所述待测液晶盒放置于60℃的高温环境中，当所述老化处理的时间为120小时，获取到所述待测材料的所述第二电压保持率为94.7％；当所述老化处理的时间为240小时，获取到所述待测材料的所述第二电压保持率为88.5％；当所述老化处理的时间为300小时，获取到所述待测材料的所述第二电压保持率为81.3％。
优选地，获取所述待测液晶盒放置在环境温度为60℃的环境中加热处理300小时后，对所述待测液晶盒进行电压保持率测试，获取所述待测材料的第二电压保持率81.3％。
请结合图4，本申请实施例所提供的待测液晶盒的待测材料的离子浓度随温度变化的柱形图。
在本实施例中，所述待测液晶盒放置于60℃的高温环境中，当所述老化处理的时间为120小时，获取到所述待测材料的所述第二离子浓度为145pC；当所述老化处理的时间为240小时，获取到所述待测材料的所述第二离子浓度为613pC；当所述老化处理的时间为300小时，获取到所述待测材料的所述第二离子浓度为1208pC。
优选地，获取所述待测液晶盒放置在环境温度为60℃的环境中加热处理300小时后，对所述待测液晶盒进行离子浓度测试，获取所述待测材料的第二离子浓度为1208pC。
可以理解的是，在本实施例中，所述待测液晶盒老化处理的环境温度、老化处理的时间、获取到的所述初始电压保持率、所述初始离子浓度、所述第一电压保持率、所述第一离子浓度、所述第二电压保持率以及所述第二离子浓度均只用于举例说明。
步骤S50：根据所述第一电压保持率和所述第二电压保持率的差异程度和/或所述第一离子浓度和所述第二离子浓的差异程度，判断所述待测材料的线残风险。
需要说明的是，在本实施例中，所述差异程度指的是所述第一电压保持率和所述第二电压保持率的差值的绝对值的大小，以及所述第一离子浓度和所述第二离子浓的差值的绝对值的大小。
在一种实施例中，所述步骤S50包括：
步骤511：获取所述第一电压保持率和所述第二电压保持率的差值。
具体地，对配向后的所述待测液晶盒进行电压保持率测试，获取所述待测材料的第一电压保持率95.8％；所述待测液晶盒放置在环境温度为60℃的环境中加热处理300小时后，对所述待测液晶盒进行电压保持率测试，获取所述待测材料的第二电压保持率81.3％；所述第一电压保持率和所述第二电压保持率的差值为14.5％。
由于所述第二离子浓度和所述第一离子浓度的差值大于5％，因此所述待测材料存在线残风险。
在一种实施例中，所述步骤S50包括：
S521：获取所述第二离子浓度和所述第一离子浓度的差值。
具体地，对配向后的所述待测液晶盒进行离子浓度测试，获取所述待测材料的初始离子浓度128pC；所述待测液晶盒放置在环境温度为60℃的环境中加热处理300小时后，对所述待测液晶盒进行离子浓度测试，获取所述待测材料的第二离子浓度为1208pC；所述第二离子浓度和所述第一离子浓度的差值为844％。
由于所述第二离子浓度和所述第一离子浓度的差值大于5％，且所述第二离子浓度大于500pC，因此所述待测材料存在线残风险。
在一种实施例中，所述步骤S50包括：
S531：获取所述第一电压保持率和所述第二电压保持率的差值、及获取所述第二离子浓度和所述第一离子浓度的差值。
具体地，对配向后的所述待测液晶盒进行电压保持率测试，获取所述待测材料的第一电压保持率95.8％；所述待测液晶盒放置在环境温度为60℃的环境中加热处理300小时后，对所述待测液晶盒进行电压保持率测试，获取所述待测材料的第二电压保持率81.3％；所述第一电压保持率和所述第二电压保持率的差值为14.5％。
对配向后的所述待测液晶盒进行离子浓度测试，获取所述待测材料的初始离子浓度128pC；所述待测液晶盒放置在环境温度为60℃的环境中加热处理300小时后，对所述待测液晶盒进行离子浓度测试，获取所述待测材料的第二离子浓度为1208pC；所述第二离子浓度和所述第一离子浓度的差值为844％。
由于所述第二离子浓度和所述第一离子浓度的差值大于5％，和所述第二离子浓度和所述第一离子浓度的差值大于5％，且所述第二离子浓度大于500pC，因此所述待测材料存在线残风险。
在本实施例中，为了使所述判断线残风险的结果更加准确可靠，所述判断线残风险的方法还包括以下步骤：
步骤S60：提供一标准液晶盒，所述标准液晶盒包括位于基板之间的合格液晶材料。
需要说明的是，所述标准液晶盒的基板材料和配向层材料与所述待测液晶的基板材料和配向层材料相同，本实施例对所述基板的材料和所述配向层的材料不做具体限制。
步骤S70：对所述标准液晶盒进行电压保持率测试和离子浓度测试，获得所述合格液晶材料的第三电压保持率和第三离子浓度。
在本实施例中，如图5所述，对所述标准液晶盒进行电压保持率测试，获取所述合格液晶材料的第三电压保持率96.2％；如图6所述，对所述标准液晶盒进行离子浓度测试，获取所述合格液晶材料的第三离子浓度105pC。
步骤S80：对所述标准液晶盒进行老化处理，并对老化后的所述标准液晶盒进行电压保持率测试和离子浓度测试，获取所述合格液晶材料的第四电压保持率和第四离子浓度。
在本实施例中，所述步骤S80包括：将所述标准液晶盒放置在环境温度范围为40℃～85℃的环境中加热处理0～500小时。
所述环境温度包括但不限于60℃、65℃、70℃、75℃、80℃以及85℃；所述加热处理时间包括但不限于120小时、240小时以及300小时。
具体的，所述对所述标准液晶盒进行老化处理的温度和时间与对所述待测液晶盒进行老化处理的温度和时间相同。
请结合图5，本申请实施例所提供的标准液晶盒的合格液晶材料的电压保持率随温度变化的柱形图。
在本实施例中，将所述标注液晶盒放置于60℃的高温环境中，当所述老化处理的时间为120小时，获取到所述合格液晶材料的第四电压保持率为94.5％；当所述老化处理的时间为240小时，获取到所述合格液晶材料的所述第四电压保持率为90.9％；当所述老化处理的时间为300小时，获取到所述合格液晶材料的所述第四电压保持率为85.6％。
优选地，获取所述标注液晶盒放置在环境温度为60℃的环境中加热处理300小时后，对所述标注液晶盒进行电压保持率测试，获取到所述合格液晶材料的所述第四电压保持率为85.6％。
请结合图6，本申请实施例所提供的标准液晶盒的合格液晶材料的离子浓度随温度变化的柱形图。
在本实施例中，所述标注液晶盒放置于60℃的高温环境中，当所述老化处理的时间为120小时，获取到所述合格液晶材料的所述第四离子浓度为93pC；当所述老化处理的时间为240小时，获取到所述合格液晶材料的所述第四离子浓度为220pC；当所述老化处理的时间为300小时，获取到所述合格液晶材料的所述第四离子浓度为448.1pC。
优选地，获取所述标注液晶盒放置在环境温度为60℃的环境中加热处理300小时后，对所述标注液晶盒进行离子浓度测试，获取所述合格液晶材料的第四离子浓度为448.1pC。
需要说明的是，为了和所述待测材料的初始电压保持率和初始离子浓度形成参照，本实施例所述方法还包括：
在所述标准液晶盒进行配向处理前，对所述合格液晶材料进行电压保持率测试和离子浓度测试，并获取所述合格液晶材料的初始电压保持率和初始离子浓度。
在本实施例中，如图5所述，对所述配向处理前的合格液晶材料进行电压保持率测试，获取所述合格液晶材料的初始电压保持率94.9％；如图6所述，对所述配向处理前的合格液晶材料进行离子浓度测试，获取所述合格液晶材料的初始离子浓度149pC，由于所述合格液晶材料的初始电压保持率94.9％大于80％，和所述合格液晶材料的初始离子浓度149pC小于1000pC，因此所述合格液晶材料不存在初始线残风险。
可以理解的是，在本实施例中，所述标注液晶盒老化处理的环境温度、老化处理的时间、获取到的所述合格液晶材料的初始电压保持率、所述合格液晶材料的初始离子浓度、所述第三电压保持率、所述第三离子浓度、所述第四电压保持率以及所述第四离子浓度均只用于举例说明。
步骤S90：将所述待测材料的第一电压保持率和第二电压保持率的差异程度与所述合格液晶材料的第三电压保持率和第四电压保持率的差异程度进行对比，和/或所述待测材料的第一离子浓度和第二离子浓度的差异程度与所述合格液晶材料的第三离子浓度和第四离子浓度的差异程度进行对比。
需要说明的是，在本实施例中，所述差异程度指的是所述待测材料的第一电压保持率和第二电压保持率的差异程度与所述合格液晶材料的第三电压保持率和第四电压保持率的差异程度的绝对值的大小，以及所述待测材料的第一离子浓度和所述第二离子浓度的差异程度与所述合格液晶材料的第三离子浓度和第四离子浓度的差异程度的绝对值的大小。
步骤S100：若所述待测材料的第一电压保持率和第二电压保持率的差异程度与所述合格液晶材料的第三电压保持率和第四电压保持率的差异程度大于2％；和/或所述待测材料的第一离子浓度和第二离子浓的差异程度与所述合格液晶材料的第三离子浓度和第四离子浓度的差异程度大于50pc，则所述待测材料存在线残风险。
具体的，在一种实施例中，所述待测材料的第一电压保持率和第二电压保持率的差异程度为14.5％，所述合格液晶材料的第三电压保持率和第四电压保持率的差异程度为10.7％，所述待测材料的第一电压保持率和第二电压保持率的差异程度与所述合格液晶材料的第三电压保持率和第四电压保持率的差异程度大于2％，因此所述待测材料存在线残风险。
在一种实施例中，所述待测材料的第一离子浓度和第二离子浓度的差异程度为1080pC，所述合格液晶材料的第三离子浓度和第四离子浓度的差异程度为343.1pC，所述待测材料的第一离子浓度和第二离子浓的差异程度与所述合格液晶材料的第三离子浓度和第四离子浓度的差异程度大于50pc，因此所述待测材料存在线残风险。
在一种实施例中，所述待测材料的第一电压保持率和第二电压保持率的差异程度为14.5％，所述合格液晶材料的第三电压保持率和第四电压保持率的差异程度为10.7％，和所述待测材料的第一离子浓度和第二离子浓度的差异程度为1080pC，所述合格液晶材料的第三离子浓度和第四离子浓度的差异程度为343.1pC，所述待测材料的第一电压保持率和第二电压保持率的差异程度与所述合格液晶材料的第三电压保持率和第四电压保持率的差异程度大于2％，且所述待测材料的第一离子浓度和第二离子浓的差异程度与所述合格液晶材料的第三离子浓度和第四离子浓度的差异程度大于50pc，因此所述待测材料存在线残风险。
本申请实施例还提供一种判断待测材料线残风险的方法，所述判断待测材料线残风险的方法与上述实施例所提供的所述判断待测材料线残风险的方法相似/相同，具体请参照上述实施例中所述判断待测材料线残风险的方法的描述，此处不再赘述，两者的区别仅在于：
所述待测材料为配向材料，所述配向材料设置在所述待测液晶盒的基板与液晶层之间。
在本实施例中，为了使所述判断线残风险的结果更加准确可靠，所述判断线残风险的方法还包括以下步骤：
步骤S110：提供一标准液晶盒，所述标准液晶盒包括位于基板之间的合格配向材料。
需要说明的是，所述标准液晶盒的基板材料和液晶材料与所述待测液晶的基板材料和液晶材料相同，本实施例对所述基板的材料和所述液晶材料不做具体限制。
步骤S120：对所述标准液晶盒进行电压保持率测试和离子浓度测试，获得所述合格配向材料的第五电压保持率和第五离子浓度。
步骤S130：对所述标准液晶盒进行老化处理，并对老化后的所述标准液晶盒进行电压保持率测试和离子浓度测试，获取所述合格配向材料的第六电压保持率和第六离子浓度。
在本实施例中，所述步骤S130包括：将所述标准液晶盒放置在环境温度范围为40℃～85℃的环境中加热处理0～500小时。
所述环境温度包括但不限于60℃、65℃、70℃、75℃、80℃以及85℃；所述加热处理时间包括但不限于120小时、240小时以及300小时。
具体的，所述对所述标准液晶盒进行老化处理的温度和时间与对所述待测液晶盒进行老化处理的温度和时间相同。
优选地，获取所述标注液晶盒放置在环境温度为60℃的环境中加热处理300小时后，对所述标注液晶盒进行电压保持率测试和离子浓度测试，获取所述合格液晶材料的第六电压保持率和第六离子浓度。
步骤S140：将所述待测材料的第一电压保持率和第二电压保持率的差异程度与所述合格配向材料的第五电压保持率和第六电压保持率的差异程度进行对比，和/或所述待测材料的第一离子浓度和第二离子浓度的差异程度与所述合格配向材料的第五离子浓度和第五离子浓度的差异程度进行对比。
步骤S150：若所述待测材料的第一电压保持率和第二电压保持率的差异程度与所述合格配向材料的第五电压保持率和第六电压保持率的差异程度大于2％；和/或所述待测材料的第一离子浓度和第二离子浓的差异程度与所述合格配向材料的第五离子浓度和第六离子浓度的差异程度大于50pc，则所述待测材料存在线残风险。
具体的，在一种实施例中，所述待测材料的第一电压保持率和第二电压保持率的差异程度与所述合格配向材料的第五电压保持率和第六电压保持率的差异程度大于2％，因此所述待测材料存在线残风险。
在一种实施例中，所述待测材料的第一离子浓度和第二离子浓的差异程度与所述合格配向材料的第五离子浓度和第六离子浓度的差异程度大于50pc，因此所述待测材料存在线残风险。
在一种实施例中，所述待测材料的第一电压保持率和第二电压保持率的差异程度与所述合格配向材料的第五电压保持率和第六电压保持率的差异程度大于2％，且所述待测材料的第一离子浓度和第二离子浓的差异程度与所述合格配向材料的第五离子浓度和第六离子浓度的差异程度大于50pc，因此所述待测材料存在线残风险。
可以理解的时，在上述实施例中，所述电压保持率测试的方法和所述离子浓度测试的方法为现有技术，本实施例对此不做赘述。
本申请提供一种判断线残风险的方法。所述判断线残风险的方法包括：将所述待测材料设置在基板之间以形成待测液晶盒；判断所述待测液晶盒的初始线残风险；若无初始线残风险，则对所述待测液晶盒进行配向处理并对配向后的所述待测液晶盒进行电压保持率测试和离子浓度测试，获得所述待测材料的第一电压保持率和第一离子浓度；以及对所述待测液晶盒进行老化处理，并对老化后的所述待测液晶盒进行电压保持率测试和离子浓度测试，获取所述待测材料的第二电压保持率和第二离子浓度；根据所述第一电压保持率和所述第二电压保持率的差异程度和/或所述第一离子浓度和所述第二离子浓的差异程度，判断所述待测材料的线残风险，从而避免产品发生线残问题。
在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述的部分，可以参见其他实施例的相关描述。
以上对本申请实施例所提供的一种判断线残风险的方法进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本申请的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请的方法及其核心思想；同时，对于本领域的技术人员，依据本申请的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本申请的限制。
Claims (10)
1.一种判断待测材料线残风险的方法，其特征在于，所述方法包括：
将所述待测材料设置在基板之间以形成待测液晶盒；
判断所述待测液晶盒的初始线残风险；
若无初始线残风险，则对所述待测液晶盒进行配向处理，并对配向后的所述待测液晶盒进行电压保持率测试和离子浓度测试，获得所述待测材料的第一电压保持率和第一离子浓度；以及
对所述待测液晶盒进行老化处理，并对老化后的所述待测液晶盒进行电压保持率测试和离子浓度测试，获取所述待测材料的第二电压保持率和第二离子浓度；
根据所述第一电压保持率和所述第二电压保持率的差异程度和/或所述第一离子浓度和所述第二离子浓的差异程度，判断所述待测材料的线残风险。
2.如权利要求1所述的判断线残风险的方法，其特征在于，所述待测材料为液晶材料，所述液晶材料夹设在所述待测液晶盒的基板之间。
3.如权利要求1所述的判断线残风险的方法，其特征在于，所述待测材料为配向材料，所述配向材料设置在所述待测液晶盒的基板与液晶层之间。
4.如权利要求1所述的判断线残风险的方法，其特征在于，所述判断所述待测材料的线残风险的步骤包括：
获取所述第一电压保持率和所述第二电压保持率的差值；
获取所述第二离子浓度和所述第一离子浓度的差值；
若所述第一电压保持率和所述第二电压保持率的差值大于5％；和/或
若所述第二离子浓度和所述第一离子浓度的差值大于5％，且所述第二离子浓度大于500pC，则所述待测材料存在线残风险。
5.如权利要求1所述的判断线残风险的方法，其特征在于，所述判断所述待测液晶盒的初始线残风险的步骤包括：
对所述待测材料进行电压保持率测试和离子浓度测试，并获取所述待测材料的初始电压保持率和初始离子浓度；
若所述待测材料的初始电压保持率小于80％和/或所述初始离子浓度大于1000pC，则所述待测材料存在初始线残风险。
6.如权利要求2所述的判断线残风险的方法，其特征在于，所述方法还包括：
提供一标准液晶盒，所述标准液晶盒包括位于基板之间的合格液晶材料；
对所述标准液晶盒进行电压保持率测试和离子浓度测试，获得所述合格液晶材料的第三电压保持率和第三离子浓度；以及
对所述标准液晶盒进行老化处理，并对老化后的所述标准液晶盒进行电压保持率测试和离子浓度测试，获取所述合格液晶材料的第四电压保持率和第四离子浓度；
若所述待测材料的第一电压保持率和第二电压保持率的差异程度与所述合格液晶材料的第三电压保持率和第四电压保持率的差异程度大于2％；和/或
所述待测材料的第一离子浓度和第二离子浓的差异程度与所述合格液晶材料的第三离子浓度和第四离子浓度的差异程度大于50pc，则所述待测材料存在线残风险。
7.如权利要求3所述的判断线残风险的方法，其特征在于，所述方法还包括：
提供一标准液晶盒，所述标准液晶盒包括位于基板之间的合格配向材料；
对所述标准液晶盒进行电压保持率测试和离子浓度测试，获得所述合格配向材料的第五电压保持率和第五离子浓度；以及
对所述标准液晶盒进行老化处理，并对老化后的所述标准液晶盒进行电压保持率测试和离子浓度测试，获取所述合格配向材料的第六电压保持率和第六离子浓度；
若所述待测材料的第一电压保持率和第二电压保持率的差异程度与所述合格配向材料的第五电压保持率和第六电压保持率的差异程度大于2％；和/或
所述待测材料的第一离子浓度和第二离子浓的差异程度与所述合格配向材料的第五离子浓度和第六离子浓度的差异程度大于50pc，则所述待测材料存在线残风险。
8.如权利要求6或7所述的判断线残风险的方法，其特征在于，所述对所述标准液晶盒进行老化处理的温度和时间与对所述待测液晶盒进行老化处理的温度和时间相同。
9.如权利要求1所述的判断线残风险的方法，其特征在于，所述对所述待测液晶盒进行老化处理的步骤包括：将所述待测液晶盒放置在环境温度范围为40℃～85℃的环境中加热处理0～500小时。
10.如权利要求9所述的判断线残风险的方法，其特征在于，所述对所述待测液晶盒进行老化处理的步骤包括：将所述待测液晶盒放置在环境温度为60℃的环境中加热处理300小时。
Priority Applications (1)
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|---|---|---|---|
| CN202110284313.4A CN113075805A (zh) | 2021-03-17 | 2021-03-17 | 一种判断线残风险的方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202110284313.4A CN113075805A (zh) | 2021-03-17 | 2021-03-17 | 一种判断线残风险的方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN113075805A true CN113075805A (zh) | 2021-07-06 |
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ID=76612589
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202110284313.4A Pending CN113075805A (zh) | 2021-03-17 | 2021-03-17 | 一种判断线残风险的方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN113075805A (zh) |
-
2021
- 2021-03-17 CN CN202110284313.4A patent/CN113075805A/zh active Pending
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